JP4337918B2 - Optoelectronic circuit board - Google Patents
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本発明は、光電子回路基板に関する。 The present invention relates to an optoelectronic circuit board.
光を情報の伝送媒体として利用した光通信技術が広く普及してきている。このような光通信技術においては、情報を示す信号により光を変調した光信号を伝送するため、従来、基板上に光導波路を配置した光集積回路が提案されている(例えば、特許文献1参照)。 Optical communication technology using light as an information transmission medium has become widespread. In such an optical communication technology, an optical integrated circuit in which an optical waveguide is disposed on a substrate has been proposed in order to transmit an optical signal obtained by modulating light with a signal indicating information (see, for example, Patent Document 1). ).
この光集積回路は、実装基板と、実装基板上の一方の側に配置された4つの面発光半導体レーザ素子と、実装基板上の他方の側に配置された4つのフォトダイオードと、面発光半導体レーザ素子およびフォトダイオード上に配置され、面発光半導体レーザ素子およびフォトダイオードに対向する位置に45度の角度で傾斜した反射面を有する光導波路とを備えて構成されている。光導波路は、4本のコアを、コアの屈折率よりも小さい屈折率のクラッドで覆った構造を有し、上面にシリコン基板が形成されている。 This optical integrated circuit includes a mounting substrate, four surface emitting semiconductor laser elements disposed on one side of the mounting substrate, four photodiodes disposed on the other side of the mounting substrate, and a surface emitting semiconductor. An optical waveguide disposed on the laser element and the photodiode and having a reflection surface inclined at an angle of 45 degrees at a position facing the surface emitting semiconductor laser element and the photodiode. The optical waveguide has a structure in which four cores are covered with a clad having a refractive index smaller than that of the core, and a silicon substrate is formed on the upper surface.
4つの面発光半導体レーザ素子から出射された光信号は、光導波路の一方の反射面で反射した後、対応するコア内を全反射しつつ伝搬し、光導波路の他方の反射面で反射して4つのフォトダイオードにそれぞれ入射する。
本発明の目的は、不具合箇所の特定が容易な光電子回路基板を提供することにある。 An object of the present invention is to provide an optoelectronic circuit board in which a defective portion can be easily identified.
本発明は、上記目的を達成するため、以下の光電子回路基板を提供する。 To achieve the above object, the present invention provides the following optoelectronic circuit board.
[1]検査用開口を有する基板と、コアの周囲にクラッドが形成されて前記基板の一方の面側に設けられ、前記基板の前記検査用開口に露出し、かつ、前記検査用開口側に湾曲した部分を有する光導波路と、前記光導波路の湾曲した前記部分に前記コアが前記クラッドから露出するように形成されたコア露出面とを備えた光電子回路基板。 [1] A substrate having an inspection opening, a clad formed around the core, provided on one surface side of the substrate, exposed to the inspection opening of the substrate, and on the inspection opening side An optoelectronic circuit board comprising: an optical waveguide having a curved portion; and a core exposed surface formed so that the core is exposed from the clad in the curved portion of the optical waveguide.
[2]光信号を第1の面側から第2の面側に通過させる発光側開口、前記光信号を前記第2の面側から前記第1の面側へ通過させる受光側開口、および前記発光側開口と前記受光側開口との間に位置する検査用開口が形成された基板と、前記基板の前記第1の面側に実装され、前記発光側開口に対向する位置に設けられて前記光信号を発光する発光素子、及び前記受光側開口に対向する位置に設けられて前記光信号を受光する受光素子と、コアの周囲にクラッドが形成されて前記基板の前記第2の面側に設けられ、前記発光側開口を前記第1の面側から前記第2の面側に通過する前記光信号の光路を変換する第1の光路変換面、前記第1の光路変換面により変換された前記光信号が前記受光側開口を前記第2の面側から前記第1の面側に通過するように前記光信号の光路を変換する第2の光路変換面、および前記基板の前記検査用開口に露出し、かつ、前記検査用開口側に湾曲した部分を有する光導波路と、前記光導波路の湾曲した前記部分に前記コアが前記クラッドから露出するように形成されたコア露出面とを備えた光電子回路基板。 [2] A light emitting side opening that allows an optical signal to pass from the first surface side to the second surface side, a light receiving side opening that allows the optical signal to pass from the second surface side to the first surface side, and A substrate on which an inspection opening located between the light emitting side opening and the light receiving side opening is formed; and mounted on the first surface side of the substrate and provided at a position facing the light emitting side opening. A light-emitting element that emits an optical signal, a light-receiving element that is provided at a position facing the light-receiving-side opening, and that receives the optical signal, and a clad is formed around the core so that the second surface side of the substrate A first optical path conversion surface that converts the optical path of the optical signal that passes through the light emitting side opening from the first surface side to the second surface side, and is converted by the first optical path conversion surface. The optical signal passes through the light receiving side opening from the second surface side to the first surface side. An optical waveguide having a second optical path conversion surface for converting the optical path of the optical signal, a portion exposed to the inspection opening of the substrate and curved toward the inspection opening, and the optical waveguide An optoelectronic circuit board comprising: a core exposed surface formed so that the core is exposed from the clad at the curved portion.
