JP4393090B2 - X線コンピュータ断層撮影装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、X線を利用して被検体の形態情報を取得するX線コンピュータ断層撮影装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
X線コンピュータ断層撮影装置は、被検体を透過したX線の強度に基づいて、被検体内部の形態情報を提供するものであり、疾病の診断、治療や手術計画等を初めとする多くの医療行為において重要な役割を果たしている。スキャン計画段階で、管電流時間積(mAs)が決定される。従来の多くのX線コンピュータ断層撮影装置は、スキャン計画画面に、米国の食料医薬品局が定めた被曝線量を表す“CTDI”(CT Dose Index)を表示する。操作者は、“CTDI”を参考に、“mAs”を決定する。特定の装置では、スキャン計画画面に、“CTDI”とともに、画像標準偏差(画像SD)と呼ばれる画質評価指数を表示する。操作者は、“CTDI”と“画像SD”とを参考に、“mAs”を決定する。
【0003】
しかし、操作者は、どの程度の密度差を有する物体が、どの程度のサイズまで識別できるかといういわゆる低コントラス分解能を理解することができない。そのため操作者は、“mAs”を好適に決定するためには熟練を要求される。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
本発明の目的は、適切なスキャン条件の容易な設定を実現するX線コンピュータ断層撮影装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明のある局面は、X線で被検体をスキャンすることにより収集した投影データに基づいて、画像データを再構成するX線コンピュータ断層撮影装置において、前記X線の予定線量と、ターゲットの形状又は性質、及び前記ターゲットを識別する検出率との関係を示すデータを出力するデータ出力部を具備する。
【0006】
本発明の第8局面は、X線で被検体をスキャンすることにより収集したデータに基づいて、画像データを再構成するX線コンピュータ断層撮影装置において、前記画像データに関するパラメータを計算する計算部と、前記計算されたパラメータの誤差範囲を表示する表示部とを具備する。
【0007】
【発明の実施の形態】
以下、図面を参照して本発明の実施形態を説明する。なお、本発明は、X線により被検体をスキャンすることにより収集したデータ(投影データ)に基づいて画像データを再構成するX線コンピュータ断層撮影装置と、X線により被検体を撮影して透過平面画像データを生成するX線診断装置においてX線診断装置との両方に適用可能である。ここでは、X線コンピュータ断層撮影装置を例に説明する。
【0008】
X線コンピュータ断層撮影装置には、X線管と放射線検出器とが1体として被検体の周囲を回転する回転/回転(ROTATE/ROTATE)タイプと、リング状に多数の検出素子がアレイされ、X線管のみが被検体の周囲を回転する固定/回転(STATIONARY/ROTATE)タイプ等様々なタイプがあり、いずれのタイプでも本発明を適用可能である。ここでは、現在、主流を占めている回転/回転タイプとして説明する。また、1スライスの断層像データを再構成するには、被検体の周囲1周、約360°分の投影データが、またハーフスキャン法でも180°+ビュー角分の投影データが必要とされる。いずれの再構成方式にも本発明を適用可能である。ここでは、ハーフスキャン法を例に説明する。また、入射X線を電荷に変換するメカニズムは、シンチレータ等の蛍光体でX線を光に変換し更にその光をフォトダイオード等の光電変換素子で電荷に変換する間接変換形と、X線による半導体内の電子正孔対の生成及びその電極への移動すなわち光導電現象を利用した直接変換形とが主流である。X線検出素子としては、それらのいずれの方式を採用してもよいが、ここでは、前者の間接変換形として説明する。また、近年では、X線管とX線検出器との複数のペアを回転リングに搭載したいわゆる多管球型のX線コンピュータ断層撮影装置の製品化が進み、その周辺技術の開発が進んでいる。本発明では、従来からの一管球型のX線コンピュータ断層撮影装置であっても、多管球型のX線コンピュータ断層撮影装置であってもいずれにも適用可能である。ここでは、一管球型として説明する。さらに、検出器の多列化が進み、最近では、40列(40セグメント)、さらにそれ以上の検出器が実用段階にある。本発明は、従来からあるシングルスライス型検出器はもちろん、マルチスライス型検出器を備えたX線コンピュータ断層撮影装置にも適用可能である。ここでは、マルチスライス型検出器を備えたX線コンピュータ断層撮影装置を例に説明する。
