JP4403862B2 - Pellicle sticking position measuring device - Google Patents

Pellicle sticking position measuring device Download PDF

Info

Publication number
JP4403862B2
JP4403862B2 JP2004103082A JP2004103082A JP4403862B2 JP 4403862 B2 JP4403862 B2 JP 4403862B2 JP 2004103082 A JP2004103082 A JP 2004103082A JP 2004103082 A JP2004103082 A JP 2004103082A JP 4403862 B2 JP4403862 B2 JP 4403862B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
pellicle
photomask
unit
measurement
measuring device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004103082A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JP2005292197A (en
Inventor
利一 高橋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toppan Inc
Original Assignee
Toppan Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toppan Inc filed Critical Toppan Inc
Priority to JP2004103082A priority Critical patent/JP4403862B2/en
Publication of JP2005292197A publication Critical patent/JP2005292197A/en
Application granted granted Critical
Publication of JP4403862B2 publication Critical patent/JP4403862B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)

Description

本発明は、半導体集積回路及び液晶表示素子等の製造工程のフォトリソ工程で使用されるペリクル付きフォトマスクのペリクル貼付位置測定装置に関する。   The present invention relates to a pellicle sticking position measuring device for a photomask with a pellicle used in a photolithography process of a manufacturing process of a semiconductor integrated circuit, a liquid crystal display element and the like.

一般に、半導体集積回路及び液晶表示素子等の作製プロセスでは、各種パターンをフォトリソグラフィ工程で製造する場合にフォトマスクに形成されたパターンを、フォトレジスト等の感光剤を塗布した基板上に投影光学系にて露光する投影露光方式が使用されている。近年、パターン形状の微細化に伴い、使用される露光光は短波長化される傾向にあり、これまで主流だった水銀ランプに代わって、KrFエキシマレーザー(波長248nm)やArFエキシマレーザー(波長193nm)を用いた露光装置が実用化されており、半導体集積回路及び液晶表示素子等の製造工程では、かなりの数のペリクル付きフォトマスクが使用されている。   In general, in the manufacturing process of a semiconductor integrated circuit and a liquid crystal display element, a pattern formed on a photomask is projected onto a substrate coated with a photosensitive agent such as a photoresist when various patterns are manufactured in a photolithography process. A projection exposure method is used in which exposure is carried out at the same time. In recent years, with the miniaturization of the pattern shape, the exposure light used tends to be shortened in wavelength. Instead of the mercury lamps that have been mainstream so far, KrF excimer laser (wavelength 248 nm) and ArF excimer laser (wavelength 193 nm). ) Has been put into practical use, and a considerable number of photomasks with a pellicle are used in the manufacturing process of semiconductor integrated circuits and liquid crystal display elements.

ペリクル付きフォトマスクの一例を図6に示す。ペリクル付きフォトマスク90は、石英ガラス等の透明基板71上にクロム及び酸化クロム等からなる遮光薄膜でマスクパターン72が形成されたフォトマスク70(図4参照)上に、塵埃等の異物がフォトマスク70表面に付着するのを防止するためにペリクルフレーム81にペリクル膜82が貼付されたペリクル80(図5参照)を粘着剤91等を介して貼付けたものである。ペリクル付きフォトマスクは投影露光方式で主に使用され、仮に、ペリクル膜上にゴミが付着しても、投影光学系の焦点はフォトマスク表面のマスクパターンに合わせてあるので、ペリクル膜上のゴミは、ゴミパターンとして被露光面に結像されず、欠陥パターンとして形成されないようになっている。   An example of a photomask with a pellicle is shown in FIG. A photomask 90 with a pellicle is formed on a photomask 70 (see FIG. 4) in which a mask pattern 72 is formed of a light-shielding thin film made of chromium and chromium oxide on a transparent substrate 71 such as quartz glass. In order to prevent adhesion to the surface of the mask 70, a pellicle 80 (see FIG. 5) having a pellicle film 82 attached to a pellicle frame 81 is attached via an adhesive 91 or the like. A photomask with a pellicle is mainly used in the projection exposure method. Even if dust adheres to the pellicle film, the projection optical system is focused on the mask pattern on the photomask surface. Is not formed as an image on the exposed surface as a dust pattern and is not formed as a defect pattern.

ペリクルフレーム81にペリクル膜82が貼付されたペリクル80をフォトマスク70上に貼り付ける場合、予め設定されたフォトマスク70の所定位置に貼り付ける必要がある。フォトマスク70とペリクル80との位置合わせがずれることによって、フォトマスク70のパターンズレがおきるわけではないので、アライメントマークのような厳密な精度は要求されないが、フォトマスク70とペリクル80との位置ズレが大きいと、露光工程での自動搬送及び露光装置へのセット等で不具合を生じる。
また、この貼り合わせ作業を効率化するために、確認用のマークを入れたフォトマスクにペリクルを貼り合わせる方法も提案されている(例えば、特許文献1参照。)。
When the pellicle 80 having the pellicle film 82 affixed to the pellicle frame 81 is affixed on the photomask 70, it is necessary to affix it to a predetermined position of the photomask 70 set in advance. Since the misalignment between the photomask 70 and the pellicle 80 does not cause a pattern misalignment of the photomask 70, strict accuracy as in the alignment mark is not required. However, the position of the photomask 70 and the pellicle 80 is not required. If the deviation is large, problems may occur due to automatic conveyance in the exposure process, setting in the exposure apparatus, and the like.
In order to improve the efficiency of the bonding operation, a method of bonding a pellicle to a photomask with a confirmation mark has been proposed (see, for example, Patent Document 1).

