JP4431760B2 - 波長分割多重方式受動型光加入者通信網における光線路の障害位置検出装置 - Google Patents
波長分割多重方式受動型光加入者通信網における光線路の障害位置検出装置 Download PDFInfo
- Publication number
- JP4431760B2 JP4431760B2 JP2005135918A JP2005135918A JP4431760B2 JP 4431760 B2 JP4431760 B2 JP 4431760B2 JP 2005135918 A JP2005135918 A JP 2005135918A JP 2005135918 A JP2005135918 A JP 2005135918A JP 4431760 B2 JP4431760 B2 JP 4431760B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- optical
- optical line
- signal
- multiplexer
- base station
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims description 340
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims description 79
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 claims description 72
- 230000002159 abnormal effect Effects 0.000 claims description 21
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 19
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 24
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 13
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 11
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 6
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 4
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 3
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 3
- 238000012806 monitoring device Methods 0.000 description 3
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 2
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000002347 injection Methods 0.000 description 1
- 239000007924 injection Substances 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000007726 management method Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000000253 optical time-domain reflectometry Methods 0.000 description 1
- 238000011084 recovery Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
- 230000001568 sexual effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
- H01L22/10—Measuring as part of the manufacturing process
- H01L22/12—Measuring as part of the manufacturing process for structural parameters, e.g. thickness, line width, refractive index, temperature, warp, bond strength, defects, optical inspection, electrical measurement of structural dimensions, metallurgic measurement of diffusions
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8854—Grading and classifying of flaws
- G01N2021/8858—Flaw counting
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8854—Grading and classifying of flaws
- G01N2021/8861—Determining coordinates of flaws
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
- G01N2021/8854—Grading and classifying of flaws
- G01N2021/888—Marking defects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/8851—Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/9501—Semiconductor wafers
Description
従来のWDM−PONは、大きく中央基地局(CO)、中間ノード(RN)および多数の加入者装置(ONU)により構成される。中央基地局は、各送信機、各受信機、導波路型回折格子(Arrayed Waveguide Grating;以下、AWGという)からなる波長分割多重化器および逆多重化器により構成され、多数の送信機から送出された相互に異なる波長の下り光信号を多重化器で多重化して光線路を通して中間ノードに伝達する。次いで、中間ノードに設置された多重化/逆多重化器は、多重化された各下り光信号を逆多重化して各加入者装置に相互に異なる波長の下り光信号を送る。次いで、各加入者装置に設置された下り受信機は、下り光信号を電気的信号に変換して通信を行う。
Kuniaki Tanaka,et al.,"In−service Individual Line Monitoring and a Method for Compensating for the Temperature−dependent Channel−Drift of a WDM−PON Containing an AWGR Using a 1.6 μm Tunable OTDR,"European Conference on Optical Communication(ECOC ’97),no.448,pp.295−298,Sept.1997.
