JP4265786B2 - 高さ測定方法及び高さ測定装置、並びに信号処理方法 - Google Patents
高さ測定方法及び高さ測定装置、並びに信号処理方法 Download PDFInfo
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Description
11 光源
12 ハーフミラー
13 対物レンズ
14 ピンホール
15 結像レンズ
16 CCDカメラ
20 ピエゾ素子
30 駆動回路
40 アナログ・ディジタル変換器
50 信号処理装置
60 メモリ
70 制御装置
Claims (4)
- 被測定物の基準面からの高さを測定する高さ測定方法であって、
光学系の焦点位置を移動しながら、
検査光を被測定物の表面及び基準面へ照射し、
検査光が被測定物の表面又は基準面で反射された反射光をピンホールを通して受光して、
受光した反射光の輝度信号に重み付き平均処理を行った後、輝度信号を任意の折り返し位置で折り返し、折り返し位置の両側の所定の範囲について、折り返し前の輝度信号と折り返し後の輝度信号との差分を求める処理を、折り返し位置を移動しながら行い、折り返し位置を移動して求めた差分の変化を4次近似し、得られた結果が最小となる折り返し位置を、被測定物の表面又は基準面に合った光学系の焦点位置として、被測定物の表面に合った光学系の焦点位置と、基準面に合った光学系の焦点位置とを検出し、両者の差異から被測定物の高さを求めることを特徴とする高さ測定方法。 - 被測定物の基準面からの高さを測定する高さ測定装置であって、
検査光を被測定物の表面及び基準面へ照射する投光手段と、
検査光が被測定物の表面又は基準面で反射された反射光をピンホールを通して受光し、受光した反射光の輝度信号を出力する受光手段と、
前記受光手段の焦点位置を移動する焦点位置移動手段と、
前記受光手段が出力した輝度信号に重み付き平均処理を行った後、輝度信号を任意の折り返し位置で折り返し、折り返し位置の両側の所定の範囲について、折り返し前の輝度信号と折り返し後の輝度信号との差分を求める処理を、折り返し位置を移動しながら行い、折り返し位置を移動して求めた差分の変化を4次近似し、得られた結果が最小となる折り返し位置を、被測定物の表面又は基準面に合った前記受光手段の焦点位置として、被測定物の表面に合った前記受光手段の焦点位置と、基準面に合った前記受光手段の焦点位置とを検出し、両者の差異から被測定物の高さを求める信号処理手段とを備えたことを特徴とする高さ測定装置。 - 信号のピーク位置を算出する信号処理方法であって、
信号に重み付き平均処理を行った後、
信号を任意の折り返し位置で折り返し、折り返し位置の両側の所定の範囲について、折り返し前の信号と折り返し後の信号との差分を求める処理を、折り返し位置を移動しながら行い、
折り返し位置を移動して求めた差分の変化を4次近似し、
得られた結果が最小となる折り返し位置を信号のピーク位置とすることを特徴とする信号処理方法。 - 重み付き平均処理を行った後の信号のピーク位置を仮中心位置とし、
折り返し位置を仮中心位置の前後に移動することを特徴とする請求項3に記載の信号処理方法。
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