JP4503012B2 - 特性値の空間分布を決定する反復法 - Google Patents
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Description
a)特性値が前記所定の測定値の割合を占める各反復値に比例因子をかけ、前記所定の反復値をかけられた前記反復値を足し合わせることにより前記所定グループにおける各測定値の基準測定値を生成するステップと、
b)前記所定の測定値と前記対応する基準測定値の間の差を求めることにより、前記所定グループにおける各測定値の測定値差を生成するステップと、
c)前記所定の測定値差に属する前記グループにおける測定値の信頼度が高ければ高いほど大きい信頼度パラメータを各測定値差にかけるステップと、
d)信頼度パラメータをかけた各測定値差を、前記測定値差に属する測定値の割合をしめる特性値の比例因子に依存する規格化因子で割るステップと、
e)ステップd)で取得した前記測定値差の前記検査領域への後方投影により前記分布を更新するステップと、を有することを特徴とする。
λl 信頼度パラメータ
μi 特性値
μi k 反復値
pl 測定値
Alj 比例因子
S 放射線源
1 ガントリー
2、5 モータ
3 コリメータ装置
4 円錐光ビーム
7 制御部
10 再構成及び画像処理コンピュータ
11 モニター
13 検査領域
14 回転軸
16 検出器部
Claims (10)
- 測定装置で最初に取得した複数の測定値から開始して、検査領域にあるオブジェクトの一特性の複数の特性値の空間的分布を決定する反復方法であって、
各測定値は各特性値に比例因子をかけた値の合計として表され、前記複数の測定値はグループに分割され、
前記比例因子は特性値が測定値に占める割合の尺度であり、各特性値には接近値が近づき、前記接近値は、開始値に設定され、その後、停止基準が満たされるまで測定値の各グループに少なくとも1回、次の反復ステップ:
a)測定値の一割合をしめる各接近値に比例因子をかけ、比例因子をかけた接近値同士を足し合わせることにより、前記グループの各測定値の基準測定値を生成するステップと、
b)測定値とそれに対応する基準測定値との間の差を求めることにより、前記グループの各測定値に対して測定値差を生成するステップと、
c)前記所定の測定値差の計算に含めた、前記グループの測定値の信頼度が高ければ高いほど大きい信頼度パラメータを各測定値差にかけるステップと、
d)信頼度パラメータをかけた各測定値差を、前記測定値差の計算に含めた特性値の前記比例因子に応じた規格化因子で割るステップと、
e)ステップd)で取得した測定値差の前記検査領域への後方投影により前記接近値を更新するステップと、
を実行した接近値である、方法。 - 前記中断基準は、ステップa)からe)をすべてのグループに対して所定回数実行した時、またはすべての測定値差の2乗和が所定閾値より小さくなった時に満たされることを特徴とする、請求項1に記載の反復方法。
- 測定値がノイズから受ける影響が小さければ小さいほど、測定値の信頼度が高いことを特徴とする、請求項1に記載の反復方法。
- 測定値の取得の際、前記検査領域にある前記オブジェクトの一部の動きが少なければ少ないほど、測定値の信頼度が高いことを特徴とする、請求項1に記載の反復方法。
- 測定値の取得は、
検査領域を透過する光ビームを放射線源を用いて生成するステップと、
一方の前記放射線源と他方の前記検査領域とを相対的に動かし、前記放射線源が前記検査領域に対して描く軌跡が前記オブジェクトを含む仮想的な円筒または球の表面にあるステップと、
検出器部を用いて、相対的に動いている間に、前記検査領域を透過した光ビームの強さに応じた測定値を取得するステップと、を有することを特徴とする、請求項1に記載の反復方法。 - ステップa)において、基準測定値の生成は前方投影により行われることを特徴とする、請求項5に記載の反復方法。
- 複数の吸収値の空間的分布を決定するため、前記検査領域を一組のボクセルにより表し、各ボクセルが割り当てられた接近値を有し、各吸収値には接近値が近づき、各接近値を開始値に設定し、前方投影によるグループ中の測定値に対する、ステップa)における基準測定値の生成は、
前記測定値を与える前記光ビームの光線の経路を決定するステップと、
前記光線が透過するボクセルを決定するステップと、
前記ボクセルに割り当てられた接近値に、前記接近値に対応する吸収値が測定値に占める割合と等しい比例因子をかけるステップと、
ボクセルに割り当てられ、比例因子をかけられた接近値を足し合わせ、基準測定値を求めるステップと、
を有することを特徴とする、請求項6に記載の反復方法。 - ステップe)において、ステップd)で取得したグループの測定値差の後方投影により、前記グループの測定値の計算に含めた、前記光線が透過したボクセルの接近値を更新し、前記接近値の更新は、
前記放射線源における投影位置から始まる、更新するボクセルを透過する光線を決定するステップと、
前記検出器部上のこの光線があたる点を決定し、前記あたる点を用いてこの光線に属する測定値差を決定するステップと、
前記決定した測定値差に、前記決定した光線に属する測定値に、更新するボクセルの接近値が近づく吸収値が占める割合に等しい比例因子をかけるステップと、
更新するボクセルに割り当てた接近値に測定値差を足し合わせるステップと、
を有することを特徴とする、請求項7に記載の反復方法。 - コンピュータ断層撮影装置であって、
検査領域を透過する光ビームを生成する放射線源と、
前記検査領域にあるオブジェクトと前記放射線源とを、回転軸に対して互いに回転させ、及び/または前記回転軸と平行に互いに移動させる駆動装置と、
測定値を取得する、前記放射線源と結合した検出器部と、
前記検出器部により取得した前記測定値から前記検査領域内の吸収の空間的分布を再構成する、少なくとも1つの再構成および画像処理コンピュータと、
前記放射線源と、前記駆動装置と、前記検出器部と、前記少なくとも1つの再構成および画像処理コンピュータとを制御する制御部とを備え、前記制御部は、以下のステップ:
検査領域を透過する光ビームを放射線源を用いて生成するステップと、
一方の前記放射線源と他方の前記検査領域とを相対的に動かし、前記放射線源が前記検査領域に対して描く軌跡が前記オブジェクトを含む仮想的な円筒体または球の表面にあるステップと、
検出器部を用いて、相対的に動いている間に、前記検査領域を透過した光ビームの強さに応じた測定値を取得するステップであって、各測定値は一特性の各特性値に比例因子をかけた値の合計として表され、前記比例因子は特性値が測定値に占める割合の尺度であり、
検査領域にあるオブジェクトの特性値の空間的分布を測定値から決定するステップであって、前記複数の測定値はグループに分割され、各特性値には接近値が近づき、前記接近値は、開始値に設定され、その後、停止基準が満たされるまで測定値の各グループに少なくとも1回、次の反復ステップ:
a)測定値の一割合をしめる各接近値に比例因子をかけ、比例因子をかけた接近値同士を足し合わせることにより、前記グループの各測定値の基準測定値を生成するステップと、
b)測定値とそれに対応する基準測定値との間の差を求めることにより、前記グループの各測定値に対して測定値差を生成するステップと、
c)前記所定の測定値差の計算に含めた、前記グループの測定値の信頼度が高ければ高いほど大きい信頼度パラメータを各測定値差にかけるステップと、
d)信頼度パラメータをかけた各測定値差を、前記測定値差の計算に含めた測定値の一割合をしめる特性値の前記比例因子に応じた規格化因子で割るステップと、
e)ステップd)で取得した測定値差の前記検査領域への後方投影により前記接近値を更新するステップと、を有するステップとにより制御する、コンピュータ断層撮影装置。 - コンピュータ断層撮影装置の放射線源と、駆動装置と、検出器部と、少なくとも1つの再構成及び画像処理コンピュータとを制御する制御部のコンピュータプログラムであって、前記制御部に、
検査領域を透過する光ビームを放射線源を用いて生成するステップと、
一方の前記放射線源と他方の前記検査領域とを相対的に動かし、前記放射線源が前記検査領域に対して描く軌跡が前記オブジェクトを含む仮想的な円筒体または球の表面にあるステップと、
検出器部を用いて、相対的に動いている間に、前記検査領域を透過した光ビームの強さに応じた測定値を取得するステップであって、各測定値は一特性の各特性値に比例因子をかけた値の合計として表され、前記比例因子は特性値が測定値に占める割合の尺度であり、
検査領域にあるオブジェクトの特性値の空間的分布を測定値から決定するステップであって、前記複数の測定値はグループに分割され、各特性値には接近値が近づき、前記接近値は、開始値に設定され、その後、停止基準が満たされるまで測定値の各グループに少なくとも1回、次の反復ステップ:
b)測定値とそれに対応する基準測定値との間の差を求めることにより、前記グループの各測定値に対して測定値差を生成するステップと、
c)前記所定の測定値差の計算に含めた、前記グループの測定値の信頼度が高ければ高いほど大きい信頼度パラメータを各測定値差にかけるステップと、
d)信頼度パラメータをかけた各測定値差を、前記測定値差の計算に含めた特性値の前記比例因子に応じた規格化因子で割るステップと、
e)ステップd)で取得した測定値差の前記検査領域への後方投影により前記接近値を更新するステップと、を有するステップと
を実行させる、コンピュータプログラム。
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