JP4370151B2 - Wiring repair method and wiring repair device - Google Patents
Wiring repair method and wiring repair device Download PDFInfo
- Publication number
- JP4370151B2 JP4370151B2 JP2003400425A JP2003400425A JP4370151B2 JP 4370151 B2 JP4370151 B2 JP 4370151B2 JP 2003400425 A JP2003400425 A JP 2003400425A JP 2003400425 A JP2003400425 A JP 2003400425A JP 4370151 B2 JP4370151 B2 JP 4370151B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wiring
- masking agent
- disconnection
- solution containing
- disconnection portion
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Images
Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
Description
本発明は、液晶パネル、半導体基板、プリント配線基板等の電子回路基板上に形成された配線の断線を補修する配線補修方法および配線補修装置に関するものである。 The present invention relates to a wiring repair method and a wiring repair apparatus for repairing a disconnection of a wiring formed on an electronic circuit board such as a liquid crystal panel, a semiconductor substrate, and a printed wiring board.
従来、この種の配線補修方法として、電子回路基板上の配線の断線部に、パラジウム、金、銀、白金の一種以上の金属を含む金属錯体溶液を射出器により塗布した後に、該塗布部にレーザ座光を照射し、前記金属錯体溶液中の溶媒を蒸発させて前記金属の薄膜を前記断線部に析出させることにより、前記金属の薄膜により前記断線部の両端側の配線同士を接続、導通させる方法が知られている(例えば、特許文献1参照)。
また、電子回路基板上の断線部を有する配線上を該断線部とその両端部側の配線部とにわたってガラスピペットを移動させながら、該ガラスピペットの先端から金属錯体溶液を吐出させて前記断線部およびその両端部の配線部に塗布した後、該塗布部にレーザ光を照射して加熱して金属錯体溶液中の溶媒を蒸発させると同時に、塗布部に残留した金属錯体を熱分解して前記金属の導電性薄膜を形成することにより、配線の断線部を修復する方法がが知られている(例えば、特許文献2参照)。
In addition, while moving the glass pipette over the wiring having the disconnection part on the electronic circuit board over the disconnection part and the wiring part on both ends thereof, the metal complex solution is discharged from the tip of the glass pipette to thereby disconnect the disconnection part. And coating the wiring portions at both ends thereof, the coating portion is irradiated with laser light and heated to evaporate the solvent in the metal complex solution, and at the same time, the metal complex remaining in the coating portion is thermally decomposed to There is known a method of repairing a disconnected portion of a wiring by forming a metal conductive thin film (see, for example, Patent Document 2).
上記従来の配線の補修方法では、射出器やガラスピペットから配線の断線部に塗布される金属錯体溶液が、断線部だけでなく、その両端側の配線部の上側に塗布されたり、隣接する電極や配線側に膨らんで塗布される場合があり、その場合には、配線補修部とその周辺部に形成される導電性薄膜を含む電導体の厚さや幅が配線の他の部分に対して均等にならず、配線補修部を有する配線の抵抗値が配線補修部を有しない配線の抵抗値と異なってしまい、電子回路基板の配線パターンの電気容量が設計値と一致しなくなるという不都合が生じる。
また、配線の断線部に塗布される金属錯体溶液が、断線部だけでなく、隣接する電極や配線側に及んで塗布される場合もあり、その場合には、配線補修部とその周辺部に形成される導電性薄膜を含む電導体によって補修部を有する配線が隣接する配線に短絡することになるので、その短絡部をレーザ光を照射して切り離したり、隣接する配線における前記短絡部との接続部分側の一定領域をレーザ光の照射により加工して、前記隣接する配線から前記短絡部分を切り離す等の付加的な処理をしなければならず、配線の補修工数が多くかかる上に、隣接する配線側の電気抵抗が変化してしまい、前記と同様に、電子回路基板の配線パターンの電気容量が設計値と一致しなくなる等の問題がある。
In the above conventional wiring repair method, the metal complex solution applied to the disconnection part of the wiring from the injector or glass pipette is applied not only to the disconnection part but also to the upper side of the wiring part on both ends thereof, or adjacent electrodes. In such a case, the thickness and width of the conductor including the conductive thin film formed in the wiring repair portion and the peripheral portion thereof are equal to the other portions of the wiring. In other words, the resistance value of the wiring having the wiring repairing portion is different from the resistance value of the wiring not having the wiring repairing portion, and the electric capacity of the wiring pattern of the electronic circuit board does not match the design value.
