JP4543121B1 - 光学測定装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】この光学測定装置は、試料溶液に光を照射する光源部と、光源部からの光が照射される位置に試料溶液を曲面WAで囲んで保持する試料保持部3Aと、試料溶液から発せられて入光面40Aaに入射した光を伝送する光伝送部4Aと、伝送された光の周波数成分を検出する光検出部と、を備える。
【選択図】図3
Description
2A、2B 光源部
3A、3B 試料保持部
31A、31B 試料保持部の基部材
31Aa、31Ba 基部材の上端面(上面)
31Baa 基部材31Bの凹部
32A 試料保持部3Aのガイド部材
4A、4B 光伝送部
40Aa、40Ba 光伝送部の入光面
5A、5B 光検出部
6B 第2の光源部
7B 第2の光伝送部
70Ba 第2の光伝送部の出光面
P ピペット
S 試料溶液
WA、WB 試料溶液を保持する曲面
Claims (3)
- 試料溶液に光を照射する光源部と、
光源部からの光が照射される位置に試料溶液を曲面で囲んで保持する試料保持部と、
試料溶液から発せられて入光面に入射した光を伝送する光伝送部と、
伝送された光の周波数成分を検出する光検出部と、を備え、
前記試料保持部は、柱状をなしその上端面に光伝送部の入光面を位置させた基部材と、該入光面を跨いで該基部材に取り付けられ内側が前記曲面となるガイド部材と、を有し、ガイド部材が取り付けられた基部材の上端面に試料溶液が滴下され、ガイド部材と基部材の上端面により形成する空間に試料溶液を保持することを特徴とする光学測定装置。 - 請求項1に記載の光学測定装置において、
前記ガイド部材は、線材であることを特徴とする光学測定装置。 - 請求項2に記載の光学測定装置において、
前記線材は、前記基部材の外側面に形成した溝に嵌入して取り付けられていることを特徴とする光学測定装置。
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JP2007271560A (ja) * | 2006-03-31 | 2007-10-18 | Shimadzu Corp | 分光光度計 |
JP2008116314A (ja) * | 2006-11-02 | 2008-05-22 | Seikoh Giken Co Ltd | 微少量液体測定装置 |
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