本発明による光線路の障害位置検出装置は、従来の下りデータ伝送のために使用された下り光源を監視パルス光源として使用し、光線路から散乱または反射される光パルスの波形を分析して光線路の障害位置を把握することを特徴とする。すなわち、中央基地局に設置された各上り受信機に受信された信号のうち、非正常の受信状態を示すチャネルを確認し、中央基地局に設置された各下り送信機のうち、非正常の受信状態を示すチャネルに該当する下り送信機の光源にパルスを入力して生成された監視光信号を中央基地局から出力することで、監視光信号が中央基地局と中間ノードとを連結する光線路を通して伝送されるか、または、中間ノードと各加入者装置とを連結する光線路を通して伝送されるときの時間による大きさを測定し、光損失および障害位置を把握することを特徴とする。ここで、光信号の大きさは、一般的に通用される光パワーの強さをいい、電圧または電流の強さなどで示される。
図2は、本発明の第1実施形態による光線路の障害位置検出装置が設置された双方向WDM−PONの構成図である。
図3は、本発明の第2実施形態による光線路の障害位置検出装置が設置された単方向WDM−PONの構成図である。
図4は、本発明の第3実施形態による光線路の障害位置検出装置が設置された単方向WDM−PONの構成図である。
図5は、本発明の第4実施形態による光線路の障害位置検出装置が設置された双方向WDM−PONの構成図である。
110 パルス発生器
120 2x1スイッチ
130 受動素子
140 波長可変帯域通過フィルタ
150 制御器
160 監視信号用受信機
11,12,21,22,23,24,31,32,33 光線路
Claims (9)
- 各下り送信機に連結される多重化器および各上り受信機に連結される逆多重化器を備えた中央基地局と、第1光線路および受動型素子を通して前記多重化器、および前記逆多重化器に連結される多重化/逆多重化器を備えた中間ノードと、複数の第2光線路を通して前記多重化/逆多重化器にそれぞれ連結される各加入者装置と、を含む波長分割多重方式受動型光加入者通信網に対する光線路の障害位置検出装置は:
パルスを発生するパルス発生器と;
各下り送信機に対して設置され、データ信号発生部または前記パルス発生器と下り送信機の光源とを連結する2x1スイッチと;
前記多重化器と前記受動型素子との間に設置され、前記多重化器を通して出力された前記監視光信号が後方に散乱または反射されると、その後方に散乱または反射された監視光信号の経路を変える受動素子と;
前記受動素子に連結される波長可変帯域通過フィルタと;
前記各上り受信機における信号受信可否を確認することで非正常の受信状態を示すチャネルを確認し、前記各上り受信機の全てに信号が受信されないと、前記各下り送信機から選択されたいずれか一つの下り送信機の光源と前記パルス発生器とが連結されるように、かつ、前記各上り受信機のいずれか一つの上り受信機に信号が受信されないと、その上り受信機と同一のチャネルを有する下り送信機の光源と前記パルス発生器とが連結されるように、前記2x1スイッチを制御し、前記波長可変帯域通過フィルタの中心波長を前記監視光信号の波長に合せる制御器と;
前記波長可変帯域通過フィルタから前記監視光信号を受けて電気信号に変換し、時間による大きさの変化を前記第1光線路または第2光線路の距離による光損失値に換算して出力する監視信号用受信機と;を含み、
前記各上り受信機に受信された信号のうち、非正常の受信状態を示すチャネルを確認し、非正常の受信状態を示すチャネルに該当する下り送信機の光源にパルスを入力して生成された監視光信号を前記中央基地局の多重化器に入力することで、前記監視光信号が前記第1光線路または第2光線路を通して伝送されるときの時間による大きさを測定して光損失値を測定し、光損失および障害位置を把握することを特徴とする光線路の障害位置検出装置。 - 前記制御器は、
前記各上り受信機の二つ以上の上り受信機に同時に信号が受信されないと、前記各上り受信機と同一のチャネルを有する各下り送信機の光源と前記パルス発生器とが予め設定された順にしたがって連結されるように前記2x1スイッチを制御し、前記波長可変帯域通過フィルタの中心波長を前記パルス発生器に連結された下り送信機の波長にそれぞれ合せることを特徴とする請求項1記載の光線路の障害位置検出装置。 - 前記多重化器、前記逆多重化器または前記多重化/逆多重化器は、導波路型回折格子からなることを特徴とする請求項1に記載の光線路の障害位置検出装置。
- 前記受動型素子は、WDMカプラーであることを特徴とする請求項1に記載の光線路の障害位置検出装置。
- 前記受動素子は、光循環器またはカプラーであることを特徴とする請求項1に記載の光線路の障害位置検出装置。
- 各下り送信機に連結される多重化器および各上り受信機に連結される逆多重化器を備えた中央基地局と、第1光線路を通して前記中央基地局の多重化器に連結される逆多重化器、および前記第1光線路と一緒に布設される第2光線路を通して前記中央基地局の逆多重化器に連結される多重化器を備えた中間ノードと、第3光線路を通して前記中間ノードの逆多重化器に連結される下り受信機、および前記第3光線路と一緒に布設される第4光線路を通して前記中間ノードの多重化器に連結される上り送信機を備えた各加入者装置と、を含む波長分割多重方式受動型光加入者通信網に対する光線路の障害位置検出装置は:
パルスを発生するパルス発生器と;
各下り送信機に対して設置され、データ信号発生部または前記パルス発生器と下り送信機の光源とを連結する2x1スイッチと;
