JP4555956B2 - Memory system, memory controller, and refresh operation control method for memory controller - Google Patents

Memory system, memory controller, and refresh operation control method for memory controller Download PDF

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Description

この発明は、メモリセルのリフレッシュ動作が必要なメモリデバイスを含むメモリシステム、メモリセルのリフレッシュ動作が必要なメモリデバイスを制御するメモリコントローラ及びメモリセルのリフレッシュ動作が必要なメモリデバイスを制御するメモリコントローラのリフレッシュ動作制御方法に関する。   The present invention relates to a memory system including a memory device that requires a memory cell refresh operation, a memory controller that controls a memory device that requires a memory cell refresh operation, and a memory controller that controls a memory device that requires a memory cell refresh operation. The present invention relates to a refresh operation control method.

例えば、特許文献1には、コンピュータシステムの状態に応じてメモリモジュールのリフレッシュレートを動的に調整する方法及び装置が開示されている。   For example, Patent Document 1 discloses a method and apparatus for dynamically adjusting the refresh rate of a memory module according to the state of a computer system.

特許文献1の装置は、複数のシステム状態を監視する手段と、監視するシステム状態のうちの少なくとも1つにおける変化を検出する手段と、監視するシステム状態のうちの少なくとも1つにおける変化の検出に応じて、コンピュータシステムの現在の状態における最適リフレッシュレートを判定する判定手段と、リフレッシュレートを判定された最適リフレッシュレートに設定する手段とを備えている。   The apparatus of Patent Literature 1 is used for detecting a change in at least one of a system state, a means for detecting a change in at least one of the system states to be monitored, a means for detecting a change in at least one of the system states to be monitored. Correspondingly, there are provided judging means for determining the optimum refresh rate in the current state of the computer system and means for setting the refresh rate to the judged optimum refresh rate.

特許文献1の装置によれば、リフレッシュレートを変更することができない場合とは異なり、リフレッシュレートを最適リフレッシュレートに設定することができる。これにより、特許文献1の装置によれば、例えば、コンピュータシステムがリブートすることを考慮して、冷却システムを過剰に設計することを要しない。そのため、特許文献1の装置では、コンピュータシステムに関係する環境設備(冷却システム等)の過剰設定に伴う高コスト化を回避することができる。
特開2006−120144号公報
According to the apparatus of Patent Document 1, unlike the case where the refresh rate cannot be changed, the refresh rate can be set to the optimum refresh rate. Thereby, according to the apparatus of patent document 1, it is not necessary to design a cooling system excessively in consideration of rebooting of a computer system, for example. Therefore, in the apparatus of Patent Document 1, it is possible to avoid an increase in cost due to excessive setting of environmental facilities (such as a cooling system) related to the computer system.
JP 2006-120144 A

ところで、小型化や高性能化の要請に応えるため、近年のメモリにおいては、複数のメモリを実装したMCP(Multi−Chip−Package)構造やPOP(Package―On―Package)構造が採用されている。   By the way, in order to meet the demand for miniaturization and high performance, recent memories employ an MCP (Multi-Chip-Package) structure or a POP (Package-On-Package) structure in which a plurality of memories are mounted. .

DRAM(ダイナミックランダムアクセスメモリ)では、時間の経過とともに該DRAMに書き込まれたメモリセルのデータが消え去ることを防ぐため、所定の周期でデータを保持するためのリフレッシュ動作が必要となる。   In a DRAM (Dynamic Random Access Memory), a refresh operation for holding data at a predetermined cycle is required in order to prevent the data of the memory cells written in the DRAM from disappearing over time.

ところが、DRAMでは、温度が上昇するにつれてデータ保持時間が短くなるため、温度が上昇するにつれて頻繁にリフレッシュ動作を行うことが求められる。   However, in a DRAM, the data retention time is shortened as the temperature rises, so that it is required to frequently perform a refresh operation as the temperature rises.

そこで、DRAMと該DRAMとは異なる他のメモリとを実装するMCP構造では、前記他のメモリが放出する熱によってDRAMの温度が上昇すると、DRAMがデータを保持する時間が短くなる。このため、DRAMの温度が上昇するにつれて、データが消え去ることを防ぐことが困難になり、DRAMのリフレッシュ動作の性能が劣ることが考えられる。   Therefore, in the MCP structure in which the DRAM and another memory different from the DRAM are mounted, when the temperature of the DRAM rises due to the heat released from the other memory, the time for the DRAM to hold data is shortened. For this reason, as the temperature of the DRAM rises, it becomes difficult to prevent the data from disappearing, and the performance of the refresh operation of the DRAM may be deteriorated.

また、前記特許文献1に開示される複数のシステム状態を監視する手段(温度検出素子等)は、MCP(マルチチップパッケージ)デバイス内やPOP(ペッケージオンパッケージ)デバイス内には付加できない。複数のチップダイが一つに樹脂などで実装される(例えば積層される)デバイス構造では、前記監視手段を組み込むことは構造的に難しく、また前記実装デバイスの温度と消費電力が、前記監視手段自身の消費電力とその熱量により更に付加されるという悪循環となる。   Further, the means for monitoring a plurality of system states (temperature detection elements and the like) disclosed in Patent Document 1 cannot be added in an MCP (multi-chip package) device or a POP (package-on-package) device. In a device structure in which a plurality of chip dies are mounted (for example, stacked) on one resin or the like, it is structurally difficult to incorporate the monitoring means, and the temperature and power consumption of the mounting device are determined by the monitoring means itself. It becomes a vicious circle that is further added by the power consumption and the amount of heat.

この発明は、このような状況に鑑み提案されたものであって、複数のメモリの内の一のメモリとは異なる他のメモリが放出する熱の影響を受けて、一のメモリのリフレッシュ動作の性能が劣ることを防止することができるメモリシステム、メモリコントローラ及びメモリコントローラのリフレッシュ動作制御方法を提供することを目的とする。   The present invention has been proposed in view of such a situation, and the refresh operation of one memory is affected by the influence of heat released from another memory different from the one of the plurality of memories. It is an object of the present invention to provide a memory system, a memory controller, and a refresh operation control method for the memory controller that can prevent inferior performance.

請求項1の発明に係るメモリコントローラは、所定の周期でメモリセルのデータ維持のためのリフレッシュ動作が必要なメモリを含む複数のメモリに接続されるメモリコントローラにおいて、前記リフレッシュ動作が必要な一のメモリとは異なる他のメモリへのアクセスを要求するデバイスからのメモリ要求信号を認識する要求認識部と、前記一のメモリのリフレッシュ動作周期を設定する動作周期設定部とを備え前記動作周期設定部は、前記要求認識部が出力認識する前記メモリ要求信号が前記他のメモリへのアクセス要求信号である場合、前記アクセス要求信号の受信後の前記リフレッシュ動作周期である第2リフレッシュ動作周期を、前記アクセス要求信号の受信前の前記リフレッシュ動作周期である第1リフレッシュ動作周期よりも短くし、前記要求認識部が認識する前記メモリ要求信号が前記他のメモリを非活性化するターミネート信号である場合、前記第2リフレッシュ動作周期を、前記第1リフレッシュ動作周期に戻すことを特徴とする。 Memory controller according to a first aspect of the invention, the memory controller connected to a plurality of memory including memory requiring refresh operation for data retention of the memory cell in a predetermined cycle, one need pre Symbol refresh operation memory request signal recognizing request recognition portion and the a operation cycle setting unit for setting a refresh operation cycle of one memory, the operating cycle of the device requesting access to different other memory and the memory setting unit, the main Motome認 if識部said memory request signal is outputted recognize an access request signal to the other memory, the second refresh operation is the refresh operation cycle after reception of said access request signal The first refresh operation cycle that is the refresh operation cycle before receiving the access request signal Shortened, if the request recognition portion recognizes the memory request signal is a terminate signal to deactivate the other memory, and wherein said second refresh operation cycle, return to the first refresh operation cycle To do.

請求項1の発明に係るメモリコントローラによれば、他のメモリへのアクセス要求に対応する動作を実行することにより、他のメモリが放出する熱量が増加することに対処するため、動作周期設定部によって、アクセス要求受信後のリフレッシュ動作周期を、アクセス要求受信前のリフレッシュ動作周期とは異なるものにすることができる。
そこで、請求項1の発明に係るメモリコントローラによれば、他のメモリが放出する熱量が増加して一のメモリが記憶内容を保持する時間が変化する場合であっても、アクセス要求受信後のリフレッシュ動作周期を、一のメモリが記憶内容を保持するために必要なリフレッシュ動作周期に設定することが可能となる。
したがって、請求項1の発明に係るメモリコントローラによれば、一のメモリが記憶内容を保持するために必要なリフレッシュ動作周期に設定することにより、一のメモリの記憶内容が消え去ることを防ぐことができる。このため、他のメモリが放出する熱の影響を受けて一のメモリのリフレッシュ動作の性能が劣ることを防止することができる。
According to the memory controller of the first aspect of the invention, in order to cope with an increase in the amount of heat released from the other memory by executing the operation corresponding to the access request to the other memory, the operation cycle setting unit Thus, the refresh operation cycle after receiving the access request can be made different from the refresh operation cycle before receiving the access request.
Therefore, according to the memory controller of the first aspect of the present invention, even when the amount of heat released from another memory increases and the time during which one memory holds the stored contents changes, The refresh operation cycle can be set to a refresh operation cycle necessary for one memory to hold the stored contents.
Therefore, according to the memory controller of the first aspect of the invention, the memory content of one memory can be prevented from disappearing by setting the refresh operation cycle necessary for one memory to hold the memory content. it can. For this reason, it is possible to prevent the performance of the refresh operation of one memory from being deteriorated due to the influence of heat released from another memory.

請求項の発明に係るメモリシステムは、所定の周期でメモリセルのデータ維持のためのリフレッシュ動作が必要なメモリを含む複数のメモリを有するメモリシステムにおいて、前記リフレッシュ動作が必要な一のメモリへアクセス要求と前記リフレッシュ動作が必要な一のメモリとは異なる他のメモリへのアクセス要求とを制御るメモリコントローラを備え、前記メモリコントローラは前記他のメモリへのアクセス要求の受信後の前記リフレッシュ動作周期である第2リフレッシュ動作周期を、前記他のメモリへのアクセス要求の受信前の前記リフレッシュ動作周期である第1リフレッシュ動作周期よりも短くし、前記他のメモリのアクセス要求の非活性化に対応して前記第2リフレッシュ動作周期を前記第1リフレッシュ動作周期に戻すことを特徴とする。 Memory system according to the invention of claim 8, in a memory system having a plurality of memory including refresh operation is required memory for data retention of the memory cell in a predetermined cycle, the refresh operation is one required memory comprising a Rume memory controller to control an access request to a different other memory access request and the refresh operation is one memory required to, the memory controller may request to access the other memory The second refresh operation cycle that is the refresh operation cycle after reception is made shorter than the first refresh operation cycle that is the refresh operation cycle before reception of the access request to the other memory, and the access to the other memory is performed. In response to the deactivation of the request, the second refresh operation cycle is changed to the first refresh operation cycle. And returning.

請求項の発明に係るメモリシステムによれば、他のメモリへのアクセスコマンドに対応する動作を実行することにより、他のメモリが放出する熱量が増加することに対処するため、メモリコントローラの動作周期設定部によって、アクセス後のリフレッシュ動作周期を、アクセス前のリフレッシュ動作周期とは異なるものにすることができる。
そこで、請求項の発明に係るメモリシステムによれば、他のメモリが放出する熱量が増加して一のメモリが記憶内容を保持する時間が変化する場合であっても、アクセス後のリフレッシュ動作周期を、一のメモリが記憶内容を保持するために必要なリフレッシュ動作周期に設定することが可能となる。
したがって、請求項の発明に係るメモリシステムによれば、一のメモリが記憶内容を保持するために必要なリフレッシュ動作周期に設定することにより、一のメモリの記憶内容が消え去ることを防ぐことができる。このため、他のメモリが放出する熱の影響を受けて一のメモリのリフレッシュ動作の性能が劣ることを防止することができる。
According to the memory system of the eighth aspect of the invention, in order to cope with an increase in the amount of heat released from the other memory by executing the operation corresponding to the access command to the other memory, the operation of the memory controller The cycle setting unit can make the refresh operation cycle after access different from the refresh operation cycle before access.
Therefore, according to the memory system of the eighth aspect of the invention, the refresh operation after access is performed even when the amount of heat released from another memory increases and the time for which one memory holds the stored contents changes. The cycle can be set to a refresh operation cycle necessary for one memory to hold the stored contents.
Therefore, according to the memory system of the eighth aspect of the invention, the memory content of one memory can be prevented from disappearing by setting the refresh operation cycle necessary for the memory to retain the memory content. it can. For this reason, it is possible to prevent the performance of the refresh operation of one memory from being deteriorated due to the influence of heat released from another memory.

請求項14の発明に係るメモリコントローラのリフレッシュ動作制御方法は、所定の周期でメモリセルのデータ維持のためのリフレッシュ動作が必要なメモリを含む複数のメモリに接続されるメモリコントローラのリフレッシュ動作制御方法において、前記リフレッシュ動作が必要な一のメモリとは異なる他のメモリへのアクセスを要求するデバイスからのメモリ要求信号を認識するステップ、前記一のメモリのリフレッシュ動作周期を変更するステップ2を備え、前記ステップ2は、前記ステップ1で認識する前記メモリ要求信号が前記他のメモリへのアクセス要求信号である場合、前記アクセス要求信号の受信後の前記リフレッシュ動作周期である第2リフレッシュ動作周期を、前記アクセス要求信号の受信前の前記リフレッシュ動作周期である第1リフレッシュ動作周期よりも短くし、前記ステップ1で認識する前記メモリ要求信号が前記他のメモリを非活性化する信号である場合、前記第2リフレッシュ動作周期を、前記第1リフレッシュ動作周期に戻すことを特徴とする。 A refresh operation control method for a memory controller according to a fourteenth aspect of the invention is a refresh operation control method for a memory controller connected to a plurality of memories including a memory that requires a refresh operation for maintaining data in memory cells at a predetermined cycle. in, change the memory request signal and recognizes step 1, the refresh operation cycle of the previous SL one memory of the device requesting access to different other memory and the refresh operation in the one memory needed Luz Step 2 is a second refresh operation cycle after receiving the access request signal when the memory request signal recognized in Step 1 is an access request signal to the other memory. A refresh operation cycle is defined as the refresh operation before receiving the access request signal. If the memory request signal recognized in step 1 is a signal for deactivating the other memory, the second refresh operation cycle is set to be shorter than the first refresh operation cycle, which is a cycle. It is characterized by returning to the operation cycle .

請求項14の発明に係るメモリコントローラのリフレッシュ動作制御方法によれば、他のメモリへのアクセスに対応する動作を実行することにより、他のメモリが放出する熱量が増加することに対処するため、動作周期設定のステップ2によって、他のメモリへのアクセス後の一のメモリのリフレッシュ動作周期を、他のメモリへのアクセス前の一のメモリのリフレッシュ動作周期とは異なるものにすることができる。
そこで、請求項14の発明に係るメモリコントローラのリフレッシュ動作制御方法によれば、他のメモリが放出する熱量が増加して一のメモリが記憶内容を保持する時間が変化する場合であっても、他のメモリへのアクセス後の一のメモリのリフレッシュ動作周期を、一のメモリが記憶内容を保持するために必要なリフレッシュ動作周期に設定することが可能となる。
したがって、請求項14の発明に係るメモリコントローラのリフレッシュ動作制御方法によれば、一のメモリが記憶内容を保持するために必要なリフレッシュ動作周期に設定することにより、一のメモリの記憶内容が消え去ることを防ぐことができる。このため、他のメモリが放出する熱の影響を受けて一のメモリのリフレッシュ動作の性能が劣ることを防止することができる。
According to the refresh operation control method for a memory controller according to the invention of claim 14 , in order to cope with an increase in the amount of heat released by another memory by executing an operation corresponding to access to the other memory, By the operation cycle setting step 2, the refresh operation cycle of one memory after accessing another memory can be made different from the refresh operation cycle of one memory before accessing another memory.
Therefore, according to the refresh operation control method of a memory controller according to the invention of claim 14 , even when the amount of heat released by another memory increases and the time for which one memory holds the stored contents changes, The refresh operation cycle of one memory after access to another memory can be set to a refresh operation cycle necessary for one memory to hold the stored contents.
Therefore, according to the refresh operation control method for a memory controller according to the fourteenth aspect of the present invention, the memory content of one memory is erased by setting the refresh operation cycle necessary for the memory to retain the memory content. Can be prevented. For this reason, it is possible to prevent the performance of the refresh operation of one memory from being deteriorated due to the influence of heat released from another memory.

本発明のメモリシステム、メモリコントローラ及びメモリコントローラのリフレッシュ動作制御方法によれば、他のメモリが放出する熱の影響を受けて一のメモリのリフレッシュ動作の性能が劣ることを防止することができる。   According to the memory system, the memory controller, and the refresh operation control method of the memory controller of the present invention, it is possible to prevent the performance of the refresh operation of one memory from being deteriorated due to the influence of heat released from another memory.

<実施形態>
本発明の実施形態を、図1ないし図14を参照しつつ説明する。図1は、本実施形態のメモリシステム1の回路ブロック図である。メモリシステム1は、シンクロナスDRAMコントローラ10(SDRAMコントローラ10)と、シンクロナスDRAM20(SDRAM20)と、シンクロナスフラッシュメモリ30(SNVM30)とを備えている。
<Embodiment>
An embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. FIG. 1 is a circuit block diagram of the memory system 1 of the present embodiment. The memory system 1 includes a synchronous DRAM controller 10 (SDRAM controller 10), a synchronous DRAM 20 (SDRAM 20), and a synchronous flash memory 30 (SNVM 30).

SDRAM20とSNVM30とが積層構造で組み合わされて樹脂などで封止された図12に開示されるMCP(マルチチップパッケージ)デバイスで構成されている。更に、SDRAMコントローラ10が、前記MCPのチップ2(他の機能チップダイ)として組み込まれる。一方、樹脂などで封止されたSDRAM20(チップ1)部品1と、別の樹脂などで封止されたSNVM30(チップ3)とSDRAMコントローラ10(チップ2)とが積層構造で組み合わされて樹脂などで封止された部品2が、図13に開示されるPOP(パッケージオンパッケージ)デバイスで構成されている。尚、能動部品としてのSDRAMコントローラ10、それぞれの受動部品としてのSDRAM20とSNVM30の前記MCP/前記POP内の配置場所(チップ1〜3への割付け)は、任意である。しかし、動作周波数の高い消費電力が大きなSDRAM20とSNVM30は、他の機能チップ(チップ2)を介在して分散配置されることが望ましい。   The SDRAM 20 and the SNVM 30 are combined with each other in a laminated structure, and are configured with an MCP (multi-chip package) device disclosed in FIG. Further, an SDRAM controller 10 is incorporated as the MCP chip 2 (another functional chip die). On the other hand, the SDRAM 20 (chip 1) component 1 sealed with resin or the like, the SNVM 30 (chip 3) sealed with another resin or the like, and the SDRAM controller 10 (chip 2) are combined in a laminated structure to form a resin or the like. The component 2 encapsulated in (1) is composed of a POP (package on package) device disclosed in FIG. It should be noted that the SDRAM controller 10 as an active component, the SDRAM 20 and the SNVM 30 as passive components, and the placement locations (assignment to the chips 1 to 3) in the MCP / POP are arbitrary. However, it is desirable that the SDRAM 20 and the SNVM 30 having a high operating frequency and large power consumption are distributedly arranged with other functional chips (chip 2) interposed therebetween.

メモリシステム1では、SDRAM20とSNVM30とがSDRAMコントローラ10に同一の制御線(CLK、CKE、RAS#、CAS#、WE#、AD、DQ)で接続され、同一のコマンド体系(リードやライトコマンド)でSDRAMコントローラ10から制御される。   In the memory system 1, the SDRAM 20 and the SNVM 30 are connected to the SDRAM controller 10 through the same control lines (CLK, CKE, RAS #, CAS #, WE #, AD, DQ), and the same command system (read and write commands). The SDRAM controller 10 controls.

メモリシステム1では、制御用の信号線によって、SDRAMコントローラ10、SDRAM20及びシンクロナスフラッシュメモリ30が低抵抗で高熱伝導率(50〜400W/mK)な金属系の材料で互いに共通に接続されている。SDRAM20及びシンクロナスフラッシュメモリ30には、各種クロック信号、各種コマンド信号、アドレス信号及びデータ信号がそれぞれ共通に入出力される。   In the memory system 1, the SDRAM controller 10, the SDRAM 20, and the synchronous flash memory 30 are commonly connected to each other with a metal material having a low resistance and a high thermal conductivity (50 to 400 W / mK) through a control signal line. . Various clock signals, various command signals, address signals, and data signals are inputted to and outputted from the SDRAM 20 and the synchronous flash memory 30 in common.

SDRAM20及びシンクロナスフラッシュメモリ30には、クロック信号CLK、イネーブルクロック信号CKE、ロウアドレスセレクト信号RAS#、カラムアドレスセレクト信号CAS#、ライトイネーブル信号WE#、アドレス信号AD及びデータ信号DQが前記低抵抗で前記高熱伝導率な金属系の材料でそれぞれ共通に入出力される。   In the SDRAM 20 and the synchronous flash memory 30, the clock signal CLK, the enable clock signal CKE, the row address select signal RAS #, the column address select signal CAS #, the write enable signal WE #, the address signal AD, and the data signal DQ are stored in the low resistance. Thus, input / output is commonly performed on the metal material having high thermal conductivity.

チップセレクト信号CS1#は、SDRAM20に入力される。チップセレクト信号CS2#は、シンクロナスフラッシュメモリ30に入力される。   Chip select signal CS1 # is input to SDRAM 20. The chip select signal CS2 # is input to the synchronous flash memory 30.

低抵抗で高熱伝導率な同一の制御線(CLK、CKE、RAS#、CAS#、WE#、AD、DQ)で接続されたSDRAM20とSNVM30は、互いの動作による発熱を短時間で共有する。MCPデバイス(図12)やPOPデバイス(図13)内で共有接続する前記同一の制御線を通じて、熱を共有するからである。SDRAM20のメモリセルのデータ保持特性が熱要素により依存する場合、SDRAM20が動作していなくとも(所定時間の周期によるリフレッシュ動作のみ)SNVM30の高速な動作により短時間に熱を共有し、SDRAM20のメモリセルのデータ保持特性が劣化する。MCPデバイスやPOPデバイス内の発熱量が最も大きなケースは、SDRAM20とSNVM30とが同時に動作する時であり、例えばSDRAMコントローラ10の指令によりSDRAM20とSNVM30間でデータの通信を行う動作である。   The SDRAM 20 and the SNVM 30 connected by the same control line (CLK, CKE, RAS #, CAS #, WE #, AD, DQ) having a low resistance and high thermal conductivity share heat generated by the mutual operation in a short time. This is because heat is shared through the same control line that is shared and connected in the MCP device (FIG. 12) and the POP device (FIG. 13). When the data retention characteristics of the memory cells of the SDRAM 20 depend on thermal elements, even if the SDRAM 20 is not operating (only a refresh operation with a predetermined period of time), heat is shared in a short time by the high-speed operation of the SNVM 30, and the memory of the SDRAM 20 The data retention characteristics of the cell deteriorate. The case where the amount of heat generated in the MCP device or POP device is the largest is when the SDRAM 20 and the SNVM 30 operate simultaneously. For example, data is communicated between the SDRAM 20 and the SNVM 30 in response to a command from the SDRAM controller 10.

図1のメモリシステム1では、SDRAMコントローラ10内に、要求認識部11、演算アルゴリズムプロセッサ12、動作周期設定部13を備える。要求認識部11は、CPUからSDRAMコントローラ10が支配下に置くSDRAM20とSNVM30のデータアクセスのためのメモリ要求信号を認識する機能を備える。要求認識部11は、SDRAM20へのアクセスの場合SD要求信号を出力し、SNVM30へのアクセスの場合SNVM要求信号を出力する。演算アルゴリズムプロセッサ12は、各メモリとの通信を行うにあたっての仕様(コマンド種類、レイテンシ、バースト長、アドレス、データ等)に準じて所定のルーチンで通信規則を発行する。動作周期設定部13は、SDRAM20のメモリセルのリフレッシュを管理する。具体的には、SDRAMコントローラ10がSDRAM20へ所定の周期でリフレッシュコマンドを発行する場合や、セルフリフレッシュ機能を備えるSDRAM20へ前記所定の周期設定情報をモードレジスタ情報として発行する場合に、動作周期設定部13がリフレッシュ管理情報を管理する。これらの管理情報として動作周期設定部13は、演算アルゴリズムプロセッサ12へリフレッシュ要求信号を出力する。   The memory system 1 in FIG. 1 includes a request recognition unit 11, an arithmetic algorithm processor 12, and an operation cycle setting unit 13 in the SDRAM controller 10. The request recognition unit 11 has a function of recognizing a memory request signal for data access of the SDRAM 20 and the SNVM 30 placed under the control of the SDRAM controller 10 from the CPU. The request recognition unit 11 outputs an SD request signal when accessing the SDRAM 20, and outputs an SNVM request signal when accessing the SNVM 30. The arithmetic algorithm processor 12 issues a communication rule in a predetermined routine according to specifications (command type, latency, burst length, address, data, etc.) for performing communication with each memory. The operation cycle setting unit 13 manages refresh of the memory cells of the SDRAM 20. Specifically, when the SDRAM controller 10 issues a refresh command to the SDRAM 20 at a predetermined cycle, or when the SDRAM controller 10 issues the predetermined cycle setting information as mode register information to the SDRAM 20 having a self-refresh function, the operation cycle setting unit 13 manages refresh management information. As such management information, the operation cycle setting unit 13 outputs a refresh request signal to the arithmetic algorithm processor 12.

要求認識部11のSD/SNVM要求信号(SD要求信号、SNVM要求信号)は、演算アルゴリズムプロセッサ12へ接続される。SNVM要求信号が、動作周期設定部13へ入力される。動作周期設定部13のリフレッシュ要求信号は、演算アルゴリズムプロセッサ12へ入力される。演算アルゴリズムプロセッサ12のターミネート信号は、動作周期設定部13へ入力される。
これらの信号の作用を説明する。
要求認識部11は、CPUからSNVM30へのメモリ要求信号を認識すると、演算アルゴリズムプロセッサ12と動作周期設定部13へSNVM要求信号を出力する。SDRAM20のメモリセルのリフレッシュを管理する動作周期設定部13は、現在のリフレッシュ管理情報を変更して、演算アルゴリズムプロセッサ12へリフレッシュ要求信号を出力する。具体的には、近い将来SNVM30のアクセスに伴い発生するMCP/POP内の発熱量増大に対応して、SDRAM20のリフレッシュ周期を、短周期に変更する。
前記短周期のリフレッシュにより、SDRAM20のメモリセルは、SNVM30が発する熱によるパッケージデバイス内の熱増加によらず、データを高い信頼性で保持できる。
演算アルゴリズムプロセッサ12は、前記仕様/前記通信規則に従ってSNVM30へのアクセスが終了する場合、動作周期設定部13へターミネート信号を出力する。動作周期設定部13は、ターミネート信号に従って前記短周期に変更されたSDRAM20のリフレッシュ周期を元の周期に戻す処理を行う。
The SD / SNVM request signal (SD request signal, SNVM request signal) of the request recognition unit 11 is connected to the arithmetic algorithm processor 12. The SNVM request signal is input to the operation cycle setting unit 13. The refresh request signal from the operation cycle setting unit 13 is input to the arithmetic algorithm processor 12. The termination signal of the arithmetic algorithm processor 12 is input to the operation cycle setting unit 13.
The operation of these signals will be described.
When the request recognition unit 11 recognizes the memory request signal from the CPU to the SNVM 30, the request recognition unit 11 outputs the SNVM request signal to the arithmetic algorithm processor 12 and the operation cycle setting unit 13. The operation cycle setting unit 13 that manages the refresh of the memory cells of the SDRAM 20 changes the current refresh management information and outputs a refresh request signal to the arithmetic algorithm processor 12. Specifically, the refresh cycle of the SDRAM 20 is changed to a short cycle in response to an increase in the amount of heat generated in the MCP / POP that will be generated in the near future when the SNVM 30 is accessed.
By the refresh of the short cycle, the memory cell of the SDRAM 20 can hold data with high reliability irrespective of the heat increase in the package device due to the heat generated by the SNVM 30.
The arithmetic algorithm processor 12 outputs a termination signal to the operation cycle setting unit 13 when access to the SNVM 30 is completed according to the specification / communication rule. The operation cycle setting unit 13 performs a process of returning the refresh cycle of the SDRAM 20 changed to the short cycle to the original cycle in accordance with the termination signal.

尚、SDRAMコントローラ10は、必ずしもSNVM30へのアクセス(ステップN)に対してSDRAM20のリフレッシュ周期変更のためのアクセス(ステップN−1またはステップN+1)を直前/直後に設定する必要はない。この理由は、後述する時間調整により開示される。即ち、SNVM30へのアクセスが発生次第、その前後ですみやかに(遅滞なく)SDRAM20の周波数変更の処理をすることが本願発明の開示することである。   Note that the SDRAM controller 10 does not necessarily need to set the access (step N-1 or step N + 1) for changing the refresh cycle of the SDRAM 20 immediately before / after the access to the SNVM 30 (step N). The reason is disclosed by time adjustment described later. That is, as soon as access to the SNVM 30 occurs, the present invention discloses that the frequency change processing of the SDRAM 20 is performed immediately (without delay) before and after.