ペリクル付きフォトマスク90のペリクル80の貼付位置精度の確認方法としては、ノギスを用いてフォトマスク70の端面からペリクルフレーム81迄の距離を複数箇所測定して、ペリクル80の貼付位置がフォトマスク70に対してズレていないか、規格内に納まっているかどうかの判定・確認をする。   As a method for confirming the accuracy of the position of the pellicle 80 in the photomask 90 with pellicle, the distance from the end surface of the photomask 70 to the pellicle frame 81 is measured using a caliper. Judgment / confirmation of whether it is out of alignment or within the standard.

上記フォトマスク70に対するペリクル80の貼付位置精度の確認方法として、ノギスを用いて測定する場合以下の問題が有る。
(1)測定値のバラツキが大きい(測定の再現性が悪い。)。
(2)測定者によるバラツキ(癖、読み方)が大きい。
(3)測定時にノギスをフォトマスク端面及びペリクルフレームに、接触させて測定するために、フォトマスクやペリクルフレームに接触痕(キズ、異物付着)を付けてしまう。(4)測定値の判定で、人がノギスの数値を読み、記録し、手計算で行っているために、記入ミスや計算ミス等のヒュウマンエラーが発生する恐れがある。
特開平11−237729号公報
As a method for confirming the accuracy of the position where the pellicle 80 is attached to the photomask 70, there are the following problems when measuring using a caliper.
(1) The variation of measured values is large (measurement reproducibility is poor).
(2) The variation (バ ラ, how to read) by the measurer is large.
(3) In order to perform measurement by bringing the caliper into contact with the end face of the photomask and the pellicle frame at the time of measurement, contact marks (scratches, foreign matter adhesion) are made on the photomask or the pellicle frame. (4) Since a person reads, records, and manually calculates a caliper value in the determination of the measured value, a human error such as an entry error or a calculation error may occur.
JP 11-237729 A

本発明は、上記問題点に鑑みなされたもので、ペリクル付きフォトマスクのペリクル貼付位置精度を測定する場合、測定者による測定のバラツキをなくし、フォトマスク及びペリクルにキズや異物を付けることなく、測定精度及び測定再現性に優れたペリクル付きフォトマスクのペリクル貼付位置測定装置を提供することを目的とする。   The present invention was made in view of the above problems, and when measuring the pellicle sticking position accuracy of a photomask with a pellicle, the measurement by the measurer is eliminated, without causing scratches or foreign matter on the photomask and pellicle, It is an object of the present invention to provide a pellicle sticking position measuring device for a photomask with a pellicle that is excellent in measurement accuracy and measurement reproducibility.

本発明に於いて上記課題を達成するために、まず請求項1においては、少なくとも回転ステージ11上に設けられた取り付け治具12と非接触式距離測定機15とからなる測定ユニット10と、該測定ユニットで測定したペリクル付きフォトマスクのペリクル貼付位置測定データの判定結果のフィードバックを行う判定・制御ユニット20とから構成されることを特徴とするペリクル貼付位置測定装置としたものである。
To achieve the above object in the present invention, in the first claim 1, the measuring unit 10 consisting of a mounting jig 12 which is provided on at least the rotation stage 11 noncontact distance measuring device 15 for, the The pellicle sticking position measuring apparatus is characterized by comprising a determination / control unit 20 that feeds back the determination result of the pellicle sticking position measurement data of the photomask with pellicle measured by the measuring unit .

また、請求項2においては、少なくとも回転ステージ11上に設けられた取り付け治具12と非接触式距離測定機15とからなる測定ユニット10と、該測定ユニットで測定したペリクル付きフォトマスクのペリクル貼付位置測定データの判定結果のフィードバックを行う判定・制御ユニット20と、ペリクル付きフォトマスクを工程間に移動する移載ユニット30とから構成されていることを特徴とするペリクル貼付位置測定装置としたものである。
Further, in claim 2, the measurement unit 10 including at least the mounting jig 12 provided on the rotary stage 11 and the non-contact distance measuring device 15, and the pellicle sticking of the photomask with a pellicle measured by the measurement unit A pellicle sticking position measuring apparatus comprising a determination / control unit 20 that feeds back a determination result of position measurement data and a transfer unit 30 that moves a photomask with a pellicle between processes It is.

さらにまた、請求項3においては、少なくともフォトマスクとペリクルを貼り合わせてペリクル付きフォトマスクを作製するペリクル貼り付けユニット50と、ペリクル付きフォトマスクを工程間に移動する移載ユニット30aと、回転ステージ11上に設けられた取り付け治具12と非接触式距離測定機15とからなる測定ユニット10と、該測定ユニットで測定したペリクル付きフォトマスクのペリクル貼付位置測定データの判定結果のフィードバックを行う判定・制御ユニット20と、ペリクル付きフォトマスクを工程間に移動する移載ユニット30bとから構成されていることを特徴とするペリクル貼付位置測定装置としたものである。
Furthermore, in claim 3, at least a pellicle attaching unit 50 for producing a photomask with a pellicle by bonding a photomask and a pellicle, a transfer unit 30a for moving the photomask with a pellicle between processes, and a rotary stage 11 is a measurement unit 10 composed of a mounting jig 12 provided on 11 and a non-contact distance measuring device 15, and a determination for feeding back the determination result of the pellicle application position measurement data of the photomask with a pellicle measured by the measurement unit. The pellicle sticking position measuring apparatus includes the control unit 20 and a transfer unit 30b that moves the photomask with pellicle between processes .

