JP4543815B2 - プラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法 - Google Patents

Description

本発明は、プラズマディスプレイパネルを点灯表示し、画面検査を行うプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法に関するものである。

プラズマディスプレイパネルは、前面基板と背面基板とを、間に放電空間が形成されるように対向配置して周辺部を封着し、放電空間に希ガスを封入して構成されている。前面基板上には走査電極と維持電極とからなる表示電極が複数形成され、背面基板上には表示電極と直交する方向にアドレス電極が複数形成されており、表示電極とアドレス電極との立体交差部には単位発光領域である放電セルが形成される。このプラズマディスプレイパネルでは、表示電極とアドレス電極とに所定の電圧を印加して各放電セルで選択的に放電を発生させ、各放電セルに形成された蛍光体層が放電によって発光することにより、画像表示が行われる。

このプラズマディスプレイパネルなどの表示パネルの点灯画像を検査する場合、例えば特許文献１には、表示パネルを点灯させ、点灯した表示パネルの画像を撮像カメラにより取り込み、画像処理装置によって表示パネルの画素セルの欠陥、表示ムラを定量化して判定することが記載されている。
特開平９−２１８１３１号公報

このようなプラズマディスプレイパネルにおける放電セルの不灯欠陥として、どのように駆動しても常に不灯となる放電セルが存在することがあり、この場合には放電セルが不灯となっている状態は時間的に変化しない。そこで、このような不灯の放電セルを静的画面欠点という。

また、プラズマディスプレイパネルでは、１フィールド時間（１／６０秒）を複数のサブフィールドに分割し、各放電セルにおいて放電を発生させるサブフィールドを選択することにより階調表示を行う。このため、所定の階調を表示するときには所定の選択されたサブフィールドにおいて放電を発生させるが、場合によっては或る放電セルにおいて本来点灯すべきサブフィールドにおいて点灯しないことがあり、これも放電セルの不灯欠陥である。この場合には放電セルが不灯となっている状態は時間的に変化するので、このような不灯の放電セルを動的画面欠点という。

従来の方法を用いてプラズマディスプレイパネルの点灯画像を検査すると、静的画面欠点は検出可能であるが、動的画面欠点は安定的に検出することが困難であった。しかも、このような動的画面欠点に対して、プラズマディスプレイパネルの発光周期、すなわち１フィールド時間毎に全ての放電セルに対して検査することも考えられるが、このような検査では時間がかかりすぎるため、製造現場に導入するのは困難であった。

本発明は、かかる点に鑑み、静的画面欠点と区別して動的画面欠点を検出することが可能なプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法を提供することを目的とする。

上記目的を達成するために、本発明は、露光時間を長フィールド時間に設定して画像を撮像することで第１画像データを得るステップと、露光時間を短フィールド時間に設定して画像を撮像することで第２画像データを得るステップと、前記第１画像データと前記第２画像データから差分画像データを求め、その差分画像データを用いて画像を評価するステップとを有することを特徴とするプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法である。

本発明によれば、プラズマディスプレイパネルの点灯画面検査を行う際に、静的画面欠点と区別して動的画面欠点を検出することができる。

請求項１に記載の発明は一対の基板間に複数の放電セルを有し、各放電セルにおいて放電を発生させることにより画像表示を行うプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法において、露光時間を長フィールド時間に設定して画像を撮像することで第１画像データを得るステップと、露光時間を短フィールド時間に設定して画像を撮像することで第２画像データを得るステップと、前記第１画像データと前記第２画像データから差分画像データを求め、その差分画像データを用いて画像を評価するステップとを有することを特徴とするプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法である。

また、請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、少なくとも、露光時間を短フィールド時間に設定して画像を撮像することで第２画像データを得るステップと、第１画像データと第２画像データから差分画像データを求め、その差分画像データを用いて画像を評価するステップとを複数回行うことを特徴とする。

また、請求項３に記載の発明は、請求項１に記載の発明において、プラズマディスプレイパネルの点灯周期に同期させてプラズマディスプレイパネルの画像を撮像することを特徴とする。

以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しつつ説明する。

（実施の形態１）
まず、プラズマディスプレイパネルの構造について要部を示す斜視図である図１を用いて説明する。図１に示すように、前面板１は、ガラス製の前面基板２上に、走査電極３および維持電極４からなる表示電極対を複数形成し、その表示電極対を覆うように誘電体ガラスからなる誘電体層５を形成し、誘電体層５上に酸化マグネシウム（ＭｇＯ）からなる保護層６を形成して構成されている。

一方、前面板１に対向配置された背面板７は、ガラス製の背面基板８上に、アドレス電極９を複数形成し、そのアドレス電極９を覆うように誘電体層１０を形成し、その誘電体層１０上にアドレス電極９と平行な複数の隔壁１１を形成し、さらに隣接する隔壁１１の間にそれぞれ赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）の各色に発光する蛍光体層１２を形成して構成されている。アドレス電極９は隣接する隔壁１１の間に位置している。

走査電極３および維持電極４とアドレス電極９とが直交するように、一対の基板である前面基板２と背面基板８とが対向配置され、これら基板の周辺部を封着部材（図示せず）を用いて封着している。前面基板２と背面基板８との間に形成された放電空間にネオンおよびキセノンからなる放電ガスを封入しており、走査電極３および維持電極４とアドレス電極９との立体交差部に放電セルが形成される。すなわち、一対の基板間に複数の放電セルを有している。この放電セルは画像を表示するときの単位発光領域であり、Ｒ、Ｇ、Ｂの各色に発光する蛍光体層１２が形成された隣接する３つの放電セルによって１つの画素を形成する。

このプラズマディスプレイパネルでは、１フィールド時間（１／６０秒）を複数のサブフィールドに分割し、各放電セルにおいて放電を発生させるサブフィールドを組み合わせることにより階調表現を行う。各サブフィールドでは、走査電極３に順次走査パルスを印加するとともに画像データに基づいてアドレス電極９にアドレスパルスを印加することで表示する放電セルを選択した後、走査電極３と維持電極４とに交互に維持パルスを印加することによって、選択した放電セルにおいて維持放電を起こす。これにより、維持放電が起こった放電セルでは、紫外線が発生し、その紫外線で励起された蛍光体層１２から各色の可視光が放出されて、画像表示が行われる。

次に、このようなプラズマディスプレイパネルについて点灯画面検査を行う方法について説明する。

図２は、本発明の実施の形態１における点灯画面検査装置の説明図である。図２において、パネル検査台１３に設置されたプラズマディスプレイパネル１４は、駆動回路制御手段１５で駆動されて点灯状態にあり、この点灯画像を、カメラ撮像制御手段１６によりコントロールされた１台または複数台のカメラ（撮像手段）１７により撮像できるようになっている。カメラ１７の露光時間は、露光時間制御手段１８によりカメラ撮像制御手段１６を介して任意に設定される。カメラ１７により撮像された画像の画像データは画像処理部１９にて処理され、結果を出力するようになっている。

画像処理部１９は、プラズマディスプレイパネル１４の表示周期である１フィールド時間の整数倍である任意の長フィールド時間にて撮像された画像が記憶される長フィールド時間露光画像記憶手段２０と、１フィールド時間または数フィールド時間の短フィールド時間にて撮像された画像が記憶される短フィールド時間露光画像記憶手段２１と、これらの画像データに対して輝度補正処理を行う画像輝度補正処理手段２２、２３と、これらの輝度補正された画像データの画像差分処理を行う画像差分処理手段２４と、画像差分処理された画像データから欠陥抽出を行う欠陥抽出処理手段２５と、その欠陥抽出処理手段２５により算出された欠陥の特徴量から良否の判定を行う良否判定手段２６とから構成されている。また、欠陥抽出処理手段２５は、ノイズ除去を行う平滑化処理手段２７と、その処理画像において背景周辺からの変化点を抽出する周辺比較処理手段２８と、その処理画像から欠陥領域を抽出する２値化ラベリング手段２９と、その２値化ラベリングされた領域の面積・平均濃度・幅・長さといった複数の特徴量を算出する特徴量抽出手段３０から構成されている。

図３は、本発明の実施の形態１における点灯画面検査装置の動作フローを示しており、ステップ１からステップ１１までの各ステップを行うことでプラズマディスプレイパネルの動的画面欠点について検査することができる。以下、各ステップについて説明する。

まずステップ１では、露光時間制御手段１８により長フィールド時間に露光時間が設定された条件にて、カメラ１７を用いてプラズマディスプレイパネル１４の画像を撮像し、その画像データ（第１画像データ）を長フィールド時間露光画像記憶手段２０に入力する。またステップ２では、短フィールド時間に露光時間が設定された条件にて、カメラ１７を用いてプラズマディスプレイパネル１４の画像を撮像し、その画像データ（第２画像データ）を短フィールド時間露光画像記憶手段２１に入力する。ここで、一例として、長フィールド時間を６０フィールド時間（１秒）程度とし、短フィールド時間を１フィールド時間（１／６０秒）程度とする。

次に、ステップ１とステップ２で得られた第１画像データおよび第２画像データは、撮像条件が異なるため、そのままの第１画像データと第２画像データを用いて画像差分処理を行ったのでは良い結果が得られにくい。このため、第１画像データおよび第２画像データの正規化を行う。すなわち、ステップ３において、画像輝度補正処理手段２２を用いて第１画像データに対して長フィールド時間露光画像補正を行い、ステップ４において、画像輝度補正処理手段２３を用いて第２画像データに対して短フィールド時間露光画像補正を行う。

ここで、動的画面欠点となる放電セル（点滅セルという）の１フィールド時間毎の点灯率変化の一例を図４に示す。図４に示すように、点滅セルの点灯率は、確率的に点灯率が低い状態または高い状態になっていることが多い。また、図５は撮像した画像の画像データの一例を示しており、図５（ａ）は長フィールド時間露光で得られた第１画像データであり、図５（ｂ）〜（ｄ）は短フィールド時間露光で得られた第２画像データである。そして、図５（ｂ）は点滅セルの点灯率が低い場合（点灯率０％）、図５（ｃ）は点滅セルの点灯率が中間値の場合（点灯率５０％）、図５（ｄ）は点滅セルの点灯率が高い場合（点灯率１００％）を示している。

図５において、画像データが短い周期で振動するように変化しているのは、プラズマディスプレイパネル１４に設けられた隔壁１１などの発光に寄与しない部分があるためであり、そのような部分において画像データが極所的に小さくなっている。また、図５中の領域Ａの部分に点滅セルが存在している。点滅セルの部分では、図５（ｂ）〜（ｄ）に示すように、点滅セルの点灯率が低いときには画像データが小さく、点滅セルの点灯率が高いときには画像データが大きいというように、画像データは点滅セルの点灯率に応じて大きさが変わる。また、図５（ａ）に示すように、点滅セルの部分における第１画像データの値は、点滅セルの点灯率が平均値となる場合の値を示している。この点に注目すれば、隔壁１１などの発光に寄与しない部分、正常に発光している部分および静的画面欠点の部分では第１画像データと第２画像データとの間に違いは生じないが、動的画面欠点の部分では第１画像データと第２画像データとの間に違いが生じる。

そこで次のステップ５において、画像差分処理手段２４を用いて、正規化された第１画像データと正規化された第２画像データとの差分を求める画像差分処理を行う。この画像差分処理を行うことにより得られた画像データ（差分画像データ）において、動的画面欠点の部分とその他の部分との間で差分画像データの値が大きく異なり、その部分を特定することにより、静的画面欠点と区別して動的画面欠点を検出することができる。

次に、差分画像データに対して欠陥抽出処理手段２５を用いてステップ６〜ステップ９の各ステップを行うことで欠陥抽出を行う。

ステップ６において、差分画像データに対して、平滑化処理手段２７により平滑化処理を行う。この平滑化処理は画像に入ったノイズを除去、抑制することを目的とした処理である。

次のステップ７において、周辺比較処理手段２８により、画像データのシェーディング補正および欠陥部の強調処理を目的として周辺比較処理を行う。この周辺比較処理は、例えば、処理対象となる画素（対象画素）の画像データとその周辺の画素の画像データとの差分の和の大きさを、新たに対象画素の画像データとする処理であり、その処理画像において背景周辺からの変化点を抽出する処理である。この周辺比較処理を行うと、動的画面欠点の位置に対応する画素での画像データは、その他の画素での画像データに比べて大きい値になる。

次のステップ８において、２値化ラベリング手段２９により２値化ラベリング処理を行う。すなわち、ステップ７において周辺比較処理を行った画像データに対して、或る閾値を設定し、画像データがその閾値以上となっている画素を抽出するという処理である。この２値化ラベリング処理を行うことにより、閾値以上の画像データを有する画素が存在する領域（ラベリングされた領域という）を抽出することができる。

次のステップ９において、特徴量抽出手段３０により特徴量抽出を行う。ここで特徴量は、ラベリングされた領域の面積、幅、長さ、平均濃度などである。

次のステップ１０において、この抽出された特徴量に対して、予め決められた良否判定基準に基づき、良否判定手段２６により良否判定を行う。例えば、特徴量であるラベリングされた領域の面積、幅、長さ、平均濃度のそれぞれについて所定の判定基準値を決めておき、抽出した特徴量のいずれか１つでも判定基準値より大きくなる場合には、動的画面欠点が存在するためパネルとしては不良であると判定するというように、抽出した特徴量を用いることで動的画面欠点に関してパネルの良否を判定することができる。そして最後に、ステップ１１において良否判定の判定結果を出力し、検査を終了する。このように、第１画像データと第２画像データとを用いて画像を評価するステップであるステップ３〜１１を行うことによりプラズマディスプレイパネルの画像を評価することができる。

以上のように、本実施の形態１の構成によれば、画像差分処理手段２４を用いて長フィールド時間露光画像と短フィールド時間露光画像の画像差分処理を行うことにより、時間的変化を伴わない不灯放電セルなどの静的画面欠点と区別して、時間的変化を伴う点滅セルなどの動的画面欠点が検出可能となり、高精度高速検査を実現することができる。

（実施の形態２）
本発明の実施の形態２におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法について図６を用いて説明する。図６に示すステップ１〜ステップ１０の各ステップは、図３で説明したステップ１〜ステップ１０の各ステップと同じであり、図６のステップ１１では、ステップ１〜ステップ１０の各ステップを繰り返して実施するようにしている。そして、複数回繰り返して実施するうちに、パネル不良と判定された場合には、ステップ１２に移って判定結果を出力し、検査を終了する。なお、ステップ１〜ステップ１０の各ステップを適当な所定の回数繰り返して実施してもパネル不良と判定されなければ、そのパネルは良品であると判断し、検査を終了する。

これにより、１回目の検査において、もしも短フィールド時間露光画像を撮像するタイミングによって点滅セルの点灯率が中間値となり、短フィールド時間露光画像と長フィールド時間露光画像との差異がほとんど無くなった場合には、動的画面欠点を抽出することが困難となるが、ステップ１〜ステップ１０を繰り返して実施することにより、動的画面欠点による差異が大きい差分画像が得られる確率を向上させることが可能となる。

本実施の形態２によれば、長フィールド時間露光画像と短フィールド時間露光画像との画像差分処理を複数回行うようにしたことにより、長フィールド時間露光画像と短フィールド時間露光画像との差異が大きくなる確率を向上させることが可能となり、時間的変化を伴わない不灯放電セルなどの静的画面欠点と区別して、時間的変化を伴う点滅セルのような動的画面欠点が検出可能となり、高精度高速検査を実現することができる。

なお、図６においてステップ１１の繰り返し動作は、長フィールド時間露光画像の撮像も繰り返すとしたが、長フィールド時間露光画像は１回撮像するとその後はその撮像した画像データを用い、短フィールド時間露光画像のみを繰り返して撮像し、画像差分処理を実施するようにしてもよい。

（実施の形態３）
次に、本発明の実施の形態３におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法について図７、図８を用いて説明する。

図７は、本発明の実施の形態３におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査装置の説明図である。図７において、図２と同じ構成については同じ符号を用いており、図２の構成と異なるのは画像処理部３１であるので、以下では主に画像処理部３１について説明する。

図７において、画像処理部３１は、露光時間制御手段１８により、露光時間が長フィールド時間および短フィールド時間に設定され、カメラ撮像制御手段１６により制御された条件にてカメラ１７で撮像した画像データを入力し、その画像データについて所定の画像処理を行い、判定結果を出力するようになっている。この画像処理部３１は、長フィールド時間および短フィールド時間に設定された露光時間にて撮像された画像が記憶される長フィールド時間露光画像記憶手段２０および短フィールド時間露光画像記憶手段２１と、それぞれの画像データに対して特徴量を抽出する欠陥抽出処理手段２５と、その抽出された特徴量の比較処理を行う特徴量比較処理手段３２と、その結果からパネルの良否判定を行う良否判定手段３３を有している。ここで特徴量は、実施の形態１で説明した特徴量と同様である。

次に、本発明の実施の形態３におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法について、そのフロー図である図８を用いて説明する。

まずステップ１では、露光時間制御手段１８により長フィールド時間に露光時間が設定された条件にて、カメラ１７を用いてプラズマディスプレイパネル１４の画像を撮像し、その画像データ（第１画像データ）を長フィールド時間露光画像記憶手段２０に入力する。ステップ１で得られた第１画像データに対して、平滑化処理（ステップ２）、周辺比較処理（ステップ３）、２値化ラベリング処理（ステップ４）、長フィールド時間特徴量抽出（ステップ５）の各処理を行うことにより、第１画像データから特徴量（第１特徴量）を抽出する。ここで、ステップ２〜ステップ５における各処理は、実施の形態１で説明したステップ６〜ステップ９の各処理と同じである。

またステップ６では、短フィールド時間に露光時間が設定された条件にて、カメラ１７を用いてプラズマディスプレイパネル１４の画像を撮像し、その画像データ（第２画像データ）を短フィールド時間露光画像記憶手段２１に入力する。ステップ６で得られた第２画像データに対して、平滑化処理（ステップ７）、周辺比較処理（ステップ８）、２値化ラベリング処理（ステップ９）、短フィールド時間特徴量抽出（ステップ１０）の各処理を行うことにより、第２画像データから特徴量（第２特徴量）を抽出することができる。ここで、ステップ７〜ステップ１０における各処理は、実施の形態１で説明したステップ６〜ステップ９の各処理と同じである。

次のステップ１１において、第１画像データおよび第２画像データのそれぞれから抽出された第１特徴量および第２特徴量に対して、特徴量比較処理手段３２により欠陥の有無・欠陥の位置・欠陥の大きさなどについて比較処理を行う。

次のステップ１２において、予め決められた良否判定基準に基づき、比較処理を行った結果について良否判定手段３３により良否判定を行う。そして最後に、ステップ１３において良否判定の判定結果を出力し、検査を終了する。このように、第１画像データと第２画像データとを用いて画像を評価するステップであるステップ２〜５およびステップ７〜１３を行うことによりプラズマディスプレイパネルの画像を評価することができる。

ここで、時間的変化を伴わない不灯放電セルなどの静的画面欠点においては、第１画像データおよび第２画像データのそれぞれから抽出された特徴量に大きな違いが見られることはない。

これにより、本実施の形態３によれば、特徴量比較処理手段３２を用いて長フィールド時間露光画像と短フィールド時間露光画像のそれぞれから抽出した特徴量を比較処理することにより、時間的変化を伴わない不灯放電セルなどの静的画面欠点と区別して、時間的変化を伴う点滅セルなどの動的画面欠点が検出可能となり、高精度高速検査を実現することができる。

（実施の形態４）
本発明の実施の形態４におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法について図９を用いて説明する。図９に示すステップ１〜ステップ１２の各ステップは、図８で説明したステップ１〜ステップ１２の各ステップと同じであり、図９のステップ１３では、ステップ１〜ステップ１２の各ステップを繰り返して実施するようにしている。そして、複数回繰り返して実施するうちに、パネル不良と判定された場合には、ステップ１４に移って判定結果を出力し、検査を終了する。なお、ステップ１〜ステップ１２の各ステップを適当な所定の回数繰り返して実施してもパネル不良と判定されなければ、そのパネルは良品であると判断し、検査を終了する。

これにより、１回目の検査において、もしも短フィールド時間露光画像を撮像するタイミングによって点滅セルの点灯率が中間値となり、短フィールド時間露光画像と長フィールド時間露光画像との差異がほとんど無くなった場合には、動的画面欠点を抽出することが困難となるが、ステップ１〜ステップ１２を繰り返して実施することにより、動的画面欠点による差異が大きい差分画像が得られる確率を向上させることが可能となる。

本実施の形態４によれば、長フィールド時間露光画像から得られる特徴量と短フィールド時間露光画像から得られる特徴量とを比較処理する特徴量比較処理を複数回行うようにしたことにより、長フィールド時間露光画像と短フィールド時間露光画像との差異が大きくなる確率を向上させることが可能となり、時間的変化を伴わない不灯放電セルなどの静的画面欠点と区別して、時間的変化を伴う点滅セルのような動的画面欠点が検出可能となり、高精度高速検査を実現することができる。

なお、図９においてステップ１３の繰り返し動作は、長フィールド時間露光画像の撮像も繰り返すとしたが、長フィールド時間露光画像は１回撮像して特徴量を抽出すると、その後はその抽出した特徴量を用い、短フィールド時間露光画像のみを繰り返して撮像して特徴量を抽出し、特徴量比較処理を実施してもよい。

（実施の形態５）
本発明の実施の形態５におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法について図１０および図１１を用いて説明する。

図１０は、本発明の実施の形態５におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査装置の説明図である。図１０において、図２と同じ構成については同じ符号を用い、説明を省略する。図１０に示すように、パネル垂直同期処理部３４は、駆動回路制御手段１５から出されるパネル垂直同期信号に合わせて、カメラ１７にて画像が撮像できるようにしている。その他の構成については図２に示した構成と同じである。

本実施の形態５におけるプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法のフローを図１１に示す。まず、ステップ１において、パネル垂直同期処理部３４により、パネル垂直同期とカメラ同期を合わせる。これ以降のステップ２〜ステップ１２の各ステップは、図３で示したステップ１〜ステップ１１の各ステップと同じである。

パネル垂直同期とカメラ同期を合わせることにより、プラズマディスプレイパネルの点灯周期に同期させて画像を撮像することになり、短フィールド時間露光画像において、図５（ｃ）に示したような点滅セルの点灯率が中間値となる場合を軽減することが可能となる。

かかる構成によれば、パネル垂直同期とカメラ同期を合わせることにより、点滅セルの点灯率が中間値となる確率を低減することが可能となり、時間的変化を伴わない不灯放電セルなどの静的画面欠点と区別して、時間的変化を伴う点滅セルなどの動的画面欠点を高精度高速に検査することができる。

なお、本実施の形態５では、上記実施の形態１においてパネル垂直同期処理部３４を備えてパネル垂直同期とカメラ同期を合わせることについて示したが、上記実施の形態２〜４においても、パネル垂直同期処理部３４を備えてパネル垂直同期とカメラ同期を合わせるようにしてもよい。

以上のように本発明によれば、プラズマディスプレイパネルの点灯画面検査において、点滅セルのような時間的変化を伴う動的画面欠点が、不灯放電セルなどの静的画面欠点と区別して検出可能となり、プラズマディスプレイパネルの点灯画面検査に有用である。

プラズマディスプレイパネルの要部を示す斜視図 本発明の実施の形態１における点灯画面検査装置の説明図 同点灯画面検査装置の動作フロー図 点滅セルの１フィールド時間毎の点灯率変化の一例を示す図 （ａ）〜（ｄ）は撮像した画像の画像データの一例を示す図 本発明の実施の形態２における点灯画面検査のフロー図 本発明の実施の形態３における点灯画面検査装置の説明図 本発明の実施の形態３における点灯画面検査のフロー図 本発明の実施の形態４における点灯画面検査のフロー図 本発明の実施の形態５における点灯画面検査装置の説明図 本発明の実施の形態５における点灯画面検査のフロー図

符号の説明

１４ プラズマディスプレイパネル
１６ カメラ撮像制御手段
１７ カメラ
１８ 露光時間制御手段
１９、３１ 画像処理部
２０ 長フィールド時間露光画像記憶手段
２１ 短フィールド時間露光画像記憶手段
２２、２３ 画像輝度補正処理手段
２４ 画像差分処理手段
２５ 欠陥抽出処理手段
２６、３３ 良否判定手段
３２ 特徴量比較処理手段
３４ パネル垂直同期処理部

Claims (3)

1. 一対の基板間に複数の放電セルを有し、各放電セルにおいて放電を発生させることにより画像表示を行うプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法において、露光時間を長フィールド時間に設定して画像を撮像することで第１画像データを得るステップと、露光時間を短フィールド時間に設定して画像を撮像することで第２画像データを得るステップと、前記第１画像データと前記第２画像データから差分画像データを求め、その差分画像データを用いて画像を評価するステップとを有することを特徴とするプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法。
2. 少なくとも、露光時間を短フィールド時間に設定して画像を撮像することで第２画像データを得るステップと、第１画像データと第２画像データから差分画像データを求め、その差分画像データを用いて画像を評価するステップとを複数回行うことを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法。
3. プラズマディスプレイパネルの点灯周期に同期させてプラズマディスプレイパネルの画像を撮像することを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの点灯画面検査方法。

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