JP4526653B2 - Determining the processing timing of strip parts - Google Patents
Determining the processing timing of strip parts Download PDFInfo
- Publication number
- JP4526653B2 JP4526653B2 JP2000140026A JP2000140026A JP4526653B2 JP 4526653 B2 JP4526653 B2 JP 4526653B2 JP 2000140026 A JP2000140026 A JP 2000140026A JP 2000140026 A JP2000140026 A JP 2000140026A JP 4526653 B2 JP4526653 B2 JP 4526653B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- output signal
- change point
- photoline
- inspection
- sensor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Images
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、帯状部品の検査や所定の処理の実行タイミングを決定する技術に関する。
【0002】
【従来の技術】
ICチップ(半導体集積回路)にリード(端子)を半田付けする際には、帯状のリードフレームと呼ばれる部品が用いられる。リードフレームには、多数の端子が周期的に繰り返し形成されており、リードフレームの側端部には搬送用のスプロケット穴が設けられている。
【0003】
リードフレームの検査を行う場合に、従来は、リードフレームをその長手方向に搬送しながらリードフレーム内の所定の検査対象領域の画像を撮像し、その画像を調べて各検査対象領域の良否を判定していた。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、リードフレームを搬送する際には、その長手方向に垂直な方向(リードフレームの幅方向)にリードフレームがぶれるので、検査対象領域の画像を撮像するタイミングをうまく決定することが困難であった。このような問題は、リードフレームの検査のみでなく、同一の平面形状が周期的に繰り返し現れる帯状部品に関して、検査や所定の処理を実行する場合に共通する問題であった。
【0005】
本発明は、上述した従来の課題を解決するためになされたものであり、帯状部品が搬送される際に、幅方向に帯状部品がぶれるときにも、その検査や処理のタイミングを精度良く決定することのできる技術を提供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段およびその作用・効果】
上記目的を達成するために、本発明は、同一の平面形状が周期的に繰り返し現れる略帯状の形状を有し、その長手方向に伸びる側端部よりも内側の所定の位置に特定の透過型形状が前記長手方向に沿って周期的に形成されている帯状部品を検査するための検査装置を提供する。この検査装置は、前記帯状部品の搬送路において前記帯状部品の長手方向とほぼ垂直な方向に沿って配置され、前記帯状部品の線状画像を所定の時間毎に取得するフォトラインセンサと、前記フォトラインセンサから出力された出力信号の変化点を分析することによって、前記側端部の位置に相当する第1の出力信号変化点を決定するとともに、前記第1の出力信号変化点から所定の範囲の中に前記特定の透過型形状に対応する第2の出力信号変化点が存在するか否かを判断し、前記所定の範囲の中に第2の出力信号変化点が存在する状態が発生したときに検査の実行タイミングを示すトリガ信号を生成するトリガ信号生成部と、前記トリガ信号に応じて前記検査を実行する検査実行部と、を備えることを特徴とする。
【0007】
この検査装置では、フォトラインセンサの出力信号の変化点を分析することによって、帯状部品の側端部から所定の範囲の中に特定の透過型形状が存在する状態が発生したときに検査のトリガ信号を生成するので、帯状部品の搬送時にその長手方向とは垂直な方向に帯状部品がぶれるときにも、その検査タイミングを精度良く決定することが可能である。
【0008】
なお、前記トリガ信号生成部は、前記所定の範囲の中に第2の出力信号変化点が存在する状態が継続しているときには前記トリガ信号の生成を中止するようにしてもよい。
【0009】
こうすれば、出力信号が特定の状態に変化したときにのみトリガ信号が発生するので、トリガ信号の発生タイミングをより好ましいものに設定することが可能である。
【0010】
この検査装置は、さらに、前記帯状部品を挟んで前記フォトラインセンサとは反対側に設けられ、前記フォトラインセンサに向けて光を照射する光源を備えるようにしてもよい。
【0011】
こうすれば、フォトラインセンサによって帯状部品の透過部分と非透過部分の明瞭な線状画像を取得することができ、従って、検査タイミングをより精度良く決定することが可能である。
【0012】
前記検査実行部は、前記トリガ信号に応答して前記帯状部品の特定の検査対象領域を包含する2次元画像を取得するカメラを含むようにしてもよい。
【0013】
このような検査装置では、検査タイミングが精度良く決定されているので、カメラとして比較的視野の狭いものを採用することが可能である。
【0014】
なお、本発明は、種々の態様で実現することが可能であり、例えば、帯状部品の検査方法および装置、帯状部品の処理タイミング決定方法および装置、それらの方法または装置の機能を実現するためのコンピュータプログラム、そのコンピュータプログラムを記録した記録媒体、そのコンピュータプログラムを含み搬送波内に具現化されたデータ信号、等の態様で実現することができる。
【0015】
【発明の実施の形態】
次に、本発明の実施の形態を実施例に基づいて説明する。図1は、本発明の一実施例における検査の概要を示す概念図である。帯状の部品であるリードフレーム10は、所定の搬送路上を矢印の方向にほぼ一定速度で搬送されていく。検査装置は、この搬送路において、リードフレーム10の検査を実行する。この検査装置は、リードフレーム10の下方に設けられたフォトラインセンサ20と、リードフレーム10を挟んでフォトラインセンサ20とは反対側に設けられた点光源であるLED22と、リードフレーム10の所定の検査対象領域SAの2次元画像を取得するためのカメラ24と、制御装置30とを備えている。
【0016】
制御装置30は、フォトラインセンサ20やカメラ24とのインターフェイスボードが装着されたパーソナルコンピュータで構成されている。制御装置30は、
トリガ発生部32と、画像処理部34とを有している。トリガ発生部32は、フォトラインセンサ20からの出力信号Sphに応じてトリガ信号TGを生成してカメラ24に供給する。画像処理部34は、カメラ24で撮像された画像の画像信号IMを処理することによって、リードフレームの良否を判定する。例えば、画像処理部34は、検査対象領域SAの画像を処理することによって、リードピンに許容値以上の曲がりが発生していないか否かを検査することによってリードフレームの良否を判定することが可能である。なお、トリガ発生部32と画像処理部34の機能は、制御装置30内の図示しないCPUがコンピュータプログラムを実行することによって実現される。
【0017】
フォトラインセンサ20は、リードフレーム10の長手方向(搬送方向)とはほぼ垂直な方向(リードフレーム10の幅方向)に沿って配置されている。LED22は、フォトラインセンサ20の真上に配置されており、放射状の光をフォトラインセンサ20に向けて照射する。なお、光源としては、点光源であるLED22の代わりに、線状または面状の光源を用いることも可能である。また、十分な環境光が存在する場合には、フォトラインセンサ20のための光源を省略してもよい。
【0018】
リードフレーム10には、その長手方向に延びる一方の側端部12の内側の所定の位置に、スプロケット穴14が周期的に設けられている。スプロケット穴14は、図示しない搬送装置がスプロケットを使用してリードフレーム10を搬送する際に、その搬送装置のスプロケットの歯が差し込まれる穴である。LED22は、このスプロケット穴14が設けられている位置に向けて光を照射する。リードフレーム10の透過部を透過した光はフォトラインセンサ20で受光される。フォトラインセンサ20は、一定時間毎にリードフレーム10の線状画像を取得し、その線状画像を表す出力信号Sphをトリガ発生部32に供給する。トリガ発生部32は、リードフレーム10のスプロケット穴14を検出したときにトリガ信号TGを生成する。
【0019】
図2は、トリガ発生部32がトリガ信号TGを生成するタイミングを決定する様子を示す説明図である。図2(a)は、ある時刻t1におけるリードフレーム10とフォトラインセンサ20の位置関係と、フォトラインセンサ20からの出力信号Sphのレベル変化とを示している。また、図2(b)は、時刻t1から所定の時間間隔Δtだけ経過した時刻t2における状態を示している。なお、この時間間隔Δtの間に、リードフレーム10は矢印の方向(図中では上方向)に所定の距離だけ移動している。
【0020】
時刻t1では、フォトラインセンサ20の位置は1つのスプロケット穴14に懸かる直前の位置にある。図2(A)の下部には、このときのフォトラインセンサ20の出力信号Sphのグラフが示されている。このグラフの横軸xは、フォトラインセンサ20の一方の端部21から測った位置座標であり、出力信号Sphの値はこの座標xに応じて変化する。リードフレーム10によって遮光される位置では出力信号Sphの値は所定のLレベル(遮光レベル)を示し、リードフレーム10によって遮光されない位置では出力信号Sphの値は所定のHレベル(非遮光レベル)を示す。なお、実際にはフォトラインセンサ20の出力信号Sphは多値レベルを取りうるが、ここでは簡単のために、LレベルとHレベルの2つのレベルのみを取るものと考える。
【0021】
時刻t1においては、フォトラインセンサ20の出力信号Sphは、フォトラインセンサ20の端部21から座標x1までの範囲ではHレベルを取る。また、座標x1から座標x2までの範囲ではLレベルを取り、座標x2以降に再びHレベルとなる。なお、本明細書では、座標x1,x2のように、出力信号Sphのレベルが切り替わる点を「出力信号変化点」または単に「変化点」と呼ぶ。
