JP4494370B2 - 製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法及び成膜装置 - Google Patents

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本発明は、製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法及び成膜装置に関する。詳細には、円軌跡上を製品の表面を外側にして製品を公転回転させ、該円軌跡より外方位置に成膜材料を置いて、該成膜材料から成膜粒子を円軌跡に向けて飛散させ、製品が公転回転により成膜材料が置かれた位置を通過する際に該飛散した成膜粒子を製品の表面に付着させて、製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法及び成膜装置に関する。
基板等の製品の表面に金属被膜を形成する代表的な方法としてスパッタリング法が挙げられる。一般に、スパッタリング法では、真空下において対向して配置された基板と成膜材料である金属との間でアルゴンガス等の励起ガスに電圧を印加する。これにより高速のイオンが生じて成膜材料に衝突し、成膜材料を構成する金属粒子がたたき出されて飛散し基板表面に付着し被膜を形成する。このスパッタリング法は、成膜材料を変更することで種々の物質からなる被膜を形成することが可能であり各種産業分野において広く利用されている。
スパッタリング法において、成膜材料から飛散した金属粒子は、衝突、散乱を繰り返し放射状に広がりながら移動する。成膜材料に対向して平板状の基板が固定されている場合、基板上に形成される被膜の厚さは、金属粒子の飛散量分布がそのまま反映され、飛散量分布のピークである中央部の被膜は厚く、端は薄くなってしまう。
特許文献1には、このような平板状の基板に形成される被膜の厚さを制御する成膜装置が開示されている。特許文献1の成膜装置は、成膜材料と平行平面上で基板を回転させることにより金属粒子の飛散量分布の影響を緩和する成膜装置である。この成膜装置によれば、目標とする厚みの被膜を得るための処理時間を予め演算し、得られた予測処理時間内に予め設定した整数回だけ基板を回転することにより、被膜の厚みを制御することができる。
特開2001−240965号公報
スパッタリング法において、被膜の厚さを決定する主要因子は金属粒子の飛散量、金属粒子の基板への付着しやすさ、および処理時間である。ここでいう金属粒子の基板への付着しやすさは、成膜材料と基板の角度、および、成膜材料と基板との距離によって決定される。すなわち、成膜材料と基板とが平行であると付着しやすく、成膜材料と基板の角度が大きくなるほど付着しにくくなる。また、成膜材料と基板との距離が短いほど付着しやすく、距離が長くなるほど付着しにくくなる。したがって、被膜の厚さを決定する主要因子は、以下の4つであるといえる。すなわち、金属粒子の飛散量、成膜材料と基板の角度、成膜材料と基板との距離、および処理時間の4つである。
スパッタリング法においては、成膜材料と製品(基板等)の表面との距離が被膜の厚さを決定する主要因子であるため、表面に凹凸を有しており成膜材料との距離が一定でない製品に対して一定の厚さの被膜を形成するのは非常に困難であるという問題があった。上記特許文献1に記載の成膜装置を用いても、平板状の基板に対して均一な厚さの被膜を形成することはできるものの、凹凸面を有する製品に対しては均一な厚さの被膜を形成することは困難である。
ところで、スパッタリング法においては、従前、上記特許文献1に記載の成膜材料と平行平面上で基板を回転させる方法の他に、図8に示すように、製品の表面を外側にして公転回転させ、その公転回転の円軌跡より外方位置に成膜材料を置いて被膜を形成する方法も用いられている。このような方法を用いれば、金属粒子の飛散量分布のピーク位置を基板全面が通過することにより、金属粒子の飛散量分布の影響を緩和し、平板状の基板に対しては厚みの均一な被膜を形成することができる。しかしながら、凹凸面に対して均一な厚さの被膜を形成することはやはり困難であった。また、この問題は、スパッタリング法に限らず、成膜材料から金属粒子を飛散させて、製品の表面に金属被膜を形成する方法全般に共通する問題であった。
本発明は、製品の表面を外側にして公転回転させ、その公転回転の円軌跡より外方位置に成膜材料を置いて製品の表面に金属被膜を形成する方法をもって上記問題を解決するものとしてなされたものである。本発明が解決しようとする課題は、表面に凹凸を有する製品の場合であっても、その製品の成膜材料に対する位置や通過時間等の相対的関係を変化させることにより、製品の表面に形成される被膜の膜厚を制御することにある。好ましくは、製品の表面に形成される被膜の厚みを略均一な膜厚に制御することにある。
本発明は、上記課題を解決するために、次の手段をとる。
