JP4512532B2 - マルチチャンバプラズマプロセスシステム - Google Patents
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Description
200,210,220: 第2インピーダンス整合器
300,310,320: バイアス電源
400: 主電力供給源
500: 第1インピーダンス整合器
600: 点火電力供給部
700: 制御部
Claims (14)
- 誘導結合プラズマ発生器をそれぞれが備える複数のプロセスチャンバと;
それぞれの前記誘導結合プラズマ発生器にプラズマ発生のためのRF電力を供給する主電力供給源と;
前記主電力供給源と誘導結合プラズマ発生器の間に連結される第1インピーダンス整合器と;
前記主電力供給源からのRF電力の供給を受けて,前記誘導結合プラズマ発生器に設けられた点火電極に点火電力を供給する点火電力供給部と;
複数のプロセスチャンバに設けられたそれぞれのサセプタに,それぞれバイアス電力を供給する複数のバイアス電源と;
前記複数のプロセスチャンバに設けられたそれぞれのサセプタと,それに対応したバイアス電源との間に連結される複数の第2インピーダンス整合器と;
前記第1インピーダンス整合器と,前記複数の第2インピーダンス整合器と,前記点火電力供給部とを制御する制御部と;
を含み,
前記第1インピーダンス整合器および複数の第2インピーダンス整合器は,それぞれインピーダンス整合のための少なくとも一つの可変インダクタを含み,
前記可変インダクタは,馬蹄形状を有し両端が互いに対向するように配置された第1および第2マグネチックコアと;第1および第2マグネチックコアにそれぞれ巻かれつつ連続した第1および第2巻線コイルと;前記制御部の制御によって第1および/または第2マグネチックコアを移動させて第1および第2マグネチックコアの相対的位置を変化させる駆動手段と;を含み,
前記可変インダクタは,第1および第2マグネチックコアの相対的位置が変化することにより第1および第2巻線コイルによって誘起される磁束の方向が互いに一致または互い違いになり,または逆方向を有するようになることで第1および第2巻線コイルによるインダクタンスが変化し,または,前記可変インダクタは第1および第2マグネチックコアの相対的距離が変化することにより第1および第2巻線コイルによって誘起される磁束が第1および第2マグネチックコアに集束され,それによる磁束数が増加または減少して第1および第2巻線コイルによるインダクタンスが変化することを特徴とする,マルチチャンバプラズマプロセスシステム。 - 誘導結合プラズマ発生器をそれぞれが備える複数のプロセスチャンバと;
それぞれの前記誘導結合プラズマ発生器にプラズマ発生のためのRF電力を供給する主電力供給源と;
前記主電力供給源と誘導結合プラズマ発生器の間に連結される第1インピーダンス整合器と;
前記主電力供給源からのRF電力の供給を受けて,前記誘導結合プラズマ発生器に設けられた点火電極に点火電力を供給する点火電力供給部と;
複数のプロセスチャンバに設けられたそれぞれのサセプタに,それぞれバイアス電力を供給する複数のバイアス電源と;
前記複数のプロセスチャンバに設けられたそれぞれのサセプタと,それに対応したバイアス電源との間に連結される複数の第2インピーダンス整合器と;
前記第1インピーダンス整合器と,前記複数の第2インピーダンス整合器と,前記点火電力供給部とを制御する制御部と;
を含み,
前記第1インピーダンス整合器および複数の第2インピーダンス整合器は,それぞれインピーダンス整合のための少なくとも一つの可変インダクタを含み,
前記可変インダクタは,両端が開放されて並列に配列された第1および第2中空型チューブと;第1および第2中空型チューブにそれぞれ巻線されつつ連続した第1および第2巻線コイルと;馬蹄形状を有し両端が互いに対向するように第1および第2中空型チューブに装着される第1および第2マグネチックコアと;前記制御部の制御によって第1および/または第2マグネチックコアを移動させて相対的距離を変化させる駆動手段と;を含み,
前記可変インダクタは,第1および第2マグネチックコアの相対的距離が変化することにより第1および第2巻線コイルによって誘起される磁束が第1および第2マグネチックコアに集束され,それによる磁束数が増加または減少して第1および第2巻線コイルによるインダクタンスが変化することを特徴とする,マルチチャンバプラズマプロセスシステム。 - 誘導結合プラズマ発生器をそれぞれが備える複数のプロセスチャンバと;
それぞれの前記誘導結合プラズマ発生器にプラズマ発生のためのRF電力を供給する主電力供給源と;
前記主電力供給源と誘導結合プラズマ発生器の間に連結される第1インピーダンス整合器と;
前記主電力供給源からのRF電力の供給を受けて,前記誘導結合プラズマ発生器に設けられた点火電極に点火電力を供給する点火電力供給部と;
複数のプロセスチャンバに設けられたそれぞれのサセプタに,それぞれバイアス電力を供給する複数のバイアス電源と;
前記複数のプロセスチャンバに設けられたそれぞれのサセプタと,それに対応したバイアス電源との間に連結される複数の第2インピーダンス整合器と;
前記第1インピーダンス整合器と,前記複数の第2インピーダンス整合器と,前記点火電力供給部とを制御する制御部と;
を含み,
前記点火電力供給部は,一次側が電源供給源に連結され,二次側が複数の誘導結合プラズマ発生器の点火電極に並列に連結される可変トランスフォーマを含み,
前記可変トランスフォーマは,馬蹄形状を有し両端が互いに対向するように配置された第1および第2マグネチックコアと;第1マグネチックコアに巻かれた1次側巻線コイルと;第2マグネチックコアに巻かれた2次側巻線コイルと;前記制御部の制御によって第1および/または第2マグネチックコアを移動させて第1および第2マグネチックコアの相対的位置を変化させる駆動手段と;を含み,
前記可変トランスフォーマは,第1および第2マグネチックコアの相対的位置が変化することによって第1マグネチックコアと第2マグネチックコアに共通に集束される磁束数が増加または減少し,1次側巻線コイルから2次側巻線コイルに伝達される誘導起電力が変化することを特徴とする,マルチチャンバプラズマプロセスシステム。 - 誘導結合プラズマ発生器をそれぞれが備える複数のプロセスチャンバと;
それぞれの前記誘導結合プラズマ発生器にプラズマ発生のためのRF電力を供給する主電力供給源と;
前記主電力供給源と誘導結合プラズマ発生器の間に連結される第1インピーダンス整合器と;
前記主電力供給源からのRF電力の供給を受けて,前記誘導結合プラズマ発生器に設けられた点火電極に点火電力を供給する点火電力供給部と;
複数のプロセスチャンバに設けられたそれぞれのサセプタに,それぞれバイアス電力を供給する複数のバイアス電源と;
前記複数のプロセスチャンバに設けられたそれぞれのサセプタと,それに対応したバイアス電源との間に連結される複数の第2インピーダンス整合器と;
前記第1インピーダンス整合器と,前記複数の第2インピーダンス整合器と,前記点火電力供給部とを制御する制御部と;
を含み,
前記複数のプロセスチャンバは,被処理基板の置かれるサセプタが位置したチャンバハウジングの天井に少なくとも二つのホールを備え,
前記誘導結合プラズマ発生器は,
少なくとも二つのホールに両端が結合される少なくとも一つの中空型かつC形状の外部放電ブリッジと;
外部放電ブリッジに装着される少なくとも一つのドーナツ形状のマグネチックコアと;
マグネチックコアに巻線され第1インピーダンス整合器を介して主電力供給源に連結される誘導コイルと;
外部放電ブリッジの内側上部放電空間を横切って全体的に設置される,多孔ホールが形成された密度調節平板と;密度調節平板を上下に垂直移動させる駆動手段と;を含むプラズマ密度調節器と;
を含み,
誘導コイルによって誘導される起電力によって外部放電ブリッジの内部とチャンバハウジングの内部を介してプラズマ放電パスが形成され,
密度調節平板が上側に移動することによってプラズマ密度が増加し,下側に移動することによってプラズマ密度が減少することを特徴とする,マルチチャンバプラズマプロセスシステム。 - 誘導結合プラズマ発生器をそれぞれが備える複数のプロセスチャンバと;
それぞれの前記誘導結合プラズマ発生器にプラズマ発生のためのRF電力を供給する主電力供給源と;
前記主電力供給源と誘導結合プラズマ発生器の間に連結される第1インピーダンス整合器と;
前記主電力供給源からのRF電力の供給を受けて,前記誘導結合プラズマ発生器に設けられた点火電極に点火電力を供給する点火電力供給部と;
複数のプロセスチャンバに設けられたそれぞれのサセプタに,それぞれバイアス電力を供給する複数のバイアス電源と;
前記複数のプロセスチャンバに設けられたそれぞれのサセプタと,それに対応したバイアス電源との間に連結される複数の第2インピーダンス整合器と;
前記第1インピーダンス整合器と,前記複数の第2インピーダンス整合器と,前記点火電力供給部とを制御する制御部と;
を含み,
前記複数のプロセスチャンバは,被処理作業板が置かれるサセプタを内設したチャンバハウジングの天井に複数のホールを備え,
前記誘導結合プラズマ発生器は,
チャンバハウジング天井の複数のホールと対応する個数のホールが下部面に設けられ,上部面にガス入口が設けられた中空型放電管ヘッドと;
チャンバハウジング天井の複数のホールと,それに対応した放電管ヘッド下部面の複数のホールの間に連結される複数の中空型放電管ブリッジと;
前記中空型放電管ブリッジの外面に沿って装着されるドーナツ形状のマグネチックコアと;
前記マグネチックコアに巻線され第1インピーダンス整合器を介して主電力供給源に連結される誘導コイルと;
を含み,
誘導コイルによって誘導される起電力によって,前記中空型放電管ヘッドと,前記複数の中空型放電管ブリッジと,前記チャンバハウジングの内部とを連結するプラズマ放電パスが形成され,
前記複数の中空型放電管ブリッジのうち少なくとも一つの中空型放電管ブリッジにはマグネチックコアが装着されないことを特徴とする,マルチチャンバプラズマプロセスシステム。 - 誘導結合プラズマ発生器をそれぞれが備える複数のプロセスチャンバと;
それぞれの前記誘導結合プラズマ発生器にプラズマ発生のためのRF電力を供給する主電力供給源と;
前記主電力供給源と誘導結合プラズマ発生器の間に連結される第1インピーダンス整合器と;
前記主電力供給源からのRF電力の供給を受けて,前記誘導結合プラズマ発生器に設けられた点火電極に点火電力を供給する点火電力供給部と;
複数のプロセスチャンバに設けられたそれぞれのサセプタに,それぞれバイアス電力を供給する複数のバイアス電源と;
前記複数のプロセスチャンバに設けられたそれぞれのサセプタと,それに対応したバイアス電源との間に連結される複数の第2インピーダンス整合器と;
前記第1インピーダンス整合器と,前記複数の第2インピーダンス整合器と,前記点火電力供給部とを制御する制御部と;
を含み,
前記複数のプロセスチャンバは,被処理作業板が置かれるサセプタを内設したチャンバハウジングの天井に複数のホールを備え,
前記誘導結合プラズマ発生器は,
チャンバハウジング天井の複数のホールと対応する個数のホールが下部面に設けられ,上部面にガス入口が設けられた中空型放電管ヘッドと;
チャンバハウジング天井の複数のホールと,それに対応した放電管ヘッド下部面の複数のホールの間に連結される複数の中空型放電管ブリッジと;
前記中空型放電管ブリッジの外面に沿って装着されるドーナツ形状のマグネチックコアと;
前記マグネチックコアに巻線され第1インピーダンス整合器を介して主電力供給源に連結される誘導コイルと;
中空型放電管ヘッドの内側放電空間を横切って全体的に設置される,多孔ホールが形成された密度調節平板と;前記密度調節平板を上下に垂直移動させる駆動手段と;を含むプラズマ密度調節器と;
を含み,
誘導コイルによって誘導される起電力によって,前記中空型放電管ヘッドと,前記複数の中空型放電管ブリッジと,前記チャンバハウジングの内部とを連結するプラズマ放電パスが形成され,
前記密度調節平板が上側に移動することによってプラズマ密度が増加し,下側に移動することによってプラズマ密度が減少することを特徴とする,マルチチャンバプラズマプロセスシステム。 - 誘導結合プラズマ発生器をそれぞれが備える複数のプロセスチャンバと;
それぞれの前記誘導結合プラズマ発生器にプラズマ発生のためのRF電力を供給する主電力供給源と;
前記主電力供給源と誘導結合プラズマ発生器の間に連結される第1インピーダンス整合器と;
前記主電力供給源からのRF電力の供給を受けて,前記誘導結合プラズマ発生器に設けられた点火電極に点火電力を供給する点火電力供給部と;
複数のプロセスチャンバに設けられたそれぞれのサセプタに,それぞれバイアス電力を供給する複数のバイアス電源と;
前記複数のプロセスチャンバに設けられたそれぞれのサセプタと,それに対応したバイアス電源との間に連結される複数の第2インピーダンス整合器と;
前記第1インピーダンス整合器と,前記複数の第2インピーダンス整合器と,前記点火電力供給部とを制御する制御部と;
を含み,
前記複数のプロセスチャンバはサセプタが置かれるチャンバハウジングの内側上部空間に誘導結合プラズマ発生器が配置され,
前記誘導結合プラズマ発生器は,
チャンバハウジングの上部空間に位置するリング状の中空型コアジャケットと;
前記中空型コアジャケットを前記チャンバハウジングの上部空間に固定するようにチャンバハウジングの上部側壁から中空型コアジャケットに延長して設置される少なくとも一つの固定ブリッジと;
前記中空型コアジャケットの中空部に包含されるように搭載されるリング状のマグネチックコアと;
前記マグネチックコアに巻線され前記第1インピーダンス整合器を介して前記主電力供給源に連結される誘導コイルと;
を含み,
前記誘導コイルによって誘導される起電力によって前記中空型コアジャケットの外部を全体的に覆うプラズマ放電パスが形成されることを特徴とする,マルチチャンバプラズマプロセスシステム。 - 前記複数のプロセスチャンバに設けられる誘導結合プラズマ発生器は,第1インピーダンス整合器を介して,主電力供給源に,電気的に直列に連結され,誘導結合プラズマ発生器に設けられる点火電極は,前記点火電力供給部に並列に連結されることを特徴とする,請求項1〜7のいずれか1項に記載のマルチチャンバプラズマプロセスシステム。
- 前記複数のプロセスチャンバは,少なくとも二つのプロセスチャンバが積層構造またはクラスタ構造を有することを特徴とする,請求項1〜8のいずれか1項に記載のマルチチャンバプラズマプロセスシステム。
- 前記第1および第2中空型チューブは絶縁体で構成されることを特徴とする,請求項2に記載のマルチチャンバプラズマプロセスシステム。
- 前記外部放電ブリッジとチャンバハウジングの内側面全体的に絶縁体層が設けられることを特徴とする,請求項4に記載のマルチチャンバプラズマプロセスシステム。
- 前記中空型放電管ヘッドと,前記複数の中空型放電ブリッジと,前記チャンバハウジングの内側面とは,全体的に絶縁体層が設けられることを特徴とする,請求項5または6に記載のマルチチャンバプラズマプロセスシステム。
- 前記中空型コアジャケットと固定ブリッジは絶縁体で構成され,前記チャンバハウジングの内側面は,全体的に絶縁体層が設けられることを特徴とする,請求項7に記載のマルチチャンバプラズマプロセスシステム。
- 前記誘導結合プラズマ発生器はプラズマ密度調節器を含み,
前記プラズマ密度調節器は,前記中空型コアジャケットの上部領域でチャンバハウジングの内側上部を横切って全体的に設置されて,多孔ホールが形成された密度調節平板と;前記密度調節平板を上下に垂直移動させるための駆動手段と;を含み,
前記密度調節平板が上側に移動することによってプラズマ密度が増加し,下側に移動することによってプラズマ密度が減少することを特徴とする,請求項7に記載のマルチチャンバプラズマプロセスシステム。
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Families Citing this family (28)
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KR100799175B1 (ko) * | 2006-04-21 | 2008-02-01 | 주식회사 뉴파워 프라즈마 | 플라즈마 프로세싱 시스템 및 그 제어 방법 |
KR101595686B1 (ko) * | 2007-10-19 | 2016-02-18 | 엠케이에스 인스트루먼츠, 인코포레이티드 | 높은 가스 유량 공정을 위한 환형 플라즈마 챔버 |
KR100980281B1 (ko) | 2007-12-24 | 2010-09-06 | 주식회사 뉴파워 프라즈마 | 다중 코어 플라즈마 발생기를 갖는 이중 플라즈마 반응기 |
KR101583667B1 (ko) * | 2009-03-06 | 2016-01-08 | 위순임 | 다중 소스 타겟 어셈블리를 갖는 물리적 기상 증착 플라즈마 반응기 |
KR101051284B1 (ko) * | 2009-06-04 | 2011-07-22 | 주식회사 에스에프에이 | 박막 태양전지 제조용 화학 기상 증착 장치 |
KR101205242B1 (ko) * | 2010-04-30 | 2012-11-27 | 주식회사 테라세미콘 | 플라즈마 처리 장치 |
US9449793B2 (en) * | 2010-08-06 | 2016-09-20 | Lam Research Corporation | Systems, methods and apparatus for choked flow element extraction |
US9155181B2 (en) * | 2010-08-06 | 2015-10-06 | Lam Research Corporation | Distributed multi-zone plasma source systems, methods and apparatus |
DE102010048809A1 (de) | 2010-10-20 | 2012-04-26 | Hüttinger Elektronik Gmbh + Co. Kg | Leistungsversorgungssystem für eine Plasmaanwendung und/oder eine Induktionserwärmungsanwendung |
DE102010048810A1 (de) | 2010-10-20 | 2012-04-26 | Hüttinger Elektronik Gmbh + Co. Kg | System zur Bedienung mehrerer Plasma- und/oder Induktionserwärmungsprozesse |
KR101296723B1 (ko) | 2011-05-31 | 2013-08-20 | 주식회사 뉴파워 프라즈마 | 플라즈마 점화를 위한 점화회로 |
CN103002649B (zh) * | 2011-09-13 | 2016-09-14 | 中微半导体设备(上海)有限公司 | 一种电感耦合式的等离子体处理装置及其基片处理方法 |
US8853948B2 (en) * | 2012-04-18 | 2014-10-07 | Dai-Kyu CHOI | Multi discharging tube plasma reactor |
WO2014143775A1 (en) * | 2013-03-15 | 2014-09-18 | Plasmability, Llc | Toroidal plasma processing apparatus |
KR20140137172A (ko) * | 2013-05-22 | 2014-12-02 | 최대규 | 자기 관리 기능을 갖는 원격 플라즈마 시스템 및 이의 자기 관리 방법 |
RU2552518C2 (ru) * | 2013-10-15 | 2015-06-10 | Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом" (Госкорпорация "Росатом") | Способ генерации широкополосного электромагнитного излучения свч диапазона |
KR101532376B1 (ko) | 2013-11-22 | 2015-07-01 | 피에스케이 주식회사 | 상호 유도 결합을 이용한 플라즈마 생성 장치 및 그를 포함하는 기판 처리 장치 |
KR101649947B1 (ko) * | 2014-07-08 | 2016-08-23 | 피에스케이 주식회사 | 이중 플라즈마 소스를 이용한 플라즈마 생성 장치 및 그를 포함하는 기판 처리 장치 |
KR101761257B1 (ko) * | 2015-10-23 | 2017-07-26 | 주식회사 영신알에프 | 매칭부 및 분석센서를 가지는 일체형 고주파 상압 플라즈마 발생장치 |
KR101789613B1 (ko) * | 2016-02-03 | 2017-11-20 | 주식회사 영신알에프 | 임피던스 변환기를 구비한 고주파 상압 플라즈마 발생장치 |
KR102194601B1 (ko) * | 2016-04-25 | 2020-12-23 | 주식회사 뉴파워 프라즈마 | 전자식 가변 임피던스 매칭박스를 구비한 플라즈마 전원 공급 시스템 |
KR101881535B1 (ko) * | 2017-02-24 | 2018-07-24 | 주식회사 뉴파워 프라즈마 | 수동소자를 구비한 전력공급장치 및 이를 이용한 플라즈마 점화를 위한 전력제공방법 |
KR101881536B1 (ko) * | 2017-02-24 | 2018-07-24 | 주식회사 뉴파워 프라즈마 | 출력전류 제어가 가능한 전력공급장치 및 이를 이용한 전력공급방법 |
JP2019070184A (ja) * | 2017-10-10 | 2019-05-09 | 三菱重工機械システム株式会社 | 成膜システム、制御方法及びプログラム |
EP3785494A4 (en) | 2018-06-14 | 2022-01-26 | MKS Instruments, Inc. | REMOTE PLASMA SOURCE RADICAL OUTPUT MONITOR AND METHOD OF USE |
US20200152437A1 (en) * | 2018-11-14 | 2020-05-14 | Northrop Grumman Systems Corporation | Tapered magnetic ion transport tunnel for particle collection |
CN114501765A (zh) * | 2022-01-26 | 2022-05-13 | 江苏神州半导体科技有限公司 | 基于多线圈耦合的气体解离电路及气体解离系统 |
KR20230153587A (ko) * | 2022-04-29 | 2023-11-07 | (주)엘오티씨이에스 | 배기가스 처리용 유도결합 플라즈마 장치 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003506888A (ja) * | 1999-08-06 | 2003-02-18 | アドバンスト・エナジー・インダストリーズ・インコーポレイテッド | ガスおよび材料を処理する誘導結合環状プラズマ源装置およびその方法 |
US20030196757A1 (en) * | 2002-04-19 | 2003-10-23 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for tuning an RF matching network in a plasma enhanced semiconductor wafer processing system |
JP2003309105A (ja) * | 2002-04-15 | 2003-10-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プラズマ処理方法 |
JP2004342612A (ja) * | 2003-05-07 | 2004-12-02 | New Power Plasma Co Ltd | 多重放電管ブリッジを備えた誘導プラズマチャンバ |
Family Cites Families (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0770514B2 (ja) * | 1985-06-18 | 1995-07-31 | 松下電器産業株式会社 | ドライエツチング方法 |
US6444137B1 (en) * | 1990-07-31 | 2002-09-03 | Applied Materials, Inc. | Method for processing substrates using gaseous silicon scavenger |
JP2902910B2 (ja) * | 1993-07-14 | 1999-06-07 | 日新電機株式会社 | Lep電源位相微調機構 |
US5449432A (en) * | 1993-10-25 | 1995-09-12 | Applied Materials, Inc. | Method of treating a workpiece with a plasma and processing reactor having plasma igniter and inductive coupler for semiconductor fabrication |
DE4413655A1 (de) * | 1994-04-20 | 1995-10-26 | Leybold Ag | Beschichtungsanlage |
JPH09129621A (ja) * | 1995-09-28 | 1997-05-16 | Applied Materials Inc | パルス波形バイアス電力 |
US6017221A (en) * | 1995-12-04 | 2000-01-25 | Flamm; Daniel L. | Process depending on plasma discharges sustained by inductive coupling |
US6176667B1 (en) * | 1996-04-30 | 2001-01-23 | Applied Materials, Inc. | Multideck wafer processing system |
KR100322330B1 (ko) * | 1997-04-21 | 2002-03-18 | 히가시 데츠로 | 재료의 이온 스퍼터링 방법 및 장치 |
US6652717B1 (en) * | 1997-05-16 | 2003-11-25 | Applied Materials, Inc. | Use of variable impedance to control coil sputter distribution |
US6150628A (en) * | 1997-06-26 | 2000-11-21 | Applied Science And Technology, Inc. | Toroidal low-field reactive gas source |
EP1023771B1 (en) * | 1997-09-17 | 2007-01-17 | Tokyo Electron Limited | Electrical impedance matching system and method |
US6222718B1 (en) * | 1998-11-12 | 2001-04-24 | Lam Research Corporation | Integrated power modules for plasma processing systems |
US6213050B1 (en) * | 1998-12-01 | 2001-04-10 | Silicon Genesis Corporation | Enhanced plasma mode and computer system for plasma immersion ion implantation |
TW445540B (en) | 2000-08-07 | 2001-07-11 | Nano Architect Res Corp | Bundle concentrating type multi-chamber plasma reacting system |
US7037813B2 (en) * | 2000-08-11 | 2006-05-02 | Applied Materials, Inc. | Plasma immersion ion implantation process using a capacitively coupled plasma source having low dissociation and low minimum plasma voltage |
JP2004531856A (ja) * | 2001-04-13 | 2004-10-14 | アプライド マテリアルズ インコーポレイテッド | 制御可能な電力分配を伴う誘導結合されたプラズマ源 |
US6962644B2 (en) * | 2002-03-18 | 2005-11-08 | Applied Materials, Inc. | Tandem etch chamber plasma processing system |
JP2004014904A (ja) * | 2002-06-10 | 2004-01-15 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | 同時放電化装置 |
US6822396B2 (en) * | 2003-01-31 | 2004-11-23 | Advanced Energy Industries, Inc. | Transformer ignition circuit for a transformer coupled plasma source |
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2003506888A (ja) * | 1999-08-06 | 2003-02-18 | アドバンスト・エナジー・インダストリーズ・インコーポレイテッド | ガスおよび材料を処理する誘導結合環状プラズマ源装置およびその方法 |
JP2003309105A (ja) * | 2002-04-15 | 2003-10-31 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プラズマ処理方法 |
US20030196757A1 (en) * | 2002-04-19 | 2003-10-23 | Applied Materials, Inc. | Method and apparatus for tuning an RF matching network in a plasma enhanced semiconductor wafer processing system |
JP2004342612A (ja) * | 2003-05-07 | 2004-12-02 | New Power Plasma Co Ltd | 多重放電管ブリッジを備えた誘導プラズマチャンバ |
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