JP4383374B2 - X線回折装置 - Google Patents
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(1)入射X線に対する回折角度2θを規定する2θ軸、
(2)試料に入射するX線の入射角度ωを規定するω軸、
(3)試料に入射するX線の入射角度ωと試料で回折するX線の回折角度2θとを連動して規定する2θ/ω軸、
(4)X線発生系が試料を見込む角度θsを規定するθs軸、
(5)X線検出手段が試料を見込む角度θdを規定するθd軸、
(6)試料のあおり移動を規定するRx軸及びRy軸、
(7)試料の垂直方向の昇降移動を規定するZ軸、又は
(8)試料の面内回転を規定するφ軸
等が考えられる。
(a)試料を通る水平軸線を中心としてX線発生系を回転させることによりそのX線発生系から試料へ向かうX線の出射角度θsを調整するための移動系であるθs移動系や、
(b)X線発生系から出射するX線の光軸に対して直角方向のX線発生系の位置を微調整するための移動系であるTs移動系や、
(c)モノクロメータへ入射するX線の入射角度ωMを調整するための移動系であるωM1移動系や、
(d)試料を垂直方向へ平行移動させる移動系であるZ移動系や、
(e)試料をあおり移動させるための移動系であるあおり移動系や、
(f)試料を面内回転移動させるための移動系であるφ移動系や、
(g)試料を通る水平軸線を中心としてX線検出器を回転させることにより、そのX線検出器が試料を見込む角度θdを調整するための移動系であるθd移動系
等が考えられる。
この測定軸は、X線発生系20が試料Sを見込む角度θsを変化させるときの測定軸である。この測定軸は、θs移動系26が作動してX線発生系20を回転移動させるときの基準となる回転軸のことである。
(2)θd軸
この測定軸は、X線検出器23が試料Sを見込む角度θdを変化させるときの測定軸である。この測定軸は、θd移動系37が作動してX線検出器23を回転移動させるときの基準となる回転軸のことである。
この測定軸は、試料Sのあおり角度Rxを変化させるときの測定軸である。この測定軸は、あおり移動系(Rx)34が作動して試料SをRx方向へあおり移動させるときの基準となる回転軸のことである。
(4)Ry軸
この測定軸は、試料Sのあおり角度Ryを変化させるときの測定軸である。この測定軸は、あおり移動系(Ry)34が作動して試料SをRy方向へあおり移動させるときの基準となる回転軸のことである。
この測定軸は、試料Sを垂直方向(すなわち、上下方向)へ平行移動させるときの測定軸である。この測定軸は、Z移動系31が作動して試料Sを垂直方向、すなわちZ方向へ平行移動させるときの基準となる軸のことである。
(6)φ軸
この測定軸は、試料Sを面内回転させるときの測定軸である。この測定軸は、φ移動系32が作動して試料Sを垂直軸線φを中心として回転移動させるときの基準となる軸のことである。
この測定軸は、試料Sに入射するX線に対する回折X線の成す角度2θを規定する測定軸である。回折角度2θは2θ=θs+θdによって決まる値であり、θs移動系26とθd移動系37との連動によって決まる値である。
(8)ω軸
この測定軸は、試料Sに入射するX線の入射角度ωを規定する軸である。ω軸はθs軸と同じ測定軸のように感じられるが、角度θsはθs移動系26の単独の動作によって規定される角度であるのに対し、角度ωは回折角度2θを保持したままその値を変化させなければならない。すなわち、角度θsはθs移動系26の単独の動作によって変化させることができるのに対し、角度ωはθs移動系26とθd移動系37を、θd=2θ―θsとなるように連動させることにより変化させることができる。このように動かしたとき、角度ωは角度θsに一致する。このような事情から、ω測定軸とθs測定軸とは互いに異なった測定軸として存在する。
この測定軸は、X線入射角度ωとX線回折角度2θとを互いに連動して変化させる際の基準となる軸である。この2θ/ω軸は、θs移動系26とθd移動系37との連動によって決まる値である。
例えば、図1において、複数の測定データをハードディスク11内に記憶する際の記憶方法として、図1(a)に示すように1つのファイル内に連続して記憶することに代えて、個々の測定データを別々のファイルに格納するようにしても良い。但し、この場合には、希望する測定データを検索する際に多数のファイルを認識しなければならないので、処理が複雑になるおそれがある。
また、上記実施形態では図2に示した各種の移動系を備えた測定装置2を用いたが、移動系の種類及び数は図2の実施形態に限定されるものではない。
11.ハードディスク(記憶手段)、 12.バス、 21.試料支持装置、
20.X線発生系、 22.X線源、 23.X線検出器、 24.モノクロメータ、
41.メインフレーム、 42.メニューバー、 43.マニュアル制御画面、
44.「測定実行」のアイコン、 45.TAB表示、
P1,P2,P3.プロファイル、 S.試料、
S1,S2,S3.スリット、 X0.水平軸線
Claims (3)
- X線を発生するX線源と、
試料を支持する試料支持手段と、
X線を検出するX線検出手段と、
測定の基準となる複数の測定軸と、
画像を表示する表示手段と、
該表示手段に供給する画像データを生成する画像データ生成手段とを有し、
前記画像データ生成手段は、
前記複数の測定軸の個々に関する測定データをTAB表示と共に個別に表示するための画像データを生成し、
前記複数のTAB表示のうちの1つが指示されたときに当該TAB表示に対応する測定データを画面上に表示するための画像データを生成する
ことを特徴とするX線回折装置。 - 請求項1記載のX線回折装置において、前記画像データ生成手段は、前記表示手段の画面上に複数の測定データを分割表示するための画像データを生成することを特徴とするX線回折装置。
- 請求項1又は請求項2記載のX線回折装置において、測定データを記憶するための記憶手段をさらに有し、該記憶手段は、前記複数の測定軸の個々に関する測定データを1つのファイル内にまとめて格納することを特徴とするX線回折装置。
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JP2005067642A JP4383374B2 (ja) | 2005-03-10 | 2005-03-10 | X線回折装置 |
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JP2005067642A JP4383374B2 (ja) | 2005-03-10 | 2005-03-10 | X線回折装置 |
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JP2006250709A JP2006250709A (ja) | 2006-09-21 |
JP4383374B2 true JP4383374B2 (ja) | 2009-12-16 |
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JP5506288B2 (ja) * | 2008-08-28 | 2014-05-28 | 株式会社日立ハイテクサイエンス | 蛍光x線分析装置 |
JP5511020B2 (ja) * | 2011-11-24 | 2014-06-04 | 株式会社リガク | X線分析装置 |
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2005
- 2005-03-10 JP JP2005067642A patent/JP4383374B2/ja active Active
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