本発明のペリクル貼付位置測定装置では、ペリクル貼付位置測定をレーザー変位計等を用いた非接触測定で行っているので、フォトマスク及びペリクルフレームにキズや異物を付けることがない。
また、本発明のペリクル貼付位置測定装置では、ペリクル付きフォトマスクの投入から、ペリクル貼付位位置測定、搬送及び収納を全自動で行うことができるので、予め測定ポイントを設定しておくことにより、測定ユニットで測定されたデータは判定・制御ユニットに取り込まれ、計算及び判定処理された結果がディスプレイ表示もしくはプリントアウトされるので、人手を介することなく測定精度及び測定再現性に優れたペリクル貼付位置測定が可能になる。
また、本発明のペリクル貼付位置測定装置の各ユニットは、各種の環境条件に設定できるので、ペリクル付きフォトマスクのケースからの取り出し、測定及びケースへの収納までの一連の動作がクリーンな状態で可能となる。
In the pellicle sticking position measuring apparatus of the present invention, since the pellicle sticking position measurement is performed by non-contact measurement using a laser displacement meter or the like, scratches and foreign matter are not attached to the photomask and the pellicle frame.
Further, in the pellicle sticking position measuring device of the present invention, since the pellicle sticking position measurement, transport and storage can be performed automatically from the introduction of the photomask with pellicle, by setting the measurement point in advance, The data measured by the measurement unit is taken into the judgment / control unit, and the results of calculation and judgment processing are displayed on the display or printed out, so the pellicle attachment position is excellent in measurement accuracy and measurement reproducibility without human intervention. Measurement becomes possible.
In addition, each unit of the pellicle sticking position measuring apparatus of the present invention can be set to various environmental conditions, so that a series of operations from taking out a photomask with a pellicle from the case, measurement and storage in the case is clean. It becomes possible.

また、本発明のペリクル貼付位置測定装置は、ペリクル貼り付けユニットが設けられているので、フォトマスク及びペリクルを投入することにより、フォトマスクへのペリクル
貼り付け、貼付位置測定、貼付位置状態の判定及びケースへの収納までの一連の動作を自動で行うことができる。さらに、ペリクル貼付位置の測定結果をペリクル貼り付けユニットにフィードバックすることにより、貼り付け位置精度に優れたペリクル付きフォトマスクの作製が可能となる。
In addition, since the pellicle sticking position measuring apparatus of the present invention is provided with a pellicle sticking unit, the pellicle sticking to the photomask, the sticking position measurement, and the judgment of the sticking position state are performed by inserting the photomask and the pellicle. And a series of operation | movement to the accommodation to a case can be performed automatically. Further, by feeding back the measurement result of the pellicle sticking position to the pellicle sticking unit, it is possible to manufacture a photomask with a pellicle with excellent sticking position accuracy.

以下、本発明の実施の形態につき説明する。
請求項1に係る本発明のペリクル貼付位置測定装置は、図1に示すように、回転ステージ11上に設けられた取り付け治具12と非接触式距離測定機15とからなる測定ユニット10と、該測定ユニットで測定したペリクル付きフォトマスクのペリクル貼付位置測定データの判定結果のフィードバックを行う判定・制御ユニット20とから構成されており、ペリクル付きフォトマスクのペリクル貼付位置を非接触で自動的に測定できるようにしたものである。
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described.
As shown in FIG. 1, the pellicle sticking position measuring apparatus according to the first aspect of the present invention includes a measuring unit 10 including a mounting jig 12 provided on a rotary stage 11 and a non-contact distance measuring device 15, It consists of a determination / control unit 20 that feeds back the determination result of the measurement data of the pellicle attachment position measurement data of the photomask with pellicle measured by the measurement unit. It can be measured.

具体的には、まず、フォトマスク70上にペリクル80が貼り付けられたペリクル付きフォトマスク90(図6参照)を回転ステージ11上に設けられた取り付け治具12に載置する。
ここで、回転ステージ11は回転位置制御がディジタル的に可能で、判定・制御ユニット20にて制御される。
Specifically, first, a pellicle-equipped photomask 90 (see FIG. 6) in which a pellicle 80 is bonded onto the photomask 70 is placed on the mounting jig 12 provided on the rotary stage 11.
Here, the rotational position of the rotary stage 11 can be digitally controlled, and is controlled by the determination / control unit 20.

次に、上下左右に動くレーザー変位計等のセンサー13を備えた非接触式距離測定機15により、予め設定された測定ポイントに従って、ペリクル付きフォトマスク90のフォトマスク70の指定された端面及びペリクル80の指定された端面までの距離測定を順次行う。
ここで、測定位置は予め品種毎に判定・制御ユニット20にプログラム化されており、その都度品種を指定することにより、センサー13の位置制御及び回転ステージ11の回転制御を行って、一連の測定ができるようになっている。
また、非接触式距離測定機15は、一例としてレーザー変位計を備えたセンサーの事例を示したが、特にこれに限定されるものではなく、非接触の距離測定機であれば、あらゆる測定機が使用可能である。
Next, the specified end face of the photomask 70 of the photomask with pellicle 90 and the pellicle according to the measurement points set in advance by the non-contact distance measuring device 15 including the sensor 13 such as a laser displacement meter moving up and down and left and right. The distance measurement to 80 designated end faces is sequentially performed.
Here, the measurement position is programmed in advance in the determination / control unit 20 for each product type, and by specifying the product type each time, the position control of the sensor 13 and the rotation control of the rotary stage 11 are performed, and a series of measurement is performed. Can be done.
In addition, the non-contact distance measuring device 15 shows an example of a sensor provided with a laser displacement meter as an example. However, the non-contact distance measuring device 15 is not particularly limited thereto. Can be used.

測定された距離測定データは判定・制御ユニット20に取り込まれ、フォトマスク70上のペリクル80の位置データとして変換され、貼付位置が予め設定された基準内に入っているかどうかの判定処理を行い、判定結果はディスプレーに表示したり、プリントアウトされる。
また、判定・制御ユニット20では、品種毎の測定データの履歴を記録、保管し、任意に過去のペリクル付きフォトマスクの貼付位置測定データ及び判定結果を読み出すことができるデータベース機能を有している。
The measured distance measurement data is taken into the determination / control unit 20 and converted as position data of the pellicle 80 on the photomask 70, and a determination process is performed to determine whether the pasting position is within a preset reference. The determination result is displayed on the display or printed out.
Further, the determination / control unit 20 has a database function that records and stores a history of measurement data for each product type, and can arbitrarily read past pasted photomask-attached photomask-attached photomask and determination results. .

請求項2に係る本発明のペリクル貼付位置測定装置は、図2に示すように、回転ステージ11上に設けられた取り付け治具12と非接触式距離測定機15とからなる測定ユニット10と、該測定ユニットで測定したペリクル付きフォトマスクのペリクル貼付位置測定データの判定結果のフィードバックを行う判定・制御ユニット20と、ペリクル付きフォトマスクを工程間に移動する移載ユニット30とから構成され、収納容器に収納されたペリクル付きフォトマスクを自動的に取り出し、ペリクル貼付位置の自動測定を行った後さらにペリクル付きフォトマスクを収納容器に収納する一連の動作を自動化した全自動のペリクル貼付位置測定装置を提供するものである。
As shown in FIG. 2, the pellicle sticking position measuring apparatus according to the second aspect of the present invention includes a measuring unit 10 including a mounting jig 12 provided on a rotary stage 11 and a non-contact distance measuring device 15; Consists of a determination / control unit 20 that feeds back the determination result of the pellicle attachment position measurement data of the photomask with pellicle measured by the measurement unit, and a transfer unit 30 that moves the photomask with pellicle between processes. Fully automatic pellicle sticking position measuring device that automatically takes out the photomask with pellicle stored in the container, automatically measures the pellicle sticking position, and then stores the photomask with pellicle in the container. Is to provide.

具体的には、まず、ペリクル付きフォトマスク納められた収納容器(SMIF−Pod
)をケース投入ポート40にセットする。
このマスク収納容器(SMIF−Pod)は、窒素などの不活性ガスを充填できるSMIF(Standard Mechanical Interface)−Pod(標準機械的インターフェース機構の統一規格のマスク用ボックス)である。ここで、標準機械的インターフェース機構とは、標準機械的インターフェースSMIFシステムに適合した底部、蓋部のロック、取り出し機構などを備えていることを意味している。
Specifically, first, a storage container (SMIF-Pod) stored in a photomask with a pellicle.
) Is set in the case insertion port 40.
This mask storage container (SMIF-Pod) is a SMIF (Standard Mechanical Interface) -Pod (standard mechanical interface mechanism mask box) that can be filled with an inert gas such as nitrogen. Here, the standard mechanical interface mechanism means that a bottom portion, a lid lock, a take-out mechanism and the like adapted to the standard mechanical interface SMIF system are provided.

次に、収納容器(SMIF−Pod)の蓋部42をSMIF−Podの本体41より蓋部開閉機構にて持ち上げ、移載ユニット30の移載ロボット31(例えば、円筒座標型ロボット)のアームにてペリクル付きフォトマスク90を把持し、測定ユニット10の回転ステージ11上に設けられた取り付け治具12にペリクル付きフォトマスク90を載置する。   Next, the lid 42 of the storage container (SMIF-Pod) is lifted by the lid opening / closing mechanism from the SMIF-Pod main body 41 and used as an arm of the transfer robot 31 (for example, a cylindrical coordinate robot) of the transfer unit 30. Then, the pellicle-equipped photomask 90 is gripped, and the pellicle-equipped photomask 90 is placed on the mounting jig 12 provided on the rotary stage 11 of the measurement unit 10.

次に、上下左右に動くレーザー変位計等のセンサー13を備えた非接触式距離測定機15により、予め設定された測定ポイントに従って、ペリクル付きフォトマスク90のフォトマスク70の指定された端面及びペリクル80の指定された端面までの距離測定を順次行う。
ここで、測定位置は予め品種毎に判定・制御ユニット20にプログラム化されており、その都度品種を指定することにより、センサー13の位置制御及び回転ステージ11の回転制御を行って、一連の測定ができるようになっている。
また、非接触式距離測定機15は、一例としてレーザー変位計を備えたセンサーの事例を示したが、特にこれに限定されるものではなく、非接触の距離測定機であれば、あらゆる測定機が使用可能である。
Next, the specified end face of the photomask 70 of the photomask with pellicle 90 and the pellicle according to the measurement points set in advance by the non-contact distance measuring device 15 including the sensor 13 such as a laser displacement meter moving up and down and left and right. The distance measurement to 80 designated end faces is sequentially performed.
Here, the measurement position is programmed in advance in the determination / control unit 20 for each product type, and by specifying the product type each time, the position control of the sensor 13 and the rotation control of the rotary stage 11 are performed, and a series of measurement is performed. Can be done.
In addition, the non-contact distance measuring device 15 shows an example of a sensor provided with a laser displacement meter as an example. However, the non-contact distance measuring device 15 is not particularly limited thereto. Can be used.

測定された距離測定データは判定・制御ユニット20に取り込まれ、フォトマスク70上のペリクル80の位置データとして変換され、貼付位置が予め設定された基準内に入っているかどうかの判定処理を行い、判定結果はディスプレーに表示したり、プリントアウトされる。
また、判定・制御ユニット20では、品種毎の測定データの履歴を記録、保管し、任意に過去のペリクル付きフォトマスクの貼付位置測定データ及び判定結果を読み出すことができるするデータベース機能を有している。
The measured distance measurement data is taken into the determination / control unit 20 and converted as position data of the pellicle 80 on the photomask 70, and a determination process is performed to determine whether the pasting position is within a preset reference. The determination result is displayed on the display or printed out.
In addition, the determination / control unit 20 has a database function that records and stores a history of measurement data for each product type and can arbitrarily read past pasted photomask-attached photomask-attached photomask and determination results. Yes.

貼付位置の測定が終わったペリクル付きフォトマスク90は、移載ユニット30の円筒座標型ロボット31のアームにて把持され、ケース投入ポート40の収納容器(SMIF−Pod)の本体41上に載置し、蓋部開閉機構にて蓋部42を元の位置に戻し、窒素パージを行ってケース投入ポート40より収納容器(SMIF−Pod)を取り出し、ペリクル付きフォトマスク90のペリクル貼付位置の測定が終了する。
ここで、ペリクル付きフォトマスク90の収納容器(SMIF−Pod)からの取り出し、移動、搬送、ペリクル貼付位置の測定及び収納容器(SMIF−Pod)への収納の一連の動作指示は、判定・測定ユニット20にて行われ、ペリクル付きフォトマスク90の品種毎にプログラム化されている。
The pellicle-equipped photomask 90 for which the pasting position has been measured is held by the arm of the cylindrical coordinate robot 31 of the transfer unit 30 and placed on the main body 41 of the storage container (SMIF-Pod) of the case insertion port 40. Then, the lid 42 is returned to the original position by the lid opening / closing mechanism, nitrogen purge is performed, the storage container (SMIF-Pod) is taken out from the case insertion port 40, and the pellicle application position of the photomask 90 with pellicle is measured. finish.
Here, a series of operation instructions for taking out the photomask 90 with a pellicle 90 from the storage container (SMIF-Pod), moving, transporting, measuring the pellicle application position and storing it in the storage container (SMIF-Pod) are determined and measured. This is performed by the unit 20 and programmed for each type of photomask 90 with a pellicle.

本発明のペリクル貼付位置測定装置は、図2(a)及び(b)に示すように、各ユニット間にゲートバルブ32a及び32bを具備しており、各ユニット毎に排気装置、ガス導入口を設けることにより、各ユニット内を窒素パージした状態にでき、ペリクル付きフォトマスク90の収納容器(SMIF−Pod)からの取り出し、貼付位置測定、収納容器(SMIF−Pod)への収納までの一連の動作がクリーンな状態で可能となり、コンタミ、異物等の付着を防止できる。   As shown in FIGS. 2 (a) and 2 (b), the pellicle sticking position measuring apparatus of the present invention includes gate valves 32a and 32b between each unit, and an exhaust device and a gas inlet are provided for each unit. By providing each unit, the inside of each unit can be purged with nitrogen, and a series of processes from taking out the photomask 90 with a pellicle from the storage container (SMIF-Pod), measuring the pasting position, and storing it in the storage container (SMIF-Pod) Operation is possible in a clean state, and contamination and foreign matter can be prevented from adhering.

請求項3に係る本発明のペリクル貼付位置測定装置は、図3に示すように、フォトマスクとペリクルを貼り合わせてペリクル付きフォトマスクを作製するペリクル貼り付けユニット50と、ペリクル付きフォトマスクを工程間に移動する移載ユニット30aと、回転ステージ11上に設けられた取り付け治具12と非接触式距離測定機15とからなる測定ユニット10と、該測定ユニットで測定したペリクル付きフォトマスクのペリクル貼付位置測定データの判定結果のフィードバックを行う判定・制御ユニット20と、ペリクル付きフォトマスクを工程間に移動する移載ユニット30bとから構成され、フォトマスクとペリクルを貼り合わせてペリクル付きフォトマスクを作製し、ペリクル貼付位置の自動測定を行った後さらにペリクル付きフォトマスクを収納容器に収納するまでの一連の動作を自動化したペリクル貼付位置測定装置を提供するものである。
As shown in FIG. 3, the pellicle sticking position measuring apparatus according to the third aspect of the present invention includes a pellicle sticking unit 50 for producing a photomask with a pellicle by sticking the photomask and the pellicle, and a process using the photomask with the pellicle. A transfer unit 30a that moves in between, a measurement unit 10 that includes a mounting jig 12 and a non-contact distance measuring device 15 provided on the rotary stage 11, and a pellicle of a photomask with a pellicle measured by the measurement unit The judgment / control unit 20 that feeds back the judgment result of the pasting position measurement data, and the transfer unit 30b that moves the photomask with a pellicle between processes. The photomask with a pellicle is attached to the photomask and the pellicle. After making and automatically measuring the pellicle sticking position, pellicle attached There is provided a pellicle attaching position measuring device automates a series of operations until accommodating the photomask container.

具体的には、まず、ペリクル貼り付けユニット50にて、石英ガラス等の透明基板71上にクロム及び酸化クロム等からなる遮光薄膜でマスクパターン72が形成されたフォトマスク70(図4参照)と、塵埃等の異物がフォトマスク70表面に付着するのを防止するためにペリクルフレーム81にペリクル膜82が貼付されたをペリクル80(図5参照)とを貼り合わせ、ペリクル付きフォトマスク90(図6参照)を作製し、所定の位置に載置する。   Specifically, first, in the pellicle attaching unit 50, a photomask 70 (see FIG. 4) in which a mask pattern 72 is formed of a light-shielding thin film made of chromium and chromium oxide on a transparent substrate 71 such as quartz glass. In order to prevent foreign matter such as dust from adhering to the surface of the photomask 70, the pellicle film 82 pasted on the pellicle frame 81 is bonded to the pellicle 80 (see FIG. 5), and the photomask 90 with pellicle (see FIG. 6) and place it at a predetermined position.

次に、移載ユニット30aの移載ロボット31(例えば、円筒座標型ロボット)のアームにてペリクル貼り付けユニット50に載置されたペリクル付きフォトマスク90を把持し、測定ユニット10の回転ステージ11上に設けられた取り付け治具12にペリクル付きフォトマスク90を載置する。   Next, the pellicle-attached photomask 90 placed on the pellicle pasting unit 50 is held by the arm of the transfer robot 31 (for example, a cylindrical coordinate robot) of the transfer unit 30a, and the rotation stage 11 of the measurement unit 10 is held. A photomask 90 with a pellicle is placed on the mounting jig 12 provided above.

次に、上下左右に動くレーザー変位計等のセンサー13を備えた非接触式距離測定機15により、予め設定された測定ポイントに従って、ペリクル付きフォトマスク90のフォトマスク70の指定された端面及びペリクル80の指定された端面までの距離測定を順次行う。
ここで、測定位置は予め品種毎に判定・制御ユニット20にプログラム化されており、その都度品種を指定することにより、センサー13の位置制御及び回転ステージ11の回転制御を行って、一連の測定ができるようになっている。
また、非接触式距離測定機15は、一例としてレーザー変位計を備えたセンサーの事例を示したが、特にこれに限定されるものではなく、非接触の距離測定機であれば、あらゆる測定機が使用可能である。
Next, the specified end face of the photomask 70 of the photomask with pellicle 90 and the pellicle according to the measurement points set in advance by the non-contact distance measuring device 15 including the sensor 13 such as a laser displacement meter moving up and down and left and right. The distance measurement to 80 designated end faces is sequentially performed.
Here, the measurement position is programmed in advance in the determination / control unit 20 for each product type, and by specifying the product type each time, the position control of the sensor 13 and the rotation control of the rotary stage 11 are performed, and a series of measurement is performed. Can be done.
In addition, the non-contact distance measuring device 15 shows an example of a sensor provided with a laser displacement meter as an example. However, the non-contact distance measuring device 15 is not particularly limited thereto. Can be used.

測定された距離測定データは判定・制御ユニット20に取り込まれ、フォトマスク70上のペリクル80の位置データとして変換され、貼付位置が予め設定された基準内に入っているかどうかの判定処理を行い、判定結果はディスプレーに表示したり、プリントアウトされる。
また、貼付位置の判定結果は、ペリクル貼り付けユニット50にフィードバックされ、貼付位置の補正データとして活用することができ、これを繰り返すことにより、貼り付け位置精度に優れたペリクル付きフォトマスクを作製することができる。
また、判定・制御ユニット20では、品種毎の測定データの履歴を記録、保管し、任意に過去のペリクル付きフォトマスクの貼付位置測定データ及び判定結果を読み出すことができるするデータベース機能を有している。
The measured distance measurement data is taken into the determination / control unit 20 and converted as position data of the pellicle 80 on the photomask 70, and a determination process is performed to determine whether the pasting position is within a preset reference. The determination result is displayed on the display or printed out.
The determination result of the pasting position is fed back to the pellicle pasting unit 50 and can be used as pasting position correction data. By repeating this, a photomask with a pellicle with excellent pasting position accuracy is produced. be able to.
In addition, the determination / control unit 20 has a database function that records and stores a history of measurement data for each product type and can arbitrarily read past pasted photomask-attached photomask-attached photomask and determination results. Yes.

貼付位置測定が終わったペリクル付きフォトマスク90は、移載ユニット30bの移載ロボット31(例えば、円筒座標型ロボット)のアームにて把持され、蓋部開閉機構にて蓋部42を持ち上げた状態で、収納ポート60の収納容器(SMIF−Pod)の本体41上に載置する。蓋部開閉機構にて蓋部42を元の位置に戻し、窒素パージを行ってケース投入ポート40より収納容器(SMIF−Pod)を取り出し、ペリクル付きフォトマスク90のペリクル貼付位置の測定が終了する。
ここで、ペリクル付きフォトマスク90の作製、移動、搬送、ペリクル貼付位置の測定及び収納容器(SMIF−Pod)への収納の一連の動作指示は、判定・制御ユニット20にて行われ、ペリクル付きフォトマスク90の品種毎にプログラム化されている。
The pellicle-equipped photomask 90 for which the pasting position measurement has been completed is held by the arm of the transfer robot 31 (for example, a cylindrical coordinate robot) of the transfer unit 30b, and the lid 42 is lifted by the lid opening / closing mechanism. Then, it is placed on the main body 41 of the storage container (SMIF-Pod) of the storage port 60. The lid 42 is returned to the original position by the lid opening / closing mechanism, nitrogen purge is performed, the storage container (SMIF-Pod) is taken out from the case insertion port 40, and the measurement of the pellicle sticking position of the photomask 90 with pellicle is completed. .
Here, a series of operation instructions for manufacturing, moving, transporting, measuring the pellicle application position and storing in the storage container (SMIF-Pod) of the photomask 90 with pellicle is performed by the determination / control unit 20 and the pellicle is attached. It is programmed for each type of photomask 90.

本発明のペリクル貼付位置測定装置は、図3に示すように、各ユニット間にゲートバルブ32a、32b、32c及び32dを具備しており、各ユニット毎に排気装置、ガス導入口を設けることにより、各ユニット内を各種環境(例えば、窒素パージした状態)に設定でき、ペリクル付きフォトマスク90の作製から、測定、収納容器(SMIF−Pod)への収納までの一連の動作がクリーンな状態で可能となり、コンタミ、異物等の付着を防止できる。   As shown in FIG. 3, the pellicle sticking position measuring device of the present invention includes gate valves 32a, 32b, 32c and 32d between the units, and by providing an exhaust device and a gas inlet for each unit. Each unit can be set to various environments (for example, nitrogen purged state), and a series of operations from production of a photomask 90 with a pellicle to measurement and storage in a storage container (SMIF-Pod) is clean. It is possible to prevent contamination and foreign matter from adhering.

(a)は、請求項1に係る本発明のペリクル貼付位置測定装置の一実施例を示す模式構成図である。(A) is a typical block diagram which shows one Example of the pellicle sticking position measuring apparatus of this invention which concerns on Claim 1. FIG.

(b)は、請求項1に係る本発明のペリクル貼付位置測定装置の一実施例を示す模式側面図である。
(a)は、請求項2に係る本発明のペリクル貼付位置測定装置の一実施例を示す模式構成図である。
(B) is a schematic side view showing an embodiment of a pellicle sticking position measuring apparatus of the present invention according to claim 1.
(A) is a schematic block diagram which shows one Example of the pellicle sticking position measuring apparatus of this invention which concerns on Claim 2. FIG.

(b)は、請求項2に係る本発明のペリクル貼付位置測定装置の一実施例を示す模式側面図である。
請求項3に係る本発明のペリクル貼付位置測定装置の一実施例を示す模式構成図である。 フォトマスクの一例を示す説明図である。 ペリクルの一例を示す説明図である。 ペリクル付フォトマスクの一例を示す説明図である。
(B) is a schematic side view showing an embodiment of a pellicle sticking position measuring apparatus of the present invention according to claim 2.
It is a schematic block diagram which shows one Example of the pellicle sticking position measuring apparatus of this invention concerning Claim 3. It is explanatory drawing which shows an example of a photomask. It is explanatory drawing which shows an example of a pellicle. It is explanatory drawing which shows an example of the photomask with a pellicle.

符号の説明Explanation of symbols

10……測定ユニット
11……回転ステージ
12……取り付け治具
13……センサー
15……非接触式距離測定機
20……判定・制御ユニット
30、30a、30b……移載ユニット
31……移載ロボット
32a、32b、32c、32d……ゲートバルブ
40……ケース投入ポート
41……SMIF−Podの本体
42……蓋部
50……ペリクル貼り付けユニット
60……収納ポート
70……フォトマスク
71……透明基板
72……マスクパターン
80……ペリクル
81……ペリクルフレーム
82……ペリクル膜
90……ペリクル付きフォトマスク
91……粘着剤
DESCRIPTION OF SYMBOLS 10 ... Measuring unit 11 ... Rotary stage 12 ... Mounting jig 13 ... Sensor 15 ... Non-contact type distance measuring machine 20 ... Judgment / control unit 30, 30a, 30b ... Transfer unit 31 ... Transfer Loading robot 32a, 32b, 32c, 32d ... Gate valve 40 ... Case loading port 41 ... SMIF-Pod main body 42 ... Lid 50 ... Pellicle sticking unit 60 ... Storage port 70 ... Photo mask 71 ... Transparent substrate 72 ... Mask pattern 80 ... Pellicle 81 ... Pellicle frame 82 ... Pellicle film 90 ... Photomask with pellicle 91 ... Adhesive

Claims (3)

少なくとも回転ステージ(11)上に設けられた取り付け治具(12)と非接触式距離測定機(15)とからなる測定ユニット(10)と、該測定ユニットで測定したペリクル付きフォトマスクのペリクル貼付位置測定データの判定結果のフィードバックを行う判定・制御ユニット(20)とから構成されることを特徴とするペリクル貼付位置測定装置。 A measurement unit (10) comprising at least a mounting jig (12) provided on the rotary stage (11) and a non-contact distance measuring device (15), and a pellicle sticking of a photomask with a pellicle measured by the measurement unit A pellicle sticking position measuring device comprising: a determination / control unit (20) for performing feedback of a determination result of position measurement data . 少なくとも回転ステージ(11)上に設けられた取り付け治具(12)と非接触式距離測定機(15)とからなる測定ユニット(10)と、該測定ユニットで測定したペリクル付きフォトマスクのペリクル貼付位置測定データの判定結果のフィードバックを行う判定・制御ユニット(20)と、ペリクル付きフォトマスクを工程間に移動する移載ユニット(30)とから構成されていることを特徴とするペリクル貼付位置測定装置。 A measurement unit (10) comprising at least a mounting jig (12) provided on the rotary stage (11) and a non-contact distance measuring device (15), and a pellicle sticking of a photomask with a pellicle measured by the measurement unit A pellicle sticking position measurement comprising a determination / control unit (20) for feeding back a determination result of position measurement data and a transfer unit (30) for moving a photomask with a pellicle between processes. apparatus. 少なくともフォトマスクとペリクルを貼り合わせてペリクル付きフォトマスクを作製するペリクル貼り付けユニット(50)と、ペリクル付きフォトマスクを工程間に移動する移載ユニット(30a)と、回転ステージ(11)上に設けられた取り付け治具(12)と非接触式距離測定機(15)とからなる測定ユニット(10)と、該測定ユニットで測定したペリクル付きフォトマスクのペリクル貼付位置測定データの判定結果のフィードバックを行う判定・制御ユニット(20)と、ペリクル付きフォトマスクを工程間に移動する移載ユニット(30b)とから構成されていることを特徴とするペリクル貼付位置測定装置。 A pellicle attaching unit (50) for producing a photomask with a pellicle by attaching at least a photomask and a pellicle, a transfer unit (30a) for moving the photomask with a pellicle between processes, and a rotating stage (11) A measurement unit (10) comprising a provided mounting jig (12) and a non-contact distance measuring device (15), and feedback of determination results of pellicle attachment position measurement data of a photomask with a pellicle measured by the measurement unit A pellicle sticking position measuring apparatus comprising: a determination / control unit (20) that performs the above and a transfer unit (30b) that moves a photomask with a pellicle between processes .
JP2004103082A 2004-03-31 2004-03-31 Pellicle sticking position measuring device Expired - Fee Related JP4403862B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004103082A JP4403862B2 (en) 2004-03-31 2004-03-31 Pellicle sticking position measuring device

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004103082A JP4403862B2 (en) 2004-03-31 2004-03-31 Pellicle sticking position measuring device

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2005292197A JP2005292197A (en) 2005-10-20
JP4403862B2 true JP4403862B2 (en) 2010-01-27

Family

ID=35325235

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004103082A Expired - Fee Related JP4403862B2 (en) 2004-03-31 2004-03-31 Pellicle sticking position measuring device

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4403862B2 (en)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102010015884B4 (en) 2010-03-09 2015-05-28 Kla-Tencor Mie Gmbh Method for reproducibly determining the position of structures on a pellicle frame mask

Also Published As

Publication number Publication date
JP2005292197A (en) 2005-10-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI411523B (en) Imprint apparatus and product manufacturing method
JP4827513B2 (en) Processing method
KR101746094B1 (en) Method for information writing photomask blank, method for manufacturing transfer mask, and method for manufacturing semiconductor device
US7703066B2 (en) Exposure mask manufacturing method, drawing apparatus, semiconductor device manufacturing method, and mask blanks product
TWI544286B (en) Calibration method, measurement apparatus, exposure apparatus, and method of manufacturing article
TWI460529B (en) Photomask manufacturing method
TW512428B (en) Stage apparatus, measurement apparatus and measurement method, and exposure apparatus and exposure method
TW316322B (en)
TW201736977A (en) Exposure device and exposure method
JP2007335613A (en) Substrate position detector, substrate conveyer, exposure device, substrate position detecting method, and manufacturing method of micro device
JP4403862B2 (en) Pellicle sticking position measuring device
KR102534126B1 (en) Freeform distortion correction
JPH11143087A (en) Aligning device and projection aligner using the same
JP7517155B2 (en) Mask adapter, mask adapter installation tool, exposure apparatus, and device manufacturing method
JP2006073916A (en) Position adjusting method, process for fabricating device, position adjusting device, and aligner
US6602641B1 (en) Wafer's zero-layer and alignment mark print without mask when using scanner
JP2023183679A (en) Substrate processing system and substrate processing method
JPH11288878A (en) Mask transfer device and method therefor, and exposure system provided therewith
JPS5984521A (en) Photo mask and wafer processing using the same
JPH10340847A (en) Semiconductor manufacturing device, distortion measurement correction method, and device manufacture
JPH1167659A (en) Projection aligner and its manufacture
JP2020173470A (en) Exposure method
JP2008066572A (en) Mark substrate, method of manufacturing mark substrate, liquid immersion exposure method, and device manufacturing method
JP2009170662A (en) Exposure unit, aligner, exposure system, exposure method, and device manufacturing method
JP2007273653A (en) Stepper and method

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20070319

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090526

A521 Written amendment

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090715

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20091013

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20091026

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121113

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent (=grant) or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20121113

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (prs date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20131113

Year of fee payment: 4

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees