JP4297923B2 - レーザ照射方法および装置 - Google Patents

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Description

この発明は、レーザ照射方法および装置に関し、さらに詳しくは、レーザ照射後の被処理基板に筋のような処理パターンが現れないようにレーザ照射することが出来るレーザ照射方法および装置に関する。
従来、帯状照射領域を有する光線ビームを被処理基板に照射する際に、帯状照射領域の短軸方向に光線ビームを走査的に移動すると共に帯状照射領域の長軸方向に帯状照射領域を振動させる半導体装置の製造方法が知られている(例えば特許文献1参照。)。
特公平04−10216号公報
上記従来技術では、帯状照射領域を長軸方向に一定周波数(例えば1kHz)で振動させているため、帯状照射領域の長軸方向に帯状照射領域の位置を変化させているとはいえ、その変化が規則的になる。
しかし、帯状照射領域の長軸方向の位置の変化が規則的になると、処理後の被処理基板に筋のような処理パターンが現れ、甚だしい場合は視認できる程度の筋が現れてしまう問題点がある。
そこで、この発明の目的は、レーザ照射後の被処理基板に筋のような処理パターンが現れないようにレーザ照射することが出来るレーザ照射方法および装置を提供することにある。
第1の観点では、本発明は、半導体基板(S)上に帯状照射領域(6)を形成してレーザ光を照射し、帯状照射領域(6)の長軸方向に帯状照射領域(6)の位置を変えながら、帯状照射領域(6)の短軸方向に半導体基板(S)を移動するレーザ照射方法であって、帯状照射領域(6)の長軸方向の位置を変えるタイミング少なくとも不規則的にすることを特徴とするレーザ照射方法を提供する。
上記第1の観点によるレーザ照射方法では、レーザ光の帯状照射領域(6)の長軸方向に帯状照射領域(6)の位置を変えながらレーザ照射を行うが、その位置は数カ所の固定位置とするが位置を変えるタイミングを不規則的に変えるか、又は、位置を不規則的に変えると共に位置を変えるタイミングも不規則的に変える。このように位置を変えるタイミング少なくとも不規則的にすることにより、レーザ照射後の被処理基板に筋のような処理パターンが現れなくなる。
第2の観点では、本発明は、前記第1の観点によるレーザ照射方法において、前記帯状照射領域(6)の位置を2カ所以上とし、それら位置の一つを順に選ぶものとし、選ぶタイミングをランダムとしたことを特徴とするレーザ照射方法を提供する。
上記第2の観点によるレーザ照射方法では、レーザ光の帯状照射領域(6)の長軸方向に帯状照射領域(6)の位置を変えながらレーザ照射を行うが、位置は数カ所の固定位置とするが位置を変えるタイミングを不規則的に変える。これにより、レーザ照射後の被処理基板に筋のような処理パターンが現れなくなる。
第3の観点では、本発明は、前記第2の観点によるレーザ照射方法において、前記レーザ光の照射はパルス状に行い、そのパルス間隔の1倍から16倍の間でランダムに選んだ間隔で前記帯状照射領域(6)の位置を変えることを特徴とするレーザ照射方法を提供する。
上記第3の観点によるレーザ照射方法では、位置を変えるタイミングを実質的に不規則的にすることが出来る。
第4の観点では、本発明は、前記第1の観点によるレーザ照射方法において、前記帯状照射領域(6)の位置は5カ所以上とし、それら位置の一つをランダムに選ぶものとし、選ぶタイミングランダムとしたことを特徴とするレーザ照射方法を提供する。
上記第4の観点によるレーザ照射方法では、レーザ光の帯状照射領域(6)の長軸方向に帯状照射領域(6)の位置を変えながらレーザ照射を行うが、その位置を5カ所以上のの固定位置とするが、それらのうちのどの位置を選ぶかを不規則的に変えると共に選ぶタイミングも不規則的とする。これにより、レーザ照射後の被処理基板に筋のような処理パターンが現れなくなる。
第5の観点では、本発明は、前記第4の観点によるレーザ照射方法において、前記レーザ光の照射はパルス状に行うことを特徴とするレーザ照射方法を提供する。
第6の観点では、本発明は、前記第の観点によるレーザ照射方法において、前記レーザ光の照射のパルス間隔の1倍から16倍の間でランダムに選んだ間隔で前記帯状照射領域(6)の位置を変えることを特徴とするレーザ照射方法を提供する。
上記第6の観点によるレーザ照射方法では、位置を変えるタイミングを実質的に不規則的にすることが出来る。
