JP4465085B2 - 光特性測定装置、方法、記録媒体 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、光ファイバなどのDUT(Device Under Test)の波長分散特性の測定に関する。
【0002】
【従来の技術】
光ファイバ等の被測定物(DUT)の波長分散特性を測定するときの測定系の構成を図5に示す。図5に示すように、測定系は光源システム10と特性測定システム20に分かれている。光源システム10の可変波長光源12が波長λxを変化させて光を発生する。この光は光変調器15により変調用電源14が生成する変調用信号の周波数faで変調されて、DUT30に入射される。
【0003】
DUT30を透過した光は光電変換器22により電気信号に変換される。この電気信号の位相が位相比較器24により検出される。この位相からDUT30の群遅延や波長分散を求めることができる。
【0004】
ここで、光電変換器22が出力する電気信号は、図6に示すように、周波数faにおいて最大振幅をとるが、他の周波数においても、振幅が0になるわけではない。そこで、位相比較器24にはバンドパスフィルタを設けて、周波数fa近傍の成分のみを取り出すようにしている。ここで、このバンドパスフィルタが透過を許容する周波数の幅Δfは一定である。一方、透過を許容する周波数の中心は外部から与える。そこで、特性測定システム20の周波数指示用電源26が周波数fbの位相検出用信号をバンドパスフィルタに与えている。すなわち、周波数fbは透過を許容する周波数の中心である。なお、fbはfaと等しくなるように設定している。なお、図6において、斜線を引いて示した領域は、バンドパスフィルタの通過域外である。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、fbとfaとは、厳密には周波数差をもっている。例えば、fb=fa=3GHzに設定しても、10KHz程度の周波数差が存在する。すると、図7に示すように、バンドパスフィルタが透過を許容する周波数の帯域に、faが含まれなくなる。特に、透過を許容する周波数の帯域が狭い場合は、faが含まれなくなることが多い。すると、周波数faの成分が過度に減衰し、信号感度が低下する。透過を許容する周波数の帯域を広くすれば、周波数faの成分が過度に減衰することを回避できるが、S/N比(signal to noise ratio)が悪くなる。しかも、群遅延特性や距離測定に関し、基準となる周波数が異なってしまうため、測定された値が異なり、機器間の個体差が発生する。
【0006】
そこで、本発明は、光源の変調用信号の周波数と、位相検出用信号の周波数とを一致させる装置等を提供することを課題とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】
本発明は、光を透過する被測定物の特性を測定する装置であって、変調に使用する変調用周波数を与える変調用信号を生成する変調用信号生成手段と、可変波長光を変調用周波数で強度変調した入射光を被測定物に供給する光変調手段と、位相を検出すべき信号の周波数を与える位相検出用信号を生成する位相検出用信号生成手段と、入射光が被測定物を透過した透過光の内の、位相を検出すべき信号の周波数成分の位相を検出する位相検出手段と、変調用信号の周波数から所定の範囲内の周波数の、位相検出用信号の振幅を計測する振幅計測手段と、振幅計測手段の計測結果に基づき、位相検出用信号の振幅が最大になる周波数に、変調用信号の周波数を合わせる周波数合わせ手段と、を備え、位相に基づき被測定物の特性を計測するように構成される。
【0008】
上記のように構成された光特性測定装置によれば、周波数合わせ手段により、位相検出用信号の周波数と、変調用信号の周波数と、を一致させることができる。
【0009】
なお、本発明は、振幅計測手段は、変調用信号の周波数から所定の範囲内を通過域とし、位相検出用信号が入力されるバンドパスフィルタと、バンドパスフィルタの出力結果の振幅を計測する計測手段と、を備えるようにしてもよい。
【0010】
なお、本発明は、変調用信号生成手段が、変調用信号の周波数を変化させることができるようにしてもよい。
【0011】
なお、本発明は、変調用信号の周波数の変化の幅が、変調用信号の周波数と位相検出用信号の周波数との差分以上であるようにしてもよい。
