JP4344903B2 - 半導体素子用の層間絶縁膜形成用材料 - Google Patents

半導体素子用の層間絶縁膜形成用材料 Download PDF

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    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C08ORGANIC MACROMOLECULAR COMPOUNDS; THEIR PREPARATION OR CHEMICAL WORKING-UP; COMPOSITIONS BASED THEREON
    • C08GMACROMOLECULAR COMPOUNDS OBTAINED OTHERWISE THAN BY REACTIONS ONLY INVOLVING UNSATURATED CARBON-TO-CARBON BONDS
    • C08G2261/00Macromolecular compounds obtained by reactions forming a carbon-to-carbon link in the main chain of the macromolecule
    • C08G2261/30Monomer units or repeat units incorporating structural elements in the main chain
    • C08G2261/31Monomer units or repeat units incorporating structural elements in the main chain incorporating aromatic structural elements in the main chain
    • C08G2261/312Non-condensed aromatic systems, e.g. benzene

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体素子用の層間絶縁膜形成用材料に関し、さらに詳しくは、半導体素子などにおける層間絶縁膜材料として耐熱性、比誘電率2.5以下の低誘電性、クラック耐性に優れた塗膜が形成可能な膜形成用組成物からなる半導体素子用の層間絶縁膜形成用材料に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、電子材料用途において、高集積化、多機能化、高性能化に伴い、回路抵抗や配線間のコンデンサー容量が増大して、消費電力が増加するだけでなく、遅延時間も増大して、デバイスの信号スピードが低下したり、クロストークの大きな要因となっている。そのため、寄生抵抗や寄生容量を下げることが求められており、その解決策の一つとして、配線の周辺を低誘電の層間絶縁膜で被うことにより、寄生容量を下げてデバイスの高速化に対応しようとしている。また、LCD関連用途では低誘電性に加え、さらに透明性の要求もある。
【0003】
この要求に適応する耐熱性の有機材料として、ポリイミドが広く知られているが、極性の高いイミド基を含むため、低誘電性、低吸水性の面、さらに着色するという問題があり、満足なものは得られていない。
一方、極性基を含まない高耐熱性の有機材料として、ポリフェニレンが知られている。このポリフェニレンは耐熱性に優れるが、有機溶媒可溶性に劣るため、一般に側鎖に可溶性基を導入することが行われている。このようなポリフェニレンとしては、例えば、米国特許第5,214,044号明細書、国際出願WO96/28491号明細書、ヨーロッパ特許公開第629217号公報などに記載されているポリマーを挙げることができる。
これらのポリマーは、基本的にポリパラフェニレン構造を主としており、屈曲性モノマーを一部共重合するなどしているものの、特定の有機溶媒にしか溶けず、また剛直分子に起因する高粘度溶液の問題もあり、加工性として、決して満足したものではない。
さらに、耐溶剤性の付与、物理的耐熱性、機械的性質の改善などのために、ポリフェニレン系ポリマーの架橋についても検討され、従来から、アセチレン結合を利用した架橋反応が知られている。しかしながら、この構造を導入適用できるポリフェニレン(ポリアリーレン)構造や反応にも限界があり、また原料的にも特殊なアセチレン化合物を使用し、また硬化温度も高いという加工の汎用性に問題がある。
また、ポリアリーレンの加工性や溶解性を高めるため、ポリマー中にエーテル元素を導入することも検討されているが、得られるポリマーの耐熱性に問題がある。
このように、耐熱性、比誘電率2.5以下の低誘電性、クラック耐性を付与するポリマーの技術は極めて少ないのが現状である。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、上記問題点を解決するための半導体素子用の層間絶縁膜形成用材料に関し、さらに詳しくは、半導体素子などにおける層間絶縁膜として、耐熱性、比誘電率2.5以下の低誘電性、クラック耐性に優れた半導体素子用の層間絶縁膜形成用材料を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明は、(A)下記一般式(1)で表される化合物と(B)下記一般式(2)で表される化合物および/または下記一般式(3)で表される化合物、とを反応させて得られる重合体、ならびに(C)有機溶剤を含有する膜形成用組成物からなることを特徴とする半導体素子用の層間絶縁膜形成用材料に関する。
【0006】
【化4】
Figure 0004344903
【化5】
Figure 0004344903
【化6】
Figure 0004344903
【0007】
(式中、R1は2価の芳香族基を示し、R9は2〜h価の芳香族基を示し、R10は2〜i価の芳香族基を示し、R2〜R8はそれぞれ独立に炭素数1〜3のアルキル基を示し、a〜gは0〜5の整数を示し、hおよびiはそれぞれ独立に2〜6の整数であり、重合体を構成する(A)成分および/または(B)成分中のa〜gの少なくとも1つは、1以上の整数である。)
ここで、本発明の膜形成用組成物には、さらに2,3−ジメチル−2,3−ジフェニルブタンからなる(D)ラジカル発生剤を含有するものであってもよい。
また、(A)成分と(B)成分の使用割合は、(A)成分1モルに対して(B)成分が0.4〜2.5モルである。
【0008】
【発明の実施の形態】
(A)成分
本発明において、(A)成分は、下記一般式(1)で表される化合物である。本発明の組成物において、(A)成分を用いることにより、高耐熱性、かつ低比誘電率の塗膜が得られる。
上記一般式(1)において、R2 〜R7 は炭素数1〜3のアルキル基であり、メチル基、エチル基、n−プロピル基、i−プロピル基を挙げることができる。また、一般式(1)において、R1 は2価の芳香族基であり、例えば、以下の(化7)に示す基を挙げることができる。
【0009】
【化7】
Figure 0004344903
【0010】
(式中、Xは−O−、−S−、−CH2 −、−C(CH3 2 −、フルオレニル基から選ばれる少なくとも1種の基を示す。)
【0011】
上記(A)成分の具体例としては、例えば、以下の(化8)に示す化合物(4)〜(7)を挙げることができる。
【0012】
【化8】
Figure 0004344903
【0013】
本発明に用いられる(A)成分は、例えば、米国特許第5,965,679号明細書に記載された方法により、合成することができる。
これら(A)成分は、2種以上を同時に使用しても良い。
【0014】
(B)成分
本発明に使用する(B)成分は、上記一般式(2)および/または一般式(3)で表される化合物である。
本発明の組成物において、(B)成分を用いることにより、高耐熱性、かつクラック耐性に優れる塗膜が得られる。
上記一般式(2)において、R8 は炭素数1〜3のアルキル基であり、メチル基、エチル基、n−プロピル基、i−プロピル基を挙げることができる。また、一般式(2)におけるR9 および一般式(3)におけるR10は、それぞれ2〜h価および2〜i価の芳香族基であり、例えば、以下の(化9)に示す基を挙げることができる。
【0015】
【化9】
Figure 0004344903
【0016】
(上記式中、Xは−O−、−S−、−CH2 −、−C(CH3 2 −、フルオレニル基から選ばれる少なくとも1種の基を示す。)
【0017】
上記一般式(2)で表される(B)成分の具体例としては、例えば、以下の(化10)に示す化合物(8)〜(19)を挙げることができる。
【0018】
【化10】
Figure 0004344903
Figure 0004344903
【0019】
上記一般式(3)で表される(B)成分の具体例としては、例えば、以下の(化11)に示す化合物(20)〜(25)を挙げることができる。
【0020】
【化11】
Figure 0004344903
【0021】
上記一般式(2)〜(3)で表される化合物は、例えば、米国特許第5,965,679号明細書に記載された方法により合成することができる。
これら(B)成分は、2種以上を同時に使用しても良い。
【0022】
本発明の膜形成用組成物は、上記(A)成分と(B)成分を溶剤中で反応させた重合体を含有する。
【0023】
この際に使用する溶剤としては、例えば、n−ペンタン、i−ペンタン、n−ヘキサン、i−ヘキサン、n−ヘプタン、i−ヘプタン、2,2,4−トリメチルペンタン、n−オクタン、i−オクタン、シクロヘキサン、メチルシクロヘキサンなどの脂肪族炭化水素系溶媒;
ベンゼン、クロロベンゼン、ジクロロベンゼン、トルエン、キシレン、エチルベンゼン、トリメチルベンゼン、メチルエチルベンゼン、n−プロピルベンセン、i−プロピルベンセン、ジエチルベンゼン、i−ブチルベンゼン、トリエチルベンゼン、ジ−i−プロピルベンセン、n−アミルナフタレン、トリメチルベンゼンなどの芳香族炭化水素系溶媒;
ジエチルカーボネート、プロピレンカーボネート、酢酸メチル、酢酸エチル、γ−ブチロラクトン、γ−バレロラクトン、酢酸n−プロピル、酢酸i−プロピル、酢酸n−ブチル、酢酸i−ブチル、酢酸sec−ブチル、酢酸n−ペンチル、酢酸sec−ペンチル、酢酸3−メトキシブチル、酢酸メチルペンチル、酢酸2−エチルブチル、酢酸2−エチルヘキシル、酢酸ベンジル、酢酸シクロヘキシル、酢酸メチルシクロヘキシル、酢酸n−ノニル、アセト酢酸メチル、アセト酢酸エチル、酢酸エチレングリコールモノメチルエーテル、酢酸エチレングリコールモノエチルエーテル、酢酸ジエチレングリコールモノメチルエーテル、酢酸ジエチレングリコールモノエチルエーテル、酢酸ジエチレングリコールモノ−n−ブチルエーテル、酢酸プロピレングリコールモノメチルエーテル、酢酸プロピレングリコールモノエチルエーテル、酢酸プロピレングリコールモノプロピルエーテル、酢酸プロピレングリコールモノブチルエーテル、酢酸ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、酢酸ジプロピレングリコールモノエチルエーテル、ジ酢酸グリコール、酢酸メトキシトリグリコール、プロピオン酸エチル、プロピオン酸n−ブチル、プロピオン酸i−アミル、シュウ酸ジエチル、シュウ酸ジ−n−ブチル、乳酸メチル、乳酸エチル、乳酸n−ブチル、乳酸n−アミル、マロン酸ジエチル、フタル酸ジメチル、フタル酸ジエチルなどのエステル系溶媒;
エチルエーテル、i−プロピルエーテル、n−ブチルエーテル、n−ヘキシルエーテル、2−エチルヘキシルエーテル、エチレンオキシド、1,2−プロピレンオキシド、ジオキソラン、4−メチルジオキソラン、ジオキサン、ジメチルジオキサン、エチレングリコールモノメチルエーテル、エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリコールジエチルエーテル、エチレングリコールモノ−n−ブチルエーテル、エチレングリコールモノ−n−ヘキシルエーテル、エチレングリコールモノフェニルエーテル、エチレングリコールモノ−2−エチルブチルエーテル、エチレングリコールジブチルエーテル、ジエチレングリコールモノメチルエーテル、ジエチレングリコールモノエチルエーテル、ジエチレングリコールジエチルエーテル、ジエチレングリコールモノ−n−ブチルエーテル、ジエチレングリコールジ−n−ブチルエーテル、ジエチレングリコールモノ−n−ヘキシルエーテル、エトキシトリグリコール、テトラエチレングリコールジ−n−ブチルエーテル、プロピレングリコールモノメチルエーテル、プロピレングリコールモノエチルエーテル、プロピレングリコールモノプロピルエーテル、プロピレングリコールモノブチルエーテル、ジプロピレングリコールモノメチルエーテル、ジプロピレングリコールモノエチルエーテル、トリプロピレングリコールモノメチルエーテル、テトラヒドロフラン、2−メチルテトラヒドロフラン、ジフェニルエーテルなどのエーテル系溶媒;
N−メチルホルムアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、N,N−ジエチルホルムアミド、アセトアミド、N−メチルアセトアミド、N,N−ジメチルアセトアミド、N−メチルプロピオンアミド、N−メチルピロリドンなどの含窒素系溶媒;
アセトン、メチルエチルケトン、メチル−n−プロピルケトン、メチル−n−ブチルケトン、ジエチルケトン、メチル−i−ブチルケトン、メチル−n−ペンチルケトン、エチル−n−ブチルケトン、メチル−n−ヘキシルケトン、ジ−i−ブチルケトン、トリメチルノナノン、シクロペンタノン、シクロヘキサノン、シクロヘプタノン、シクロオクタノン、2−ヘキサノン、メチルシクロヘキサノン、2,4−ペンタンジオン、アセトニルアセトン、ジアセトンアルコール、アセトフェノン、フェンチョンなどのケトン系溶媒を挙げることができる。
【0024】
これらの中で、特にN−メチルピロリドン、γ−ブチロラクトン、トリメチルベンゼン、ジフェニルエーテルが好ましい。
これらの溶剤は、1種または2種以上を同時に使用しても良い。
【0025】
本発明の膜形成用組成物は、上記反応溶媒中で(A)成分と(B)成分と反応させることにより得られるが、この際の使用割合としては、(A)成分1モルに対して(B)成分が0.4〜2.5モル、好ましくは0.6〜2モルである。(B)成分の使用割合が0.4モル未満の場合や、2.5モルを超える場合は、得られる塗膜の機械的強度が劣るものとなる。
【0026】
また、反応中における(A)成分と(B)成分の総量の濃度は、通常、2〜80重量%、好ましくは5〜50重量%である。
【0027】
また、上記重合体を重合する際の重合温度は、通常、50〜250℃、好ましくは80〜220℃である。また、重合時間は、通常、0.5〜100時間、好ましくは1〜40時間である。
なお、上記重合体のポリスチレン換算の重量平均分子量は、通常、1,000〜1,000,000である。
【0028】
(C)成分
本発明の膜形成用組成物は、(A)成分と(B)成分との反応重合体と塗布溶剤として(C)成分を含有する。
この際使用する(C)成分としては、先に述べた反応溶剤と同様な溶剤を挙げることができる。
(C)成分は、1種あるいは2種以上を同時に使用しても良い。
【0029】
(D)成分
本発明の膜形成用組成物は、塗膜の架橋密度を向上させるため、2,3−ジメチル−2,3−ジフェニルブタンからなる(D)ラジカル発生剤を含有しても良い。
【0030】
(A)成分と(B)成分から得られる重合体に対する(D)成分の使用割合は、重合体100重量部に対して0.1〜30重量部、好ましくは0.5〜25重量部である。(D)成分の使用割合が0.1重量部未満であると、塗膜の耐熱性が劣る場合がある。一方、30重量部を超えると、塗膜の塗布均一性が劣るものとなる。
【0031】
その他の添加剤
本発明の膜形成用組成物には、さらにコロイド状シリカ、コロイド状アルミナ、有機ポリマー、界面活性剤、シランカップリング剤、トリアゼン化合物などの成分を添加してもよい。
コロイド状シリカとは、例えば、高純度の無水ケイ酸を前記親水性有機溶媒に分散した分散液であり、通常、平均粒径が5〜30mμ、好ましくは10〜20mμ、固形分濃度が10〜40重量%程度のものである。このような、コロイド状シリカとしては、例えば、日産化学工業(株)製、メタノールシリカゾルおよびイソプロパノールシリカゾル;触媒化成工業(株)製、オスカルなどが挙げられる。
コロイド状アルミナとしては、日産化学工業(株)製のアルミナゾル520、同100、同200;川研ファインケミカル(株)製のアルミナクリアーゾル、アルミナゾル10、同132などが挙げられる。
有機ポリマーとしては、例えば、糖鎖構造を有する重合体、ビニルアミド系重合体、(メタ)アクリル系重合体、芳香族ビニル化合物系重合体、デンドリマー、ポリイミド,ポリアミック酸、ポリアリーレン、ポリアミド、ポリキノキサリン、ポリオキサジアゾール、フッ素系重合体、ポリアルキレンオキサイド構造を有する重合体などを挙げることができる。
【0032】
ポリアルキレンオキサイド構造を有する重合体としては、ポリメチレンオキサイド構造、ポリエチレンオキサイド構造、ポリプロピレンオキサイド構造、ポリテトラメチレンオキサイド構造、ポリブチレンオキシド構造などが挙げられる。具体的には、ポリオキシメチレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、ポリオキシエテチレンアルキルフェニルエーテル、ポリオキシエチレンステロールエーテル、ポリオキシエチレンラノリン誘導体、アルキルフェノールホルマリン縮合物の酸化エチレン誘導体、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンブロックコポリマー、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンアルキルエーテルなどのエーテル型化合物、ポリオキシエチレングリセリン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビトール脂肪酸エステル、ポリオキシエチレン脂肪酸アルカノールアミド硫酸塩などのエーテルエステル型化合物、ポリエチレングリコール脂肪酸エステル、エチレングリコール脂肪酸エステル、脂肪酸モノグリセリド、ポリグリセリン脂肪酸エステル、ソルビタン脂肪酸エステル、プロピレングリコール脂肪酸エステル、ショ糖脂肪酸エステルなどのエーテルエステル型化合物などを挙げることができる。
ポリオキシチレンポリオキシプロピレンブロックコポリマーとしては、下記のようなブロック構造を有する化合物が挙げられる。
−(X′)l −(Y′)m
−(X′)l −(Y′)m −(X′)n
〔式中、X′は−CH2 CH2 O−で表される基を、Y′は−CH2 CH(CH3 )O−で表される基を示し、lは1〜90、mは10〜99、nは0〜90の数を示す。〕
【0033】
これらの中で、ポリオキシエチレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンブロックコポリマー、ポリオキシエチレンポリオキシプロピレンアルキルエーテル、ポリオキシエチレングリセリン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビタン脂肪酸エステル、ポリオキシエチレンソルビトール脂肪酸エステル、などのエーテル型化合物をより好ましい例として挙げることができる。
これらは、1種あるいは2種以上を同時に使用しても良い。
【0034】
界面活性剤としては、例えば、ノニオン系界面活性剤、アニオン系界面活性剤、カチオン系界面活性剤、両性界面活性剤などが挙げられ、さらには、フッ素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤、ポリアルキレンオキシド系界面活性剤、ポリ(メタ)アクリレート系界面活性剤などを挙げることができ、好ましくはフッ素系界面活性剤、シリコーン系界面活性剤を挙げることができる。
【0035】
フッ素系界面活性剤としては、例えば、1,1,2,2−テトラフロロオクチル(1,1,2,2−テトラフロロプロピル)エーテル、1,1,2,2−テトラフロロオクチルヘキシルエーテル、オクタエチレングリコールジ(1,1,2,2−テトラフロロブチル)エーテル、ヘキサエチレングリコール(1,1,2,2,3,3−ヘキサフロロペンチル)エーテル、オクタプロピレングリコールジ(1,1,2,2−テトラフロロブチル)エーテル、ヘキサプロピレングリコールジ(1,1,2,2,3,3−ヘキサフロロペンチル)エーテル、パーフロロドデシルスルホン酸ナトリウム、1,1,2,2,8,8,9,9,10,10−デカフロロドデカン、1,1,2,2,3,3−ヘキサフロロデカン、N−[3−(パーフルオロオクタンスルホンアミド)プロピル]−N,N′−ジメチル−N−カルボキシメチレンアンモニウムベタイン、パーフルオロアルキルスルホンアミドプロピルトリメチルアンモニウム塩、パーフルオロアルキル−N−エチルスルホニルグリシン塩、リン酸ビス(N−パーフルオロオクチルスルホニル−N−エチルアミノエチル)、モノパーフルオロアルキルエチルリン酸エステルなどの末端、主鎖および側鎖の少なくとも何れかの部位にフルオロアルキルまたはフルオロアルキレン基を有する化合物からなるフッ素系界面活性剤を挙げることができる。
また、市販品としては、メガファックF142D、同F172、同F173、同F183〔以上、大日本インキ化学工業(株)製〕、エフトップEF301、同303、同352〔新秋田化成(株)製〕、フロラードFC−430、同FC−431〔住友スリーエム(株)製〕、アサヒガードAG710、サーフロンS−382、同SC−101、同SC−102、同SC−103、同SC−104、同SC−105、同SC−106〔旭硝子(株)製〕、BM−1000、BM−1100〔裕商(株)製〕、NBX−15〔(株)ネオス〕などの名称で市販されているフッ素系界面活性剤を挙げることができる。これらの中でも、上記メガファックF172,BM−1000,BM−1100,NBX−15が特に好ましい。
【0036】
シリコーン系界面活性剤としては、例えば、SH7PA、SH21PA、SH30PA、ST94PA〔いずれも東レ・ダウコーニング・シリコーン(株)製〕などを用いることが出来る。これらの中でも、上記SH28PA、SH30PAが特に好ましい。
【0037】
界面活性剤の使用量は、(A)〜(B)成分からなる重合体100重量部に対して、通常、0.00001〜1重量部である。
これらは、1種あるいは2種以上を同時に使用しても良い。
【0038】
シランカップリング剤としては、例えば、3−グリシジロキシプロピルトリメトキシシラン、3−アミノグリシジロキシプロピルトリエトキシシラン、3−メタクリロキシプロピルトリメトキシシラン、3−グリシジロキシプロピルメチルジメトキシシラン、1−メタクリロキシプロピルメチルジメトキシシラン、3−アミノプロピルトリメトキシシラン、3−アミノプロピルトリエトキシシラン、2−アミノプロピルトリメトキシシラン、2−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−(2−アミノエチル)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−(2−アミノエチル)−3−アミノプロピルメチルジメトキシシラン、3−ウレイドプロピルトリメトキシシラン、3−ウレイドプロピルトリエトキシシラン、N−エトキシカルボニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−エトキシカルボニル−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−トリエトキシシリルプロピルトリエチレントリアミン、N−トリエトキシシリルプロピルトリエチレントリアミン、10−トリメトキシシリル−1,4,7−トリアザデカン、10−トリエトキシシリル−1,4,7−トリアザデカン、9−トリメトキシシリル−3,6−ジアザノニルアセテート、9−トリエトキシシリル−3,6−ジアザノニルアセテート、N−ベンジル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−ベンジル−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−フェニル−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−フェニル−3−アミノプロピルトリエトキシシラン、N−ビス(オキシエチレン)−3−アミノプロピルトリメトキシシラン、N−ビス(オキシエチレン)−3−アミノプロピルトリエトキシシランなどが挙げられる。
これらは、1種あるいは2種以上を同時に使用しても良い。
【0039】
トリアゼン化合物としては、例えば、1,2−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)ベンゼン、1,3−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)ベンゼン、1,4−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)ベンゼン、ビス(3,3−ジメチルトリアゼニルフェニル)エーテル、ビス(3,3−ジメチルトリアゼニルフェニル)メタン、ビス(3,3−ジメチルトリアゼニルフェニル)スルホン、ビス(3,3−ジメチルトリアゼニルフェニル)スルフィド、2,2−ビス〔4−(3,3−ジメチルトリアゼニルフェノキシ)フェニル〕−1,1,1,3,3,3−ヘキサフルオロプロパン、2,2−ビス〔4−(3,3−ジメチルトリアゼニルフェノキシ)フェニル〕プロパン、1,3,5−トリス(3,3−ジメチルトリアゼニル)ベンゼン、2,7−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)−9,9−ビス[4−(3,3−ジメチルトリアゼニル)フェニル]フルオレン、2,7−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)−9,9−ビス[3−メチル−4−(3,3−ジメチルトリアゼニル)フェニル]フルオレン、2,7−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)−9,9−ビス[3−フェニル−4−(3,3−ジメチルトリアゼニル)フェニル]フルオレン、2,7−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)−9,9−ビス[3−プロペニル−4−(3,3−ジメチルトリアゼニル)フェニル]フルオレン、2,7−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)−9,9−ビス[3−フルオロ−4−(3,3−ジメチルトリアゼニル)フェニル]フルオレン、2,7−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)−9,9−ビス[3,5−ジフルオロ−4−(3,3−ジメチルトリアゼニル)フェニル]フルオレン、2,7−ビス(3,3−ジメチルトリアゼニル)−9,9−ビス[3−トリフルオロメチル−4−(3,3−ジメチルトリアゼニル)フェニル]フルオレンなどが挙げられる。
これらは、1種あるいは2種以上を同時に使用しても良い。
【0040】
本発明の膜形成用組成物の全固形分濃度は、好ましくは、2〜30重量%であり、使用目的に応じて適宜調整される。組成物の全固形分濃度が2〜30重量%であると、塗膜の膜厚が適当な範囲となり、保存安定性もより優れるものである。
【0041】
本発明の組成物を、シリコンウエハ、SiO2 ウエハ、SiNウエハなどの基材に塗布する際には、スピンコート、浸漬法、ロールコート法、スプレー法などの塗装手段が用いられる。
【0042】
この際の膜厚は、乾燥膜厚として、1回塗りで厚さ0.05〜1.5μm程度、2回塗りでは厚さ0.1〜3μm程度の塗膜を形成することができる。その後、常温で乾燥するか、あるいは80〜600℃程度の温度で、通常、5〜240分程度加熱して乾燥することにより、層間絶縁膜となる塗膜(硬化膜)を形成することができる。
この際の加熱方法としては、ホットプレート、オーブン、ファーネスなどを使用することができ、加熱雰囲気としては、大気下、窒素雰囲気、アルゴン雰囲気、真空下、酸素濃度をコントロールした減圧下などで行うことができる。
また、電子線や紫外線を照射することによっても塗膜を形成させることができる。
【0043】
このようにして得られる層間絶縁膜は、耐熱性、比誘電率2.5以下の低誘電性、クラック耐性に優れることから、LSI、システムLシ、DRAM、SDRAM、RDRAM、D−RDRAMなどの半導体素子用層間絶縁膜や、エッチングストッパー膜やCMPストッパー膜、半導体素子の表面コート膜などの保護膜、多層レジストを用いた半導体作製工程の中間層や反射防止膜、多層配線基板の層間絶縁膜、液晶表示素子用の保護膜や絶縁膜などの用途に有用である。
【0044】
【実施例】
以下、実施例を挙げて、本発明をさらに具体的に説明する。
なお、実施例および比較例中の部および%は、特記しない限り、それぞれ重量部および重量%であることを示している。
また、実施例中における膜形成用組成物の評価は、次のようにして測定したものである。
【0045】
重量平均分子量(Mw)
下記条件によるゲルパーミエーションクロマトグラフィー(GPC)法により測定した。
試料:テトラヒドロフランを溶媒として使用し、試料1gを、100ccのテトラヒドロフランに溶解して調製した。
標準ポリスチレン:米国プレッシャーケミカル社製の標準ポリスチレンを使用した。
装置:米国ウオーターズ社製の高温高速ゲル浸透クロマトグラム(モデル150−C ALC/GPC)
カラム:昭和電工(株)製のSHODEX A−80M(長さ50cm)
測定温度:40℃
流速:1cc/分
【0046】
比誘電率
8インチシリコンウエハ上に、スピンコート法を用いて組成物試料を塗布し、ホットプレート上で80℃で1分間、さらに420℃の窒素雰囲気のオーブン中で30分基板を焼成した。得られた基板上にアルミニウムを蒸着し、比誘電率評価用基板を作製した。比誘電率は、横川・ヒューレットパッカード(株)製のHP16451B電極およびHP4284AプレシジョンLCRメーター用いて、10kHzにおける容量値から算出した。
【0047】
クラック耐性
8インチシリコンウエハ上に、スピンコート法を用いて組成物試料を塗布し、ホットプレート上で80℃で1分間、さらに420℃の窒素雰囲気のオーブン中で30分基板を焼成した。この際の最終的な塗膜の膜厚は、7μmとした。得られた塗膜付き基板を純水中に2時間浸漬し、塗膜の外観を35万ルクスの表面観察用ランプで観察し、下記基準で評価した。
○;塗膜表面にクラックが認められない。
×;塗膜表面にクラックが認められる。
【0048】
5%重量減少温度(Td5
8インチシリコンウエハ上に、スピンコート法を用いて組成物試料を塗布し、ホットプレート上で80℃で1分間、さらに420℃の窒素雰囲気のオーブン中で30分基板を焼成した。この基板から塗膜を剥離し、TG法により、窒素雰囲気中、昇温速度10℃/分の条件で測定した。
【0049】
合成例1
化合物(6)7.83gと化合物(13)4.20gを蒸留N−メチルピロリドン60gに溶解させ、窒素雰囲気下で200℃、10時間反応させることによって、反応液▲1▼を得た。
このようにして得られた重合体の重量平均分子量は、2,400であった。
【0050】
合成例2
化合物(7)8.11gと化合物(12)3.78gを蒸留γ−ブチロラクトン60gに溶解させ、窒素雰囲気下で200℃、10時間反応させることによって、反応液▲2▼を得た。
このようにして得られた重合体の重量平均分子量は、2,200であった。
【0051】
合成例3
化合物(6)8.11gと化合物(13)2.10gと化合物(24)1.09gを蒸留トリメチルベンゼン60gに溶解させ、窒素雰囲気下で170℃、15時間反応させることによって、反応液▲3▼を得た。
このようにして得られた重合体の重量平均分子量は、1,900であった。
【0052】
合成例4
化合物(4)7.81gと化合物(11)2.10gと化合物(22)0.76gを蒸留N−メチルピロリドン60gに溶解させ、窒素雰囲気下で200℃、10時間反応させることによって、反応液▲4▼を得た。
このようにして得られた重合体の重量平均分子量は、1,800であった。
【0053】
比較合成例1
化合物(6)7.83gと化合物(12)3.78gを蒸留N−メチルピロリドン60gに溶解させ、窒素雰囲気下で200℃、10時間反応させることによって、反応液▲5▼を得た。
このようにして得られた重合体の重量平均分子量は、2,500であった。
【0054】
比較合成例2
石英製セパラブルフラスコ中で、メチルトリメトキシシラン77.04gとテトラメトキシシラン24.05gとテトラキス(アセチルアセトナート)チタン0.48gを、プロピレングリコールモノプロピルエーテル290gに溶解させたのち、スリーワンモーターで攪拌させ、溶液温度を60℃に安定させた。次に、イオン交換水84gを1時間かけて溶液に添加した。その後、60℃で2時間反応させたのち、アセチルアセトン25gを添加し、さらに30分間反応させ、反応液を室温まで冷却した。50℃で反応液からメタノールと水を含む溶液を149gエバポレーションで除去し、反応液▲6▼を得た。
このようにして得られた加水分解縮合物(加水分解物および/またはその縮合物)の重量平均分子量は、8,900であった。
【0055】
実施例1
合成例1で得られた反応液▲1▼を、0.2μm孔径のテフロン(デュポン社製、ポリテトラフルオロエチレン)製フィルターでろ過を行い、本発明の膜形成用組成物を得た。
得られた組成物をスピンコート法でシリコンウエハ上に塗布した。
塗膜の比誘電率を測定したところ、2.45と比誘電率2.5以下の塗膜が得られた。塗膜は7μmの膜厚でもクラックが生じておらず、高いクラック耐性を示した。また、塗膜の5%重量減少温度を測定したところ、502℃と優れた耐熱性を示した。
【0056】
実施例2〜6
実施例1と同様にして、表1に示す組成で評価を行った。
【0057】
比較例1
比較合成例1で得られた反応液▲5▼を使用した以外は、実施例1と同様にして評価を行った。塗膜の耐クラック性7μm、5%重量減少温度は492℃と良好であったが、塗膜の比誘電率は2.64と比誘電率2.5以下の塗膜は得られなかった。結果を表1に示す。
【0058】
比較例2
比較合成例2で得られた反応液▲6▼を使用した以外は、実施例1と同様にして評価を行った。塗膜の5%重量減少温度は580℃であったが、塗膜の比誘電率は2.68であり、純水に浸漬後に塗膜にクラックが発生した。結果を表1に示す。
【0059】
【表1】
Figure 0004344903
【0060】
【発明の効果】
本発明によれば、特定の化合物の重合体と、有機溶剤とを含有する組成物を使用することにより、耐熱性、比誘電率2.5以下の低誘電性、クラック耐性などのバランスに優れた膜形成用組成物(層間絶縁膜用材料)を提供することが可能である。

Claims (3)

  1. (A)下記一般式(1)で表される化合物と(B)下記一般式(2)で表される化合物および/または下記一般式(3)で表される化合物、とを反応させて得られる重合体、ならびに(C)有機溶剤を含有する膜形成用組成物からなることを特徴とする半導体素子用の層間絶縁膜形成用材料。
    Figure 0004344903
    Figure 0004344903
    Figure 0004344903
    (式中、R1は2価の芳香族基を示し、R9は2〜h価の芳香族基を示し、R10は2〜i価の芳香族基を示し、R2〜R8はそれぞれ独立に炭素数1〜3のアルキル基を示し、a〜gは0〜5の整数を示し、hおよびiはそれぞれ独立に2〜6の整数であり、重合体を構成する(A)成分および/または(B)成分中のa〜gの少なくとも1つは、1以上の整数である。)
  2. さらに、2,3−ジメチル−2,3−ジフェニルブタンからなる(D)ラジカル発生剤を含有する請求項1記載の半導体素子用の層間絶縁膜形成用材料。
  3. (A)成分と(B)成分の使用割合が、(A)成分1モルに対して(B)成分が0.4〜2.5モルである請求項1または2記載の半導体素子用の層間絶縁膜形成用材料。
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