先ず、第1の発明は、円軌跡上を製品の表面を外側にして製品を公転回転させ、該円軌跡より外方位置に成膜材料を置いて、該成膜材料から成膜粒子を円軌跡に向けて飛散させ、製品が公転回転により成膜材料が置かれた位置を通過する際に該飛散した成膜粒子を製品の表面に付着させて、製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法であって、表面形状が円軌跡の円弧方向に径方向の高さが異なる製品に対して、前記成膜材料が置かれた位置を通過する製品の公転速度を径方向の高さに応じて変化させて製品の表面に形成される被膜の厚さを制御することを特徴とする製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法である。
第2の発明は、第1の発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法において、スパッタリングにより前記成膜材料から前記成膜粒子を飛散させることを特徴とする製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法である。
第3の発明は、円軌跡上を製品の表面を外側にして製品を公転回転させ、該円軌跡より外方位置に成膜材料を置いて、該成膜材料から成膜粒子を円軌跡に向けて飛散させ、製品が公転回転により成膜材料が置かれた位置を通過する際に該飛散した成膜粒子を製品の表面に付着させて、製品の表面に金属被膜を形成する成膜装置であって、表面形状が円軌跡の円弧方向に径方向の高さが異なる製品に対して、前記成膜材料が置かれた対応位置を通過する製品の公転速度を径方向の高さに応じて変化させる公転速度可変機構を備えたことを特徴とする製品の表面に金属被膜を形成する成膜装置である。
第4の発明は、第3の発明の表面に金属被膜を形成する成膜装置において、スパッタリングにより前記成膜材料から前記成膜粒子を飛散させることを特徴とする製品の表面に金属被膜を形成する成膜装置である。
第5の発明は、円軌跡上を製品の表面を外側にして製品を公転回転させ、該円軌跡より外方位置に成膜材料を置いて、該成膜材料から成膜粒子を円軌跡に向けて飛散させ、製品が公転回転により成膜材料が置かれた位置を通過する際に該飛散した成膜粒子を製品の表面に付着させて、製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法であって、表面形状が円軌跡の円弧方向に径方向の高さが異なる製品に対して、該製品の前記成膜材料に対する角度を変化させて製品の表面に形成される被膜の厚さを制御することを特徴とする製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法である。
第6の発明は、第5の発明製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法において、該製品の前記成膜材料に対する角度を変化させた状態に応じて該製品が前記成膜材料が置かれた位置を通過する時間を変化させて製品の表面に形成される被膜の厚さを制御することを特徴とする製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法である。
第7の発明は、第5または第6の発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法において、スパッタリングにより前記成膜材料から前記成膜粒子を飛散させることを特徴とする製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法である。
第8の発明は、円軌跡上を製品の表面を外側にして製品を公転回転させ、該円軌跡より外方位置に成膜材料を置いて、該成膜材料から成膜粒子を円軌跡に向けて飛散させ、製品が公転回転により成膜材料が置かれた位置を通過する際に該飛散した成膜粒子を製品の表面に付着させて、製品の表面に金属被膜を形成する成膜装置であって、表面形状が円軌跡の円弧方向に径方向の高さが異なる製品に対して、該製品の前記成膜材料に対する角度を変化させる角度変化手段を備えていることを特徴とする製品の表面に金属被膜を形成する成膜装置である。
第9の発明は、第8の発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜装置において、前記製品の円軌跡上での径方向の高さ位置を変化させる角度変化手段の変化に応じて製品の公転速度を変化させる公転速度制御機構を備えていることを特徴とする製品の表面に金属被膜を形成する成膜装置である。
第10の発明は、第8または第9の発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜装置において、前記製品の円軌跡上での径方向の高さ位置を変化させる角度変化手段の変化に応じて製品の公転回数を変化させる公転回数制御機構を備えていることを特徴とする製品の表面に金属被膜を形成する成膜装置である。
第11の発明は、第8から第10の発明のいずれかの製品の表面に金属被膜を形成する成膜装置において、スパッタリングにより前記成膜材料から前記成膜粒子を飛散させることを特徴とする製品の表面に金属被膜を形成する成膜装置である。
第1の発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法によれば、径方向の相対的な高さに応じて公転速度を変化させることにより、異なる高さ位置に対する処理時間を変化させることができる。これにより、製品の異なる高さ位置における成膜量を制御し、形成される被膜の厚さを所望の厚さに制御することができる。また、第2の発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法によれば、スパッタリングにより成膜材料から成膜粒子を飛散させるため、成膜材料を変更することで種々の金属からなる被膜を形成することが可能であって、しかも、異なる高さ位置に対して形成される被膜の厚さを所望の厚さに制御することができる。
第3の発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜装置は、表面形状が円軌跡の円弧方向に径方向の高さが異なる製品に対して、成膜材料が置かれた対応位置を通過する製品の公転速度を径方向の高さに応じて変化させる公転速度可変機構を備えているため、第1の発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法が実施可能である。また、第4の発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜装置は、スパッタリングにより前記成膜材料から前記成膜粒子を飛散させるため、第2の発明の第1の発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法が実施可能である。
第5の発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法によれば、製品の成膜材料に対する角度を変化させることによって、製品の異なる高さ位置に対して効率よく被膜を形成することができる。また、第6の発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法によれば、製品の成膜材料に対する角度を変化させた状態に応じて製品が成膜材料の置かれた位置を通過する時間を変化させることにより、製品の異なる高さ位置における被膜の厚さを所望の厚さに制御することができる。さらに、第7の発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法によれば、スパッタリングにより成膜材料から成膜粒子を飛散させるため、成膜材料を変更することで種々の金属からなる被膜を形成することが可能である。
第8の発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜装置は、表面形状が円軌跡の円弧方向に径方向の高さが異なる製品に対して、該製品の前記成膜材料に対する角度を変化させる角度変化手段を備えている。したがって、第8の発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜装置によれば、第5の発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法が実施可能である。第9の発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜装置は、さらに、角度変化手段の変化に応じて製品の公転速度を変化させる公転速度制御機構を備えている。したがって、角度変化手段の変化に応じて製品の公転速度を変化させることにより、製品の成膜材料に対する角度を変化させた状態に応じて製品が成膜材料の置かれた位置を通過する時間を変化させることができる。第9の発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜装置によれば、第6の発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法が実施可能である。第10の発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜装置は、角度変化手段の変化に応じて製品の公転回数を変化させる公転回数制御機構を備えている。したがって、角度変化手段の変化に応じて製品の公転回数を変化させることにより、製品の成膜材料に対する角度を変化させた状態に応じて製品が成膜材料の置かれた位置を通過する時間を変化させることができる。第10の発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜装置によれば、第6の発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法が実施可能である。また、第11の発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜装置は、スパッタリングにより成膜材料から成膜粒子を飛散させるため、第7の発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法が実施可能である。
本発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法及び成膜装置によれば、表面形状が円軌跡の円弧方向に径方向の高さが異なる製品に対して、異なる高さ位置に対して形成される被膜の厚さを制御することができる。特に、その製品の表面に形成される被膜の厚さを略均一な膜厚とする場合に容易に対応することができる。
本発明の成膜方法及び成膜装置は、円軌跡上を製品の表面を外側にして製品を公転回転させ、該円軌跡より外方位置に成膜材料を置いて、該成膜材料から成膜粒子を円軌跡に向けて飛散させ、製品が公転回転により成膜材料が置かれた位置を通過する際に該飛散した成膜粒子を製品の表面に付着させて、製品の表面に金属被膜を形成する。
先ず、図8を参照して本発明の基本的概念を説明する。製品40は、表面40a、すなわち被膜を形成する面を外側にして円軌跡上を公転回転する。成膜材料12は、被膜の原料となる金属からなり、製品40の公転回転する円軌跡より外方位置に配置している。成膜材料12から成膜粒子14が飛散し、図8において実線で示すように、製品40が公転回転により成膜材料12が置かれた位置を通過する際に成膜粒子14が製品の表面40a付着して金属被膜が形成される。
本発明において、成膜材料12から成膜粒子14を飛散させ、その飛散した成膜粒子14を製品の表面40aに付着させる方法は特に限定されない。例えば、スパッタリング法、真空蒸着法等の公知の各種方法を用いることができる。なお、図8において成膜粒子14は模式的に大きく示したが、スパッタリング法を用いる場合、スパッタリングにより成膜材料12から弾き飛ばされる金属原子、分子あるいはクラスタ等が本発明における成膜粒子14に対応する。また、真空蒸着法を用いる場合は、真空下で成膜材料12を加熱することにより生じる金属蒸気が本発明における成膜粒子14に対応する。
図8において、製品40は平板状であるが、本発明の製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法においては、「表面形状が円軌跡の円弧方向に径方向の高さが異なる製品」に対して適応すると、特に有利な効果を得ることができる。図1は「本発明における表面形状が円軌跡の円弧方向に径方向の高さが異なる製品10」の具体例を示した平面図である。製品10は、表面形状に円軌跡の円弧方向に径方向の高さが異なる面を有している。すなわち、円軌跡の円弧方向に径方向の高さが相対的に低い窪み面10a、相対的に高い突起面10b、および高低に傾斜した傾斜面10cを有している。この製品10を従来どおり等速で公転回転させ、窪み面10a、突起面10b、および傾斜面10cの各面における成膜量(膜厚)を調べた。その結果を図7のグラフに示す。膜厚(被膜の厚さ)は、突起面10bが相対的に厚く、窪み面10aおよび傾斜面10cは相対的に薄くなっていることが分かる。成膜材料12との距離が相対的に短い突起面10bは成膜粒子が付着しやすく被膜が厚くなり、成膜材料12との距離が相対的に長い窪み面10aは成膜粒子が付着しにくく被膜が薄くなっていた。また、傾斜面10cは、成膜材料12との距離によるだけでなく、傾斜形状であることにより成膜粒子が付着しにくく被膜が薄くなっていた。
以下、表面形状が円軌跡の円弧方向に径方向の高さが異なる製品10に対して本発明を適応した実施態様を具体的に説明する。
[第1の実施態様]
第1の実施態様は、成膜材料12が置かれた位置を通過する製品10の公転速度を径方向の高さに応じて変化させて製品10の表面に形成される被膜の厚さを制御することを特徴とする。第1の実施態様においては、表面形状が円軌跡の円弧方向に径方向の高さが異なる製品10に対して、成膜材料12が置かれた対応位置を通過する製品10の公転速度を径方向の高さに応じて変化させる公転速度可変機構を備えた成膜装置を用いることができる。
具体的には、径方向の高さの異なる窪み面10a、突起面10b、および傾斜面10cの各面が成膜材料12の置かれた位置を通過する際、その通過する面の径方向の高さに応じて公転速度を変化させる。これにより、各面が成膜材料12の置かれた位置を通過する時間、言い換えれば、被膜形成処理を受ける時間(処理時間)を変化させることができる。すなわち、公転速度が速いほど処理時間は短くなり、その通過する面に成膜粒子が付着しにくくなるため膜厚は薄くなる。逆に、公転速度が遅いほど処理時間は長くなり、その通過する面に成膜粒子が付着しやすくなるため膜厚は厚くなる。
第1の実施態様において、例えば、窪み面10a、突起面10b、および傾斜面10cの各面に膜厚の均一な被膜を形成する場合は、図2のグラフに示すように公転速度を変化させればよい。これにより、被膜が薄くなりやすい面に対しては処理時間を長くし、被膜が厚くなりやすい面に対しては処理時間を短くすることができる。なお、図2のグラフ中のIは、成膜材料12の置かれた位置を図1に示す角度範囲Iが通過するとき、すなわち、窪み面10aが成膜材料12の置かれた位置を通過するときを示している。同様に、図2のグラフ中のIIは、成膜材料12の置かれた位置を図1に示す角度範囲IIが通過するとき、すなわち、突起面10bが成膜材料12の置かれた位置を通過するときを示しており、図2のグラフ中のIIIは、成膜材料12の置かれた位置を図1に示す角度範囲IIIが通過するとき、すなわち、傾斜面10cが成膜材料12の置かれた位置を通過するときを示している。図2に示すように、窪み面10a、突起面10b、および傾斜面10cの各面に膜厚の均一な被膜を形成する場合、径方向の高さが相対的に低い窪み面10aが成膜材料12の置かれた位置を通過するとき(図2グラフ中のI)は公転速度を相対的に遅くする。これにより、窪み面10aに対する処理時間は長くなる。径方向の高さが相対的に高い突起面10bが成膜材料12の置かれた位置を通過するとき(図2グラフ中のII)は公転速度を相対的に速くする。これにより、突起面10bに対する処理時間は短くなる。径方向の高さが傾斜した傾斜面10cが成膜材料12の置かれた位置を通過するとき(図2グラフ中のIII)は、その通過の際に徐々に速度を変化させる。傾斜面10cにおいて径方向の高さが相対的に高い位置(突起面10b側)が成膜材料12の置かれた位置を通過するときは公転速度を相対的に速くし、径方向の高さが相対的に低い位置(端部側)が成膜材料12の置かれた位置を通過するときは公転速度を相対的に遅くする。これにより、径方向の高さが相対的に高い位置(突起面10b側)は処理時間が長く、径方向の高さが相対的に低い位置(端部側)は処理時間が短くなる。
具体的には、図1に実線の矢印で示す公転方向(時計回り)に製品10を公転回転させると、先ず傾斜面10cが成膜材料12の置かれた位置を通過する。傾斜面10cは径方向の高さが傾斜しており、成膜材料12の置かれた位置を通過する径方向の高さは徐々に高くなる。それに対応して、傾斜面10cが成膜材料12の置かれた位置を通過する際は、公転速度を徐々に速くする(図2グラフ中III)。すなわち、端部側の径方向の高さが最も低い位置が成膜材料12の置かれた位置を通過するときに最も公転速度を遅くし、徐々に公転速度を加速して突起面10b側の径方向の高さが最も高い位置が成膜材料12の置かれ位置を通過するときは公転速度を最も速くする。次いで、突起面10bが成膜材料12の置かれた位置を通過する。突起面10bは径方向の高さは相対的に高く一定である。それに対応して、公転速度は相対的に速い速度のまま一定に保つ(図2グラフ中II)。最後に窪み面10が成膜材料12の置かれた位置を通過する。窪み面10aは径方向の高さが相対的に低く一定である。それに対応して、公転速度は相対的に遅い速度に変化させて一定に保つ(図2グラフ中I)。
このように、製品10の径方向の高さが相対的に高く被膜が厚くなりやすい高さ位置が成膜材料12の置かれた位置を通過するときは公転速度を速くすることにより処理時間を短くする。それとは逆に、製品10の径方向の高さが相対的に低く被膜が薄くなりやすい高さ位置が成膜材料12の置かれた位置を通過するときは公転速度を遅くすることにより処理時間を長くする。それにより窪み面10a、突起面10b、および傾斜面10cの各面に膜厚の均一な被膜を形成することができる。
以上説明したように、第1の実施態様においては、成膜材料12が置かれた位置を通過する製品10の公転速度を径方向の相対的な高さに応じて変化させることにより、その異なる高さ位置に対する処理時間を変化させることができる。その結果、径方向の高さが異なる製品10に対して、異なる高さ位置における成膜量を制御することができ、異なる高さ位置に対して膜厚の均一な被膜を形成することができる。もちろん、被膜の厚さを均一化するだけでなく、異なる高さ位置における被膜の厚さを所望の厚さに制御することもできる。
なお、製品10と公転の回転中心との位置関係が、図3に示すように図1に示す場合よりも近い場合も上記同様に公転速度を変化させることにより、窪み面10a、突起面10b、および傾斜面10cの各面に膜厚の均一な被膜を形成することができる。ただし、この場合、図1と図3を比較すれば分かるように、窪み面10a、突起面10b、および傾斜面10cの各面が成膜材料12の置かれた位置を通過する角度範囲I、II、IIIは、製品10と公転の回転中心との位置関係により変化する。
[第2の実施態様]
第2の実施態様は、製品10の成膜材料12に対する角度を変化させ、製品10の成膜材料12に対する角度を変化させた状態に応じて製品10が成膜材料12の置かれた位置を通過する時間を変化させて製品10の表面に形成される被膜の厚さを制御することを特徴とする。
具体的には、例えば、図5(A)〜(C)に示すように、製品10は図中に点線で示す円軌跡上を公転回転しておりその円軌跡上において成膜材料12に対する角度を変化させる。
図5(A)は、図4に示す角度範囲Aが成膜材料12に対向するように製品10の角度を円軌跡上で変化させた状態(以下、角度状態Aと記載する。)である。角度状態Aでは、窪み面10aに対して最も成膜粒子が付着しやすい状態となっている。図5(B)は、図4に示す角度範囲Bが成膜材料12に対向するように製品10の角度を円軌跡上で変化させた状態(以下、角度状態Bと記載する。)である。角度状態Bでは、突起面10bに対して最も成膜粒子が付着しやすい状態となっている。また、図5(C)は、図4に示す角度範囲Cが成膜材料12に対向するように製品10の角度を円軌跡上で変化させた状態(以下、角度状態Cと記載する。)である。角度状態Cでは、傾斜面10cに対して最も成膜粒子が付着しやすい状態となっている。
このように、製品10の成膜材料12に対する角度を変化させることによって、径方向の高さが異なる、窪み面10a、突起面10b、および傾斜面10cの各面に効率よく被膜を形成することができる。
さらに、第2の実施態様においては、製品10の成膜材料12に対する角度を変化させた状態に応じて製品10が成膜材料12の置かれた位置を通過する時間を変化させる。
製品10が成膜材料12の置かれた位置を通過する時間(通過時間)は、製品10が被膜形成処理を受ける時間(処理時間)と言い換えることもできる。通過時間を変化させるには、具体的には、公転速度が一定の場合、公転回数を変化させればよい。すなわち、公転回数を多くするほど通過時間は長くなり、公転回数を少なくするほど通過時間は短くなる。
例えば、第2の実施態様において、窪み面10a、突起面10b、および傾斜面10cの各面に膜厚の均一な被膜を形成する場合は、図6のグラフに示すのように、製品10の成膜材料12に対する角度を変化させた状態に応じて公転回数を変化させればよい。これにより、被膜が薄くなりやすい角度状態においては処理時間を長くし、被膜が厚くなりやすい角度状態においては処理時間を短くすることができる。
角度状態A〜Cにおける窪み面10a、突起面10b、および傾斜面10cに対する成膜粒子の付着しやすさについて検討すると以下のとおりである。突起面10bは角度状態Bにおいて、傾斜面10cは、角度状態Cにおいて、それぞれ成膜材料12に対して平行になる。図5(B)と図5(C)とを比較すると、角度状態Bおける突起面10bと成膜材料12との距離よりも、角度状態Cにおける傾斜面10cと成膜材料12との距離の方が短い。したがって、角度状態Cにおける傾斜面10cは、角度状態Bにおける突起面10bよりも成膜粒子が付着しやすい状態となっている。窪み面10aは、角度状態Aにおいて成膜材料12との距離が最も短くなるものの、角度状態Cにおける傾斜面10c、あるいは角度状態Bにおける突起面10bと比較すると成膜材料12との距離が長く、しかも成膜材料12に対して傾いているため成膜粒子が付着しにくい状態となっている。したがって、角度状態A〜Cにおける窪み面10a、突起面10b、および傾斜面10cに対する成膜粒子の付着しやすさは、付着しやすい順に、角度状態Cにおける傾斜面10c、角度状態Bにおける突起面10b、角度状態Aにおける窪み面10aとなっている。したがって、各面に膜厚の均一な被膜を形成する場合は、成膜粒子の付着しやすい角度状態においては公転回数を少なくし、逆に、成膜粒子の付着しにくい角度状態においては公転回数を多くすればよい。図6のグラフに示すように、相対的に最も成膜粒子の付着しにくい角度状態Aにおいては相対的に最も公転回数を多くする。角度状態Aに比べて成膜粒子の付着しやすい角度状態Bにおいては角度状態Aよりも公転回数を少なくし、角度状態Bに比べて成膜粒子の付着しやすい角度状態Cにおいては角度状態Bよりもさらに公転回数を少なくする。それにより、処理時間は角度状態A、角度状態B、角度状態Cの順に短くなり、窪み面10a、突起面10b、および傾斜面10cの各面に膜厚の均一な被膜を形成することができる。
このように、製品10の成膜材料12に対する角度を変化させた状態に応じて製品10が成膜材料12の置かれた位置を通過する時間を変化させることにより、製品10の異なる高さ位置に形成される被膜の厚さを均一化することができる。もちろん、被膜の厚さを均一化するだけでなく、製品10の表面の異なる高さ位置における被膜の厚さを所望の厚さに制御することもできる。
製品10の通過時間を変化させるには、上述したように公転回数を変化させてもよいが、公転速度を変化させてもよい。公転速度を遅くするほど通過時間は長くなり、公転速度を速くするほど通過時間は短くなる。したがって、例えば、窪み面10a、突起面10b、および傾斜面10cの各面に膜厚の均一な被膜を形成する場合は、図示しないが、最も成膜粒子の付着しにくい角度状態Aにおいては最も公転速度を遅くする。角度状態Aに比べて成膜粒子の付着しやすい角度状態Bにおいては角度状態Aに比べて公転速度を速くし、角度状態Bに比べて成膜粒子の付着しやすい角度状態Cにおいては角度状態Bよりもさらに公転速度を速くする。それにより、処理時間は角度状態A、角度状態B、角度状態Cの順に短くなり、窪み面10a、突起面10b、および傾斜面10cの各面に膜厚の均一な被膜を形成することができる。
第2の実施態様において、通過時間を変化させる方法は限定されず、公転回数または公転速度のいずれかを変化させてもよいし、公転回数と公転速度との双方を変化させてもよい。第2の実施態様においては、表面形状が円軌跡の円弧方向に径方向の高さが異なる製品に対して、製品の前記成膜材料に対する角度を変化させる角度変化手段と、角度変化手段の変化に応じて製品の公転速度を変化させる公転速度制御機構、及び/又は角度変化手段の変化に応じて製品の公転回数を変化させる公転回数制御機構を備えている成膜装置を用いることができる。
第1の実施態様を模式的に示した平面図である。 第1の実施態様における、公転速度、処理時間及び成膜量を示すグラフである。 図1に示す第1の実施態様において、製品の公転位置の異なる態様を模式的に示した平面図である。 第2の実施態様における製品の角度を変化を説明するための図である。 第2の実施態様において製品が角度を変化させた状態を模式的に示す平面図であり、(A)は角度状態A、(B)は角度状態B、(C)は角度状態Cを示す図である。 第2の実施態様における、公転回数、処理時間及び成膜量を示すグラフである。 図1において、製品を等速で公転回転させた場合の成膜量を示すグラフである。 平板状の製品の表面に被膜を形成する態様を模式的に示した平面図である。
符号の説明
10 製品
10a 窪み面
10b 突起面
10c 傾斜面
12 成膜材料
14 成膜粒子

Claims (3)

  1. 円軌跡上を製品の表面を外側にして製品を公転回転させ、該円軌跡より外方位置に成膜材料を置いて、該成膜材料から成膜粒子を円軌跡に向けて飛散させ、製品が公転回転により成膜材料が置かれた位置を通過する際に該飛散した成膜粒子を製品の表面に付着させて、製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法であって、
    表面形状が円軌跡の円弧方向に径方向の高さが異なる製品に対して、該製品の前記成膜材料に対する角度を変化させ、該製品の前記成膜材料に対する角度を変化させた状態に応じて該製品が前記成膜材料が置かれた位置を通過する時間を変化させて製品の表面に形成される被膜の厚さを制御することを特徴とする製品の表面に金属被膜を形成する成膜方法。
  2. 円軌跡上を製品の表面を外側にして製品を公転回転させ、該円軌跡より外方位置に成膜材料を置いて、該成膜材料から成膜粒子を円軌跡に向けて飛散させ、製品が公転回転により成膜材料が置かれた位置を通過する際に該飛散した成膜粒子を製品の表面に付着させて、製品の表面に金属被膜を形成する成膜装置であって、
    表面形状が円軌跡の円弧方向に径方向の高さが異なる製品に対して、該製品の前記成膜材料に対する角度を変化させる角度変化手段を備えており、
    前記製品の円軌跡上での径方向の高さ位置を変化させる角度変化手段の変化に応じて製品の公転速度を変化させる公転速度制御機構を備えていることを特徴とする製品の表面に金属被膜を形成する成膜装置。
  3. 円軌跡上を製品の表面を外側にして製品を公転回転させ、該円軌跡より外方位置に成膜材料を置いて、該成膜材料から成膜粒子を円軌跡に向けて飛散させ、製品が公転回転により成膜材料が置かれた位置を通過する際に該飛散した成膜粒子を製品の表面に付着させて、製品の表面に金属被膜を形成する成膜装置であって、
    表面形状が円軌跡の円弧方向に径方向の高さが異なる製品に対して、該製品の前記成膜材料に対する角度を変化させる角度変化手段を備えており、
    前記製品の円軌跡上での径方向の高さ位置を変化させる角度変化手段の変化に応じて製品の公転回数を変化させる公転回数制御機構を備えていることを特徴とする製品の表面に金属被膜を形成する成膜装置。
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JPH05255845A (ja) * 1992-03-09 1993-10-05 Shin Meiwa Ind Co Ltd スパッタリング装置
JPH1150239A (ja) * 1997-08-05 1999-02-23 Kobe Steel Ltd Pvd装置

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2673725B2 (ja) * 1989-01-30 1997-11-05 新明和工業株式会社 成膜装置

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