JP4490333B2 - 排ガス分析装置 - Google Patents

排ガス分析装置 Download PDF

Info

Publication number
JP4490333B2
JP4490333B2 JP2005159152A JP2005159152A JP4490333B2 JP 4490333 B2 JP4490333 B2 JP 4490333B2 JP 2005159152 A JP2005159152 A JP 2005159152A JP 2005159152 A JP2005159152 A JP 2005159152A JP 4490333 B2 JP4490333 B2 JP 4490333B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
exhaust gas
laser beam
unit
signal
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2005159152A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006337068A (ja
Inventor
正裕 山蔭
祥啓 出口
剛俊 山浦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Toyota Motor Corp
Original Assignee
Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Toyota Motor Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Heavy Industries Ltd, Toyota Motor Corp filed Critical Mitsubishi Heavy Industries Ltd
Priority to JP2005159152A priority Critical patent/JP4490333B2/ja
Publication of JP2006337068A publication Critical patent/JP2006337068A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4490333B2 publication Critical patent/JP4490333B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/35Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
    • G01N21/3504Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for analysing gases, e.g. multi-gas analysis
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/01Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
    • G01N21/03Cuvette constructions
    • G01N21/031Multipass arrangements

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

本発明は、自動車等の内燃機関から排出される排ガスの分析方法であって、特に、排気経路中の複数箇所にセンサ部を取り付けることで、排気経路中を通過する排ガスに含まれる成分の濃度や温度等を正確かつリアルタイムに測定して分析する排ガス分析方法と排ガス分析装置に関する。
従来、この種の排ガス分析装置としては、特許文献1に記載の車載型HC測定装置がある。この測定装置は、エンジンに連なる排気管を流れる排ガス中のHC(炭化水素)濃度を連続的に測定するためのNDIR(非分散型赤外分光法)型ガス分析計と、排気管を流れる排ガスの流量を連続的に測定する排ガス流量計と、NDIR型ガス分析計および排ガス流量計のそれぞれの出力を演算処理して、排ガス中のTHC(全炭化水素)量を連続的に算出する演算処理回路を車両内に搭載可能としている。また、NDIR型ガス分析計等の測定法は、すべての測定原理において、校正用の基準ガスや、分析に使用するための補助ガスが必要となる。
特開2004−117259号公報
ところで、前記構造の排ガスの分析装置や、従来の一般的な内燃機関の排ガス測定装置は、排ガスを一部採取して測定器に導入し、希釈ガス等を混入させて測定を行うため、大型化し車載型にするのが難しい。そして、この種の装置は、マフラーから排出される排ガスのみを測定しているため、計測する最終排出形態しか測定できず、相対的な排ガスの成分の濃度変化や、温度変化等を知ることができない。
本発明は、このような問題に鑑みてなされたものであって、その目的とするところは、排気経路中の複数箇所での排ガスの状態を測定し、それらの測定値の相対的変化を求めることで排ガスに含まれるガス成分濃度等の変化を分析する方法を提供することにある。すなわち、排気経路中の、例えば触媒装置の前後や、マフラーの前後にセンサを取付け、このセンサを用いて排気経路の途中での排ガスの状態を測定し、それらの相対的変化を求めて分析する排ガスの分析方法と排ガス分析装置を提供することにある。
前記目的を達成すべく、本発明に係る排ガス分析方法は、内燃機関から排出される排ガスの流通する排気経路中に、レーザ光発生手段から発生させたレーザ光を照射する照射部と、該照射部から照射され排ガス中を透過したレーザ光を受光する受光部とを備えるセンサ部を複数箇所に取り付け、前記排ガスの状態を測定する排ガス分析方法であって、前記複数のセンサ部の出力に基づいて、前記排気経路中の複数箇所における排ガスの状態を、前記複数箇所のうちの1箇所を基準として相対的に検出することを特徴としている。すなわち、例えば、最上流部のセンサ部の出力を基準として、複数のセンサ部の出力を、差分型光検出器に入力し、パーソナルコンピュータで信号解析して排ガスの成分の濃度や温度等の状態を相対的に算出して検出する。
