JP4561134B2 - 蒸留塔 - Google Patents
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Description
本発明の蒸留塔(1)は、濃塩酸(A)を蒸留するためのものである。濃塩酸(A)とは、濃度20質量%以上、通常は36質量%以下で塩化水素を含む水溶液であって、塩化水素以外の化合物、例えば塩素(Cl2)などを含有していてもよい。図1に示す蒸留塔(1)において、この濃塩酸(A)は、塔頂(11)から蒸留塔(1)内に供給される。
濃度15%の塩酸(質量分率で15%の塩化水素を含む水溶液)を密閉容器中で加圧下に200℃に加熱し、この塩酸中に、10mm×50mmで厚さ2mmのタンタル試験片(純度99.9%以上)を浸漬した。このときの容器中の圧力は絶対圧力で概ね1.3MPaであった。168時間(7日)、同温度を保ったのち、試験片を取り出した。取り出された試験片には質量減少は認められなかった。
塩酸濃度および加熱温度を第1表に記載のとおりとする以外は試験例1と同様に操作して、試験片の質量減少量を求めた。結果を第1表に示す。なお、質量減少量は1年(365日)あたりの試験片の厚さの減少量に換算して示している。
━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━
塩酸濃度 加熱温度 絶対圧力 質量減少量
(%) (℃) (MPa) (mm/年)
━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━
試験例1 15 200 1.3 0.000
試験例2 20 200 1.6 0.000
試験例3 30 150 0.8 0.005
試験例4 30 180 − 0.018
試験例5 30 200 3.3 0.058
━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━
塩酸に塩素ガスを吹き込んで飽和させて用いた以外は試験例1と同様に操作して試験片の質量を求めたところ、試験片の質量減少は認められなかった。
塩酸濃度および加熱温度を第2表に記載のとおりとする以外は試験例6と同様に操作して、試験片の質量減少量を求めた。結果を第2表に示す。なお、質量減少量は1年(365日)あたりの試験片の厚さの減少量に換算して示している。
━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━
塩酸濃度 加熱温度 絶対圧力 質量減少量
(%) (℃) (MPa) (mm/年)
━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━
試験例6 15 200 1.5 0.000
試験例7 20 200 2.1 0.000
試験例8 30 150 1.3 0.006
試験例9 30 180 3.0 0.025
試験例10 30 200 3.4 0.043
━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━
図1に示すように、内面(13)が全てタンタルで構成された蒸留塔(1)を用い、この蒸留塔の塔頂(11)から濃度30%の濃塩酸(A)を供給しつつ、塔底(12)の希塩酸(C)を抜き出し、一部を加熱器(3)で加熱して蒸留塔(1)に戻しすことで蒸留塔(1)を加熱して、濃塩酸(A)を蒸留して、塔頂(11)から塩化水素ガス(B)を、塔底(12)から希塩酸(C)をそれぞれ得る。蒸留塔(1)内の圧力を概ね1MPa(絶対圧力)とすると、蒸留温度は概ね185℃となる。このときの希塩酸(C)の濃度は約13%である。この蒸留塔(1)を1年以上に亙って連続して運転しても、蒸留塔(1)の内面に腐食などは認められない。
11:塔頂 12:塔底 13:内面
2:フッ素樹脂シート
3:加熱器
L1〜L5:配管
A:濃塩酸 B:塩化水素ガス C:希塩酸
Claims (2)
- 塩素を含む濃塩酸を蒸留して、塩化水素ガスを得ると共に、希塩酸を得るための蒸留塔であって、内面が全てタンタルを主成分とする金属材料で構成されていることを特徴とする蒸留塔。
- 濃塩酸を0.2MPa以上の圧力下で蒸留する請求項1に記載の蒸留塔。
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2004
- 2004-03-12 JP JP2004070241A patent/JP4561134B2/ja not_active Expired - Lifetime
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