JP4331211B2 - 振動構造ジャイロスコープにおけるバイアス誤差を低減する方法 - Google Patents

振動構造ジャイロスコープにおけるバイアス誤差を低減する方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4331211B2
JP4331211B2 JP2006551935A JP2006551935A JP4331211B2 JP 4331211 B2 JP4331211 B2 JP 4331211B2 JP 2006551935 A JP2006551935 A JP 2006551935A JP 2006551935 A JP2006551935 A JP 2006551935A JP 4331211 B2 JP4331211 B2 JP 4331211B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sub
phase
primary
gyroscope
phi
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
JP2006551935A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2007520716A (ja
Inventor
フェル、クリストファー・ポール
カザー、アンドリュー
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Atlantic Inertial Systems Ltd
Original Assignee
Atlantic Inertial Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority claimed from GB0402408A external-priority patent/GB0402408D0/en
Application filed by Atlantic Inertial Systems Ltd filed Critical Atlantic Inertial Systems Ltd
Publication of JP2007520716A publication Critical patent/JP2007520716A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4331211B2 publication Critical patent/JP4331211B2/ja
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C19/00Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
    • G01C19/56Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C19/00Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
    • G01C19/56Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces
    • G01C19/567Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces using the phase shift of a vibration node or antinode
    • G01C19/5677Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces using the phase shift of a vibration node or antinode of essentially two-dimensional vibrators, e.g. ring-shaped vibrators

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Gyroscopes (AREA)
  • Apparatuses For Generation Of Mechanical Vibrations (AREA)
  • Measuring Fluid Pressure (AREA)

Description

本発明は、振動構造ジャイロスコープにおけるバイアス誤差を低減する方法に関し、この方法は特に、限定はされないが、シリコンから作製されるジャイロスコープで使用するのに適している。
マイクロマシンの振動構造ジャイロスコープ(VSG)は低価格で広く入手できる。このようなジャイロスコープは、音叉、平面リング、はり及び発振ディスク構造を含む、広範な振動構造体を使用して作製される。これらジャイロスコープすべての基本動作原理は、振動構造体を共振させてキャリアモード運動を実現するという点で、本質的に同一である。構造体がキャリアモード運動により実現される直線運動と直交する軸の周りで回転すると、コリオリの力が生じる。これらの力は残りの直交軸に沿う方向に向き、振動構造体を応答モードと称される2次モード振動で振動させる。この応答モードの運動はキャリアモードの運動と同相であって、印加される回転速度に正比例する振幅を備える。
このような振動構造ジャイロスコープは、例えば、自動車分野における自動ブレーキシステム、転倒防止及びカーナビゲーションに対してなど、幅広い多様な用途における使用に適する。低価格で小型のこれらの振動構造ジャイロスコープは、慣性航法及びプラットフォームの安定化など、他の用途に対しても魅力あるものとなっている。しかし、後者の用途におけるこれらの使用は、特にバイアスの安定度(印加される速度がない場合の出力)の点で達成できる限定的な性能により制限される。これら振動構造ジャイロスコープの性能を改良して、これらジャイロスコープをより高精度を必要とする用途に適合させる必要がある。
振動構造コリオリジャイロスコープの性能を制限する主な制限事項は、直交バイアス誤差である。直交バイアス誤差は振動構造体の形状の不完全性のために生じる。これらの不完全性により、印加される回転速度により生じる運動に同相直交する(すなわち、90°の位相関係を有する)応答モードの振動を生じ、ジャイロスコープが回転していないときにも存在する。さらに、これらの信号の大きさは回転速度情報を提供する、必要とされる同相信号に比較して大きい。大きな直交信号がある状態で、必要とされる回転で生じた信号を回復することは、検出システムの位相精度に厳格な要件を課す。正確に位相合わせされた電子回路により、直交信号を実質的に除去できる。しかし、この位相合わせを設定できる精度に関する実際の限界は、この信号の一部が通常残留し、本来の回転で生じた同相信号を汚染することを意味する。この限界が、この種の振動構造ジャイロスコープにおける誤差の主な原因である。
したがって、振動構造コリオリジャイロスコープの性能における直交誤差の影響をさらに小さくする方法の必要性が存在する。
本発明の一態様によれば、振動構造体と、該振動構造体をキャリアモード共振の状態にする1次駆動手段と、キャリアモード運動を検知する1次ピックオフ手段と、印加される回転速度に応じて振動構造の応答モード振動を検知する2次ピックオフ手段と、応答モード運動を制御する力を印加する2次駆動手段と、1次ピックオフ手段において運動の固定振幅を維持し、かつ共振極大において駆動周波数を維持する閉ループ1次制御ループと、2次ピックオフ手段においてゼロを維持する2次制御ループとを有する、振動構造ジャイロスコープにおけるバイアス誤差を低減する方法を提供する。この方法においては、SFIN−PHASEに対するSFQUADの比は、2次制御ループから測定され、下記の関係式にもとづいて、Sin(φSD+φPPO)の直接測定値を得る。
Figure 0004331211
ここで、SFQUADは直交スケールファクタ、SFIN−PHASEは同相スケールファクタ、φSDは2次駆動手段における位相誤差、φPPOは1次ピックオフ手段の位相誤差である。全体位相誤差φを、下記の関係式
Figure 0004331211
に基づいてSin(φ SD +φ PPO )の測定から直接得て、前記2次駆動手段及び/又は1次ピックオフ手段に対して位相補正を行なうことにより、直交バイアス誤差を低減して、ジャイロスコープの性能を改良する。
このようにして、制御電子回路の位相応答を高精度で調整して、同相速度検出チャネルに対する汚染直交信号のブレークスルーを正確にゼロすることにより、大幅な性能向上を実現する。
上記の方法は、シリコン振動構造体を有するジャイロスコープ、詳細にはほぼ平面の、実質的にリング状の振動構造体を有するジャイロスコープにおいて使用される。
好ましくは、上記方法が可変コンデンサを備えるアナログの1次及び2次制御ループを有するジャイロスコープにおいて使用される場合、2次駆動手段に関連する2次制御ループにおける可変コンデンサの値及び/又は1次ピックオフ手段に関連する1次制御ループにおける可変コンデンサの値を変更することによって、位相補正を適用し、φSD及び/又はφPPOを調整して、φの値を最小にする、すなわち、できる限りゼロに近づけるようにする。
好都合には、上記方法がデジタルの1次及び2次制御ループを有するジャイロスコープにおいて使用される場合、φに等しい位相補正を、2次制御ループを介して2次駆動手段に適用し、これにより、振動構造制御システムにおける位相誤差の総合効果と大きさが等しく向きが反対の量により、同相及び直交駆動チャネルを交差結合するようにする。
あるいは、上記方法がデジタルの1次及び2次制御ループを有するジャイロスコープにおいて使用される場合、φに等しい位相補正を、1次制御ループを介して1次ピックオフ手段に適用し、これにより、振動構造制御システムにおける位相誤差の総合効果と大きさが等しく向きが反対の量により、同相及び直交駆動チャネルを交差結合するようにする。
好都合には、同相及び直交信号成分はそれぞれ、SinφCORR及びCosφCORRを乗算される。ここで、φCORRは位相補正、及び下記の加算にもとづいて調整される各同相及び直交チャネルの有効位相である。
Figure 0004331211
Figure 0004331211
有利には、ジャイロスコープの動作温度にもとづいてφCORRを調整し、φを最小値に維持する。
本発明をよりよく理解するため、及び同様に実行に移す方法を示すために、次に、例として、添付図面を参照する。
振動構造ジャイロスコープにおけるバイアス誤差を低減する本発明の方法は、閉ループ構成で作動するほぼ平面の実質的にリング状である振動構造体を使用する、コリオリのジャイロスコープ設計を参照して説明される。この方法は、このような閉ループ構成において作動するあらゆる振動構造体に適用できることを理解されたい。
英国特許第2322196号は、微細加工技術を利用して製造され、高信頼性、大容量用途における使用に適する振動構造ジャイロスコープについて記載している。振動構造ジャイロスコープは、主として、外部フレーム(図示せず)の8つの弾性支持脚の外部に取り付けられた結晶シリコン平面リング振動構造体からなる。このジャイロスコープは通常、図1a及び図1bに概略的に図示されるとおり、Cos2θ振動モードで駆動される。図1aに示されている1つのモードはキャリアモードとして励振される。ジャイロスコープがリング状の振動構造体の平面に垂直な軸の周りで回転すると、コリオリの力Fが発生し、この力が結合して、図1bで示される応答モードを生じる。力の大きさは下記の式により与えられる。
Figure 0004331211
ここで、Mはモード質量、vは有効速度及びΩappは印加される回転速度である。キャリアモード振動振幅は通常、固定レベルに維持される。これはまた、速度vを固定レベルに維持し、したがって、発生するコリオリの力が回転速度Ωappに正比例することを保証する。これらのコリオリの力により生じる運動の振幅は、キャリアモード及び応答モードの共振周波数を正確に一致させることにより大きくなる。次に、この運動は応答モードのQにより増幅され、高い装置感度を与える。開ループモードで動作する場合、ジャイロスコープの感度(スケールファクタ)は二次モードのQに依存し、動作温度範囲全体にわたり大きく変化する。この依存性は、閉ループ(フォースフィードバック)モードにおいて装置を作動することにより解消される。このモードでは、発生した応答モード運動は能動的にゼロであり、このモードを達成するために必要な印加される力は回転速度に正比例する。
閉ループ動作は通常、図2に概略的に示されているとおり、従来技術の制御ループを用いて実現できる。図2においては、リング状の振動構造体1は、運動が1次ピックオフ手段3により検出される1次駆動手段2によって、キャリアモード共振運動に励振される。1次ピックオフ手段3で検出された信号はキャリアモード制御ループ5に印加する前に復調器4で復調され、1次駆動手段2に印加される前に再変調器6で再変調される。キャリアモード制御ループ5は位相ロックループ7を含み、この位相ロックループ7は、1次ピックオフ及び1次駆動信号の相対的な位相を比較し、電圧制御発振器8の周波数を調整して、印加される駆動と振動構造運動の間の位相シフトを90°に維持する。これは運動を共振極大に維持する。1次ピックオフ信号はさらに、1次ピックオフ信号レベルと固定基準レベルVθとを比較する、自動利得制御ループ9に印加される。このように、1次駆動レベルを調整して、固定信号レベル、したがって1次ピックオフ手段3における振動構造体1の運動の振幅を維持する。
振動構造体1の応答モード運動は2次ピックオフ手段10で検出される。2次ピックオフ手段10からの出力信号は復調器11で復調され、この信号の同相成分と直交成分とに分離され、同相成分は同相ループ12に送られ、この信号の直交成分は直交ループ13に送られる。同相成分は、キャリアモード運動と同位相である。印加される回転速度により発生するコリオリの力は、同相及び直交成分の両方を備える運動を生成する。直交成分はモード周波数が正確に一致しないために生じる誤差分である。ループ12及び13によりこれらの復調されたベースバンドDC信号にループフィルタリングを適用して、帯域幅など必要なシステムの性能を達成する。次に、結果として得られた信号は再変調器14で再変調され、加算器15により加算され、2次駆動手段16に印加されて、2次ピックオフ手段10でゼロを維持する。第2駆動手段16によって振動構造体1に印加される、応答モード駆動の同相成分に正比例する同相ベースバンド信号は倍率変更され、フィルタ17でフィルタ処理され、速度出力信号18を生成する。
この動作モードについては、印加される回転速度に対応するスケールファクタは下記の数式により与えられる。
Figure 0004331211
ここで、Vは1次モード振幅設定レベル、ωは1次モード共振周波数、kは共振器の寸法を含む定数、Gはブライアン係数(モード結合係数)、gPPOは1次ピックオフ利得、及びgSDは2次駆動利得である。
英国特許第2322196号に記載されている振動構造ジャイロスコープはさらに、英国特許第2329471号に説明されているようなデジタル電子制御システムと組み合わせて使用される。この従来のデジタル電子制御システムは、添付図面の図3に示され、図2に関して先に記載されているものと同様の構成要素は同一の参照符号を与えられ、さらに詳細には説明されない。これの実現のために、1次ピックオフ手段3及び2次ピックオフ手段10からの信号は、それぞれアナログ−デジタル変換器19で直接デジタル化される。その後、同相チャネル及び直交チャネルの両方に対して、ソフトウェア20で復調が実現される。位相ロックロープ7及び自動利得制御ループ9の機能はソフトウェア機能として実現される。キャリアモード共振周波数でアナログ電圧制御発振器8回路を駆動するために、デジタル制御ワードが生成され、変調及び駆動の更新のタイミングを制御する。2次モードの同相チャネル及び直交チャネルのそれぞれのループフィルタ12及び13もまた、ソフトウェア20内に実装される。1次及び2次駆動手段2、16に印加される駆動レベルは、ソフトウェアアルゴリズムにおいて計算され、デジタル−アナログ変換器21を介して印加される。2次同相チャネル信号は出力フィルタ17によりフィルタ処理され、速度出力信号18に適切な特性を与える。図3では、自動利得制御設定レベル入力は22で示されている。
理想的な場合、すなわち、振動構造体1に対して完全な位相の電子回路、同一キャリア及び応答モード周波数を有する場合には、ジャイロスコープが回転しない場合、2次ピックオフ手段10で検出される運動は存在しない。実際には、ジャイロスコープの製造工程中に発生する小さな幾何学的不完全性がモード周波数の小さな分離を引き起こす。この分離はまた、1次駆動手段2に対してモードの角度位置を任意の角αで固定する傾向がある。αが0°でない場合、1次駆動力はある範囲まで両方のモードを励振する。位相ロックロープ7は駆動周波数を調整して、1次ピックオフ手段3により検出されるとおり、印加される駆動運動と振動構造体の運動との間の位相シフトを90°にする。しかし、1次運動に対する直交位相において支配的である、2次軸に沿う大きな運動が存在する。閉ループシステムにおいては、この運動は2次駆動手段16により印加される直交力成分によりゼロになる。
この信号をゼロにするのに必要な直交駆動レベルは直交バイアスと称され、下記の式により定義される。
Figure 0004331211
ここで、ΔFはモード周波数スプリット、αは1次駆動軸に対するモード角、Kはモード結合係数及び2次駆動及び1次ピックオフ利得の各項を含む定数である。
ΩQUADは、ジャイロスコープの測定に必要とされる速度信号に比較して大きい。この種類の自動車用ジャイロの典型的な速度測定範囲は±100°/秒である。直交バイアスは速度信号と比較して大きくてもよく(>±100°/秒)、動作温度範囲全体にわたり大幅に変化してもよい。位相誤差φが存在する場合、この信号の一部が速度チャネルに現れる。これが、下記の式により与えられる、速度のバイアス誤差ΩErrを生じる。
Figure 0004331211
比較的小さな位相誤差であっても、大きなバイアス誤差を引き起こす。0.5度の位相誤差は、100°/秒の直交バイアス信号に対する速度出力において0.87度/秒のバイアス誤差をもたらす。直交信号又は位相誤差自体におけるあらゆる温度変化はこのバイアスを変化させ、ジャイロの精度及び安定性を大きく制限する。実際のシステムでは、これらの位相誤差は、回路部品の値(例えば、コンデンサ)、駆動増幅器における立ち上がり時間、及び共振器の動作周波数の変動の精度の限界を含む、多数の要因のために発生する。
温度全体にわたるこのレベルの精度及び安定性を達成することは、あらゆる実際の電子制御システムにおいて、かなりの努力を必要とする。また、従来の技法及び装置を使用してこのレベルの精度で位相シフトを測定することは極めて困難であり、時間を要する。したがって、経済的な方法で従来のMEMSコリオリのジャイロスコープシステムにおける直交バイアスの除去比を大幅に低減することは不可能である。
位相誤差φの大きさの正確な測定は、2次直交駆動チャネルにおいて利用可能な情報を用いることで可能である。この測定は、ジャイロスコープの出力として通常記録されないが、比較的簡単に、特に英国特許第2322471号のデジタル制御ループを使用すると、観測できる。ジャイロスコープが回転するときのこの信号のあらゆる変化は位相誤差を表す。この効果の原因は以下に述べられる。
位相誤差φは1次共振運動に関して測定される。位相ロックループ7は、1次ピックオフ手段2により測定される1次運動を連続追跡し、参照として作用する論理信号を生成して、同相及び直交チャネルの両方に対する復調及び再変調プロセスの位相合わせ/タイミングを制御する。ジャイロスコープが回転すると、1次運動と同相のコリオリの力が発生する。完全なシステムでは、この力は、2次駆動手段16を通して印加される同相の力成分により、直接的にゼロになる。したがって、2次駆動手段16における位相誤差φSDは、直交チャネルに現れるゼロにする力を生成するのに必要な信号の一部をもたらす。同様に、1次ピックオフ手段3における位相誤差φPPOは、電子回路における参照論理信号のタイミングに誤差を生じ、この誤差が2次ループ内に伝搬して同相及び直交チャネルを実質的に交差結合する。2次ピックオフ信号はフォースフィードバックによりゼロに維持され、したがって、この位相応答の精度はあまり問題にされない。1次駆動位相誤差は、1次共振周波数の共振極大からのわずかなずれをもたらす。これは駆動利得のわずかな低下を生じさせるが、これは位相合わせが1次共振運動に戻ることを意味するため、バイアスに影響を与えない。2次ピックオフ及び1次駆動における位相誤差はバイアス誤差を生じず、したがって、あまり問題にされない。
直交信号の速度依存性は下記の式により与えられる。
Figure 0004331211
したがって、同相スケールファクタと直交スケールファクタとの比の測定により、sin(φSD+φPPO)の直接測定値が得られ、この測定値から総合位相誤差(φ=φSD+φPPO)を直接得ることができる。この技法を使用する総合位相誤差の測定は、いずれの追加装置又は機械的試験手順も必要とせずに、完全なジャイロスコープアセンブリに関して実行できるという、利点を有する。任意のコリオリのジャイロスコープに対する通常の校正手順は、換算表の既知の回転速度の範囲で回転されるアセンブリを必要とする。この手順は、速度のスケールファクタSFRATEの測定を可能にし、このパラメータを、公知の技法を用いて事前設定値に調整できる。直交チャネルに関して有効なデータを単に記録することで、SFQUAD、したがってφの測定値が得られる。
このように、振動構造体1と、振動構造体1をキャリアモード共振にする1次駆動手段2と、キャリアモード運動を検知する1次ピックオフ手段3と、印加される回転速度に応じて振動構造体1の応答モード振動を検出する2次ピックオフ手段10と、1次ピックアップ手段3において固定振幅運動を維持し、かつ駆動周波数を共振極大に維持する閉ループ1次制御ループと、2次ピックオフ手段10においてゼロを維持する2次制御ループと、を有する、振動構造ジャイロスコープにおけるバイアス誤差を低減する本発明の方法は、2次制御ループからSFIN−PHASEに対するSFQUADの比を測定して、上述の関係式(5)にもとづいてSin(φSD+φPPO)の直接測定値を得るステップを含む。ここで、SFQUADは直交スケールファクタ、SFIN−PHASEは同相スケールファクタ、φSDは2次駆動手段16における位相誤差、φPPOは1次ピックオフ手段3の位相誤差である。全体位相誤差φは、下記の関係式にもとづいて、Sin(φSD+φPPO)から直接得られる。
Figure 0004331211
位相補正を2次駆動手段16及び/又は1次ピックオフ手段3に適用して、位相誤差φ、したがって直交バイアス誤差を低減して、ジャイロスコープの性能を改良する。
本発明の方法が、可変コンデンサ(図示せず)を備えるアナログの1次及び2次制御ループを有するジャイロスコープに使用される場合、2次駆動手段16に関連する2次制御ループにおける可変コンデンサの値及び/又は1次ピックオフ手段3に関連する1次制御ループにおける可変コンデンサの値を変更することによって、位相補正を適用し、φSD及び/又はφPPOを調整して、φの値を最小にする。したがって、必要条件がφ=0である場合、これは好都合には、下記の関係式を前提にして、φSD又はφPPOのどちらかを調整することにより得られる。
Figure 0004331211
英国特許第2322196号のデジタル電子制御システムを使用することにより、φの調整はより簡単に達成される。位相補正は、補正が2次駆動手段16に適用される図4に概略的に図示されているとおり、制御ループアルゴリズムのソフトウェア内に導入できる。また、図4においては、図2及び図3で先に示され、及び先に説明されている部品は、同一の参照符号を与えられ、さらに詳細には特に説明されない。したがって、本発明の方法における記述においては、本発明の方法がデジタル1次及び2次制御ループを有するジャイロスコープにおいて用いられる場合、φに等しい位相補正を、2次制御ループを介して2次駆動手段16に適用し、これにより、振動構造1における位相誤差の総合効果と大きさが等しく向きが反対の量により、同相及び直交駆動チャネルを交差結合するようにする。図4の構成では、φCORRは再変調器14と加算器15の間で接続された位相補正ユニット24に適用される。追加の復調器23が、電圧制御発振器8と自動利得制御フィルタ9の間に配置される。
この補正は、代替方法では、図5に示されているとおり、1次ピックオフ手段3に適用される。図5では、先に説明及び参照されている同一部品には同一の参照符号が与えられ、さらに詳細には説明されない。図5の構成では、位相補正ユニット24は1次制御ループ内に配置されており、1次ピックオフ手段3に位相補正を適用して、振動構造体1における位相誤差の総合効果と大きさが等しく向きが反対の量により、同相及び直交駆動チャネルを交差結合するようにする。この目的のために、位相補正ユニット24は、図5に示されているとおり、直交及び同相復調器4と、位相ロックループフィルタ7及び自動利得制御ループフィルタ9との間に配置される。
位相補正の機能は図6に示され、また、先に説明された同一機能は同一の参照符号を与えられ、さらに詳細には説明されない。加算器25及び減算器(differencer)26が含まれる。
2次駆動に適用される場合、同相及び直交成分はそれぞれ、sinφCORR及びcosφCORR及び下記の加算値を適用することにより調整される各チャネルの有効位相を、それぞれ乗算される。
Figure 0004331211
Figure 0004331211
ジャイロスコープのスケールファクタの情報は、従来は、印加される回転速度の範囲全体にわたり、未校正のジャイロスコープ出力を測定することにより得られる。同相速度チャネルについて得られる典型的なデータセットが図7に示されている。同相についてのスケールファクタは線27の勾配から得られる。直交チャネルについての同等の線28もまた図7に示されている。線28の有限勾配は位相誤差を示す。
SFQUADとφとの相関関係が図8に示されている。このデータはφCORRの値の範囲全体にわたるSFQUAD測定値から得られた。オフセットは公知のハードウェア位相誤差に起因する。達成可能な分解能は明確にこのグラフから確認でき、位相を精度<0.05°に設定できることを示している。これは、このパラメータの校正精度の大幅な向上を表し、直交バイアス誤差ΩErrの寄与分を0.87°/秒から<0.087°/秒に低減するのと同等である。
本発明の方法をデジタル制御電子回路と組み合わせて適用する場合、追加の利点は、ジャイロの周囲温度に応じて位相補償を調整できることである。コリオリのジャイロスコープは、通常用途において−40℃から+85℃の温度範囲で作動する必要がある。ハードウェア内の位相誤差は、この範囲にわたり系統的に変化することが知られている。通常の自動車用センサについて測定される変化が図9に示されている。本発明の方法を用いてこのセンサの位相誤差を補正し、室温でほぼゼロとした。高性能が要求されるあらゆる用途において、通常は、センサの周囲温度の直接測定を実現する。これは、通常、ジャイロスコープ内に又はジャイロスコープに密接して温度センサを組み込むことにより達成される。位相誤差の温度変化が既知である場合、簡単なアルゴリズム関数を使用して、測定された温度に従ってφCORRを調製し、φE〜0°を維持することができる。高性能の用途に対しては、動作温度の全範囲にわたりセンサの性能を特性決定する必要がある。試験手順は、温度の範囲におけるバイアス及びスケールファクタの測定を含む。直交スケールファクタSFQUADはまた、この手順の一部として容易に記録され、φの温度変化に関する必要なデータを提供してよい。
本発明によらないCos2θキャリア振動モードの概略図である。 本発明によらないSin2θ応答振動モードの概略図である。 本発明によらないコリオリの振動構造ジャイロスコープに対する従来の制御システムの概略ブロック図である。 本発明によらないコリオリの振動構造ジャイロスコープにおけるデジタル制御システムの概略ブロック図である。 本発明による、ソフトウェア内の有効2次駆動位相を調整する能力を組み込んでいる、コリオリの振動構造ジャイロスコープにおけるデジタル制御システムの概略ブロック図である。 本発明による、ソフトウェア内の有効な1次ピックオフ位相を調整する能力を組み込んでいる、コリオリの振動構造ジャイロスコープにおけるデジタル制御システムの概略ブロック図である。 図4及び図5の位相補正ブロックの機能を示す概略ブロック図である。 本発明によらない従来のコリオリの振動構造ジャイロスコープにおける、感知軸の周りに印加される回転速度の範囲に対する、振動構造ジャイロスコープの同相速度及び直交出力のグラフである。 本発明によらない従来のコリオリの振動構造ジャイロスコープにおける、位相誤差φの範囲に対する直交スケールファクタの変化のグラフである。 本発明による、一定位相補正が室温で適用されている状態の、従来のコリオリの振動構造ジャイロスコープにおける作動温度範囲全体にわたり測定された位相誤差φの変化のグラフである。

Claims (9)

  1. 振動構造体と、前記振動構造体をキャリアモード共振の状態にする1次駆動手段と、キャリアモード運動を検知する1次ピックオフ手段と、印加される回転速度に応じて前記振動構造体の応答モード振動を検知する2次ピックオフ手段と、前記応答モード運動を制御する力を印加する2次駆動手段と、前記1次ピックオフ手段において運動の固定振幅を維持し、かつ共振極大において前記駆動周波数を維持する閉ループ1次制御ループと、前記2次ピックオフ手段においてゼロを維持する2次制御ループと、
    を有する、振動構造ジャイロスコープにおけるバイアス誤差を低減する方法であって、
    この方法においては、SFQUADをSFIN−PHASEで除算した比を、前記2次制御ループから測定して、下記の関係式にもとづいて、Sin(φSD+φPPO)の直接測定値を得て、
    Figure 0004331211
    ここで、SFQUADは直交スケールファクタ、SFIN−PHASEは同相スケールファクタ、φSDは前記2次駆動手段における位相誤差、φPPOは前記1次ピックオフ手段の位相誤差であり、
    全体位相誤差φを、下記の関係式
    Figure 0004331211
    に基づいてSin(φ SD +φ PPO )の測定から直接得て、前記2次駆動手段及び/又は1次ピックオフ手段に対して位相補正を行なうことにより、前記直交バイアス誤差を低減して、ジャイロスコープの性能を改良する、振動構造ジャイロスコープにおけるバイアス誤差を低減する方法。
  2. シリコン振動構造体を有するジャイロスコープにおいて用いられる、請求項1に記載の方法。
  3. ほぼ平面の、実質的にリング状の振動構造体を有するジャイロスコープにおいて用いられる、請求項2に記載の方法。
  4. 可変コンデンサを備えるアナログの1次及び2次制御ループを有するジャイロスコープにおいて使用される場合、前記2次駆動手段に関連する前記2次制御ループにおける前記可変コンデンサの値、及び/又は前記1次ピックオフ手段に関連する前記1次制御ループにおける前記可変コンデンサの値を変更することによって、前記位相補正を適用し、φSD及び/又はφPPOを調整して、φの値を最小にする、請求項1から3のいずれか1項に記載の方法。
  5. デジタルの1次及び2次制御ループを有するジャイロスコープにおいて使用される場合、φに等しい前記位相補正を、前記2次制御ループを介して前記2次駆動手段に適用し、これにより、前記振動構造制御システムにおける前記位相誤差の前記総合効果と大きさが等しく向きが反対の量により、同相及び直交駆動チャネルを交差結合するようにする、請求項1から3のいずれか1項に記載の方法。
  6. デジタルの1次及び2次制御ループを有するジャイロスコープにおいて使用される場合、φに等しい前記位相補正を、前記1次制御ループによって前記1次ピックオフ手段に適用し、これにより、前記振動構造制御システムにおける前記位相誤差の前記総合効果と大きさが等しく向きが反対の量により、同相及び直交駆動チャネルを交差結合するようにする、請求項1から3のいずれか1項に記載の方法。
  7. 同相及び直交信号成分がそれぞれ、SinφCORR及びCosφCORRを乗算され、ここで、φCORRは位相補正、及び下記の加算式、
    Figure 0004331211
    Figure 0004331211
    にもとづいて調整される各同相及び直交チャネルの有効位相である、請求項4又は5に記載の方法。
  8. 前記ジャイロスコープの動作温度にもとづいてφCORRを調整し、φを最小値に維持する、請求項6に記載の方法。
  9. 振動構造体と、前記振動構造体をキャリアモード共振の状態にする1次駆動手段と、キャリアモード運動を検知する1次ピックオフ手段と、印加される回転速度に応じて前記振動構造体の応答モード振動を検知する2次ピックオフ手段と、前記応答モード運動を制御する力を印加する2次駆動手段と、前記1次ピックオフ手段において運動の固定振幅を維持し、かつ共振極大において前記駆動周波数を維持する閉ループ1次制御ループと、前記2次ピックオフ手段においてゼロを維持する2次制御ループと、
    を有する、振動構造ジャイロスコープであって、
    SFQUADをSFIN−PHASEで除算した比を、前記2次制御ループから測定して、下記の関係式にもとづいて、Sin(φSD+φPPO)の直接測定値を得て、
    Figure 0004331211
    ここで、SFQUADは直交スケールファクタ、SFIN−PHASEは同相スケールファクタ、φSDは前記2次駆動手段における位相誤差、φPPOは前記1次ピックオフ手段の位相誤差であり、
    全体位相誤差φを、下記の関係式
    Figure 0004331211
    に基づいてSin(φ SD +φ PPO )の測定から直接得て、前記2次駆動手段及び/又は1次ピックオフ手段に対して位相補正を行なうことにより、前記直交バイアス誤差を低減して、ジャイロスコープの性能を改良している、振動構造ジャイロスコープ。
JP2006551935A 2004-02-04 2005-02-01 振動構造ジャイロスコープにおけるバイアス誤差を低減する方法 Active JP4331211B2 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
GB0402408A GB0402408D0 (en) 2004-02-04 2004-02-04 Method for reducing bias error in a vibrating structure gyroscope
EP04250595 2004-02-04
PCT/GB2005/050010 WO2005075939A1 (en) 2004-02-04 2005-02-01 Method for reducing bias error in a vibrating structure gyroscope

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2007520716A JP2007520716A (ja) 2007-07-26
JP4331211B2 true JP4331211B2 (ja) 2009-09-16

Family

ID=34839816

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2006551935A Active JP4331211B2 (ja) 2004-02-04 2005-02-01 振動構造ジャイロスコープにおけるバイアス誤差を低減する方法

Country Status (7)

Country Link
US (1) US7240533B2 (ja)
EP (1) EP1711778B1 (ja)
JP (1) JP4331211B2 (ja)
KR (1) KR101131098B1 (ja)
AT (1) ATE452326T1 (ja)
DE (1) DE602005018322D1 (ja)
WO (1) WO2005075939A1 (ja)

Families Citing this family (45)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB0227084D0 (en) * 2002-11-20 2002-12-24 Bae Systems Plc Method and apparatus for measuring scalefactor variation in a vibrating structure gyroscope
US7464590B1 (en) * 2004-03-12 2008-12-16 Thomson Licensing Digitally programmable bandwidth for vibratory rate gyroscope
FR2882591B1 (fr) * 2005-02-25 2007-05-18 Sagem Procede de mesure gyrometrique compensee en temperature et dispositif de mesure gyrometrique en faisant application
DE102005043560A1 (de) 2005-09-12 2007-03-15 Siemens Ag Verfahren zum Betrieb eines Vibrationskreisels und Sensoranordnung
DE102005043592A1 (de) 2005-09-12 2007-03-15 Siemens Ag Verfahren zum Betrieb eines Vibrationskreisels und Sensoranordnung
DE102005043559A1 (de) * 2005-09-12 2007-03-15 Siemens Ag Verfahren und Anordnung zur Überwachung einer Sensoranordnung
US7421343B2 (en) 2005-10-27 2008-09-02 Honeywell International Inc. Systems and methods for reducing vibration-induced errors in inertial sensors
US8347718B2 (en) 2007-09-18 2013-01-08 Atlantic Inertial Systems Limited Angular velocity sensors
US7801694B1 (en) * 2007-09-27 2010-09-21 Watson Industries, Inc. Gyroscope with temperature compensation
CN101842987B (zh) * 2007-11-12 2013-11-06 松下电器产业株式会社 Pll电路和使用该pll电路的角速度传感器
US20100077856A1 (en) * 2008-02-15 2010-04-01 Honeywell International, Inc. Start time of gyro assembly
GB0812788D0 (en) * 2008-07-12 2008-08-20 Atlantic Inertial Systems Ltd Improvements in or relating to vibrating structure gyroscopes
US8661898B2 (en) * 2008-10-14 2014-03-04 Watson Industries, Inc. Vibrating structural gyroscope with quadrature control
US8096179B2 (en) * 2009-04-09 2012-01-17 Freescale Semiconductor, Inc. Sensor device with reduced parasitic-induced error
US8701459B2 (en) * 2009-10-20 2014-04-22 Analog Devices, Inc. Apparatus and method for calibrating MEMS inertial sensors
GB201008195D0 (en) 2010-05-17 2010-06-30 Silicon Sensing Systems Ltd Sensor
TR201806675T4 (tr) 2010-11-19 2018-06-21 Innalabs Ltd Jiroskop.
ITTO20110688A1 (it) * 2011-07-28 2013-01-29 St Microelectronics Srl Giroscopio microelettromeccanico con funzione di autocalibrazione e metodo di calibrazione di un giroscopio microelettromeccanico
KR20130071081A (ko) * 2011-12-20 2013-06-28 삼성전기주식회사 자이로센서 위상오차 보정회로, 자이로센서 시스템 및 자이로센서 위상오차 보정방법
US9157739B1 (en) 2012-08-07 2015-10-13 Innalabs Limited Force-rebalance coriolis vibratory gyroscope
WO2014093727A1 (en) * 2012-12-12 2014-06-19 The Regents Of The University Of California Frequency readout gyroscope
US8912856B2 (en) * 2013-01-08 2014-12-16 Maxim Integrated Products, Inc. Electro-mechanical resonance loop
US9329042B1 (en) * 2013-01-08 2016-05-03 Maxim Integrated Products, Inc. Innovative angular sensor read-out multi-axes digital front-end chain
KR101462772B1 (ko) 2013-04-12 2014-11-20 삼성전기주식회사 직각 위상 에러 제거수단을 갖는 자가발진 회로 및 그를 이용한 직각 위상 에러 제거방법
WO2014172487A1 (en) 2013-04-16 2014-10-23 The Regents Of The University Of California Continuous mode reversal for rejecting drift in gyroscopes
CN103411594A (zh) * 2013-07-12 2013-11-27 西北工业大学 微机械陀螺检测模态8阶连续带通sigma-delta闭环控制电路
US9410806B2 (en) * 2013-08-26 2016-08-09 Robert Bosch Gmbh System and method for gyroscope zero-rate-offset drift reduction through demodulation phase error correction
WO2015129464A1 (ja) * 2014-02-26 2015-09-03 住友精密工業株式会社 振動型角速度センサ
CN103983257B (zh) * 2014-05-06 2017-02-22 华侨大学 一种能消除微机械陀螺仪正交误差的信号处理方法
US9702697B2 (en) * 2015-02-10 2017-07-11 Northrop Grumman Systems Corporation Bias and scale-factor error mitigation in a Coriolis vibratory gyroscope system
US9869552B2 (en) * 2015-03-20 2018-01-16 Analog Devices, Inc. Gyroscope that compensates for fluctuations in sensitivity
GB2547415A (en) * 2016-02-09 2017-08-23 Atlantic Inertial Systems Ltd Inertial sensors
CN106197476B (zh) * 2016-06-29 2019-06-28 西安中科微精光子制造科技有限公司 一种分体式固定装置
GB2560334A (en) * 2017-03-07 2018-09-12 Atlantic Inertial Systems Ltd Gyroscope in-field prognostics
US10782131B2 (en) * 2018-02-28 2020-09-22 Apple Inc. Quadrature ADC feedback compensation for capacitive-based MEMS gyroscope
JP7024566B2 (ja) 2018-04-06 2022-02-24 株式会社デンソー 振動型ジャイロスコープ
CN111623759B (zh) * 2019-02-26 2022-09-13 北京微元时代科技有限公司 一种加快微机电陀螺零偏稳定时间的方法
RU2714955C1 (ru) * 2019-05-24 2020-02-21 Акционерное общество "Концерн "Центральный научно-исследовательский институт "Электроприбор" Способ компенсации синфазной помехи в микромеханическом гироскопе
EP3882571B1 (en) 2020-03-16 2022-08-24 Murata Manufacturing Co., Ltd. Gyroscope with locked secondary oscillation frequency
JP7404123B2 (ja) 2020-03-24 2023-12-25 住友精密工業株式会社 振動型角速度センサ
JP7404122B2 (ja) 2020-03-24 2023-12-25 住友精密工業株式会社 方位角姿勢角計測装置
JP7404124B2 (ja) * 2020-03-24 2023-12-25 住友精密工業株式会社 方位角姿勢角計測装置
WO2022082018A1 (en) * 2020-10-17 2022-04-21 The Regents Of The University Of California Precision gyroscope mode-matching insensitive to rate input
WO2023037554A1 (ja) * 2021-09-13 2023-03-16 住友精密工業株式会社 振動型角速度センサ
CN114543843B (zh) * 2022-03-14 2023-06-20 中国船舶重工集团公司第七0七研究所 一种谐振陀螺仪通道误差标定校正方法

Family Cites Families (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB2266588B (en) * 1992-04-24 1995-11-15 British Aerospace Vibrating rate sensor tuning
US5400269A (en) * 1993-09-20 1995-03-21 Rockwell International Corporation Closed-loop baseband controller for a rebalance loop of a quartz angular rate sensor
JPH08184445A (ja) * 1994-12-28 1996-07-16 Toyota Central Res & Dev Lab Inc 角速度センサおよび角速度センサの感度調整方法
US6003373A (en) * 1995-06-07 1999-12-21 Bei Sensors & Systems Company, Inc. Closed loop resonant rotation rate sensor
US5992233A (en) * 1996-05-31 1999-11-30 The Regents Of The University Of California Micromachined Z-axis vibratory rate gyroscope
US6250156B1 (en) * 1996-05-31 2001-06-26 The Regents Of The University Of California Dual-mass micromachined vibratory rate gyroscope
US5781300A (en) * 1996-10-31 1998-07-14 Honeywell Inc. Backscatter error reducer for interferometric fiber optic gyroscope
GB2322196B (en) * 1997-02-18 2000-10-18 British Aerospace A vibrating structure gyroscope
JPH10339637A (ja) * 1997-06-06 1998-12-22 Nippon Soken Inc 振動型角速度検出装置
GB2327265B (en) 1997-07-11 2001-07-18 British Aerospace Process for reducing bias error in a vibrating structure sensor
GB2329471B (en) * 1997-09-18 2001-08-15 British Aerospace A digital control system for a vibrating structure gyroscope
US7051590B1 (en) * 1999-06-15 2006-05-30 Analog Devices Imi, Inc. Structure for attenuation or cancellation of quadrature error
GB0001294D0 (en) * 2000-01-20 2000-03-08 British Aerospace Multi-axis sensing device
GB0008365D0 (en) * 2000-04-06 2000-05-24 British Aerospace Control syste for a vibrating structure gyroscope
US20030033850A1 (en) * 2001-08-09 2003-02-20 Challoner A. Dorian Cloverleaf microgyroscope with electrostatic alignment and tuning
US6854315B2 (en) * 2002-04-22 2005-02-15 Northrop Grumman Corporation Quadrature compensation technique for vibrating gyroscopes
US6868725B2 (en) * 2003-04-23 2005-03-22 Northrop Grumman Corporation Hinge position location that causes pendulous axis to be substantially parallel with drive component direction

Also Published As

Publication number Publication date
DE602005018322D1 (de) 2010-01-28
JP2007520716A (ja) 2007-07-26
KR101131098B1 (ko) 2012-04-02
US7240533B2 (en) 2007-07-10
EP1711778A1 (en) 2006-10-18
KR20060132686A (ko) 2006-12-21
ATE452326T1 (de) 2010-01-15
EP1711778B1 (en) 2009-12-16
WO2005075939A1 (en) 2005-08-18
US20060260382A1 (en) 2006-11-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4331211B2 (ja) 振動構造ジャイロスコープにおけるバイアス誤差を低減する方法
CN108253952B (zh) 一种零偏自校准mems陀螺仪及其零偏自校准方法
JP4970729B2 (ja) 振動構造ジャイロスコープでのスケール係数変動を測定するための方法および装置
JP5028281B2 (ja) センサバイアスキャンセルを用いた慣性計測システム及び方法
US5218867A (en) Single axis attitude sensor
US9869552B2 (en) Gyroscope that compensates for fluctuations in sensitivity
US20120192647A1 (en) Readout method and electronic bandwidth control for a silicon in-plane tuning fork gyroscope
US7509857B2 (en) Inertial measurement system and method with sensor bias cancellation
US10260878B2 (en) Gyroscope with simplified calibration and simplified calibration method for a gyroscope
JP2005530124A (ja) 静電的整列および同調を有するクローバーリーフマイクロジャイロスコープ
US10527419B1 (en) Baseband control electronics for inertial wave angle gyroscope
WO2007111978A2 (en) Inertial measurement system and method with bias cancellation
EP0411849A1 (en) Attitude sensor
Sun et al. Excellent scale factor performance for whole-angle micro-shell resonator gyroscope
US11841243B1 (en) Frequency multiplexed operation of vibratory gyroscopes for continuous self-calibration
KR101107028B1 (ko) 진동 구조 자이로스코프의 스케일팩터 변화를 측정하는방법 및 장치
Askari et al. Performance of Quad Mass Gyroscope in the Angular Rate Mode. Micromachines 2021, 12, 266

Legal Events

Date Code Title Description
A711 Notification of change in applicant

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A711

Effective date: 20081002

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20081224

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20090127

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20090422

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20090519

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20090617

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 4331211

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120626

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120626

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130626

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250