JP4354822B2 - 物体を明らかにする方法及びそれに関連する装置 - Google Patents
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Description
A.検出すべき物体が、内部又は後ろに存在すると思われるスペース部分の表面から生じる放射マップを、互いに連続する少なくとも第1の時間t1及び第2の時間t2で取得する段階と、
B.前記少なくとも2つの時間t1及びt2とは異なる第3の時間t*で検討された前記スペース部分の表面から生じる放射マップを取得する段階と、
C.段階Aから得られた前記少なくとも2つの時間t1及びt2のマップを合計する段階と、
D.段階Cから得られた合計から、段階Bから得られた前記時間t*におけるマップを引く段階と、
E.段階Dから得られたマップ区域の各部分の値と、探査物体の材料の放射強度の閾値とを比較する段階と、
F.段階Eの比較結果から、前記スペース部分のうち少なくともある数nの(n≧1、前記放射の値が前記閾値よりも大きい)区域部分が存在するとき、検査中の物体の材料を探査材料と特定する段階とを含むことを特徴とする。
G.被検査物体の材料が段階Fにおいて特定される場合、被検討区域の各部分ごとに、段階A及びBで取得された3つの値を、探査物体を構成すると想定される材料の放射応答曲線と比較する段階と、
H.段階Gの比較結果が否定的である場合、すなわち、被検査物体の材料の放射応答曲線が、段階A及びBで取得された一連の値に明確に一致しない場合、新たな放射強度及び新たな放射周波数を規定して段階A1に戻る段階と、
I.段階Hの比較結果が否定的である場合、すなわち、被検査物体の材料の放射応答曲線が、段階A及びBで取得された一連の値に明確に一致しない場合、この材料を、段階G及びHで用いられた放射応答曲線に対応する材料と特定する段階とを互いに連続して含む。
前記1つ又は複数の探査物体の最小寸法を平均して1cm2の表面と規定する段階と、
特定すべき材料を、それらの物理的な特性パラメータの値について規定する段階と、
探査物体について選択された同じ物理的な特性パラメータの値で表したバックグラウンドを規定する段階と、
取得センサを用いる装置に検出特性を入力する段階とが予備段階として実施される。この検出特性は、
i)前記連続した放射群間の時間範囲の値及び/又は各放射の前記間隔群に属する時間間隔間の時間範囲の値と、
ii)測定されるM個(M≧1)のパラメータP1、P2、...、PMの組と、
iii)段階Aによる前記少なくとも2つの取得時間t1及びt2並びに段階Bによる前記少なくとも1つの取得時間t*の値と、
iv)放射において用いられるJ個(J≧1)の周波数f1、f2、...、fJの値と、
v)検出又はマッピングにおいて用いられるL個(L≧1)の周波数f’1、f’2、...、f’Lの値である。
ある面積の地面(又は一般に、ある面積/容積の空間)の分析すべき部分の第1画像を取得し、それを大容量メモリに直接記憶させ、後続の処理を待つことと、
検査中の地面部分に向かって信号ビームを放出して、地面及びその中に存在する物体が「加熱され、感度が高くなる」ように適合させることと(この段階は、観察作業結果がほぼこれによって決まるので、極めて重要である。この段階で、微生物、細菌など、又は事前にわかっている他の探査物体の細部から放出される蛍光の観察に進むかどうかを実際に決める。)、
互いに比較され、且つ/又は合成され、物体及びそれを取り囲む手段の励起後の過渡的な挙動の履歴が得られるように適合された1つ又は複数の連続した画像をある程度迅速な順序で引き出すことからなる手順を実施することによって地面を分析する。
最小物体寸法を平均して1cm2の表面と規定する段階と、
特定すべき材料を、それらの物理的な特性パラメータの値について規定する段階と、
目標物体について選択された同じ物理的なパラメータで表したバックグラウンドを規定する段階と、
取得センサを用いる装置の検出特性を入力する段階とが企図されている。この検出特性は、
i)2つの異なる放射間の時間間隔Δtと、
ii)上記3つの放射の結果として明らかになるM個のパラメータP1、P2、...、PMと、
iii)最初の2つの放射で用いられる周波数f1及びf2である。
β=k/(c×D)
加熱ランプと、
カメラと、
カメラ・データ取得用メモリと、
ランプの放射とカメラの取得を同期させる同期生成器と、
画像取得用の計算システムと、
画像処理用の計算システムとを備える。
Claims (29)
- 物体を遠隔的に検出する方法であって、前記物体が、時間的に変化する熱を放出する状態にあることを特徴とし、且つ、
A.検出すべき前記物体が、内部又は後ろに存在すると思われるスペース部分の表面から生じる前記放射のマップを、互いに連続する少なくとも第1の時間t1及び第2の時間t2で取得する段階と、
B.前記少なくとも2つの時間t1及びt2 に続く第3の時間t*で検討された前記スペース部分の表面から生じる前記放射のマップを取得する段階と、
C.前記段階Aから得られた前記少なくとも2つの時間t1及びt2の前記マップを合計する段階と、
D.前記段階Cから得られた前記合計から、前記段階Bから得られた前記時間t*における前記マップを引く段階と、
E.前記段階Dから得られたマップ区域の各部分の値と、前記探査物体の材料の放射強度の閾値とを比較する段階と、
F.前記段階Eの前記比較結果から、前記スペース部分のうち少なくともある数nのn≧1、前記放射の値が前記閾値よりも大きい区域部分が存在するとき、検査中の前記物体の材料を前記探査材料と特定する段階と、を含むことを特徴とする物体を遠隔的に検出する方法。 - 前記段階Aの前に、所定の周波数及び所定の強度のエネルギーを放射することによって、検出すべき前記物体が、内部又は後ろに存在すると思われる前記区域部分からエネルギーを放射させる段階A1を実施することを特徴とする請求項1に記載の方法。
- 前記段階Fの後で、前記物体の材料が前記探査物体と特定されなかった場合、新たな放射強度及び新たな放射周波数を規定し、新たな段階A1に戻ることを特徴とする請求項2に記載の方法。
- 前記放射が、1つ又は複数の時間間隔の放射群から構成され、前記間隔が、時間的に連続的又は非連続的であり、前記間隔が非連続的である場合には、任意の2つの前記間隔の間の時間範囲中は前記放射強度が実質的にゼロになることを特徴とする請求項2又は3に記載の方法。
- 段階Aによる前記少なくとも2つの時間t1及びt2並びに段階Bによる前記少なくとも1つの時間t*を、前記放射間隔群の第1時間間隔に続くものとすることを特徴とする請求項2から4までのいずれか1項に記載の方法。
- 段階Aによる前記少なくとも2つの時間t1及びt2並びに段階Bによる前記少なくとも1つの時間t*を、前記放射間隔群の第1時間間隔と最後の時間間隔の間に含めることを特徴とする請求項2から5までのいずれか1項に記載の方法。
- 段階Aによる前記少なくとも2つの時間t1及びt2並びに段階Bによる前記少なくとも1つの時間t*を、前記放射間隔群の最後の時間間隔に続くものとすることを特徴とする請求項2から6までのいずれか1項に記載の方法。
- 前記段階A又はA1からFに加えて、或いは、前記段階E又はFの代わりに、
G.前記被検査物体の材料が前記段階Fにおいて特定される場合、前記被検討区域の各部分ごとに、段階A及びBで取得された前記3つの値を、前記探査物体を構成すると想定される材料の放射応答曲線と比較する段階と、
H.段階Gの前記比較結果が否定的である場合、すなわち、前記被検査物体の材料の前記放射応答曲線が、段階A及びBで取得された一連の値に明確に一致しない場合、新たな放射強度及び新たな放射周波数を規定して段階A1に戻る段階と、
I.段階Hの前記比較結果が否定的である場合、すなわち、前記被検査物体の材料の前記放射応答曲線が、段階A及びBで取得された一連の値に明確に一致しない場合、前記材料を、段階G及びHで用いられた前記放射応答曲線に対応する材料と特定する段階とを連続して含むことを特徴とする請求項1から7までのいずれか1項に記載の方法。 - 前記段階A又はA1の前に、
前記1つ又は複数の探査物体の最小寸法を規定する段階と、
特定すべき材料を、それらの物理的な特性パラメータの値について規定する段階と、
前記探査物体について選択された同じ物理的な特性パラメータの値で表したバックグラウンドを規定する段階と、
前記取得用センサを用いる装置に検出特性を入力する段階とが予備段階として実施され、前記検出特性が、
i)前記連続した放射群間の時間範囲の値及び/又は前記各放射の間隔群に属する時間間隔間の時間範囲の値と、
ii)測定されるM個(M≧1)のパラメータP1、P2、...、PMの組と、
iii)段階Aによる前記少なくとも2つの取得時間t1及びt2並びに段階Bによる前記少なくとも1つの取得時間t*の値と、
iv)前記放射において用いられるJ個(J≧1)の周波数f1、f2、...、fJの値と、
v)検出又はマッピングにおいて用いられるL個(L≧1)の周波数f’1、f’2、...、f’Lの値であることを特徴とする請求項1から8までのいずれか1項に記載の方法。 - 前記放射強度が、前記1つ又は複数の物体が平衡状態において与える放射強度の0.1〜1000倍の区間に含まれることを特徴とする請求項2から9までのいずれか1項に記載の方法。
- 前記放射強度が、前記1つ又は複数の物体が平衡状態において与える放射強度の0.5〜600倍の区間に含まれることを特徴とする請求項2から10までのいずれか1項に記載の方法。
- 前記単一の放射が、1〜30msの時間中に生じることを特徴とする請求項2から11までのいずれか1項に記載の方法。
- 時間t1及びt2における前記少なくとも2つの取得操作が、第1放射間隔に続けて、前記間隔の開始から、又は前記間隔の終了から0.5〜60秒の時間後に行われることを特徴とする請求項2から12までのいずれか1項に記載の方法。
- 時間t1及びt2における前記少なくとも2つの取得操作が、第1放射間隔に続けて、前記間隔の開始から、又は前記間隔の終了から0.8〜8秒の時間後に行われることを特徴とする請求項2から13までのいずれか1項に記載の方法。
- 前記放射周波数が、350nm〜10mの間に含まれることを特徴とする請求項2から14までのいずれか1項に記載の方法。
- 前記放射周波数が、0.1〜50μmの間に含まれることを特徴とする請求項2から15までのいずれか1項に記載の方法。
- 時間t*における前記取得操作が、時間t1及びt2における前記少なくとも2つの取得操作に続くものであることを特徴とする請求項1から16までのいずれか1項に記載の方法。
- 時間t*における放射放出の前記取得値が、予想物体材料の応答の末尾に対応して置かれ、前記末尾放射が実質的にバックグラウンド放射であることを特徴とする請求項1から17までのいずれか1項に記載の方法。
- 受信波長が350nm〜10mの間に含まれることを特徴とする請求項1から18までのいずれか1項に記載の方法。
- 前記放射波長が0.1〜50μmの間に含まれることを特徴とする請求項1から19までのいずれか1項に記載の方法。
- 温度検出の場合、前記サーモカメラを前記被検査区域から最大30mまでの間に配置することを特徴とする請求項1から20までのいずれか1項に記載の方法。
- 区別すべき前記物体を金属材料製とすることを特徴とする請求項1から21までのいずれか1項に記載の方法。
- 区別すべき前記物体をプラスチック材料製とすることを特徴とする請求項1から22までのいずれか1項に記載の方法。
- 前記被検査面積が0.5〜500m2の間に含まれることを特徴とする請求項1から23までのいずれか1項に記載の方法。
- 前記被検査面積が1〜30cm2の間に含まれることを特徴とする請求項1から24までのいずれか1項に記載の方法。
- 請求項1から25までのいずれか1項に記載された温度により遠隔的に物体を検出する方法を実施するように設計されることを特徴とする電子装置。
- コンピュータ・プログラムであって、コード手段を含み、前記コード手段が電子システム上で動作するときに、前記コード手段が、請求項1から25までのいずれか1項に記載された温度により物体を検出する方法を行うように実施されることを特徴とするコンピュータ・プログラム。
- 前記プログラムが格納されたコンピュータ可読メモリ・サポート部であって前記プログラムが請求項27に記載のプログラムであることを特徴とするメモリ・サポート部。
- 物体を検出する装置であって、請求項1から25までのいずれか1項に記載の物体を検出する方法を実施することを特徴とする装置。
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