第7の観点では、本発明は、レーザ光(A)を出力するレーザ発振器(1)と、前記レーザ光(A)を入力し出力するレーザ光(B1,B2)の位置を2カ所以上に変えるための光学素子(2)と、前記レーザ光(B1,B2)の位置の変わる方向を長軸方向とする帯状照射領域(6)に前記レーザ光(B1,B2)を整形し半導体基板(S)に照射する光学系(3,4)と、前記半導体基板(S)を保持して前記帯状照射領域(6)の短軸方向に移動しうる移動台(5)と、前記レーザ光(B1,B2)の一つを順に選んで切り替えるための切替手段(10)と、前記切替のタイミングをランダムにする切替タイミング制御手段(8)とを具備したことを特徴とするレーザ照射装置(100)を提供する。
上記第7の観点によるレーザ照射装置(100)では、前記第2の観点によるレーザ照射方法を好適に実施できる。
第8の観点では、本発明は、前記第7の観点によるレーザ照射装置において、前記レーザ発振器(1)はパルス状にレーザ光を出力し、前記切替タイミング制御手段(8)は、前記レーザ光のパルス間隔の1倍から16倍の間でランダムに選んだ間隔を前記切替のタイミングとすることを特徴とするレーザ照射装置を提供する。
上記第8の観点によるレーザ照射装置(100)では、前記第3の観点によるレーザ照射方法を好適に実施できる。
第9の観点では、本発明は、レーザ光(A)を出力するレーザ発振器(1)と、前記レーザ光(B1)を入力し出力するレーザ光(B1〜B5)の位置を5カ所以上に変えるための光学素子(2)と、前記レーザ光(B1〜B5)の位置の変わる方向を長軸方向とする帯状照射領域(6)に前記レーザ光(B1〜B5)を整形し半導体基板(S)に照射する光学系(3,4)と、前記半導体基板(S)を保持して前記帯状照射領域(6)の短軸方向に移動しうる移動台(5)と、前記レーザ光(B1〜B5)の一つをランダムに選んで切り替えるための切替手段(10)と、前記切替のタイミングをランダムにする切替タイミング制御手段(8)とを具備したことを特徴とするレーザ照射装置(200)を提供する。
上記第9の観点によるレーザ照射装置(100)では、前記第4の観点によるレーザ照射方法を好適に実施できる。
第10の観点では、本発明は、前記第の観点によるレーザ照射装置において、前記レーザ発振器(1)はパルス状にレーザ光を出力することを特徴とするレーザ照射装置を提供する。
上記第10の観点によるレーザ照射装置(100)では、前記第5の観点によるレーザ照射方法を好適に実施できる。
第11の観点では、本発明は、前記第10の観点によるレーザ照射装置において、前記切替タイミング制御手段(8)は、前記レーザ光のパルス間隔の1倍から16倍の間でランダムに選んだ間隔を前記切替のタイミングとすることを特徴とするレーザ照射装置を提供する。
上記第11の観点によるレーザ照射装置(100)では、前記第6の観点によるレーザ照射方法を好適に実施できる。
第12の観点では、本発明は、前記第7から前記第11のいずれかの観点によるレーザ照射装置において、前記光学素子(2)は音響光学偏向器であることを特徴とするレーザ照射装置を提供する。
上記第12の観点によるレーザ照射装置(100)では、光学素子(2)として音響光学偏向器を用いるため、従来技術におけるXYステージに相当する移動台(5)または従来技術におけるカーボン・ヒータに相当するレーザ発振器(1)や光学系(3)を動かす場合に比べて、高速に位置制御できる。
この発明のレーザ照射方法および装置によれば、レーザの照射位置を変えるタイミング少なくとも不規則的にすることにより、レーザ照射後の被処理基板に筋のような処理パターンが現れなくなる。つまり、帯状照射領域をその長軸方向に規則的に振ることに起因する照射ムラを抑制することが出来る。
以下、図に示す実施の形態によりこの発明をさらに詳細に説明する。なお、これによりこの発明が限定されるものではない。
図1は、実施例1に係るレーザ照射装置100を示す構成説明図である。
このレーザ照射装置100は、トリガパルスTに応じてレーザ光Aをパルス出力するレーザ発振器1と、入力されたレーザ光Aを出力する方向を変えるAOD素子(音響光学偏向器)2と、AOD素子2から出力されたレーザ光B1またはB2の位置が変化する方向を長軸方向とする帯状照射領域6にレーザ光B1またはB2を整形し半導体基板Sに照射するためのホモジナイザー光学系3およびp−lens4と、半導体基板Sを保持して帯状照射領域6の短軸方向に移動しうる移動台5と、例えば250μs間隔でトリガパルスTを出力するレーザ発振トリガパルス発生器7と、トリガパルスTのパルス間隔の1倍から16倍の間でランダムに選んだ間隔で切替パルスtを出力する切替タイミング制御回路8と、AOD素子2から出力されるレーザ光をレーザ光B1の方向とするための第1の偏向パルスb1を出力する第1のAOD素子駆動パルス発生器91と、AOD素子2から出力されるレーザ光をレーザ光B1の方向とするための第2の偏向パルスb2を出力する第2のAOD素子駆動パルス発生器92と、切替パルスtに応じて第1の偏向パルスb1と第2の偏向パルスb2とを交互に切り替えてAOD素子2へ入力する切替回路10とを具備している。
図2は、トリガパルスTと、レーザ光の出力期間と、切替パルスtと、帯状照射領域6の位置の変化を説明するタイミングチャートである。
トリガパルスTの間隔τは、例えば250μsで、一定である。
レーザ光は、トリガパルスTに同期して、例えばパルス幅W=125μsで、パルス状に出力される。
切替パルスtは、レーザ光の停止に同期して出力される。切替パルスtの間隔Kは、例えば250μs,500μs,750μs,…,3750μs,4000μsのいずれかがランダムに選択される。
帯状照射領域6の位置は、交互にB1またはB2になるが、切り替わる間隔Kが実質的に不規則的といえるので、位置B1またはB2で照射する時間が不規則的になる。
実施例1のレーザ照射装置100によれば、帯状照射領域6の長軸方向に帯状照射領域6の位置を変えながらレーザ照射を行う。帯状照射領域6の位置はB1とB2の2カ所の固定とするが、位置を切り替えるタイミングを不規則的に変える。これにより、レーザ照射後の被処理基板Sに筋のような処理パターンが現れなくなる。また、位置の切替をAOD素子2を用いて行うので、高速に切り替えることが出来る。
なお、上記説明では、位置をB1とB2の2カ所の固定としたが、位置を3カ所以上とし、順に切り替えるようにしてもよい。
−参考例−
図3は、参考例に係るレーザ照射装置200を示す構成説明図である。
このレーザ照射装置200は、トリガパルスTに応じてレーザ光Aをパルス出力するレーザ発振器1と、入力されたレーザ光Aを出力する方向を変えるAOD素子(音響光学偏向器)2と、AOD素子2から出力されたレーザ光B1〜B5の位置が変化する方向を長軸方向とする帯状照射領域6にレーザ光B1〜B5を整形し半導体基板Sに照射するためのホモジナイザー光学系3およびp−lens4と、半導体基板Sを保持して帯状照射領域6の短軸方向に移動しうる移動台5と、例えば250μs間隔でトリガパルスTを出力するレーザ発振トリガパルス発生器7と、トリガパルスTのパルス間隔と同じ間隔kで切替パルスtを出力する切替タイミング制御回路8と、AOD素子2から出力されるレーザ光をレーザ光B1〜B5の方向とするための第1〜第5の偏向パルスb1〜b5を出力する第1〜第5のAOD素子駆動パルス発生器91〜95と、切替パルスtに応じて第1〜第5の偏向パルスb1〜b5のいずれかをランダムに選んでAOD素子2へ入力する切替回路10とを具備している。
図4は、トリガパルスTと、レーザ光の出力期間と、切替パルスtと、帯状照射領域6の位置の変化を説明するタイミングチャートである。
トリガパルスTの間隔τは、例えば250μsで、一定である。
レーザ光は、トリガパルスTに同期して、例えばパルス幅W=125μsで、パルス状に出力される。
切替パルスtは、レーザ光の停止に同期して出力される。切替パルスtの間隔Kは、例えば250μsである。
帯状照射領域6の位置は、B1〜B5のいずれかが不規則的に選ばれる。従って、各照射位置B1〜B5で照射する時間は一定になるが、どの位置で照射されるかが不規則的になる。
参考例のレーザ照射装置200によれば、帯状照射領域6の長軸方向に帯状照射領域6の位置を変えながらレーザ照射を行う。帯状照射領域6の位置はB1〜B5のいずれかになり、各位置での照射時間は一定になる。しかし、どの位置になるかが不規則的になるので、レーザ照射後の被処理基板Sに筋のような処理パターンが現れなくなる。また、位置の切替をAOD素子2を用いて行うので、高速に切り替えることが出来る。
実施例2は、上記参考例のレーザ照射装置200において、実施例1の切替タイミング制御回路8を用いる。
実施例のレーザ照射装置によれば、帯状照射領域6の長軸方向に帯状照射領域6の位置を変えながらレーザ照射を行う。帯状照射領域6の位置はB1〜B5のいずれかになるが、どの位置になるかが不規則的になる。また、各位置での照射時間も不規則的になる。よって、レーザ照射後の被処理基板Sに筋のような処理パターンが現れなくなる。また、位置の切替をAOD素子2を用いて行うので、高速に切り替えることが出来る。
この発明のレーザ照射方法および装置は、例えば半導体層の作製や活性化処理に利用できる。
実施例1に係るレーザ照射装置の構成説明図である 実施例1に係るレーザ照射装置の動作を示すタイミングチャートである。 参考例に係るレーザ照射装置の構成説明図である 参考例に係るレーザ照射装置の動作を示すタイミングチャートである。
符号の説明
1 レーザ発振器
2 AOD素子
3 ホモジナイザー光学系
4 p−lens
5 移動台
6 帯状照射領域
7 レーザ発振トリガパルス発生器
8 切替タイミング制御回路
91〜95 AOD素子駆動パルス発生器
100,200 レーザ照射装置

Claims (12)

  1. 半導体基板(S)上に帯状照射領域(6)を形成してレーザ光を照射し、帯状照射領域(6)の長軸方向に帯状照射領域(6)の位置を変えながら、帯状照射領域(6)の短軸方向に半導体基板(S)を移動するレーザ照射方法であって、帯状照射領域(6)の長軸方向の位置を変えるタイミング少なくとも不規則的にすることを特徴とするレーザ照射方法。
  2. 請求項1に記載のレーザ照射方法において、前記帯状照射領域(6)の位置を2カ所以上とし、それら位置の一つを順に選ぶものとし、選ぶタイミングをランダムとしたことを特徴とするレーザ照射方法。
  3. 請求項2に記載のレーザ照射方法において、前記レーザ光の照射はパルス状に行い、そのパルス間隔の1倍から16倍の間でランダムに選んだ間隔で前記帯状照射領域(6)の位置を変えることを特徴とするレーザ照射方法。
  4. 請求項1に記載のレーザ照射方法において、前記帯状照射領域(6)の位置は5カ所以上とし、それら位置の一つをランダムに選ぶものとし、選ぶタイミングランダムとしたことを特徴とするレーザ照射方法。
  5. 請求項4に記載のレーザ照射方法において、前記レーザ光の照射はパルス状に行うことを特徴とするレーザ照射方法。
  6. 請求項に記載のレーザ照射方法において、前記レーザ光の照射のパルス間隔の1倍から16倍の間でランダムに選んだ間隔で前記帯状照射領域(6)の位置を変えることを特徴とするレーザ照射方法。
  7. レーザ光(A)を出力するレーザ発振器(1)と、前記レーザ光(A)を入力し出力するレーザ光(B1,B2)の位置を2カ所以上に変えるための光学素子(2)と、前記レーザ光(B1,B2)の位置の変わる方向を長軸方向とする帯状照射領域(6)に前記レーザ光(B1,B2)を整形し半導体基板(S)に照射する光学系(3,4)と、前記半導体基板(S)を保持して前記帯状照射領域(6)の短軸方向に移動しうる移動台(5)と、前記レーザ光(B1,B2)の一つを順に選んで切り替えるための切替手段(10)と、前記切替のタイミングをランダムにする切替タイミング制御手段(8)とを具備したことを特徴とするレーザ照射装置(100)。
  8. 請求項7に記載のレーザ照射装置において、前記レーザ発振器(1)はパルス状にレーザ光を出力し、前記切替タイミング制御手段(8)は、前記レーザ光のパルス間隔の1倍から16倍の間でランダムに選んだ間隔を前記切替のタイミングとすることを特徴とするレーザ照射装置。
  9. レーザ光(A)を出力するレーザ発振器(1)と、前記レーザ光(B1)を入力し出力するレーザ光(B1〜B5)の位置を5カ所以上に変えるための光学素子(2)と、前記レーザ光(B1〜B5)の位置の変わる方向を長軸方向とする帯状照射領域(6)に前記レーザ光(B1〜B5)を整形し半導体基板(S)に照射する光学系(3,4)と、前記半導体基板(S)を保持して前記帯状照射領域(6)の短軸方向に移動しうる移動台(5)と、前記レーザ光(B1〜B5)の一つをランダムに選んで切り替えるための切替手段(10)と、前記切替のタイミングをランダムにする切替タイミング制御手段(8)とを具備したことを特徴とするレーザ照射装置(200)。
  10. 請求項に記載のレーザ照射装置において、前記レーザ発振器(1)はパルス状にレーザ光を出力することを特徴とするレーザ照射装置。
  11. 請求項10に記載のレーザ照射装置において、前記切替タイミング制御手段(8)は、前記レーザ光のパルス間隔の1倍から16倍の間でランダムに選んだ間隔を前記切替のタイミングとすることを特徴とするレーザ照射装置。
  12. 請求項7から請求項11のいずれかに記載のレーザ照射装置において、前記光学素子(2)は音響光学偏向器であることを特徴とするレーザ照射装置。
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