【0022】
トリガ発生部32は、最初に信号レベルがHレベルからLレベルに切り替わる変化点x1を検出し、この変化点x1をリードフレーム10の側端部12の位置であると認識する。また、この最初の変化点x1の後で信号レベルがLレベルからHレベルに切り替わる変化点x2を検出し、これらの変化点x1,x2の座標値の差分Δx(=x2−x1)を算出する。さらに、この差分Δxが、予め設定されたしきい値D未満であるか否かを調べる。このしきい値Dは、フォトラインセンサ20がスプロケット穴14を通過する位置に来た状態において、リードフレーム10からスプロケット穴14までの距離に関連付けられた値であり、リードフレーム10毎に予め設定された値である。図2の例では、しきい値Dは、側端部12からスプロケット穴14の中央までの値に設定されている。
【0023】
時刻t1では、フォトラインセンサ20の撮像位置にスプロケット穴14が存在しないので、変化点座標の差分Δxはしきい値D以上となる。この場合にはトリガ発生部32はトリガ信号TGを発生しない。一方、時刻t2では、フォトラインセンサ20の撮像位置にスプロケット穴14が存在しており、この結果、変化点座標の差分Δxはしきい値D未満の値となる。このとき、トリガ発生部32はトリガ信号TGを発生して、カメラ24に2次元画像を撮像させる。
【0024】
なお、時刻t2以降は、Δx<Dの状態がしばらく継続するが、このような場合はトリガ信号TGの発生は中止される。すなわち、トリガ発生部32は、時刻t2の場合のように、その直前の時刻(時刻t1)において差分Δxがしきい値D以上の状態にあり、その状態が次にΔx<Dの状態に切り替わったときにのみトリガ信号TGを生成する。換言すれば、スプロケット穴14の前端部が検出されたときにのみ、トリガ信号TGを発生させる。こうすれば、1個のスプロケット穴14に対して1回だけトリガ信号TGを発生させることが可能である。
【0025】
図3は、トリガ発生部32による処理手順を示すフローチャートである。ステップS1では、フォトラインセンサ20が線状画像を撮像し、その出力信号Sphがトリガ発生部32に供給される。ステップS2では、出力信号Sphの最初の2つの変化点x1,x2の座標が検出されるとともに、その差分Δxが算出される。ステップS3では、差分Δxとしきい値Dとの大小関係が第1の状態(差分Δxがしきい値D以下)から第2の状態(差分Δxがしきい値D未満)に切り替わったか否かが判定される。大小関係が切り替わっていない場合には、ステップS1に戻り、所定の時間間隔の後に再度フォトラインセンサ20によって線状画像が撮像される。一方、大小関係が切り替わったときには、ステップS4においてトリガ信号TGが生成される。
【0026】
なお、ステップS3における判断基準としては、「Δx<Dに切り替わったか否か」の代わりに、「D1<Δx<D2に切り替わったか否か」(D1,D2は0でない所定の値)という判断基準を用いてもよい。すなわち、ステップS3では、差分Δxが所定の範囲内にあるか否かを判断するようにすればよい。
【0027】
また、図3の手順の代わりに、Δx<Dの状態のときには常にトリガ信号TGを発生させるようにしてもよい。このときには、Δx<Dの状態が継続しているときにはトリガ信号TGが連続して発生するので、カメラ24が、連続して発生しているトリガ信号TGのうちの2回目以降のトリガ信号TGを無視するようにすればよい。
【0028】
図4(A)は、本実施例の検査装置の機械的構成を示す正面図であり、図4(B)はその基台100の平面図である。リードフレームは、矢印で示す方向に(図中の右方向に)搬送される。基台100の両端には、リードフレームの側端部を案内するためのガイドプレート110,112が設けられている。各ガイドプレート110,112は、相対する案内面の距離を任意に変更可能である。また、基台100の上には、搬送台120,122,124が設けられている。中央の搬送台122は、カメラ24の下部位置に存在しており、カメラ24による撮像される画像のコントラストを向上させるために、吸光特性を有する材質(例えば黒い紙)によって表面が覆われている。
【0029】
また、基台100の右端部付近には、2つのフォトラインセンサ20a,20bが設けられている。図4(B)に示すように、これらの2つのフォトラインセンサ20a,20bは、搬送方向とは垂直な方向に沿って互いにずれた位置に配置されている。2つのフォトラインセンサ20a,20bを設けるようにした理由は、スプロケット穴がリードフレームの2つの側端部のうちのいずれの側に存在する場合にも、検査タイミングをうまく決定できるようにするためである。なお、リードフレームとしては、2つの側端部の両方にスプロケット穴が設けられているものも存在する。この場合には、そのうちの一方の側端部の近傍に存在するスプロケット穴のみを利用して検査タイミングを決定することができる。
【0030】