[3]さらに、前記コアの屈折率よりも小さい屈折率を有し、前記光導波路の前記コア露出面を覆う封止樹脂を備えた前記[1]又は[2]に記載の光電子回路基板。 [3] The optoelectronic circuit board according to [1] or [2], further including a sealing resin having a refractive index smaller than that of the core and covering the exposed core surface of the optical waveguide.
[4]さらに、前記基板に前記光導波路を介して配置された他の基板を備えた前記[1]又は[2]に記載の光電子回路基板。 [4] The optoelectronic circuit board according to [1] or [2], further including another substrate disposed on the substrate via the optical waveguide.
請求項1に係る光電子回路基板によると、不具合箇所の特定が容易となる。 According to the optoelectronic circuit board according to the first aspect, it is easy to identify a defective portion.
請求項2に係る光電子回路基板によると、発光素子および受光素子を実装したままの状態で、不具合箇所が発光素子か、受光素子か、または光導波路かの特定が容易となる。 According to the optoelectronic circuit board of the second aspect, it is easy to identify whether the defective portion is the light emitting element, the light receiving element, or the optical waveguide while the light emitting element and the light receiving element are mounted.
請求項3に係る光電子回路基板によると、コア露出面からの光信号の漏れが少なくなり、伝送損失を減らすことができる。 According to the optoelectronic circuit board according to the third aspect, optical signal leakage from the exposed core surface is reduced, and transmission loss can be reduced.
請求項4の光電子回路基板によると、基板に実装される電子部品等の実装密度を上げることができる。 According to the optoelectronic circuit board of the fourth aspect, the mounting density of electronic components and the like mounted on the board can be increased.
[第1の実施の形態]
図1は、本発明の第1の実施の形態に係る光電子回路基板の概略の構成を示し、(a)は、斜視図、(b)は、(a)のA―A線断面図である。
[First Embodiment]
1A and 1B show a schematic configuration of an optoelectronic circuit board according to a first embodiment of the present invention. FIG. 1A is a perspective view, and FIG. 1B is a cross-sectional view taken along line AA in FIG. .
この光電子回路基板1は、光回路と電子回路を融合させたものであり、プリント基板100に光導波路13(図1(b)参照)を埋め込んで構成されている。 The optoelectronic circuit board 1 is a combination of an optical circuit and an electronic circuit, and is configured by embedding an optical waveguide 13 (see FIG. 1B) in a printed board 100.
プリント基板100は、光導波路13を介して配置された第1および第2の基板10,11から構成され、第1の基板10の上面(第1の面)に第1および第2の光モジュール12A,12Bが実装され、これらの光モジュール12A,12Bは、光導波路13に光学的に接続されている。なお、プリント基板100における配線を有する基板数(層数)は、2つに限られず、3つ以上でもよい。
The printed circuit board 100 includes first and
第1の光モジュール12Aは、複数の発光素子120aが一例に配列された発光素子アレイ120と、発光素子120aを駆動する駆動回路等を有する。第2の光モジュール12Bは、複数の受光素子121aが一列に配列された発光素子アレイ121と、受光素子121aからの出力信号を増幅する増幅回路等を有する。第1及び第2の光モジュール12A、12Bは、それぞれパッケージ化されており、それらの詳細な構成は後述する。 The first optical module 12A includes a light emitting element array 120 in which a plurality of light emitting elements 120a are arranged as an example, a drive circuit that drives the light emitting elements 120a, and the like. The second optical module 12B includes a light emitting element array 121 in which a plurality of light receiving elements 121a are arranged in a line, an amplifier circuit that amplifies an output signal from the light receiving element 121a, and the like. The first and second optical modules 12A and 12B are packaged, and their detailed configurations will be described later.
(第1の基板)
第1の基板10は、例えば、厚みが0.5mmのガラスエポキシ樹脂等の絶縁性材料から形成された基材と、この基材の上面に形成され、各種の電子部品や電源回路部品等が電気的に接続される導電性パターンとを有する。
(First substrate)
For example, the
また、第1の基板10は、図1(a)に示すように、光導波路に対して検査光を入出力するための貫通孔による検査用開口14を有する。この検査用開口14は、検査終了後は、クラッド材充填部15で埋められる。検査用開口14の開口径は、光導波路13の後述する湾曲部が露出できるサイズ、例えば、5×5mmを有する。
Further, as shown in FIG. 1A, the
クラッド充填部15は、光導波路13のクラッド132と同様の屈折率を有する樹脂からなる。
The
(第2の基板)
第2の基板11は、例えば、厚みが1mmのガラスエポキシ樹脂等の絶縁性材料から形成された基材と、この基材の下面に形成され、各種の電子部品や電源回路部品等が電気的に接続される導電性パターンとを有し、基材の上面の検査用開口14に対向する位置に合成樹脂等からなる突部17を有する。突部17は、断面台形を有するが、半円形等の他の形状でもよい。
(Second substrate)
The second substrate 11 is formed on, for example, a base material made of an insulating material such as a glass epoxy resin having a thickness of 1 mm, and a lower surface of the base material. Various electronic components, power circuit components, and the like are electrically used. And a
(光導波路)
光導波路13は、図1(b)に示すように、例えば、全体の厚みが0.2mmであり、50×50μmの断面矩形状を有する4本のコア131と、これらのコア131の周囲に形成されてコア131より屈折率が小さいクラッド132とで構成される。
(Optical waveguide)
As shown in FIG. 1B, the
図2は、本発明の第1の実施の形態に係る光電子回路基板の概略を示し、図2(a)は、図1(a)のB−B線断面図、図2(b)は、図2(a)のC部詳細図である。 2 shows an outline of the optoelectronic circuit board according to the first embodiment of the present invention. FIG. 2 (a) is a cross-sectional view taken along the line BB of FIG. 1 (a), and FIG. It is the C section detail drawing of Fig.2 (a).
(第1の光モジュール)
第1の光モジュール12Aは、中継基板129と、中継基板129の下面に実装された上述の発光素子アレイ120と、中継基板129の上面に実装された制御部127Aとを備える。
(First optical module)
The first optical module 12A includes a
中継基板129は、絶縁性材料からなる基材を有し、基材にパッド123および端子124が形成されている。端子124は、BGA(Ball Grid Array)等の半田ボール(導電性ボール)125によって第1の基板10の端子110に電気的に接続される。
The
制御部127Aは、4つの発光素子120aを駆動する駆動回路を内蔵し、接着剤によって中継基板129に接合され、ワイヤ126によって端子124に接続され、全体がエポキシ樹脂等の封止樹脂128により封止されている。
The control unit 127A includes a drive circuit that drives the four light emitting elements 120a, is bonded to the
発光素子アレイ120と光導波路13との間は、クラッド132と同様の屈折率を有する光学樹脂16で封止されている。
A space between the light emitting element array 120 and the
発光素子アレイ120の発光素子120aは、光信号を出力する光出力面(光学面)と反対側に実装面を有する面型発光素子を用いる。面型発光素子として、例えば、面型発光ダイオードや面発光レーザ等を用いることができるが、本実施の形態では、面発光レーザを用いる。この面発光レーザを用いた面発光レーザアレイは、例えば、n型GaAs基板上に、n型下部反射鏡層、活性層、電流狭窄層、p型上部反射鏡層、p型コンタクト層、p側電極を形成し、n型GaAs基板の裏面にn側電極を形成したものであり、活性層、電流狭窄層、p型上部反射鏡層、p型コンタクト層、およびp側電極は、発光素子120a毎に形成され、中継基板129のパッド123にワイヤ122によって電気的に接続されている。
The light emitting element 120a of the light emitting element array 120 uses a surface light emitting element having a mounting surface on the side opposite to the light output surface (optical surface) for outputting an optical signal. As the surface light emitting element, for example, a surface light emitting diode or a surface emitting laser can be used. In this embodiment, a surface emitting laser is used. A surface emitting laser array using this surface emitting laser has, for example, an n-type lower reflector layer, an active layer, a current confinement layer, a p-type upper reflector layer, a p-type contact layer, and a p-side on an n-type GaAs substrate. An electrode is formed, and an n-side electrode is formed on the back surface of the n-type GaAs substrate. The active layer, the current confinement layer, the p-type upper reflector layer, the p-type contact layer, and the p-side electrode are formed of the light emitting element 120a. It is formed every time and is electrically connected to the
(第2の光モジュール)
第2の光モジュール12Bは、第1の光モジュール12Aと同様の中継基板129と、中継基板129の下面に実装された上述の受光素子アレイ121と、中継基板129の上面に実装された制御部127Bとを備える。
(Second optical module)
The second optical module 12B includes a
制御部127Bは、4つの受光素子121aが出力する電気信号を増幅する増幅回路と、増幅回路の出力信号を画像信号等に変換する信号処理回路とを内蔵し、接着剤によって中継基板129に接合され、ワイヤ126によって端子124に接続され、全体がエポキシ樹脂等の封止樹脂128により封止されている。
The
受光素子アレイ121の受光素子121aは、光信号を入力する光入力面(光学面)と反対側に実装面を有する面型受光素子を用いる。面型受光素子として、例えば、面型のフォトダイオード等を用いることができる。本実施の形態では、高速応答性に優れたGaAs系のPINフォトダイオードを用いる。このPINフォトダイオードを用いた受光素子アレイ121は、例えば、GaAs基板上に、PIN接合されたP層、I層およびN層と、P層に接続されたp側電極と、N層に形成されたn側電極とを備え、P層、I層、N層、p側電極およびn側電極は、受光素子121a毎に形成され、中継基板129のパッド123にワイヤ122によって電気的に接続されている。
The light receiving element 121a of the light receiving element array 121 uses a surface light receiving element having a mounting surface on the opposite side to the light input surface (optical surface) for inputting an optical signal. As the surface light receiving element, for example, a surface photodiode can be used. In this embodiment, a GaAs PIN photodiode having excellent high-speed response is used. The light receiving element array 121 using the PIN photodiode is formed, for example, on a GaAs substrate on a P-layer, I-layer, and N-layer that are PIN-bonded, a p-side electrode connected to the P-layer, and an N-layer. The P layer, the I layer, the N layer, the p side electrode, and the n side electrode are formed for each light receiving element 121a and are electrically connected to the
受光素子アレイ121と光導波路13との間は、クラッド132と同様の屈折率を有する光学樹脂16で封止されている。
The space between the light receiving element array 121 and the
(第1の基板)
第1の基板10は、4つの発光素子120aにそれぞれ対向した位置に4つの発光側開口10aが形成され、4つの受光素子121aにそれぞれ対向した位置に4つの受光側開口10bが形成されている。なお、4つの発光側開口10aと4つの受光側開口10bは、それぞれ共通する1つの開口であっても良い。
(First substrate)
The
(光導波路)
光導波路13は、突部17に沿って検査用開口14側に露出し、かつ、検査用開口14側に湾曲した湾曲部13aを有し、この湾曲部13aにコア131がクラッド132から露出するようにコア露出面134が形成されている。
(Optical waveguide)
The
(光電子回路基板の製造方法および検査方法)
次に、光電子回路基板の製造方法および検査方法の一例について説明する。光電子回路基板の検査は、光電子回路基板の製造の過程で行われる。
(Optical circuit board manufacturing method and inspection method)
Next, an example of an optoelectronic circuit board manufacturing method and inspection method will be described. The inspection of the optoelectronic circuit board is performed in the process of manufacturing the optoelectronic circuit board.
(1)光導波路の作製
まず、光導波路13の作製例について説明する。光導波路13は、例えば、一般によく用いられるフォトリソグラフィ法やRIE(反応性イオンエッチング)を利用した方法で作製可能である。特に、本出願人が既に提案した特開2004−29507号公報等に記載されている鋳型を用いた作製工程により効率的に製造することができる。以下に、その作製工程を説明する。
(1) Fabrication of optical waveguide First, a fabrication example of the
まず、4本のコア131に対応する凸部が形成された原盤を、例えば、フォトリソグラフィ法を用いて作製する。次に、原盤の凸部が形成された面に、例えば、500〜7000mPa・s程度の粘度で、紫外領域や可視領域において光透過性を有する硬化性樹脂、例えば、分子中にメチルシロキサン基、エチルシロキサン基、フェニルシロキサン基を含む硬化性オルガノポリシロキサンの層を塗布等により設け、その後、硬化させて硬化層を構成する。次に、硬化層を原盤から剥離し、凸部に対応する凹部を有した鋳型を作製する。
First, a master on which convex portions corresponding to the four
次に、鋳型に、この鋳型との密着性に優れる樹脂、例えば、脂環式アクリル樹脂フィルム、脂環式オレフィン樹脂フィルム、三酢酸セルロースフィルム、フッ素樹脂フィルム等からなるクラッド用フィルム基材を密着させる。次に、鋳型の凹部に、例えば、紫外線硬化性又は熱硬化性のモノマー、オリゴマー若しくはモノマーとオリゴマーの混合物、エポキシ系、ポリイミド系、アクリル系の紫外線硬化性樹脂等からなる硬化性樹脂を充填する。次に、凹部内の硬化性樹脂を硬化させてコア131とした後、鋳型を剥離する。これにより、クラッド用フィルム基材上に4本のコア131が残される。
Next, a clad film substrate made of a resin excellent in adhesion to the mold, for example, an alicyclic acrylic resin film, an alicyclic olefin resin film, a cellulose triacetate film, a fluororesin film, or the like is adhered to the mold. Let Next, the concave portion of the mold is filled with, for example, an ultraviolet curable or thermosetting monomer, an oligomer or a mixture of a monomer and an oligomer, an epoxy type, a polyimide type, an acrylic type ultraviolet curable resin, or the like. . Next, the curable resin in the recess is cured to form the
次に、クラッド用フィルム基材のコア131が形成された面側にコア131を覆うようにクラッド132を設ける。クラッド132として、例えば、フィルム、クラッド用硬化性樹脂を塗布して硬化させた層、高分子材料の溶剤溶液を塗布し乾燥してなる高分子膜等が挙げられる。
Next, the clad 132 is provided so as to cover the
最後に、光導波路のコア131が露出する面をダイサーによって所定の角度に切削して光路変換面を形成する。更にコア131に平行にダイサーで切り出すことにより、クラッド用フィルム基材及びクラッド層をクラッド132とした光導波路13が完成する。
Finally, the surface where the
次に、光導波路13を第2の基板11上に配置する。このとき、光導波路13は、第2の基板11上の突部17に沿って湾曲した湾曲部13aが形成される。湾曲部13aのクラッド132の部分を、図2(b)に示すように、切削、研磨等により除去し、コア131を露出させたコア露出部134を形成する。
Next, the
次に、第2の基板11上に配置された光導波路13上に第1の基板10を配置し、第1の基板10上に第1および第2の光モジュール12A,12Bやその他必要な電子部品、電源部品等を実装する。
Next, the
(2)光電子回路基板の検査
図3は、第1の光モジュール12A側の検査の様子を示す、図1(a)のB−B線断面に相当する断面図である。
(2) Inspection of Optoelectronic Circuit Board FIG. 3 is a cross-sectional view corresponding to the cross section taken along the line BB of FIG. 1A, showing a state of inspection on the first optical module 12A side.
まず、第1の光モジュール12Aの発光素子アレイ120の4つの発光素子120aから光信号2をそれぞれ出力する。出力された光信号2は、発光側開口10aを通過した後、光路変換面133Aによって光路を変換され、光導波路13のコア131を伝播する。
First, the optical signal 2 is output from each of the four light emitting elements 120a of the light emitting element array 120 of the first optical module 12A. The output optical signal 2 passes through the light emission side opening 10 a, is converted in optical path by the optical path conversion surface 133 A, and propagates through the
4本のコア131をそれぞれ伝播した光信号2は、一部がコア露出面134から検査光2aとして外部に出力される。その検査光2aを、例えば、4つのフォトダイオードからなる受光検査部18Aによりそれぞれ受光する。このとき、受光検査部18Aを湾曲部13aを中心に回転させ、受光検査部18Aの4つのフォトダイオードからそれぞれ最大出力値を検出する。
A part of the optical signal 2 propagated through each of the four
受光検査部18Aにより4つの検査光2aを適正な光量で検出できたときは、第1の光モジュール12A側は正常に動作していることが分かる。検査終了後は、検査用開口14をクラッド材充填部15で封止する。
When the four inspection lights 2a can be detected with an appropriate amount of light by the light receiving inspection section 18A, it can be seen that the first optical module 12A side is operating normally. After the inspection, the inspection opening 14 is sealed with the clad
受光検査部18Aにより適正な光量で検出できた検査光2aが3つ以下のときは、第1の光モジュール12Aの対応する発光素子120aが動作不良か、または光導波路13の発光素子アレイ120側の光路変換面133A側にごみ等が付着して光路不良であることが分かる。
When the number of inspection lights 2a detected by the light-receiving inspection unit 18A with an appropriate amount of light is three or less, the corresponding light-emitting element 120a of the first optical module 12A is malfunctioning or the light-emitting element array 120 side of the
図4は、第2の光モジュール12B側の検査の様子を示す、図1(a)のB−B線断面に相当する断面図である。 FIG. 4 is a cross-sectional view corresponding to the cross section taken along line B-B in FIG. 1A, showing a state of inspection on the second optical module 12 </ b> B side.
まず、4つの発光素子からなる発光検査部18Bから4つの検査光2bをコア露出面134に入射する。このとき、発光検査部18Bを湾曲部13aを中心に回転させ、発光検査部18Bの4つの発光素子から最大の光強度の検出光2bがコア露出面134内に入射するようにする。検査光2bは、コア露出面134から4本のコア131内に入射し、コア131を第2の光モジュール12B側に伝播する。コア131を伝播した検査光2bは、光路変換面133Bによって光路を変換され、第2の光モジュール12Bの受光素子アレイ121の4つの受光素子121aに受光される。受光素子121aは、受光した検査光2bを電気信号に変換して出力する。
First, four inspection lights 2b are incident on the core exposed
受光素子アレイ121により4つの検出光2bを適正な光量で検出できたときは、第2の光モジュール12B側は正常に動作していることが分かる。検査終了後は、検査用開口14をクラッド材充填部15で封止する。
When the four detection lights 2b can be detected with appropriate light amounts by the light receiving element array 121, it can be seen that the second optical module 12B side is operating normally. After the inspection, the inspection opening 14 is sealed with the clad
受光素子アレイ121により適正な光量で検出できた検査光2bが3つ以下のときは、第2の光モジュール12Bの対応する受光素子121aが動作不良か、または光導波路13の受光素子アレイ121側の光路変換面133B側にごみ等が付着して光路不良であることが分かる。
When the number of inspection lights 2b detected by the light receiving element array 121 with an appropriate amount of light is three or less, the corresponding light receiving element 121a of the second optical module 12B is malfunctioning or the light receiving element array 121 side of the
(光電子回路基板の動作)
以下に、光電子回路基板1の動作について図1および図2を参照して説明する。
(Operation of optoelectronic circuit board)
The operation of the optoelectronic circuit board 1 will be described below with reference to FIGS.
(1)光信号の送受信
ここでは、一例として、画像信号を第1の光モジュール12Aから第2の光モジュール12Bに送信する場合について説明する。第1の光モジュール12Aの制御部127Aの駆動回路は、画像信号に基づいて駆動信号を発光素子アレイ120の発光素子120aに送信する。発光素子120aは、駆動信号に基づいて光信号2を発光側開口10aを介して光導波路3の光路変換面133Aに向けて送信する。このとき、発光素子120aのp型電極とn型電極間に駆動信号の電圧が印加され、発光層の発光領域から例えば、波長850nmのレーザ光を光信号2として出力する。
(1) Transmission / Reception of Optical Signal Here, as an example, a case where an image signal is transmitted from the first optical module 12A to the second optical module 12B will be described. The drive circuit of the control unit 127A of the first optical module 12A transmits a drive signal to the light emitting element 120a of the light emitting element array 120 based on the image signal. The light emitting element 120a transmits the optical signal 2 toward the optical path conversion surface 133A of the optical waveguide 3 through the light emission side opening 10a based on the drive signal. At this time, the voltage of the drive signal is applied between the p-type electrode and the n-type electrode of the light emitting element 120a, and for example, laser light having a wavelength of 850 nm is output as the optical signal 2 from the light emitting region of the light emitting layer.
光路変換面133Aは、発光素子120aから送信された光信号2の光路を変換し、光導波路13のコア131に光信号2を伝播させる。コア131に伝播した光信号2は、光路変換面133Bによって光路を変換され、受光側開口10bを通過して第2の光モジュール12Bの受光素子アレイ121によって受光される。受光素子121aは、受光した光信号2を電気信号に変換して制御部127Bに出力する。
The optical path conversion surface 133A converts the optical path of the optical signal 2 transmitted from the light emitting element 120a, and propagates the optical signal 2 to the
制御部127Bの増幅回路は、変換された電気信号を増幅し、信号処理回路は、増幅回路からの信号を処理して画像信号を生成し、第1又は第2の基板10、11上の所定の電子部品に出力する。
The amplifier circuit of the
[第2の実施の形態]
図5は、本発明の第2の実施の形態に係る光電子回路基板の概略の構成を示し、図1(a)のB−B線断面に相当する断面図である。
[Second Embodiment]
FIG. 5 shows a schematic configuration of the optoelectronic circuit board according to the second embodiment of the present invention, and is a cross-sectional view corresponding to a cross section taken along line BB of FIG.
第1の実施の形態では、第1の基板10側で検査を行ったが、本実施の形態は、第2の基板11側で検査を行うようにしたものである。
In the first embodiment, the inspection is performed on the
第1の基板10は、発光素子120a及び受光素子121aにそれぞれ対向した位置に発光側開口10a及び受光側開口10bが形成されているが、検査用開口が形成されていない。第2の基板11は、検査用開口14が形成されている。第1の基板10の下面に検査用開口14に対応する位置に突部17を設けている。
The
光導波路13は、第1の基板10側に設けた突部17に沿って第2の基板11に形成された検査用開口14側に露出し、かつ、検査用開口14に湾曲した湾曲部13aを有し、この湾曲部13aにコア131がクラッド132から露出するようにコア露出面134が形成されている。
The
この第2の実施の形態においても、第1の実施の形態と同様に、コア露出面134に対して検査光2a,2bを入出力することにより、第1の光モジュール12A、第2の光モジュール12B、光導波路13の光路変換面133A,133B等の異常の有無を検査することができる。光電子回路基板1の検査方法は、第1の実施の形態と同様であるので、その説明を省略する。
Also in the second embodiment, similarly to the first embodiment, the first optical module 12A and the second light are input and output by inputting and outputting the inspection lights 2a and 2b to the core exposed
なお、本発明は、上記した実施の形態に限定されず、本発明の趣旨を逸脱しない範囲内で種々の変形が可能である。 The present invention is not limited to the above-described embodiment, and various modifications can be made without departing from the spirit of the present invention.
1…光電子回路基板、2…光信号、2a,2b…検査光、10…第1の基板、10a…発光側開口、10b…受光側開口、11…第2の基板、12A…第1の光モジュール、12B…第2の光モジュール、13…光導波路、13a…湾曲部、14…検査用開口、15…クラッド材充填部、16…光学樹脂、17…突部、18A…受光検査部、18B…発光検査部、10a…発光側開口、10b…受光側開口、、100…プリント基板、110…端子、120…発光素子アレイ、120a…発光素子、121…受光素子アレイ、121a…受光素子、122…ワイヤ、123…パッド、124…端子、125…ハンダボール、126…ワイヤ、127A…制御部、127B…制御部、128…封止樹脂、129…中継基板、131…コア、132…クラッド、133A…光路変換面、133B…光路変換面、134…コア露出面 DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Optoelectronic circuit board, 2 ... Optical signal, 2a, 2b ... Inspection light, 10 ... 1st board | substrate, 10a ... Light emission side opening, 10b ... Light reception side opening, 11 ... 2nd board | substrate, 12A ... 1st light Module, 12B ... second optical module, 13 ... optical waveguide, 13a ... curved portion, 14 ... inspection opening, 15 ... clad material filling portion, 16 ... optical resin, 17 ... projection, 18A ... light receiving inspection portion, 18B DESCRIPTION OF SYMBOLS ... Light emission test | inspection part, 10a ... Light emission side opening, 10b ... Light reception side opening, 100 ... Printed circuit board, 110 ... Terminal, 120 ... Light emitting element array, 120a ... Light emitting element, 121 ... Light receiving element array, 121a ... Light receiving element, 122 ... Wire, 123 ... Pad, 124 ... Terminal, 125 ... Solder ball, 126 ... Wire, 127A ... Control part, 127B ... Control part, 128 ... Sealing resin, 129 ... Relay board, 131 ... Core, 13 ... cladding, 133A ... optical path changing surface, 133B ... optical path changing surface, 134 ... core exposed surface
Claims (4)
コアの周囲にクラッドが形成されて前記基板の一方の面側に設けられ、前記基板の前記検査用開口に露出し、かつ、前記検査用開口側に湾曲した部分を有する光導波路と、
前記光導波路の湾曲した前記部分に前記コアが前記クラッドから露出するように形成されたコア露出面とを備えた光電子回路基板。 A substrate having an inspection opening;
An optical waveguide having a portion that is formed around the core and is provided on one side of the substrate, exposed to the inspection opening of the substrate, and curved toward the inspection opening;
An optoelectronic circuit board comprising: a core exposed surface formed so that the core is exposed from the clad in the curved portion of the optical waveguide.
前記基板の前記第1の面側に実装され、前記発光側開口に対向する位置に設けられて前記光信号を発光する発光素子、及び前記受光側開口に対向する位置に設けられて前記光信号を受光する受光素子と、
コアの周囲にクラッドが形成されて前記基板の前記第2の面側に設けられ、前記発光側開口を前記第1の面側から前記第2の面側に通過する前記光信号の光路を変換する第1の光路変換面、前記第1の光路変換面により変換された前記光信号が前記受光側開口を前記第2の面側から前記第1の面側に通過するように前記光信号の光路を変換する第2の光路変換面、および前記基板の前記検査用開口に露出し、かつ、前記検査用開口側に湾曲した部分を有する光導波路と、
前記光導波路の湾曲した前記部分に前記コアが前記クラッドから露出するように形成されたコア露出面とを備えた光電子回路基板。 A light emitting side opening for allowing an optical signal to pass from the first surface side to the second surface side, a light receiving side opening for allowing the optical signal to pass from the second surface side to the first surface side, and the light emitting side opening. And a substrate on which an inspection opening located between the light receiving side opening and the substrate is formed,
A light emitting element mounted on the first surface side of the substrate and provided at a position facing the light emitting side opening to emit the optical signal, and a light emitting element provided at a position facing the light receiving side opening. A light receiving element for receiving light;
A clad is formed around the core, provided on the second surface side of the substrate, and converts an optical path of the optical signal passing through the light emitting side opening from the first surface side to the second surface side. The first optical path conversion surface, and the optical signal converted by the first optical path conversion surface passes through the light receiving side opening from the second surface side to the first surface side of the optical signal. A second optical path conversion surface for converting an optical path, and an optical waveguide having a portion exposed to the inspection opening of the substrate and curved toward the inspection opening;
An optoelectronic circuit board comprising: a core exposed surface formed so that the core is exposed from the clad in the curved portion of the optical waveguide.
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