【0009】
図1は本実施形態に係るX線コンピュータ断層撮影装置の構成を示している。ガントリ100は、X線管101とマルチスライス型X線検出器103を有する。X線管101とマルチスライス型X線検出器103は、回転可能に支持されたリング状の回転フレーム102に搭載される。マルチスライス型X線検出器103は、X線管101に、対向する。架台駆動部107の駆動による回転中に、高電圧発生装置109からスリップリング108を経由してX線管101に連続的又は断続的に管電圧が印加される。それによりX線管101から連続的又は断続的にX線が曝射される。マルチスライス型X線検出機103は、被検体を透過したX線を検出するための検出素子がm×nのマトリクスで配列されたモジュールを複数有する。複数のモジュールは、チャンネル方向に関して配列される。それにより例えば40列×916チャンネルという大規模な検出器が構成される。
【0010】
一般的にDAS(data acquisition system) と呼ばれているデータ収集回路104は、検出器103からチャンネルごとに出力される信号を電圧信号に変換し、増幅し、さらにディジタル信号に変換する。このデータ(生データ)は非接触データ伝送装置105を経由してガントリ外部の前処理装置106に送られ、そこで感度補正等の補正処理を受け、再構成処理の直前段階にあるいわゆる投影データとして補助記憶装置112に記憶される。
【0011】
補助記憶装置112は、再構成装置114、表示装置116、入力装置115、計画補助システム117、低コントラスト分解能計算部118、そして露光制御部119、検出率プロファイルデータ記憶部120、保管データファイル生成部121、データ保管装置122、印刷データ生成部123、フィルムイメージャ124とともに、データ/制御バスを介してシステムコントローラ110に接続される。
【0012】
管電圧、管電流、X線曝射時間等のスキャン条件の最適化、スライス厚、スライス枚数、マトリクスサイズ等の再構成条件の最適化は、専門的知識を必要とする。その専門的知識をベースとして、経験の浅いまた専門的知識の希薄な者であっても同等の条件設定を可能にするために開発されたシステムが、計画補助システム117である。計画補助システム117は、条件最適化機能と共に、グラフィカルユーザインタフェース(GUI)を有するスキャン計画画面の構築機能を有する。
【0013】
低コントラスト分解能計算部118は、低コントラスト分解能を表す指標としてのDEI(Dose Efficiency Index)及びそれに関連する様々な指標を計算するために設けられている。DEIは、ある線量のX線で、周囲に対してある密度差(CT値差)を有するターゲットをスキャンし、そのスキャンにより収集した投影データから再構成した画像上で50%の検出率(識別率)を示すターゲットの径(直径)として表される。つまり、DEIは、どこまで小さなターゲットを50%の確率で画像上で同定することができるかを表す指標である。
【0014】
ここでは線量は、典型的な指標であるCTDI(CT dose index)で表す。CTDIは、スライス面に対する垂直線上の線量プロファイルの積分を、スライス厚とスライス数との積で除した値として得られる。周知のとおり、CTDIから、管電流時間積“mAs”が導かれ得る。
【0015】
低コントラスト分解能計算部118は、指定されたDEIを実現するために必要とされるX線の予定線量、ここでは“mAs”を計算する。露光制御部119は、計算されたmAsに従って、X線管101の管電流を制御する。露光制御部119は、例えばヘリカルスキャンでは、複数位置で計算されたmAsに基づいて、天板の移動に従ってX線管の管電流を動的に変化させる。
【0016】
検出率プロファイルデータ記憶部120は、mAsとファントム径とが相違する複数の検出率プロファイルに関するデータを保持している。検出率プロファイルは、ターゲット径に対する検出率の関数を表している。ファントム径は、実質的に透過線量に対応する。
【0017】
保管データファイル生成部121は、画像データと、その画像データの基になった投影データを収集したときのDEIのデータとを含む保管用データファイルを生成する。典型的には、保管用データファイルは、ヘッダ領域とデータ領域とからなる。画像データはデータ領域に書き込まれる。DEIデータは、患者情報等と共にヘッダ領域に書き込まれる。保管用データファイルは、データ保管装置122の光学ディスク等の大容量記憶媒体に記憶される。印刷データ生成部123は、画像データと、その画像データの基になった投影データを収集したときのDEIのデータとから、印刷用のフレームデータを生成する。印刷装置、例えばフィルムイメージャ124は、印刷データに従ってフィルムに画像と、DEI等の付帯情報を印刷する。
【0018】
次に、DEIについて説明する。図2には、円柱形のファントムの縦断面図を示している。ファントムは、吸収係数がμ2のベース2と、ベース2内に埋め込まれた吸収係数がμ1の複数の円柱形のターゲット1−1,1−2,1−3,1−4とから構成される。ターゲット1−1は例えば15mmの直径を有する。ターゲット1−2は12mm、ターゲット1−3は9mm、ターゲット1−4は6mmの直径を有する。密度差は、ベース2の吸収係数に対するターゲット1の吸収係数の差として与えられる。密度差は、画像上では、ベース2のCT値に対するターゲット1のCT値の差(CT値差)として現れる。
【0019】
このファントムを管電圧及びスライス厚が一定のもとで、管電流時間積mAsを変えながらそれぞれ5回ずつ撮影する。得られた複数の画像を対象として、視知覚的に識別可能なターゲット1の限界径を複数の評価者による繰り返し評価する。図3には、ターゲット径と検出率(評価者全体のトライ回数に対する視知覚的にターゲットを識別した回数の比率)との関係を、管電流時間積(mAs)ごとに示している。なお、評価者としては当該装置が設置される病院の当該画像の読影担当者及び医師が好ましい。
【0020】
図4には、”CTDI”で正規化した分布を示す。図5には、CTDIで正規化した分布に対する近似曲線(検出率プロファイル)を示している。この検出率プロファイルは、CTDIに対する依存性が解消される。正規化したターゲット径と検出率の関係は、装置固有の空間分解能に関する性能を表している。
【0021】
DEIは、50%の検出率(確率)で認識できるターゲットの径として定義される。この図5の例では、DEIは11mmである。11mmのターゲットが50%の確率で識別できる。
【0022】
検出率pは、ターゲット径D、CTDI、密度差ρ、透過線量Iに依存して決まる。つまり、fを検出率プロファイル関数(近似曲線関数)とすると、
p=f(D,CTDI,ρ,I) ・・・(1)
で表される。
【0023】
ターゲット径Dを、基準線量CTDIref、基準密度差ρref、基準透過線量Irefで正規化すると、検出率pと、正規化されたターゲット径DNとの単純化された関係を導出することができる。
【0024】
p=f(DN) ・・・(2)
DN=D×(CTDI/CTDIref)1/2
× (ρ/ρref)×f{(I/Iref)1/2} ・・・(3)
正規化されたターゲット径DNと検出率pとの関係が得られる。
【0025】
低コントラスト分解能計算部118は、上記式を用いて、CTDI、密度差ρ、透過線量I、検出率p、ターゲット径Dの中のいずれか4つのパラメータを設定することで、いずれか1つのパラメータを計算することができる。例えば、設定されたCTDIから、検出率pが50%を示すターゲット径D、つまりDEIを計算することができる。通常、密度差ρ、透過線量Iが、それぞれ基準値が与えられる。
【0026】
計算されたDEIは、その誤差範囲とともに、エキスパートシステム117で構築される図6に示すスキャン計画画面の中の“線量情報(DOSE INFO.)”のタブウインドウ内に、”CTDI”、“DLP”、”mAs”という一般的な線量情報とともに、“DEL(D(mm) at 50%)”という表記で表示される。
【0027】
誤差範囲は、図6の例では、±0.5mmで表示される。この誤差範囲は、図5の分布において、各検出率に対応する複数のターゲット径の分散に基づいて決まる。各検出率に対応する誤差範囲は、検出率プロファイルデータ記憶部120に、検出率プロファイルに関連付けられて記憶される。
【0028】
スキャンス計画画面の左上欄には、図7に示すように当該DEIに対応するファントムのサンプルイメージが表示される。複数のDEIに対応する複数のサンプルイメージが、検出率プロファイルデータ記憶部120に記憶されている。計算されたDEIに対応するサンプルイメージが選択的に検出率プロファイルデータ記憶部120から計画補助システム117に読み出される。
【0029】
スキャンス計画画面の右上欄には、図8に示すように、設定されたCTDIに対応する検出率プロファイルがDEIを示すライン(破線)とともに表示される。
【0030】
ウインドウ内にはDEIと共に、
「操作者が指定した所望の検出率pに対応するターゲット径」、
「操作者が指定した所望のターゲット径に対応する検出率p」、
「操作者が指定した所望のCT値差に対応するDEI」が表示される。
【0031】
「任意の検出率pに対応するターゲット径」、「任意のターゲット径に対応する検出率p」、「任意のCT値差に対応するDEI」は、DEIとともに、低コントラスト分解能計算部118で計算される。
【0032】
例えば、図9に示すように、「操作者が指定した所望の検出率pに対応するターゲット径」が、誤差範囲と共に、“D(mm) at XX%”の表記で表示される。任意の検出率pは、数値入力、または当該表記の左側のプルダウンメニューから選択することにより入力される。図9の例では、80%の検出率を示すターゲット径が19.0mmであり、その誤差範囲が±3mmであることが表示されている。図10にこのスキャン計画画面の右上欄に表示される検出率プロファイルを示す。グラフ内には、DEIを示すライン(破線)とともに、当該入力した80%の検出率とそれに対応するターゲット径の11mmがライン(破線)により表示される。
【0033】
また、図11に示すように、「操作者が指定した所望のターゲット径に対応する検出率p」が、その誤差範囲と共に、“検出率(DETECTABILITY RATE )(%) at XXmm”の表記で表示される。任意のターゲット径は、数値入力、または当該表記の左側のプルダウンメニューから選択することにより入力される。図11の例では、10mm径のターゲットが、18.5%の検出率(認識率)であることが表示されている。図12にスキャン計画画面の右上欄に表示される検出率プロファイルを示す。グラフ内には、DEIを示すライン(破線)と、当該入力した80%の検出率とそれに対応するターゲット径の11mmを示すライン(破線)とともに、10mmのターゲット径とそれに対応する18.5%の検出率を示すラインが表示される。
【0034】
さらに、図13に示すように、「操作者が指定した所望の密度差に対応するDEI(検出率pが50%のターゲット径」が、その誤差範囲と共に、“DEI at XX(ρ)”の表記で表示される。任意の密度差は、数値入力、または当該表記の左側のプルダウンメニューから選択することにより入力される。図13の例では、0.7の密度差である場合のDEIは19.0mmであり、その誤差範囲は±2.5mmであることが表示されている。図14にスキャン計画画面の右上欄に表示される検出率プロファイルを示す。このグラフ(密度差が基準密度差に等価)とともに、0.7の密度差の場合の検出率プロファイルがそのDEIとともに表示される。
【0035】
さらに、CT値差計算ボタンをクリックすることにより、計算部118により、操作者が設定したCTDIに基づいて、操作者が設定したDEIを実現するために必要なCT値差(密度差)が計算される。エキスパートシステム117は、図17に示すように、計算されたCT値差(密度差)をスキャン計画画面上で表示させる。表示されたCT値差(密度差)から、撮影技師は被検体に注入すべき造影剤の量をある程度把握することができる。
【0036】
検出率プロファイルは、ヘリカルスキャン又は、シングル又はマルチスライススキャンが天板の停止と移動との交番を伴って繰り返されるコンベンショナルスキャン(ステッピングスキャン)中の線量制御(露光制御)に利用可能である。この機能はDEIコンスタントコントロールと称する。DEIコンスタントコントロール機能は、スキャン計画画面中の“DEIコンスタントコントロール”ボタンをクリックすることでセットされる。
【0037】
例えば図15に示すように、“CTDI更新”ボタンのクリックに呼応して、CTDI更新のための条件設定用のサブウインドウがポップアップで表示される。このサブウインドウには、ターゲット径入力ボックス、CT値差入力ボックス、検出率入力ボックスが含まれる。これらボックスに、操作者がそれぞれ所望とする値を入力する。なお、検出率入力ボックスに50%を入力することにより、DEIを設定することができる。DEIをCTDI更新条件を決めるサブウインドウの例を図16に示す。
【0038】
これら入力条件を満たすために必要な線量“CTDI”が、上述式から計算部118により計算され、その計算されたCTDIから既存式に従って計画補助システム117により“mAs”が特定される。
【0039】
入力条件を満たすために必要なCTDIは、上述式から分かるように、透過線量、実際には透過線量と照射線量との差のX線減衰線量に応じて変動する。スキャン中又はスキャン前に取得した実際の透過線量(投影データ)に応じて、mAsを制御することにより、設定されたDEI、すなわち設定されたターゲット径が、50%の検出率で認識される、または設定したターゲット径が、所望の検出率で認識されるという条件をスキャン中にほぼ維持するように、露光制御部119により管電流を制御することができる。
【0040】
ヘリカルスキャンでは、被検体のX線の照射位置が連続的に変化する。低コントラスト分解能計算部120は、入力されたDEIが被検体の複数位置で維持されるように、複数位置各々に対応するCTDIを特定し、特定されたCTDIから、複数位置各々に対応するmAsを計算する。露光制御部119は、計算された複数位置のmAsに従って、天板の移動に従ってX線管の管電流を動的に変化させるように高電圧発生装置109を制御する。
【0041】
CTDIを特定するためには、複数位置各々に対応するX線減衰量(または透過線量)が必要とされる。複数位置各々に対応するX線減衰量は、スキャノグラムデータから取得することができる。複数位置各々に対応するX線減衰量は、ヘリカルスキャンの実行中に収集される投影データから取得することができる。
【0042】
図18には、ヘリカルスキャンにおいて、DEIコンスタントコントロール機能のもとで制御された管電流の時間変化を示している。この例では、DEIを15mmにほぼ維持する露光制御が示されている。DEIコンスタントコントロールでは、計算部118は、ヘリカルスキャン中に取得した1回転前の投影データ(透過線量)に基づいて、図19に示すように、DEIを一定値に維持するために必要なmAsを決定し、露光制御部119は、決定されたmAsに従って当該スキャン中の管電流を今の回転中の管電流を調整する。ここでは例えば、直前の1回転前であって、同じビュー角(X線管101の回転角α)で取得した投影データ(透過線量I)とDEI(=15mm)とに対応するCTDIを上記(1)式から計算し、そのCTDIに応じたmAsが設定される。つまり、設定したDEIを維持するように、実際の透過線量に応じて1回転遅れでmAsが調整される。
【0043】
なお、多チャンネル型検出器103では、制御因子としての透過線量Iとして、投影データの代表値が用いられる。投影データの代表値としては、例えば、チャンネル方向の中央チャンネルで取得した投影データ、チャンネル方向の全チャンネルで取得した投影データの平均値、さらにはチャンネル方向の中央の所定数のチャンネルで取得した投影データの平均値であってもよいし、他の手法で求めても良いし、ここでは特にその手法を限定するものではない。
【0044】
CT検査では、スキャン位置決め等の為に事前にスキャノグラムと呼ばれる透過像が取得される。このスキャノグラムから複数の位置(Z位置)で得られる透過線量Iに基づいて、図20に示すように、撮影位置(Z位置)ごとに管電流制御を行うようにしてもよい。
【0045】
また、コンベンショナルなシングル又はマルチスライススキャンが天板移動と交互に繰り返されるいわゆるステッピングスキャンにも適用でき、その場合、事前に得たスキャノグラムから体軸方向の位置(Z位置)ごとに得られる透過線量Iに基づいて、図21に示すように、撮影位置(Z位置)ごとに管電流制御を行うようにしてもよい。
【0046】
このように本実施形態によると、線量、密度差、透過線量に依存しないターゲット径と検出率との関係を導出することにより、それにより線量等のスキャン条件の設定に際して、当該低コントラスト分解能を参照することの優位性を向上させることができる。
【0047】
DEIは、CTDIやmAs等とともに、画像読影時に非常に有効な指標である。画像読影は、ディスプレイに表示させた画像を観て行う場合と、フィルムに印刷した画像を観て行う場合とがある。保管データファイル生成部121では、画像データと、その画像データの基になった投影データを収集したときのDEIのデータとを含む保管用データファイルを生成する。典型的には、保管用データファイルは、ヘッダ領域とデータ領域とからなる。画像データはデータ領域に書き込まれる。DEIデータは、患者情報等と共にヘッダ領域に書き込まれる。印刷データ生成部123では、画像データと、その画像データの基になった投影データを収集したときのDEIのデータとから、印刷用のフレームデータを生成する。印刷用のフレームデータに従ってフィルムイメージャ124で印刷されたフィルムの例を図22に示している。
【0048】
なお、本発明は上記実施形態そのままに限定されるものではなく、実施段階ではその要旨を逸脱しない範囲で構成要素を変形して具体化できる。また、上記実施形態に開示されている複数の構成要素の適宜な組み合わせにより、種々の発明を形成できる。例えば、実施形態に示される全構成要素から幾つかの構成要素を削除してもよい。さらに、異なる実施形態にわたる構成要素を適宜組み合わせてもよい。
【0049】
【発明の効果】
本発明によれば、適切なスキャン条件の容易な設定を実現するX線コンピュータ断層撮影装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明によるX線コンピュータ断層撮影装置の実施形態の構成を示すブロック図。
【図2】図2は、本実施形態において、ファントムの縦断面図。
【図3】図3は、本実施形態において、ターゲット径に対する検出率の分布を示す図。
【図4】図4は、本実施形態において、“CTDI”で正規化された図3の分布を示す図。
【図5】図5は、本実施形態において、図4の分布に対する近似曲線を示す図。
