JP4291529B2 - ヘッド読出信号解析装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
この発明は、ヘッド読出信号解析装置に関し、詳しくは、磁気ディスクテスタ、磁気ヘッドテスタ等において、磁気ヘッドの読出信号の状態を解析することで磁気ディスクの性能あるいは磁気ヘッドの性能、さらにはテスタの性能を判定するヘッド読出信号解析装置において、ディスクの回転数が高くなってその回転振れなどによる読出信号の周波数変動に対して簡単な制御で読出信号成分を得ることができるようなヘッド読出信号解析装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
ハードディスク装置の磁気ヘッドとしては、現在では、書込側ヘッドとしてインダクティブヘッド(薄膜ヘッド)が、そして読出側ヘッドとしてMRヘッド、GMRヘッド,TMRヘッドなどが1つのスライダに取り付けられた磁気ヘッド、いわゆる複合磁気ヘッドが用いられている。
その記録密度は、数ギガ/インチと向上の一途を辿っている。さらに、読出データ速度は、平均アクセスタイムが10msec以下と速くなり、ディスクの回転速度も5,000rpm〜8,000rpm程度から転送速度の向上要求に伴って10,000rpm〜20,000rpmと高速化してきている。
このような磁気ディスク装置において磁気ヘッドや磁気ディスク、あるいはその性能をテストするテスタにあっては、8,000rpm以上のディスク回転速度において、どの程度の電気的性能があるか、評価することが必要になってきている。磁気ディスク自体の電気的な性能は、通常、サーティファイアにより評価されるが、これとは別に、その評価の1つとして磁気ヘッドの読出信号からその周波数成分のレベル等を解析して磁気ヘッドのS/N比、性能が既知の磁気ヘッドを使用しての磁気ディスクのS/N比、さらにオーバーライト時のそれぞれの読出レベルなどを検査するヘッド読出信号解析装置がある。
【0003】
ハードディスク装置に使用される磁気ディスクの読出信号は、1MHz〜800MHz又はそれ以上と非常に周波数範囲が広い。このような広い範囲の周波数に対応するために、ヘッド読出信号解析装置は、プログラマブルPLL発振回路(周波数シンセサイザ)により読出信号に対して所定の混合周波数を発生して一定周波数のビート信号、例えば200MHzあるいは400MHz程度の特定周波数の信号に変換して、これをバンドパスフィルタ(BPF)で抽出する。さらにこの特定周波数の信号を周波数混合して解析可能は周波数の信号、例えば、6MHzの信号にまで落とす。その上で読出信号成分を6MHz±15kHzの範囲のバンドパスフィルタ(BPF)を介して抽出してA/D変換し、A/D変換した後のデータをデータ処理装置で周波数分析をすることで読出信号の状態を解析している。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】
しかし、ディスクの転送速度がより高速になると、スピンドルの回転振れや振動がトラックの周速に影響を与え、それが読出信号に影響して前記のような2段の周波数混合によって得られた信号をBPFを介して、解析できる周波数の読出信号成分を抽出する構成のヘッド読出信号解析装置では、その中心周波数がBPFの中心周波数から外れて正確な解析対象信号が得られなくなる。
このような問題を解決するために、解析対象信号の周波数が変動してBPFを多数設けて切り換えることも考えられるが、装置が大型化する上に、BPFの切換え制御が必要になって解析効率が落ちる。帯域可変のBPFではノイズが発生して解析上問題がある。
この発明の目的は、このような従来技術の問題点を解決するものであって、ディスクの回転数が高くなってその回転振れなどにより読出信号の周波数が変動しても簡単な制御で読出信号成分を得てその解析することができるヘッド読出信号解析装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】