前記第1光線路に設置され、前記中央基地局の多重化器を通して出力された前記監視光信号が後方に散乱または反射されると、その後方に散乱または反射された監視光信号の経路を変える受動素子と;
前記受動素子に連結される波長可変帯域通過フィルタと;
前記各上り受信機における信号受信可否を確認することで非正常の受信状態を示すチャネルを確認し、前記各上り受信機の全てに信号が受信されないと、前記各下り送信機から選択されたいずれか一つの下り送信機の光源と前記パルス発生器とが連結されるように、かつ、前記各上り受信機のいずれか一つの上り受信機に信号が受信されないと、その上り受信機と同一のチャネルを有する下り送信機の光源と前記パルス発生器とが連結されるように前記2x1スイッチを制御し、前記波長可変帯域通過フィルタの中心波長を前記監視光信号の波長に合せる制御器と;
前記波長可変帯域通過フィルタから前記監視光信号を受けて電気信号に変換し、時間による大きさの変化を前記第1光線路または第3光線路の距離による光損失値に換算して出力する監視信号用受信機と;を含んで構成され
前記各上り受信機に受信された信号のうち、非正常の受信状態を示すチャネルを確認し、非正常の受信状態を示すチャネルに該当する下り送信機の光源にパルスを入力して生成された監視光信号を前記中央基地局の多重化器に入力することで、前記監視光信号が前記第1光線路または第3光線路を通して伝送されるときの時間による大きさを測定して光損失値を測定し、光損失および障害位置を把握することを特徴とする光線路障害位置検出装置。 - 前記制御器は、
前記各上り受信機の二つ以上の上り受信機に同時に信号が受信されないと、前記各上り受信機と同一のチャネルを有する各下り送信機の光源と前記パルス発生器とが予め設定された順にしたがって連結されるように前記2x1スイッチを制御し、前記波長可変帯域通過フィルタの中心波長を前記パルス発生器に連結された下り送信機の波長にそれぞれ合せることを特徴とする請求項6記載の光線路の障害位置検出装置。 - 各下り送信機に連結される多重化器および各上り受信機に連結される逆多重化器を備えた中央基地局と、第1光線路を通して前記中央基地局の多重化器に連結される逆多重化器、および前記第1光線路と一緒に布設される第2光線路を通して前記中央基地局の逆多重化器に連結される多重化器を備えた中間ノードと、第3光線路を通して前記中間ノードの逆多重化器に連結される下り受信機、および前記第3光線路と一緒に布設される第4光線路を通して前記中間ノードの多重化器に連結される上り送信機を備えた各加入者装置と、を含む波長分割多重方式受動型光加入者通信網に対する光線路の障害位置検出装置は:
前記各受動型素子、下り送信機および上り受信機のセットに対して設置され、
パルスを発生するパルス発生器と;
データ信号発生部または前記パルス発生器と下り送信機の光源とを連結する2x1スイッチと;
下り送信機と前記中央基地局の多重化器とを連結する光線路に設置され、前記中央基地局の多重化器を通して出力された前記監視光信号が後方に散乱または反射されると、その後方に散乱または反射された監視光信号の経路を変える受動素子と;
上り受信機における信号受信可否を確認した結果、非正常の受信状態を示すと、下り送信機の光源とパルス発生器とが連結されるように前記2x1スイッチを制御する制御器と;
前記受動素子から前記監視光信号を受けて電気信号に変換し、時間による大きさの変化を前記第1光線路または第3光線路の距離による光損失値に換算して出力する監視信号用受信機と;を含み、
前記光線路障害位置検出装置はそれぞれのチャネルに設置され、
前記各上り受信機に受信された信号のうち、非正常の受信状態を示すチャネルを確認し、非正常の受信状態を示すチャネルに該当する下り送信機の光源にパルスを入力して生成された監視光信号を前記中央基地局の多重化器に入力することで、前記監視光信号が前記第1光線路または第3光線路を通して伝送されるときの時間による大きさを測定して光損失値を測定し、光損失および障害位置を把握することを特徴とする光線路障害位置検出装置。 - 受動型素子、下り送信機および上り受信機が一つのセットをなして各ポートに連結される多重化/逆多重化器を備えた中央基地局と、第1光線路を通して前記中央基地局の多重化器/逆多重化器に連結される多重化/逆多重化器を備えた中間ノードと、複数の第2光線路を通して前記中間ノードの第2多重化/逆多重化器にそれぞれ連結される各加入者装置と、を含む波長分割多重方式受動型光加入者通信網に対する光線路の障害位置検出装置は:
前記各受動型素子、下り送信機および上り受信機のセットに対して設置され、
パルスを発生するパルス発生器と;
データ信号発生部または前記パルス発生器と下り送信機の光源とを連結する2x1スイッチと;
下り送信機と受動型素子とを連結する光線路に設置され、前記中央基地局の多重化/逆多重化器を通して出力された前記監視光信号が後方に散乱または反射されると、その後方に散乱または反射された監視光信号の経路を変える受動素子と;
上り受信機における信号受信可否を確認した結果、非正常の受信状態を示すと、下り送信機の光源とパルス発生器とが連結されるように前記2x1スイッチを制御する制御器と;
前記受動素子から前記監視光信号を受けて電気信号に変換し、時間による大きさの変化を前記第1光線路または第2光線路の距離による光損失値に換算して出力する監視信号用受信機と;を含み、
前記各上り受信機に受信された信号のうち、非正常の受信状態を示すチャネルを確認し、非正常の受信状態を示すチャネルに該当する下り送信機の光源にパルスを入力して生成された監視光信号を前記中央基地局の多重化/逆多重化器に入力することで、前記監視光信号が前記第1光線路または第2光線路を通して伝送されるときの時間による大きさを測定して光損失値を測定し、光損失および障害位置を把握することを特徴とする光線路の障害位置検出装置。
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020050028287A KR100687870B1 (ko) | 2005-04-04 | 2005-04-04 | 웨이퍼의 불량 검사 방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2006287889A JP2006287889A (ja) | 2006-10-19 |
JP4431760B2 true JP4431760B2 (ja) | 2010-03-17 |
Family
ID=37409269
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005135260A Pending JP2006287888A (ja) | 2005-04-04 | 2005-05-06 | 波長分割多重方式受動型光加入者通信網における光線路の障害位置検出装置 |
JP2005135918A Active JP4431760B2 (ja) | 2005-04-04 | 2005-05-09 | 波長分割多重方式受動型光加入者通信網における光線路の障害位置検出装置 |
Family Applications Before (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2005135260A Pending JP2006287888A (ja) | 2005-04-04 | 2005-05-06 | 波長分割多重方式受動型光加入者通信網における光線路の障害位置検出装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (2) | JP2006287888A (ja) |
KR (1) | KR100687870B1 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4692835B2 (ja) * | 2006-06-01 | 2011-06-01 | 横河電機株式会社 | 半導体試験システム |
CN101291176B (zh) * | 2007-04-18 | 2012-07-04 | 华为技术有限公司 | 一种光分布网络的故障检测方法、系统及装置 |
JP2009216626A (ja) * | 2008-03-12 | 2009-09-24 | National Taiwan Univ Of Science & Technology | 受動光線路網の破断点検出システム |
JP5130262B2 (ja) * | 2009-07-17 | 2013-01-30 | アンリツ株式会社 | 光線路障害探索装置 |
EP2991244B1 (en) * | 2011-06-16 | 2018-01-24 | Huawei Technologies Co., Ltd. | Method and apparatus for controlling optical power |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CA2296143A1 (fr) * | 2000-01-18 | 2001-07-18 | 9071 9410 Quebec Inc. | Systeme d'inspection optique |
US6507800B1 (en) | 2000-03-13 | 2003-01-14 | Promos Technologies, Inc. | Method for testing semiconductor wafers |
JP4170611B2 (ja) * | 2001-03-29 | 2008-10-22 | 株式会社東芝 | 半導体集積回路の不良検出方法及び不良検出装置 |
-
2005
- 2005-04-04 KR KR1020050028287A patent/KR100687870B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2005-05-06 JP JP2005135260A patent/JP2006287888A/ja active Pending
- 2005-05-09 JP JP2005135918A patent/JP4431760B2/ja active Active
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2006287888A (ja) | 2006-10-19 |
KR100687870B1 (ko) | 2007-02-27 |
KR20060105849A (ko) | 2006-10-11 |
JP2006287889A (ja) | 2006-10-19 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100618130B1 (ko) | 파장분할다중방식 수동형 광가입자망에서의 광선로 장애위치 검출 장치 | |
US9654210B2 (en) | Optical networks | |
EP2507925B1 (en) | Improvements in optical networks | |
WO2009006837A1 (fr) | Système de détection de fibre optique, système de réseau à multiplexage par division de longueurs d'onde optique et procédé de localisation de défaut de fibre optique | |
CN105451840B (zh) | 一种光时域反射仪实现装置及系统 | |
US8494360B2 (en) | In-service optical network testing | |
EP2806583B1 (en) | Optical fiber transmission system | |
JP5261164B2 (ja) | 光伝送システム | |
KR20040023305A (ko) | Otdr을 이용한 wdm-pon 광선로 감시장치 | |
JP4431760B2 (ja) | 波長分割多重方式受動型光加入者通信網における光線路の障害位置検出装置 | |
US7660529B2 (en) | System and method for providing failure protection in optical networks | |
EP2171862B1 (en) | System and method for suppressing beat noise in line monitoring equipment | |
CN107735963B (zh) | 通信装置、通信方法和通信系统 | |
JP4111163B2 (ja) | 異常光検出遮断装置 | |
JP2010283644A (ja) | 光アクセス網、光通信方法および光加入者装置 | |
JP2012015675A (ja) | Wdm信号光の監視装置 | |
Lim et al. | Fault localization in WDM passive optical network by reusing downstream light sources | |
US11309973B2 (en) | Optical burst monitoring | |
US20120163813A1 (en) | Improvements in optical networks | |
CN101278508B (zh) | 光网络中用于提供故障保护的系统和方法 | |
Willner et al. | Optical characterization, diagnosis, and performance monitoring for PON | |
KR101078054B1 (ko) | 시간분할다중화방식의 수동광가입자망에서 비정상적인 가입자 단말을 제어하는 광선로 종단 장치 및 방법 | |
Son et al. | Localization of fiber failures in WDM PON by reusing downstream light sources | |
Keiser et al. | Status monitoring concept for a WDM PON | |
KR20090131458A (ko) | 광 네트워크 전송 시스템의 광 전송 감시 장치 및 방법 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20080408 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090526 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090609 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20090909 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20090915 |
|
A601 | Written request for extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A601 Effective date: 20091008 |
|
A602 | Written permission of extension of time |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A602 Effective date: 20091014 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20091015 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20091117 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20091130 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4431760 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130108 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140108 Year of fee payment: 4 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |