JP4229406B2 - Conveying apparatus, grinding apparatus using the same, and conveying method - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、半導体ウェーハ等の被加工物を研削する際の搬送装置及びそれを用いた研削装置並びに搬送方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】
半導体ウェーハの面を研削するには例えば図3に示すような研削装置が用いられ、この研削装置においては、先ず複数枚の半導体ウェーハWを収容したカセット1から搬出入手段2によって半導体ウェーハWを1枚ずつ搬出すると共に、第1の待機テーブル3上に搬送し中心合わせする。次いで旋回アームを有する第1の搬送手段4によって第1の待機テーブル3上の半導体ウェーハを吸着し、ターンテーブル5のチャックテーブル6上に搬送して吸引保持する。
この後、ターンテーブル5を回転してチャックテーブル6を研削手段7の回転砥石の下に位置付け、半導体ウェーハ面を研削する。この場合、研削手段7は粗研削手段7aと仕上げ研削手段7bとが並設され、粗研削終了後に仕上げ研削する。
研削後、ターンテーブル5を回転して搬出位置(移し替え位置)に割り出し、洗浄手段8により研削済みの半導体ウェーハの研削面を、チャックテーブル6上に保持された状態で洗浄する。この洗浄後に、前記第1の搬送手段4と同じ構成の第2の搬送手段9によりチャックテーブル6上の半導体ウェーハを吸着してスピンナー洗浄手段10に搬送する。
スピンナー洗浄手段10でスピン洗浄及びスピン乾燥された後、前記第2の搬送手段9により吸着されて第2の待機テーブル11上に搬送され、最後に前記搬出入手段2により吸着されてカセット1内に収容される。これにて研削工程の1サイクルが終了するが、このサイクルはタイミングを取りながら連続的に繰り返し行われる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
前記の研削工程において、研削手段7による研削時にコンタミ(切削屑)が発生し、このコンタミは研削液内に混入して半導体ウェーハの上面に付着するのみならず、一部は半導体ウェーハの外周部からチャックテーブル6との僅かな隙間を介して下面側に回り込み、チャックテーブル6内に吸い込まれる。
研削終了後、前記洗浄手段8により半導体ウェーハの上面(研削面)は洗浄されるため、上面に付着しているコンタミは除去されるが下面側に回り込んだコンタミは除去されずに残留する。
ウェーハ洗浄後、前記第2の搬送手段9により半導体ウェーハを吸着する際に、チャックテーブル6の内部から水を噴出させて半導体ウェーハを浮き上がらせリリースするが、前記チャックテーブル6に吸い込まれたコンタミも吹き出され、先とは逆にそのコンタミが半導体ウェーハの外周部から上面側に回り込み、第2の搬送手段9の吸着パッド内に吸い込まれてしまう。
このため、第2の搬送手段9の吸着パッド面が汚れるばかりか、比較的短期間の内にバキューム配管内にも汚れが付着し、バルブ、配管等の寿命を縮めることとなる。又、吸着パッド面に付着したコンタミが固まり、半導体ウェーハを吸引保持する際半導体ウェーハを損傷させる原因となる。更に、スピンナー洗浄手段10で洗浄した半導体ウェーハを第2の待機テーブルに搬送する時に、汚れた吸着パッド面で汚染してしまう。そして、汚れが付着したままカセット1内に収容されることから、その後にウェーハ割れ等が発生する問題があった。
【0004】
本発明は、このような従来の問題を解決するためになされ、洗浄手段により半導体ウェーハの研削面を洗浄した後、第2の搬送手段で吸着する際にチャックテーブルのリリースに伴うコンタミの研削面への回り込みを阻止し、吸着パッド面の汚れを未然に防止できるようにした搬送装置及びそれを用いた研削装置並びに搬送方法を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】
この目的を達成するための技術的手段として、本発明は、被加工物を吸引保持する保持手段と、この保持手段によって保持された被加工物を搬送する搬送手段とから少なくとも構成される搬送装置であって、
前記保持手段は吸引部と、この吸引部の外周に配設され、リング状に形成されたシャワー部とから構成され、前記吸引部によって被加工物を吸引保持する際、前記シャワー部から水を噴出してウォーターカーテンを形成する搬送装置を要旨とする。
又、被加工物を吸引保持するチャックテーブルと、このチャックテーブルに保持された被加工物を研削する研削手段と、研削された被加工物をチャックテーブルから搬出し次の作業領域まで搬送する搬送装置と、から少なくとも構成される研削装置において、
前記搬送装置は上記の搬送装置を用いたことを要旨とする。
更に、前記研削装置を用いた搬送方法であって、
前記チャックテーブルに保持された被加工物を研削手段によって研削する研削工程と、
前記チャックテーブルに保持された状態で研削済みの被加工物の研削面を洗浄する洗浄工程と、
洗浄された被加工物の研削面に前記保持手段の吸引部が接触し吸引する吸引工程と、
この吸引工程において被加工物を吸引した状態で前記保持手段のシャワー部から水を噴出してウォーターカーテンを形成し、前記チャックテーブルからは被加工物を浮き上がらせるための水又は泡が噴出され被加工物をチャックテーブルから保持手段に移し替える移し替え工程と、
この移し替え工程において移し替えられた被加工物を前記搬送手段によって次の作業領域まで搬送する搬送工程と、から少なくとも構成される搬送方法を要旨とするものである。
【0006】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施の形態を添付図面に基づいて詳説する。但し、前記と同じ部材は同一の符号で示す。
図1及び図2は、本発明に係る搬送装置21の実施の形態を示すもので、円筒状の基体22に垂直回転軸23が配設され、この垂直回転軸23の上端部に搬送手段24の後端部が取り付けられ、垂直回転軸23の正逆回転により搬送手段24が水平面内を自在に旋回できるようにしてある。
【0007】
搬送手段24は、前記垂直回転軸23に固定されたアーム25を有し、このアーム25の中間部には長孔25aが形成され、先端部にはリング状のプレート26が固定され、円周方向に沿って複数(図では3個)の通孔26aが一定の間隔をあけて配設されている。又、アーム25の上部にはカバー27が取り付けられている。
【0008】
28は保持手段であり、吸引部29と、この吸引部29の外周に配設されたシャワー部30とから構成されている。吸引部29はポーラス部材からなり、円盤状の支持体31の下部に装着されており適宜の吸引源に連通している。この支持体31の外周部に沿って前記シャワー部30がリング状に形成され、斜め下向きのスリット孔30aが円周方向に沿って多数形成され、且つ要所には接続バルブ30bが設けられている。
【0009】
前記支持体31には、プレート26の通孔26aにそれぞれ対応させて3本の支柱31aが円周方向に立設され、これらの支柱31aを通孔26aにそれぞれ挿通すると共に、その上端部をすり割り付きアジャスタ32でそれぞれ締め付けることにより保持手段28を搬送手段24の先端部に吊り下げ保持してある。
アジャスタ32はその締め付けねじ32aの締付力を調整することで、保持手段28が上下動できるようにし、且つ支持体31とアーム25との間にはコイルバネ33をそれぞれ介設してある。つまり、保持手段28に適度のクッション性を付与してある。
【0010】
前記垂直回転軸23の内部には、通気路23aと通水路23bとが軸線方向に沿って並設され、これらは前記アーム25に形成された連通孔25bを介してそれぞれアーム25の上面に開口し、開口部には接続バルブ34、35がそれぞれ取り付けられている。36は垂直回転軸23を保護するカバーである。
【0011】
前記接続バルブ34には通気管37の一端部が接続され、この通気管37は前記カバー27内を通過すると共に、アーム25の長孔25aから下側に引き出され、他端部は前記支持体31の中心部に取り付けられた接続バルブ31bに接続されている。これにより、通気管37を介して通気路23aと前記吸引部29とが連通している。
【0012】
これと同様に、前記通水路23bの接続バルブ35には通水管38の一端部が接続され、この通水管38はカバー27内を通過すると共に、アーム25の長孔25aから下側に引き出され、他端部は前記シャワー部30の接続バルブ30bに接続されている。これにより、通水管38を介して通水路23bとシャワー部30とが連通している。
【0013】
このように構成された搬送装置21は、図3における第2の搬送手段9に置き換えて使用される。この研削装置で、被加工物である半導体ウェーハWがカセット1から搬出され、研削手段7によって研削加工され、研削後に搬出位置に割り出されて洗浄手段8により研削面が洗浄されるまでの工程は前記と同じである。
【0014】
洗浄手段8による洗浄工程は、前記と同様に半導体ウェーハがチャックテーブル6上に保持されたままの状態でなされ、洗浄後に搬送装置21の保持手段28の吸引部29により半導体ウェーハを吸着して前記スピンナー洗浄手段10に搬送する。
【0015】
吸引部29による半導体ウェーハの吸引工程において、半導体ウェーハを吸引した状態でシャワー部30から水を噴出してウォーターカーテンを形成し、前記チャックテーブル6からは半導体ウェーハを浮き上がらせるための水又は泡が噴出され、半導体ウェーハをチャックテーブル6から保持手段28に移し替える工程がなされる。
シャワー部30からの水の噴出は、前記垂直回転軸23の通水路23bに水が供給され、この水は通水管38を通過してシャワー部30内に流入すると共に、そのスリット孔30aから斜め下向きに放射されることによりなされる。又、吸引部29による吸引工程は、前記垂直回転軸23の通気路23a及び通気管37を介して内部の空気を搬送装置21内に配設された吸引源(図示せず)で吸引することによりなされる。
【0016】
従って、チャックテーブル6から保持手段28への移し替え工程において、シャワー部30から放射された水によって、上面側に回り込もうとするコンタミを阻止することができる。このコンタミは、前記のように研削工程によって生じたコンタミであって、研削後洗浄手段8による洗浄時に半導体ウェーハの外周部から下面側に回り込んでチャックテーブル6に吸引されて残留し、半導体ウェーハのリリースの際にチャックテーブル6から噴出された水と共に半導体ウェーハの上面側に回り込もうとするものである。
【0017】
このようにして、半導体ウェーハの上面側に回り込むコンタミを阻止するため半導体ウェーハの上面にコンタミが付着することはなく、且つ吸引部29の吸引面からコンタミが吸引されずコンタミにより汚染されることもない。
【0018】
吸引部29により吸着された半導体ウェーハは、前記のようにスピンナー洗浄手段10に搬送されてスピン洗浄及びスピン乾燥がなされ、その後前記搬送装置21の吸引部29により再度吸着され、第2の待機テーブル11に搬送される。この時、吸引部29の吸着面はコンタミにより汚染されていないため、半導体ウェーハの上面を汚すことはない。
【0019】
第2の待機テーブル11上に搬送された半導体ウェーハは、前記搬出入手段2により吸着されてカセット1内に収容される。従って、カセット1内に収容された半導体ウェーハは、コンタミによる汚れが付着しておらず、後でウェーハ割れ等の異常が発生することはない。
【0020】
尚、前記洗浄手段8は研削後の半導体ウェーハの上面を洗浄するだけでなく、半導体ウェーハがスピンナー洗浄手段10に搬送された後に、チャックテーブル6の上面を洗浄するのに使用されることもある。
又、研削工程のルートは本実施形態のものに限定されず、例えば図3のようにカセット1の対向位置に別のカセット1′を載置し、このカセット1′内に半導体ウェーハを最終的に収容したり、或はカセット1′内に未処理の半導体ウェーハを収容し、研削ルートを対向位置に2通り設定する等の変更が可能である。更に、カセットの載置場所は仮想線で示す位置にしても良い。これらは被加工物の種類や研削条件等によって適宜選択することが可能である。
【0021】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明によれば、半導体ウェーハ等被加工物の研削において、研削後洗浄した被加工物を次の作業領域即ちスピンナー洗浄手段に搬送する搬送装置の吸引部にシャワー部を設け、被加工物を吸引した状態でシャワー部から水を噴射させて被加工物の上面側に回り込むコンタミを阻止するようにしたので、吸引部のコンタミ汚れを未然に防止することができる。従って、スピンナー洗浄処理後にこの吸引部で半導体ウェーハを吸着して待機テーブルに搬送する際に半導体ウェーハを汚染することがない。これにより、コンタミ汚染に起因する半導体ウェーハの割れ等を防止する効果を奏する。
又、吸引経路も汚染されず搬送装置の洗浄の手間が省けると共に、寿命が長くなるという効果も奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る搬送装置の実施形態を示す要部概略断面図
【図2】同、一部省略した上面図
【図3】研削装置の一例を示す全体斜視図
【符号の説明】
1…カセット
2…搬出入手段
3…第1の待機テーブル
4…第1の搬送手段
5…ターンテーブル
6…チャックテーブル
7…研削手段
8…洗浄手段
9…第2の搬送手段
10…スピンナー洗浄手段
11…第2の待機テーブル
21…搬送装置
22…基体
23…垂直回転軸
24…搬送手段
25…アーム
26…プレート
27…カバー
28…保持手段
29…吸引部
30…シャワー部
31…支持体
32…アジャスタ
33…コイルバネ
34、35…接続バルブ
36…カバー
37…通気管
38…通水管
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a transport apparatus for grinding a workpiece such as a semiconductor wafer, a grinding apparatus using the transport apparatus, and a transport method.
[0002]
[Prior art]
In order to grind the surface of the semiconductor wafer, for example, a grinding apparatus as shown in FIG. 3 is used. In this grinding apparatus, first, the semiconductor wafer W is removed from the cassette 1 containing a plurality of semiconductor wafers W by the loading / unloading means 2. While carrying out one sheet at a time, it is conveyed onto the first standby table 3 and centered. Next, the semiconductor wafer on the first standby table 3 is sucked by the first transfer means 4 having a turning arm, transferred onto the chuck table 6 of the turntable 5 and sucked and held.
Thereafter, the turntable 5 is rotated so that the chuck table 6 is positioned under the rotating grindstone of the grinding means 7 and the semiconductor wafer surface is ground. In this case, the grinding means 7 includes a rough grinding means 7a and a finish grinding means 7b arranged side by side, and finish grinding after finishing the rough grinding.
After grinding, the turntable 5 is rotated and indexed to the carry-out position (transfer position), and the ground surface of the ground semiconductor wafer is cleaned by the cleaning means 8 while being held on the chuck table 6. After this cleaning, the semiconductor wafer on the chuck table 6 is sucked and transferred to the spinner cleaning means 10 by the second transfer means 9 having the same configuration as the first transfer means 4.
After spin cleaning and spin drying by the spinner cleaning means 10, they are sucked by the second transport means 9 and transported onto the second standby table 11, and finally sucked by the carry-in / out means 2 and stored in the cassette 1. Is housed in. This completes one cycle of the grinding process, and this cycle is repeated continuously with timing.
[0003]
[Problems to be solved by the invention]
In the above grinding process, contamination (cutting chips) is generated during grinding by the grinding means 7, and this contamination is not only mixed in the grinding liquid and adheres to the upper surface of the semiconductor wafer, but also a part of the outer periphery of the semiconductor wafer. Then, it goes around to the lower surface side through a slight gap with the chuck table 6 and is sucked into the chuck table 6.
After the grinding is completed, the upper surface (grind surface) of the semiconductor wafer is cleaned by the cleaning means 8, so that the contaminants adhering to the upper surface are removed, but the contaminants that have gone around to the lower surface side remain without being removed.
When the semiconductor wafer is adsorbed by the second transfer means 9 after the wafer cleaning, water is ejected from the inside of the chuck table 6 to lift and release the semiconductor wafer. The contamination sucked into the chuck table 6 is also Contrary to the above, the contamination is blown from the outer peripheral portion of the semiconductor wafer to the upper surface side, and is sucked into the suction pad of the second transfer means 9.
For this reason, not only the suction pad surface of the second transport means 9 is soiled, but also dirt is deposited in the vacuum piping within a relatively short period of time, and the life of the valves, piping, etc. is shortened. In addition, the contaminants adhering to the suction pad surface harden, causing damage to the semiconductor wafer when the semiconductor wafer is sucked and held. Further, when the semiconductor wafer cleaned by the spinner cleaning means 10 is transported to the second standby table, it is contaminated by the dirty suction pad surface. And since it was accommodated in the cassette 1 with dirt adhering, there existed a problem that a wafer crack etc. generate | occur | produced after that.
[0004]
The present invention has been made to solve such a conventional problem, and after cleaning the ground surface of the semiconductor wafer by the cleaning means, the contaminated ground surface accompanying the release of the chuck table when sucked by the second transport means. It is an object of the present invention to provide a conveying apparatus that prevents the wraparound from being squeezed and prevents contamination of the suction pad surface, a grinding apparatus using the conveying apparatus, and a conveying method.
[0005]
[Means for Solving the Problems]
As a technical means for achieving this object, the present invention provides a conveying apparatus comprising at least a holding means for sucking and holding a workpiece and a conveying means for conveying the workpiece held by the holding means. Because
The holding means is composed of a suction part and a shower part disposed on the outer periphery of the suction part and formed in a ring shape. When the workpiece is sucked and held by the suction part, water is supplied from the shower part. The gist of the transport device is to eject the water curtain .
Further, a chuck table for sucking and holding the workpiece, a grinding means for grinding the workpiece held on the chuck table, and a conveyance for carrying the ground workpiece from the chuck table to the next work area. And a grinding apparatus comprising at least the apparatus,
The gist of the present invention is that the above-described transport device is used.
Further, a conveying method using the grinding apparatus,
A grinding step of grinding the workpiece held on the chuck table by a grinding means;
A cleaning step of cleaning the ground surface of the workpiece that has been ground while being held by the chuck table;
A suction step in which the suction part of the holding means comes into contact with and sucks the ground surface of the cleaned workpiece;
In this suction step, water is ejected from the shower portion of the holding means in a state in which the workpiece is sucked to form a water curtain, and water or bubbles for floating the workpiece are ejected from the chuck table. A transfer step of transferring the workpiece from the chuck table to the holding means;
The gist of the present invention is a conveyance method comprising at least a conveyance step of conveying the workpiece transferred in the transfer step to the next work area by the conveyance means.
[0006]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the same members as those described above are denoted by the same reference numerals.
1 and 2 show an embodiment of a conveying device 21 according to the present invention. A vertical rotating shaft 23 is disposed on a cylindrical base body 22, and conveying means 24 is disposed at the upper end of the vertical rotating shaft 23. A rear end portion is attached so that the conveying means 24 can freely turn in a horizontal plane by forward and reverse rotation of the vertical rotation shaft 23.
[0007]
The conveying means 24 has an arm 25 fixed to the vertical rotating shaft 23, a long hole 25 a is formed in the middle part of the arm 25, and a ring-shaped plate 26 is fixed to the tip part, A plurality (three in the figure) of through holes 26a are arranged at regular intervals along the direction. A cover 27 is attached to the upper portion of the arm 25.
[0008]
Reference numeral 28 denotes a holding unit, which includes a suction part 29 and a shower part 30 disposed on the outer periphery of the suction part 29. The suction part 29 is made of a porous member, is attached to the lower part of a disk-shaped support 31 and communicates with an appropriate suction source. The shower portion 30 is formed in a ring shape along the outer peripheral portion of the support 31, a large number of obliquely downward slit holes 30 a are formed along the circumferential direction, and a connection valve 30 b is provided at an important point. Yes.
[0009]
The support 31 is provided with three support columns 31a extending in the circumferential direction so as to correspond to the through holes 26a of the plate 26. The support members 31a are inserted through the through holes 26a, respectively, and the upper end portions thereof are formed. The holding means 28 is suspended and held at the tip of the conveying means 24 by tightening with the adjusters 32 with slits.
The adjuster 32 adjusts the tightening force of the tightening screw 32a so that the holding means 28 can be moved up and down, and a coil spring 33 is interposed between the support 31 and the arm 25, respectively. That is, an appropriate cushioning property is given to the holding means 28.
[0010]
Inside the vertical rotating shaft 23, an air passage 23a and a water passage 23b are juxtaposed along the axial direction, and these open to the upper surface of the arm 25 through communication holes 25b formed in the arm 25, respectively. Connection valves 34 and 35 are respectively attached to the openings. A cover 36 protects the vertical rotation shaft 23.
[0011]
One end of a vent pipe 37 is connected to the connection valve 34, and the vent pipe 37 passes through the cover 27 and is drawn downward from the long hole 25a of the arm 25, and the other end is the support body. It is connected to a connection valve 31b attached to the center of 31. As a result, the air passage 23 a and the suction part 29 communicate with each other through the air pipe 37.
[0012]
Similarly, one end of a water conduit 38 is connected to the connection valve 35 of the water passage 23b. The water conduit 38 passes through the cover 27 and is drawn downward from the long hole 25a of the arm 25. The other end is connected to the connection valve 30 b of the shower unit 30. Thereby, the water flow path 23b and the shower part 30 are connected via the water flow pipe 38.
[0013]
The transport device 21 configured in this way is used in place of the second transport means 9 in FIG. In this grinding apparatus, the semiconductor wafer W as a workpiece is unloaded from the cassette 1, ground by the grinding means 7, indexed to the unloading position after grinding, and the ground surface is cleaned by the cleaning means 8. Is the same as above.
[0014]
The cleaning process by the cleaning unit 8 is performed in a state where the semiconductor wafer is held on the chuck table 6 in the same manner as described above. After the cleaning, the semiconductor wafer is adsorbed by the suction unit 29 of the holding unit 28 of the transfer device 21 and the above described. It is conveyed to the spinner cleaning means 10.
[0015]
In the suction process of the semiconductor wafer by the suction part 29, water or bubbles for ejecting water from the shower part 30 in a state where the semiconductor wafer is sucked to form a water curtain, and floating the semiconductor wafer from the chuck table 6. A step of transferring the semiconductor wafer from the chuck table 6 to the holding means 28 is performed.
When water is ejected from the shower section 30, water is supplied to the water passage 23b of the vertical rotating shaft 23. This water passes through the water pipe 38 and flows into the shower section 30 and is obliquely formed from the slit hole 30a. This is done by radiating downward. In the suction process by the suction unit 29, the air inside is sucked by a suction source (not shown) disposed in the transport device 21 through the ventilation path 23 a and the ventilation pipe 37 of the vertical rotation shaft 23. Is made by
[0016]
Therefore, in the transfer process from the chuck table 6 to the holding means 28, contamination that tends to go around to the upper surface side by water radiated from the shower unit 30 can be prevented. This contamination is the contamination caused by the grinding process as described above, and when it is cleaned by the post-grinding cleaning means 8, it goes around from the outer peripheral portion of the semiconductor wafer to the lower surface side and is sucked into the chuck table 6 and remains. At the time of release of the semiconductor wafer, it is intended to go around to the upper surface side of the semiconductor wafer together with water ejected from the chuck table 6.
[0017]
In this way, contamination is prevented from adhering to the upper surface of the semiconductor wafer in order to prevent contamination that goes around to the upper surface side of the semiconductor wafer, and contamination is not attracted from the suction surface of the suction part 29 and may be contaminated by contamination. Absent.
[0018]
The semiconductor wafer adsorbed by the suction unit 29 is transported to the spinner cleaning means 10 as described above, subjected to spin cleaning and spin drying, and then again adsorbed by the suction unit 29 of the transport device 21 to obtain a second standby table. 11 is conveyed. At this time, since the suction surface of the suction part 29 is not contaminated by contamination, the upper surface of the semiconductor wafer is not soiled.
[0019]
The semiconductor wafer transferred onto the second standby table 11 is adsorbed by the carry-in / out means 2 and accommodated in the cassette 1. Therefore, the semiconductor wafer accommodated in the cassette 1 is not contaminated by contamination, and an abnormality such as a wafer crack does not occur later.
[0020]
The cleaning means 8 may be used not only for cleaning the upper surface of the semiconductor wafer after grinding, but also for cleaning the upper surface of the chuck table 6 after the semiconductor wafer is transferred to the spinner cleaning means 10. .
The route of the grinding process is not limited to that of the present embodiment. For example, as shown in FIG. 3, another cassette 1 'is placed at the opposite position of the cassette 1, and the semiconductor wafer is finally placed in this cassette 1'. It is possible to make a change such as storing the unprocessed semiconductor wafer in the cassette 1 'and setting the grinding route in two ways at the opposing positions. Furthermore, the cassette mounting location may be a position indicated by a virtual line. These can be appropriately selected depending on the type of workpiece, grinding conditions, and the like.
[0021]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, in grinding a workpiece such as a semiconductor wafer, the shower unit is provided in the suction unit of the transport device that transports the workpiece cleaned after grinding to the next work area, that is, the spinner cleaning means. In the state where the workpiece is sucked, water is sprayed from the shower unit to prevent contamination that goes around to the upper surface side of the workpiece, so that contamination of the suction unit can be prevented in advance. Therefore, the semiconductor wafer is not contaminated when the semiconductor wafer is adsorbed by the suction unit and transferred to the standby table after the spinner cleaning process. Thereby, there exists an effect which prevents the crack etc. of the semiconductor wafer resulting from contamination.
In addition, the suction path is not contaminated, and it is possible to save the trouble of cleaning the transfer device and to prolong the service life.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a schematic cross-sectional view of an essential part showing an embodiment of a conveying apparatus according to the present invention. FIG. 2 is a top view partially omitted. FIG. 3 is an overall perspective view showing an example of a grinding apparatus.
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Cassette 2 ... Carry-in / out means 3 ... 1st standby table 4 ... 1st conveyance means 5 ... Turntable 6 ... Chuck table 7 ... Grinding means 8 ... Cleaning means 9 ... 2nd conveyance means 10 ... Spinner washing means DESCRIPTION OF SYMBOLS 11 ... 2nd standby table 21 ... Conveying device 22 ... Base | substrate 23 ... Vertical rotating shaft 24 ... Conveying means 25 ... Arm 26 ... Plate 27 ... Cover 28 ... Holding means 29 ... Suction part 30 ... Shower part 31 ... Support body 32 ... Adjuster 33 ... Coil springs 34, 35 ... Connection valve 36 ... Cover 37 ... Vent pipe 38 ... Water pipe

Claims (3)

被加工物を吸引保持する保持手段と、この保持手段によって保持された被加工物を搬送する搬送手段とから少なくとも構成される搬送装置であって、
前記保持手段は吸引部と、この吸引部の外周に配設され、リング状に形成されたシャワー部とから構成され、前記吸引部によって被加工物を吸引保持する際、前記シャワー部から水を噴出してウォーターカーテンを形成する搬送装置。
A conveying device comprising at least holding means for sucking and holding a workpiece and conveying means for conveying the workpiece held by the holding means,
Said holding means comprises a suction unit is disposed on the outer periphery of the suction unit is composed of a shower unit which is formed in a ring shape, when sucking and holding the workpiece by the suction unit, the water from the shower unit A transfer device that forms a water curtain by jetting .
被加工物を吸引保持するチャックテーブルと、このチャックテーブルに保持された被加工物を研削する研削手段と、研削された被加工物をチャックテーブルから搬出し次の作業領域まで搬送する搬送装置と、から少なくとも構成される研削装置において、
前記搬送装置は請求項1記載の搬送装置であることを特徴とする研削装置。
A chuck table for sucking and holding the workpiece, a grinding means for grinding the workpiece held on the chuck table, a conveying device for carrying the ground workpiece from the chuck table to the next work area, and In a grinding device comprising at least
Grinding device the transport device, characterized in that the conveying apparatus according to claim 1 Symbol placement.
請求項記載の研削装置における搬送方法であって、
前記チャックテーブルに保持された被加工物を研削手段によって研削する研削工程と、
前記チャックテーブルに保持された状態で研削済みの被加工物の研削面を洗浄する洗浄工程と、
洗浄された被加工物の研削面に前記保持手段の吸引部が接触し吸引する吸引工程と、
この吸引工程において被加工物を吸引した状態で前記保持手段のシャワー部から水を噴出してウォーターカーテンを形成し、前記チャックテーブルからは被加工物を浮き上がらせるための水又は泡が噴出され被加工物をチャックテーブルから保持手段に移し替える移し替え工程と、
この移し替え工程において移し替えられた被加工物を前記搬送手段によって次の作業領域まで搬送する搬送工程と、から少なくとも構成される搬送方法。
It is a conveyance method in the grinding device according to claim 2 ,
A grinding step of grinding the workpiece held on the chuck table by a grinding means;
A cleaning step of cleaning the ground surface of the workpiece that has been ground while being held by the chuck table;
A suction step in which the suction part of the holding means comes into contact with and sucks the ground surface of the cleaned workpiece;
In this suction step, water is ejected from the shower portion of the holding means in a state in which the workpiece is sucked to form a water curtain, and water or bubbles for floating the workpiece are ejected from the chuck table. A transfer step of transferring the workpiece from the chuck table to the holding means;
A transfer method comprising at least a transfer step of transferring the workpiece transferred in the transfer step to the next work area by the transfer means.
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