JP4408207B2 - 電子線描画装置及びその調整方法 - Google Patents
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Description
図1は、本発明の実施の形態1に係る可変成形方式の電子線描画装置である。この電子線描画装置は、電子線を発するための電子銃11と、所定の開口を有する第1アパーチャ12及び第2アパーチャ13と、電子線を試料14に結像する対物レンズ15と、電子線調整手段である成形偏向器16と、回転レンズ17と、位置変更器18を有する。
実施の形態1では、比較用の第2の画像をもとの電子線像を用いて作成している。これに対し、実施の形態2では、予め、第2の画像をCAD等により所定の矩形像を第1のピッチと異なる第2のピッチで並べて作成し、記憶装置29に記憶しておく。そして、第2の画像を記憶装置29から読み出し、加算器27により第1の画像及び第2の画像を加算する。その他の構成は実施の形態1と同様である。これにより、実施の形態1よりも短時間で調整することができる。
12a 矩形開口部
13 第2アパーチャ
13a 矩形開口部
14 試料
17 回転レンズ
21 電子線像
22 電子線像
26 検出器
28 モニタ
29 記憶装置
31 加算器
41 電子線像
Claims (4)
- 所定の開口を有する複数のアパーチャと電子線調整手段とにより、電子銃から発する電子線を所定の形状に成形して試料に照射する電子線描画装置において、
前記試料で反射した電子線を検出して電子線像を得る検出器と、
前記電子線像を第1のピッチで並べた第1の画像及び前記電子線像を前記第1のピッチと異なる第2のピッチで並べた第2の画像を作成する画像作成部と、
前記第1の画像及び前記第2の画像を加算する加算器と、
この加算した画像を表示するモニタとを有することを特徴とする電子線描画装置。 - 所定の開口を有する複数のアパーチャと電子線調整手段とにより、電子銃から発する電子線を所定の形状に成形して試料に照射する電子線描画装置において、
前記試料で反射した電子線を検出して電子線像を得る検出器と、
前記電子線像を第1のピッチで並べた第1の画像を作成する画像作成部と、
所定の矩形像を前記第1のピッチと異なる第2のピッチで並べた第2の画像を記憶する記憶装置と、
前記第1の画像及び前記第2の画像を加算する加算器と、
この加算した画像を表示するモニタとを有することを特徴とする電子線描画装置。 - 所定の開口を有する複数のアパーチャと電子線調整手段とにより、電子銃から発する電子線を所定の形状に成形して試料に照射する電子線描画装置の調整方法において、
前記試料で反射した電子線を検出して電子線像を得る工程と、
前記電子線像を第1のピッチで並べた第1の画像を生成する工程と、
前記電子線像を前記第1のピッチと異なる第2のピッチで並べた第2の画像を生成する工程と、
前記第1の画像及び前記第2の画像を加算する工程と、
この加算した画像のモアレ縞の傾きを指標として前記試料に照射する電子線の形状を調整する工程とを有することを特徴とする電子線描画装置の調整方法。 - 所定の開口を有する複数のアパーチャと電子線調整手段とにより、電子銃から発する電子線を所定の形状に成形して試料に照射する電子線描画装置の調整方法において、
前記試料で反射した電子線を検出して電子線像を得る工程と、
前記電子線像を第1のピッチで並べた第1の画像を生成する工程と、
所定の矩形像を前記第1のピッチと異なる第2のピッチで並べた第2の画像を記憶装置から読み出す工程と、
前記第1の画像及び前記第2の画像を加算する工程と、
この加算した画像のモアレ縞の傾きを指標として前記試料に照射する電子線の形状を調整する工程とを有することを特徴とする電子線描画装置の調整方法。
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