JP4525469B2 - キャパシタの劣化判定方法 - Google Patents
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Description
以下、本発明の実施の形態1について図を用いて説明する。
前記実施の形態1において、まず、電気二重層キャパシタの劣化特性を直流電圧法により、そのDCRを測定する。次に、前記実施の形態1と同様にして交流インピーダンス特性を測定する。次に、前記DCRと交流インピーダンス特性の相関を求める。このときの相関関係を図5に示す。
前記実施の形態1において、電気二重層キャパシタのインピーダンス特性を測定した結果(図3)の周波数0から急激にインピーダンス値が減少する低周波数領域14は電気二重層キャパシタの自己放電に伴う電力勾配の容量成分を現しており、この低周波数領域14から電気二重層キャパシタの劣化判定を行うこともできる。
1a 集電体
1b 活性炭
2 セパレータ
3 電解液
4 ハウジング
5 リード端子
6 封口体
Claims (4)
- 一対の電極体と、前記電極体間に配置された電解液とを備えたキャパシタに交流電圧を印加してその交流電圧の周波数によるインピーダンス特性を測定して劣化判定を行う方法であって、
前記電解液の劣化によってインピーダンス特性に現れる変曲点を予め求め、この変曲点より低い周波数領域のインピーダンス値を比較して劣化判定を行うようにしたキャパシタの劣化判定方法。 - 劣化判定の比較が、予め劣化することにより求めたインピーダンス値と比較するようにした請求項1に記載のキャパシタの劣化判定方法。
- 劣化判定の比較が、予め劣化することにより求めたインピーダンス値と直列コンデンサ抵抗との相関により求めた値を比較するようにした請求項1に記載のキャパシタの劣化判定方法。
- 劣化判定の比較が、キャパシタの自己放電に伴う電圧変化する容量成分で判定を行うようにした請求項1に記載のキャパシタの劣化判定方法。
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