【0012】
本発明は、光を透過する被測定物の特性を測定する方法であって、変調に使用する変調用周波数を与える変調用信号を生成する変調用信号生成工程と、可変波長光を変調用周波数で強度変調した入射光を被測定物に供給する光変調工程と、位相を検出すべき信号の周波数を与える位相検出用信号を生成する位相検出用信号生成工程と、入射光が被測定物を透過した透過光の内の、位相を検出すべき信号の周波数成分の位相を検出する位相検出工程と、変調用信号の周波数から所定の範囲内の周波数の、位相検出用信号の振幅を計測する振幅計測工程と、振幅計測工程の計測結果に基づき、位相検出用信号の振幅が最大になる周波数に、変調用信号の周波数を合わせる周波数合わせ工程と、を備え、位相に基づき被測定物の特性を計測するように構成される。
【0013】
本発明は、光を透過する被測定物の特性を測定する処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、変調に使用する変調用周波数を与える変調用信号を生成する変調用信号生成処理と、可変波長光を変調用周波数で強度変調した入射光を被測定物に供給する光変調処理と、位相を検出すべき信号の周波数を与える位相検出用信号を生成する位相検出用信号生成処理と、入射光が被測定物を透過した透過光の内の、位相を検出すべき信号の周波数成分の位相を検出する位相検出処理と、変調用信号の周波数から所定の範囲内の周波数の、位相検出用信号の振幅を計測する振幅計測処理と、振幅計測処理の計測結果に基づき、位相検出用信号の振幅が最大になる周波数に、変調用信号の周波数を合わせる周波数合わせ処理と、を備え、位相に基づき被測定物の特性を計測する記録媒体である。
【0014】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。
【0015】
図1は、本発明の実施形態にかかる光特性測定装置の構成を示すブロック図である。本発明の実施形態にかかる光特性測定装置は、DUT30の一端に接続される光源システム10と、DUT30の他端に接続される特性測定システム20と、を有する。DUT30は、光を透過するものであって、例えば光ファイバである。
【0016】
光源システム10は、可変波長光源12、変調用電源14、光変調器15、振幅計測部16、周波数合わせ部18を備える。可変波長光源12は、波長を変化させられる可変波長光を生成する。可変波長光源12によって、可変波長光の波長λxを掃引することができる。変調用電源14は、光変調器15に、可変波長光を変調すべき周波数(変調用周波数)faの変調用信号を与える。変調用電源14は、変調用周波数faを掃引し、変化させることができる。光変調器15は、可変波長光を変調用周波数faで変調して、DUT30に入射する。光変調器15は、リチウム・ナイオベート(LN)を有することが一般的であるが、光の強度を変調できるものであれば、LNを含んでいなくてもよい。
【0017】
振幅計測部16は、バンドパスフィルタ16aと、計測部16bと、を有する。バンドパスフィルタ16aは、その通過域が変調用電源14の変調用周波数faから所定の範囲内、例えば±Δf/2である。バンドパスフィルタ16aの通過域を、センター周波数から±Δf/2にすることが一般的であり、センター周波数を変調用周波数faに厳密に一致させることが可能である。なお、入力される信号の周波数が変調用周波数faから所定の範囲を超えれば、出力信号が大きく減衰する。バンドパスフィルタ16aには、後述する周波数指示用電源26の出力する電気信号が入力される。バンドパスフィルタ16aは、周波数指示用電源26の出力する電気信号の内、通過域内の周波数成分を主に出力する。計測部16bは、バンドパスフィルタ16aから出力される電気信号の最大値と、この電気信号が最大値をとるときの周波数とを計測して、周波数合わせ部18に出力する。
【0018】
周波数合わせ部18は、周波数指示用電源26の出力する電気信号(位相検出用信号)の振幅が最大になる周波数に、変調用電源14の変調用周波数faを合わせる。周波数指示用電源26は位相を検出すべき信号の周波数fbの位相検出用信号を発生するようにしている。しかし、図3(a)に示すように、他の周波数成分の電気信号が混合された形で、バンドパスフィルタ16aに入力される。ここで、周波数指示用電源26の生成する位相検出用信号は周波数fbにおいて振幅が最大になる。よって、周波数合わせ部18は、周波数fbに、変調用電源14の変調用周波数faを合わせることになる。
【0019】
DUT30に入射した光は、DUT30を透過する。DUT30を透過した光を透過光という。
【0020】
特性測定システム20は、光電変換器22、位相検出器24、周波数指示用電源26を備える。
【0021】
光電変換器22は、透過光を電気信号に変換する。位相検出器24は、バンドパスフィルタ24aと、位相比較器24bと、を有する。バンドパスフィルタ24aは、その通過域が周波数指示用電源26の生成する位相検出用信号の周波数fbから所定の範囲内、例えば±Δf/2である。なお、入力される信号の周波数が周波数fbから所定の範囲を超えれば、出力信号が大きく減衰する。バンドパスフィルタ24aには、光電変換器22の出力する電気信号が入力される。バンドパスフィルタ24aは、光電変換器22の出力する電気信号の内、通過域内の周波数成分を主に出力する。位相比較器24bは、バンドパスフィルタ24aの出力する電気信号の位相を、基準となる電気信号の位相と比較して、それらの位相差を検出する。基準となる電気信号とは、例えば、DUT30において波長分散が最小となる波長の光を入射したときの透過光を光電変換したものである。周波数指示用電源26は、バンドパスフィルタ16aおよびバンドパスフィルタ24aに周波数fbの位相検出用信号を与える。
【0022】
次に、本発明の実施形態の動作を図2のフローチャートを用いて説明する。
【0023】
光源システム10の可変波長光源12が波長を変化させて光を発生する。この光は光変調器15により電源14の生成する変調用信号の変調用周波数faで変調されて、DUT30に入射される。
【0024】
DUT30を透過した光は光電変換器22により電気信号に変換される。この電気信号がバンドパスフィルタ24aに入力されて、周波数指示用電源26の生成する位相検出用信号の周波数fb近傍の成分のみが取り出される。そして、位相比較器24bによって、バンドパスフィルタ24aの出力信号と、基準となる電気信号との位相差が計測される。よって、faとfbとが一致していれば、位相比較器24bによる位相差の計測が正確になる。位相差から、DUT30の群遅延、波長分散などを求めるので、faとfbとが一致していれば、DUT30の波長分散などを正確に求められる。
【0025】
ここで、faとfbとを一致させるための手順を説明する。まず、周波数指示用電源26の生成する位相検出用信号の周波数fbを固定しておき、振幅計測部16のバンドパスフィルタ16aに入力する(S10)。バンドパスフィルタ16aに入力される電気信号の波形は図3(a)に示すように、周波数指示用電源26の生成する位相検出用信号の周波数fbにおいて最大値Amaxをとるが、周波数fb以外の周波数成分も含む。
【0026】
次に、変調用電源14の生成する変調用信号の変調用周波数faを掃引するものとし、掃引を完了したかを判定する(S12)。掃引が完了していなければ(S12、No)、変調用周波数faを掃引する(S14)。変調用周波数faの掃引は、図3(b)に示すように、変調用周波数faを大きくするようにする。ここで、変調用faを掃引する下限(初期値f0)と上限(最終値f1)とが決められているものとする。なお、掃引の方法は、本実施形態のように単調増加に限らず、単調減少あるいは減少と増加を組み合わせるなど任意である。また、変調用電源14の発生する変調用信号の周波数の変化の幅f1―f0は、faとfbとの差異よりも、わずかに多めにする。例えば、faとfbとを1GHzに設定してあれば、f1―f0=30kHz程度にしておく。また、バンドパスフィルタ16aは、センター周波数と厳密に一致する変調用周波数faから±Δf/2を通過域としているので、変調用周波数faを掃引すれば、バンドパスフィルタ16aの通過域も変化する。なお、図3(b)において斜線を引いて示した領域は、バンドパスフィルタ16aの通過域外である。
【0027】
そして、計測部16bは、バンドパスフィルタ16aの通過域におけるバンドパスフィルタ16aの出力信号の振幅の最大値および振幅が最大値をとるときの周波数を計測する(S16)。図3(a)と図3(b)とを重ね合わせると、図3(c)になる。図3(c)に示すような場合では、通過域内では、周波数がfa+Δf/2のときに振幅が最大になる。なお、faがfbよりも充分に大きくなれば、周波数がfa−Δf/2のときに振幅が最大になる。また、図3(d)に示すように、faがfbとほぼ等しくなれば、周波数がfbのときに振幅が最大になる。
【0028】
なお、計測部16bは、バンドパスフィルタ16aの通過域におけるバンドパスフィルタ16aの出力信号の振幅の最大値等を周波数合わせ部18に記録する。記録の様式を図4に示す。変調用周波数faは初期値f0から最終値f1まで掃引され、掃引の途中にfbの近傍f’をとる。fa=f0のときは、f0+Δf/2にて最大値をとる。fa=f1のときは、f1―Δf/2にて最大値をとる。fa=f’のときは、fbにて最大値Amaxをとる。
【0029】
図2に戻り、計測された最大値等は、周波数合わせ部18に記録される。そして、掃引完了の判定(S12)に戻る。
【0030】
掃引が完了すれば(S12、Yes)、周波数合わせ部18は、変調用電源14の変調用周波数faが掃引された全領域(f0からf1まで)において、バンドパスフィルタ16aの振幅が最大になる周波数fa_maxを求める(S18)。図4に示すように、faを掃引していった時の振幅の最大値が周波数合わせ部18に記録されているので、振幅の最大値のなかで最も大きい値Amaxをとる時の周波数がfa_maxである。
【0031】
そして、周波数合わせ部18は、faをfa_maxに合わせる(S20)。fa_maxはfbであるので、faとfbとが一致することになる。
【0032】
なお、変調用電源14の変調用周波数faが掃引された全領域(f0からf1まで)において、バンドパスフィルタ16aの振幅が最大になる周波数fa_maxを求めることができれば、他の方法によっても構わない。例えば、変調用周波数faを掃引していったときの振幅の微分値を求めておき、0になったときの周波数をfa_maxとしてもよい。
【0033】
本実施形態によれば、faとfbとを一致させることができる。よって、バンドパスフィルタ16aに、通過域が狭いバンドパスフィルタ、例えば1Hz程度のものを使用することができ、位相差、群遅延等の計測誤差を小さくすることができる。しかも、群遅延特性や距離測定に関し、基準となる周波数を一致させられるため、測定された値が一致し、機器間の個体差が無くなる。
【0034】
また、上記の実施形態は、以下のようにして実現できる。CPU、ハードディスク、メディア(フロッピーディスク、CD−ROMなど)読み取り装置を備えたコンピュータのメディア読み取り装置に、上記の各部分を実現するプログラムを記録したメディアを読み取らせて、ハードディスクにインストールする。このような方法でも、上記の機能を実現できる。
【0035】
【発明の効果】
本発明によれば、光源の変調周波数と、周波数合わせ手段により、位相検出用信号の周波数と、変調用信号の周波数と、を一致させることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施形態にかかる光特性測定装置の構成を示すブロック図である。
【図2】本発明の実施形態の動作を示すフローチャートである。
【図3】バンドパスフィルタ16aへの入力信号(図3(a))、バンドパスフィルタ16aの通過域(図3(b))、バンドパスフィルタ16aによるフィルタリング(図3(c)(d))を示す図である。
【図4】周波数合わせ部18に記録されるバンドパスフィルタ16aの通過域におけるバンドパスフィルタ16aの出力信号の振幅の最大値等の記録様式を示す図である。
【図5】従来技術における光ファイバ等の被測定物(DUT)の波長分散特性を測定するときの測定系の構成を示すブロック図である。
【図6】従来技術における光電変換器22が出力する電気信号を示す図である。
【図7】従来技術におけるバンドパスフィルタが透過を許容する周波数の帯域と、変調周波数との差異を示す図である。
【符号の説明】
10 光源システム
12 可変波長光源
14 変調用電源
15 光変調器
16 振幅計測部
18 周波数合わせ部
20 特性測定システム
22 光電変換器
24 位相検出器
26 周波数指示用電源
30 DUT
Claims (3)