フォトラインセンサ20が存在する側の基台100の一端には、柱状アーム200が垂直に設けられている。なお、柱状アーム200の下部は、一部切り欠かれた状態で図示されている。柱状アーム200の上部には、2つのフォトラインセンサ20a,20bの真上の位置に、2つのLED22a,22bが設けられている。柱状アーム200の上端部は略直角に屈曲しており、水平に延びた水平アーム202を構成している。
【0031】
水平アーム202の先端には、上下移動プレート210が設けられており、上下移動プレート210の先には左右移動プレート220が設けられている。左右移動プレート220には、カメラ24が取り付けられている。上下移動プレート210は、上下移動調節ねじ212の回転に応じて上下に移動する。また、左右移動プレート220は、左右移動調節ねじ222の回転に応じて左右に移動する。これらの調節ねじ212,222を用いて、カメラ24の上下左右の位置を、所望の撮像位置に設定することが可能である。
【0032】
以上説明したように、本実施例では、フォトラインセンサ20の出力信号Sphから、リードフレーム10の側端部12の位置x1を検出するとともに、その側端部から所定の距離Dの範囲内にスプロケット穴14が存在するか否かを検出しているので、リードフレーム10が長手方向(搬送方向)と垂直な方向(リードフレームの幅方向)に多少ぶれた場合にも、スプロケット穴14が存在するか否か(すなわち検査タイミング)を精度良く判定することができる。また、検査タイミングを精度良く判定できるので、カメラ24によって撮像される検査対象領域SA(図1)を従来よりも小さく設定することが可能である。検査対象領域SAが小さくなると、画像処理部34による処理量が低減されるので、検査に要する時間を短縮できるという利点がある。
【0033】
なお、この発明は上記の実施例や実施形態に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲において種々の態様において実施することが可能であり、例えば次のような変形も可能である。
【0034】
(1)上記実施例において、ハードウェアによって実現されていた構成の一部をソフトウェアに置き換えるようにしてもよく、逆に、ソフトウェアによって実現されていた構成の一部をハードウェアに置き換えるようにしてもよい。例えば、制御装置30(図1)の各部の機能の一部を専用のハードウェア回路が実行するようにすることもできる。
【0035】
(2)上記実施例では、スプロケット穴14の前端部を検出したときに直ちにトリガ信号TGを発生させていたが、所定の時間遅れの後にトリガ信号TGを発生させるようにしてもよい。
【0036】
(3)上記実施例ではスプロケット穴14の前端部においてトリガ信号TGを発生させていたが、この代わりに、後端部でトリガ信号TGを発生させるようにしても良い。
【0037】
また、1つのスプロケット穴14毎にトリガ信号TGを発生させる代わりに、複数個のスプロケット穴14に1回の割合でトリガ信号TGを発生させるようにしてもよい。従って、一般には、N個(Nは1以上の所定の整数)のスプロケット穴14毎に1回の割合でトリガ信号TGを発生させるようにしてもよい。
【0038】
なお、上記実施例では、トリガ信号TGを発生させるタイミングを規定する特定の形状としてスプロケット穴14を用いていたが、スプロケット穴14以外の他の特定の形状を用いてトリガ信号TGを発生させるようにしてもよい。ただし、トリガ信号TGの発生に使用される特定の形状としては、光を透過する部分と光を透過しない部分とを有する形状(「透過型形状」と呼ぶ)を利用することが好ましい。
【0039】
(4)上記実施例では、帯状のリードフレーム10内の所定の検査対象領域の画像を取得して検査を行う検査装置について説明したが、本発明は、リードフレーム以外の他の帯状部品の検査装置にも適用可能である。また、帯状部品の検査装置ではなく、帯状部品に関して特定の処理を行うための処理装置にも適用可能である。帯状部品に関する特定の処理としては、例えば帯状部品の一部に薬品を塗布する処理などがある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例における検査の概要を示す概念図。
【図2】トリガ発生部32がトリガ信号TGを生成するタイミングを決定する様子を示す説明図。
【図3】トリガ発生部32による処理手順を示すフローチャート。
【図4】本実施例の検査装置の機械的構成を示す図。
【符号の説明】
10…リードフレーム
12…側端部
14…スプロケット穴
20,20a,20b…フォトラインセンサ
21…端部
22,22a,22b…LED
24…カメラ
30…制御装置
32…トリガ発生部
34…画像処理部
40…制御回路
88…ホストコンピュータ
100…基台
110,112…ガイドプレート
120,122,124…搬送台
200…柱状アーム
202…水平アーム
210…上下移動プレート
212…上下移動調節ねじ
220…左右移動プレート
222…左右移動調節ねじ[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a technique for inspecting strip-shaped parts and determining execution timing of predetermined processing.
[0002]
[Prior art]
When soldering leads (terminals) to an IC chip (semiconductor integrated circuit), a component called a strip-shaped lead frame is used. A large number of terminals are periodically and repeatedly formed on the lead frame, and a sprocket hole for conveyance is provided at a side end of the lead frame.
[0003]
Conventionally, when conducting a lead frame inspection, an image of a predetermined inspection target area in the lead frame is taken while the lead frame is transported in the longitudinal direction, and the quality of each inspection target area is determined by examining the image. Was.
[0004]
[Problems to be solved by the invention]
However, when the lead frame is transported, the lead frame is displaced in a direction perpendicular to the longitudinal direction (the width direction of the lead frame), so that it is difficult to properly determine the timing for capturing an image of the inspection target area. It was. Such a problem is a common problem when not only the inspection of the lead frame but also the inspection or predetermined processing is performed on the band-shaped component in which the same planar shape appears periodically.
[0005]
The present invention has been made to solve the above-described conventional problems, and when the strip-shaped component is transported, the timing of inspection and processing can be accurately determined even when the strip-shaped component is blurred in the width direction. It aims at providing the technology which can do.
[0006]
[Means for solving the problems and their functions and effects]
In order to achieve the above object, the present invention has a substantially band-like shape in which the same planar shape periodically repeats, and a specific transmission type at a predetermined position inside a side end portion extending in the longitudinal direction. Provided is an inspection apparatus for inspecting a band-shaped component whose shape is periodically formed along the longitudinal direction. The inspection apparatus is arranged along a direction substantially perpendicular to the longitudinal direction of the band-shaped part in the conveyance path of the band-shaped part, and a photoline sensor that acquires a linear image of the band-shaped part at a predetermined time; and By analyzing a change point of the output signal output from the photoline sensor, a first output signal change point corresponding to the position of the side end is determined, and a predetermined output signal change point is determined from the first output signal change point. It is determined whether or not a second output signal change point corresponding to the specific transmissive shape exists in the range, and a state in which the second output signal change point exists in the predetermined range occurs. A trigger signal generation unit that generates a trigger signal indicating the execution timing of the inspection, and an inspection execution unit that executes the inspection according to the trigger signal.
[0007]
In this inspection device, by analyzing the change point of the output signal of the photoline sensor, an inspection trigger is triggered when a state where a specific transmissive shape exists within a predetermined range from the side edge of the band-shaped part. Since the signal is generated, it is possible to determine the inspection timing with high accuracy even when the belt-shaped component is moved in the direction perpendicular to the longitudinal direction when the belt-shaped component is conveyed.
[0008]
The trigger signal generation unit may stop generating the trigger signal when a state in which the second output signal change point exists in the predetermined range continues.
[0009]
In this way, since the trigger signal is generated only when the output signal changes to a specific state, it is possible to set the trigger signal generation timing to a more preferable one.
[0010]
The inspection apparatus may further include a light source that is provided on the opposite side of the photoline sensor with the band-shaped component interposed therebetween and that emits light toward the photoline sensor.
[0011]
In this way, a clear linear image of the transmissive part and the non-transmissive part of the belt-like component can be acquired by the photoline sensor, and therefore the inspection timing can be determined with higher accuracy.