図4〜図8は、SDRAMコントローラ10の制御方法を示すタイミングチャートである。図4は、SDRAMコントローラ10がSDRAM20へ所定の周期でリフレッシュコマンドを発行する場合の制御方法を示すタイミングチャートである。
図5は、SDRAMコントローラ10が、セルフリフレッシュ機能を備えるSDRAM20へ前記所定の周期設定情報をモードレジスタ情報として発行する場合の制御方法を示すタイミングチャートである。
図6は、SDRAMコントローラ10が、プリチャージ機能付きアクティブコマンド(Active with autoprecharge command)を備えるSDRAM20へ前記所定の周期設定情報をモードレジスタ情報として発行する場合の制御方法を示すタイミングチャートである。
図7は、DRAMコントローラ10が、プリチャージコマンド(Precharge command)を備えるSDRAM20へ前記所定の周期設定情報をモードレジスタ情報として発行する場合の制御方法を示すタイミングチャートである。
図8は、SDRAMコントローラ10が、セルフリフレッシュ機能を備えるSDRAM20へSNVM30の活性化状態を中断または終了させるコマンドであるターミネートコマンドに応じて、SDRAM20へ前記所定の周期設定情報をモードレジスタ情報として発行する場合の制御方法を示すタイミングチャートである。
図4のタイミングチャートを説明する。
電源投入後、SDRAMコントローラ10は、所定のリフレッシュ動作周期(16μs)でSDRAM20のメモリセルのリフレッシュを管理する。16μs毎にSDRAM20へSDRAMリフレッシュコマンドを発行する。CPUからの要求でSDRAMアクセスコマンドがある場合、前記演算アルゴリズムプロセッサ12がSDRAMリフレッシュコマンドとの優先度を調整する。
CPUからの要求でSNVM30へアクセス要求がある場合、SDRAMコントローラ10がSNVM30へシンクロナスフラッシュメモリアクセスコマンド(アクティブコマンド)を発行する。そして、この時からSDRAM20のメモリセルのリフレッシュ管理は、変更される。所定のリフレッシュ動作周期(16μs)から第2リフレッシュ動作周期(8μs)へと短い時間へ変更される。SDRAMコントローラ10―SNVM30間との通信中に、SDRAM20は第2リフレッシュ動作周期(8μs)が来るたびに、SDRAMコントローラ10がSDRAMリフレッシュコマンドを発行する。DRAMコントローラ10がSNVM30との通信を終了させるためのプリチャージコマンドを発行した場合、SDRAM20のメモリセルのリフレッシュ管理は、変更される。第2リフレッシュ動作周期(8μs)から所定のリフレッシュ動作周期(16μs)へと長い時間へ変更される。
4 to 8 are timing charts showing a control method of the SDRAM controller 10. FIG. 4 is a timing chart showing a control method when the SDRAM controller 10 issues a refresh command to the SDRAM 20 at a predetermined cycle.
FIG. 5 is a timing chart showing a control method when the SDRAM controller 10 issues the predetermined cycle setting information as mode register information to the SDRAM 20 having a self-refresh function.
FIG. 6 is a timing chart showing a control method when the SDRAM controller 10 issues the predetermined cycle setting information as mode register information to the SDRAM 20 having an active command with a precharge function (Active with autoprecharge command).
FIG. 7 is a timing chart showing a control method in the case where the DRAM controller 10 issues the predetermined cycle setting information as mode register information to the SDRAM 20 having a precharge command.
FIG. 8 shows that the SDRAM controller 10 issues the predetermined cycle setting information as mode register information to the SDRAM 20 in response to a terminate command which is a command for interrupting or terminating the activation state of the SNVM 30 to the SDRAM 20 having a self-refresh function. It is a timing chart which shows the control method in the case.
The timing chart of FIG. 4 will be described.
After power-on, the SDRAM controller 10 manages the refresh of the memory cells of the SDRAM 20 in a predetermined refresh operation cycle (16 μs). An SDRAM refresh command is issued to the SDRAM 20 every 16 μs. When there is an SDRAM access command in response to a request from the CPU, the arithmetic algorithm processor 12 adjusts the priority with the SDRAM refresh command.
When there is an access request to the SNVM 30 by a request from the CPU, the SDRAM controller 10 issues a synchronous flash memory access command (active command) to the SNVM 30. From this time, the refresh management of the memory cells of the SDRAM 20 is changed. The time is changed from the predetermined refresh operation cycle (16 μs) to the second refresh operation cycle (8 μs). During communication between the SDRAM controller 10 and the SNVM 30, the SDRAM 20 issues an SDRAM refresh command each time the second refresh operation period (8 μs) comes. When the DRAM controller 10 issues a precharge command for ending communication with the SNVM 30, the refresh management of the memory cell of the SDRAM 20 is changed. The time is changed from the second refresh operation cycle (8 μs) to a predetermined refresh operation cycle (16 μs).

図5のタイミングチャートを説明する。図4と共通の部分は説明を省略する。
図5は、SDRAMコントローラ10が、セルフリフレッシュ機能を備えるSDRAM20へ前記所定の周期設定情報をモードレジスタ情報として発行する場合の制御方法を示すタイミングチャートである。
電源投入後、SDRAMコントローラ10は、レイテンシ設定やモードレジスタ設定を行うSDRAM20のイニシャライズシーケンス中にリフレッシュ動作周期の設定も行う。これは、リフレッシュ動作周期設定コマンドでSDRAM20のモードレジスタに設定される。SDRAM20は、このレジスタ設定に従って自己のメモリのリフレッシュ制御を自己でバックグランド処理(所定のリフレッシュ動作周期(16μs))する。SDRAMコントローラ10は、レジスタ管理を行うのみである。
CPUからの要求でSNVM30へアクセス要求がある場合、SDRAMコントローラ10は、リフレッシュ動作周期設定コマンドでSDRAM20のモードレジスタ値を第2リフレッシュ動作周期(8μs)へ変更する。その後すみやかに、シンクロナスフラッシュメモリアクセスコマンド(アクティブコマンド)が発行される。SDRAMコントローラ10―SNVM30間との通信中に、SDRAM20は第2リフレッシュ動作周期(8μs)でセルフリフレッシュを行う。
SDRAMコントローラ10がSNVM30との通信を終了させるためのプリチャージコマンドを発行した場合、その後すみやかに、リフレッシュ動作周期設定コマンドでSDRAM20のモードレジスタ値を所定のリフレッシュ動作周期(16μs)へ変更する。SDRAM20のメモリセルのリフレッシュ管理は、変更される。
The timing chart of FIG. 5 will be described. Description of the same parts as those in FIG. 4 is omitted.
FIG. 5 is a timing chart showing a control method when the SDRAM controller 10 issues the predetermined cycle setting information as mode register information to the SDRAM 20 having a self-refresh function.
After power-on, the SDRAM controller 10 also sets a refresh operation cycle during the initialization sequence of the SDRAM 20 that performs latency setting and mode register setting. This is set in the mode register of the SDRAM 20 by a refresh operation cycle setting command. The SDRAM 20 performs background processing (predetermined refresh operation period (16 μs)) by itself in accordance with the register setting. The SDRAM controller 10 only performs register management.
When there is an access request to the SNVM 30 by a request from the CPU, the SDRAM controller 10 changes the mode register value of the SDRAM 20 to the second refresh operation cycle (8 μs) by a refresh operation cycle setting command. Immediately thereafter, a synchronous flash memory access command (active command) is issued. During communication between the SDRAM controller 10 and the SNVM 30, the SDRAM 20 performs self-refreshing in the second refresh operation cycle (8 μs).
When the SDRAM controller 10 issues a precharge command for ending the communication with the SNVM 30, the mode register value of the SDRAM 20 is immediately changed to a predetermined refresh operation cycle (16 μs) by a refresh operation cycle setting command. The refresh management of the memory cell of the SDRAM 20 is changed.

尚、前記アクティブコマンドまたは前記プリチャージコマンドと前記リフレッシュ動作周期設定コマンド(モードレジスタ設定コマンド)は、その前後関係が逆であっても良い。演算アルゴリズムプロセッサ12により、最適に前後関係が決定される。
具体的な例示として、SDRAMコントローラ10がSNVM30のアクセスを優先する場合、SNVM30のメモリバンクとワード線を活性する活性化コマンド(アクティブコマンド)を発行し、その後すみやかにSDRAM20のリフレッシュ動作周期設定コマンド(モードレジスタ設定コマンド)が発行され、その後所定のレイテンシでSNVM30のコラム線を活性する活性化コマンド(リードコマンドまたはライトコマンド)が発行される。この場合、「所定のリフレッシュ動作周期(16μs)から第2リフレッシュ動作周期(8μs)に設定されるまでの時間」であるアクティブコマンドからモードレジスタ設定コマンドが発行されるまでの時間が、所定の時間調整に相当する。
The active command or the precharge command and the refresh operation cycle setting command (mode register setting command) may be reversed in order. The arithmetic algorithm processor 12 optimally determines the context.
As a specific example, when the SDRAM controller 10 gives priority to the access of the SNVM 30, an activation command (active command) for activating the memory bank and the word line of the SNVM 30 is issued, and then a refresh operation cycle setting command ( Mode register setting command) and then an activation command (read command or write command) for activating the column line of the SNVM 30 with a predetermined latency. In this case, the time from the active command being the “time from the predetermined refresh operation cycle (16 μs) to the second refresh operation cycle (8 μs) being set” until the mode register setting command is issued is a predetermined time. It corresponds to adjustment.

図6のタイミングチャートを説明する。図5と共通の部分は説明を省略する。
図6は、CPUからの要求でSNVM30へアクセス要求がある場合、SDRAMコントローラ10が、プリチャージ機能付きアクティブコマンド(Active with autoprecharge command)を発行する。SDRAMコントローラ10は、プリチャージ機能付きアクティブコマンドの発行前にすみやかに、リフレッシュ動作周期設定コマンドでSDRAM20のモードレジスタ値を第2リフレッシュ動作周期(8μs)へ変更する。前記所定の時間調整は、CPUがSNVM30へアクセス要求したアドレス深さと前記演算アルゴリズムプロセッサ12が、SNVM30との通信を行うにあたっての仕様(レイテンシ、バースト長)に準じて決定される。
The timing chart of FIG. 6 will be described. Description of the same parts as those in FIG. 5 is omitted.
In FIG. 6, when there is an access request to the SNVM 30 by a request from the CPU, the SDRAM controller 10 issues an active command with a precharge function (Active with autoprecharge command). The SDRAM controller 10 immediately changes the mode register value of the SDRAM 20 to the second refresh operation cycle (8 μs) by the refresh operation cycle setting command before issuing the active command with a precharge function. The predetermined time adjustment is determined according to the address depth requested by the CPU to access the SNVM 30 and the specifications (latency, burst length) when the arithmetic algorithm processor 12 communicates with the SNVM 30.

図7のタイミングチャートを説明する。図5と共通の部分は説明を省略する。
図7は、SDRAMコントローラ10がSNVM30との通信を終了させるためのプリチャージコマンドを発行した後、所定の時間調整後にリフレッシュ動作周期設定コマンドでSDRAM20のモードレジスタ値を所定のリフレッシュ動作周期(16μs)へ変更する。前記所定の時間調整は、MCP/POPデバイスのヒードダウンまでの時間に準じて決定される。
The timing chart of FIG. 7 will be described. Description of the same parts as those in FIG. 5 is omitted.
FIG. 7 shows that after the SDRAM controller 10 issues a precharge command for ending communication with the SNVM 30, the mode register value of the SDRAM 20 is set to a predetermined refresh operation cycle (16 μs) by a refresh operation cycle setting command after a predetermined time adjustment. Change to The predetermined time adjustment is determined according to the time until the MCP / POP device is brought down.

図8のタイミングチャートを説明する。図5と共通の部分は説明を省略する。
図8は、SDRAMコントローラ10がSNVM30との通信を終了させるためのプリチャージコマンド(図5)に代えて、SNVM30の活性化状態を中断または終了させるコマンドであるターミネートコマンドに応じて、SDRAM20へ前記所定の周期設定情報をモードレジスタ情報として発行する場合の制御方法を示すタイミングチャートである。
SDRAMコントローラ10が、ターミネートコマンドを発行した後、その後すみやかに、リフレッシュ動作周期設定コマンドでSDRAM20のモードレジスタ値を所定のリフレッシュ動作周期(16μs)へ変更する。SDRAM20のメモリセルのリフレッシュ管理は、変更される。前記中断は、SNVM30のバーストリード/バーストライトの中断、SNVM30のプログラム/イレース処理の中断(サスペンドコマンド)などである。尚、前記中断の後、再びSNVM30へ再活性コマンド(レジュームコマンド)がSDRAMコントローラ10から発行される場合、SDRAMコントローラ10は、再活性コマンドの前後に速やかにリフレッシュ動作周期設定コマンドを発行し、SDRAM20のモードレジスタ値を第2リフレッシュ動作周期(8μs)へ変更する。
The timing chart of FIG. 8 will be described. Description of the same parts as those in FIG. 5 is omitted.
FIG. 8 shows the SDRAM controller 10 in response to a terminate command which is a command for interrupting or terminating the activation state of the SNVM 30 instead of the precharge command (FIG. 5) for terminating the communication with the SNVM 30. It is a timing chart which shows the control method in the case of issuing predetermined period setting information as mode register information.
After the SDRAM controller 10 issues a terminate command, the mode register value of the SDRAM 20 is immediately changed to a predetermined refresh operation cycle (16 μs) by a refresh operation cycle setting command. The refresh management of the memory cell of the SDRAM 20 is changed. The interruption includes interruption of SNVM30 burst read / burst write, interruption of SNVM30 program / erase processing (suspend command), and the like. When the reactivation command (resume command) is issued from the SDRAM controller 10 to the SNVM 30 again after the interruption, the SDRAM controller 10 issues a refresh operation cycle setting command immediately before and after the reactivation command. The mode register value is changed to the second refresh operation cycle (8 μs).