- 光を透過する被測定物の特性を測定する装置であって、
変調に使用する変調用周波数を与える変調用信号を生成する変調用信号生成手段と、
可変波長光を前記変調用周波数で強度変調した入射光を前記被測定物に供給する光変調手段と、
位相を検出すべき信号の周波数を与える位相検出用信号を生成する位相検出用信号生成手段と、
前記入射光が前記被測定物を透過した透過光の内の、位相を検出すべき信号の周波数成分の位相を検出する位相検出手段と、
前記変調用信号の周波数から所定の範囲内の周波数の、前記位相検出用信号の振幅を計測する振幅計測手段と、
前記振幅計測手段の計測結果に基づき、前記位相検出用信号の振幅が最大になる周波数に、前記変調用信号の周波数を合わせる周波数合わせ手段と、
を備え、
前記位相に基づき前記被測定物の特性を計測し、
前記振幅計測手段は、
前記変調用信号の周波数から所定の範囲内を通過域とし、前記位相検出用信号が入力されるバンドパスフィルタと、
前記バンドパスフィルタの出力結果の振幅を計測する計測手段と、
を有し、
前記変調用信号生成手段が、前記変調用信号の周波数を所定の変化領域内で変化させることができ、
前記所定の変化領域の幅が、前記変調用信号の周波数と前記位相検出用信号の周波数との差分以上であり、
前記所定の変化領域の内に、前記位相検出用信号の周波数がある、
光特性測定装置。 - 光を透過する被測定物の特性を測定する方法であって、
変調に使用する変調用周波数を与える変調用信号を生成する変調用信号生成工程と、
可変波長光を前記変調用周波数で強度変調した入射光を前記被測定物に供給する光変調工程と、
位相を検出すべき信号の周波数を与える位相検出用信号を生成する位相検出用信号生成工程と、
前記入射光が前記被測定物を透過した透過光の内の、位相を検出すべき信号の周波数成分の位相を検出する位相検出工程と、
前記変調用信号の周波数から所定の範囲内の周波数の、前記位相検出用信号の振幅を計測する振幅計測工程と、
前記振幅計測工程の計測結果に基づき、前記位相検出用信号の振幅が最大になる周波数に、前記変調用信号の周波数を合わせる周波数合わせ工程と、
を備え、
前記位相に基づき前記被測定物の特性を計測し、
前記振幅計測工程は、前記変調用信号の周波数から所定の範囲内を通過域とし前記位相検出用信号が入力されるバンドパスフィルタの出力結果の振幅を計測し、
前記変調用信号生成工程において、前記変調用信号の周波数を所定の変化領域内で変化させることができ、
前記所定の変化領域の幅が、前記変調用信号の周波数と前記位相検出用信号の周波数との差分以上であり、
前記所定の変化領域の内に、前記位相検出用信号の周波数がある、
光特性測定方法。 - 光を透過する被測定物の特性を測定する処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、
変調に使用する変調用周波数を与える変調用信号を生成する変調用信号生成処理と、
可変波長光を前記変調用周波数で強度変調した入射光を前記被測定物に供給する光変調処理と、
位相を検出すべき信号の周波数を与える位相検出用信号を生成する位相検出用信号生成処理と、
前記入射光が前記被測定物を透過した透過光の内の、位相を検出すべき信号の周波数成分の位相を検出する位相検出処理と、
前記変調用信号の周波数から所定の範囲内の周波数の、前記位相検出用信号の振幅を計測する振幅計測処理と、
前記振幅計測処理の計測結果に基づき、前記位相検出用信号の振幅が最大になる周波数に、前記変調用信号の周波数を合わせる周波数合わせ処理と、
をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であり、
前記位相に基づき前記被測定物の特性を計測し、
前記振幅計測処理は、前記変調用信号の周波数から所定の範囲内を通過域とし前記位相検出用信号が入力されるバンドパスフィルタの出力結果の振幅を計測し、
前記変調用信号生成処理において、前記変調用信号の周波数を所定の変化領域内で変化させることができ、
前記所定の変化領域の幅が、前記変調用信号の周波数と前記位相検出用信号の周波数との差分以上であり、
前記所定の変化領域の内に、前記位相検出用信号の周波数がある、
記録媒体。
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