[0012]
The inspection execution unit may include a camera that acquires a two-dimensional image including a specific inspection target region of the band-shaped part in response to the trigger signal.
[0013]
In such an inspection apparatus, since the inspection timing is determined with high accuracy, it is possible to employ a camera having a relatively narrow field of view.
[0014]
Note that the present invention can be realized in various modes, for example, a method and apparatus for inspecting strip-shaped parts, a method and apparatus for determining processing timing of strip-shaped parts, and a function of those methods or apparatuses. The present invention can be realized in the form of a computer program, a recording medium storing the computer program, a data signal including the computer program and embodied in a carrier wave, and the like.
[0015]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Next, embodiments of the present invention will be described based on examples. FIG. 1 is a conceptual diagram showing an outline of inspection in one embodiment of the present invention. The
[0016]
The control device 30 is constituted by a personal computer on which an interface board for the
A
[0017]
The
[0018]
The
[0019]
FIG. 2 is an explanatory diagram showing how the
[0020]
At time t <b> 1, the position of the
[0021]
At time t1, the output signal Sph of the
[0022]
The
[0023]
At time t1, since the
[0024]
In addition, after time t2, the state of Δx <D continues for a while. In such a case, generation of the trigger signal TG is stopped. That is, the
[0025]
FIG. 3 is a flowchart showing a processing procedure by the
[0026]
In addition, as a judgment criterion in step S3, instead of “whether or not it is switched to Δx <D”, a judgment criterion “whether or not it is switched to D1 <Δx <D2” (D1 and D2 are predetermined values other than 0). May be used. That is, in step S3, it may be determined whether or not the difference Δx is within a predetermined range.
[0027]
Further, instead of the procedure of FIG. 3, the trigger signal TG may be generated whenever Δx <D. At this time, since the trigger signal TG is continuously generated when the state of Δx <D is continued, the
[0028]
FIG. 4A is a front view showing a mechanical configuration of the inspection apparatus of the present embodiment, and FIG. 4B is a plan view of the
[0029]
Two
[0030]
A
[0031]
A
[0032]
As described above, in this embodiment, the position x1 of the side end 12 of the
[0033]
The present invention is not limited to the above-described examples and embodiments, and can be implemented in various modes without departing from the gist thereof. For example, the following modifications are possible.
[0034]
(1) In the above embodiment, a part of the configuration realized by hardware may be replaced with software, and conversely, a part of the configuration realized by software may be replaced with hardware. Also good. For example, a part of the function of each unit of the control device 30 (FIG. 1) can be executed by a dedicated hardware circuit.
[0035]
(2) In the above embodiment, the trigger signal TG is generated immediately when the front end of the
[0036]
(3) Although the trigger signal TG is generated at the front end portion of the
[0037]
Instead of generating the trigger signal TG for each
[0038]
In the above embodiment, the
[0039]
(4) In the above-described embodiment, the inspection apparatus that acquires and inspects an image of a predetermined inspection target area in the strip-shaped
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a conceptual diagram showing an outline of inspection in one embodiment of the present invention.
FIG. 2 is an explanatory diagram showing how the
FIG. 3 is a flowchart showing a processing procedure by a
FIG. 4 is a diagram illustrating a mechanical configuration of the inspection apparatus according to the present embodiment.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF
24 ... Camera 30 ...
Claims (5)
前記帯状部品の搬送路において前記帯状部品の長手方向とほぼ垂直な方向に沿って配置され、前記帯状部品の線状画像を所定の時間毎に取得するフォトラインセンサと、
前記フォトラインセンサから出力された出力信号の変化点を分析することによって、前記側端部の位置に相当する第1の出力信号変化点を決定するとともに、前記第1の出力信号変化点から所定の範囲の中に前記特定の透過型形状に対応する第2の出力信号変化点が存在するか否かを判断し、前記所定の範囲の中に第2の出力信号変化点が存在する状態が発生したときに検査の実行タイミングを示すトリガ信号を生成するトリガ信号生成部と、
前記トリガ信号に応じて前記検査を実行する検査実行部と、
を備えることを特徴とする帯状部品の検査装置。It has a substantially band-like shape in which the same planar shape periodically repeats, and a specific transmissive shape is periodically formed along the longitudinal direction at a predetermined position inside a side end portion extending in the longitudinal direction. An inspection device for inspecting a strip-shaped part,
A photoline sensor that is arranged along a direction substantially perpendicular to the longitudinal direction of the belt-like component in the transport path of the belt-like component, and obtains a linear image of the belt-like component every predetermined time;
By analyzing a change point of the output signal output from the photoline sensor, a first output signal change point corresponding to the position of the side end is determined, and a predetermined value is determined from the first output signal change point. It is determined whether or not there is a second output signal change point corresponding to the specific transmissive shape within the range, and there is a state where the second output signal change point exists within the predetermined range. A trigger signal generator that generates a trigger signal indicating the execution timing of the inspection when it occurs,
An inspection execution unit that executes the inspection in response to the trigger signal;
A device for inspecting strip-shaped parts, comprising:
前記トリガ信号生成部は、前記所定の範囲の中に第2の出力信号変化点が存在する状態が継続しているときには前記トリガ信号の生成を中止する、帯状部品の検査装置。The apparatus of claim 1, comprising:
The apparatus for inspecting a strip-shaped component, wherein the trigger signal generation unit stops generating the trigger signal when a state in which the second output signal change point exists in the predetermined range continues.
前記帯状部品を挟んで前記フォトラインセンサとは反対側に設けられ、前記フォトラインセンサに向けて光を照射する光源を備える、帯状部品の検査装置。The apparatus according to claim 1 or 2, further comprising:
An apparatus for inspecting a band-shaped part, comprising a light source that is provided on the opposite side of the photoline sensor with the band-shaped part interposed therebetween and that emits light toward the photoline sensor.
前記検査実行部は、前記トリガ信号に応答して前記帯状部品の特定の検査対象領域を包含する2次元画像を取得するカメラを含む、帯状部品の検査装置。An apparatus according to any one of claims 1 to 3,
The said inspection execution part is an inspection apparatus of a strip | belt-shaped component containing the camera which acquires the two-dimensional image containing the specific test | inspection area | region of the said strip | belt-shaped component in response to the said trigger signal.
前記帯状部品の搬送路において前記帯状部品の長手方向とはほぼ垂直な方向に沿って配置され、前記帯状部品の線状画像を所定の時間毎に取得するフォトラインセンサと、
前記フォトラインセンサから出力された出力信号の変化点を分析することによって、前記側端部の位置に相当する第1の出力信号変化点を決定するとともに、前記第1の出力信号変化点から所定の範囲の中に前記特定の透過型形状に対応する第2の出力信号変化点が存在するか否かを判断し、前記所定の範囲の中に第2の出力信号変化点が存在する状態が発生したときに前記所定の処理の実行タイミングを示すトリガ信号を生成するトリガ信号生成部と、
を備えることを特徴とする処理タイミング決定装置。It has a substantially band-like shape in which the same planar shape periodically repeats, and a specific transmissive shape is periodically formed along the longitudinal direction at a predetermined position inside a side end portion extending in the longitudinal direction. An apparatus for determining a processing timing for executing a predetermined process with respect to a belt-shaped part that is provided,
A photoline sensor that is arranged along a direction substantially perpendicular to the longitudinal direction of the strip-shaped component in the transport path of the strip-shaped component, and acquires a linear image of the strip-shaped component every predetermined time;
By analyzing a change point of the output signal output from the photoline sensor, a first output signal change point corresponding to the position of the side end is determined, and a predetermined value is determined from the first output signal change point. It is determined whether or not there is a second output signal change point corresponding to the specific transmissive shape within the range, and there is a state where the second output signal change point exists within the predetermined range. A trigger signal generating unit that generates a trigger signal indicating the execution timing of the predetermined process when it occurs,
A processing timing determination device comprising:
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000140026A JP4526653B2 (en) | 2000-05-12 | 2000-05-12 | Determining the processing timing of strip parts |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2000140026A JP4526653B2 (en) | 2000-05-12 | 2000-05-12 | Determining the processing timing of strip parts |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2001326233A JP2001326233A (en) | 2001-11-22 |
JP4526653B2 true JP4526653B2 (en) | 2010-08-18 |
Family
ID=18647382
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2000140026A Expired - Lifetime JP4526653B2 (en) | 2000-05-12 | 2000-05-12 | Determining the processing timing of strip parts |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4526653B2 (en) |
Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62150841A (en) * | 1985-12-25 | 1987-07-04 | Nec Corp | Counter circuit number of filmlike integrated circuit elements |
JPH06232183A (en) * | 1993-01-29 | 1994-08-19 | Sony Corp | Data transmission method using lead frame |
JPH095058A (en) * | 1995-06-15 | 1997-01-10 | Hamamatsu Photonics Kk | Defect inspection device for regular pattern |
JPH10256278A (en) * | 1997-03-07 | 1998-09-25 | Hitachi Ltd | Device having tape transportation mechanism |
JPH10261673A (en) * | 1997-01-07 | 1998-09-29 | Hitachi Ltd | Manufacture of semiconductor integrated circuit device and bonding device used by the same |
JPH11135566A (en) * | 1997-10-29 | 1999-05-21 | Nec Corp | Method for sealing semiconductor bare chip, semiconductor integrated circuit device, and method for manufacturing semiconductor device |
JPH11341302A (en) * | 1998-04-03 | 1999-12-10 | Koninkl Philips Electronics Nv | Film scanner |
