JP4242779B2 - 動的ビーム方向操作要素を有する干渉計 - Google Patents
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Description
し誤差は2(2πpnL)/λへの正弦的依存性を有する。より高次の高調波繰り返し誤差も存在し得る。
は自身の反射測定ビームに、対応する基準ビームを干渉させ、干渉計は、総体的に、放射ビームを基準としたステージの位置の変化を正確に測定する。干渉計は、ウェハのどの領域が放射ビームに露光されるのかをリソグラフィ・システムが精密に制御することを可能にする。
応する度量衡軸に沿った光路長の変化をモニタするために、基準ビームと再結合される。異なる測定ビームが異なる位置でウェハ・ステージに接触するため、ウェハ・ステージの角度上の向きは光路長の測定値の適切な組み合わせから導出可能である。したがって、モニタされる各自由度について、システムはウェハ・ステージに接触する少なくとも1つの測定ビームを含む。さらに、上記に説明したように、各測定ビームは、ウェハ・ステージの角度上の向きの変化が干渉分析信号を劣化させることを防止するために、ウェハ・ステージを二重に通過してもよい。測定ビームは、物理的に分離された干渉計または複数の測定ビームを発生する多軸干渉計から発生させてもよい。
ビームの他の1つを受光し、基準対象にそのビームを差し向けるためにさらに定置され、この干渉計は参照戻りビームを規定するためにそのビームを反射する干渉計、および、iv)ビーム方向操作要素に結合される電子制御回路であって、動作中に制御回路は測定対象の角度上の向きの変化に応じてビーム方向操作要素の向きを調整する回路を含む干渉分析システムを特徴とする。ビーム方向操作要素は、第1のビームから導出される戻りビームではなく第2のビームから導出される戻りビームを差し向けるためにさらに定置され、第2のビームから導出される戻りビームはビーム方向操作要素に接触する。第1の偏光ビーム・スプリッタは、出力ビームを形成するために戻りビームを再結合するために定置される。
システムは入力ビームを生成するためのソースをさらに含んでよく、入力ビームは第1および第2のビームに対応する直交偏光成分間にヘテロダイン周波数分裂を含む。
第2の経路の光路長を基準とした第1の経路の光路長は出力ビームの基準ビーム成分と測定ビーム成分の間の差分シアを最小に抑えるように選択してよい。
干渉計は、1回だけ測定対象に接触させるために測定ビームを差し向ける単一通過干渉計であってよい。
い。
動作中、制御回路は、測定戻りビームおよび参照戻りビームに対応する出力ビーム中の成分間の伝播方向の差に対応する誤差信号に基きビーム方向操作要素の向きを調整可能である。例えば、制御回路は誤差信号を最小に抑えるためにビーム方向操作要素の向きを調整可能である。電子制御回路は誤差信号を発生するように配置構成される差分角度変位干渉計を含んでよい。
他の態様において、本発明はウェハ上での集積回路の作成での使用のためのリソグラフィ・システムを特徴とする。リソグラフィ・システムは、ウェハを支持するためのステージと、ウェハ上で空間的にパターニングされた放射光を結像するための発光システムと、結像された放射光を基準としてステージの位置を調整するための位置決めシステムと、結像された放射光を基準としてウェハの位置をモニタするための上記に説明した干渉分析装置のいずれか、とからなる。
ィ法を特徴とする。リソグラフィ法は、可動ステージ上のウェハを支持する工程と、ウェハ上に空間的にパターニングされた放射光を結像する工程と、ステージの位置を調整する工程と、上記に説明した干渉分析法のいずれかを使用してステージの位置をモニタする工程と、からなる。
他の態様において、本発明は集積回路を作成するための方法を特徴とし、この方法は上記に説明したリソグラフィ・システムのいずれかを使用する工程を含む。
測定ビーム成分122を再差し向けさせる。
よび戻り参照成分に互いに角度を持って伝播させてよいが、出力ビーム190の戻り測定成分および戻り参照成分は、戻り基準ビーム174がビーム方向操作要素110に接触した後に互いに平行にされる。
ここで、n1は測定経路内の気体の屈折率の平均値である。検出器システム192は電気干渉信号またはヘテロダイン位相φ1を含むヘテロダイン信号248を発生する。ヘテロダイン信号248は分析器254に伝送される。分析器254は、位相メータおよび入力ビーム120のソースからの参照位相を使用してヘテロダイン位相φ1を取得する位相メータを含む。分析器254は、式(1)を使用してミラー154の変位の変化を計算するプロセッサをさらに含む。
することにより曲折を導入する。したがって、菱形140は中間入力ビーム128の経路に相補的な高さ調整を提供する。さらに、菱形140および直角プリズムにおけるガラス経路長は光学系180におけるガラス経路長(したがって、ガラス平坦部182の存在)に等しく選択される。等しいガラス経路の結果として、測定ビーム成分にとっての干渉計150への、および、戻り測定ビーム成分にとっての干渉計150からの光路長は、(ガラスの屈折率を変化させる)温度変化により引き起こされる光路長の全体的な変化にもかかわらず、一定に留まる。参照成分および測定成分にとってのガラスにおける等しい光路長は、PBS130および132に関しても見出される。したがって、干渉分析システム100は温度の変動に比較的感受性がない。
詳細に説明する。
α1=0 (2)
を維持するために要素110の向きをサーボすることである。条件α1=0が満たされた時、測定ビーム152の伝播の方向は対象ミラー154の反射表面に垂直である。さらに、分析器は、ビーム方向操作要素110に送られたサーボ制御信号、および、測定ビーム152を測定対象154に垂直にするために必要なビーム方向操作要素の対応する向きに基き、測定対象の角度上の向きの変化を計算可能である。
差分角度変位干渉計10は図3aに概略を示す。入力ビーム12はf1の周波数の差を有する直交に偏光された2つの成分からなる。入力ビーム12は、例えば図1の出力ビーム234に対応する。直交に偏光された2つの成分の偏光の平面は図3aの平面に対して45°の角度にある。入力ビーム12の2つの成分の伝播の方向は同じまたは他方と異なる方向であってよい。入力ビーム12は要素番号30により一般に示す隙間dを備えたエタロンに当たる。エタロン30の内部面における入力ビーム12の第1および第2の成分の入射角はそれぞれθo、1およびθo、2である。角度θo、1およびθo、2は、エタロン30による入力ビーム12の第1および第2の成分の伝送がそれぞれj=1,2に対してθo、j=0において可能な伝送における最大値を除き実質的に最大値になるように選択される。第1の実施形態の場合、差の角度(θo、2−θo、1)は対応する伝送ピークの角度幅より非常に大きい。
する)電気干渉信号28として検出器58により、好ましくは光電検出により検出される。
d=4mmのエタロン間隔の場合、R1=0.99、λ=633nm、n=1.000、かつ、[(θ0、2+θ0、1)/2]=0.0129radであり、θ0、1およびθ0、2の変化に対する位相φ1、2の感受性は以下のように表される。
以下の線幅への5つの困難な挑戦の1つであり、例えば、「Semiconduntor
Industry Roadmap」(1997)の82頁を参照されたい。
rcel Dekker,Inc.)、ニューヨーク、1998)におけるジェイ・アール・シーツ(J.R.Sheats)およびビー・ダヴリュ・スミス(B.W.Smith)を参照されたい。
の特許請求の範囲の範囲内となる。
Claims (33)
- 入力ビームを第1のビームと第2のビームに分離するために配置された第1の偏光ビーム・スプリッタと、
第1のビームが入力し、該第1のビームを導くために配置されたビーム方向操作要素と、
第1および第2のビームのうちの一方のビームを受けて測定対象に導き、測定対象から反射されて戻りビームを形成し、更に該第1および該第2のビームのうちの他方のビームを受けて基準対象に導き、基準対象から反射されて戻りビームを形成する、干渉計と、
該ビーム方向操作要素に結合して、動作中に該測定対象の面の向きの変化に応じて該ビーム方向操作要素の向きを調整する電子制御回路と、からなり、
該ビーム方向操作要素は、該第1のビームから得られる戻りビームではなく、該ビーム方向操作要素に入力した第2のビームから得られた戻りビームを導くために配置され、
該第1の偏光ビーム・スプリッタは該戻りビームを再結合して、出力ビームを形成する、干渉分析システム。 - 前記干渉計は、前記第1のビームを測定対象に導いて測定ビームを形成し、前記第2のビームを基準対象に導いて基準ビームを形成する請求項1に記載の干渉分析システム。
- 前記出力ビーム中の干渉分析情報を測定するための検出器システムを更に備える請求項1に記載のシステム。
- 前記検出器システムはファイバ光ピックアップ(FOP)および光検出器を含み、該FOPは前記出力ビームを該光検出器に結合するために配置される請求項3に記載のシステム。
- 前記ビーム方向操作要素に前記測定ビームが入力した後で、かつ、前記干渉計が前記測定ビームおよび前記基準ビームを導く前に、前記測定ビームおよび前記基準ビームを再結合し、前記干渉計の後に、かつ、前記戻り基準ビームが前記ビーム方向操作要素に接触する前に、前記戻り測定ビームおよび前記戻り基準ビームを分離するために配置される第2の偏光ビーム・スプリッタからさらになる請求項2に記載のシステム。
- 前記測定ビームおよび前記基準ビームは前記第2の偏光ビーム・スプリッタから前記干渉計まで第1の経路に沿って進行し、前記戻り測定ビームおよび前記戻り基準ビームは前記干渉計から前記第2の偏光ビーム・スプリッタまで第2の経路に沿って進行し、かつ、前記第1と前記第2の経路は異なる請求項5に記載のシステム。
- 前記測定ビームおよび前記戻り基準ビームは前記ビーム方向操作要素の同じ面に入力する請求項6に記載のシステム。
- 前記第2の経路は曲折する光学系を含む請求項7に記載のシステム。
- 前記曲折によって、前記出力ビームの測定ビーム成分および基準ビーム成分が前記測定対象の向きの変化範囲内では、互いに平行に伝播する請求項8に記載のシステム。
- 前記第1の経路の光路長は前記第2の経路の光路長に等しい請求項8に記載のシステム。
- 前記第2の経路を基準とした前記第1の経路の光路長は前記出力ビームの基準ビーム成分と測定ビーム成分の間の差分のビームシアを最小にすべく選択される請求項8に記載のシステム。
- 動作中、前記制御回路は前記ビーム方向操作要素に前記測定対象の向きの変化範囲内では垂直な入射角で前記測定対象に接触すべく前記測定ビームを導く請求項2に記載のシステム。
- 動作中、前記制御回路は、前記測定戻りビームおよび参照戻りビームに対応する前記出力ビームにおける成分間の伝播方向の差に対応する誤差信号に基き、前記ビーム方向操作要素の向きを調整する請求項2に記載のシステム。
- 動作中、前記制御回路は前記誤差信号を最小にすべく前記ビーム方向操作要素の向きを調整する請求項13に記載のシステム。
- 前記電子制御回路は前記誤差信号を発生すべく配置構成される差分角度変位干渉計を含む請求項13に記載のシステム。
- 前記入力ビームを生成するための光源をさらに含み、該入力ビームは前記第1および前記第2のビームに対応する直交偏光成分間のヘテロダイン周波数分裂を含む請求項1に記載のシステム。
- 前記測定対象は平面ミラーからなる請求項2に記載のシステム。
- 前記干渉計は、測定ビームを前記測定対象に1回のみ接触すべく、前記測定ビームを導く単一経路干渉計である請求項2に記載のシステム。
- 前記干渉計は、前記測定ビームを前記測定対象に、かつ、前記基準ビームを前記基準対象に導くために配置される偏光ビーム・スプリッタを含む請求項2に記載のシステム。
- 前記干渉計は、前記干渉計における前記偏光ビーム・スプリッタと前記基準対象の間に配置される基準1/4波長位相差板、および、前記干渉計における前記偏光ビーム・スプリッタと前記測定対象の間に配置される測定1/4波長位相差板からさらになる請求項19に記載のシステム。
- 入力ビームを第1のビームと第2のビームに分離する工程であって、該第1および該第2のビームは直交に偏光される工程と、
該第1のビームを導くためにビーム方向操作要素を使用し、該第1のビームは該ビーム方向操作要素に接触する工程と、
該第1および該第2のビームの一方を測定対象に導き、該測定対象は測定戻りビームを形成するために該1つのビームを反射する工程と、
該第1および該第2のビームの他方を基準対象に導き、該基準対象は基準戻りビームを形成するために該他の1つのビームを反射する工程と、
該第1のビームから導出される該戻りビームではなく、該第2のビームから導出される該戻りビームを導くために該ビーム方向操作要素を使用する工程であって、該第2のビームから導出される該戻りビームは該ビーム方向操作要素に接触する工程と、
出力ビームを形成するために該両戻りビームを結合する工程と、
該測定対象が向きを変化させるのに応じて該ビーム方向操作要素の向きを調整するために電子制御回路を使用する工程と、からなる干渉分析法。 - ウェハを支持するためのステージと、
該ウェハ上に空間的にパターニングされた放射光を結像させるための発光システムと、
該結像される放射光を基準として該ステージの位置を調整するための位置決めシステムと、
該結像される放射光を基準として該ウェハの位置をモニタするための請求項1に記載のシステムと、からなるウェハ上に集積回路を作製するために使用されるリソグラフィ・システム。 - ウェハを支持するためのステージと、
放射光源、マスク、位置決めシステム、レンズアセンブリおよび請求項1に記載の前記システムを含む発光システムと、からなり、
動作中、該光源は空間的にパターンニングされた放射光を生成するためにマスクを介して放射光を導き、該位置決めシステムは該光源からの該放射光を基準として該マスクの位置を調整し、該レンズアセンブリは該ウェハ上に該空間的にパターニングされた放射光を結像し、かつ、前記干渉分析システムは該光源からの該放射光を基準として該マスクの位置をモニタする、ウェハ上で集積回路を作製するために使用されるリソグラフィ・システム。 - 基板にパターンを形成するための書き込みビームを供給する光源と、
該基板を支持するステージと、
該書き込みビームを該基板に送るためのビーム導出アセンブリと、
該ステージと該ビーム差し向けアセンブリを、互いを基準として位置決めするための位置決めシステムと、
該ビーム差し向けアセンブリを基準として該ステージの位置をモニタするための請求項1に記載の前記システムと、からなるリソグラフィ用マスクの作成に使用するためのビーム書き込みシステム。 - 可動ステージ上にウェハを支持する工程と、
該ウェハ上に空間的にパターニングされた放射光を結像する工程と、
該ステージの位置を調整する工程と、
請求項21の前記方法を使用して該ステージの位置をモニタする工程と、
からなるウェハ上での集積回路を作製するために使用されるリソグラフィ法。 - 空間的にパターニングされた放射光を生成するためにマスクを介して入力放射光を導く工程と、
該入力放射光を基準として該マスクを位置決めする工程と、
請求項21の方法を使用して該入力放射光を基準として該マスクの位置をモニタする工程と、
ウェハ上に該空間的にパターニングされた放射光を結像する工程と、からなる集積回路の組立に使用するためのリソグラフィ法。 - 空間的にパターニングされた放射光にウェハを露光するために、リソグラフィ・システムの第2の構成部分を基準として該リソグラフィ・システムの第1の構成部分を位置決めする工程と、
請求項21の方法を使用して該第2の構成部分を基準として該第1の構成部分の位置をモニタする工程と、からなるウェハ上に集積回路を作成するためのリソグラフィ法。 - 請求項25の前記リソグラフィ法を含む集積回路を作成するための方法。
- 請求項26の前記リソグラフィ法を含む集積回路を作成するための方法。
- 請求項27の前記リソグラフィ法を含む集積回路を作成するための方法。
- 請求項22の前記リソグラフィ・システムを使用する工程を含む集積回路を作成するための方法。
- 請求項23の前記リソグラフィ・システムを使用する工程を含む集積回路を作成するための方法。
- 基板にパターンを形成するために該基板に書き込みビームを導く工程と、
該書き込みビームを基準として該基板を位置決めする工程と、
請求項21に記載の前記干渉分析法を使用して該書き込みビームを基準として該基板の位置をモニタする工程と、からなるリソグラフィ・マスクを作成するための方法。
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