JP4471352B2 - 欠陥画素補正装置及び方法及び撮像装置及びプログラム及び記憶媒体 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の第1の実施形態の欠陥画素補正装置を搭載した撮像装置のブロック図である。
Sout=(1−k)×Sin+k×Save …(1)
として表され、入力信号と平均信号の混合値になる。欠陥画素情報kの大きな値ほど平均値の割合が大きくなるので、欠陥画素が補正された結果となって出力される。
図4は本発明の第2の実施形態の欠陥画素補正装置を搭載した撮像装置のブロック図である。第1の実施形態の構成と重複する部分には同一符号を付して説明を省略する。
また、各実施形態の目的は、前述した実施形態の機能を実現するソフトウェアのプログラムコードを記録した記憶媒体(または記録媒体)を、システムあるいは装置に供給し、そのシステムあるいは装置のコンピュータ(またはCPUやMPU)が記憶媒体に格納されたプログラムコードを読み出し実行することによっても、達成されることは言うまでもない。この場合、記憶媒体から読み出されたプログラムコード自体が前述した実施形態の機能を実現することになり、そのプログラムコードを記憶した記憶媒体は本発明を構成することになる。また、コンピュータが読み出したプログラムコードを実行することにより、前述した実施形態の機能が実現されるだけでなく、そのプログラムコードの指示に基づき、コンピュータ上で稼働しているオペレーティングシステム(OS)などが実際の処理の一部または全部を行い、その処理によって前述した実施形態の機能が実現される場合も含まれることは言うまでもない。
2 撮像素子
3 CDS回路
4 A/D
5,6 欠陥画素検出補正部
7 カメラ信号処理回路
8 制御部
Claims (6)
- 複数の画素を備えた撮像素子で得られた映像信号のうち、検出対象とする画素の信号と前記検出対象とする画素の周囲の画素から出力された信号とを用いて得られた差分値が、所定値よりも大きい場合に、前記検出対象の画素を欠陥画素であると判断する第1の欠陥画素検出手段と、
前記第1の欠陥画素検出手段で欠陥画素と判断された画素の信号の補正を行う第1の補正手段と、
前記第1の補正手段にて補正を行った映像信号のうち、検出対象とする画素の信号と、前記検出対象とする画素の周囲の画素から出力された信号とを用いて得られた差分値が、所定値よりも大きい場合に、前記検出対象の画素を欠陥画素であると判断する第2の欠陥画素検出手段と、
前記第2の欠陥画素検出手段で欠陥画素と判断された画素の信号の補正を行う第2の補正手段と、を有し、
前記第2の欠陥画素検出手段における前記所定値は、前記第1の欠陥画素検出手段における前記所定値よりも小さい値であることを特徴とする欠陥画素補正装置。 - 前記第1の欠陥画素検出手段で欠陥画素と判断された画素の位置情報を記憶する記憶手段をさらに有し、
前記第2の欠陥画素検出手段は、前記記憶手段に記憶された位置情報を用いて、前記第1の補正手段にて欠陥画素と判断された画素の信号を補正した映像信号におけるエッジを検出し、前記エッジが検出された位置の画素に対しては、欠陥画素であると判断しないことを特徴とする請求項1に記載の欠陥画素補正装置。 - 請求項1または2に記載の欠陥画素補正装置を備える撮像装置であって、
前記撮像素子と、
前記複数の画素に被写体像を結像するレンズと、
前記複数の画素から出力された信号をA/D変換し、前記第1の欠陥画素検出手段に信号を出力するA/D変換器とを更に備えたことを特徴とする撮像装置。 - 複数の画素を備えた撮像素子で得られた映像信号のうち、検出対象とする画素の信号と前記検出対象とする画素の周囲の画素から出力された信号とを用いて得られた差分値が、所定値よりも大きい場合に、前記検出対象の画素を欠陥画素であると判断する第1の欠陥画素検出工程と、
前記第1の欠陥画素検出工程で欠陥画素と判断された画素の信号の補正を行う第1の補正工程と、
前記第1の補正工程にて補正を行った映像信号のうち、検出対象とする画素の信号と、前記検出対象とする画素の周囲の画素から出力された信号とを用いて得られた差分値が、所定値よりも大きい場合に、前記検出対象の画素を欠陥画素であると判断する第2の欠陥画素検出工程と、
前記第2の欠陥画素検出工程で欠陥画素と判断された画素の信号の補正を行う第2の補正工程と、を有し、
前記第2の欠陥画素検出工程における前記所定値は、前記第1の欠陥画素検出工程における前記所定値よりも小さい値であることを特徴とする欠陥画素補正方法。 - 請求項4に記載の欠陥画素補正方法をコンピュータに実行させるためのプログラム。
- 請求項5に記載のプログラムを記憶したコンピュータが読み取り可能な記憶媒体。
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