JP2001076148A (en) * | 1999-09-03 | 2001-03-23 | Canon Inc | Method and device for inspecting defect on object surface |
-
2000
- 2000-05-12 JP JP2000140026A patent/JP4526653B2/en not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62150841A (en) * | 1985-12-25 | 1987-07-04 | Nec Corp | Counter circuit number of filmlike integrated circuit elements |
JPH06232183A (en) * | 1993-01-29 | 1994-08-19 | Sony Corp | Data transmission method using lead frame |
JPH095058A (en) * | 1995-06-15 | 1997-01-10 | Hamamatsu Photonics Kk | Defect inspection device for regular pattern |
JPH10261673A (en) * | 1997-01-07 | 1998-09-29 | Hitachi Ltd | Manufacture of semiconductor integrated circuit device and bonding device used by the same |
JPH10256278A (en) * | 1997-03-07 | 1998-09-25 | Hitachi Ltd | Device having tape transportation mechanism |
JPH11135566A (en) * | 1997-10-29 | 1999-05-21 | Nec Corp | Method for sealing semiconductor bare chip, semiconductor integrated circuit device, and method for manufacturing semiconductor device |
JPH11341302A (en) * | 1998-04-03 | 1999-12-10 | Koninkl Philips Electronics Nv | Film scanner |
JP2001076148A (en) * | 1999-09-03 | 2001-03-23 | Canon Inc | Method and device for inspecting defect on object surface |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2001326233A (en) | 2001-11-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP2009168581A (en) | Inspecting apparatus of inspection object | |
US9256930B2 (en) | X-ray inspection method and device | |
CN110402076B (en) | Component mounting line, component mounting method, and quality control system | |
JP4434417B2 (en) | Inspection equipment for printed wiring boards | |
EP3454004B1 (en) | Shape measurement device and shape measurement method | |
JP2010078348A (en) | Optical foreign matter detector and treatment liquid coating device loaded therewith | |
JP4008168B2 (en) | Printed circuit board inspection equipment | |
JP4526653B2 (en) | Determining the processing timing of strip parts | |
JP2008041758A (en) | Method and apparatus for inspecting transferred state of flux | |
JP2003224353A (en) | Method for mounting substrate of electronic component | |
US20130168538A1 (en) | Light source determining apparatus, light source determining method and optical tracking apparatus | |
WO2021124602A1 (en) | Statistic data generation method, cutting device, and system | |
JP2004356139A (en) | Apparatus and method for mounting component | |
KR100689850B1 (en) | Inspection apparatus for printed circuit board | |
CN114450582A (en) | Appearance inspection device and defect inspection method | |
WO2023037671A1 (en) | Maintenance method and method for manufacturing electronic component | |
CN110470218A (en) | A kind of ball stud vision detection system and ball stud detection device | |
JPH07119705B2 (en) | Electronic component inspection device | |
JP2006177760A (en) | X-ray inspection device, x-ray inspection method, and x-ray inspection program | |
JP2009168580A (en) | Device for inspecting object to be inspected | |
JP3645340B2 (en) | Flat package pin bending detection device | |
JP7253914B2 (en) | Electronic component mounting system | |
JP2009150782A (en) | Device for inspecting workpiece | |
JP3720476B2 (en) | Component detection method | |
TW201843438A (en) | Circuit board assembly detection system and detection method thereof |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20070509 |
|
A711 | Notification of change in applicant |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711 Effective date: 20090706 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090910 |
|
RD03 | Notification of appointment of power of attorney |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7423 Effective date: 20100114 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20100511 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20100602 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130611 Year of fee payment: 3 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Ref document number: 4526653 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term |