JP4454413B2 - 光記録ディスク基板成形用のスタンパ、及び光記録ディスク - Google Patents
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Description
これらの光記録ディスクは、データ情報、画像情報などを保存するために用いられる。また、現在、光記録ディスクは、高速記録、高密度記録化が進んでおり、一方で記録再生ドライブ、及び、光記録ディスクの低価格化が進んでおり、ディスクメーカーは低価格で品質を向上させた光記録ディスクの提供を求められている。
当然のことながら、光記録ディスクの全面(内周から外周)において、その品質を確保する必要がある。
上述した様に近年の光記録ディスクは、高速記録、高密度記録化で、全面にわたる品質の確保が非常に困難になり、また、非常に重要となっている。
特に、透明基板の作成時には、現在の生産方法(一般には射出成型方法が用いられる)では、透明基板に刻まれる記録層形成用の溝の形状に内外差が必ず生じる。
特に特許文献2に示す従来例においては、溝形状の側面の傾斜θ、グルーブの内周の幅と外周の幅の比をも規定しているが、それでも高密度化、高線速度記録用の光記録ディスクの成形には適していないことが明らかになっている。
我々の検討結果では、この側面の傾斜が、記録特性に大きな影響を与えることが分かっており、溝形状の側面の傾斜の内外差も低減する必要があるが、通常、その傾斜の内外差がスタンパに成形した凸状部より大きくなってしまう。
このスタンパを用いることで、溝形状の深さの内外差は低減でき、未記録特性(Push-Pull)の均一性を改善できるが、一方で記録特性は悪化してしまう。
我々の検討結果では、成型条件を最適化することで溝形状の深さの均一性の確保は可能であることが分かった。
上記凸状部の側面の傾斜θが、内周から外周に向かって大きくなることを特徴とする光記録ディスク基板成形用のスタンパである。
請求項2に記載の発明によれば、内周での良好な信号品質を得ることが可能となる。
請求項3に記載の発明によれば、外周での良好な信号品質を得ることが可能となる。
請求項4に記載の発明によれば、記録感度の内外差が小さいディスクを得ることができる。
請求項5に記載の発明によれば、未記録(Push-Pull)均一性が良好なディスクを得ることができる。
請求項6に記載の発明は、本特許の効果を最も発揮することができる。
成型金型内に高温で溶解した例えばポリカーボネート樹脂を流し込み、金型の温度を制御しながら、圧力を掛け、スタンパを押し付けることで、スタンパの案内溝(凸状部)が転写された透明基板のディスクを成形する。
スタンパの案内溝(溝形状乃至は凸形状)に内外差がない場合、成型基板(透明基板)の案内溝(記録層成形用の溝形状)は、内周側で深く傾斜θも大きく、外周側で浅く傾斜θも小さくなることが、AFM測定(Atomic Force Microscope:Digital Instrument社製評価機を使用)で分かっている。
即ち、透明基板の内周側は、スタンパの溝形状(凸状部)をほぼ完全に転写できているが、外周側は樹脂がスタンパの溝形状(凸形状)の奥まで入り込まないために、転写が不完全になり、傾斜θも小さくなってしまうということが明らかである。但し、外周側の溝形状の半値幅は、内周側とほぼ同じとなる。
但し、光記録ディスクによって、各層の間に中間層が積層され、かつ保護層の上に、接着剤層、カバー基板が積層される。
従って、この案内溝(溝形状)に刻まれた情報は非常に重要な特性であり、特に、高速記録、高密度用の光記録ディスクでは、その品質の確保が記録特性と同様に重要である。
このwobble信号のSN比は、成型基板(透明基板)の溝形状から大きな影響を受けるめに、このSN比を確保できる溝形状が要求される。
高密度の光記録ディスクの場合、隣の案内溝(溝形状)の影響を受けるために、溝幅を細くするか、溝の側面の傾斜を大きくすることで、wobble信号のSN比は良くなる。
記録感度(最適な記録特性が得られる記録パワー)に影響する透明基板の溝形状としては、溝幅(半値幅)、溝深さが深く、浅くなったときに記録感度が上がる(必要記録パワーが下がる)。このため、記録感度は、内外差を小さくする必要がある。
しかし、スタンパに溝形状(凸形状)の幅の内外差(外周を細くする)を設けた場合、記録感度の内外差が悪化する。
また、透明基板の全面に対して、溝形状の幅、側面の傾斜を変更した場合には、wobble信号のSN比、記録特性のいずれかが悪化する。
しかし、成型基板(透明基板)の外周側の溝傾斜は45°に狭くなり溝深さも0.153に減少(浅く)することが分かった。
この結果、スタンパは、透明基板に案内溝(記録層成形用の溝形状)を成形する凸形状(溝形状)の側面の傾斜θを、内周から外周に向かって大きく設定することで、成型基板(透明基板)の案内溝(溝形状)の側面の傾斜の内外差をなくすことが可能であることが分かる。
また、成型基板(透明基板)の外周側の溝形状の側面の傾斜は、内周に比べて5°程度落ちる傾向にあるため、外周側の溝形状の側面の傾斜は45°〜60°である必要がある。
従って、有機色素系の記録層を有する光記録ディスクの場合、上述の最適化を図った成型基板(透明基板)で成型することが最も大きな効果を得ることができる。
凸状部13の側面15の傾斜θは、光記録ディスクの一面に対応する内周から外周に向って徐々に大きくなるよう形成されている。
即ち、内周側の凸状部13のランド17の幅をW1、該凸状部13のフート19の幅をW2とした場合、W3=(W1+W2)/2が成立する。
外周側の凸状部13’のランド17の幅をW1’、該凸状部13’のフート19の幅をW2’とした場合も、W3’=(W1’+W2’)/2が成立する。
そして、W3=W3’であり、全周にわたり同一である。
成型金型内に高温で溶解した例えばポリカーボネート樹脂を流し込み、金型の温度を制御しながら、圧力を掛け、スタンパ11を押し付けることで、スタンパ11の凸状部13(溝形状)が転写された透明基板(図2参照)31のディスクを成形する。
透明基板31の溝形状33の半値幅は内周側から外周側に向って一様に同一の幅W3にあり、かつ溝形状の深さdも外周側に向って一様に同一の深さにある。
尚、記録及びwobble測定(未記録)には、Pulstec社製のDDU−1000(NA:0.65、波長:657nm)を用い、再生には、DDU−1000(NA:0.60、波長:650nm)を用いている。記録は6倍速記録(20.9m/s2)で実施した。
一方、スタンパ11の凸状部(乃至は溝形状)13の測定は、Digital Instrumental社製のAFM定装置で測定している。
また、スタンパ11で成形した本実施の形態の光記録ディスク41は、jitter、wobble SN特性の内外差の改善、及び、Push-Pull均一性の改善をも図ることができた。
13 凸状部
15 側面
17 ランド
21 グルーブ
31 透明基板
33 溝形状
35 記録層
41 光記録ディスク
Claims (6)
- 光記録ディスクの透明基板に凸状部よりなる案内溝を有し、溶解した高温の樹脂を内周から流し込む射出成型方法で用いる光記録ディスク基板成形用のスタンパにおいて、
上記凸状部の側面の傾斜θが、内周から外周に向かって大きくなることを特徴とする光記録ディスク基板成形用のスタンパ。 - 上記内周側の上記凸状部の側面の傾斜θが、40°〜55°であることを特徴とする請求項1に記載の光記録ディスク基板成形用のスタンパ。
- 上記外周側の上記凸状部の側面の傾斜θが、45°〜60°であることを特徴とする請求項1または2に記載の光録ディスク基板成形用のスタンパ。
- 上記凸状部の半値幅が、上記内周側から上記外周側にわたり同じ大きさであることを特徴とする請求項1乃至3の何れか一つに記載の光記録ディスク基板成形用のスタンパ。
- 上記凸状部間の溝の溝深さ、もしくは上記凸状部の高さが、上記内周側から上記外周側に向かって大きくなることを特徴とする請求項1乃至4の何れか一つに記載の光記録ディスク基板成形用のスタンパ。
- 上記請求項1乃至5の何れかに記載のスタンパによって形成された光記録ディスク基板上に、有機色素よりなる記録層が形成されていることを特徴とする光記録ディスク。
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