前記のごとく構成された本発明の排ガス分析方法は、複数箇所に設置されたセンサ部により排気経路中の排ガスの状態、例えば排ガスの成分の濃度や温度の状態を、例えば上流のセンサ部を基準として相対的に測定して分析することができる。このようにして測定された排ガスの状態の相対値は、例えば基準となる1つのレーザ光発生手段から供給されるレーザ光により測定されるため、測定精度が良く、排気経路中の状態変化を高精度に検証することができる。
本発明に係る排ガス分析方法の好ましい具体的な態様としては、前記複数のセンサ部に供給されるレーザ光は、単一のレーザ光発生手段から分波して供給されることが好ましい。そして、前記単一のレーザ光発生手段は、排ガスの複数の成分に合わせた吸収波長を有するレーザ光を合波して構成されることが好ましい。この構成によれば、単一のレーザ光発生手段から発生されたレーザ光を用いて排ガスの状態を測定するため、相対的に検出する精度を高めることができる。また、排ガスの複数の成分の状態を精度良く測定することができる。
また、本発明に係る排ガス分析方法の好ましい具体的な他の態様としては、前記複数のセンサ部は、前記レーザ光発生手段から発生させたレーザ光を排ガス中で反射させてから、前記受光部で受光することを特徴としている。このように構成すると、排ガス中に照射されたレーザ光はミラー等で反射させてから受光部で受光されるため、レーザ光の排ガス中での透過距離を長くすることができる。この結果、レーザ光の排ガス中を透過することによる減衰量が大きくなり、入射光強度に対する透過光強度の比が大きくなり、排ガスの成分の濃度を高精度で測定することができる。
さらに、本発明に係る排ガス分析方法の好ましい具体的な他の態様としては、前記排ガス分析方法は、前記排気経路中の排ガスの状態として、複数箇所の排ガスの成分の濃度を相対的に測定して分析することを特徴としている。この構成によれば、排気経路中の複数箇所に取り付けたセンサ部により排ガス中の成分ガス(例えば、COガス、COガス等)の濃度を連続的に測定し、排気経路中での排ガスの成分の濃度の状態を検証することができる。特に、排気経路中に触媒装置が設置されている場合は、触媒装置の前後の排ガスの成分の濃度を測定することで、触媒装置の性能や劣化具合を判断することができる。
また、排ガスの状態として、前記排気経路中の排ガスの状態として、複数箇所の排ガス温度を相対的に測定して分析するように構成してもよい。このように構成された排ガス分析方法では、排気経路中の複数箇所に設置されたセンサ部により、連続的に排ガスの温度を測定することができ、内燃機関から排出された高温の排ガスが、排気経路中で低温状態になる過程を相対的に判断することができる。
本発明に係る排ガス分析装置は、内燃機関から排出される排ガスの流通する排気経路中に取り付けられる複数のセンサ部と、これらの複数のセンサ部から出力される信号に基づいて前記排気経路中を流通する排ガス成分の排出過程における成分濃度の変化を分析するための装置であって、前記複数のセンサ部がそれぞれレーザ光を照射する照射部と、該照射部から照射され排ガス中を透過したレーザ光を受光する受光部とを備えており、前記照射部から照射されるレーザ光が、単一光源から各照射部に分波して供給されることを特徴としている。この構成によれば、単一光源から発生させたレーザ光が複数のセンサ部の照射部に分波されて供給されるため、排ガス成分の排出過程における成分濃度の変化を精度良く測定して分析することができる。
本発明の排ガス分析方法および排ガス分析装置は、内燃機関から排出された排ガスの排気経路中の状態、例えば排ガスの成分の濃度や排ガス温度を測定して、リアルタイムで分析することができる。これにより、排気経路に配置され排ガス浄化を行う触媒装置の上流側と下流側で、どの程度浄化することができたか等の状態変化をリアルタイムで分析することができるため、触媒装置等の開発段階における性能評価等が瞬時に判断できる。また、排気経路での排ガスの温度の相対変化も検出することができる。
以下、本発明に係る排ガスの分析方法の一実施形態を図面に基づき詳細に説明する。図1は、本実施形態に係る排ガスの分析方法を実施する排ガス分析装置を車両に搭載した要部構成図、図2は、図1の排ガス分析装置をエンジンベンチに設置した状態の要部構成図、図3は、排ガス分析装置のセンサ部の要部構成を示す分解斜視図、図4は、レーザ発振・受光コントローラの要部構成および信号解析部としてパーソナルコンピュータを含む排ガス分析装置の全体構成を示すブロック図である。
図1において、本実施形態の排ガス分析方法を実施する排ガス分析装置は、自動車1に設置されたエンジン2から排出される排ガスを分析する装置である。また、図2に示すように、エンジンベンチ1Aに設置されたエンジン2の排ガスを分析する装置である。エンジン2の各気筒から排出される排ガスは、エキゾーストマニホルド3で合流され、排気管4を通して第1触媒装置5に導入され、さらに第2触媒装置6に導入され、そのあとマフラー7を通して排気パイプ8から大気中に放出される。排気経路は、エキゾーストマニホルド3、排気管4、第1触媒装置5、第2触媒装置6、マフラー7、排気パイプ8を接合して形成され、エンジン2から排出された排ガスを第1触媒装置5で浄化し、さらに第2触媒装置6で浄化したあと、マフラー7により消音、減圧して大気中に放出する。なお、マフラーはメインマフラーとサブマフラーの2つを有するものでもよい。
排気経路を構成する複数の部材は基本的にはパイプ状の管部材であり、フランジ部同士を対接させてボルト等で接続されている。例えば、第1触媒装置5は大径の本体部の上流、下流側に排気パイプ部が連結され、これらの排気パイプ部の端部にフランジ部F,Fが溶接等により固着されている。また、第2触媒装置6も大径の本体部の上流、下流側に排気パイプ部が連結され、これらの排気パイプ部の端部にフランジ部F,Fが固着されており、フランジ部を接続して排気経路が構成されている。なお、末端の排気パイプ8はマフラー7に直接溶接等により固着されている。
