JP4410277B2 - 半導体装置、および半導体装置の制御方法 - Google Patents
半導体装置、および半導体装置の制御方法 Download PDFInfo
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Description
ラー検出の時点で、画質劣化ブロックに隣接し、デブロッキングフィルタ処理が済んでいるブロック、ここではブロックnからn+3の上側のブロックも画質が劣化しているブロックと推定される。復号装置側におけるエラーコンシールメント処理では、このように画質が劣化していると推定されるブロックを判定し、欠損ブロックに対してと同様に、エラーコンシールメント処理を行う必要がある。
ずステップS105で出力開始タイミング、すなわちフレームメモリ102から出力画像データを読み出すためのタイミングを出力部104に待たせ、そのタイミングが来た時点でステップS106で規格、仕様に基づいてフレームメモリ102から出力すべき出力画像が決定され、ステップS107でフレームメモリ102からメモリコントローラ103を介して読み出された出力画像データ1画面を出力部104に出力させ、ステップS105からの処理が繰り返される。
ー隠蔽用にI0ピクチャが参照され、またB4ピクチャの復号処理においてはエラー隠蔽がなされた結果としてのP3ピクチャが参照されて、B4ピクチャに対するエラーコンシールメント処理が行われている。そしてこれら2つのピクチャの復号処理には、他のピクチャの復号処理よりも長い時間を必要としているが、B2ピクチャとB4ピクチャの間でI0ピクチャが出力されるために、出力処理は図23で説明したように正しく行われ、エラーコンシールメント処理による復号処理時間の延長は画像データ出力に影響を与えない範囲となっている。なお、同図の下部におけるバンク0からバンク3は1つの画像、すなわち1つのピクチャのデータを格納するためのフレームメモリ内の領域であり、各バンクに格納されたデータはその出力が終了し、かつ他のピクチャから参照される可能性がなくなった時点で、図22で説明したように各バンクから消去される。
しかしながらこのような従来技術を用いても、エラー検出ブロックの以前に復号された画質劣化ブロックなどに対するエラーコンシールメント処理を、そのブロックに対する再処理として行う場合に1つの画像、すなわちピクチャに対する復号処理時間が長くなり、予め規定された処理時間を越えてしまう可能性があるという問題点を解決することはできなかった。
力ストリームとしての画像データをデコード処理するものである。
報保持部15が追加されている点以外は同様であり、同一の名称を持つブロックの動作は図19におけると同様であるが、図2の動画像復号装置の動作についてさらに詳細に説明する。
に伝達する処理が行われる点が基本的に異なっている。図2において、エラー隠蔽対象位置情報保持部15から出力部14に与えられるエラー隠蔽対象位置情報は、例えば画質劣化ブロック、欠損ブロックなどを含むエラー隠蔽対象画像を示すデータであり、フレームメモリ12に既に復号されて格納されている画像データのいずれをエラー隠蔽用参照画像として用いるべきかが、制御部10から出力部14に与えられることになる。
S26における通常の復号処理において、参照される画像に対してエラーが検出された場合には、従来技術と同様にエラーコンシールメント処理が行われる。
欠損ブロックや画質劣化ブロックがない時には、ステップS37で欠損ブロックや画質劣化ブロックのない復号済み画像の中からエラー隠蔽用参照画像が選択され、エラー隠蔽に使用される可能性の有無を示すフラグがエラー隠蔽で使用中に設定され、残りの画像に対するフラグがエラー隠蔽で使用済みに設定されて復号処理を完了する。
2 デコード部
3 第1メモリ
4 第2メモリ
5、14 出力部
10 制御部
11 復号処理部
12 フレームメモリ
13 メモリコントローラ
15 エラー隠蔽対象位置情報保持部
20 制御部(エラー隠蔽対象決定)
21 可変長復号処理部
22 逆量子化・逆変換部
23 フレーム内予測部
24 フレーム間予測部
25 デブロッキングフィルタ処理部
26 加算器
27 スイッチ
Claims (5)
- 入力される第1データをデコードして、該デコードの結果である第2データを出力するデコード部であって、前記第1データのデコードに際してエラーの検出された部分に、前記第1データの他の一部によって参照される部分が含まれる場合、該参照される部分に対応する第2データとして、前記第1データの他の部分のデコード結果を出力するデコード部と、
前記第2データを格納する第1メモリと、
前記第1データのデコードに際してエラーの検出された部分のうち、前記他の一部によって参照される部分を除く残りのエラー部分に関するエラー情報を格納する第2メモリと、
前記第2データを出力する出力部とを備え、
前記出力部は、前記第2データを前記第1メモリから読み出して出力する時、前記第2メモリに格納されている前記エラー情報に基づき、前記第1メモリに格納されている前記第2データのうち前記エラーの検出された部分以外の他の部分に対応するデータを、前記第1データのエラー部分に対応するデータとして読み出して外部に出力することを特徴とする半導体装置。 - 前記第2メモリが、前記第1データのデコード結果として予想されるデータのうち、データ品質が悪化すると推定される部分に関するエラー情報として、前記第1データの前記エラー部分の前に入力された、前記第1データの少なくとも一部に関する情報と、前記第1データのうち前記エラー部分の後から予め定められた位置までに入力されたデータに関する情報とをさらに格納し、
前記出力部が、前記第1メモリに格納されている前記第2データのうち前記他の部分に対応するデータを、前記データ品質が悪化すると推定される部分に対応するデータとして読み出して外部に出力することを特徴とする請求項1に記載の半導体装置。 - 前記半導体装置が動画像復号装置を構成し、
前記第1データが、連続的に入力される画像のデータであり、前記出力部は、前記第2データのうち前記第1データの前記エラー部分に対応する前記データを、前記エラー部分、および/または前記データ品質が悪化すると推定される部分を含む画像に対するエラー隠蔽用画像データとして出力することを特徴とする請求項2に記載の半導体装置。 - 入力される第1データをデコードして、該デコードの結果である第2データを出力し、その際、前記第1データのデコードに際してエラーの検出された部分に、前記第1データの他の一部によって参照される部分が含まれる場合、該参照される部分に対応する第2データとして、前記第1データの他の部分のデコード結果を出力し、
前記第2データを第1メモリに格納すると共に、前記第1データのデコードでのエラー部分のうち、前記他の一部によって参照される部分を除く残りのエラー部分に関するエラー情報を第2メモリに格納し、
前記第2データを前記第1メモリから読み出して外部に出力する際、前記第2メモリに格納されている前記エラー情報に基づき、前記第1メモリに格納されている前記第2データのうち前記エラーの検出された部分以外の他の部分に対応するデータを、前記第1データのエラー部分に対応するデータとして読み出して外部に出力することを特徴とする半導体装置の制御方法。 - 前記半導体装置が動画像復号装置を構成し、
前記第1データが、連続的に入力される画像データであり、前記第2データを外部に出力する際、前記第2データのうち前記第1データの前記エラー部分に対応する前記データを、前記エラー部分を含む画像に対するエラー隠蔽用画像データとして出力することを特徴とする請求項4に記載の半導体装置の制御方法。
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