In addition, the metal complex solution applied to the disconnection part of the wiring may be applied not only to the disconnection part but also to the adjacent electrode and the wiring side. Since the wiring having the repaired portion is short-circuited to the adjacent wiring by the conductor including the conductive thin film to be formed, the short-circuited portion is separated by irradiating laser light, or the short-circuited portion in the adjacent wiring A certain area on the connection part side must be processed by laser light irradiation to perform additional processing such as separating the short-circuited part from the adjacent wiring. As a result, the electric resistance of the wiring pattern of the electronic circuit board does not match the design value.
本発明は、上記事情に鑑みてなされたものであって、電子回路基板の配線の断線部を、前記配線の寸法、形状に正確に一致させて補修することができる配線補修方法および配線補修装置を提供することを目的とする。 The present invention has been made in view of the above circumstances, and a wiring repair method and a wiring repair apparatus capable of repairing a broken portion of a wiring of an electronic circuit board by accurately matching the size and shape of the wiring. The purpose is to provide.
本発明は、前記課題を解決するために、以下の点を特徴としている。
すなわち、請求項1に係る配線補修方法および請求項5に係る配線補修装置は、電子回路基板上に形成された配線の断線部に、平面視で、その断線部より広い領域にわたってマスキング剤を塗布して、断線部を含むドーム形状のマスキング剤を形成した後に、該ドーム形状のマスキング剤にレーザ光を照射し、前記断線部を含む配線領域のマスキング剤を除去して開口を形成した後に、該開口内のマスキング剤を除去された配線領域に導電性のある物質を含んだ溶液を満たし、該導電性のある物質を含んだ溶液に対して前記断線部を含む配線領域の形状に整合する平面視で四辺形状に整形されたレーザ光を照射して加熱することにより導電性のある物質の薄膜を析出させて前記断線部を接続することを特徴としている。
The present invention is characterized by the following points in order to solve the above problems.
That is, the wiring repair method according to
この配線補修方法においては、検査装置によって電子回路基板の配線の断線部が検出されると、平面視で該断線部を含んでそれより広い領域にマスキング剤が第1の塗布装置によってドーム形状に塗布された後、レーザ照射装置によって前記マスキング剤にレーザ光が照射されて、断線部を含む所定の配線領域におけるマスキング剤が除去され開口が形成される。次に、そのマスキング剤が除去された開口内の領域に、第2の塗布装置によって導電性のある物質(例えば貴金属)を含んだ溶液が満たされると共に、塗布された導電性のある物質を含んだ溶液に前記レーザ照射装置によってレーザ光が照射されて、該導電性のある物質を含んだ溶液が加熱されることにより、導電性のある物質を含んだ溶液中の溶剤が蒸発して導電性のある物質の薄膜が析出し、この析出された導電性のある物質の薄膜によって前記断線部が接続されて補修される。 In this wiring repair method, when the disconnection portion of the wiring of the electronic circuit board is detected by the inspection device, the masking agent is formed into a dome shape by the first coating device in a wider area including the disconnection portion in plan view. after being applied, the laser beam is irradiated on the masking agent by the laser irradiation device, opening a masking agent is removed in a predetermined wiring region including a disconnection unit Ru is formed. Next, a solution containing a conductive substance (for example, a noble metal) is filled in the region in the opening from which the masking agent has been removed by the second coating apparatus, and the applied conductive substance is contained. When the solution containing the conductive substance is heated by irradiating the solution with the laser beam by the laser irradiation device, the solvent in the solution containing the conductive substance evaporates and becomes conductive. A thin film of a certain substance is deposited, and the disconnected portion is connected and repaired by the deposited thin film of the conductive substance.
請求項2に係る配線補修方法は、請求項1に記載の配線補修方法において、前記導電性のある物質を含んだ溶液にレーザ光を照射した後に電子回路基板上に残ったマスキング剤と導電性のある物質を含んだ溶液を洗浄して除去することを特徴としている。
The wiring repair method according to claim 2 is the wiring repair method according to
請求項3に係る配線補修方法は、請求項1または2に記載の配線補修方法において、前記マスキング剤と導電性のある物質を含んだ溶液をインクジェット装置によって塗布することを特徴としている。 A wiring repair method according to a third aspect is the wiring repair method according to the first or second aspect , wherein a solution containing the masking agent and a conductive substance is applied by an ink jet apparatus.
請求項4に係る配線補修方法は、請求項1または2に記載の配線補修方法において、前記マスキング剤と導電性のある物質を含んだ溶液をディスペンサー装置によって塗布することを特徴としている。
The wiring repair method according to claim 4 is characterized in that, in the wiring repair method according to
本発明によれば、以下の優れた効果を奏する。
請求項1に係る配線補修方法および請求項5に係る配線補修装置によれば、マスキング剤で囲まれて限定された開口内の断線部を含む配線領域に導電性のある物質を含んだ溶液が塗布されて満たされ、該導電性のある物質を含んだ溶液から析出されて形成された導電性のある物質の薄膜によって前記断線部が接続されるので、断線の接続部の形状が電子回路基板上の配線の形状に整合したものとすることができ、配線の補修をその形状に合わせて正確に行うことができる。
しかも、配線の断線部を含む配線領域の形状に整合した形状に導電性のある物質の薄膜を析出させて断線部を接続することができ、配線の補修を一層正確に行うことができる。
The present invention has the following excellent effects.
According to the wiring repair method according to
In addition, it is possible to deposit a thin film of a conductive material in a shape that matches the shape of the wiring region including the disconnection portion of the wiring, and to connect the disconnection portion, thereby making it possible to repair the wiring more accurately.
請求項2に係る配線補修方法によれば、配線の断線部の補修が終了した後に、電子回路基板上に残ったマスキング剤と断線の補修に使用されなかった導電性のある物質を含んだ溶液が除去されるので、断線を補修された電子回路基板を清浄に保つことができる。 According to the wiring repair method according to claim 2, a solution containing a masking agent remaining on the electronic circuit board and a conductive substance that has not been used for repairing the disconnection after the repair of the disconnection portion of the wiring is completed. Therefore, it is possible to keep the electronic circuit board whose wire breakage has been repaired clean.
請求項3に係る配線補修方法によれば、インクジェット装置によってマスキング剤と導電性のある物質を含んだ溶液を、それぞれ、所定領域に無駄なく、適量、円滑に塗布することができる。 According to the wiring repair method according to the third aspect , an appropriate amount and a smooth solution of the masking agent and the conductive substance containing the conductive material can be applied to the predetermined region without waste using the inkjet apparatus.
請求項4に係る配線補修方法によれば、ディスペンサー装置によって粘度の高いマスキング剤と濃度の高い導電性ペーストを、それぞれ、所定領域に、それ以外の周辺にそれらの物質が広がることを可及的に少なくして的確に塗布することができる。
According to the wiring repair method of the fourth aspect , it is possible to spread the masking agent having a high viscosity and the conductive paste having a high concentration by a dispenser device in a predetermined region and other materials around the other regions. It can be applied accurately with less.
以下、本発明の一実施の形態に係る配線補修方法および配線補修装置について、添付図面を参照して説明する。
先ず、本発明の一実施の形態に係る配線補修装置について説明する。図1において、1は配線補修装置である。この配線補修装置1は、四隅に配置された架台2を介して水平に支持されたテーブル3と、該テーブル3のX軸方向xにおける両端部に立設された一対の脚部4a,4aの上端部に、X軸方向xに向けたX軸ビーム部4bが連結され、テーブル上に載置された平板状の電子回路基板(ワーク)Wを跨ぐように設けられた門型のX軸フレーム4と、該X軸フレーム4のX軸ビーム部4bにX軸方向xに移動自在に支持されX軸スライダ5とを備えている。前記X軸フレーム4とX軸スライダ5とは前記テーブル3との間でX軸方向とこれに直角なY軸方向とに相対移動可能な支持フレームを構成している。
Hereinafter, a wiring repair method and a wiring repair apparatus according to an embodiment of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings.
First, a wiring repair device according to an embodiment of the present invention will be described. In FIG. 1, 1 is a wiring repair device. This
前記X軸フレーム4は、その脚部4a,4aが前記テーブル3のX軸方向xの両端部にY軸方向yに沿って配置された各案内レール6,6に支持され、脚部5a,5aの下端部と前記案内レール6,6間に配置されたリニアモータやサーボモータの回転で作動される送りねじ機構等のY軸駆動装置(図示せず)によってY軸方向yに移動するようになっている。前記X軸スライダ5は、Z軸方向zの上下端部を、前記X軸ビーム部4bのZ軸方向zの上下端部にX軸方向xに沿って設けた一対の案内レール7,7に支持され、後面(背面)に固定したボールナット(図示せず)が前記案内レール7,7間にX軸方向xに沿って配置されたボールねじ8に螺合され、該ボールねじ8がX軸ビーム部4bの一端部(図1で右端部)に固定したX軸駆動モータ9によって回転されることにより、X軸方向xに移動するようになっている。前記ボールナット(図示せず)、ボールねじ8、X軸駆動モータ9等は前記X軸スライダ5をX軸方向xへ移動させるX軸駆装置を構成しているが、該X軸駆動装置は、これに限らず、リニアモータ等を用いることができる。
The X-axis frame 4 has
前記X軸スライダ5の前面には、前記ワークWの表面に向けてレーザ光を照射するレーザ照射装置10と、ワークWの表面にノズル11aを垂直(Z軸方向z)に向け、該ノズル11aからマスキング剤を滴下してワークWに塗布する第1のインクジェット装置(第1塗布装置)11と、ワークWの表面にノズル12aを垂直(Z軸方向z)に向け、該ノズル12aから導電性のある物質を含んだ溶液を滴下してワークWに塗布する第2のインクジェット装置12と,ワークWの表面にノズル13aを垂直(Z軸方向z)に向け、該ノズル(第2塗布装置)13aから洗浄剤を吐出してワークWの表面に付着した前記マスキング剤、導電性のある物質を含んだ溶液を除去する洗浄装置13とが、X軸方向xに所定距離を隔てて配置され、それぞれ、図示しないねじ機構とサーボモータ等とからなる第1、第2、第3、第4のZ軸駆動手段(Z軸駆動装置)を介して個別にZ軸方向zに移動調節可能にX軸スライダ5に支持されている。前記各Z軸駆動手段はとしてねじ機構とサーボモータ等に代えてリニアモータ等を用いることができる。
On the front surface of the
前記レーザ照射装置10は、下端に対物レンズ10aを有する光学系10bの光軸をワークWの表面に垂直(Z軸方向z)に向けて設けられ、前記光学系10bの中には、レーザ発信器10cから発生されたレーザ光の形状を整形するアパーチャー機構10dが設けられている。該アパーチャー機構10dは、図示しないが、一対のスリット板を前記光軸に直交して対向させて、各スリット板の相互間隔を調整することによりスリットの幅を可変にしたスリット機構を、前記光軸方向に位置をずらして上下に一対配設し、該一対のスリット機構を前記光軸の回りに個別に旋回するように構成され、一対のスリット機構における各スリットが重ね合わせられて形成される正四角形、矩形、平行四辺形からなる任意の大きさの四辺形の開口部をレーザ光が通過することにより、前記ワークWの表面に前記開口部によって定まる平面形状のレーザ光が照射されるようになっている。
The
また、前記レーザ照射装置10には、その対物レンズ10aを含む光学系10bの一部を共有する光学系14aを通して前記ワークWの表面を撮像するCCDカメラ14が付設されている。
前記第1、第2のインクジェット装置11,12は、それぞれ、溶液用カートリッジにマスキング剤、導電性のある物質を含んだ溶液が充填されており、所要持に、前記溶液用カートリッジ内が制御装置の作動で所定圧力に加圧されて、前記ノズル11a,12aから、例えば、30pl〜300plの範囲で段階的に調整可能とされた所定滴下量のマスキング剤、導電性のある物質を含んだ溶液がワークW上に滴下するようになっており、従来周知のものである。
Further, the
In the first and second
そして、前記配線補修装置1には、図示しないが、前記レーザ照射装置10、第1のインクジェット装置11、第2のインクジェット装置12、洗浄装置13、CCDカメラ14および前記X軸駆動モータ9、Y軸駆動装置,Z軸駆動手段の作動を制御する制御装置が備えられており、該制御装置の動作プログラムにもとづく動作指令によって、前記X軸駆動モータ9、Y軸駆動装置およびZ軸駆動手段が所定順序で作動して、前記レーザ照射装置10(CCDカメラ14)、第1のインクジェット装置11、第2のインクジェット装置12および洗浄装置13が、テーブル3上のワークWに対して相対移動して所定の位置に位置決めされた後に、それぞれ前記ワークWに対して所定の処理動作を行うようになっている。
Although not shown, the
次に、前記構成の配線補修装置1によって電子回路基板(ワーク)Wの配線の断線部を補修する本発明の一実施の形態に係る配線補修方法について、図2も参照しながら説明する。
配線補修の対象となるワークWは、例えば、図2に示すように、基板上に複数の配線15が互いに微小間隔をあけて平行に、かつ基板の側辺に対して斜めに形成された配線部分を備え、その配線部分の1つが断線部15cを有する配線部分15aであり、その他が断線部15cの無い正常な配線部分15bとなっている。なお、図2において、上段の図は平面図、下段の図は配線部分15aの断線部15cにおける拡大断面を示している。
先ず、配線補修装置1の制御装置が動作すると、X軸駆動モータ9とY軸駆動装置を作動させ、X軸スライダ5とX軸フレーム4を前記ワークWに対しそれぞれX,Y軸方向x,yに相対移動させて、レーザ照射装置10(CCDカメラ14)の対物レンズ10aの位置を、予め検査装置によって発見されたワークWの配線15における配線部分15aの断線部15cの位置まで移動させる。そして、レーザ照射装置10を前記第1のZ軸駆動手段によって昇降させて、前記CCDカメラ14の焦点を配線部分15aに合わせ、該CCDカメラ14で得られる画像にもとづいて断線部15cの位置とその寸法、形状を認識する(図2(a)参照)。
Next, a wiring repair method according to an embodiment of the present invention for repairing a disconnected portion of the wiring of the electronic circuit board (workpiece) W by the
For example, as shown in FIG. 2, the work W to be subjected to wiring repair is a wiring in which a plurality of
First, when the control device of the
次に、前記X軸駆モータ9を作動させて第1のインクジェット装置11が、そのノズル11aを、前記CCDカメラ14で認識された配線部分15aの断線部15cの上方位置に移動させた後、前記ノズル11aから前記断線部15c上にマスキング剤16を滴下して、断線部15cを含みそれより広い領域に塗布する(図2(b)参照)。前記マスキング剤としては、後工程のベーク炉にて昇華するような昇華性マスク樹脂、例えばパラジクロルベンゼンをアルコールやエーテル等の有機溶剤に溶かしたもの等を使用することができる。この後に、X軸駆動モータ9を作動させてレーザ照射装置10の対物レンズ10aを前記断線部15cの上方位置まで移動させてから、前記レーザ発信器10cからのレーザ光Lを前記マスキング剤16の塗膜部分に向けて照射する。その際、予め、前記アパーチャー機構10dによってレーザ光Lの照射面形状が、CCDカメラで認識された断線部15cの寸法、形状を考慮して、断線部15cを含みそれより広い配線領域17を囲む範囲にわたって矩形に整形され、この整形されたレーザ光Lがマスキング剤16の塗膜部分に照射されるので、レーザ光Lによる加熱で該加熱部分のマスキング剤が蒸発して、前記照射面形状に対応して矩形状の開口18がマスキング剤16に形成される(図2(c)参照)。
Next, after the X-axis drive motor 9 is operated and the
次に、X軸駆動装置9を作動させて第2のインクジェット装置12のノズル12aを、前記断線部15cの上方位置に移動させた後、前記ノズル12aから前記断線部15c上に形成された前記マスキング剤16の開口18に導電性のある物質を含んだ溶液19を滴下して塗布する(図2(d)参照)。前記導電性のある物質を含んだ溶液19は、貴金属、銅、クロム等の金属、それらの化合物からなる金属粒子が溶液中に均一に分散した状態で存在するコロイド溶液やそれらの物質を含んだペーストなど、従来周知のものである(以下、単に、「金属コロイド等」という)。
次に、X軸駆動モータ9を作動させてレーザ照射装置10の対物レンズ10aを前記断線部15cの上方位置まで移動させてから、前記レーザ発信器10cからのレーザ光Lを前記金属コロイド等19の塗膜部分に向けて照射する。その際、予め、前記アパーチャー機構10dによってレーザ光Lの照射面形状が、断線部15cを含みそれより広い配線領域17に整合する平行四辺形に整形され、この整形されたレーザ光Lが前記金属コロイド等19の塗膜部分に照射されるので、そのレーザ光Lによる加熱で該加熱部分において金属コロイド19中の溶媒が蒸発すると共に、金属コロイド等19中の金属が前記レーザ光Lの照射面形状に整合して平面視で平行四辺形に析出し、この析出した金属薄膜20によって断線部15cの両側の配線部分15aが接続されてその導通状態が修復される(図2(e)参照)。
Next, after the X-axis drive device 9 is operated to move the
Next, the X-axis drive motor 9 is operated to move the
この後に、X軸駆動装置9を作動させて洗浄装置13のノズル13aを、前記金属薄膜20の上方位置に移動させた後、前記ノズル13aから前記金属薄膜20上にその周辺に十分に溢れるだけの所定量の洗浄剤を滴下する。これにより、その金属薄膜20の周囲に残留したマスキング剤やレーザL光の照射を受けなかった金属コロイド等19が洗い流されてワークWの表面を洗浄される(図2(f)参照)。前記洗浄剤としては、温純水等を使用することができる。
なお、前記洗浄装置13に乾燥装置を付設することにより、前記洗浄後に、必要に応じてワークW上にエア等を吹き付けて洗浄液の蒸発、乾燥を促進するようにしてもよい。また、前記X軸スライダ5に前記洗浄装置13を設けずに、前記配線補修装置1によって配線部分15aにおける断線部15cの導通、修復工程を行った後に、後工程である洗浄工程によってワークWを洗浄してワークW上に残留したマスキング剤や金属コロイド等19を除去することもできる。
なお、前記レーザ照射装置10,第1、第2のインクジェット装置11,12、洗浄装置13は、それぞれ、レーザ光Lの照射時、マスキング剤16や金属コロイド等19の滴下時、洗浄液の吐出時に、ワークWの表面に対する対物レンズ10a、ノズル11a,12a,13aのZ軸方向zにおける位置を、第1、第2,第3、第4のZ軸駆動手段を個別に作動させることにより、適宜に調節することは言うまでもない。
Thereafter, the
In addition, by attaching a drying device to the
The
前記のように、実施の形態に係る配線補修方法によれば、電子回路基板(ワーク)W上に形成された配線15における配線部分15aの断線部15cに、平面視で、その断線部15cより広い領域にわたってマスキング剤16を塗布してレーザ光Lを照射し、前記断線部15cを含む配線領域17のマスキング剤16を除去した後に、該マスキング剤16を除去された配線領域17に金属コロイド等19を塗布すると共に、該金属コロイド等19にレーザ光Lを照射して加熱することにより金属薄膜20を析出させて前記断線部15cを接続するようにしたので、マスキング剤16で囲まれて限定された断線部15cを含む配線領域17(マスキング剤16の開口18)に金属コロイド等19が塗布されて、該金属コロイド等19から析出されて形成された金属薄膜20によって前記断線部15cが接続され、これにより、断線部15が接続された後の接続部の形状が電子回路基板W上の配線15の形状に整合したものとすることができ、配線15の補修を、隣接する正常の配線部15bに対して短絡を生じさせるような悪影響を何ら及ぼすことなく、配線形状の合わせて正確に行うことができる。
As described above, according to the wiring repair method according to the embodiment, the
また、前記金属コロイド等19にレーザ光Lを照射した後に電子回路基板W上に残ったマスキング剤16と金属コロイド等19を洗浄して除去するようにしたので、前記配線15における配線部15aの断線部15cの補修が終了した後に、電子回路基板W上に残ったマスキング剤と断線部15cの補修に使用されなかった金属コロイド等19を容易に除去することができ、断線を補修された電子回路基板を清浄に保つことができる。
また、前記金属コロイド等19に対して前記断線部15cを含む配線領域17の形状に整合する平面視で四辺形状に整形されたレーザ光Lを照射するようにしたので、配線15における配線部15aの断線部15cを含む配線領域17の形状に整合した形状に金属薄膜20を析出させて断線部15cを接続することができ、配線15の補修を一層正確に行うことができる。このため、電子回路基板Wの配線パターンにおける各配線15の電気抵抗が均等になり、その電気容量が設計値のものと一致させることができる。
さらに、前記マスキング剤16と金属コロイド等19をインクジェット装置11,12によって塗布するようにしたので、インクジェット装置11,12によってマスキング剤16と金属コロイド等19を、それぞれ、所定領域に無駄なく、適量、円滑に塗布することができる。
Further, the masking
Further, since the laser beam L shaped into a quadrilateral shape in plan view that matches the shape of the
Further, since the masking
なお、前記実施の形態に係る配線補修方法においては、前記マスキング剤16にレーザ光Lを照射する際に、配線部15aの断線部15cを含む配線領域17において、配線部15aの底部(厚さ方向の全体)にまでレーザ光のエネルギーを及ばせて該配線部15aを除去加工し、その除去部分(配線領域17)の全体に金属コロイド等19が塗布され、そこに金属薄膜20を形成するようにしたが、これに限らず、前記配線部15aの表面もしくはその厚さ方向の一部までレーザ光Lのエネルギーを及ばせて、配線部15aを除去加工しないかもしくは厚さ方向の一部だけ除去加工して、除去加工した部分と断線部15cの隙間に金属コロイド等19が塗布され、配線15の断線部15aを接続させる修復が行われるようにしてもよい。
In the wiring repair method according to the embodiment, when the masking
また、前記実施の形態に係る配線補修方法においては、電子回路基板Wの配線パターンにおいて基板の側辺に対して傾斜して平行に配設された配線15の補修を行う場合に適用した例を説明したが、これに限らず、基板の側辺に平行もしくは直角にして並列された配線、またはその他の形状に配設された配線、電極の補修にも適用することができる。
さらに、前記実施の形態に係る配線補正方法においては、前記マスキング剤16と金属コロイド等19とをインクジェット装置11,12でワークWの所要領域にとするするようにしたが、これに代えて、従来周知のディスペンサー装置を使用することができる。ディスペンサー装置によると、粘度の高いマスキング剤16や濃度の高い導電性ペーストを所定領域に的確に塗布することができる。なお、金属コロイド等19の導電性のある物質には、金属の他、炭素等を用いることも可能であり、金属はレーザ光で加熱して析出できるものであればよく、前記実施の形態で示した金属に限定されない。
Further, in the wiring repair method according to the embodiment, an example applied to repairing the
Furthermore, in the wiring correction method according to the embodiment, the masking
前記実施の形態に係る配線補修装置においては、テーブル3を架台2に固定して、X軸フレーム4とX軸スライダ5とをそれぞれY軸駆動装置とX軸駆動モータ9とでY,X軸方向y,xへ移動させて、ワークWに対して前記レーザ照射装置10(CCDカメラ14)、第1のインクジェット装置11、第2のインクジェット装置12、洗浄装置13をY,X軸方向y,xに相対的に移動させるようにしているが、これに限らず、前記X軸スライダ5を固定して、前記テーブル3を前記架台2上に設けたベースにX,Y軸方向x,yに移動自在に支持し、テーブルとベース側に設置したX,Y軸駆動装置によって前記テーブルを移動させることにより、前記ワークWに対して前記各装置10,11,12,13をX,Y軸方向x,yに相対移動させるようにしてもよい。
In the wiring repair device according to the embodiment, the table 3 is fixed to the gantry 2, and the X-axis frame 4 and the
1 配線補修装置
3 テーブル
4 X軸フレーム
5 X軸スライダ
9 X軸駆動モータ(X軸駆動装置)
10 レーザ照射装置
10d アパーチャー機構
11,12 第1、第2のインクジェット装置(第1、第2塗布装置)
13 洗浄装置
14 CCDカメラ
15 配線
15a,15b 配線部分
15c 断線部
16 マスキング剤
17 配線領域
18 開口
19 金属コロイド等
20 金属薄膜
L レーザ光
W 電子回路基板(ワーク)
DESCRIPTION OF
DESCRIPTION OF
DESCRIPTION OF
Claims (5)
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003400425A JP4370151B2 (en) | 2003-11-28 | 2003-11-28 | Wiring repair method and wiring repair device |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2003400425A JP4370151B2 (en) | 2003-11-28 | 2003-11-28 | Wiring repair method and wiring repair device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2005166750A JP2005166750A (en) | 2005-06-23 |
JP4370151B2 true JP4370151B2 (en) | 2009-11-25 |
Family
ID=34724698
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2003400425A Expired - Fee Related JP4370151B2 (en) | 2003-11-28 | 2003-11-28 | Wiring repair method and wiring repair device |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP4370151B2 (en) |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP4701036B2 (en) * | 2005-07-15 | 2011-06-15 | 株式会社ブイ・テクノロジー | Wiring pattern repair method and wiring pattern repair device for electronic circuit board |
JP5076823B2 (en) * | 2007-11-14 | 2012-11-21 | 大日本印刷株式会社 | Wiring board defect repair method |
CN102759829A (en) * | 2012-07-03 | 2012-10-31 | 深圳市华星光电技术有限公司 | Broken line repairing device and method of array substrate |
CN107479220B (en) * | 2017-08-11 | 2020-06-26 | 京东方科技集团股份有限公司 | Display screen repairing device and method |
CN111146182A (en) * | 2020-02-14 | 2020-05-12 | 深圳第三代半导体研究院 | Micro-fine line repairing material and repairing method thereof |
KR102323195B1 (en) * | 2020-03-26 | 2021-11-10 | 국민대학교산학협력단 | Repair Method of Fine Electrode |
CN112557417B (en) * | 2021-02-28 | 2021-05-11 | 深圳宜美智科技股份有限公司 | PCB laser repairing method and device based on image detection |
CN113382552A (en) * | 2021-05-24 | 2021-09-10 | 深圳市志凌伟业光电有限公司 | Method for repairing broken wire |
JP7403875B1 (en) | 2022-08-10 | 2023-12-25 | 株式会社スカイテクノロジー | Method for repairing printed wiring boards and method for manufacturing recycled printed wiring boards |
-
2003
- 2003-11-28 JP JP2003400425A patent/JP4370151B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2005166750A (en) | 2005-06-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
JP5448014B2 (en) | Apparatus, method and ribbon | |
JP3453803B2 (en) | Electronic circuit board wiring correction method and apparatus | |
JP3156096B2 (en) | Repair device and repair method using laser | |
JP4370151B2 (en) | Wiring repair method and wiring repair device | |
US8288681B2 (en) | Laser processing apparatus and laser processing method as well as debris extraction mechanism and debris extraction method | |
JPH03193282A (en) | Laser soldering device for smd-element | |
US20090011143A1 (en) | Pattern forming apparatus and pattern forming method | |
JP3552791B2 (en) | Electronic component mounting method and apparatus | |
KR100786211B1 (en) | Droplet ejection apparatus | |
JP2009004669A (en) | Method for manufacturing metal wiring substrate and metal wiring substrate formed by using it | |
JP2010027660A (en) | Method and apparatus for repairing wire of circuit board | |
JP2004029322A (en) | Method and device for manufacturing display device | |
KR20050103951A (en) | Device and method for processing electric circuit substrates by laser | |
JP3414024B2 (en) | Electronic circuit board wiring correction method | |
JP3397481B2 (en) | Correction method for disconnection of wiring | |
KR20120116914A (en) | Method and system for exposing delicate structures of a device encapsulated in a mold compound | |
JPH09135064A (en) | Method and device of correcting wiring of electronic circuit board as well as tft substrate | |
JP3649221B2 (en) | Wiring correction method for TFT substrate | |
JP4696957B2 (en) | Wiring board correction method and wiring board correction apparatus | |
JP2007123534A (en) | Method and device for correcting defect in wiring pattern | |
JPH11307914A (en) | Pattern forming method of thick film wiring board | |
TW202209359A (en) | Apparatus and methods for forming a pattern of material | |
JP4505269B2 (en) | Wiring repair method for electronic circuit boards | |
KR20180108935A (en) | Method for forming fine wiring | |
KR20240122492A (en) | System for printing viscous materials using laser-assisted deposition |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20061128 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20090226 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20090310 |
|
A521 | Request for written amendment filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20090511 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20090818 |
|
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20090831 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Ref document number: 4370151 Country of ref document: JP Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120904 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120904 Year of fee payment: 3 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20150904 Year of fee payment: 6 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
R250 | Receipt of annual fees |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |