JP2013050351A - 電気二重層キャパシタのインピーダンス測定方法、インピーダンス測定装置、インピーダンス測定値による劣化診断方法およびその劣化診断装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】充電された電気二重層キャパシタ(キャパシタモジュール4)に正弦波負荷(正弦波負荷回路12)を接続して放電回路(10)を形成し、前記正弦波負荷を付与して前記電気二重層キャパシタ(キャパシタモジュール4)を放電させ、前記放電回路に流れる電流を電流検出手段(電流検出回路20)で検出し、前記放電回路を介して放電中の前記電気二重層キャパシタの電圧を電圧検出手段(電圧検出回路22)で検出し、前記電流検出手段の検出電流と前記電圧検出手段の検出電圧とを用いて前記電気二重層キャパシタのインピーダンスを算出手段(演算部24、MPU32)により算出する。電気二重層キャパシタの劣化診断にはこのインピーダンスの算出結果を用いている。
【選択図】図1
Description
4 キャパシタモジュール
6 瞬低補償装置
8 電気二重層キャパシタ
10 放電回路
12 正弦波負荷回路
14 FET
16 電流検出抵抗
18 正弦波発振器
20 電流検出回路
22 電圧検出回路
24 演算部
31、33 劣化診断装置
32 MPU
34 差動増幅器
36 ハイパスフィルタ
38 非反転増幅器
40 DC加算回路
42 AD変換器
44 DA変換器
46 記憶部
48 タイマー
50 演算器
52 入出力部(I/O)
54 外部装置
56 電源回路
60 電源装置
41、42・・・4N キャパシタユニット
201、202 インピーダンス測定回路
Claims (6)
- 充電された電気二重層キャパシタに正弦波負荷を接続して放電回路を形成し、正弦波負荷を付与して前記電気二重層キャパシタを放電させ、
前記放電回路に流れる電流を電流検出手段で検出し、
前記放電回路を介して放電中の前記電気二重層キャパシタの電圧を電圧検出手段で検出し、
前記電流検出手段の検出電流と前記電圧検出手段の検出電圧とを用いて前記電気二重層キャパシタのインピーダンスを算出手段により算出する
ことを特徴とする、電気二重層キャパシタのインピーダンス測定方法。 - 前記正弦波負荷は、電気二重層キャパシタの使用前のDCIRとインピーダンスを、各周波数で測定し、前記電気二重層キャパシタの経年劣化後のDCIRとインピーダンスを、各周波数で測定し、この各周波数で測定した値を比較し、一定の関係性が得られた周波数を測定周波数領域とし、該測定周波数領域の任意の周波数の正弦波電流であることを特徴とする請求項1に記載の電気二重層キャパシタのインピーダンス測定方法。
- 請求項1または2の電気二重層キャパシタのインピーダンス測定方法で算出されたインピーダンスの値が基準値未満であるかまたは所定の基準範囲内にあるかを判定することを特徴とする、電気二重層キャパシタの劣化診断方法。
- 充電された電気二重層キャパシタに正弦波負荷を接続し、正弦波負荷を付与して前記電気二重層キャパシタを放電させる放電回路と、
前記放電回路に流れる電流を検出する電流検出手段と、
前記放電回路を介して放電中の前記電気二重層キャパシタの電圧を検出する電圧検出手段と、
前記電流検出手段の検出電流と前記電圧検出手段の検出電圧とを用いて前記電気二重層キャパシタのインピーダンスを算出する算出手段と、
を備えることを特徴とする、電気二重層キャパシタのインピーダンス測定装置。 - 前記正弦波負荷は、電気二重層キャパシタの使用前のDCIRとインピーダンスを、各周波数で測定し、前記電気二重層キャパシタの経年劣化後のDCIRとインピーダンスを、各周波数で測定し、この各周波数で測定した値を比較し、一定の関係性が得られた周波数を測定周波数領域とし、該測定周波数領域の任意の周波数の正弦波電流であることを特徴とする請求項4に記載の電気二重層キャパシタのインピーダンス測定装置。
- 請求項4または請求項5の電気二重層キャパシタのインピーダンス測定装置で算出されたインピーダンスの値が基準値未満であるかまたは所定の基準範囲内にあるかを判定する判定手段を備えることを特徴とする、電気二重層キャパシタの劣化診断装置。
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Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016217986A (ja) * | 2015-05-25 | 2016-12-22 | 三菱電機株式会社 | 延命装置、診断方法、及びプログラム |
CN107238769A (zh) * | 2017-05-31 | 2017-10-10 | 晶晨半导体(上海)股份有限公司 | 一种分析芯片走线的静电释放能力的方法 |
JP2019212725A (ja) * | 2018-06-04 | 2019-12-12 | 新電元工業株式会社 | 劣化判定装置、及び電源装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06138162A (ja) * | 1992-10-28 | 1994-05-20 | Fujitsu Denso Ltd | 電源装置の安定度判定方法及び安定度判定装置 |
JP2005180927A (ja) * | 2003-12-16 | 2005-07-07 | Horiba Ltd | インピーダンス測定装置 |
JP2006047283A (ja) * | 2004-06-30 | 2006-02-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | キャパシタの劣化判定方法 |
-
2011
- 2011-08-30 JP JP2011187722A patent/JP2013050351A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH06138162A (ja) * | 1992-10-28 | 1994-05-20 | Fujitsu Denso Ltd | 電源装置の安定度判定方法及び安定度判定装置 |
JP2005180927A (ja) * | 2003-12-16 | 2005-07-07 | Horiba Ltd | インピーダンス測定装置 |
JP2006047283A (ja) * | 2004-06-30 | 2006-02-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | キャパシタの劣化判定方法 |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2016217986A (ja) * | 2015-05-25 | 2016-12-22 | 三菱電機株式会社 | 延命装置、診断方法、及びプログラム |
CN107238769A (zh) * | 2017-05-31 | 2017-10-10 | 晶晨半导体(上海)股份有限公司 | 一种分析芯片走线的静电释放能力的方法 |
JP2019212725A (ja) * | 2018-06-04 | 2019-12-12 | 新電元工業株式会社 | 劣化判定装置、及び電源装置 |
JP7030618B2 (ja) | 2018-06-04 | 2022-03-07 | 新電元工業株式会社 | 劣化判定装置、及び電源装置 |
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