JP4485985B2 - Dielectric property measuring method and conductivity measuring method - Google Patents
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Description
本発明は、特にミリ波領域で電子部品又は回路基板として使用する誘電体材料の比誘電率または誘電正接を測定するための誘電特性測定方法および導体材料の導電率を測定するための導電率測定方法に関する。 The present invention relates to a dielectric property measuring method for measuring a dielectric constant or dielectric loss tangent of a dielectric material used as an electronic component or a circuit board, particularly in the millimeter wave region, and a conductivity measurement for measuring the conductivity of a conductor material. Regarding the method.
回路基板や半導体素子用パッケージに用いられるマイクロストリップライン、ストリップラインやコプレーナライン等のインピーダンスおよび伝送損失の計算のために、これらに用いられる誘電体基板の比誘電率や誘電正接を測定することは重要である。近年、車載用レーダやミリ波無線LANの開発が行われてきており、これらの回路設計のために、ミリ波領域における基板の比誘電率や誘電正接の測定値が必要となってきた。 To calculate impedance and transmission loss of microstrip lines, strip lines, coplanar lines, etc. used for circuit boards and semiconductor device packages, it is not possible to measure the dielectric constant and dielectric loss tangent of dielectric substrates used for these. is important. In recent years, in-vehicle radars and millimeter-wave wireless LANs have been developed, and measurement values of the relative permittivity and dielectric loss tangent of the substrate in the millimeter-wave region have become necessary for designing these circuits.
一般に、基板材料の比誘電率や誘電正接を求めるには、平板状誘電体試料が用いられる。そして、その誘電特性測定方法としては、図5に示すような形状の空洞共振器を用いた測定方法がJIS規格として規定されている(非特許文献1参照)。この測定方法では、空洞共振器に2箇所の孔を開け、それぞれの孔から同軸ケーブル71の先端に設けられた微小ループアンテナ72を挿入することにより、空洞共振器の励振および検波がなされる。そして、この空洞共振器の共振周波数および無負荷Qが測定され、平板状誘電体試料8の誘電特性が求められる。
しかしながら、ミリ波において使用する微小ループアンテナは、ループ径が小さく、その作製には特殊な加工が必要となるため、非常に高価なものとなっている。また、その構造は、先端の芯線を細めた上で外側導体に溶接で接合した構造であり、衝撃に対して非常に壊れやすく、デリケートな取り扱いが要求される。さらに、微小ループアンテナによる励振方法は、ループ面の角度により、モードを選択できる特性があるが、完全には不要モードを抑制できないため、測定に用いるモードに対して妨害となるケースが生じていた。 However, a micro loop antenna used in millimeter waves has a small loop diameter and requires special processing for its production, and is therefore very expensive. Further, the structure is a structure in which the core wire at the tip is narrowed and joined to the outer conductor by welding, and is very fragile against an impact and requires delicate handling. Furthermore, although the excitation method using a small loop antenna has a characteristic that a mode can be selected depending on the angle of the loop surface, an unnecessary mode cannot be completely suppressed, resulting in an obstacle to the mode used for measurement. .
本発明は、ミリ波帯において容易に取り扱うことができるとともに、従来よりも不要モードを抑制することができる誘電特性測定方法および導電率測定方法を提供することを目的とする。 It is an object of the present invention to provide a dielectric property measuring method and a conductivity measuring method that can be easily handled in the millimeter wave band and can suppress unnecessary modes as compared with the prior art.
本発明は、上側および下側平板状導体の間に一対の誘電体ストリップを先端同士が近接するように挟持して入力側および出力側NRDガイドを構成し、前記上側平板状導体に対して前記入力側および出力側NRDガイドの前記誘電体ストリップの先端上にそれぞれ入力側および出力側スロットを形成するとともに、前記一対の誘電体ストリップの先端間で、前記入力側および出力側スロットからそれぞれ前記誘電体ストリップの延長方向に等距離の位置に、前記上側および下側平板状導体にわたるように導体からなる遮断壁を設け、前記上側平板状導体に平行に前記入力側および出力側スロットを覆うように導体板を配置するとともに、該導体板および前記上側平板状導体の間に誘電体試料を配置して、前記入力側および出力側スロット間で共振器を構成し、該共振器のTEモードを励振させて前記共振器の共振周波数および無負荷Qを測定し、前記共振周波数および前記無負荷Qから前記誘電体試料の誘電特性を求めることを特徴とする誘電特性測定方法である。 According to the present invention, an input side and an output side NRD guide are configured by sandwiching a pair of dielectric strips between the upper and lower flat conductors so that the tips are close to each other. Input-side and output-side slots are respectively formed on the tips of the dielectric strips of the input-side and output-side NRD guides, and the dielectrics are respectively provided from the input-side and output-side slots between the tips of the pair of dielectric strips. A blocking wall made of a conductor is provided at a position equidistant in the extending direction of the body strip so as to extend over the upper and lower flat conductors, and covers the input side and output slots in parallel to the upper flat conductor. A conductor plate is disposed, and a dielectric sample is disposed between the conductor plate and the upper flat conductor so that the input side and the output side slots are between Configuring a resonator, exciting the TE mode of the resonator, measuring the resonance frequency and no-load Q of the resonator, and obtaining the dielectric characteristics of the dielectric sample from the resonance frequency and the no-load Q This is a characteristic dielectric property measuring method.
ここで、前記上側平板状導体と前記導体板との間で空洞共振器を構成するのが好ましい。 Here, it is preferable to form a cavity resonator between the upper flat conductor and the conductor plate.
また本発明は、上側および下側平板状導体の間に一対の誘電体ストリップを先端同士が近接するように挟持して入力側および出力側NRDガイドを構成し、前記上側平板状導体に対して前記入力側および出力側NRDガイドの前記誘電体ストリップの先端上にそれぞれ入力側および出力側スロットを形成するとともに、前記一対の誘電体ストリップの先端間で、前記入力側および出力側スロットからそれぞれ前記誘電体ストリップの延長方向に等距離の位置に、前記上側および下側平板状導体にわたるように導体からなる遮断壁を設け、前記上側平板状導体に平行に前記入力側および出力側スロットを覆うように導体板を配置して、前記入力側および出力側スロット間で共振器を構成し、該共振器のTEモードを励振させて前記共振器の共振周波数および無負荷Qを測定し、前記共振周波数および前記無負荷Qから前記導体板の導電率を求めることを特徴とする導電率測定方法である。 In the present invention, a pair of dielectric strips are sandwiched between the upper and lower flat conductors so that the tips are close to each other to form an input side and output side NRD guide. The input side and output side slots are formed on the leading ends of the dielectric strips of the input side and output side NRD guides, respectively, and between the leading ends of the pair of dielectric strips, from the input side and output side slots, respectively. A barrier wall made of a conductor is provided at an equidistant position in the extension direction of the dielectric strip so as to extend over the upper and lower flat conductors, and covers the input and output slots in parallel to the upper flat conductor. A conductive plate is disposed on the input side and a slot is formed between the input side and output side slots, and the TE mode of the resonator is excited to resonate the resonator. Measuring the wavenumber and unloaded Q, a conductivity measuring method characterized by determining the conductivity of the conductor plate from the resonant frequency and the unloaded Q.
ここで、前記上側平板状導体と前記導体板との間で空洞共振器を構成するのが好ましい。 Here, it is preferable to form a cavity resonator between the upper flat conductor and the conductor plate.
本発明の誘電特性測定方法および導電率測定方法によれば、ミリ波帯において容易に取り扱うことができるとともに、従来よりも不要モードを抑制して、共振器の比誘電率、誘電正接、導電率等を測定することができる。 According to the dielectric property measurement method and the conductivity measurement method of the present invention, it can be easily handled in the millimeter wave band, and the unnecessary mode is suppressed as compared with the conventional method, and the relative permittivity, dielectric loss tangent, conductivity of the resonator. Etc. can be measured.
本発明の実施形態について、図面に基づいて説明する。
本発明は、図1に示すように、上側平板状導体1および下側平板状導体2の間に一対の誘電体ストリップ31、41を先端同士が近接するように挟持して入力側NRDガイド3および出力側NRDガイド4を構成し、上側平板状導体1に対して入力側NRDガイド3および出力側NRDガイド4の誘電体ストリップ31、41の先端上にそれぞれ入力側スロット11および出力側スロット12を形成するとともに、一対の誘電体ストリップ31、41の先端間で、入力側スロット11および出力側スロット12からそれぞれ誘電体ストリップ31、41の延長方向に等距離の位置に、上側平板状導体1および下側平板状導体2にわたるように導体からなる遮断壁4を設け、上側平板状導体1に平行に入力側スロット11および出力側スロット12を覆うように導体板61を配置するとともに、導体板61および上側平板状導体1の間に誘電体試料62を配置して、入力側スロット11および出力側スロット間で共振器6を構成し、共振器6のTEモードを励振させて共振器6の共振周波数および無負荷Qを測定して、誘電体試料62の誘電特性を求めることを特徴とする誘電特性測定方法である。
Embodiments of the present invention will be described with reference to the drawings.
In the present invention, as shown in FIG. 1, a pair of
入力側NRDガイド3は、上側平板状導体1の一部と下側平板状導体2の一部と誘電体ストリップ31とから構成されるものである。また、出力側NRDガイド4は、上側平板状導体1の一部と下側平板状導体2の一部と誘電体ストリップ41とから構成されるものである。ここで、NRDガイドとは非放射性誘電体線路のことをいうものである。
The input-
上側平板状導体1と下側平板状導体2は、銅や銀などの導電率の高い材料からなり、容易に撓まない程度の厚みを有するものである。また、上から見たときの上側平板状導体1および下側平板状導体2の面積については、例えば、縦の長さL1が30〜90mm、横の長さL2が50〜110mmのものが採用される。そして、上側平板状導体1と下側平板状導体2の間隔は、後述の誘電体ストリップ中の波長をλgとすると1/2λg以下であって、通常1〜3mmに固定される。
The upper
誘電体ストリップ(誘電体線路)31と誘電体ストリップ(誘電体線路)41は、上側平板状導体1および前記下側平板状導体2の間にこれらに挟持されるように、先端同士を近接させて配置されている。これらは、低損失な誘電体材料、例えばレクソライト(登録商標)からなっている。誘電体ストリップ31および誘電体ストリップ41の高さは上述の上側平板状導体1と下側平板状導体2の間隔と同じ通常1〜3mmであり、幅もまた通常1〜3mmであり、誘電体ストリップ31、41の上側平板状導体1と下側平板状導体2の間に挟持される部分の長さL3は20〜55mmである。
The dielectric strip (dielectric line) 31 and the dielectric strip (dielectric line) 41 have their tips close to each other so as to be sandwiched between the upper
上側平板状導体1における入力側NRDガイド3の誘電体ストリップ31上には、入力側スロット11が形成されており、上側平板状導体1における出力側NRDガイド4の誘電体ストリップ41上には、出力側スロット12が形成されている。ここで、入力側スロット11および出力側スロット12は、矩形あるいはその角がRに形成された孔が好ましく採用され、その大きさは、電界成分を通過させず、磁界成分だけを通過させるような大きさ、言い換えると、共振器と磁界結合させるために、なるべく電界が入り込まないような大きさであるのが好ましく、誘電体ストリップ31、41の長手方向に沿う辺の長さが誘電体ストリップ中の波長をλgとすると1/8λg〜1/2λgであるのが好ましく、誘電体ストリップ31、41の幅方向に沿う辺の長さが誘電体ストリップ31、41の幅をwとすると0.05w〜wであるのが好ましい。
An
そして、入力側NRDガイド3の誘電体ストリップ31と出力側NRDガイド4の誘電体ストリップ41との先端間を遮断するように、上側平板状導体1および下側平板状導体2にわたるように導体からなる遮断壁5が設けられている。この遮断壁5は、上側平板状導体1および下側平板状導体2と同様に、銅や銀などの導電率の高い材料からなるものである。この遮断壁5が設けられる位置は、入力側スロット11および出力側スロット12からそれぞれ誘電体ストリップ31、41の延長方向に等距離となるような位置、言い換えると、入力側スロット11から誘電体ストリップ31の長手方向に沿って遮断壁5に到達するまでの距離と、出力側スロット12から誘電体ストリップ41の長手方向に沿って遮断壁5に到達するまでの距離がほぼ等しい位置である。このとき、入力側スロット11および出力側スロット12の中心位置と遮断壁5との距離は、λg/4の距離のとき磁界最大位置となり、磁界結合にとり都合がよい。なお、結合の微調整は、誘電体ストリップ31、41と遮断壁5との距離を離したり近づけたりして行われる。
Then, from the conductor so as to cover the upper plate-
ここで、一対のスロットを入力側スロット11と出力側スロット12と名付けたように、上側平板状導体1の一部(入力側スロット11および出力側スロット12を含み、後述の導体板61に対向する領域)が共振器6を構成する、言い換えると、入力側スロット11および出力側スロット間で共振器6が構成されるようになっており、磁界結合により、この共振器6に入力側スロット11から入力されて共振器6が励振され、出力側スロット12から出力されて検波が行われる。そして、この共振器6を構成する上側平板状導体1の一部(入力側スロット11および出力側スロット12を含み、後述の導体板61に対向する領域)におけるさらに一部(誘電体ストリップ31、41上の領域)は、入力側NRDガイド3の一部および出力側NRDガイド4の一部にもなっており、共振器6と入力側NRDガイド3、共振器6と出力側NRDガイド4として共有されるようになっている。
Here, as the pair of slots are named as the
この共振器6は、上側平板状導体1に平行に入力側スロット11および出力側スロット12を覆うように配置された導体板61を含むものである。導体板61は、上側平板状導体1および下側平板状導体2と同様に、銅や銀などの導電率の高い材料からなり、容易に撓まない程度の厚みを有するものである。また、導体板61の上から見た面積は、入力側スロット11および出力側スロット12を覆うようなものであれば限定はないが、図に示す程度の大きさが好ましい。
The resonator 6 includes a
そして、図1に示すように、導体板61および上側平板状導体1の間には、誘電体試料として平板状誘電体試料62が配置されている。具体的には、上側平板状導体1の上に導体壁63が設けられ、この導体壁63の上に平板状誘電体試料62が載置され、さらに平板状誘電体試料62の上に導体板61が載置されて、箱形の空洞共振器が構成されている。この空洞共振器の高さは、測定周波数により異なるが、例えば測定周波数が60GHzでは3〜5mmであるのが好ましく、また空洞共振器の径は、空洞共振器の内部空間が少なくとも入力側スロット11および出力側スロット12を収容し、図に示す程度で大きすぎるものでなければよい。なお、この空洞共振器は導体壁63により密閉された内部空間を有する箱型のものであり、導体壁63の上に平板状誘電体試料62および導体板61を載置するだけの構成であるから容易に共振器を作製できる利点があるが、このような形状に限定されず、電磁界が放射されないような構造であれば多少間隙があってもよい。また、図1においては、導体壁63の上に平板状誘電体試料62を配置した構成であるが、導体壁63の下に平板状誘電体試料62を配置してもよい。さらに、図1においては、上側平板状導体1の上に導体壁63を立設させて、箱型の空洞共振器が構成されているが、上側平板状導体と同様のスロットを底面に有する箱型の空洞共振器を上側平板状導体1の上に載置するようにしてもよい。またさらに、平板状誘電体試料を用いるのではなく、空洞共振器内に円柱状誘電体試料を配置するようにしてもよい。
As shown in FIG. 1, a
このような共振器6のTEモードを励振させて共振器6の共振周波数および無負荷Qを測定し、共振周波数および無負荷Qから比誘電率、誘電正接などの誘電特性を求めるものである。 The TE mode of the resonator 6 is excited to measure the resonance frequency and no-load Q of the resonator 6, and the dielectric characteristics such as relative permittivity and dielectric loss tangent are obtained from the resonance frequency and no-load Q.
本測定方法では、入力側NRDガイド3および出力側NRDガイド4を構成する上側平板状導体1に入力側スロット11および出力側スロット12を設け、共振器6を励振していることが特徴である。NRDガイドを使用する最大の利点は、導波管(図示しないがNRDガイドに接続されている)から容易に変換でき、実現が容易なことである。また、遮断壁5により線路同士の直接結合がほとんどないため、ノイズレベルまでダイナミックレンジを下げることができる。さらに、従来の微小ループアンテナを用いた測定方法よりも他の不要モードの抑制が可能であり、測定する共振ピークのみを励振できる利点もある。
This measurement method is characterized in that an
また、誘電体ストリップ31、41の配置は必ずしも図1のように直線的な配置である必要はなく、例えば図2に示すように、不要モードの抑制のために直線から所定の角度ずれていてもよく、この角度は測定できる角度であれば特に限定されない。例えば、抑制したいモードがTM310の場合、角度は直線的な配置から30度またはマイナス30度にずらした位置が採用される。
Further, the arrangement of the
さらに、本発明は、図1に示すような平板状誘電体試料62の測定に限らず、図3に示すように、導体板61および上側平板状導体1の間に誘電体試料として円柱状誘電体試料64を配置して、この円柱状誘電体試料64の誘電特性を測定することもできる。
Further, the present invention is not limited to the measurement of the
図3に示す構造の共振器では、導体板61と上側平板状導体1とで円柱状誘電体試料64を挟持するようにして、共振器を構成したものである。ここで、円柱状誘電体試料64は入力側スロット11および出力側スロット12の間の略中央に配置されるのが好ましい。また、円柱状誘電体試料64の径および高さは、測定周波数を規定し、比誘電率の概略値と測定モードを指定すると、所定の算術式(非特許文献1参照)により設計できる。
In the resonator having the structure shown in FIG. 3, the resonator is configured such that the cylindrical dielectric sample 64 is sandwiched between the
なお、図3において円柱状誘電体試料64の上面と導体板61の下面は接触しているが、これらの間には多少の間隙があってもよい。
In FIG. 3, the upper surface of the cylindrical dielectric sample 64 and the lower surface of the
この図3に示す構造の共振器を用いた誘電特性の測定方法においても、図1に示す構造の共振器を用いた測定方法と同様に、入力側スロット11および出力側スロット12を用いた磁界結合により、上側平板状導体1、導体板61および円柱状誘電体試料64で構成された共振器の励振および検波が行われ、この共振器の共振周波数および無負荷Qをネットワークアナライザで測定し、円柱状誘電体試料64の誘電特性(比誘電率、誘電正接)を求めることができる。
In the dielectric property measurement method using the resonator having the structure shown in FIG. 3, the magnetic field using the
またさらに、本発明における共振器を用いた構造は、図1乃至図3にしめすような誘電体試料の誘電特性を測定する他、共振器を構成する導体板61の導電率を測定する方法にも採用できることを見出した。
Furthermore, the structure using the resonator according to the present invention is a method for measuring the conductivity of the
図4に示す構造は、図1中の平板状誘電体試料62を取り除いた以外は図1に示す構成と略同じものである。すなわち、図4においては、導体板61、導体壁63および上側平板状導体1で共振器が構成されている。
The structure shown in FIG. 4 is substantially the same as the structure shown in FIG. 1 except that the
この図4に示す構造の共振器を用いた導電率の測定方法においても、図1に示す構造の共振器を用いた誘電特性の測定方法と同様に、入力側スロット11および出力側スロット12を用いた磁界結合により、上側平板状導体1、導体板61および導体壁63で構成された共振器の励振および検波が行われ、この共振器の共振周波数および無負荷Qをネットワークアナライザで測定し、導体板61の導電率を求めることができる。
In the method for measuring conductivity using the resonator having the structure shown in FIG. 4, the
測定に際しては、空洞共振器を構成した後、共振周波数f1および無負荷Q、Qu1を測定し、共振器を構成する全導体の導電率σを評価した後、共振器の構成要素である導体板61を、導電率を求めたい導体板61に置き換えて同様に測定することにより、求めたい導体板61の導電率σ2が、無負荷Q、Qu2の測定結果と前記導電率σより計算される。
At the time of measurement, after configuring the cavity resonator, the resonance frequency f1 and unloaded Q and Qu1 are measured, and the conductivity σ of all the conductors constituting the resonator is evaluated, and then a conductor plate which is a component of the resonator By replacing 61 with the
なお、図4に示す構造の共振器を用いた測定方法では、導電率の測定方法としたが、導電率を求めることに限定されず、導電率~算出される抵抗率や表面抵抗を求めることも含むものとする。 In the measurement method using the resonator having the structure shown in FIG. 4, the measurement method of conductivity is used. However, the measurement method is not limited to obtaining the conductivity, and obtaining the calculated resistivity or surface resistance. Shall also be included.
図3に示す構造を用いて、本発明の測定方法(NRDガイドスロット励振(NRD))による空洞共振器の周波数特性を測定した。その測定結果を図6に示す。一方、図5に示す従来の測定方法(微小ループアンテナ励振(Loop))による空洞共振器の周波数特性の測定結果を図7に示す。ここで、導体壁63部分は、二つの測定において共通で使用することができたので等しい値としている。また、共振器の寸法(径D、高さH)は、共振周波数より表1のようになっている。なお、上下平板状導体1、2および遮断壁5は銅からなり、縦L1の長さが60mm、横L2の長さが80mm、厚みが2mmであった。また、誘電体ストリップ31、41はレクソライト(登録商標)からなり、この幅は2mm、高さは2.2mm、上下平板状導体に挟持される位置における誘電体ストリップ31、41の長さは30mmであった。
Using the structure shown in FIG. 3, the frequency characteristic of the cavity resonator was measured by the measurement method of the present invention (NRD guide slot excitation (NRD)). The measurement results are shown in FIG. On the other hand, FIG. 7 shows the measurement results of the frequency characteristics of the cavity resonator by the conventional measurement method (micro loop antenna excitation (Loop)) shown in FIG. Here, the
図6および図7から明らかなように本発明のNRDガイドスロット励振(NRD)による測定方法の方が、測定に用いるTE011モードを励振した上で、他の不要モードを抑制できていることがわかる。 As apparent from FIGS. 6 and 7, the measurement method using NRD guide slot excitation (NRD) of the present invention can suppress other unnecessary modes after exciting the TE 011 mode used for measurement. Recognize.
なお、二つの共振周波数f0の測定結果を表1の左側のコラム1に示す。
次に、図1に示す構造の空洞共振器を用意して、厚みt=0.335mmのサファイア試料とt=0.504mmのLTCC試料の測定を行った。これら試料の周波数応答の測定結果を図8および図9に示す。 Next, a cavity resonator having the structure shown in FIG. 1 was prepared, and a sapphire sample with a thickness t = 0.335 mm and an LTCC sample with a t = 0.504 mm were measured. The measurement results of the frequency response of these samples are shown in FIGS.
この結果より、本発明の測定に用いるTE011モードがきれいに励振されていることが確認できた。また、不要モードもよく抑制されていることがわかった。 From this result, it was confirmed that the TE 011 mode used for the measurement of the present invention was clearly excited. It was also found that unnecessary mode was well suppressed.
また、このときの共振周波数f0の測定結果を表1のコラム2、3に示す。比較のため従来方法である微小ループアンテナ励振(Loop)による測定結果も表に併せて記載する。共振周波数f0の測定結果と共振器の寸法(厚みt)より、比誘電率ε’を計算し、上記表1中に示す。
The measurement results of the resonance frequency f0 at this time are shown in
この結果、二つの測定結果は、ほぼ一致し、本発明の測定方法の実現性を検証することができた。 As a result, the two measurement results almost coincided, and the feasibility of the measurement method of the present invention could be verified.
1・・・上側平板状導体
11・・入力側スロット
12・・出力側スロット
2・・・下側平板状導体
3・・・入力側NRDガイド
4・・・出力側NRDガイド
5・・・遮断壁
6・・・共振器
61・・導体板
62・・平板状誘電体試料
63・・導体壁
64・・円柱状誘電体試料
DESCRIPTION OF
Claims (4)
前記上側平板状導体に対して前記入力側および出力側NRDガイドの前記誘電体ストリップの先端上にそれぞれ入力側および出力側スロットを形成するとともに、前記一対の誘電体ストリップの先端間で、前記入力側および出力側スロットからそれぞれ前記誘電体ストリップの延長方向に等距離の位置に、前記上側および下側平板状導体にわたるように導体からなる遮断壁を設け、
前記上側平板状導体に平行に前記入力側および出力側スロットを覆うように導体板を配置するとともに、該導体板および前記上側平板状導体の間に誘電体試料を配置して、前記入力側および出力側スロット間で共振器を構成し、
該共振器のTEモードを励振させて前記共振器の共振周波数および無負荷Qを測定し、前記共振周波数および前記無負荷Qから前記誘電体試料の誘電特性を求めることを特徴とする誘電特性測定方法。 A pair of dielectric strips are sandwiched between the upper and lower planar conductors so that the tips are close to each other to form an input side and output side NRD guide,
An input side slot and an output side slot are formed on the top ends of the dielectric strips of the input side and output side NRD guides with respect to the upper plate-shaped conductor, respectively, and between the tips of the pair of dielectric strips, the input side A barrier wall made of a conductor is provided so as to extend over the upper and lower planar conductors at equidistant positions in the extending direction of the dielectric strip from the side and output side slots, respectively;
A conductor plate is arranged so as to cover the input side and output side slots in parallel to the upper plate conductor, and a dielectric sample is arranged between the conductor plate and the upper plate conductor, and the input side and Configure a resonator between the output slots,
Dielectric characteristic measurement characterized in that the TE mode of the resonator is excited to measure the resonance frequency and no-load Q of the resonator, and the dielectric characteristic of the dielectric sample is obtained from the resonance frequency and the no-load Q. Method.
前記上側平板状導体に対して前記入力側および出力側NRDガイドの前記誘電体ストリップの先端上にそれぞれ入力側および出力側スロットを形成するとともに、前記一対の誘電体ストリップの先端間で、前記入力側および出力側スロットからそれぞれ前記誘電体ストリップの延長方向に等距離の位置に、前記上側および下側平板状導体にわたるように導体からなる遮断壁を設け、
前記上側平板状導体に平行に前記入力側および出力側スロットを覆うように導体板を配置して、前記入力側および出力側スロット間で共振器を構成し、
該共振器のTEモードを励振させて前記共振器の共振周波数および無負荷Qを測定し、前記共振周波数および前記無負荷Qから前記導体板の導電率を求めることを特徴とする導電率測定方法。 A pair of dielectric strips are sandwiched between the upper and lower planar conductors so that the tips are close to each other to form an input side and output side NRD guide,
An input side slot and an output side slot are formed on the top ends of the dielectric strips of the input side and output side NRD guides with respect to the upper plate-shaped conductor, respectively, and between the tips of the pair of dielectric strips, the input side A barrier wall made of a conductor is provided so as to extend over the upper and lower planar conductors at equidistant positions in the extending direction of the dielectric strip from the side and output side slots, respectively;
A conductor plate is disposed so as to cover the input side and output side slots in parallel with the upper plate conductor, and a resonator is configured between the input side and output side slots,
A method for measuring conductivity, comprising: exciting the TE mode of the resonator to measure the resonance frequency and no-load Q of the resonator, and obtaining the conductivity of the conductor plate from the resonance frequency and no-load Q. .
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