図9は、SDRAMコントローラ10の回路ブロック図である。
具体的には、SDRAMコントローラ10がSDRAM20へ所定の周期でリフレッシュコマンドを発行する機能を備えたSDRAMコントローラ10の回路ブロック図である。
SDRAMコントローラ10は、要求認識部100、リフレッシュ管理部101、リフレッシュ管理部101内にタイマ102とタイマ設定値変更部(動作周期設定部)110、演算アルゴリズムプロセッサ103、コマンド発生部104、アドレス発生部105、データ発生部106、メモリインタフェース部107を備える。要求認識部100は、CPUからSDRAMコントローラ10が支配下に置くSDRAM20とSNVM30のデータアクセスのためのメモリ要求信号を認識する機能を備える。要求認識部100は、SDRAM20へのアクセスの場合SD要求信号を出力し、SNVM30へのアクセスの場合SNVM要求信号を出力する。演算アルゴリズムプロセッサ103は、各メモリとの通信を行うにあたっての仕様(コマンド種類、レイテンシ、バースト長、アドレス、データ等)に準じて所定のルーチンで通信規則を発行する。リフレッシュ管理部101は、SDRAM20のリフレッシュ動作周期を計測するタイマ102と、そのタイマの設定を行うタイマ設定値変更部(動作周期設定部)110を備え、所定のリフレッシュ動作周期(16μs)毎に演算アルゴリズムプロセッサ103へリフレッシュ要求を行う。また、演算アルゴリズムプロセッサ103からの要求によりタイマ設定値変更部(動作周期設定部)110のタイマ102の設定値を変更する。コマンド発生部104、アドレス発生部105、データ発生部106は、演算アルゴリズムプロセッサ103からの指令に応じて所定のコマンド、アドレス、データを発生する。メモリインタフェース部107は、所定のコマンド、アドレス、データを、SDRAM20とSNVM30へ伝送する。尚、SDRAM20とSNVM30からのデータ等を受信し、CPU側へ伝送する回路ブロックは図示されない。
FIG. 9 is a circuit block diagram of the SDRAM controller 10.
Specifically, FIG. 2 is a circuit block diagram of the SDRAM controller 10 having a function in which the SDRAM controller 10 issues a refresh command to the SDRAM 20 at a predetermined cycle.
The SDRAM controller 10 includes a request recognition unit 100, a refresh management unit 101, a timer 102 and a timer setting value change unit (operation cycle setting unit) 110, an arithmetic algorithm processor 103, a command generation unit 104, and an address generation unit. 105, a data generation unit 106, and a memory interface unit 107. The request recognition unit 100 has a function of recognizing a memory request signal for data access of the SDRAM 20 and the SNVM 30 placed under the control of the SDRAM controller 10 from the CPU. The request recognition unit 100 outputs an SD request signal when accessing the SDRAM 20, and outputs an SNVM request signal when accessing the SNVM 30. The arithmetic algorithm processor 103 issues a communication rule in a predetermined routine in accordance with specifications (command type, latency, burst length, address, data, etc.) for performing communication with each memory. The refresh management unit 101 includes a timer 102 that measures the refresh operation cycle of the SDRAM 20 and a timer setting value change unit (operation cycle setting unit) 110 that sets the timer, and performs an operation every predetermined refresh operation cycle (16 μs). A refresh request is made to the algorithm processor 103. Further, the setting value of the timer 102 of the timer setting value changing unit (operation cycle setting unit) 110 is changed in response to a request from the arithmetic algorithm processor 103. The command generation unit 104, the address generation unit 105, and the data generation unit 106 generate predetermined commands, addresses, and data according to instructions from the arithmetic algorithm processor 103. The memory interface unit 107 transmits predetermined commands, addresses, and data to the SDRAM 20 and the SNVM 30. A circuit block that receives data from the SDRAM 20 and the SNVM 30 and transmits the data to the CPU is not shown.

要求認識部100のSD/SNVM要求信号(SD要求信号、SNVM要求信号)は、演算アルゴリズムプロセッサ103へ接続される。SNVM要求信号が、リフレッシュ管理部101内の動作周期設定部110へ入力される。動作周期設定部110はタイマ102へ接続される。リフレッシュ管理部101のリフレッシュ要求信号は、演算アルゴリズムプロセッサ103へ入力される。演算アルゴリズムプロセッサ103のターミネート信号は、リフレッシュ管理部101内の動作周期設定部110へ入力される。
これらの信号の作用を説明する。
要求認識部100は、CPUからSNVM30へのメモリ要求信号を認識すると、演算アルゴリズムプロセッサ103とリフレッシュ管理部101内の動作周期設定部110へSNVM要求信号を出力する。SDRAM20のメモリセルのリフレッシュを管理するリフレッシュ管理部101は、電源投入後から動作し続けるタイマ102の出力に対応してリフレッシュ管理情報を変更して、周期変更されたリフレッシュ動作周期(8μs)毎に演算アルゴリズムプロセッサ12へリフレッシュ要求信号を出力する。演算アルゴリズムプロセッサ12は、リフレッシュ要求信号に従ってコマンド発生部へリフレッシュコマンドを発生するように指令する。
The SD / SNVM request signal (SD request signal, SNVM request signal) of the request recognition unit 100 is connected to the arithmetic algorithm processor 103. The SNVM request signal is input to the operation cycle setting unit 110 in the refresh management unit 101. The operation cycle setting unit 110 is connected to the timer 102. A refresh request signal from the refresh management unit 101 is input to the arithmetic algorithm processor 103. The termination signal of the arithmetic algorithm processor 103 is input to the operation cycle setting unit 110 in the refresh management unit 101.
The operation of these signals will be described.
When the request recognition unit 100 recognizes the memory request signal from the CPU to the SNVM 30, the request recognition unit 100 outputs the SNVM request signal to the operation algorithm processor 103 and the operation cycle setting unit 110 in the refresh management unit 101. The refresh management unit 101 that manages refresh of the memory cells of the SDRAM 20 changes the refresh management information corresponding to the output of the timer 102 that continues to operate after power-on, and every refresh operation cycle (8 μs) whose cycle has been changed. A refresh request signal is output to the arithmetic algorithm processor 12. The arithmetic algorithm processor 12 instructs the command generator to generate a refresh command in accordance with the refresh request signal.

図10は、SDRAMコントローラ10の回路ブロック図である。
具体的には、SDRAMコントローラ10がセルフリフレッシュ機能を備えるSDRAM20へ前記所定の周期設定情報をモードレジスタ情報として発行する機能を備えたSDRAMコントローラ10の回路ブロック図である。図9との違いを説明し、共通の部分は説明を省略する。
リフレッシュ管理部101に代えてモードレジスタ201、タイマ設定値変更部(動作周期設定部)110に代えてモードレジスタ値変更部(動作周期設定部)210、リフレッシュ要求信号に代えてモードレジスタ信号が開示される。尚、リフレッシュ管理部101とタイマ102は、後述するSDRAM20側に備えられる。
SNVM要求信号が、モードレジスタ201内のモードレジスタ値変更部(動作周期設定部)210へ入力される。モードレジスタ201のモードレジスタ信号は、演算アルゴリズムプロセッサ103へ入力される。演算アルゴリズムプロセッサ103のターミネート信号は、モードレジスタ信号内のモードレジスタ値変更部(動作周期設定部)210へ入力される。
FIG. 10 is a circuit block diagram of the SDRAM controller 10.
Specifically, it is a circuit block diagram of the SDRAM controller 10 having a function in which the SDRAM controller 10 issues the predetermined cycle setting information as mode register information to the SDRAM 20 having a self-refresh function. Differences from FIG. 9 will be described, and description of common parts will be omitted.
A mode register 201 instead of the refresh management unit 101, a mode register value changing unit (operation cycle setting unit) 210 instead of the timer setting value changing unit (operation cycle setting unit) 110, and a mode register signal instead of the refresh request signal are disclosed. Is done. The refresh management unit 101 and the timer 102 are provided on the SDRAM 20 side described later.
The SNVM request signal is input to the mode register value changing unit (operation cycle setting unit) 210 in the mode register 201. The mode register signal of the mode register 201 is input to the arithmetic algorithm processor 103. The termination signal of the arithmetic algorithm processor 103 is input to the mode register value changing unit (operation cycle setting unit) 210 in the mode register signal.

図10は、SDRAMコントローラ10の回路ブロック図である。
具体的には、SDRAMコントローラ10がセルフリフレッシュ機能を備えるSDRAM20へ前記所定の周期設定情報をモードレジスタ情報として発行する機能を備えたSDRAMコントローラ10の回路ブロック図である。図9との違いを説明し、共通の部分は説明を省略する。
リフレッシュ管理部101に代えてモードレジスタ201、タイマ設定値変更部(動作周期設定部)110に代えてモードレジスタ値変更部(動作周期設定部)210、リフレッシュ要求信号に代えてモードレジスタ信号が開示される。尚、リフレッシュ管理部101とタイマ102は、後述するSDRAM20側に備えられる。
SNVM要求信号が、モードレジスタ201内のモードレジスタ値変更部(動作周期設定部)210へ入力される。モードレジスタ201のモードレジスタ信号は、演算アルゴリズムプロセッサ103へ入力される。演算アルゴリズムプロセッサ103のターミネート信号は、モードレジスタ信号内のモードレジスタ値変更部(動作周期設定部)210へ入力される。
これらの信号の作用を説明する。
要求認識部100は、CPUからSNVM30へのメモリ要求信号を認識すると、演算アルゴリズムプロセッサ103とモードレジスタ201内のモードレジスタ値変更部(動作周期設定部)210へSNVM要求信号を出力する。SDRAM20のメモリセルのリフレッシュを管理するモードレジスタ201は、電源投入後のSDRAM20のイニシャライズシーケンス時に設定したリフレッシュ動作周期管理情報(16μs)を変更して、変更されたリフレッシュ動作周期管理情報(8μs)をモードレジスタ信号として演算アルゴリズムプロセッサ103へ出力する。演算アルゴリズムプロセッサ103は、変更されたモードレジスタ信号に従ってコマンド発生部104へモードレジスタ設定コマンドを発生するように指令する。尚、変更されたリフレッシュ動作周期管理情報(8μs)を示すレジスタコードは、アドレス発生105またはデータ発生部106から発行される。
また、モードレジスタ201は、ターミネート信号に対応してリフレッシュ動作周期管理情報(8μs)を再変更する。リフレッシュ動作周期管理情報(8μs)を再変更して、再変更されたリフレッシュ動作周期管理情報(16μs)をモードレジスタ信号として演算アルゴリズムプロセッサ103へ出力する。演算アルゴリズムプロセッサ103は、再変更されたモードレジスタ信号に従ってコマンド発生部104へモードレジスタ設定コマンドを発生するように指令する。尚、再変更されたリフレッシュ動作周期管理情報(16μs)を示すレジスタコードは、アドレス発生105またはデータ発生部106から発行される。
FIG. 10 is a circuit block diagram of the SDRAM controller 10.
Specifically, it is a circuit block diagram of the SDRAM controller 10 having a function in which the SDRAM controller 10 issues the predetermined cycle setting information as mode register information to the SDRAM 20 having a self-refresh function. Differences from FIG. 9 will be described, and description of common parts will be omitted.
A mode register 201 instead of the refresh management unit 101, a mode register value changing unit (operation cycle setting unit) 210 instead of the timer setting value changing unit (operation cycle setting unit) 110, and a mode register signal instead of the refresh request signal are disclosed. Is done. The refresh management unit 101 and the timer 102 are provided on the SDRAM 20 side described later.
The SNVM request signal is input to the mode register value changing unit (operation cycle setting unit) 210 in the mode register 201. The mode register signal of the mode register 201 is input to the arithmetic algorithm processor 103. The termination signal of the arithmetic algorithm processor 103 is input to the mode register value changing unit (operation cycle setting unit) 210 in the mode register signal.
The operation of these signals will be described.
When the request recognition unit 100 recognizes the memory request signal from the CPU to the SNVM 30, the request recognition unit 100 outputs the SNVM request signal to the arithmetic algorithm processor 103 and the mode register value change unit (operation cycle setting unit) 210 in the mode register 201. The mode register 201 that manages the refresh of the memory cells of the SDRAM 20 changes the refresh operation cycle management information (16 μs) set during the initialization sequence of the SDRAM 20 after the power is turned on, and uses the changed refresh operation cycle management information (8 μs). The result is output to the arithmetic algorithm processor 103 as a mode register signal. The arithmetic algorithm processor 103 instructs the command generation unit 104 to generate a mode register setting command in accordance with the changed mode register signal. A register code indicating the changed refresh operation cycle management information (8 μs) is issued from the address generation unit 105 or the data generation unit 106.
Further, the mode register 201 re-changes the refresh operation cycle management information (8 μs) in response to the terminate signal. The refresh operation cycle management information (8 μs) is re-changed, and the re-changed refresh operation cycle management information (16 μs) is output to the arithmetic algorithm processor 103 as a mode register signal. The arithmetic algorithm processor 103 instructs the command generation unit 104 to generate a mode register setting command according to the changed mode register signal. Note that the register code indicating the re-changed refresh operation cycle management information (16 μs) is issued from the address generator 105 or the data generator 106.

図2は、図9(SDRAMコントローラ10)、図4(SDRAMコントローラ10がSDRAM20へ所定の周期でリフレッシュコマンドを発行する場合の制御方法を示すタイミングチャート)に対応するSDRAM20の回路ブロック図である。
図1及び図2に図示するように、SDRAM20は、コマンド判定回路21、リフレッシュ制御回路23、リフレッシュアドレスカウンタ26とメモリセル24を備えている。
FIG. 2 is a circuit block diagram of the SDRAM 20 corresponding to FIG. 9 (SDRAM controller 10) and FIG. 4 (a timing chart showing a control method when the SDRAM controller 10 issues a refresh command to the SDRAM 20 at a predetermined cycle).
As shown in FIGS. 1 and 2, the SDRAM 20 includes a command determination circuit 21, a refresh control circuit 23, a refresh address counter 26, and a memory cell 24.

コマンド判定回路21は、コマンドデコーダ回路21Aを備えている。コマンドデコーダ回路21Aには、上記のクロック信号CLK及び上記の各種信号SIGNALSが入力される。各種信号SIGNALSとは、イネーブルクロック信号CKE、ロウアドレスセレクト信号RAS#、カラムアドレスセレクト信号CAS#、ライトイネーブル信号WE#である。コマンド判定回路21は、SDRAMコントローラ10が発行するリフレッシュコマンドをコマンドデコーダ回路21Aで認識し、リフレッシュ要求信号をリフレッシュ制御回路23へ出力する。   The command determination circuit 21 includes a command decoder circuit 21A. The command decoder circuit 21A receives the clock signal CLK and the various signals SIGNALS. The various signals SIGNALS are an enable clock signal CKE, a row address select signal RAS #, a column address select signal CAS #, and a write enable signal WE #. The command determination circuit 21 recognizes the refresh command issued by the SDRAM controller 10 by the command decoder circuit 21 A, and outputs a refresh request signal to the refresh control circuit 23.

リフレッシュ制御回路23は、リフレッシュ要求信号を入力し、リフレッシュ要求信号に対応してリフレッシュアドレスカウンタ26でリフレッシュアドレスを生成する。また、リフレッシュ制御回路23は、前記リフレッシュアドレスと共にメモリセル24へメモリセル制御信号出力する。   The refresh control circuit 23 receives a refresh request signal and generates a refresh address by the refresh address counter 26 in response to the refresh request signal. The refresh control circuit 23 outputs a memory cell control signal to the memory cell 24 together with the refresh address.

メモリセル24は、前記前記リフレッシュアドレスと前記メモリセル制御信号に従ってメモリセルのリフレッシュ(データ保持のための再電荷注入)を行う。   The memory cell 24 refreshes the memory cell (recharge injection for data retention) according to the refresh address and the memory cell control signal.

図11は、図10(SDRAMコントローラ10)、図5〜図8(SDRAMコントローラ10が、セルフリフレッシュ機能を備えるSDRAM20へ前記所定の周期設定情報をモードレジスタ情報として発行する場合の制御方法を示すタイミングチャート)に対応するSDRAM20の回路ブロック図である。図2との違いを説明し、共通の部分は説明を省略する。
図11に図示するように、SDRAM20は、モードレジスタ22、リフレッシュ管理部27、タイマ25を備えている。
FIG. 11 is a timing chart showing a control method when FIG. 10 (SDRAM controller 10) and FIG. 5 to FIG. 8 (SDRAM controller 10 issue the predetermined period setting information as mode register information to SDRAM 20 having a self-refresh function. 2 is a circuit block diagram of the SDRAM 20 corresponding to (chart). Differences from FIG. 2 will be described, and description of common parts will be omitted.
As shown in FIG. 11, the SDRAM 20 includes a mode register 22, a refresh management unit 27, and a timer 25.

コマンド判定回路21は、コマンドデコーダ回路21Aを備えている。コマンドデコーダ回路21Aには、上記のクロック信号CLK及び上記の各種信号SIGNALSが入力される。各種信号SIGNALSとは、イネーブルクロック信号CKE、ロウアドレスセレクト信号RAS#、カラムアドレスセレクト信号CAS#、ライトイネーブル信号WE#である。コマンド判定回路21は、SDRAMコントローラ10が発行するモードレジスタ設定コマンドをコマンドデコーダ回路21Aで認識し、モードレジスタ設定信号をモードレジスタ22へ出力する。   The command determination circuit 21 includes a command decoder circuit 21A. The command decoder circuit 21A receives the clock signal CLK and the various signals SIGNALS. The various signals SIGNALS are an enable clock signal CKE, a row address select signal RAS #, a column address select signal CAS #, and a write enable signal WE #. The command determination circuit 21 recognizes the mode register setting command issued by the SDRAM controller 10 by the command decoder circuit 21 A, and outputs a mode register setting signal to the mode register 22.

モードレジスタ22は、モードレジスタ設定信号によりコマンドデコーダ回路21Aに接続されている。また、モードレジスタ22には、リフレッシュ動作周期管理情報であるレジスタコードを示すデータ信号DQが入力される。
モードレジスタ22は、モードレジスタ設定信号に従ってリフレッシュ動作周期管理情報を取り込み、リフレッシュ動作周期情報信号をリフレッシュ管理部27へ出力する。
The mode register 22 is connected to the command decoder circuit 21A by a mode register setting signal. The mode register 22 receives a data signal DQ indicating a register code which is refresh operation cycle management information.
The mode register 22 takes in the refresh operation cycle management information according to the mode register setting signal and outputs the refresh operation cycle information signal to the refresh management unit 27.

リフレッシュ管理部27は、リフレッシュ動作周期情報信号によりモードレジスタ22に接続されている。リフレッシュ管理部27内には、メモリセル24のリフレッシュ動作周期を計測するタイマ25を備えている。リフレッシュ管理部27は、電源投入後から動作し続けるタイマ25の出力を、リフレッシュ動作周期情報に対応してリフレッシュ動作周期(8μsまたは16μs)毎にリフレッシュ制御回路23へリフレッシュ要求信号を出力する。   The refresh manager 27 is connected to the mode register 22 by a refresh operation cycle information signal. The refresh management unit 27 includes a timer 25 that measures the refresh operation cycle of the memory cell 24. The refresh management unit 27 outputs a refresh request signal to the refresh control circuit 23 for each refresh operation cycle (8 μs or 16 μs) corresponding to the refresh operation cycle information, for the output of the timer 25 that continues to operate after power-on.

リフレッシュ制御回路23は、リフレッシュ要求信号を入力し、リフレッシュ要求信号に対応してリフレッシュアドレスカウンタ26でリフレッシュアドレスを生成する。また、リフレッシュ制御回路23は、前記リフレッシュアドレスと共にメモリセル24へメモリセル制御信号出力する。   The refresh control circuit 23 receives a refresh request signal and generates a refresh address by the refresh address counter 26 in response to the refresh request signal. The refresh control circuit 23 outputs a memory cell control signal to the memory cell 24 together with the refresh address.

メモリセル24は、前記前記リフレッシュアドレスと前記メモリセル制御信号に従ってメモリセルのリフレッシュ(データ保持のための再電荷注入)を行う。   The memory cell 24 refreshes the memory cell (recharge injection for data retention) according to the refresh address and the memory cell control signal.

次に、メモリシステム1の動作を説明する。図3には、リフレッシュ動作の周期変更を含むSDRAMコントローラ10からSDRAM20及びシンクロナスフラッシュメモリ30にアクセスする信号を送信する際のSDRAMコントローラ10の動作を示す。   Next, the operation of the memory system 1 will be described. FIG. 3 shows an operation of the SDRAM controller 10 when a signal for accessing the SDRAM 20 and the synchronous flash memory 30 is transmitted from the SDRAM controller 10 including the change of the refresh operation cycle.

STARTでは、電源投入後、所定のリフレッシュ動作周期である第1リフレッシュ動作周期(16μs)でリフレッシュ周期の管理が行われる。具体的には、電源投入後、SDRAMコントローラ10は、レイテンシ設定やモードレジスタ設定を行うSDRAM20のイニシャライズシーケンス中にリフレッシュ動作周期(第1リフレッシュ動作周期(16μs))の設定も行う。これは、リフレッシュ動作周期設定コマンド(モードレジスタ設定コマンド)でSDRAM20のモードレジスタ22に設定される。以後、SDRAM20は、このレジスタ設定に従って自己のメモリのリフレッシュ制御を自己でバックグランド処理(所定のリフレッシュ動作周期(16μs))する。SDRAMコントローラ10は、レジスタ管理を行うのみである。   In START, after the power is turned on, the refresh cycle is managed in a first refresh operation cycle (16 μs) which is a predetermined refresh operation cycle. Specifically, after power-on, the SDRAM controller 10 also sets a refresh operation cycle (first refresh operation cycle (16 μs)) during the initialization sequence of the SDRAM 20 that performs latency setting and mode register setting. This is set in the mode register 22 of the SDRAM 20 by a refresh operation cycle setting command (mode register setting command). Thereafter, the SDRAM 20 performs background processing (predetermined refresh operation cycle (16 μs)) by itself in accordance with the register setting. The SDRAM controller 10 only performs register management.

ステップ10(S10)では、CPUからの要求でSNVM30へアクセス要求がある場合、SDRAM20への第2リフレッシュ動作周期(8μs)設定処理を実行する。第2リフレッシュ動作周期(8μs)設定処理では、SDRAMコントローラ10が、SDRAM20のモードレジスタ22に、モードレジスタ設定コマンドを出力する。モードレジスタ設定コマンドとリフレッシュ動作周期管理情報であるレジスタコードを示すデータ信号DQは、リフレッシュ動作の周期を、初期設定値(16μs)よりも短い周期(8μs)に設定することを命令する信号である。SDRAM20は、第2リフレッシュ動作周期(8μs)に従って、ワード線に接続されたメモリセル24のコンデンサに電荷を注入し直すリフレッシュ動作を行う。これ以降のSDRAM20のリフレッシュ動作の周期は、初期設定時(START時)のリフレッシュ動作の周期よりも短縮されている。   In step 10 (S10), when there is an access request to the SNVM 30 by a request from the CPU, a second refresh operation cycle (8 μs) setting process for the SDRAM 20 is executed. In the second refresh operation cycle (8 μs) setting process, the SDRAM controller 10 outputs a mode register setting command to the mode register 22 of the SDRAM 20. A data signal DQ indicating a register code which is a mode register setting command and refresh operation cycle management information is a signal for instructing to set the refresh operation cycle to a cycle shorter than the initial setting value (16 μs) (8 μs). . The SDRAM 20 performs a refresh operation in which charges are reinjected into the capacitor of the memory cell 24 connected to the word line in accordance with the second refresh operation cycle (8 μs). The subsequent refresh operation cycle of the SDRAM 20 is shorter than the refresh operation cycle at the time of initial setting (START).

ステップ20(S20)では、SNVM30活性化コマンド発行処理を実行する。SNVM30活性化コマンド発行処理では、上記のSNVM30に対するリードコマンドやライトコマンドを含む各種のアクセスコマンドを発行する。
SNVM30活性化コマンドに従って、SDRAMコントローラ10とSNVM30間で、データ通信が行われる。
In step 20 (S20), an SNVM30 activation command issuance process is executed. In the SNVM 30 activation command issuing process, various access commands including a read command and a write command for the SNVM 30 are issued.
Data communication is performed between the SDRAM controller 10 and the SNVM 30 in accordance with the SNVM 30 activation command.

ステップ30(S30)では、SNVM30非活性化コマンド発行処理を実行する。SNVM30非活性化コマンド発行処理では、上記のSNVM30に対するプリチャージコマンドや中断処理であるサスペンドコマンド、ターミネートコマンドを含む各種の非活性化コマンドを発行する。
SNVM30非活性化コマンドに従って、SDRAMコントローラ10とSNVM30間のデータ通信は、終了する。
In step 30 (S30), SNVM30 deactivation command issuance processing is executed. In the SNVM 30 deactivation command issuance processing, various deactivation commands including the precharge command for the above-described SNVM 30 and the suspend command and termination command that are interruption processing are issued.
In accordance with the SNVM 30 deactivation command, the data communication between the SDRAM controller 10 and the SNVM 30 ends.

ステップ40(S40)では、SNVM30非活性化に対応して、SDRAM20への第1リフレッシュ動作周期(16μs)設定処理を実行する。第1リフレッシュ動作周期(16μs)設定処理では、SDRAMコントローラ10が、のモードレジスタ22に、モードレジスタ設定コマンドを出力する。モードレジスタ設定コマンドとリフレッシュ動作周期管理情報であるレジスタコードを示すデータ信号DQは、リフレッシュ動作の周期を、初期設定値(16μs)に戻す設定を命令する信号である。SDRAM20は、第1リフレッシュ動作周期(16μs)に従って、前記リフレッシュ動作を行う。これ以降のSDRAM20のリフレッシュ動作の周期は、ステップ10(S10)のリフレッシュ動作の周期(8μs)よりも延長されている。   In step 40 (S40), a first refresh operation cycle (16 μs) setting process for the SDRAM 20 is executed in response to the deactivation of the SNVM 30. In the first refresh operation cycle (16 μs) setting process, the SDRAM controller 10 outputs a mode register setting command to the mode register 22. A data signal DQ indicating a register code which is a mode register setting command and refresh operation cycle management information is a signal for instructing a setting to return the refresh operation cycle to the initial setting value (16 μs). The SDRAM 20 performs the refresh operation according to the first refresh operation cycle (16 μs). The subsequent refresh operation cycle of the SDRAM 20 is longer than the refresh operation cycle (8 μs) in step 10 (S10).

次に、別のメモリシステム1の動作を説明する。図14には、リフレッシュ動作の周期変更を含むSDRAMコントローラ10からSDRAM20及びシンクロナスフラッシュメモリ30にアクセスする信号を送信する際のSDRAMコントローラ10の動作を示す。
図3との違いを説明し、共通の部分は説明を省略する。
Next, the operation of another memory system 1 will be described. FIG. 14 shows the operation of the SDRAM controller 10 when a signal for accessing the SDRAM 20 and the synchronous flash memory 30 is transmitted from the SDRAM controller 10 including the cycle change of the refresh operation.
Differences from FIG. 3 will be described, and description of common parts will be omitted.

ステップ200(S200)では、SNVM30プリチャージ機能付き活性化コマンド発行処理を実行する。プリチャージ機能付き活性化コマンドとは、「SNVM30を活性化するアクセスのコマンドによりSNVM30を活性化する活性化処理時間の終了に続き自動的にSNVM30の非活性化処理を含む」プリチャージ機能付きアクティブコマンドである。具体的には、プリチャージ機能付き活性化コマンド発行処理では、上記のSNVM30に対するリードコマンドやライトコマンドを含む各種のアクセスコマンドを発行し、所定のバースト長やCPUからのアドレス深さの要求に対応するデータ通信が終了次第、SNVM30自身が自動的に非活性処理する機能が付加された前記アクセスコマンドである。
SNVM30活性化コマンドに従って、SDRAMコントローラ10とSNVM30間で、データ通信が行われる。そして所定のデータ量の通信が終了次第、SNVM30は自動的に内部で非活性処理を開始する。
In step 200 (S200), an activation command issuing process with SNVM30 precharge function is executed. The activation command with a precharge function means “including an SNVM30 deactivation process automatically following the end of the activation process time for activating the SNVM30 by an access command for activating the SNVM30”. It is a command. Specifically, in the activation command issuing process with a precharge function, various access commands including a read command and a write command for the above-mentioned SNVM 30 are issued to respond to a request for a predetermined burst length and an address depth from the CPU. As soon as the data communication to be completed is completed, the SNVM 30 itself has a function to automatically deactivate the access command.
Data communication is performed between the SDRAM controller 10 and the SNVM 30 in accordance with the SNVM 30 activation command. Then, as soon as communication of a predetermined amount of data is completed, the SNVM 30 automatically starts an inactivation process inside.

ステップ300(S300)では、SDRAMコントローラ10が、リフレッシュ周期制御処理を実行する。リフレッシュ周期制御処理では、前記SNVM30自身の自動的な非活性処理に対応してSDRAMコントローラ10が、所定の時間調整の後、SDRAM20への第1リフレッシュ動作周期(16μs)設定処理を実行するまでを管理する。前記所定の時間は、リフレッシュ動作の周期を現在の設定値(8μs)から初期設定値(16μs)に戻すまでの時間を定めている。具体的な時間設定は、前記プリチャージ機能付き活性化コマンドから前記非活性処理の開始時間まで、または、前記SNVM30の活性動作による発熱がヒートダウンするまでの時間を更に加えた時間に設定しても良い。   In step 300 (S300), the SDRAM controller 10 executes a refresh cycle control process. In the refresh cycle control process, the SDRAM controller 10 executes a first refresh operation cycle (16 μs) setting process for the SDRAM 20 after a predetermined time adjustment corresponding to the automatic deactivation process of the SNVM 30 itself. to manage. The predetermined time defines the time until the refresh operation cycle is returned from the current set value (8 μs) to the initial set value (16 μs). The specific time setting is set to a time obtained by further adding the time from the activation command with precharge function to the start time of the deactivation process or the heat generation due to the activation operation of the SNVM 30. Also good.

ステップ400(S400)では、所定の時間調整の後、第1リフレッシュ動作周期(16μs)設定処理を実行する。第1リフレッシュ動作周期(16μs)設定処理では、SDRAMコントローラ10が、SDRAM20のモードレジスタ22に、モードレジスタ設定コマンドを出力する。モードレジスタ設定コマンドとリフレッシュ動作周期管理情報であるレジスタコードを示すデータ信号DQは、リフレッシュ動作の周期を、初期設定値(16μs)に戻す設定を命令する信号である。SDRAM20は、第1リフレッシュ動作周期(16μs)に従って、前記リフレッシュ動作を行う。これ以降のSDRAM20のリフレッシュ動作の周期は、ステップ100(S100)のリフレッシュ動作の周期(8μs)よりも延長されている。   In step 400 (S400), after a predetermined time adjustment, a first refresh operation cycle (16 μs) setting process is executed. In the first refresh operation cycle (16 μs) setting process, the SDRAM controller 10 outputs a mode register setting command to the mode register 22 of the SDRAM 20. A data signal DQ indicating a register code which is a mode register setting command and refresh operation cycle management information is a signal for instructing a setting to return the refresh operation cycle to the initial set value (16 μs). The SDRAM 20 performs the refresh operation according to the first refresh operation cycle (16 μs). The subsequent refresh operation cycle of the SDRAM 20 is longer than the refresh operation cycle (8 μs) in step 100 (S100).

尚、ステップ300(S300)をステップ100(S100)に付加することも可能である。この場合、SDRAMコントローラ10が発行する各種コマンドは、SNVM30のアクティブコマンド、SDRAM20のモードレジスタ設定変更コマンドの順となり、SNVM30のアクティブコマンドとSDRAM20のモードレジスタ設定変更コマンドまでの所定の時間調整は、SNVM30が活性化してからパッケージ内の熱がヒートアップするまでの時間に設定される。前記ヒートアップまでの時間は、リフレッシュ動作周期を変更しなければSDRAM20のメモリセルがデータ保持できない温度閾値に達するまでの時間である。つまり、SNVM30の活性化コマンドに対応してSNVM30が活性し、その活性動作により前記所定の温度閾値に達するまでの前記所定の調整時間に対応して、SDRAM20のモードレジスタ設定変更コマンドが発行され、SDRAM20のメモリセルは、変更された第1リフレッシュ動作周期(16μs)から短い第2リフレッシュ動作周期(8μs)でリフレッシュされる。
これを言い換えると、SNVM30の活性化コマンドに対応してSNVM30が活性し、前記所定の調整時間に達しない前にSNVM30の非活性化コマンドまたは前記オートプリチャージ(自動的なSNVM30の非活性化処理)になる場合、DRAM20のモードレジスタ設定変更コマンドは発行されない。MCP/POP内のSDRAM20温度が前記温度閾値に達しないからである。
Note that step 300 (S300) may be added to step 100 (S100). In this case, the various commands issued by the SDRAM controller 10 are in the order of the SNVM 30 active command and the SDRAM 20 mode register setting change command. The predetermined time adjustment between the SNVM 30 active command and the SDRAM 20 mode register setting change command is SNVM 30. Is set to the time from when the heat is activated until the heat in the package heats up. The time until the heat-up is a time until the memory cell of the SDRAM 20 reaches a temperature threshold at which data cannot be held unless the refresh operation cycle is changed. That is, the SNVM 30 is activated in response to the activation command of the SNVM 30, and the mode register setting change command of the SDRAM 20 is issued corresponding to the predetermined adjustment time until the predetermined temperature threshold is reached by the activation operation. The memory cell of the SDRAM 20 is refreshed in the second refresh operation cycle (8 μs) that is shorter than the changed first refresh operation cycle (16 μs).
In other words, the SNVM 30 is activated in response to the activation command of the SNVM 30 and the deactivation command of the SNVM 30 or the auto precharge (automatic deactivation processing of the SNVM 30 is performed before the predetermined adjustment time is reached. ), The mode register setting change command of the DRAM 20 is not issued. This is because the temperature of the SDRAM 20 in the MCP / POP does not reach the temperature threshold.

本実施形態では、SDRAM20が、本発明の一のメモリに相当する。シンクロナスフラッシュメモリ30は、本発明の他のメモリに相当する。   In the present embodiment, the SDRAM 20 corresponds to one memory of the present invention. The synchronous flash memory 30 corresponds to another memory of the present invention.

本実施形態では、上記の第2リフレッシュ動作周期(8μs)設定処理(S10/S100)によって、リフレッシュ動作の周期を、初期設定値(第1リフレッシュ動作周期(16μs))よりも短い周期(8μs)に設定している。そこで、リフレッシュ動作の周期を設定する第2リフレッシュ動作周期(8μs)設定処理(S10/S100)は、本発明の動作周期設定部に相当する。また、SDRAMコントローラ10内のタイマ設定値変更部110、モードレジスタ値変更部210が、本発明の動作周期設定部に相当する。   In the present embodiment, the second refresh operation cycle (8 μs) setting process (S10 / S100) causes the refresh operation cycle to be shorter (8 μs) than the initial setting value (first refresh operation cycle (16 μs)). Is set. Therefore, the second refresh operation cycle (8 μs) setting process (S10 / S100) for setting the refresh operation cycle corresponds to the operation cycle setting unit of the present invention. Further, the timer set value changing unit 110 and the mode register value changing unit 210 in the SDRAM controller 10 correspond to the operation cycle setting unit of the present invention.

本実施形態では、上記の第2リフレッシュ動作周期(8μs)設定処理(S10/S100)によって、リフレッシュ動作の周期を、初期設定値(第1リフレッシュ動作周期(16μs))よりも短い周期(8μs)に設定することが、本発明の動作周期設定のステップ2に相当する。   In the present embodiment, the second refresh operation cycle (8 μs) setting process (S10 / S100) causes the refresh operation cycle to be shorter (8 μs) than the initial setting value (first refresh operation cycle (16 μs)). Setting to 1 corresponds to step 2 of the operation cycle setting of the present invention.

本実施形態では、上記の第1リフレッシュ動作周期(16μs)設定処理(S40/S400)によって、リフレッシュ動作の周期(第2リフレッシュ動作周期(8μs))を、初期設定値(16μs)に戻している。そこで、リフレッシュ動作の周期を設定する第1リフレッシュ動作周期(16μs)設定処理(S40/S400)は、本発明の動作周期設定部に相当する。また、SDRAMコントローラ10内のタイマ設定値変更部110、モードレジスタ値変更部210が、本発明の動作周期設定部に相当する。   In the present embodiment, the refresh operation cycle (second refresh operation cycle (8 μs)) is returned to the initial set value (16 μs) by the first refresh operation cycle (16 μs) setting process (S40 / S400). . Accordingly, the first refresh operation cycle (16 μs) setting process (S40 / S400) for setting the refresh operation cycle corresponds to the operation cycle setting unit of the present invention. Further, the timer set value changing unit 110 and the mode register value changing unit 210 in the SDRAM controller 10 correspond to the operation cycle setting unit of the present invention.

本実施形態では、上記の第1リフレッシュ動作周期(16μs)設定処理(S40/S400)によって、リフレッシュ動作の周期(第2リフレッシュ動作周期(8μs))を初期設定値(16μs)に戻すことが、本発明の動作周期設定のステップ2に相当する。   In the present embodiment, the refresh operation cycle (second refresh operation cycle (8 μs)) is returned to the initial setting value (16 μs) by the first refresh operation cycle (16 μs) setting process (S40 / S400). This corresponds to step 2 of the operation cycle setting of the present invention.

本実施形態では、SDRAMコントローラ10が活性化コマンド(アクティブコマンド)を発行し、その後すみやかにSDRAM20のリフレッシュ動作周期設定コマンド(モードレジスタ設定コマンド)を発行し、その後所定のレイテンシでSNVM30の活性化コマンド(リードコマンドまたはライトコマンド)が発行される。前記アクティブコマンドから前記モードレジスタ設定コマンドが発行されるまでの時間が、所定の時間調整に相当する。   In the present embodiment, the SDRAM controller 10 issues an activation command (active command), then immediately issues a refresh operation cycle setting command (mode register setting command) for the SDRAM 20, and then activates the SNVM 30 with a predetermined latency. (Read command or write command) is issued. The time from the active command until the mode register setting command is issued corresponds to a predetermined time adjustment.

本実施形態では、ステップ300(S300)をステップ100(S100)に付加し、SNVM30のアクティブコマンド、SDRAM20のモードレジスタ設定変更コマンドの順にすることが、所定の時間調整に相当する。   In the present embodiment, adding step 300 (S300) to step 100 (S100) and sequentially setting the active command of SNVM 30 and the mode register setting change command of SDRAM 20 corresponds to a predetermined time adjustment.

本実施形態では、リフレッシュ周期制御処理(S300)によって、リフレッシュ動作の周期を現在の設定値(第2リフレッシュ動作周期(8μs))から初期設定値(第1リフレッシュ動作周期(16μs))に戻すまでの時間を調整している。そこで、リフレッシュ動作の周期を初期設定値に戻すまでの時間を調整するリフレッシュ周期制御処理(S300)は、本発明の演算アルゴリズムプロセッサ内の時間調整部に相当する。また、前記プリチャージコマンドまたは前記ターミネートコマンドまたは前記プリチャージ機能付きアクティブコマンド(Active with autoprecharge command)に対応して第1リフレッシュ動作周期(16μs)に戻す信号がターミネート信号に相当する。   In the present embodiment, until the refresh operation cycle is returned from the current set value (second refresh operation cycle (8 μs)) to the initial set value (first refresh operation cycle (16 μs)) by the refresh cycle control process (S300). The time is adjusted. Therefore, the refresh cycle control process (S300) for adjusting the time until the refresh operation cycle is returned to the initial setting value corresponds to the time adjustment unit in the arithmetic algorithm processor of the present invention. A signal returned to the first refresh operation period (16 μs) corresponding to the precharge command, the terminate command, or the active command with precharge function (Active with autoprecharge command) corresponds to a terminate signal.

本実施形態では、リフレッシュ動作の周期を現在の設定値(第2リフレッシュ動作周期(8μs))から初期設定値(第1リフレッシュ動作周期(16μs))に戻すまでの時間を調整することが、本発明の時間調整ステップに相当する。   In the present embodiment, adjusting the time until the refresh operation cycle returns from the current set value (second refresh operation cycle (8 μs)) to the initial set value (first refresh operation cycle (16 μs)) This corresponds to the time adjustment step of the invention.

<実施形態の効果>
本実施形態から主な効果を開示する。
本実施形態のメモリシステム1、SDRAMコントローラ10及びそのリフレッシュ制御方法によれば、シンクロナスフラッシュメモリ30に対するアクセス要求に対応した動作を実行することにより、シンクロナスフラッシュメモリ30が放出する熱量が増加することに対処するため、SDRAM20のリフレッシュ動作の周期を前記アクセス要求前のリフレッシュ動作の周期から変更する。
そこで、本実施形態のメモリシステム1、SDRAMコントローラ10及びそのリフレッシュ制御方法によれば、アクセス要求後のリフレッシュ動作周期を、メモリセル24のコンデンサに電荷を蓄積するために必要なリフレッシュ動作の周期に設定することが可能となる。
したがって、本実施形態のメモリシステム1、SDRAMコントローラ10及びそのリフレッシュ制御方法によれば、シンクロナスフラッシュメモリ30が放出する熱量が増加して、SDRAM20のメモリセル24のコンデンサに電荷を蓄積する維持時間が変化する場合であっても、メモリセル24のコンデンサに電荷を再蓄積するために必要なリフレッシュ動作の周期を設定することにより、メモリセル24のコンデンサから電荷が消え去ることを防ぐことができる。
このため、シンクロナスフラッシュメモリ30が放出する熱量の影響を受けて、SDRAM20のリフレッシュ動作の性能が劣ることを防止することができる。
<Effect of embodiment>
The main effects are disclosed from this embodiment.
According to the memory system 1, the SDRAM controller 10 and the refresh control method thereof according to the present embodiment, the amount of heat released from the synchronous flash memory 30 is increased by executing the operation corresponding to the access request to the synchronous flash memory 30. To cope with this, the refresh operation cycle of the SDRAM 20 is changed from the refresh operation cycle before the access request.
Therefore, according to the memory system 1, the SDRAM controller 10 and the refresh control method thereof according to the present embodiment, the refresh operation cycle after the access request is set to the refresh operation cycle necessary for accumulating charges in the capacitor of the memory cell 24. It becomes possible to set.
Therefore, according to the memory system 1, the SDRAM controller 10 and the refresh control method thereof according to the present embodiment, the amount of heat released from the synchronous flash memory 30 increases, and the sustain time during which charges are accumulated in the capacitor of the memory cell 24 of the SDRAM 20 Even when the voltage changes, it is possible to prevent the charge from disappearing from the capacitor of the memory cell 24 by setting the period of the refresh operation necessary for reaccumulating the charge in the capacitor of the memory cell 24.
For this reason, it is possible to prevent the performance of the refresh operation of the SDRAM 20 from being deteriorated due to the influence of the amount of heat released by the synchronous flash memory 30.

本実施形態のメモリシステム1、SDRAMコントローラ10及びそのリフレッシュ制御方法によれば、フラッシュメモリアクセスコマンド発行処理(S20/S200)に伴い連動して処理されるSDRAM20のリフレッシュ動作の周期は、第2リフレッシュ動作周期(8μs)設定処理(S10/S100)によって、前記アクセス要求前のリフレッシュ動作の周期(16μs)から短く(8μs)することができる。
そこで、本実施形態のメモリシステム1、SDRAMコントローラ10及びそのリフレッシュ制御方法によれば、アクセスアクセス要求後のリフレッシュ動作周期を、アクセスアクセス要求前のリフレッシュ動作周期(16μs)よりも短くすることにより、アクセスアクセス要求後では、リフレッシュ動作を頻繁に行うことができる。
したがって、本実施形態のメモリシステム1、SDRAMコントローラ10及びそのリフレッシュ制御方法によれば、シンクロナスフラッシュメモリ30が放出する熱量が増加して、SDRAM20のメモリセル24のコンデンサに電荷を蓄積する維持時間が短縮する場合であっても、リフレッシュ動作を頻繁に行うことにより、メモリセル24のコンデンサから電荷が消え去ることを防ぐことができる。
According to the memory system 1, the SDRAM controller 10 and the refresh control method thereof according to the present embodiment, the refresh operation cycle of the SDRAM 20 processed in conjunction with the flash memory access command issuing process (S20 / S200) is the second refresh. By the operation cycle (8 μs) setting process (S10 / S100), the cycle (16 μs) before the access request can be shortened (8 μs).
Therefore, according to the memory system 1, the SDRAM controller 10 and the refresh control method thereof according to the present embodiment, by making the refresh operation cycle after the access access request shorter than the refresh operation cycle (16 μs) before the access access request, After an access access request, the refresh operation can be performed frequently.
Therefore, according to the memory system 1, the SDRAM controller 10 and the refresh control method thereof according to the present embodiment, the amount of heat released from the synchronous flash memory 30 increases, and the sustain time during which charges are accumulated in the capacitor of the memory cell 24 of the SDRAM 20 Even when the time is shortened, it is possible to prevent the charge from disappearing from the capacitor of the memory cell 24 by frequently performing the refresh operation.

本実施形態のメモリシステム1、SDRAMコントローラ10及びそのリフレッシュ制御方法によれば、シンクロナスフラッシュメモリ30の非活性化を示すターミネート信号により第2リフレッシュ動作周期(8μs)を、前記第1リフレッシュ動作周期(16μs)に戻すことができる。
そこで、本実施形態のメモリシステム1、SDRAMコントローラ10及びそのリフレッシュ制御方法によれば、シンクロナスフラッシュメモリ30の非活性化に伴いSDRAM20のリフレッシュ動作周期を、戻された第1リフレッシュ動作周期(16μs)でリフレッシュ動作を行うことができる。
したがって、本実施形態のメモリシステム1、SDRAMコントローラ10及びそのリフレッシュ制御方法によれば、シンクロナスフラッシュメモリ30が放出する熱量が低下して、SDRAM20のメモリセル24のコンデンサに電荷を蓄積する維持時間が延長する場合、リフレッシュ動作を戻された第1リフレッシュ動作周期(16μs)で行うことにより、低消費電力でメモリセル24のコンデンサから電荷が消え去ることを防ぐことができる。
According to the memory system 1, the SDRAM controller 10 and the refresh control method thereof according to the present embodiment, the second refresh operation cycle (8 μs) is determined by the termination signal indicating deactivation of the synchronous flash memory 30, and the first refresh operation cycle. (16 μs).
Therefore, according to the memory system 1, the SDRAM controller 10 and the refresh control method thereof according to the present embodiment, the refresh operation cycle of the SDRAM 20 is returned to the returned first refresh operation cycle (16 μs) in accordance with the deactivation of the synchronous flash memory 30. ) Can perform a refresh operation.
Therefore, according to the memory system 1, the SDRAM controller 10 and the refresh control method thereof according to the present embodiment, the amount of heat released from the synchronous flash memory 30 is reduced, and the sustain time for accumulating charges in the capacitor of the memory cell 24 of the SDRAM 20 Is extended in the first refresh operation cycle (16 μs) after the refresh operation is returned, it is possible to prevent the charge from disappearing from the capacitor of the memory cell 24 with low power consumption.

本実施形態のメモリシステム1、SDRAMコントローラ10及びそのリフレッシュ制御方法によれば、SDRAMコントローラ10が、SNVM30のアクティブコマンドを発行し、その後すみやかにSDRAM20のリフレッシュ動作周期設定コマンド(モードレジスタ設定コマンド)が発行され、その後所定のレイテンシでSNVM30のリードコマンドまたはライトコマンドが発行される。 これにより、SNVM30のアクセスの遅延なく、SDRAM20のリフレッシュ動作周期設定コマンド(モードレジスタ設定コマンド)を発行できる。
また、ステップ300(S300)をステップ100(S100)に付加することにより、SNVM30の活性化コマンドに対応してSNVM30が活性し、前記所定の調整時間に達しない前にSNVM30の非活性化コマンドまたは前記オートプリチャージ(自動的なSNVM30の非活性化処理)になる場合、SDRAM20のモードレジスタ設定変更コマンドは発行されない。 これにより、MCP/POP内のSDRAM20温度が前記温度閾値に達しない場合、SDRAM20のリフレッシュ動作周期設定コマンド(モードレジスタ設定コマンド)の発行を抑止でき、フラッシュメモリ30が放出する熱量に対応させて、アクセスコマンド発行後のリフレッシュ動作の周期を最適に制御することができる。
According to the memory system 1, the SDRAM controller 10 and the refresh control method thereof according to the present embodiment, the SDRAM controller 10 issues an active command of the SNVM 30, and then immediately receives a refresh operation cycle setting command (mode register setting command) of the SDRAM 20. After that, the read command or write command of the SNVM 30 is issued with a predetermined latency. As a result, the refresh operation cycle setting command (mode register setting command) of the SDRAM 20 can be issued without an access delay of the SNVM 30.
Further, by adding step 300 (S300) to step 100 (S100), the SNVM 30 is activated in response to the activation command of the SNVM 30, and before the predetermined adjustment time is reached, the SNVM 30 deactivation command or In the case of the auto precharge (automatic deactivation process of SNVM 30), the mode register setting change command of the SDRAM 20 is not issued. As a result, when the temperature of the SDRAM 20 in the MCP / POP does not reach the temperature threshold value, it is possible to suppress the issuing of the refresh operation cycle setting command (mode register setting command) of the SDRAM 20, and in accordance with the amount of heat released by the flash memory 30, It is possible to optimally control the refresh operation cycle after issuing the access command.

本実施形態のメモリシステム1、SDRAMコントローラ10及びそのリフレッシュ制御方法によれば、シンクロナスフラッシュメモリ30が非活性になるまでの時間または非活性後のヒートダウンまでの時間に対応し、リフレッシュ周期制御処理(S300)により、アクセスコマンド発行後のリフレッシュ動作の周期を現在の設定値から初期設定値に戻すまでの時間を、適宜に調整することが可能となる。
そこで、本実施形態のメモリシステム1、SDRAMコントローラ10及びそのリフレッシュ制御方法によれば、アクセスコマンド発行後のリフレッシュ動作の周期を現在の設定値から初期設定値に戻すまでの時間を適宜に調整することにより、シンクロナスフラッシュメモリ30が放出する熱量に対応してSDRAM20の温度が降下した後に、短く変更されたリフレッシュ動作の周期を初期設定値に戻すことができる。
したがって、本実施形態のメモリシステム1、SDRAMコントローラ10及びそのリフレッシュ制御方法によれば、SDRAM20の温度低下に対応して、短く変更されたリフレッシュ動作の周期を初期設定値に戻す。
このため、SDRAM20のメモリセル24のコンデンサに電荷を再蓄積するために必要でありSDRAM20の温度に適合させたリフレッシュ動作の周期によって、最適な消費電力でリフレッシュ動作を継続することができる。
これにより、メモリセル24のコンデンサから電荷が消え去ることを防ぐことができる。
According to the memory system 1, the SDRAM controller 10 and the refresh control method thereof according to the present embodiment, the refresh cycle control corresponds to the time until the synchronous flash memory 30 becomes inactive or the time until heat down after the inactivation. By the processing (S300), it is possible to appropriately adjust the time until the cycle of the refresh operation after issuing the access command is returned from the current set value to the initial set value.
Therefore, according to the memory system 1, the SDRAM controller 10, and the refresh control method thereof according to the present embodiment, the time until the refresh operation cycle after the access command is issued is returned from the current set value to the initial set value is appropriately adjusted. As a result, after the temperature of the SDRAM 20 drops corresponding to the amount of heat released from the synchronous flash memory 30, the refresh operation cycle that has been changed short can be returned to the initial setting value.
Therefore, according to the memory system 1, the SDRAM controller 10, and the refresh control method thereof according to the present embodiment, the refresh operation cycle that has been changed to a short time is returned to the initial set value in response to the temperature drop of the SDRAM 20.
For this reason, the refresh operation can be continued with the optimum power consumption according to the cycle of the refresh operation necessary for reaccumulating the charge in the capacitor of the memory cell 24 of the SDRAM 20 and adapted to the temperature of the SDRAM 20.
Thereby, it is possible to prevent the charge from disappearing from the capacitor of the memory cell 24.

本実施形態のメモリシステム1、SDRAMコントローラ10及びそのリフレッシュ制御方法によれば、最も発熱量が最大になるSDRAM20とシンクロナスフラッシュメモリ30の同時活性(例えばSDRAM20とシンクロナスフラッシュメモリ30間のデータ転送)時に、SDRAM20のデータ保持は、最適なリフレッシュのための消費電流で保証される。   According to the memory system 1, the SDRAM controller 10 and the refresh control method thereof according to the present embodiment, simultaneous activation of the SDRAM 20 and the synchronous flash memory 30 that generate the largest amount of heat (for example, data transfer between the SDRAM 20 and the synchronous flash memory 30). ) At times, data retention of the SDRAM 20 is guaranteed with current consumption for optimal refresh.

本実施形態のメモリシステム1、SDRAMコントローラ10によれば、シンクロナスフラッシュメモリ30の発熱量が同一パッケージ内に共有するSDRAM20へ最も影響を与えるデバイス構造であり、この時に、SDRAM20のデータ保持は、最適な消費電流で保証される。
また、シンクロナスフラッシュメモリ30とSDRAM20が備える複数の端子について、シンクロナスフラッシュメモリ30とSDRAM20間で同一接続される端子数が多いほど、シンクロナスフラッシュメモリ30の発熱量は、SDRAM20へ短い時間でその熱を伝達し、その総熱量をともに共有する。この時に、SDRAM20のデータ保持は、最適な消費電流で保証される。
According to the memory system 1 and the SDRAM controller 10 of the present embodiment, the heat generation amount of the synchronous flash memory 30 is the device structure that most affects the SDRAM 20 shared in the same package. At this time, the data retention of the SDRAM 20 is Guaranteed by optimal current consumption.
Further, with respect to the plurality of terminals included in the synchronous flash memory 30 and the SDRAM 20, the more the number of terminals that are connected in the same manner between the synchronous flash memory 30 and the SDRAM 20, the shorter the amount of heat generated in the synchronous flash memory 30. The heat is transferred and the total amount of heat is shared together. At this time, data retention of the SDRAM 20 is ensured with an optimum current consumption.

本発明は、上述した実施形態に限定されるものではなく、発明の趣旨を逸脱しない範囲内において構成の一部を適宜変更して実施することができる。例えば、上述したリフレッシュ周期制御処理(S300)では、MCP内の発熱が最大になると予想される条件を勘案した上で、リフレッシュ動作の周期を初期設定値から短い設定値に変更するまでの時間/現在の設定値から初期設定値に戻すまでの時間を定めてもよい。MCPの発熱が最大になると予想される条件の一例としては、MCP内のシンクロナスフラッシュメモリから前記同一のMCP内のSDRAMにデータを転送し、MCPに実装された両者のメモリがアクセス動作を実行する場合が想定される。   The present invention is not limited to the embodiment described above, and can be implemented by appropriately changing a part of the configuration without departing from the spirit of the invention. For example, in the above-described refresh cycle control process (S300), the time / time until the cycle of the refresh operation is changed from the initial set value to a short set value in consideration of the condition that the heat generation in the MCP is expected to be maximized. You may define time until it returns from the present setting value to an initial setting value. As an example of the condition where the heat generation of the MCP is expected to be maximized, data is transferred from the synchronous flash memory in the MCP to the SDRAM in the same MCP, and both memories mounted in the MCP execute an access operation. It is assumed that

また、動作周期設定部13に入力されるSNVM要求信号に代えて、SDRAM20とSNVM30の両者が動作する条件に限定された信号に変更しても良い。MCPの発熱が最大になると予想される条件の一例であり、SDRAM20のメモリセル24のリフレッシュ特性を考慮して、MCP内の温度が最も厳しい条件となるに対応できる。   Further, in place of the SNVM request signal input to the operation cycle setting unit 13, the signal may be changed to a signal limited to conditions under which both the SDRAM 20 and the SNVM 30 operate. This is an example of a condition in which the heat generation of the MCP is expected to be maximized, and it can cope with the most severe condition of the temperature in the MCP in consideration of the refresh characteristic of the memory cell 24 of the SDRAM 20.

また、上述した実施形態とは異なり、図3に図示したリフレッシュ周期制御処理(S30)を省略し、SDRAMコントローラ10によって、アクセスコマンドの発行後に、リフレッシュ動作の周期を変更させてもよい。   Unlike the above-described embodiment, the refresh cycle control process (S30) illustrated in FIG. 3 may be omitted, and the refresh cycle may be changed by the SDRAM controller 10 after the access command is issued.

また、MCP内の前記SDRAMのリフレッシュに代えて前記同一MCP内の不揮発性メモリのリフレッシュ周期を変更しても良い。 具体的には、前記不揮発性メモリは、不揮発性記憶部であるメモリセルの電荷保持特性(フローティングゲート構造やNROM構造のフラッシュメモリ)、抵抗保持特性(ReRAM)、相変化特性(PRAM)や磁気特性(MRAM)を備え、それら保持特性を考慮して、MCP内の前記不揮発性メモリのリフレッシュ周期は、前記同一MCP内の他の機能チップダイの活性/非活性アクセスに対応して、前記不揮発性メモリと前記他の機能チップダイを一括制御するコントローラよって、前記機能チップダイへの活性/非活性アクセスコマンドの発行前後に、前記不揮発性メモリのリフレッシュ動作の周期が変更または延長される。   Further, the refresh cycle of the nonvolatile memory in the same MCP may be changed instead of refreshing the SDRAM in the MCP. Specifically, the nonvolatile memory includes charge retention characteristics (floating gate structure or NROM structure flash memory), resistance retention characteristics (ReRAM), phase change characteristics (PRAM) and magnetic properties of a memory cell that is a nonvolatile storage unit. In consideration of the retention characteristics, the refresh cycle of the nonvolatile memory in the MCP corresponds to the active / inactive access of other functional chip dies in the same MCP. The controller that collectively controls the memory and the other function chip die changes or extends the refresh operation cycle of the nonvolatile memory before and after the activation / deactivation access command is issued to the function chip die.

また、複数のSDRAMのチップダイが1つにパッケージされたデバイスにも適用できる。
具体的には、第1SDRAMと第2SDRAMを一括制御するコントローラよって、前記第1SDRAMへの活性/非活性アクセスコマンドの発行前後に、前記第2SDRAMのリフレッシュ動作の周期が変更または延長される。
The present invention can also be applied to a device in which a plurality of SDRAM chip dies are packaged together.
Specifically, the controller for controlling the first SDRAM and the second SDRAM collectively changes or extends the refresh operation cycle of the second SDRAM before and after the activation / inactivation access command is issued to the first SDRAM.

更に、MCP構造のデバイスに代えて、POP構造のデバイスにも本発明が適用できる。   Further, the present invention can be applied to a device having a POP structure instead of a device having an MCP structure.

更に、第2リフレッシュ動作周期(8μs)設定処理(S10/S100)とフラッシュメモリアクセスコマンド発行処理(S20/S200)の間には、メモリコントローラが制御支配するその他のデバイスへとの通信処理またはメモリコントローラとCPU間の通信処理のステップを含む。
つまり、シンクロナスフラッシュメモリ30へアクセスする処理(S20/S200)に対して、本願発明の前処理であるSDRAM20へのリフレッシュ周期の設定変更処理(S10/S100)が、相対的に前処理ステップであれば良い。 同様に、第1リフレッシュ動作周期(16μs)設定処理(S40/S400)とフラッシュメモリアクセスコマンド発行処理(S20/S200)の間には、メモリコントローラが制御支配するその他のデバイスへとの通信処理またはメモリコントローラとCPU間の通信処理のステップを含む。つまり、シンクロナスフラッシュメモリ30へアクセスする処理(S20/S200)に対して、本願発明の後処理であるSDRAM20へのリフレッシュ周期の設定変更処理(S40/S400)が、相対的に後処理ステップであれば良い。
Further, between the second refresh operation cycle (8 μs) setting process (S10 / S100) and the flash memory access command issuing process (S20 / S200), the communication process or memory to other devices controlled by the memory controller This includes communication processing steps between the controller and the CPU.
That is, in contrast to the process of accessing the synchronous flash memory 30 (S20 / S200), the refresh cycle setting change process (S10 / S100) to the SDRAM 20, which is the preprocess of the present invention, is relatively a preprocess step. I just need it. Similarly, between the first refresh operation cycle (16 μs) setting process (S40 / S400) and the flash memory access command issuing process (S20 / S200), the communication process to other devices controlled by the memory controller or This includes communication processing steps between the memory controller and the CPU. That is, in contrast to the process of accessing the synchronous flash memory 30 (S20 / S200), the refresh cycle setting change process (S40 / S400) to the SDRAM 20, which is the post-process of the present invention, is a relatively post-process step. I just need it.

メモリシステムの回路ブロック図である。It is a circuit block diagram of a memory system. メモリシステムが備えるSDRAMの回路ブロック図である。1 is a circuit block diagram of an SDRAM provided in a memory system. メモリシステムが備えるSDRAMコントローラの動作を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining operation | movement of the SDRAM controller with which a memory system is provided. SDRAMコントローラの動作を説明する第1タイムチャートである。It is a 1st time chart explaining operation of an SDRAM controller. SDRAMコントローラの動作を説明する第2タイムチャートである。It is a 2nd time chart explaining operation | movement of an SDRAM controller. SDRAMコントローラの動作を説明する第3タイムチャートである。It is a 3rd time chart explaining operation | movement of an SDRAM controller. SDRAMコントローラの動作を説明する第4タイムチャートである。It is a 4th time chart explaining operation | movement of an SDRAM controller. SDRAMコントローラの動作を説明する第5タイムチャートである。It is a 5th time chart explaining operation | movement of an SDRAM controller. SDRAMコントローラの回路ブロック図である。It is a circuit block diagram of an SDRAM controller. SDRAMコントローラの他の回路ブロック図である。FIG. 5 is another circuit block diagram of the SDRAM controller. メモリシステムが備えるSDRAMの他の回路ブロック図である。It is another circuit block diagram of SDRAM with which a memory system is provided. メモリシステムが備えるパッケージ構造を説明する図である。It is a figure explaining the package structure with which a memory system is provided. メモリシステムが備える他のパッケージ構造を説明する図である。It is a figure explaining the other package structure with which a memory system is provided. メモリシステムが備えるSDRAMコントローラの他の動作を説明するフローチャートである。It is a flowchart explaining other operation | movement of the SDRAM controller with which a memory system is provided.

1 メモリシステム
10 SDRAMコントローラ
20 SDRAM
30 シンクロナスフラッシュメモリ
11、100 要求認識部
12、102 演算アルゴリズムプロセッサ
13、110、210 動作周期設定部
22、201 モードレジスタ
23 リフレッシュ制御回路
24 メモリセル
25、102 タイマ
26 リフレッシュアドレスカウンタ
27、101 リフレッシュ管理部
1 memory system 10 SDRAM controller 20 SDRAM
30 Synchronous flash memory 11, 100 Request recognition unit 12, 102 Operation algorithm processor 13, 110, 210 Operation cycle setting unit 22, 201 Mode register 23 Refresh control circuit 24 Memory cell 25, 102 Timer 26 Refresh address counter 27, 101 Refresh Management Department

Claims (16)

所定の周期でメモリセルのデータ維持のためのリフレッシュ動作が必要なメモリを含む複数のメモリに接続されるメモリコントローラにおいて、
記リフレッシュ動作が必要な一のメモリとは異なる他のメモリへのアクセスを要求するデバイスからのメモリ要求信号を認識する要求認識部と、
前記一のメモリのリフレッシュ動作周期を設定する動作周期設定部とを備え
前記動作周期設定部は、
前記要求認識部が認識する前記メモリ要求信号が前記他のメモリへのアクセス要求信号である場合、前記アクセス要求信号の受信後の前記リフレッシュ動作周期である第2リフレッシュ動作周期を、前記アクセス要求信号の受信前の前記リフレッシュ動作周期である第1リフレッシュ動作周期よりも短くし、
前記要求認識部が認識する前記メモリ要求信号が前記他のメモリを非活性化するターミネート信号である場合、前記第2リフレッシュ動作周期を、前記第1リフレッシュ動作周期に戻すことを特徴とするメモリコントローラ。
In a memory controller connected to a plurality of memories including a memory that requires a refresh operation for maintaining data of memory cells in a predetermined cycle,
A memory request signal recognizing request recognition portion of the device requesting access to different other memory as one of the memory required before Symbol refresh operation,
And a duty cycle setting section for setting a refresh operation cycle of said one memory,
The operation cycle setting unit includes:
Wherein if the memory request signal is an access request signal to the other memory requirements Motome認識部 recognizes, the second refresh operation cycle is the refresh operation cycle after reception of the access request signal, said access Shorter than the first refresh operation cycle, which is the refresh operation cycle before receiving the request signal,
The memory controller , wherein the second refresh operation cycle is returned to the first refresh operation cycle when the memory request signal recognized by the request recognition unit is a terminate signal that deactivates the other memory. .
前記所定の周期から前記第2リフレッシュ動作周期に設定するまでの時間を調整する時間調整部を備えることを特徴とする請求項に記載のメモリコントローラ。 The memory controller according to claim 1 , further comprising a time adjustment unit that adjusts a time from the predetermined cycle to the setting of the second refresh operation cycle. 前記第2リフレッシュ動作周期を前記所定の周期に戻すまでの時間を調整する時間調整部を備え、前記時間調整部の出力信号であるターミネート信号が、前記動作周期設定部に入力されることを特徴とする請求項に記載のメモリコントローラ。 A time adjustment unit that adjusts a time until the second refresh operation cycle is returned to the predetermined cycle is provided, and a termination signal that is an output signal of the time adjustment unit is input to the operation cycle setting unit. The memory controller according to claim 1 . 前記動作周期設定部には、前記要求認識部が認識する前記他のメモリへのアクセス要求信号と前記一のメモリへのアクセス要求信号が入力され、それらの信号に従って前記動作周期設定部の設定値を変更すること特徴とする請求項1ないしのいずれか1項に記載のメモリコントローラ。 Wherein the operation cycle setting unit, wherein the access request signal of the access request signal to another memory to said one memory requirements Motome認識部recognizes is inputted, the operation cycle setting section in accordance with these signals the memory controller according to any one of claims 1 to 3, wherein changing the setting value. 前記メモリコントローラは、前記複数のメモリのうち少なくとも2つのメモリが同一パッケージに積層実装されたデバイスに接続されること特徴とする請求項1ないしのいずれか1項に記載のメモリコントローラ。 The memory controller, the memory controller according to any one of claims 1 to 4, wherein the at least two memory of the plurality of memories are connected to a device that is stacked and mounted on the same package. 前記メモリコントローラは、前記デバイスが積層実装される複合デバイスに接続されること特徴とする請求項に記載のメモリコントローラ。 The memory controller according to claim 5 , wherein the memory controller is connected to a composite device on which the devices are stacked. 前記一のメモリと前記他のメモリのコマンド制御端子、アドレス端子、データ端子が、前記メモリコントローラに共通に接続され、
前記メモリコントローラが同一のコマンド体系で前記一のメモリと前記他のメモリを制御すること特徴とする請求項1ないしのいずれか1項に記載のメモリコントローラ。
Command control terminals, address terminals, and data terminals of the one memory and the other memory are commonly connected to the memory controller,
The memory controller according to any one of claims 1 to 6, wherein said memory controller controls the same command system in the one memory and the other memory.
所定の周期でメモリセルのデータ維持のためのリフレッシュ動作が必要なメモリを含む複数のメモリを有するメモリシステムにおいて、
前記リフレッシュ動作が必要な一のメモリへアクセス要求と前記リフレッシュ動作が必要な一のメモリとは異なる他のメモリへアクセス要求とを制御るメモリコントローラを備え
前記メモリコントローラは
前記他のメモリへのアクセス要求の受信後の前記リフレッシュ動作周期である第2リフレッシュ動作周期を、前記他のメモリへのアクセス要求の受信前の前記リフレッシュ動作周期である第1リフレッシュ動作周期よりも短くし、前記他のメモリのアクセス要求の非活性化に対応して前記第2リフレッシュ動作周期を前記第1リフレッシュ動作周期に戻すことを特徴とするメモリシステム。
In a memory system having a plurality of memory including a memory requiring refresh operation for data retention of the memory cell at a predetermined period,
Wherein comprising a Rume memory controller to control an access request to a different other memory refresh operation and an access request to one of memory required and the refresh operation in the one memory required,
The memory controller is,
The second refresh operation cycle that is the refresh operation cycle after receiving the access request to the other memory is set to be greater than the first refresh operation cycle that is the refresh operation cycle before receiving the access request to the other memory. A memory system characterized in that the second refresh operation cycle is returned to the first refresh operation cycle in response to deactivation of an access request of the other memory.
前記第1リフレッシュ動作周期から前記第2リフレッシュ動作周期に設定するまでの時間を調整する時間調整部を備えることを特徴とする請求項に記載のメモリシステム。 The memory system of claim 8, wherein the obtaining Bei time adjustment unit that adjusts the time from the first refresh operation cycle until set to the second refresh operation cycle. 前記第2リフレッシュ動作周期を前記第1リフレッシュ動作周期に戻すまでの時間を調整する時間調整部を備えることを特徴とする請求項に記載のメモリシステム。 The memory system of claim 8, wherein the obtaining Bei time adjustment unit that adjusts the time of the second refresh operation cycle to return to the first refresh operation cycle. 前記メモリシステムは、前記複数のメモリのうち少なくとも2つのメモリが同一パッケージに積層実装されたデバイスで構成されること特徴とする請求項8ないし10のいずれか1項に記載のメモリシステム。 11. The memory system according to claim 8 , wherein the memory system includes a device in which at least two of the plurality of memories are stacked and mounted in the same package. 前記メモリシステムは、前記デバイスが積層実装される複合デバイスに接続されること特徴とする請求項11に記載のメモリシステム。 The memory system according to claim 11 , wherein the memory system is connected to a composite device in which the devices are stacked and mounted. 前記一のメモリと前記他のメモリのコマンド制御端子、アドレス端子、データ端子が、前記メモリコントローラに共通に接続され、
前記メモリコントローラが同一のコマンド体系で前記一のメモリと前記他のメモリを制御すること特徴とする請求項8ないし12のいずれか1項に記載のメモリシステム。
Command control terminals, address terminals, and data terminals of the one memory and the other memory are commonly connected to the memory controller,
13. The memory system according to claim 8, wherein the memory controller controls the one memory and the other memory with the same command system.
所定の周期でメモリセルのデータ維持のためのリフレッシュ動作が必要なメモリを含む複数のメモリに接続されるメモリコントローラのリフレッシュ動作制御方法において、
前記リフレッシュ動作が必要な一のメモリとは異なる他のメモリへのアクセスを要求するデバイスからのメモリ要求信号を認識するステップ
記一のメモリのリフレッシュ動作周期を変更するステップ2を備え、
前記ステップ2は、前記ステップ1で認識する前記メモリ要求信号が前記他のメモリへのアクセス要求信号である場合、前記アクセス要求信号の受信後の前記リフレッシュ動作周期である第2リフレッシュ動作周期を、前記アクセス要求信号の受信前の前記リフレッシュ動作周期である第1リフレッシュ動作周期よりも短くし、
前記ステップ1で認識する前記メモリ要求信号が前記他のメモリを非活性化する信号である場合、前記第2リフレッシュ動作周期を、前記第1リフレッシュ動作周期に戻すことを特徴とするメモリコントローラのリフレッシュ動作制御方法。
In a refresh operation control method for a memory controller connected to a plurality of memories including a memory that requires a refresh operation for maintaining data of memory cells in a predetermined cycle,
And recognizing 1 memory request signal from a device requesting access to different other memory and the refresh operation in the one memory required,
Equipped with automatic answering Step 2 to change the refresh operation cycle of the previous SL one memory,
In the step 2, when the memory request signal recognized in the step 1 is an access request signal to the other memory, a second refresh operation cycle, which is the refresh operation cycle after receiving the access request signal, Shorter than the first refresh operation cycle, which is the refresh operation cycle before receiving the access request signal,
When the memory request signal recognized in the step 1 is a signal for deactivating the other memory, the second refresh operation cycle is returned to the first refresh operation cycle. Operation control method.
前記第1リフレッシュ動作周期を前記第2リフレッシュ動作周期に設定するまでの時間を調整する時間調整ステップを備えることを特徴とする請求項14に記載のメモリコントローラのリフレッシュ動作制御方法。 15. The refresh operation control method for a memory controller according to claim 14 , further comprising a time adjustment step of adjusting a time until the first refresh operation cycle is set to the second refresh operation cycle. 前記第2リフレッシュ動作周期を前記第1リフレッシュ動作周期に戻すまでの時間を調整する時間調整ステップを備えることを特徴とする請求項14に記載のメモリコントローラのリフレッシュ動作制御方法。 15. The refresh operation control method for a memory controller according to claim 14 , further comprising a time adjustment step of adjusting a time until the second refresh operation cycle is returned to the first refresh operation cycle.
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JP4910117B2 (en) * 2008-04-04 2012-04-04 スパンション エルエルシー Stacked memory device
JP4765084B2 (en) * 2008-04-22 2011-09-07 スパンション エルエルシー Memory system and memory mounted in the memory system and requiring a refresh operation
TWI473091B (en) * 2011-10-19 2015-02-11 Winbond Electronics Corp Random access memory and refresh controller thereof
CN103093807B (en) * 2011-11-02 2015-08-26 华邦电子股份有限公司 Random access memory and refresh controller thereof
JP2013101728A (en) 2011-11-07 2013-05-23 Elpida Memory Inc Semiconductor device
KR20150024685A (en) 2013-08-27 2015-03-09 삼성전자주식회사 Memory module composed of chip separated by characteristics

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH05299616A (en) * 1992-04-16 1993-11-12 Hitachi Ltd Semiconductor storage device
JPH10269767A (en) * 1997-03-19 1998-10-09 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor device
US7305518B2 (en) * 2004-10-20 2007-12-04 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Method and system for dynamically adjusting DRAM refresh rate
JP4894306B2 (en) * 2006-03-09 2012-03-14 富士通セミコンダクター株式会社 Semiconductor memory, memory system, and semiconductor memory operating method

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