このような目的を達成するためのこの発明のヘッド読出信号解析装置の特徴は、ヘッドから読出信号を受けてその読出信号の状態を解析するヘッド読出信号解析装置において、制御信号に応じて発生周波数が設定される可変周波数発振回路と、この可変周波数発振回路の信号と読出信号とを混合して読出信号を特定の第1の周波数の信号に変換する第1の周波数混合回路と、この第1の周波数の信号を通過させる所定帯域幅の第1のバンドパスフィルタと、この第1のバンドパスフィルタを通過した第1の周波数の信号と所定の基準信号とを混合して第1の周波数の信号を読出信号の成分を含み解析可能な周波数の第2の周波数の信号に変換する第2の周波数混合回路と、この第2の周波数混合回路の出力信号を受けて第2の周波数の信号を通過させる所定帯域幅の第2のバンドパスフィルタと、前記制御信号を発生して可変周波数発振回路の発生周波数を設定する制御回路とを備え、制御回路は、可変周波数発振回路の発生周波数を所定量シフトさせて異なる発生周波数において第2のバンドパスフィルタから得られる第2の周波数の信号をそれぞれに得て、それぞれの第2の周波数の信号のうち最大値ピーク値を有する信号を解析対象とするものである。
【0006】
【発明の実施の形態】
このように、読出信号に対してその成分を含む解析可能な周波数にまで2段階の周波数混合回路により周波数を変換して落としてからヘッド読出信号成分を含む解析対象となる信号を得る場合には、その信号を抽出する第2のバンドパスフィルタの範囲で抽出できない場合であっても、制御回路によって可変周波数発振回路の発生周波数を所定量シフトさせていけば、第2のバンドパスフィルタによりヘッド読出信号成分を含む解析対象となる信号を抽出することができる。そこで、発生周波数を所定量シフトさせて複数回解析対象となる信号を得るようにしておき、複数の解析対象信号から最大ピーク値を検出することで解析対象信号を決定する。
これは、第2のバンドパスフィルタの帯域の中心から抽出する読出信号成分が外れれば外れるほど、ヘッド読出信号成分の最大ピーク値は低下するからである。
その結果、ディスクの回転数が高くなって読出信号の周波数が変動しても簡単な制御で読出信号成分を得ることができ、効率よく読出信号の解析することができるヘッド読出信号解析装置を容易に実現することができる。
【0007】
【実施例】
図1は、この発明を適用した一実施例のヘッド読出信号解析装置のブロック図であり、図2は、その解析処理のフローチャートである。
図1において、30は、ヘッド読出信号解析装置であって、磁気ディスク1(以下ディスク1)と、スピンドル2、磁気ヘッド3、読出信号抽出回路4、そしてデータ処理・解析装置20とを有している。
ディスク1は、スピンドル2に装着されて回転し、これに対して検査対象の磁気ヘッド3が装置に挿着されてディスク1にローディングされる。
ディスク1の特定のトラックに所定の周波数のテストデータが書き込まれ、磁気ヘッド3は、この特定のトラックにシークしてそのトラックからテストデータを読出す。
テストデータのディスク1への書込みは、テストデータ生成回路16と書込制御回路17と書込回路18を介して行われ、テストデータ生成回路16は、データ処理・解析装置20から制御信号に応じてテストデータを生成し、書込制御回路17は、磁気ヘッド3を指定された所定のトラックに位置決めして前記のテストデータを書込回路18を介して書込む。
【0008】
磁気ヘッドの読出信号は、読出アンプ(AMP)5を介してローパスフィルタ(LPF)6に入力される。LPF6は、測定帯域の信号を通過させ、それ以上の成分を急峻にカットし、高域の影響を取除くためのフィルタである。
LPF6の出力信号は、書込テストデータの周波数2foに応じて発生し、その範囲は1MHz〜800MHz程度か、それ以上のものである。この周波数foが、ここでは、例えば800MHzの読出信号Srであるとする。なお、読出信号Srの周波数foは、書込テストデータの周波数2foの1/2になる。
この800MHzの読出信号Srは、次に、周波数混合器7においてプログラマブルPLL発振回路8からの信号(その周波数fc=fo−40MHz)と混合される。このとき、プログラマブルPLL発振回路8の信号は、バス27を介してその発生周波数fcが360MHzになるように設定されている。その結果、周波数混合器7のビート信号(読出信号Srの周波数変換信号Sc1)の出力として440MHzの周波数の信号を得ることができる。
【0009】
この440MHzに周波数変換された読出信号Sc1は、次に中心周波数が440MHzで±80kHz(帯域幅160kHz)の狭帯域のBPF9に入力されて、周波数混合により発生する不要な信号とノイズ成分とが除去される。
さらに、BPF9を経た読出信号Sc2は、次に、周波数混合器10において基準信号発振器11からの信号と混合される。この基準信号発振器11は、周波数446MHの一定周波数の信号を発生する。その結果、周波数混合器10のビート信号の出力として6MHzの周波数の信号Sc3を得ることができる。
6MHzに周波数変換された読出信号Sc3は、次に中心周波数が6MHzで±15kHz(帯域幅30kHz)の狭帯域のBPF12に入力されて、周波数混合により発生する不要な信号成分とノイズ成分とが除去される。そして、アンプ(AMP)13に加えられて増幅された後に、A/D変換回路(A/D)14によりデジタル値に変換されて波形データメモリ15に記憶される。
【00010】
この波形データメモリ15の信号は、次にデータ処理・解析装置20のバス27を介してMPU21により読み込まれる。
なお、解析可能な周波数の信号としては、8MHzか、それ以下ならば現在のところ可能である。そのため、この実施例では、6MHzまで解析対象となる読出信号を落としている。また、その帯域幅30kHzあれば、読出信号Srの状態を解析するだけの信号成分がこれに含まれる。
データ処理・解析装置20は、MPU21と、メモリ22、CRTディスプレイ23、シリアルインタフェース24、インタフェース25、そしてキーボード26等により構成され、これらと波形データメモリ15とがバス27により相互に接続されている。さらに、プログラマブルPLL発振回路8がシリアルインタフェース24と接続され、テストデータ生成回路16がインタフェース25と接続されている。
【0011】
ここで、磁気ヘッド3により得られた読出信号の波形は、6MHzの信号に変換され、さらにそれがA/D変換回路14においてデジタル値に変換される。A/D変換回路14を介して得られる読出信号Srの状態を示す成分を含む波形データは、波形データメモリ15に一旦記憶される。そして、波形データメモリ15から得られる1回の測定における読出信号の測定データがバス27を介してMPU21に読込まれ、それがバス27を介してメモリ22に転送されて記憶される。
メモリ22には、スキャン測定プログラム22a、最大ピーク値検出プログラム22b、周波数成分解析プログラム22c等が記憶されている。また、波形データ記憶領域22dと作業領域22e、スキャン測定のための制御データを記憶するパラメータ領域等が設けられている。
なお、プログラマブルPLL発振回路8は、シリアルインタフェース24,バス27を介してMPU21と接続され、MPU21は、テストデータとして書き込んだ信号の周波数2foに対してその読出信号Srが周波数foとなるので、この読出信号Srの周波数foから読出信号Srの周波数を440MHzに変換する周波数を発生するような制御信号をプログラマブルPLL発振回路8に設定する。
【0012】
ここで、プログラマブルPLL発振回路8は、位相比較の基準周波数の信号を発生するクリスタル発振器81とプログラマブルデバイダ(PD)を内蔵を有する位相比較回路82、LPF83、VCO84、プリスケーラ(分周比設定デバイダ)85とからなり、位相比較回路82のプログラマブルデバイダ(PD)の分周比率を制御信号としてMPU21から設定されることでプログラマブルPLL発振回路8の出力信号の発振周波数が設定される。
スキャン測定プログラム22aは、MPU21により実行されて、MPU21は、テストデータを書込み、そのデータを読出して、波形データメモリ15に読出信号成分を含む波形信号を採取して波形データ記憶領域22dに記憶する。
さらに、このプログラムの実行により、MPU21は、プログラマブルPLL発振回路8の周波数を別の周波数に設定して、前記の測定を複数回繰り返して行い、複数回の測定波形データをすべて波形データ記憶領域22dに記憶する。この複数回の測定の後に最大ピーク値検出プログラム22bをコールする。
その処理の詳細は図2のフローチャートに示す(後述)。なお、複数回の測定は、それぞれプログラマブルPLL発振回路8に設定する周波数がすでに設定された周波数に対して測定の都度Δf分、例えば、ここではΔf=10kHz分ずれた周波数になるように設定する。また、測定回数もここでは3回としている。
【0013】
最大ピーク値検出プログラム22bは、MPU21により実行されて、MPU21は、波形データ記憶領域22dに記憶されたデータから最大ピーク値を検出してそれを読出信号の検出レベルとして作業領域22eに記憶するとともに分析対象の波形データをこの最大ピーク値を含む波形データにする。
周波数成分解析プログラム22cは、MPU21により実行されて、MPU21は、波形データ記憶領域22dに記憶されたデータから最大ピーク値が検出された波形データを分析対象波形データとして選択し、これについて所定の周波数成分を分析して、S/N比等の算出をする。
このS/N比について説明すると、例えば、最大ピーク値が検出されたデータの位置の波形成分を除いて他のデータから次のピーク値のデータを抽出して、その波形がノイズに対応する信号波形形態のものであれば、その値をノイズレベルとする。そしてこのノイズレベルと作業領域22eに記憶してある最大ピーク値とによりS/N比を算出する。
【0014】
図2は、そのスキャン測定処理のフローチャートである。
図2において、測定開始の機能キー入力に従って、まず、スキャン測定プログラム22aがMPU21に実行されて、測定回数を示す初期値nをn=1にセットし(ステップ101)、パラメータ領域に記憶された制御データを読出して書込テスト周波数2foからプログラマブルPLL発振回路8が発生する信号の周波数fc(プログラマブルPLL発振回路8の出力信号の周波数fcは、前記の例ではfc=360MHz)を算出して、この周波数を発生する制御データをプログラマブルPLL発振回路8に送出して設定する(ステップ102)。そして、ディスク1にテスト周波数2foでテストデータを書込む(ステップ103)。
次に、ディスク1の所定のトラックからテストデータを読出す。このことで波形データメモリ15に測定データを採取して記憶する(ステップ104)。そして、読出信号成分が記憶された波形データメモリ15のデータをメモリ22の波形データ記憶領域22dに転送する(ステップ105)。ここで、初期値nが3以上か否かを判定することで測定データ採取が終了したか否かの判定をする(ステップ106)。なお、ここでの測定回数は、前記したように3回とする。
最初はn=1であるので、このステップ106での判定はNOとなり、NOのときには、n=n+1として測定回数を更新して(ステップ107)、次にプログラマブルPLL発振回路8が発生する信号の周波数fcを変更する(ステップ108)。このときn=2となるので、n=2のときにはfc=fc+10kHzを発生するようにプログラマブルPLL発振回路8に制御データを設定する。そして、ステップ104に戻る。
【0015】
ステップ104、ステップ105を経て、次のステップ106の判定で再びNOとなり、次にn=n+1として、n=3となる。そしてステップ108において、プログラマブルPLL発振回路8が発生する信号の周波数fcをn=3のときにはfc=fc−10kHzになる値に制御データがプログラマブルPLL発振回路8に設定されて、再びステップ104に戻る。このようにして、ステップ105において、3回測定分の波形データが波形データ記憶領域22dに転送されて記憶される。
3回目のデータ採取が終了した時点で、測定回数を示すnは、n=3となっているので、ステップ106の判定においてデータ採取が終了する。そこで、ステップ109へと移行する。
ステップ109においては、最大ピーク値検出プログラム22bがMPU21により実行されて、波形データ記憶領域22dに記憶された3個の測定波形データから最大ピーク値が検出される。この最大ピーク値が検出された測定波形データを読出信号の測定波形データと決定して、採取された他の波形データは削除される(ステップ110)。そして、この選択された波形データに基づいて周波数成分解析プログラム22cがMPU21により実行されて所定の測定項目に従って周波数成分に応じたそのレベル等の分析が行われる(ステップ111)。
【0016】
以上説明してきたが、実施例では、プログラマブルPLL発振回路8が発生する信号の周波数fcを10kHz単位でシフトさせて3回設定して3回の測定データを得ているが、測定周波数のシフト量は、10kHzに限定されるものではなく、測定回数も3回に限定されるものではない。
また、実施例では、磁気ヘッドからの読出信号を解析する例を挙げているが、読出信号を得るヘッドは磁気ヘッドに限定されるものではない。
【0017】
【発明の効果】
以上の説明のとおり、この発明にあっては、読出信号に対してその成分を含む解析可能な周波数にまで2段階の周波数混合回路により周波数を変換して落としてからヘッド読出信号成分を含む解析対象となる信号を得る場合には、その信号を抽出する第2のバンドパスフィルタの範囲で抽出できない場合であっても、制御回路によって可変周波数発振回路の発生周波数を所定量シフトさせていけば、第2のバンドパスフィルタによりヘッド読出信号成分を含む解析対象となる信号を抽出することができるので、複数の解析対象信号から最大ピーク値を検出することで解析対象信号を決定することができる。
その結果、ディスクの回転数が高くなって読出信号の周波数が変動しても簡単な制御で読出信号成分を得ることができ、効率よく読出信号の解析することができるヘッド読出信号解析装置を容易に実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、この発明を適用した一実施例のヘッド読出信号解析装置のブロック図である。
【図2】図2は、その解析処理のフローチャートである。
【符号の説明】
1…磁気ディスク、2…スピンドル、3…磁気ヘッド、
4…読出信号検出回路、5…読出アンプ、6…LPF、
7,10…周波数混合器、8…プログラマブルPLL発振回路、9…BPF、
11…基準信号発振器、13…アンプ、14…A/D変換回路、
16…テストデータ生成回路、15…波形データメモリ、
17…書込制御回路、18…書込回路、20…データ処理・解析装置、
21…MPU、22…メモリ、23…CRTディスプレイ、
24…シリアルインタフェース、25…インタフェース、
26…キーボード、27…バス、30…ヘッド読出信号解析装置。
Claims (1)
- ヘッドから読出信号を受けてその読出信号の状態を解析するヘッド読出信号解析装置において、
制御信号に応じて発生周波数が設定される可変周波数発振回路と、この可変周波数発振回路の信号と前記読出信号とを混合して前記読出信号を特定の第1の周波数の信号に変換する第1の周波数混合回路と、この第1の周波数の信号を通過させる所定帯域幅の第1のバンドパスフィルタと、この第1のバンドパスフィルタを通過した前記第1の周波数の信号と所定の基準信号とを混合して前記第1の周波数の信号を前記読出信号の成分を含み解析可能な周波数の第2の周波数の信号に変換する第2の周波数混合回路と、この第2の周波数混合回路の出力信号を受けて前記第2の周波数の信号を通過させる所定帯域幅の第2のバンドパスフィルタと、前記制御信号を発生して前記可変周波数発振回路の前記発生周波数を設定する制御回路とを備え、前記制御回路は、前記可変周波数発振回路の前記発生周波数を所定量シフトさせて異なる発生周波数において前記第2のバンドパスフィルタから得られる前記第2の周波数の信号をそれぞれに得て、それぞれの前記第2の周波数の信号のうち最大値ピーク値を有する信号を解析対象とすることを特徴とするヘッド読出信号解析装置。
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