JP4324646B2 - パターン描画装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、原版となるフォトマスク(レクチル)やプリント基板、プリント用紙などの被描画体に対して、回路パターンやイメージなどの描画パターンを形成するパターン描画装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
従来、シリコンウェハやLCD(Liquid Crystal Display)、PWB(Printed Wiring Board)など被描画体の表面にパターンを形成する描画装置が知られており、あらかじめ作成されたパターンデータに基づき、電子ビームやレーザビームがON/OFF変調される。光変調ユニットとしては、音響光学変調素子(AOM)の使用が一般的であるが、DMD(Digital Micro-mirror Device)を使用した描画装置(露光装置)も知られている(例えば、特許文献1参照)。DMDを使用する場合、DMDに入射した光は、DMD上においてマトリクス状に配列されたマイクロミラー毎に選択的に反射され、反射光に基づきパターンが形成される。一方、微細な回路パターンを形成する、すなわちパターンの解像度を向上させるため、複数の分割された光ファイバー束から射出される光を露光面に向けて照射する露光方法が知られている(例えば、特許文献2、特許文献3、特許文献4参照)。
【0003】
【特許文献1】
特開2001−168003号公報(図23、図26、図27)
【特許文献2】
特開平7−130621号公報(図1)
【特許文献3】
特開平6−29189号公報(図1)
【特許文献4】
特開平5−217854号公報(図1)
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
DMDを構成するマイクロミラーは矩形状であるため、DMD全体に対して均一に光を照射すると、1つのマイクロミラーに対する露光スポットの形状も矩形状となる。この場合、マイクロミラーの配列方向、すなわち被描画体表面における露光グリットに対し斜め方向に沿ってパターンを形成する場合のパターン線幅は、配列方向に沿ってパターンを形成した時の幅と大きく異なってしまう。その結果、斜め方向に沿って高精度のパターンを形成することができない。
【0005】
そこで本発明では、いずれの方向にも同程度の精度によるパターンを形成することが可能なパターン描画装置、パターン描画用照明装置、パターン描画用照明方法を得ることを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】
本発明のパターン描画装置は、パターン形成のため光を放射する光源と、複数の正方形状である光変調素子がマトリクス状に配置され、複数の光変調素子それぞれを制御することにより光源からの光を変調する光変調ユニットと、光源からの光を光変調ユニットへ導く4つの光ファイバ束と、4つの光ファイバ束における4つの射出端から射出する光を光変調ユニットへ結像させる照明光学系と、光変調ユニットにより導かれる光を被描画体へ結像させる結像光学系とを備える。光変調ユニットとして、例えば複数のマイクロミラーから構成されるDMDが適用される。
【0007】
単一の光変調素子に光を照射させて被描画体に生じる露光エリア(スポット)のサイズは、解像力、すなわちエアリーディスク(=1.22λF)に従って変化する。本発明では、光変調ユニットの中心を通る光変調素子の配列方向の対角線上に沿った解像力を配列方向に沿った解像力に比べて向上させることにより、配列方向に対し斜め方向のパターンの線幅と配列方向に沿ったパターンの線幅との差を解消させる。解像力は、4つの光ファイバ束の距離間隔、すなわち、4つの射出端における4つの射出軸の距離間隔に応じて変化することから、4つの射射出軸が所定の条件を満たすように4つの光ファイバ束が配置される。
【0008】
その条件下では、4つの射出端における4つの射出軸が、光変調ユニットの中心を通る対角線であって複数の光変調素子により規定される配列方向の対角線となる第1および第2の対角線に対し、それぞれ2つずつ光変調ユニットの中心を挟んで交差するとともに、第1および第2の対角線と4つの射出軸との4つの交点が光変調ユニットの中心から等間隔の位置にある。
【0009】
4つの射出端と第1および第2の対角線との4つの交点が正方形の4隅に位置するため、対角線方向に沿った解像力の方が、配列方向に沿った解像力より高くなる。そのため、配列方向に沿ったパターンの線幅と斜め方向に沿ったパターンの線幅との差が小さくなり、任意の方向に対し略同程度の精度でパターンを形成することが可能である。
【0010】
本発明のパターン描画装置は、パターン形成のため4つの射出端から光を放射する光放射手段と、複数の正方形状である光変調素子がマトリクス状に配置され、複数の光変調素子それぞれを制御することにより光放射手段からの光を変調する光変調ユニットと、光放射手段からの光を光変調ユニットを介して被描画体へ導く結像光学系とを備え、光変調ユニットの中心を通り配列方向の対角線となる第1及び第2の対角線方向に沿った解像力を各光変調素子の配列方向に沿った解像力より高くするように、4つの射出端における4つの射出軸が、第1および第2の対角線に対しそれぞれ2つずつ光変調ユニットの中心を挟んで交差することを特徴とする。
【0011】
本発明のパターン描画装置は、パターン形成のため複数の射出端から光を放射する光放射手段と、複数の正方形状である光変調素子がマトリクス状に配置され、複数の光変調素子それぞれを制御することにより光放射手段からの光を変調する光変調ユニットと、光放射手段からの光を光変調ユニットを介して被描画体へ導く結像光学系とを備え、光変調ユニットの中心を通り配列方向の対角線となる第1及び第2の対角線方向に沿った解像力を各光変調素子の配列方向に沿った解像力より高くするように、第1及び第2の対角線方向に従って複数の射出端を配置することを特徴とする。
【0012】
【発明の実施の形態】
以下では、図面を参照して本発明の実施形態であるパターン描画装置について説明する。
【0013】
図1は、本実施形態であるパターン描画装置を模式的に示した斜視図であり、図2は、パターン描画装置に設けられた露光ユニット(照明装置)を模式的に示した図である。そして、図3は、ステージの移動に伴う露光エリアの移動を示した図である。本実施形態のパターン描画装置は、プリント基板へ直接光を照射することによって回路パターンを形成する。
【0014】
パターン描画装置10は、ゲート状構造体12、基台14を備えており、基台14には、Xステージ18を支持するXステージ駆動機構19が搭載され、Xステージ18上にはプリント基板SWが設置されている。ゲート状構造体12には、Yステージ17を支持するYステージ駆動機構(図示せず)が搭載され、Yステージにはプリント基板SWの表面に回路パターンを形成するための露光ユニット20が設けられており、Xステージ18、Yステージ17の移動に合わせて露光ユニット20が動作する。また、描画装置10は、Xステージ18、Yステージ17の移動および露光ユニット20の動作を制御する描画制御部(図示せず)を備えている。
【0015】
図2に示すように、露光ユニット20は、レーザ発振器21、DMD(Digital Micro-mirror Device)22、光ファイバ束23、照明光学系24、結像光学系26A、26Bを備えており、光ファイバ束23とDMD22との間に照明光学系24が配置され、互いに平行に配置されたDMD22とプリント基板SWとの間に結像光学系26A,26Bが配置されている。光ファイバ束23は、第1光ファイバ束23A、第2光ファイバ束23B、第3光ファイバ23C、第4光ファイバ束23Dから構成されている。レーザ発振器21から一定の強度で連続的に放射される光(レーザビーム)は、第1〜第4の光ファイバ束23A〜23Dそれぞれの入射端に入射し、それぞれの射出端面から射出する。照明光学系24を通った光は、DMD22に到達する。第1〜第4の光ファイバ束23A〜23Dそれぞれから射出した光は照明光学系24によってDMD24全体を照明し、DMD22のどの位置においても第1〜第4の光ファイバ束23A〜23Dからの光によって照明されている。
【0016】
DMD22は、μmオーダーである微小のマイクロミラー(ここでは図示せず)がマトリクス状に配列された光変調ユニットであり、各マイクロミラーは、静電界作用により回転変動する。マイクロミラーは、レーザ発振器21からの光LBをプリント基板SWの露光面SUの方向へ反射させる第1の姿勢と、露光面SUの方向以外へ反射させる第2の姿勢いずれかの姿勢で位置決めされ、描画制御部からの制御信号に従って姿勢が切り替えられる。マイクロミラーが第1の姿勢で位置決めされた場合、マイクロミラー上で反射した光は、結像光学系26A、26Bの方向へ導かれる。結像光学系レンズ26A、26Bを通った光は、露光面SUにおいて所定の場所にマイクロミラーの像を結像させレーザ光を照射する。一方、マイクロミラーが第2の姿勢で位置決めされた場合、マイクロミラーで反射した光は、光吸収板(図示せず)の方向へ導かれ、露光面SUには到達しない。
【0017】
マイクロミラーはそれぞれ独立してON/OFF制御され、DMD22全体に照射した光は、各マイクロミラーにおいて選択的に反射された光の光束から構成される光となって分割される。その結果、露光面SUの対応する照射エリアには、その場所に形成すべき回路パターンに応じた光が照射される。本実施形態では、ラスタ走査に従い、Xステージ18が主走査方向(X方向)に沿って一定速度で移動する(図3参照)。DMD22のマイクロミラーは、回路パターンに応じたラスタデータに基づいてそれぞれ独立に制御されており、露光エリアEAの相対的移動に従ってマイクロミラーが順次ON/OFF制御され、その結果、走査方向に沿って回路パターンが形成されていく。1ライン分の走査が終了すると、次のラインを露光するためYステージ17が副走査方向(Y方向)へ移動し、折り返しXステージ18が主走査方向に沿って移動する。すべてのラインが露光されることにより、プリント基板SW上に回路パターンが形成される。
【0018】
図4は、光ファイバ束23の配置を示した斜視図であり、図5は、DMD22上における射出軸の位置を示した図である。
【0019】
図4に示すように、4つの光ファイバ束23A〜23Dにおける4つの射出端23X1〜23X4は規則的に等距離間隔で配置されており、射出端23X1〜X4の射出軸23E1〜23E4は、DMD22上に規定される対角線L1、L2上を通る。DMD22のサイズは縦横比が3:4に定められており、ここでは、縦方向に8個のマイクロミラー、横方向に12個のマイクロミラーが配列されている(図5参照)。対角線L1、L2は、DMD22の中心C0を通り、互いに直交するように規定される。したがって、対角線L1、L2は、各マイクロイラーCjiの配列方向(j,i方向)に対する対角線方向に平行である。射出軸23E1、E3は対角線L1と交差し、射出軸23E2,E4は対角線L2と交差する。以下では、射出軸23E1〜E4と対角線L1、L2との交点を、それぞれ23C1、23C2、23C3、23C4とする。
【0020】
4つの交点23C1,23C2、23C3、23C4は、DMD22の中心C0からすべて等距離にあり、対角線L1、L2上において、中心C0を挟んだ交点23C1,23C3との距離間隔と交点23C2,23C4の距離間隔は一致する。言い換えると、4つの交点23C1,23C2、23C3、23C4を順に結ぶことにより、正方形が形成される。本実施形態では、4つの交点23C1、23C2、23C3、23C4が上記関係を維持するように、4つの射出軸23E1〜23E4の位置方向、すなわち光ファイバ23の射出端23X1〜X4の配置が定められている。例えば、図4に示すように、4つの射出軸23X1〜X4と対角線L1、L2との交点がそれぞれZ1〜Z4の位置になるように、射出端23X1〜23X4の配置を定めてもよい。
【0021】
図6は、光ファイバから露光面までの光学系の配置および光路図を模式的に示した図である。
【0022】
一般に、単一のマイクロミラーCjiに光を照射して露光面上にスポットを当てた場合、スポットの露光サイズSは以下の式により求められる。
ここで、マイクロミラーCjiの投影サイズを“D”で示し、解像力(エアリーディスク)を“P”で示す。結像光学系の結像レンズ26Bにおける露光面側開口数を“NAE”で示し、露光面側のFナンバーを“Fe2”で示す。マイクロミラーの投影サイズDは、マイクロミラーのサイズ×投影倍率によって求められ、ここでは投影倍率を1倍とする。また、光の波長を“λ”で示す。
【0023】
露光面側のFナンバーFe2の値は、光変調ユニット側、すなわち結像光学系の結像レンズ26AのFナンバーFe1に従い、次式によって定められる。ただし、“M”は投影倍率を示す。
Fe2=M×Fe1 ・・・(2)
【0024】
また、光変調ユニット側のFナンバーFe1は、以下の式で規定される。ただし、“f”は照明光学系24の焦点距離を示し、“L”は第1光ファイバー23Aと第3光ファイバー23Cの射出端23X1,X3の距離間隔あるいは第2光ファイバー23Bと第4光ファイバー23Dの射出端23X2,X4の距離間隔を表す。
Fe1=f/L ・・・(3)
【0025】
(1)式から明らかなように、露光エリアのサイズSは解像力によって変化し、解像力Pの値が小さい、すなわちFナンバーFe2が小さいほど解像力が高く、シャープな像としてスポットが形成される。また、(2)、(3)式から明らかなように、スポットの解像力は、光ファイバ束の射出端の距離間隔に従って規定される。すなわち、第1、第3の射出端23X1、23X3、あるいは第2、第4の射出端23X2、23X4の距離間隔が長いほど、解像力が上がり、シャープな像が形成される。
【0026】
本実施形態では、図5に示すように、4つの射出軸23E1〜23E4の対角線L1、L2との交点23C1〜23C4については、対角線L1、L2に沿った距離間隔D1の方が、マイクロミラーCjiの配列方向(j、i方向)、の距離間隔D2より長い。そのため、マイクロミラーCjiの配列方向、すなわちDMD22の縦横方向に比べ、対角線L1、L2に沿った解像力が高い。
【0027】
(1)式により、露光エリアのサイズSは、解像力Pの値が小さい、すなわち解像力が高いほど小さい値になる。したがって、露光エリア(スポット)のサイズSは、対角線L1、L2方向に沿った径が配列方向(j,i方向)に沿った径よりも短い形状になる。すなわち、露光エリアは、実質的に円径状に近くなる。
【0028】
図7は、配線パターンを示した図である。
【0029】
図7では、露光エリアが円状である場合の配線パターンと、光ファイバ23の配置に指向性がないため露光エリアが正方形状になる場合の配線パターンが示されている。ここでは、マイクロミラーCjiの配列方向(露光グリット)に沿って矩形状の配線パターンPWを形成する時に実際露光面上に生じる露光エリアと、露光グリットの対角線方向に沿って矩形状の配線パターンPW1を形成する時に実際露光面上に生じる露光エリアを比較例示する。なお、光ファイバ23の指向性をなくすため、例えば、DMD22の中心周りに規定される同心円に沿って射出軸が等間隔で交差するように、光ファイバ束23を設置すればよい。
【0030】
線幅Hの配線パターンを形成する描画データに基づいて露光面にビームを照射させた場合、(1)式に示すように、実際には線幅A〜Dの配線パターンが形成される。露光エリアが実質的に円である場合、露光グリットに沿った配線パターンPWの線幅Aと斜め方向の配線パターンPW1の線幅Cは、実質的に等しい(A=C)。一方、光ファイバ束23の配置に指向性がない場合、斜めに形成される配線パターンPW1の線幅Dは、露光グリッドに沿った配線パターンPWの線幅Bより大きい。
【0031】
したがって、4つの光ファイバ23A〜23Dを対角線L1、L2に沿って指向性をもつように配置することにより、マイクロミラーCjiの配列方向に沿った配線パターンの線幅と斜め方向の配線パターンの線幅との差を解消することができる。
【0032】
以下では、露光グリッドに沿った解像力Pを単一のマイクロミラーCjiの投影サイズDの半分に設定し、光ファイバ23の配置に指向性がない場合の露光サイズと、図5に示すように配置に指向性をもたせた場合の露光サイズを求める。
【0033】
指向性がない場合、露光グリットに沿った解像力の値P0=0.5Dであることから、露光サイズS0は、(1)式に基づいて以下のように求められる。
S0=D+P0=D+0.5D=1.5D ・・・(4)
また、対角線方向の露光サイズS1は、解像力の値が同じであることから、以下の式により求められる。
S1=√2D+P1=√2+0.5D=1.91D ・・・(5)
したがって、露光エリアのサイズS1、S2の差は、0.41Dになる。
【0034】
一方、図5に示すように対角線方向L1、L2に沿って指向性を持たせた場合、軸方向の露光サイズS0は、有効エリアP0=0.5Dであることから、(4)式と同様、1.5Dになる。一方、対角線方向の露光サイズS1は、解像力P1=P0/√2であることから、以下の式により求められる。
S1=√2D+P1=√2D+0.5D/√2=1.77D ・・(6)
この場合、露光エリアのサイズS1、S2の差は、0.27Dとなる。
【0035】
解像力と投影像のサイズとの比を変化させた場合の線幅差を、表1に示す。
【0036】
【表1】
【0037】
以上のように本実施形態によれば、レーザ発振器21から放射された光が、4つの光ファイバ束23A〜23D、照明光学系24を介してDMD22に導かれる。DMD22において選択的に反射した光は、結像光学系26A,26Bを介してプリント基板PWに照射される。そして、第1〜第4の光ファイバ束23A〜23Dの射出端23X1〜23X4は、DMD22上に規定される対角線L1、L2に関して指向性をもつように配置される。すなわち、射出端23X1〜23X4の射出軸23E1〜23E4と対角線L1、L2との交点23C1,23C2、23C3、23C4が、DMD22の中心C0からすべて等距離にあり、対角線L1、L2上において、中心C0を挟んだ交点23C1,23C3との距離間隔と交点23C2,23C4の距離間隔が一致するように、射出端23X1〜23X4が配置される。これにより、斜め方向に配線パターンを形成する場合、パターンの線幅と、露光グリット、すなわちマイクロミラーCjiの配列方向(j,i方向)に沿ったパターンの線幅との差が小さくなる。
【0038】
DMDのサイズは、3:4に限定されず、正方形等任意の矩形であってよい。この場合、DMDの中心を通りマイクロミラーの対角線方向に沿った2本の対角線が規定される。また、DMD以外の光変調ユニットも適用可能であり、DMDの代わりにLCDを適用してもよい。
【0039】
4本の光ファイバ束以外にも、指向性のないように複数の光ファイバ束をさらに配置してもよい。また、光ファイバ束を適用せず、直接、光の進行方向に指向性のある光源の射出軸が上記条件を満たすように、4つの光源を配置してもよい。
【0040】
交点23C1〜23C4と中心C0との距離は等間隔であるが、それには限定されず、パターン線幅の差をより解消するように、交点23C1、23C3の距離間隔と、交点23C2、23C4の距離間隔を定めてもよい。すなわち、対角線L1、L2方向の解像力がマイクロミラーの配列方向に沿った解像力に比べて高くなるように、交点23C1〜23C4の位置を定めればよい。さらには、4つの光ファイバに限定されず、複数の光ファイバについても、対角線L1、L2方向の解像力が相対的に高くなるように配置すればよい。
【0041】
【発明の効果】
以上のように本発明によれば、いずれの方向にも同程度の精度によるパターンを形成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本実施形態であるパターン描画装置を模式的に示した斜視図である。
【図2】パターン描画装置に設けられた露光ユニット(照明装置)を模式的に示した図である。
【図3】ステージの移動に伴う露光エリアの移動を示した図である。
【図4】光ファイバ束の配置を模式的に示した斜視図である。
【図5】DMD上における射出軸の位置を示した図である。
【図6】光ファイバから露光面までの光学系の配置および光路図を模式的に示した図である。
【図7】配線パターンを示した図である。
【符号の説明】
21 レーザ発振器(光源)
22 DMD(光変調ユニット)
23A〜23D 4つの光ファイバ束
23X1〜X4 4つの射出端
23E1〜E4 4つの射出軸
23C1〜23C4 4つの交点
24 照明光学系
26A,26B 結像光学系
L1、L2 対角線
j,i 配列方向
SW プリント基板(被描画体)
Claims (4)
- パターン形成のため光を放射する光源と、
複数の正方形状である光変調素子がマトリクス状に配置され、前記複数の光変調素子それぞれを制御することにより前記光源からの光を変調する光変調ユニットと、
前記光源からの光を前記光変調ユニットへ導く4つの光ファイバ束と、
前記4つの光ファイバ束における4つの射出端から射出する光を前記光変調ユニットへ結像させる照明光学系と、
前記光変調ユニットにより導かれる光を被描画体へ結像させる結像光学系とを備え、
前記4つの射出端における4つの射出軸が、前記光変調ユニットの中心を通る対角線であって前記複数の光変調素子により規定される配列方向の対角線となる第1および第2の対角線に対し、それぞれ2つずつ前記光変調ユニットの中心を挟んで交差するとともに、前記第1および第2の対角線と前記4つの射出軸との4つの交点が前記光変調ユニットの中心から等間隔の位置にあるように、前記4つの光ファイバ束が配置されていることを特徴とするパターン描画装置。 - パターン形成のため4つの射出端から光を放射する光放射手段と、
複数の正方形状である光変調素子がマトリクス状に配置され、前記複数の光変調素子それぞれを制御することにより前記光放射手段からの光を変調する光変調ユニットと、
前記4つの射出端から射出する光を前記光変調ユニットへ結像させる照明光学系と、
前記光変調ユニットにより導かれる光を被描画体へ結像させる結像光学系とを備え、
前記4つの射出端における4つの射出軸が、前記光変調ユニットの中心を通る対角線であって前記複数の光変調素子により規定される配列方向の対角線となる第1および第2の対角線に対し、それぞれ2つずつ前記光変調ユニットの中心を挟んで交差するとともに、前記第1および第2の対角線と前記4つの射出軸との4つの交点が前記光変調ユニットの中心から等間隔の位置にあるように、前記4つの光ファイバ束が配置されていることを特徴とするパターン描画用照明装置。 - パターン形成のため4つの射出端から光を放射する光放射手段と、
複数の正方形状である光変調素子がマトリクス状に配置され、前記複数の光変調素子それぞれを制御することにより前記光放射手段からの光を変調する光変調ユニットと、
前記光放射手段からの光を前記光変調ユニットを介して被描画体へ導く結像光学系とを備え、
前記光変調ユニットの中心を通り前記配列方向の対角線となる第1及び第2の対角線方向に沿った解像力を各光変調素子の配列方向に沿った解像力より高くするように、前記4つの射出端における4つの射出軸が、前記第1および第2の対角線に対し、それぞれ2つずつ前記光変調ユニットの中心を挟んで交差することを特徴とするパターン描画装置。 - パターン形成のため4つの射出端から光を放射する光放射手段と、
複数の正方形状である光変調素子がマトリクス状に配置され、前記複数の光変調素子それぞれを制御することにより前記光放射手段からの光を変調する光変調ユニットと、
前記光放射手段からの光を前記光変調ユニットを介して被描画体へ導く結像光学系とを備え、
前記光変調ユニットの中心を通り前記配列方向の対角線となる第1及び第2の対角線方向に沿った解像力を各光変調素子の配列方向に沿った解像力より高くするように、前記第1及び第2の対角線方向に沿って前記4つの射出端を配置することを特徴とするパターン描画装置。
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