本実施形態の排ガス分析装置10は、前記の排気経路中の複数箇所に取り付けられた複数のセンサ部11〜14を備えて構成される。第1のセンサ部11は第1触媒装置5より上流側のエンジン側の排気管4との間に設置され、第2のセンサ部12は第1触媒装置5の下流側に設置され、第3のセンサ部13は第2触媒装置6の下流側に設置されている。そして、第4のセンサ部14はマフラー7の下流の排気パイプ8に設置されている。センサ部14は排気パイプの途中に設置されても、排気パイプの末端の開口部に挿入して設置するものでもよい。
排気管4や第1触媒装置5、第2触媒装置6、マフラー7は、図3に示すように、フランジ部F,Fをボルト(図示せず)で締め付けることで連結されており、排気経路を構成する部材の間に設置されるセンサ部11,12,13は、フランジ部F,Fで挟まれた状態で設置されている。フランジ部F,Fは、排気経路を構成する部材の両端部に形成され、フランジ部同士の接合面は排気経路の中心線に対して直角に交差している。この結果、センサ部11〜13はフランジ部F,Fに挟まれて排気経路を横切るように設置される。第4のセンサ部14は排ガスが大気中に放出される直前の分析を行うものであり、メインマフラー7から突出する排気パイプ8の中間部にフランジ部F,Fで挟んで設置してもよい。なお、センサ部の設置数は任意に設定すればよい。
排気経路中に取り付けられるセンサ部11〜14はほぼ同一構成であり、1つのセンサ部11について、図3,4を参照して詳細に説明する。センサ部は厚さが例えば5〜20mm程度の板材から形成されたセンサベース21を有し、中心部に排気パイプ部の内径と略同じ直径の貫通孔22が形成されている。貫通孔22は排気経路中を通過する排ガスが通過する。貫通孔22の形状は、排気流れを乱さないように排気パイプ部の内径とほぼ同じ直径の円形が好ましい。板材としては金属板材やセラミック製の板材を用いているが、材質については特に問わない。センサベース21には外周面から貫通孔に向けて貫通する2つのセンサ孔21a,21bが形成されている。一方のセンサ孔21aにはレーザ光を集光するコリメータ23が固定され、このコリメータにレーザ光を照射する光ファイバ24が接続され、他方の孔21bにはレーザ光を受光するフォトダイオード等のディテクタ25が固定されている。
センサベース21の貫通孔22内には、対向して上下2枚の反射板26,27が固定されている。2枚の反射板は平行状態に固定され、照射側の光ファイバ24からコリメータ23を通して集光され出射される赤外レーザ光が先ず下方の反射板27により上方に向けて反射され、次いで上方の反射板26により下方に向けて反射され、2枚の反射板26,27により交互に反射されることで、受光側のディテクタ25に到達するように構成されている。このようにして、レーザ光の排ガス中の透過距離が長くなるように設定されている。
反射板26,27は排ガスにより劣化しないもので形成されることが好ましく、ベースとなる板材に金やプラチナ等の薄膜が形成され、その上に保護層として、MgFやSiOの薄膜が形成されているものが好ましい。また、反射板は、赤外レーザ光を効率良く反射できるように反射率が高いことが望ましい。反射板はエンジンの起動中は排ガスに晒され、汚れが付着するため、必要に応じてフランジ部F,Fからセンサベース21を取外して清掃することが好ましい。反射面を覆う保護層を拭くことにより、付着した汚れを容易に清掃することができ、反射率を向上させることができる。
センサベース21はフランジ部F,Fに挟まれた状態で固定され、フランジ部F,Fとセンサベース21との間にはガスケット28,28が挟まれた状態で図示していないボルト、ナット等により固定される。ガスケット28は石綿等で形成され、排気管の内径と同じ直径の貫通孔が開けられている。この構成により、フランジ部F,Fの間にセンサベース21を挟んで排気経路を接続しても、排ガスが途中で漏れることはなく、排気経路の長さの増加も少ない。図3では、排気管4の下流端に溶接されたフランジ部Fと、第1触媒装置5の上流側の排気パイプ部5aの端部に溶接されたフランジ部Fとの間に、ガスケット28,28を挟んでセンサベース21が固定される構成である。
センサ部11にレーザ光を供給する光ファイバ24と、センサ部11で排ガス中を透過したレーザ光を受光して電気信号を出力するディテクタ25はレーザ発振・受光コントローラ30に接続される。すなわち、レーザ発振・受光コントローラ30の後述するレーザダイオードから出射される赤外レーザ光が、光ファイバ24を通してセンサベース21のセンサ孔21aを通して貫通孔22内に照射され、反射面26,27で反射された赤外レーザ光がセンサ孔21bを通して受光側のディテクタ25で受光され、ディテクタ25から出力される電気信号がケーブル29を介してレーザ発振・受光コントローラ30に入力される構成となっている。
レーザ発振・受光コントローラ30から出射された赤外レーザ光の参照光の発光強度と、排ガス中を透過しディテクタ25で受光された信号光の受光強度が信号解析部であるパーソナルコンピュータ45に供給され、パーソナルコンピュータで排ガスに含まれる成分の濃度や温度を測定して分析する構成となっている。このように、排ガス分析装置10は、複数のセンサ部11〜14と、レーザ発振・受光コントローラ30と、パーソナルコンピュータ45とを備えて構成される。そして、この排ガス分析装置10は、エンジンから排出される排ガスをセンサ部の貫通孔22に導入し、排ガスに光ファイバ24を通してレーザ光を照射し、排ガス中を透過したレーザ光をディテクタ25で受光し、受光されたレーザ光に基づいて排ガスの成分の濃度等を測定して分析する装置である。
ここで、レーザ発振・受光コントローラ30について、図4を参照して説明する。レーザ発振・受光コントローラ30は、複数の波長の赤外レーザ光を発生するレーザ光発生手段として、複数のレーザダイオードLD1〜LD5にファンクションジェネレータ等の信号発生器31から複数の周波数の信号を供給し、レーザダイオードLD1〜LD5は各周波数に対応してそれぞれ複数の波長の赤外レーザ光を発生させる。レーザ発振・受光コントローラ30の信号発生器31から出力される複数の周波数の信号がレーザダイオードLD1〜LD5に供給されてレーザ光を発生し、例えばLD1は波長が1300〜1330nm程度、LD2は1330〜1360nmというように、検出しようとする成分ガスのピーク波長が存在する波長帯が連続するような波長帯の赤外レーザ光を発生させるように設定されている。
排ガス中を透過させる赤外レーザ光の波長は、検出する排ガス成分に合わせて設定され、一酸化炭素(CO)、二酸化炭素(CO)、アンモニア(NH)、メタン(CH)、水(HO)を検出する場合は、5つの波長の赤外レーザ光を使用する。例えば、アンモニアを検出するのに適した波長は1530nmであり、一酸化炭素を検出するのに適した波長は1560nmであり、二酸化炭素を検出するのに適した波長は1570nmである。また、メタンを検出するのに適した波長は1680nmであり、水を検出するのに適した波長は1350nmである。このように、排ガス中を透過させる赤外レーザ光は、複数種類の単波長レーザ光を合波したレーザ光を使用することが好ましい。さらに、他の排ガスの成分の濃度を検出する場合は、排ガス成分の数に合わせて異なる波長の赤外レーザ光を使用する。レーザダイオードLD1〜LD5は、複数種類の波長帯を有する単一のレーザ光発生手段(単一光源)を構成する。
各レーザダイオードLD1〜LD5から照射されたレーザ光は光ファイバ32…により分波器33…を通して、参照光と信号光に分けられる。そして、5つの分波器33…で分けられた信号用レーザ光は途中に光減衰器34を設置した光ファイバ35Aを通して合波器36A,36Bで合波され、光ファイバ24を通してセンサ部11〜14の照射部に導光され、コリメータ23を通して貫通孔22内に照射される。また、5つの分波器33…で分けられた参照用レーザ光は光ファイバ35Bを通して合波器37で合波される。信号用および参照用のレーザ光は、排ガスの複数の成分ガスに合わせて複数の波長のレーザ光を合波した赤外レーザ光となっている。本実施形態では、光ファイバ24がレーザ光を照射する照射部を構成している。このように、単一光源を構成するレーザダイオードLD1〜LD5から発生されたレーザ光は、分波器33…で分波されて複数のセンサ部11〜14の照射部に供給される。
本実施形態では、前記のように分波器33で分波された信号用レーザ光は光減衰器34を通して合波されるように構成されている。この光減衰器34は信号用レーザ光の光強度を制御して排ガス中を透過させる信号用レーザ光の強度を調整する機能を有している。すなわち、排ガス中を透過した透過レーザ光の光強度と参照用レーザ光の光強度とに基づいてフィードバック補正量を算出し、この補正量を光減衰器34に入力して信号用レーザ光の光強度を調整する。光減衰器34は、レーザ光の光路中に透過率を変更できるフィルタを置き、透過光量を変更して光強度を調整するもの、また光路中にミラーを置き、ミラーの反射角度を変更して光強度を調整するもの等、適宜の形態のものを使用できる。なお、光減衰器は分波された参照用レーザ光を調整するように構成してもよく、参照用レーザ光と信号用レーザ光の両方を調整するように構成してもよい。
図4では、図1で示した4つのセンサ部11〜14のうちの2つのセンサ部11,12を示している。すなわち、5つの波長帯の赤外レーザ光を発生させるレーザダイオードLD1〜LD5から出射されるレーザ光は2つの合波器36A,36Bで合波され、2つのセンサ部11,12の照射部に光ファイバ24A,24Bを通して供給される。センサ部が5つ、あるいはそれ以上の場合は、5つか、それ以上の合波器を使用し、それぞれの合波器からセンサ部の照射部に光ファイバ等を用いて信号用レーザ光を供給する。そして、2つのセンサ部11,12から出力される電気信号はケーブル29A,29Bを介してレーザ発振・受光コントローラ30の後述する差分型光検出器40に入力される。
また、参照光用合波器37から光ファイバ38で供給された参照用レーザ光は差分型光検出器40に入力され、フォトダイオード等の光電変換器により電気信号に変換される。差分型光検出器40は、排ガス中を透過した信号用レーザ光の電気信号と参照用レーザ光の電気信号とに基づいて、信号光の光強度を一定にするべくフィードバック補正量を算出し、フィードバック線41を通して信号用合波器36A,36Bの前段に配置された光減衰器34に入力する。
フィードバック補正量は成分ガスごとに算出され、成分ガスのピーク波長を発生させるレーザダイオードの信号光ごとに光減衰器34に供給され、信号光の光強度を調整制御する。また、差分型光検出器40は複数のセンサ部から出力された電気信号を、排ガスの成分の濃度や温度を算出する信号解析部としてのパーソナルコンピュータ45に入力する。なお、参照光は差分型光検出器に直接入力させず、フォトダイオード等を介して電気信号に変換してから入力してもよい。
光減衰器34では、供給されたフィードバック補正量に基づきレーザダイオードから発生されたレーザ光を減衰させて、レーザ光の光強度が一定となるように、レーザダイオードLD1〜LD5を制御する。差分型光検出器40で算出された信号光と参照光の差分に相当する電気信号は、例えば図示していないプリアンプで増幅され、A/D変換器を介して信号解析部であるパーソナルコンピュータ45に入力され、パーソナルコンピュータでは差分型光検出器からのデータを濃度値へ変換して排ガスの成分の濃度の算出や、排ガスの温度を算出する。
なお、センサ部11〜14の受光部としてセンサベース21に固定されたディテクタ25の代わりに、受光用の光ファイバをセンサベース21に固定し、受光されたレーザ光を分波器でガス成分ごとに分波して、フォトダイオード等でガス成分ごとの出力電圧を検出し、参照光と信号光とからパーソナルコンピュータ45で排ガスの成分の濃度を算出するように構成してもよい。
本発明の排ガス分析装置10は、例えば赤外レーザ光を排ガス中に透過させ、入射光の強度と排ガス中を透過したあとの透過光の強度に基づいて排ガスの成分の濃度を算出し、排ガスを分析するものである。すなわち、排ガスの成分の濃度Cは、以下の数式(1)から算出される。
C=−ln(I/I)/kL…(1)
この数式(1)において、Iは透過光強度、Iは入射光強度、kは吸収率、Lは透過距離である。したがって、入射光強度(I)に対する透過光強度(I)の比、シグナル強度(I/I)に基づいて排ガスの成分の濃度Cは算出される。透過光強度Iは、光ファイバ24を通して排ガス中を透過してディテクタ25から出力され、入射光強度Iは、合波器37から光ファイバ38を通して差分型光検出器40に入力され、図示していないフォトダイオード等から出力される。本実施形態では入射光強度Iとして、排ガス中を透過しない信号光強度を用いている。
前記の如く構成された本実施形態の排ガスの分析方法について以下に説明する。排ガスの成分の濃度等を測定して排ガスを分析するときは、レーザ発振・受光コントローラ30の信号発生器31を作動させ、各レーザダイオードLD1〜LD5に所定周波数帯の駆動パルスを供給して、各レーザダイオードLD1〜LD5から所定の波長の赤外レーザ光を発生させる。各レーザダイオードLD1〜LD5から発生された赤外レーザ光は、光ファイバ32…を通して分波器33…に至り、ここで信号光と参照光に分波される。各分波器で分波された信号光は光減衰器34、光ファイバ35Aを通して合波器36A,36Bで合波されて信号用レーザ光となり、センサ部11〜14の照射部に光ファイバ24を通して導光される。また、各分波器33…で分波された参照光は光ファイバ35Bを通して合波器37で合波されて参照用レーザ光となり、差分型光検出器40で入射光強度Iとして計測される。
そして、センサ部11〜14に光ファイバ24から照射された信号用レーザ光は、排ガスが通過している貫通孔22内に照射される。信号用レーザ光は反射面26,27で反射されることを繰り返して受光部のディテクタ25に到達する。排ガス中を通り減衰した信号用レーザ光は受光部であるディテクタ25で透過光強度Iとして受光され、電気信号に変換されて差分型光検出器40に入力される。信号用レーザ光は反射を繰り返されることにより排ガス中を透過する距離が大きくなり、前記数式(1)の透過距離Lが長くなることで減衰量が大きくなるため、精度の良い瞬時の排ガスの成分の濃度測定が可能となる。このように参照用レーザ光の光強度Iと、信号用レーザ光の透過光強度Iとの比(I/I)であるシグナル強度を算出し、このシグナル強度比に基づいて排ガスの成分の濃度を算出する。信号用レーザ光は反射面26,27で繰り返し反射され減衰するが、排ガスが無い状態で光ファイバ24から照射された光強度に対して、ディテクタ25で受光される光強度は30%以上となることが好ましい。30%を下回るとノイズとの判別が難しくなるからである。
差分型光検出器40では、排ガス中を透過して減衰した信号用レーザ光からフィードバック補正量を算出して、各波長に対応するレーザダイオードLD1〜LD5の光強度を調整するべく光減衰器34をフィードバック制御する。光減衰器34はレーザダイオードごとに光強度を調整し、信号用レーザ光の校正を行う。例えば、外乱により信号光強度が低下した場合、自動的に検出して減衰率を下げることで光強度を上げ、初期状態と同等なバランスを保つことができる。なお。参照光はレーザ光の発生から受光までに外乱要素がなく、レーザ出力が変化しない限り参照光強度は変化しないので、信号光強度を光減衰器で調整し、バランスをとることが好ましい。
また、差分型光検出器40では参照用レーザ光と信号用レーザ光との差を取り、信号解析を行うべくパーソナルコンピュータ45に信号を供給する。パーソナルコンピュータ45では、参照用レーザ光の光強度と、排ガス中を透過して減衰した信号用レーザ光のピーク波長の光強度との比(I/I)を算出し、センサ部が設置された排気経路中の位置における排ガス中に含まれる成分の濃度を算出する。また、複数箇所に設置されたセンサ部11〜14により排気経路中の排ガスの成分の濃度の相対変化も分析できる。
本実施形態では、排気経路中に複数のセンサ部11〜14が取り付けられており、各センサ部の位置における排ガスの成分の濃度と温度等の状態が測定される。このため、エキゾーストマニホルド3の下流部分での成分ガスの濃度と温度や、第1触媒装置5の上流側および下流側での排ガスの成分の濃度や温度を測定できる。例えば、触媒装置5,6を通過したあとの温度と排ガスの成分の濃度と、触媒装置5,6で処理される前の温度と排ガスの成分の濃度により、触媒装置5,6の性能を評価できると共に、触媒装置の例えば経年変化による劣化等も検出することができる。特に、複数のレーザダイオードLD1〜LD5から構成される単一のレーザ光発生手段から発生させたレーザ光を分波して、複数のセンサ部11〜14の照射部に供給して成分ガス濃度や温度を測定するため、各センサ部におけるガス濃度等を相対的に精度良く測定することができ、精度良い分析が可能となる。
つぎに、本実施形態の排ガス分析装置を用いて温度の測定を行なう動作を説明する。気体は、それぞれ固有の吸収波長帯を持っており、その吸収波長帯には、例えば図5に示すように、多くの吸収線が存在している。図5aは低温のときのシグナル強度(=分子数割合)を示しており、図5bは高温のときのシグナル強度を示している。このように、シグナル強度は温度に依存して変化するため、シグナル強度比を計測することにより、測定時の排ガスの温度を算出することができる。なお、図5の横軸は波長λを示し、縦軸はシグナル強度を示している。このようにして算出した排ガスの温度も、排ガスに照射される赤外レーザ光が安定しているため、精度の良い測定が可能となる。
本発明の排ガスの分析方法では、第1のセンサ部11で排ガスの成分の濃度と温度を測定し、第2のセンサ部12でも排ガスの成分の濃度と温度を測定し、同様にして、第3〜第4のセンサ部13,14でも排ガスの成分の濃度と温度を測定する。この結果、排ガスの成分の濃度が第1〜第4のセンサ部で相対的に変化する状態が容易に判断できる。また、温度も第1〜第4のセンサ部で、それぞれの箇所での温度を測定して、排気経路中でどのように変化するかを容易に判断することができる。このように、本実施形態では4箇所に設置されたセンサ部11〜14により、4つの測定箇所での排ガスの成分の濃度の相対値、および温度の相対値を容易に検出できる。
すなわち、第1のセンサ部11では、排ガスのある成分の濃度が例えば(C1)PPMで、温度が(T1)℃であり、第2のセンサ部12では、排ガスのある成分の濃度が(C2)PPMで、温度が(T2)℃であり、第3のセンサ部13では、排ガスのある成分の濃度が(C3)PPMで、温度が(T3)℃であり、第4のセンサ部14では、排ガスのある成分の濃度が(C4)PPMで、温度が(T4)℃であるというように、各センサ部の排ガスの成分の濃度と温度が算出される。
これらの値からパーソナルコンピュータ45は、例えば、排ガスの成分の濃度は第1のセンサ部11の箇所で100%(基準値)とした場合に、第1触媒装置5を通過したあとは例えば約60%に低減し、第2触媒装置6を通過したあとは例えば約10%に低減するというように相対値を算出する。また、排ガスの状態の1つである温度については、第1のセンサ部11での温度が例えば700℃であるとした場合、第2のセンサ部12での温度は50%低減して約350℃となり、第3のセンサ部13で80%低減して約140℃となり、第4のセンサ部14では95%低減して約35℃となるというように相対値で評価することができる。なお、複数のセンサ部のうち基準とするセンサ部は最上流側のものが好ましいが、他のセンサ部を基準としても構わない。このようにして算出された排ガスの状態を示す相対値は、レーザダイオードLD1〜LD5から発生される赤外レーザ光を合波したレーザ光発生手段から供給されるレーザ光により測定されるため、測定精度が高く、排ガスの状態を高精度で検出できる。
以上述べたように、本発明の排ガス分析方法および排ガス分析装置は、複数のレーザダイオードから信号用レーザ光を合波し、合波された単一のレーザ光を用いて複数のセンサ部へ信号用レーザ光を供給すると共に、参照用レーザ光を差分型光検出器40へ供給するため、同じ位相、波長のレーザ光を用いて複数箇所で排ガスの成分の濃度や温度を測定でき、精度の良い相対的な排ガスの成分の濃度や温度を測定することができ、排ガス分析精度を向上させることができる。これにより、排気経路全体の排ガスの状態が相対的に分析でき、排ガスの低減や触媒装置の評価等を瞬時に判断することができる。
以上、本発明の一実施形態について詳述したが、本発明は、前記の実施形態に限定されるものではなく、特許請求の範囲に記載された本発明の精神を逸脱しない範囲で、種々の設計変更を行うことができるものである。例えば、排ガスの成分ガスとして、窒素酸化物(NOx)の測定を行うこともできる。この場合は、排ガス中を透過させる赤外レーザ光として、NOxに適した波長(例えば1800nm)を用いることは勿論である。また、照射部から照射されるレーザ光は赤外レーザ光に限られず、可視レーザ光や紫外レーザ光でもよい。
センサ部のセンサベースに光ファイバを介してレーザ光の照射部を取り付け、センサベースにフォトダイオードを固定して受光部とする例を示したが、センサベースに直接レーザダイオード等の照射部を装着してレーザ光の照射部としてもよい。また、センサベースに直接受光部であるディテクタを固定せず、光ファイバを固定してディテクタまで導光するように構成してもよい。光減衰器は信号用レーザ光側でなく、参照用レーザ光側に設置してもよい。
また、反射面として、金やプラチナの薄膜を形成する例を示したが、酸化チタン等の薄膜を形成してもよく、耐熱性に優れ、鏡面加工できるものであれば材質は特定されない。反射面はミラー等の反射板を使用せず、排ガスが流れる貫通孔の内面に直接形成してもよい。この場合は、貫通穴の内周面を研磨してから、めっきや蒸着等の手法により反射面を形成すればよい。反射面はミラー等を使用せず、貫通孔の内周面を研磨して金やプラチナの薄膜を形成してもよく、その上に保護層として、MgFやSiOの薄膜を形成してもよい。これにより反射面の構成を簡略化することができる。
前記の実施形態ではセンサ部をエキゾーストマニホルドの下流側に設置した構成を示したが、エキゾーストマニホルドとエンジンのシリンダブロックとの間に設置してもよい。このように構成すると、エンジンの気筒ごとの排ガスの成分の濃度や温度を測定することができ、例えばエンジンの不調等の原因を気筒ごとに判断することができる。特に、本発明の排ガス分析装置は、基準ガス等を使用せずに、レーザ光の透過を用いて排ガスの成分の濃度を検出するため、高温でも測定できる特徴があり、エンジンから排出した直後の800℃程度の高温の排ガスの成分の濃度の測定も精度良く行なうことができる。
本発明の活用例として、この排ガス分析装置を用いてボイラー等の燃焼装置の排ガス分析を行うことができ、自動車の排ガス分析の他に船舶等で使用する内燃機関の排ガス分析の用途にも適用できる。
本発明に係る排ガスの分析方法を実施する排ガス分析装置を車両に搭載した一実施形態の要部構成図。 図1の排ガス分析装置をエンジンベンチに搭載した実施形態の要部構成図。 センサ部の要部構成を示す分解斜視図。 レーザ発振・受光コントローラの要部構成および信号解析部を含む排ガス分析装置の全体構成を示すブロック図。 吸収スペクトルの温度の影響を示し、(a)は低温のときのシグナル強度の説明図、(b)は高温のときのシグナル強度の説明図。
符号の説明
1:自動車、1A:エンジンベンチ、2:エンジン(内燃機関)、3:エキゾーストマニホルド(排気経路)、4:排気管(排気経路)、5:第1触媒装置(排気経路)、6:第2触媒装置(排気経路)、7:マフラー(排気経路)、8:排気パイプ(排気経路)、10:排ガス分析装置、11〜14:センサ部、24A,24B…:光ファイバ(照射部)、25:ディテクタ(受光部)、26,27:反射板、29,29A,29B…:ケーブル、30:レーザ発振・受光コントローラ、31:信号発生器、33:分波器、34:光減衰器、36A,36B…,37:合波器、40:差分型光検出器、41:フィードバック線、45:パーソナルコンピュータ(信号解析部)、LD1〜LD5:レーザダイオード(レーザ光発生手段)

Claims (1)

  1. 内燃機関から排出される排ガスの流通する排気経路中にレーザ光を照射し、排ガスを透過したレーザ光に基づいて、前記排ガスを分析する排ガス分析装置であって、
    前記排ガスの成分に合わせた吸収波長を有する複数のレーザ光を発生させるレーザ光発生部と、
    該レーザ光発生部で発生させた複数のレーザ光をそれぞれ信号用レーザ光と参照用レーザ光に分波する分波部と、
    該分波部で分波された各信号用レーザ光を単一の信号用レーザ光に合波する信号用合波部と、
    前記分波部で分波された各参照用レーザ光を単一の参照用レーザ光に合波する参照用合波部と、
    前記排気経路の複数箇所に配置され、前記信号用合波部から前記単一の信号用レーザ光の分配を受けて該単一の信号用レーザ光を前記排気経路中に照射する照射部及び前記排気経路中を通過したレーザ光を受光する受光部をそれぞれ有する複数のセンサ部と、
    前記複数のセンサ部の出力に基づいて、前記排気経路中の複数箇所における排ガスの濃度成分を、前記複数箇所のうちの1箇所を基準として相対的に検出する信号解析部と、
    前記分波部と前記信号用合波部との間に設けられ、前記分波部で分波された各信号用レーザ光の光強度を調整する減衰部と、
    該減衰部で前記各信号用レーザ光の光強度をそれぞれ一定に調整すべく、前記参照用合波部で合波した単一の参照用レーザ光の光強度と前記センサ部で受光したレーザ光の光強度に基づいて前記減衰部をフィードバック制御するフィードバック制御部と、
    を有することを特徴とする排ガス分析装置。
JP2005159152A 2005-05-31 2005-05-31 排ガス分析装置 Expired - Fee Related JP4490333B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005159152A JP4490333B2 (ja) 2005-05-31 2005-05-31 排ガス分析装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2005159152A JP4490333B2 (ja) 2005-05-31 2005-05-31 排ガス分析装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006337068A JP2006337068A (ja) 2006-12-14
JP4490333B2 true JP4490333B2 (ja) 2010-06-23

Family

ID=37557761

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2005159152A Expired - Fee Related JP4490333B2 (ja) 2005-05-31 2005-05-31 排ガス分析装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4490333B2 (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4713227B2 (ja) * 2005-06-06 2011-06-29 トヨタ自動車株式会社 排ガス分析装置および排ガス分析方法
CN104568829B (zh) 2013-10-14 2017-04-19 北京信息科技大学 采用参考腔主动反馈补偿的光纤激光器气体检测系统
KR101736107B1 (ko) * 2015-08-05 2017-05-16 길마기술 주식회사 대기 중 가스를 검출하는 차등 흡수 분광법을 위한 방향성 제어장치

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62280638A (ja) * 1986-05-30 1987-12-05 Showa Denko Kk ガス濃度検出セル
JPH02280032A (ja) * 1989-04-20 1990-11-16 Agency Of Ind Science & Technol 排気煙処理装置の連続評価装置
JP2000074830A (ja) * 1998-08-28 2000-03-14 Horiba Ltd 半導体レーザ分光法を用いた温度・濃度・化学種の高速計測方法および計測システム
JP2001066250A (ja) * 1999-08-30 2001-03-16 Toyota Central Res & Dev Lab Inc ガス検出装置
JP2002257714A (ja) * 2001-03-01 2002-09-11 Mitsubishi Heavy Ind Ltd レーザ計測方法及びレーザ計測システム

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62280638A (ja) * 1986-05-30 1987-12-05 Showa Denko Kk ガス濃度検出セル
JPH02280032A (ja) * 1989-04-20 1990-11-16 Agency Of Ind Science & Technol 排気煙処理装置の連続評価装置
JP2000074830A (ja) * 1998-08-28 2000-03-14 Horiba Ltd 半導体レーザ分光法を用いた温度・濃度・化学種の高速計測方法および計測システム
JP2001066250A (ja) * 1999-08-30 2001-03-16 Toyota Central Res & Dev Lab Inc ガス検出装置
JP2002257714A (ja) * 2001-03-01 2002-09-11 Mitsubishi Heavy Ind Ltd レーザ計測方法及びレーザ計測システム

Also Published As

Publication number Publication date
JP2006337068A (ja) 2006-12-14

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4199766B2 (ja) 排ガス分析方法および排ガス分析装置
JP4673887B2 (ja) 排ガス分析装置
JP4713227B2 (ja) 排ガス分析装置および排ガス分析方法
JP4732277B2 (ja) ガス分析装置及びガス分析方法
JP4227991B2 (ja) 排ガス分析装置および排ガス分析方法
JP4781039B2 (ja) ガス分析装置
JP4485345B2 (ja) 排気ガス分析装置
JP2009243968A (ja) 排ガス分析装置および排ガス分析方法
JP2006343293A (ja) 排ガス分析装置
JP2013061358A (ja) 排ガス分析装置および排ガス分析方法
JP4490333B2 (ja) 排ガス分析装置
JP5038923B2 (ja) 排ガス分析装置
JP4842582B2 (ja) ガス分析装置
WO2007119872A1 (ja) 排ガス分析装置
JP2009243954A (ja) 排ガス分析装置および排ガス分析方法

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20071001

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20091218

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100105

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100304

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100323

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100401

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130409

Year of fee payment: 3

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 4490333

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130409

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130409

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140409

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313117

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees