JP4222764B2 - 検査用照明装置 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、工場等において製品に光を照射して製品の外観や傷等の検査を行う場合に特に有効に用いることができ、又、基板への電子部品等の装着を行う時の位置合わせ等に用いられる検査用照明装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
上記検査用照明装置においては、例えば本願出願人が先に提案している特開2002−8410に示されるものが挙げられる。
これは、ほぼ中心に開口が形成された環状の基板に多数の発光ダイオードを敷き詰め、各発光ダイオードから照射される光を同一箇所に集光させるためのフレネルレンズを発光ダイオードの照射面側に配置し、前記開口からCCDカメラのレンズを貫通させた状態で配置することにより、発光ダイオードからの光を検査対象物に照射して反射してきた光をCCDカメラのレンズに取り込み、その取り込んだ光を画像処理してモニター等に映し出して各種の検査が行えるようにしている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】
図5に前述した従来の構成による原理図を示している。(分かり易くするために、図では1個の発光ダイオード21のみ示している)これは、発光ダイオード21から発する光を見ると、光軸付近ではほぼ平行な光(平行光)を発しているものの、光軸から外側に向かっていくに従って徐々に照射角(視野角)が拡がっていく特性を有している。このことから、発光ダイオードの光軸上付近のほぼ平行光は、フレネルレンズ22にて屈折させて検査対象物23の同一箇所Sに集光させることができるのであるが、光軸から外側に位置する平行光でない照射角が拡がっている光をフレネルレンズ22にて前記同一箇所Sに集光させることができず、検査対象物23に対してある範囲Lに散らばった状態で照射されることになる。そのため、フレネルレンズ22にて同一箇所に集光させることができない光が発生すればするほど、強い光を得ることができず、特に半導体等の小さな電子部品等の検査を行う場合等において光量が不十分になり、検査精度の低下等を招く不都合が発生していた。因みに、指向性の狭い(照射角の小さな)発光ダイオードを用いることによって、前記範囲Lを小さくして前記不都合をある程度解消することができるものの、同一箇所に集光させることができないだけでなく、指向性の狭い発光ダイオードは光量が少なく根本的な解消にはならないものであり、改善の余地がある。
又、前記光量を増大するために多数の発光ダイオードを配置することが考えられるが、照明装置全体の大型化による取扱性の悪化を招くだけでなく、発光ダイオードの温度上昇による光度低下を招いたり、レンズや基板の変形等のトラブル発生を招く他、消費電力の増大によるランニングコストの高騰等を招く不都合もある。
【0004】
本発明が前述の状況に鑑み、解決しようとするところは、発光体の個数を増大させることなく、光量の増大化を図ることができる検査用照明装置を提供する点にある。
【0005】
【課題を解決するための手段】
本発明の検査用照明装置は、前述の課題解決のために、検査対象物に照射するための発光体の複数をリング状1列に配置し、前記発光体から照射される光又は前記発光体から照射される光を光ファイバー等の光案内部材を介して案内された光を、平行光にするために該発光体から照射される光のうち所定の指向角を有する光直接入射するように第1レンズを該発光体の照射面側又は該光案内部材の光射出面側において該発光体又は該光案内部材と近接配置し、前記第1レンズからの平行光を検査対象物のほぼ同一箇所に集光させるため第2レンズを該第1レンズの前方に配置して、構成した。
上記のように発光体から照射される照射光、又は発光体から照射される光を光ファイバー等の光案内部材を介して案内された光を、第1レンズにより平行光に変換し、変換された平行光を第2レンズにて集光させる構成にすることによって、従来のように外側に拡がってしまう光、つまり検査対象物の同一箇所に照射することができなかった光をも、検査対象物の同一箇所に照射させることができ、光量を飛躍的に増大させることができる。つまり、図4に示すように、発光ダイオード2からの光を第1レンズ3にて平行光に変換することによって、変換された平行光を第2レンズ6にて屈折させて検査対象物5の同一箇所Sに集光させることができるのである。
【0006】
前記第1レンズを、前記発光体に対応させて配置したレンズアレイから構成することによって、各発光体からの照射光を確実に平行光に変換することができ、変換ロスによる光量の減少を抑制することができる。尚、前記光の照射方向と直交する方向で隣り合うレンズアレイの複数を一体化しておくことによって、レンズアレイの組み付け作業を迅速に行うことができる。
【0007】
前記複数の発光体を環状に配置し、それら発光体群のほぼ中心部に検査対象物に照射して反射してきた光を取り込むための撮像手段のレンズを挿入可能な開口を形成することによって、コンパクト(小型)な検査装置を構成することができる。
【0008】
前記発光体、第1レンズ、第2レンズを収納するためのケーシングに、前記撮像手段のレンズを支持するための支持部を備えさせ、前記ケーシングの一部に前記発光体により発生する熱を放熱するための放熱フィンを兼用構成している。
撮像手段のレンズを支持部に支持させることによって、請求項2と同様にコンパクト(小型)な検査装置を構成することができる。又、ケーシングの一部を利用して発光体から発生する熱を外部に放出することができるから、部品点数の削減化を図りながらも、発光体の温度上昇による光度低下を効率よく抑制することができるだけでなく、レンズや基板の変形等のトラブル発生を防止することができる。
【0011】
【発明の実施の形態】
図1及び図2に、本発明の検査用照明装置が示されている。この検査用照明装置は、中央に開口1Aが形成されたほぼ円環状(楕円環状や角環状等であってもよい)の基板1上に、照射面が前方に向いた状態で1つの円周上に沿って複数(図では10個であるが、装置の大きさや使用目的等に応じて個数は自由に変更することができる)の発光体としての発光ダイオード2を取り付け、前記各発光ダイオード2から照射される照射光を平行光にするための第1レンズとしての透明な2個が連なったレンズアレイ3の5個を、各発光ダイオード2の照射面側に位置させた状態で中央に開口4Aが形成されると共に後述のケーシング7に固定された透明な円環状(発光ダイオード2の配置によって形状は自由に変更できる)のレンズ取付板4に取り付け、前記レンズアレイ3からの平行光を集光させると共に各発光ダイオード2からの光軸2Aを検査対象物(ワーク)5の同一箇所に集中させるための第2レンズとしてのフレネルレンズ6を前記第1レンズ3の前方に配置している。尚、ここでは、発光ダイオード2からの光を第1レンズ3に直接照射する構成としているが、発光ダイオード2からの光を光ファイバー等の光案内部材(図示していない)を介して案内された光を第1レンズ3に照射する構成であってもよい。
前記発光ダイオード2を1つの円周上(円の他、楕円又は角でもよい)に配置することによって、装置の小型化を図ることができるが、2つ以上の円周上に配置してもよいし、円周上に整列した状態ではなくランダムに配置することもできる。又、前記フレネルレンズ6は、前記取付板4と同様に中央に開口6Aが形成された円環状(前記レンズ取付板4と同様に変更可能である)に形成されている。前記のように各発光ダイオード2からの光軸2Aを検査対象物5の同一箇所に集中させる場合がその集中箇所においてより強い光を照射することができる利点があるが、検査の内容等によっては検査に支障のない程度であれば多少ずれた箇所、つまりほぼ同一箇所に各発光ダイオード2からの光軸2Aが位置するように構成してもよい。前記レンズアレイ3を2個が連なったものから構成することによって、1個ずつのものを前記レンズ取付板4に取り付けるものに比べて取り付け作業において有利であるが、1個ずつのレンズアレイであってもよいし、又、3個以上が連なったものや、全てが連なったものでもよく、連なる個数が多いほど部品点数の削減化を図ることができると共に組み付け作業が有利になる。又、前記第1レンズ3としては、前記レンズアレイの他、ボールレンズ等でもよく、発光ダイオード2からの光を平行光に変換できるものであれば、どのような構成のものであってもよい。又、第2レンズ6としては、フレネルレンズを用いることによって、小型軽量化を図れる利点はあるが、通常の凸レンズ(複合レンズも含む)等、第1レンズ3からの光を集光させるものであれば、どのような構成のものであってもよい。図1に示す14は、電源コードである。
【0012】
前記発光ダイオード2、第1レンズとしての前記レンズアレイ3、第2レンズとしての前記フレネルレンズ6は、ケーシング7内に収納されている。
図1に示すように、前記ケーシング7は、光照射側に位置し、かつ、光照射側(先端側)ほど先窄まり形状に形成されたほぼ円錐型で筒状の金属製(他の材料でもよい)の前側ケーシング部8と、この前側ケーシング部8の後端側に連結され、かつ、後端に撮像手段であるカメラのレンズ10を挿入可能な開口が形成されると共に該レンズ10を支持するための支持部11をねじ止め可能にするための円環状の取付部9Aを備えた金属製の後側ケーシング部9とからなっているが、ケーシング7の形状及び具体的構成は、図に示すものに限定されるものではない。又、前記後側ケーシング部9の外面9Bには、環状の凹凸部が形成され、前記発光ダイオード2から発生する熱を外部に放出するための放熱フィンを構成している。前記前側ケーシング部8にも放熱フィンを備えさせて実施してもよい。又、前記放熱フィンに代えて外部に内部の熱を放出するための放熱ファンを内部に、設けてもよいし、又、放熱フィンに加えて、放熱ファンを内部に設けて更に放熱効果を高めるようにしてもよい。ここでは、レンズ10を円周上に配置された発光ダイオード2の内周の開口に配置することによって、小型の(コンパクトな)検査装置(ここではレンズ10を取り付けて使用する場合を検査装置と称し、レンズ10を用いていない場合を単に検査用照明装置と称するものとする)を構成することができるものを示しているが、レンズ10を装着するための開口や支持部11のない単なる検査用照明装置であってもよい。前記レンズ10を支持部11に装着せず、その支持部11の開口を通して検査対象物から反射してきた光を目視してもよいし、又、支持部11を取り外した状態で目視してもよい。又、前記検査装置及び検査用照明装置は、主として工場や検査室等において半導体等の小さな製品の検査の他、半導体の実装時の位置合わせのためのもの等、他の目的で用いてもよい。
【0013】
前記支持部11は、前記レンズ10を内挿して保持するための円筒状部11Bと、この円筒状部11Bの先端(前端)外面に一体形成された円盤状のフランジ部11Aとからなっているが、他の形状であってもよい。前記円筒状部11Bを前記取付部9Aの中央に形成の開口を通してケーシング7内に挿入した時に前記フランジ部11Aの前端面が接当して支持部11の位置決めを行い、この状態でボルトBにより固定することができるようになっているが、溶接等により取り外し不能に支持部11を備えさせてもよいし、取付部9Aに支持部11を一体形成して構成してもよい。図1及び図2に示すNは、円筒状部11Bにレンズ10をそれの先端が図1に示すように3位置(2点鎖線で示す)のいずれかに位置する場合でも固定できるように円筒状部11Bの長手方向2箇所(3箇所以上でもよい)に備えさせたねじであり、又、周方向にも2箇所(3箇所以上でもよい)にも前記ねじNを備えさせている。又、前記支持部には、外部に連通する開口11Kが形成されており、この開口11Kを通して内部に発生する熱気を外部に放出することができるようにしている。
【0014】
前記前側ケーシング部8の先端に形成された開口8Aには、射出面12Aが円弧状に形成され、かつ、光入射面12Bが偏平で、しかも前記光軸2Aに対して垂直な面をなすように形成された透明な拡散部材としての拡散ドーム12を装着しており、前記第2レンズ6からの光を拡散させて検査対象物5の特定箇所(特定範囲)へ均一に光を照射することができるようにしてあり、検査内容に応じて装着したり、非装着状態にすることにより検査範囲を拡大させることができる利点があるが、全く無い状態で実施することもできる。図に示す12Cは、前記レンズ10への光を通過させるための光通過用孔である。前記拡散ドーム12は、透明アクリル材を前記のような形状に加工した後、光射出面(検査対象物側の面)12Aをブラスト処理等を施すことにより光射出面12Aにおいて光を拡散させることができる構成にする他、半透明の部材で構成する等、比較的安価な構成にしているが、拡散レンズ等から構成することもできる。又、前記拡散ドーム12は、光射出面12Aを光入射面側へ凹んだ凹状に形成することによって、検査対象物5が小さなものであれば、光射出面12A側の凹部にて形成される空間内に検査対象物5の一部又は全部を突出位置させた状態で該検査対象物5に光を照射させて検査することもできる。又、前記光射出面12Aを、球面状、つまり図においてそれの断面形状がほぼ半円状にしているが、それの断面形状がほぼ三角形状のものの他、偏平なシート状のもの等から構成することもできる。又、図1では、光射出面12Aを光軸2Aと垂直となるように形成したが、図3に示すように光入射面12Bと同一の曲率半径(異なる曲率半径でもよい)を有する拡散ドーム12であってもよい。図3で示した他の構成は、図1のものと同一であるため、同一の符号を付すと共に説明を省略している。
【0015】
前記基板1の裏面と前記後側ケーシング9の取付部9Aの内面との間に熱伝導性の材13を備えさせているが、省略して実施することもできる。前記材13としては、熱伝導性を向上させる為の適当な充填材(例えば熱伝導性のよいセラミック粒子等)を充填したシリコーンエラストマーシート等の固形物の他、ゲル状に構成された半固形のものやグリス等の液状のものを用いることができる。
【0016】
【発明の効果】
請求項1の発明によれば、発光体から照射される照射光又は発光体から照射される光を光ファイバー等の光案内部材を介して案内された光を、第1レンズにより平行光に変換し、変換された平行光を第2レンズにて集光させる構成にすることによって、従来のように外側に拡がってしまう光、つまり検査対象物の同一箇所に照射することができなかった光をも光軸又は光軸付近に集光させて、検査対象物の同一箇所に照射させる光量を飛躍的に増大させることができ、発光体の個数を増大させることなく、強い光による照明を行うことができることから、装置の小型化やランニングコストの低減を図ることができるだけでなく、発光体から発生する熱によるレンズや基板の変形等のトラブル発生を防止することができる信頼性の高い検査用照明装置を提供することができる。
【0017】
請求項2の発明によれば、第1レンズを、前記発光体に対応させて配置したレンズアレイから構成することによって、各発光体からの照射光を確実に平行光に変換することができ、変換ロスによる光量の減少を抑制することができ、より強い光を得ることができる。
【0018】
請求項3の発明によれば、複数の発光体を環状に配置し、それら発光体群のほぼ中心部に検査対象物に照射して反射してきた光を取り込むための撮像手段のレンズを挿入可能な開口を形成することによって、コンパクト(小型)な検査装置を構成することができ、特に半導体等の小さな検査対象物を検査する場合に取扱上において有効となる。
【0019】
請求項4の発明によれば、撮像手段のレンズを支持部に支持させることによって、請求項2と同様にコンパクト(小型)な検査装置を構成することができ、特に半導体等の小さな検査対象物を検査する場合に取扱上において有効となる。又、ケーシングの一部を利用して発光体から発生する熱を外部に放出することができるから、部品点数の削減化を図りながらも、発光体の温度上昇による光度低下を効率よく抑制することができるだけでなく、レンズや基板の変形等のトラブル発生を防止することができる信頼性の高いものに構成することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】検査用照明装置の縦断側面図である。
【図2】検査用照明装置の縦断正面図である。
【図3】形状の異なる拡散ドームを装着した検査用照明装置の縦断側面図である。
【図4】発光ダイオードからの光を一箇所に集光させるための原理図を示している。
【図5】発光ダイオードからの光をフレネルレンズにて集光させるための従来構成の原理図を示している。
【符号の説明】
1 基板 1A 開口
2 発光ダイオード 2A 光軸
3 レンズアレイ(第1レンズ)
4 レンズ取付板 5 検査対象物
6 フレネルレンズ(第2レンズ)
7 ケーシング 8 前側ケーシング部
8A 開口 9 後側ケーシング
9A 取付部 9B 外面(放熱フィン)
10 レンズ 11 支持部
11A フランジ部 11B 円筒状部
11K 開口
12 拡散ドーム(拡散部材)
12A 光射出面 12B 光入射面
12C 光透過用孔 13 熱伝導性の材
14 電源コード 21 発光ダイオード
22 フレネルレンズ 23 検査対象物
B ボルト L 範囲
N ねじ S 同一箇所

Claims (4)

  1. 検査対象物に照射するための発光体の複数をリング状1列に配置し、前記発光体から照射される光又は前記発光体から照射される光を光ファイバー等の光案内部材を介して案内された光を、平行光にするために該発光体から照射される光のうち所定の指向角を有する光直接入射するように第1レンズを該発光体の照射面側又は該光案内部材の光射出面側において該発光体又は該光案内部材と近接配置し、前記第1レンズからの平行光を検査対象物のほぼ同一箇所に集光させるため第2レンズを該第1レンズの前方に配置してなる検査用照明装置。
  2. 前記第1レンズが、前記発光体に対応させて配置したレンズアレイからなる請求項1記載の検査用照明装置。
  3. 前記複数の発光体を環状に配置し、それら発光体群のほぼ中心部に検査対象物に照射して反射してきた光を取り込むための撮像手段のレンズを挿入可能な開口を形成してなる請求項1又は2記載の検査用照明装置。
  4. 前記発光体、第1レンズ、第2レンズを収納するためのケーシングに、前記撮像手段のレンズを支持するための支持部を備えさせ、前記ケーシングの一部に前記発光体により発生する熱を放熱するための放熱フィンを兼用構成してなる請求項1又は2又は3記載の検査用照明装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4536532B2 (ja) * 2005-01-26 2010-09-01 日本電産トーソク株式会社 円柱状製品の外周面検査装置
JP4670375B2 (ja) * 2005-02-03 2011-04-13 パナソニック株式会社 撮像装置
JP5508712B2 (ja) * 2005-07-08 2014-06-04 エレクトロ サイエンティフィック インダストリーズ インコーポレーテッド 平面的に配列された光源により放出される収束光線の実現
CN101238590B (zh) 2005-07-29 2012-02-08 Ccs株式会社 光学单元及光照射装置
JP2010515208A (ja) * 2006-12-30 2010-05-06 陳振賢 発光ダイオード照明装置
CN101021490B (zh) * 2007-03-12 2012-11-14 3i系统公司 平面基板自动检测系统及方法
GB0721060D0 (en) * 2007-10-29 2007-12-05 Pilkington Group Ltd Optical inspection
KR200440554Y1 (ko) * 2007-11-27 2008-06-17 광성전기산업(주) 벌브형 교류 전원용 발광 다이오드 램프
JP5395369B2 (ja) * 2008-06-05 2014-01-22 大日本スクリーン製造株式会社 基板検査装置
WO2013076651A2 (en) * 2011-11-21 2013-05-30 Datalogic Ip Tech S.R.L. Illuminator for an image acquisition system
TWI596318B (zh) * 2016-01-13 2017-08-21 德律科技股份有限公司 光學測量系統以及光學成像系統

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