【図6】図6は、図1の計画補助システムにより構成されるX線条件設定画面を示す図。
【図7】図7は、図6の画面内に表示される、DEIに対応するサンプルイメージを示す図。
【図8】図8は、図6の画面内に表示される検出率プロファイルを示す図。
【図9】図9は、図1の計画補助システムにより構成されるX線条件設定画面を示す図。
【図10】図10は、図9の画面内に合成される検出率プロファイルを示す図。
【図11】図11は、図1の計画補助システムにより構成されるX線条件設定画面を示す図。
【図12】図12は、図11の画面内に表示される検出率プロファイル例を示す図。
【図13】図13は、図1の計画補助システムにより構成されるX線条件設定画面を示す図。
【図14】図14は、図13の画面内に表示される検出率プロファイルを示す図。
【図15】図15は、図1の計画補助システムにより構成されるX線条件設定画面であって、特に「CTDI更新」ボタンのクリックに伴ってポップアップされる更新条件設定ウインドウを示す図。
【図16】図16は、図1の計画補助システムにより構成されるX線条件設定画面であって、特に「CTDI更新」ボタンのクリックに伴ってポップアップされる他の更新条件設定ウインドウを示す図。
【図17】図17は、図1の計画補助システムにより構成されるX線条件設定画面であって、特に「CT値差」ボタンのクリックに伴ってポップアップされるCT値差ウインドウを示す図。
【図18】図18は、図1の露光制御部のDEIコンスタントコントロールによるmAsのZ位置に対する変化を示す図。
【図19】図19は、本実施形態において、mAs決定方法に関する説明図。
【図20】図20は、図1の露光制御部のDEIコンスタントコントロールによるmAsのZ位置に対する変化を示す図。
【図21】図21は、図1の露光制御部のDEIコンスタントコントロールによるmAsのZ位置に対する変化を示す図。
【図22】図22は、図1のフィルムイメージャで印刷されたフィルムを示す図。
【符号の説明】
100…ガントリ、101…X線管、102…回転フレーム、103…マルチスライス型X線検出器、104…データ収集回路、105…非接触データ伝送装置、106…前処理装置、107…架台駆動部、108…スリップリング、109…高電圧発生装置、110…システムコントローラ、112…補助記憶装置、114…再構成装置、116…表示装置、115…入力装置、117…計画補助システム、118…低コントラスト分解能計算部、119…露光制御部、120…検出率プロファイルデータ記憶部、121…保管データファイル生成部、122…データ保管装置、123…印刷データ生成部、124…フィルムイメージャ。
Claims (19)
- X線で被検体をスキャンすることにより収集した投影データに基づいて、画像データを再構成するX線コンピュータ断層撮影装置において、
前記X線の予定線量と、ターゲットの形状又は性質、及び前記ターゲットを識別する検出率との関係を示すデータを出力するデータ出力部を具備するX線CT装置。 - 前記予定線量を入力するように構成された入力部と、
前記予定線量に基づいて、所定の検出率で識別されるように周囲CT値に対して所定のCT値差を有するターゲットの径を表すDEIを計算するように構成された計算部と、
前記入力された予定線量が、前記計算されたDEIとともに含まれるスキャン計画画面を構築するように構成された計画補助システムと、
前記スキャン計画画面を表示するように構成された表示装置とをさらに備える請求項1記載のX線コンピュータ断層撮影装置。 - 所定の検出率で識別されるように周囲CT値に対して所定のCT値差を有するターゲットの径を表すDEIを入力するように構成された入力部と、
前記DEIに基づいて、前記X線の予定線量を計算するように構成された計算部と、
前記入力されたDEIが前記計算された予定線量とともに含まれるスキャン計画画面を構築するように構成された計画補助システムと、
前記スキャン計画画面を表示するように構成された表示装置とをさらに備える請求項1記載のX線コンピュータ断層撮影装置。 - 任意の検出率と、前記検出率で識別されるターゲットの径とを入力するように構成された入力部と、
前記入力された検出率と前記入力されたターゲット径とに基づいて、前記X線の予定線量を計算するように構成された計算部と、
前記入力された検出率と前記入力されたターゲット径とが、前記計算された予定線量とともに含まれるスキャン計画画面を構築するように構成された計画補助システムと、
前記スキャン計画画面を表示するように構成された表示装置とをさらに備える請求項1記載のX線コンピュータ断層撮影装置。 - 前記X線の予定線量と、所定の検出率で識別されるターゲットの径を表すDEIとを任意に入力するように構成された入力部と、
前記入力されたX線の予定線量で前記入力されたDEIが実現されるように、前記ターゲットの周囲CT値に対するCT値差を計算する計算部と、
前記入力されたX線の予定線量と前記入力されたDEIとが、前記計算されたCT値差又はその導出値とともに含まれるスキャン計画画面を構築するように構成された計画補助システムと、
前記スキャン計画画面を表示するように構成された表示装置とをさらに備える請求項1記載のX線コンピュータ断層撮影装置。 - 前記X線の予定線量に基づいて、所定の検出率で識別されるように周囲CT値に対して所定のCT値差を有するDEIを計算するように構成された計算部と、
前記画像データを、前記計算されたDEIに関するデータとともに含む保管用データファイルを生成するように構成された保管データファイル生成部とをさらに備える請求項1記載のX線コンピュータ断層撮影装置。 - 前記X線の予定線量に基づいて、所定の検出率で識別されるように周囲CT値に対して所定のCT値差を有するDEIを計算するように構成された計算部と、
前記画像データと前記計算されたDEIとをから印刷データを生成するように構成された印刷データ生成部とをさらに備える請求項1記載のX線コンピュータ断層撮影装置。 - 前記X線を曝射するX線源と、
前記被検体を透過したX線を検出するX線検出器と、
前記X線検出器からの出力に基づいてX線画像を生成する画像生成装置と、
前記X線源のX線照射条件又は前記生成手段の画像生成条件を選択するための検査計画画面に、前記X線源の基準線量におけるローコントラストを示す指標を表示する表示器とをさらに備える請求項1記載のX線コンピュータ断層撮影装置。 - 前記X線の予定線量と、検出率と、前記検出率で識別されるターゲットの径と、前記ターゲットのCT値の周囲CT値に対するCT値差との中の任意の一のパラメータを、他の三のパラメータに基づいて計算するように構成された計算部と、
前記他の三のパラメータが、前記計算された任意の一のパラメータとともに含まれるスキャン計画画面を構築するように構成された計画補助システムと、
前記スキャン計画画面を表示するように構成された表示装置とをさらに備える請求項1記載のX線コンピュータ断層撮影装置。 - 前記ターゲットのCT値の周囲CT値に対するCT値差を入力するように構成された入力部と、
前記入力されたCT値差と、任意又は所定の検出率と、前記検出率とで識別されるターゲットの径とに基づいて、前記X線の予定線量を計算するように構成された計算部と、
前記入力されたCT値差が、前記計算された予定線量とともに含まれるスキャン計画画面を構築するように構成された計画補助システムと、
前記スキャン計画画面を表示するように構成された表示装置とをさらに備える請求項1記載のX線コンピュータ断層撮影装置。 - 前記スキャン計画画面には、前記DEIに対応するサンプルイメージが含まれる請求項2記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
- 前記サンプルイメージは、ファントムイメージである請求項11記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
- 前記スキャン計画画面には、前記検出率を前記ターゲット径の関数として表すプロファイルが含まれる請求項2記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
- 前記スキャン計画画面には、任意の検出率に対応するターゲット径が含まれる請求項2記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
- 前記スキャン計画画面には、任意のターゲット径に対応する検出率が含まれる請求項2記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
- 前記スキャン計画画面には、任意のCT値差に対応するDEIが含まれる請求項2記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
- 前記計算部は、前記複数位置各々に対応するX線減衰量に基づいて前記X線の予定線量を計算する請求項16記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
- 前記X線減衰量は、スキャノグラムデータから発生される請求項17記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
- 前記X線減衰量は、前記ヘリカルスキャンで収集される投影データから発生される請求項17記載のX線コンピュータ断層撮影装置。
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