JP4560204B2 - Synchronous memory address buffer circuit - Google Patents

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JP4560204B2 JP2000357146A JP2000357146A JP4560204B2 JP 4560204 B2 JP4560204 B2 JP 4560204B2 JP 2000357146 A JP2000357146 A JP 2000357146A JP 2000357146 A JP2000357146 A JP 2000357146A JP 4560204 B2 JP4560204 B2 JP 4560204B2
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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、同期型メモリにおいてクロック信号に同期してアドレス信号を保持するアドレスバッファ回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
図2(a),(b)は、従来の同期型メモリの一例を示す概略の構成図であり、同図(a)は全体構成、及び同図(b)は同図(a)中のアドレスバッファ回路を示している。
【0003】
同期型メモリは、比較的高い周波数を持つシステムバスのクロック信号CKと同期して動作することによって、メモリセルに格納されたデータを外部に読み出す速度、及び外部から与えられたデータをメモリセルに書き込む速度を速くしたものである。図2(a)に示すように、この同期型メモリは、外部から与えられるアドレス信号ADをクロック信号CKに同期して取り込むアドレスバッファ回路1,2と、外部から与えられるクロック信号CK、チップ選択信号CS、アドレス取込信号AS、及び読み書き制御信号RW等に基づいて、内部の制御信号を生成する制御回路3を有している。
【0004】
制御回路3は、アドレスバッファ回路1,2の保持内容を消去するクリア信号CL、データの保持タイミングを指定するアドレス取込信号EX、後述するセンスアンプ7に書き込み動作を指定する書込制御信号WE、及び読み出し動作を指定する読出制御信号RE等を生成するものである。
【0005】
アドレスバッファ回路2はアドレス信号ADの内の下位ビットA0 〜Am を取り込み、アドレスバッファ回路1はアドレス信号ADの内の上位ビットAm+1 〜An を取り込むようになっている。アドレスバッファ回路1の出力側には行デコーダ4が接続され、アドレスバッファ回路2の出力側には列デコーダ5が接続されている。行デコーダ4の出力側は、メモリコア6のワード線に接続されている。
【0006】
メモリコア6は、交差して配置された複数のワード線(WL)とビット線(BL)の各交差箇所にデータを記憶するメモリセル(MC)が設けられたもので、行デコーダ4の出力信号で選択された1本のワード線に接続されたメモリセルが対応するビット線に接続されるようになったものである。各ビット線はセンスアンプ群7内の図示しない対応するセンスアンプに接続されている。各センスアンプは、列デコーダ5の出力信号で制御される図示しない転送ゲート(カラムスイッチ)を介して、データ線DTに接続されるようになっている。
【0007】
アドレスバッファ回路1,2は、図2(b)に示すように、クロック信号CKに同期してアドレス信号ADを構成する各アドレス信号Aiを取り込むシンクロナイズ部10と、取り込んだアドレス信号Aiを制御回路3から与えられるアドレス取込信号EXのタイミングで保持するアドレスラッチ部20で構成されている。
【0008】
シンクロナイズ部10は、NチャネルMOSトランジスタ(以下、「NMOS」という)11aとPチャネルMOSトランジスタ(以下、「PMOS」という)11bで構成されるトランスファゲート(以下、「TG」という)11を有しており、このTG11の入力側にアドレス信号Aiが与えられるようになっている。TG11の出力側は、インバータ12a,12bで構成されるラッチ12に接続され、このラッチ12の出力側がインバータ13の入力側に接続されている。
【0009】
インバータ13の出力側は、PMOS14aとNMOS14bで構成されるTG14の入力側に接続され、このTG14の出力側がインバータ15a,15bで構成されるラッチ15に接続されている。ラッチ15の出力側は、インバータ16を介してノードNAに接続されている。また、クロック信号CKは、PMOS11b及びNMOS14bのゲートに与えられ、更にインバータ17を介してNMOS11aとPMOS14aのゲートに与えられるようになっている。
【0010】
アドレスラッチ部20は、ノードNAに接続された2入力の否定的論理積ゲート(以下、「NAND」という)21とインバータ22を有し、このインバータの出力側が、2入力のNAND23の入力側に接続されている。NAND21,23の第2の入力側には、アドレス取込信号EXが与えられている。
【0011】
NAND21の出力側は、2入力のNAND24aと3入力のNAND24bで構成されるフリップフロップ(以下、「FF」という)24におけるNAND24aの第1の入力側に接続されている。また、NAND23の出力側は、2入力のNAND25aと3入力のNAND25bで構成されるFF25におけるNAND25aの第1の入力側に接続されている。
【0012】
NAND24aの出力側は、NAND24bの第2の入力側に接続されている。NAND24bの出力側は、NAND24aの第2の入力側とNAND25bの第1の入力側に接続されている。同様に、NAND25aの出力側は、NAND25bの第2の入力側に接続されている。NAND25bの出力側は、NAND25aの第2の入力側とNAND24bの第1の入力側に接続されている。また、NAND24b,25bの第3の入力側には、クリア信号CLが与えられるようになっている。
【0013】
更に、NAND24a,25aの出力側には、それぞれバッファ26,27が接続され、これらのバッファ26、27から同期化された相補的なアドレス信号Xi,/Xi(ただし、「/」は反転を意味する)が出力されるようになっている。
【0014】
図3は、図2(b)のアドレスバッファ回路の動作の一例を示す信号波形図である。以下、従来のアドレスバッファ回路の動作を説明する。
【0015】
図3の時刻t1において、アドレス取込信号EXがレベル“L”で、クリア信号CLがレベル“H”から“L”に立ち下がると、アドレスラッチ部20のFF24,25はリセットされ、アドレス信号Xi,/Xiは、共に“L”となる。その後、時刻t2において、クリア信号CLは“L”から“H”に立ち上がる。
【0016】
時刻t3、即ちクロック信号CKが“L”で、“H”への立ち上がりの一定時間前に、アドレス信号Aiが確定される。クロック信号CKは“L”であるので、TG11は開き、TG14は閉じられている。これにより、アドレス信号Ai(例えば、“H”)はラッチ12に保持され、インバータ13の出力側には、保持された信号が出力される。
【0017】
その後、時刻t4において、クロック信号CKが“H”に立ち上がる。これにより、TG11が閉じられてTG14が開かれ、インバータ13の出力信号はラッチ15に保持され、インバータ16を介してノードNAから信号SAとして出力される。
【0018】
時刻t5において、アドレス取込信号EXが“L”から“H”に変化すると、NAND21,23が開かれ、ノードNAの信号SAがNAND21から出力される。また、ノードNAの信号SAがインバータ22で反転されてNAND23から出力される。NAND21,23の出力信号は、それぞれFF24,25に保持され、バッファ26,27から同期化された相補的なアドレス信号Xi,/Xiが出力される。
【0019】
時刻t6においてアドレス取込信号EXが“L”になると、NAND21,23は閉じられ、これらのNAND21,23の出力信号は共に“H”になる。これにより、FF24,25に保持されたアドレス信号Xi,/Xiのレベルは、時刻t7において“L”のクリア信号CLがこれらのFF24,25に与えられるまで保持される。
【0020】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来のアドレスバッファ回路では、次のような課題あった。
即ち、タイミングスペックを満足しない状態でアドレス信号が供給された場合に、FF24及びFF25が“H”になることがあった。
【0021】
FF24,25の両方に“H”が保持されると、アドレス信号Xi,/Xiが共に“H”になる。一方、アドレス信号Xi,/Xiは、相補的な信号として行デコーダ4等に与える必要がある。特に行デコーダ4は、相補的なアドレス信号Xi,/Xiに基づいて、単一のワード線を選択するようになっており、相補的であるべきアドレス信号Xi,/Xiが、共に“H”になると、複数のワード線が同時に選択されることになる。複数のワード線が同時に選択されると、複数のメモリセルがビット線を介して接続され、その記憶内容が破壊されてしまうという課題があった
【0022】
通常、タイミングスペックとして、アドレス信号Aiを入力してからクロック信号CKを立ち上げる間でのセットアップタイムと、クロック信号CKの立ち上げ後アドレス信号をそのまま保持するホールドタイムが規定されており、この規定が守られていれば上記のような不具合が生ずることははい。しかし、実際にデータの読み書きを行わないダミーサイクルにおいては、上記の規定に反するようなタイミング条件を有する回路が想定され、このような場合に上記の不具合が生ずるおそれがあった。
【0023】
本発明は、前記従来技術が持っていた課題を解決し、ダミーサイクル等において、アドレス信号Aiのタイミングが変化しても、記憶内容の破壊につながる誤ったアドレス信号を保持しないアドレスバッファ回路を提供するものである。
【0024】
【課題を解決するための手段】
前記課題を解決するために、本発明は、外部から与えられるアドレス信号をクロック信号に同期して保持し、その保持したアドレス信号を内部ノードに出力するシンクロナイズ部と、前記内部ノードに出力されたアドレス信号とそのアドレス信号を反転した反転アドレス信号をアドレス取込信号に基づいて保持し、その保持した相補的なアドレス信号を出力するアドレスラッチ部とを備えた同期型メモリのアドレスバッファ回路において、アドレスラッチ部を次のように構成している。
【0025】
即ち、このアドレスラッチ部は、取込許可信号と前記アドレス取込信号が与えられたときに、前記内部ノードのアドレス信号及びこのアドレス信号を反転して生成した反転アドレス信号の相補的な信号を出力する相補信号生成手段と、前記相補信号生成手段から出力されるアドレス信号を保持して出力すると共に、クリア信号が与えられたときにその保持内容を消去する第1の保持手段と、前記相補信号生成手段から出力される反転アドレス信号を保持して出力すると共に、前記クリア信号が与えられたときにその保持内容を消去する第2の保持手段と、前記第1及び第2の保持手段の保持内容が共に消去されているときにのみ前記取込許可信号を出力する取込制御手段とを備えている。
【0026】
本発明によれば、以上のように同期型メモリのアドレスバッファ回路を構成したので、次のような作用が行われる。
【0027】
シンクロナイズ部において、外部から与えられたアドレス信号はクロック信号に同期して読み込まれて保持され、その保持したアドレス信号が内部ノードに出力される。内部ノードに出力されたアドレス信号は、相補信号生成手段に与えられる。
【0028】
ここで、取込許可信号とアドレス取込信号が与えられると、相補信号生成手段で相補的なアドレス信号が生成されて出力され、第1及び第2の保持手段に保持される。第1及び第2の保持手段に相補的なアドレス信号が保持されると、取込制御手段からの取込許可信号が停止される。これにより、第1及び第2の保持手段の保持内容は固定される。
【0029】
第1及び第2の保持手段にクリア信号が与えられると、これらの第1及び第2の保持手段の保持内容は消去され、取込制御手段から取込許可信号が出力される。更に、アドレス取込信号が与えられると、その時点で内部ノードに出力されているアドレス信号が第1及び第2の保持手段に保持される。これにより、新たな相補的なアドレス信号が、第1及び第2の保持手段に保持されて出力される。
【0030】
【発明の実施の形態】
図1は、本発明の実施形態を示すアドレスバッファ回路の構成図である。
このアドレスバッファ回路は、図2(b)のアドレスバッファ回路に代えて、同図(a)中のアドレスバッファ回路として設けられるもので、同図(b)中の要素と共通の要素には共通の符号が付されている。
【0031】
このアドレスバッファ回路は、クロック信号CKに同期してアドレス信号ADを構成する各アドレス信号Aiを取り込むシンクロナイズ部10と、取り込んだアドレス信号Aiをアドレス取込信号EXのタイミングで保持するアドレスラッチ部20Aで構成されている。
【0032】
シンクロナイズ部10は、図2(b)中のシンクロナイズ部と同じであり、NMOS11aとPMOS11bで構成されるTG11を有し、このTG11の入力側にアドレス信号Aiが与えられるようになっている。TG11の出力側には、インバータ12a,12bで構成されるラッチ12が接続され、このラッチ12の出力側がインバータ13の入力側に接続されている。
【0033】
インバータ13の出力側は、PMOS14aとNMOS14bで構成されるTG14の入力側に接続され、このTG14の出力側がインバータ15a,15bで構成されるラッチ15に接続されている。ラッチ15の出力側は、インバータ16を介してノードNAに接続されている。また、クロック信号CKは、PMOS11b及びNMOS14bのゲートに与えられ、更にインバータ17を介してNMOS11aとPMOS14aのゲートに与えられるようになっている。
【0034】
アドレスラッチ部20Aは、相補信号生成手段(例えば、3入力のNAND21A,23Aとインバータ22)を有している。NAND21Aの第1の入力側とインバータ22の入力側はノードNAに接続され、このインバータ22の出力側がNAND23Aの第1の入力側に接続されている。NAND21A,23Aの第2の入力側には、アドレス取込信号EXが与えられるようになっている。また、NAND21A,23Aの第3の入力側はノードNBに接続され、取込許可信号ENが与えられるようになっている。
【0035】
NAND21Aの出力側は、2入力のNAND24aと3入力のNAND24bで構成される第1の保持手段(例えば、FF)24におけるNAND24aの第1の入力側に接続されている。また、NAND23の出力側は、2入力のNAND25aと3入力のNAND25bで構成される第2の保持手段(例えば、FF)25におけるNAND25aの第1の入力側に接続されている。
【0036】
NAND24aの出力側は、NAND24bの第2の入力側に接続されている。NAND24bの出力側は、NAND24aの第2の入力側とNAND25bの第1の入力側に接続されている。同様に、NAND25aの出力側は、NAND25bの第2の入力側に接続されている。NAND25bの出力側は、NAND25aの第2の入力側とNAND24bの第1の入力側に接続されている。NAND24b,25bの第3の入力側には、クリア信号CLが与えられるようになっている。
【0037】
更に、NAND24a,25aの出力側には、それぞれバッファ26,27が接続され、これらのバッファ26、27から同期化された相補的なアドレス信号Xi,/Xiが出力されるようになっている。また、アドレス信号Xi,/Xiは、取込制御手段(例えば、2入力の否定的論理和ゲート、以下、「NOR」という)28の入力側に接続され、このNOR28の出力側がノードNBに接続されている。そして、NOR28からノードNBに、取込許可信号ENが出力されるようになっている。
【0038】
図4は、図1のアドレスバッファ回路の動作を示す信号波形図である。以下、図4を参照しつつ、図1のアドレスバッファ回路の動作を説明する。
【0039】
図4の時刻T1において、クリア信号CLは“H”、取込許可信号ENは“L”で、FF24はリセットされ、FF25はセットされているとする。これにより、アドレス信号Xi,/Xiは、それぞれ“L”,“H”となっている。ここで、アドレス信号クロック信号CKが“L”から“H”に立ち上がると、アドレス信号Ai(AD1)がシンクロナイズ部10のラッチ15に保持されてノードNAから信号SAとして出力される。この時、アドレスラッチ部20AのFF24,25の保持内容がそれぞれ“L”,“H”であるので、ノードNBの取込許可信号ENは“L”で、NAND21A,23Aの出力信号は共に“H”である。従って、FF24,25の保持内容は変化しない。
【0040】
時刻T2においてクリア信号CLが“H”から“L”に立ち下がると、FF24,25はリセットされ、アドレス信号Xi,/Xiは、共に“L”となる。これにより、取込許可信号ENは“H”となる。その後、時刻T3において、クリア信号CLは“L”から“H”に立ち上がる。
【0041】
時刻T4において、クロック信号CKが“L”から“H”への立ち上がると、アドレス信号Ai(AD2)がシンクロナイズ部10のラッチ15に保持されてノードNAに出力される。
【0042】
時刻T5において、アドレス取込信号EXが“L”から“H”に変化すると、NAND21A,23Aが開かれ、ノードNAの信号SAがNAND21Aから出力され、この信号SAがインバータ22で反転されてNAND23Aから出力される。NAND21A,23Aの出力信号は、それぞれFF24,25に与えられ、これらのFF24,25に保持されて、バッファ26,27から同期化された相補的なアドレス信号Xi,/Xiが出力される。
【0043】
これにより、ノードNBは“L”となってNAND21A,23は閉じられ、これらのNAND21A,23Aの出力信号は共に“H”になる。その後、アドレス取込信号EXが“H”になっても、NAND21A,23Aは開かれず、FF24,25に保持されたアドレス信号Xi,/Xiのレベルは、“L”のクリア信号CLが、これらのFF24,25に与えられるまで保持される。
【0044】
例えば、時刻T6において、クロック信号CKの立ち上がりとほぼ同時に、アドレス信号Aiが変化した場合、シンクロナイズ部10のラッチ15に保持される信号は不確定となる。しかし、この時、アドレス取込信号EXが“H”になっても、取込許可信号ENは“L”となっているので、この不確定な信号がFF24,25に取り込まれることはない。
【0045】
このように、本実施形態のアドレスバッファ回路は、相補的なアドレス信号Xi,/Xiが与えられている間、NAND21A,23Aを閉じるために取込許可信号ENを“L”にするNOR28を有している。これにより、FF24,25の保持内容が不用意に書き替えられることが防止され、アドレス信号Xi,/Xiが同時に“H”になるおそれがなくなる。従って、雑音等の影響によって複数のワード線の同時選択によるメモリセルの記憶内容の破壊が防止される。
【0046】
更に、実際にメモリセルに対するアクセスが行われていないダミーサイクルにおいて、クロック信号CKとアドレス信号ADのタイミング条件を無視した信号が与えられた場合でも、FF24,25の保持内容が書き替えられるおそれがないという利点がある。
【0047】
なお、本発明は、上記実施形態に限定されず、種々の変形が可能である。この変形例としては、例えば、次の(a),(b)のようなものがある。
【0048】
(a) シンクロナイズ部10の回路構成は、図1に示したものに限定されない。即ち、クロック信号CKに同期してアドレス信号Aiを読み取って保持するものであればどのような回路でも適用可能である。
【0049】
(b) アドレスラッチ部20Aの回路構成は、図1に示したものに限定されない。即ち、相補的なアドレス信号Xi,/Xiを生成して出力する2個のFF24,25と、これらのFF24,25の出力信号に応じてアドレス取込動作を制御する回路を備えたものであれば、同様に適用可能である。
【0050】
【発明の効果】
以上詳細に説明したように、本発明によれば、第1及び第2の保持手段から相補的なアドレス信号が出力されているときには、取込許可信号の出力を停止する取込制御手段と、この取込許可信号とアドレス取込信号が与えられたときに相補的なアドレス信号を生成して第1及び第2の保持手段に与える相補信号生成手段を有している。これにより、第1及び第2の保持手段からアドレス信号が同時に出力されるおそれがなくなり、複数のワード線の同時選択によるメモリセルの記憶内容の破壊が防止できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態を示すアドレスバッファ回路の構成図である。
【図2】従来の同期型メモリの一例を示す概略の構成図である。
【図3】図2(b)のアドレスバッファ回路の動作の一例を示す信号波形図である。
【図4】図1のアドレスバッファ回路の動作を示す信号波形図である。
【符号の説明】
10 シンクロナイズ部
11,14 TG(トランスファゲート)
12,15 ラッチ
20A アドレスラッチ部
21A,23A NAND(否定的論理積ゲート)
22 インバータ
24,25 FF(フリップフロップ)
28 NOR(否定的論理和ゲート)
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an address buffer circuit that holds an address signal in synchronization with a clock signal in a synchronous memory.
[0002]
[Prior art]
2A and 2B are schematic configuration diagrams showing an example of a conventional synchronous memory. FIG. 2A is an overall configuration, and FIG. 2B is a diagram in FIG. An address buffer circuit is shown.
[0003]
The synchronous memory operates in synchronization with the clock signal CK of the system bus having a relatively high frequency, thereby reading the data stored in the memory cell to the outside and the data given from the outside to the memory cell. This is a faster writing speed. As shown in FIG. 2A, this synchronous memory includes address buffer circuits 1 and 2 that take in an externally applied address signal AD in synchronization with a clock signal CK, an externally supplied clock signal CK, and chip selection. Based on the signal CS, the address fetch signal AS, the read / write control signal RW, and the like, a control circuit 3 that generates an internal control signal is provided.
[0004]
The control circuit 3 includes a clear signal CL for erasing the contents held in the address buffer circuits 1 and 2, an address fetch signal EX for designating data holding timing, and a write control signal WE for designating a write operation to a sense amplifier 7 described later. And a read control signal RE for designating a read operation.
[0005]
The address buffer circuit 2 takes in the lower bits A0 to Am of the address signal AD, and the address buffer circuit 1 takes in the upper bits Am + 1 to An of the address signal AD. A row decoder 4 is connected to the output side of the address buffer circuit 1, and a column decoder 5 is connected to the output side of the address buffer circuit 2. The output side of the row decoder 4 is connected to the word line of the memory core 6.
[0006]
The memory core 6 is provided with a memory cell (MC) for storing data at each intersection of a plurality of word lines (WL) and bit lines (BL) arranged in an intersecting manner. A memory cell connected to one word line selected by a signal is connected to a corresponding bit line. Each bit line is connected to a corresponding sense amplifier (not shown) in the sense amplifier group 7. Each sense amplifier is connected to the data line DT via a transfer gate (column switch) (not shown) controlled by the output signal of the column decoder 5.
[0007]
As shown in FIG. 2B, the address buffer circuits 1 and 2 are each a synchronizing unit 10 that takes in each address signal Ai that constitutes the address signal AD in synchronization with the clock signal CK, and a control circuit that takes in the taken address signal Ai. 3 is comprised of an address latch unit 20 that holds the timing at the address take-in signal EX given from 3.
[0008]
The synchronizer 10 includes a transfer gate (hereinafter referred to as “TG”) 11 composed of an N channel MOS transistor (hereinafter referred to as “NMOS”) 11a and a P channel MOS transistor (hereinafter referred to as “PMOS”) 11b. The address signal Ai is supplied to the input side of the TG 11. The output side of the TG 11 is connected to a latch 12 composed of inverters 12 a and 12 b, and the output side of the latch 12 is connected to the input side of the inverter 13.
[0009]
The output side of the inverter 13 is connected to the input side of the TG 14 composed of the PMOS 14a and the NMOS 14b, and the output side of the TG 14 is connected to the latch 15 composed of the inverters 15a and 15b. The output side of the latch 15 is connected to the node NA via the inverter 16. The clock signal CK is supplied to the gates of the PMOS 11b and NMOS 14b, and is further supplied to the gates of the NMOS 11a and PMOS 14a through the inverter 17.
[0010]
The address latch unit 20 includes a 2-input negative AND gate (hereinafter referred to as “NAND”) 21 and an inverter 22 connected to the node NA, and the output side of the inverter is connected to the input side of the 2-input NAND 23. It is connected. An address take-in signal EX is given to the second input side of the NANDs 21 and 23.
[0011]
The output side of the NAND 21 is connected to the first input side of the NAND 24 a in a flip-flop (hereinafter referred to as “FF”) 24 composed of a 2-input NAND 24 a and a 3-input NAND 24 b. Further, the output side of the NAND 23 is connected to the first input side of the NAND 25a in the FF 25 including the 2-input NAND 25a and the 3-input NAND 25b.
[0012]
The output side of the NAND 24a is connected to the second input side of the NAND 24b. The output side of the NAND 24b is connected to the second input side of the NAND 24a and the first input side of the NAND 25b. Similarly, the output side of the NAND 25a is connected to the second input side of the NAND 25b. The output side of the NAND 25b is connected to the second input side of the NAND 25a and the first input side of the NAND 24b. A clear signal CL is supplied to the third input sides of the NANDs 24b and 25b.
[0013]
Further, buffers 26 and 27 are connected to the output sides of the NANDs 24a and 25a, respectively, and complementary address signals Xi and / Xi synchronized from these buffers 26 and 27 (where "/" means inversion). ) Is output.
[0014]
FIG. 3 is a signal waveform diagram showing an example of the operation of the address buffer circuit of FIG. The operation of the conventional address buffer circuit will be described below.
[0015]
When the address fetch signal EX is at the level “L” and the clear signal CL falls from the level “H” to “L” at the time t1 in FIG. 3, the FFs 24 and 25 of the address latch unit 20 are reset, and the address signal Xi and / Xi are both “L”. Thereafter, at time t2, the clear signal CL rises from “L” to “H”.
[0016]
At time t3, that is, the clock signal CK is “L”, and a predetermined time before rising to “H”, the address signal Ai is determined. Since the clock signal CK is “L”, TG11 is open and TG14 is closed. As a result, the address signal Ai (for example, “H”) is held in the latch 12, and the held signal is output to the output side of the inverter 13.
[0017]
Thereafter, at time t4, the clock signal CK rises to “H”. As a result, the TG 11 is closed and the TG 14 is opened, and the output signal of the inverter 13 is held in the latch 15 and is output from the node NA via the inverter 16 as the signal SA.
[0018]
When the address fetch signal EX changes from “L” to “H” at time t5, the NANDs 21 and 23 are opened, and the signal SA of the node NA is output from the NAND 21. Further, the signal SA of the node NA is inverted by the inverter 22 and output from the NAND 23. Output signals of the NANDs 21 and 23 are held in the FFs 24 and 25, respectively, and synchronized complementary address signals Xi and / Xi are output from the buffers 26 and 27, respectively.
[0019]
When the address fetch signal EX becomes “L” at time t6, the NANDs 21 and 23 are closed, and the output signals of these NANDs 21 and 23 both become “H”. As a result, the levels of the address signals Xi and / Xi held in the FFs 24 and 25 are held until the “L” clear signal CL is supplied to the FFs 24 and 25 at time t7.
[0020]
[Problems to be solved by the invention]
However, the conventional address buffer circuit has the following problems.
That is, when the address signal is supplied without satisfying the timing specifications, the FF 24 and the FF 25 may become “H”.
[0021]
When “H” is held in both the FFs 24 and 25, the address signals Xi and / Xi both become “H”. On the other hand, the address signals Xi and / Xi must be supplied to the row decoder 4 and the like as complementary signals. In particular, the row decoder 4 selects a single word line based on the complementary address signals Xi and / Xi, and both the address signals Xi and / Xi to be complementary are “H”. Then, a plurality of word lines are selected at the same time. When a plurality of word lines are simultaneously selected, a plurality of memory cells are connected via the bit line, the stored content is a problem that is destroyed.
[0022]
Usually, as timing specifications , a setup time between the input of the address signal Ai and the rise of the clock signal CK and a hold time for holding the address signal as it is after the rise of the clock signal CK are specified. If this is observed, the above problems will not occur. However, in a dummy cycle in which data is not actually read / written, a circuit having a timing condition that violates the above-mentioned rule is assumed, and in such a case, the above-described problem may occur.
[0023]
The present invention solves the problems of the prior art, and provides an address buffer circuit that does not hold an erroneous address signal that leads to destruction of stored contents even if the timing of the address signal Ai changes in a dummy cycle or the like To do.
[0024]
[Means for Solving the Problems]
In order to solve the above-mentioned problems, the present invention holds an address signal given from the outside in synchronization with a clock signal, and outputs the held address signal to an internal node, and outputs the address signal to the internal node. In an address buffer circuit of a synchronous memory comprising an address signal and an inverted address signal obtained by inverting the address signal based on an address fetch signal, and an address latch unit that outputs the retained complementary address signal. The address latch unit is configured as follows.
[0025]
That is, the address latch unit receives a complementary signal of the address signal of the internal node and the inverted address signal generated by inverting the address signal when the capture permission signal and the address capture signal are given. A complementary signal generating means for outputting, a first holding means for holding and outputting the address signal output from the complementary signal generating means, and erasing the held content when a clear signal is given, and the complementary signal A second holding means for holding and outputting the inverted address signal output from the signal generating means and erasing the held content when the clear signal is given; and the first and second holding means Capture control means for outputting the capture permission signal only when the retained contents are both erased.
[0026]
According to the present invention, since the address buffer circuit of the synchronous memory is configured as described above, the following operation is performed.
[0027]
In the synchronizer, an externally applied address signal is read and held in synchronization with the clock signal, and the held address signal is output to the internal node. The address signal output to the internal node is given to the complementary signal generating means.
[0028]
Here, when the capture permission signal and the address capture signal are given, a complementary address signal is generated and output by the complementary signal generating means, and held in the first and second holding means. When complementary address signals are held in the first and second holding means, the take-in permission signal from the take-in control means is stopped. As a result, the contents held by the first and second holding means are fixed.
[0029]
When a clear signal is given to the first and second holding means, the contents held in these first and second holding means are erased, and a take-in permission signal is output from the take-in control means. Further, when an address fetch signal is given, the address signal output to the internal node at that time is held in the first and second holding means. Thus, a new complementary address signal is held and output by the first and second holding means.
[0030]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
FIG. 1 is a configuration diagram of an address buffer circuit showing an embodiment of the present invention.
This address buffer circuit is provided as the address buffer circuit in FIG. 2A instead of the address buffer circuit in FIG. 2B, and is common to the elements common to the elements in FIG. The code | symbol is attached | subjected.
[0031]
The address buffer circuit includes a synchronizer 10 that takes in each address signal Ai that constitutes the address signal AD in synchronization with the clock signal CK, and an address latch unit 20A that holds the fetched address signal Ai at the timing of the address fetch signal EX. It consists of
[0032]
The synchronizer 10 is the same as the synchronizer in FIG. 2B, and has a TG 11 composed of an NMOS 11a and a PMOS 11b, and an address signal Ai is given to the input side of the TG 11. A latch 12 including inverters 12 a and 12 b is connected to the output side of the TG 11, and the output side of the latch 12 is connected to the input side of the inverter 13.
[0033]
The output side of the inverter 13 is connected to the input side of the TG 14 composed of the PMOS 14a and the NMOS 14b, and the output side of the TG 14 is connected to the latch 15 composed of the inverters 15a and 15b. The output side of the latch 15 is connected to the node NA via the inverter 16. The clock signal CK is supplied to the gates of the PMOS 11b and NMOS 14b, and is further supplied to the gates of the NMOS 11a and PMOS 14a through the inverter 17.
[0034]
The address latch unit 20A has complementary signal generation means (for example, 3-input NANDs 21A and 23A and an inverter 22). The first input side of the NAND 21A and the input side of the inverter 22 are connected to the node NA, and the output side of the inverter 22 is connected to the first input side of the NAND 23A. An address fetch signal EX is supplied to the second input side of the NANDs 21A and 23A. Further, the third input sides of the NANDs 21A and 23A are connected to the node NB so as to be provided with the capture permission signal EN.
[0035]
The output side of the NAND 21A is connected to the first input side of the NAND 24a in the first holding means (for example, FF) 24 composed of a 2-input NAND 24a and a 3-input NAND 24b. The output side of the NAND 23 is connected to the first input side of the NAND 25a in the second holding means (for example, FF) 25 constituted by a 2-input NAND 25a and a 3-input NAND 25b.
[0036]
The output side of the NAND 24a is connected to the second input side of the NAND 24b. The output side of the NAND 24b is connected to the second input side of the NAND 24a and the first input side of the NAND 25b. Similarly, the output side of the NAND 25a is connected to the second input side of the NAND 25b. The output side of the NAND 25b is connected to the second input side of the NAND 25a and the first input side of the NAND 24b. A clear signal CL is supplied to the third input side of the NANDs 24b and 25b.
[0037]
Further, buffers 26 and 27 are connected to the output sides of the NANDs 24a and 25a, respectively, and synchronized address signals Xi and / Xi are output from the buffers 26 and 27, respectively. The address signals Xi and / Xi are connected to the input side of the capture control means (for example, 2-input negative OR gate, hereinafter referred to as “NOR”) 28, and the output side of this NOR 28 is connected to the node NB. Has been. The take-in permission signal EN is output from the NOR 28 to the node NB.
[0038]
FIG. 4 is a signal waveform diagram showing an operation of the address buffer circuit of FIG. The operation of the address buffer circuit of FIG. 1 will be described below with reference to FIG.
[0039]
At time T1 in FIG. 4, it is assumed that the clear signal CL is “H”, the capture enable signal EN is “L”, the FF 24 is reset, and the FF 25 is set. As a result, the address signals Xi and / Xi are “L” and “H”, respectively. Here, when the address signal clock signal CK rises from “L” to “H”, the address signal Ai (AD1) is held in the latch 15 of the synchronizer 10 and is output from the node NA as the signal SA. At this time, since the contents held in the FFs 24 and 25 of the address latch unit 20A are “L” and “H”, respectively, the capture permission signal EN of the node NB is “L”, and the output signals of the NANDs 21A and 23A are both “ H ”. Therefore, the contents held in the FFs 24 and 25 do not change.
[0040]
When the clear signal CL falls from “H” to “L” at time T2, the FFs 24 and 25 are reset, and the address signals Xi and / Xi both become “L”. As a result, the capture enable signal EN becomes “H”. Thereafter, at time T3, the clear signal CL rises from “L” to “H”.
[0041]
When the clock signal CK rises from “L” to “H” at time T4, the address signal Ai (AD2) is held in the latch 15 of the synchronizer 10 and output to the node NA.
[0042]
When the address take-in signal EX changes from “L” to “H” at time T5, the NANDs 21A and 23A are opened, the signal SA of the node NA is output from the NAND 21A, and the signal SA is inverted by the inverter 22 to be NANDed 23A. Is output from. Output signals from the NANDs 21A and 23A are supplied to the FFs 24 and 25, respectively, held in the FFs 24 and 25, and synchronized address signals Xi and / Xi are output from the buffers 26 and 27, respectively.
[0043]
Thereby, the node NB becomes “L”, the NANDs 21A and 23 are closed, and the output signals of these NANDs 21A and 23A both become “H”. Thereafter, even if the address fetch signal EX becomes “H”, the NANDs 21A and 23A are not opened, and the level of the address signals Xi and / Xi held in the FFs 24 and 25 is the “L” clear signal CL. Until FFs 24 and 25 are provided.
[0044]
For example, when the address signal Ai changes almost simultaneously with the rise of the clock signal CK at time T6, the signal held in the latch 15 of the synchronizer 10 becomes indeterminate. However, even if the address fetch signal EX becomes “H” at this time, the fetch permission signal EN is “L”, so that this indeterminate signal is not fetched by the FFs 24 and 25.
[0045]
As described above, the address buffer circuit according to the present embodiment has the NOR 28 that sets the capture enable signal EN to “L” in order to close the NANDs 21A and 23A while the complementary address signals Xi and / Xi are applied. is doing. This prevents the contents held in the FFs 24 and 25 from being inadvertently rewritten and eliminates the possibility that the address signals Xi and / Xi simultaneously become “H”. Therefore, destruction of the stored contents of the memory cell due to simultaneous selection of a plurality of word lines due to the influence of noise or the like is prevented.
[0046]
Further, even when a signal ignoring the timing conditions of the clock signal CK and the address signal AD is given in a dummy cycle in which access to the memory cell is not actually performed, there is a possibility that the contents held in the FFs 24 and 25 are rewritten. There is no advantage.
[0047]
In addition, this invention is not limited to the said embodiment, A various deformation | transformation is possible. Examples of this modification include the following (a) and (b).
[0048]
(A) The circuit configuration of the synchronizer 10 is not limited to that shown in FIG. In other words, any circuit can be applied as long as it reads and holds the address signal Ai in synchronization with the clock signal CK.
[0049]
(B) The circuit configuration of the address latch unit 20A is not limited to that shown in FIG. That is, it is provided with two FFs 24 and 25 that generate and output complementary address signals Xi and / Xi, and a circuit that controls an address fetch operation according to the output signals of these FFs 24 and 25. It is equally applicable.
[0050]
【The invention's effect】
As described above in detail, according to the present invention, when complementary address signals are output from the first and second holding means, the capture control means for stopping the output of the capture permission signal; Complementary signal generation means is provided for generating a complementary address signal and supplying it to the first and second holding means when the acquisition permission signal and the address acquisition signal are given. As a result, there is no possibility that the address signal is simultaneously output from the first and second holding means, and the memory contents stored in the memory cell can be prevented from being destroyed by simultaneous selection of a plurality of word lines.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a configuration diagram of an address buffer circuit showing an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a schematic configuration diagram showing an example of a conventional synchronous memory.
FIG. 3 is a signal waveform diagram showing an example of the operation of the address buffer circuit of FIG.
4 is a signal waveform diagram showing an operation of the address buffer circuit of FIG. 1. FIG.
[Explanation of symbols]
10 Synchronizing part 11, 14 TG (transfer gate)
12, 15 Latch 20A Address latch unit 21A, 23A NAND (negative AND gate)
22 Inverters 24, 25 FF (flip-flop)
28 NOR (Negative OR gate)

Claims (1)

外部から与えられるアドレス信号をクロック信号に同期して保持し、その保持したアドレス信号を内部ノードに出力するシンクロナイズ部と、前記内部ノードに出力されたアドレス信号とそのアドレス信号を反転した反転アドレス信号をアドレス取込信号に基づいて保持し、その保持した相補的なアドレス信号を出力するアドレスラッチ部とを備えた同期型メモリのアドレスバッファ回路において、
前記アドレスラッチ部は、
取込許可信号と前記アドレス取込信号が与えられたときに、前記内部ノードのアドレス信号及びこのアドレス信号を反転して生成した反転アドレス信号の相補的な信号を出力する相補信号生成手段と、
前記相補信号生成手段から出力されるアドレス信号を保持して出力すると共に、クリア信号が与えられたときにその保持内容を消去する第1の保持手段と、
前記相補信号生成手段から出力される反転アドレス信号を保持して出力すると共に、前記クリア信号が与えられたときにその保持内容を消去する第2の保持手段と、
前記第1及び第2の保持手段の保持内容が共に消去されているときにのみ前記取込許可信号を出力する取込制御手段とを、
備えたことを特徴とする同期型メモリのアドレスバッファ回路。
A synchronization unit that holds an address signal supplied from the outside in synchronization with a clock signal and outputs the held address signal to an internal node, and an inverted address signal obtained by inverting the address signal output to the internal node and the address signal In the address buffer circuit of the synchronous memory including the address latch unit that holds the address based on the address fetch signal and outputs the held complementary address signal.
The address latch unit is
Complementary signal generation means for outputting a complementary signal of the address signal of the internal node and the inverted address signal generated by inverting the address signal when the capture permission signal and the address capture signal are given;
Holding and outputting an address signal output from the complementary signal generating means, and a first holding means for erasing the held content when a clear signal is given;
Holding and outputting an inverted address signal output from the complementary signal generating means, and second holding means for erasing the held content when the clear signal is given;
Capture control means for outputting the capture permission signal only when the retained contents of the first and second retaining means are erased together;
An address buffer circuit for a synchronous memory, comprising:
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