JP4217106B2 - モノリシックマイクロ波集積回路 - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、モノリシックマイクロ波集積回路、特に、動作中にインダクタンスを変える機構を有するインダクタが形成されているモノリシックマイクロ波集積回路に関する。
【0002】
【従来の技術】
近年、高周波で動作し、低電圧で電力変換効率が高いことから、携帯電話機の送信部と受信部とにモノリシックマイクロ波集積回路(以下、MMICと呼称する)、例えば、GaAs MMIC(Monolithic Microwave Integrated Circuit)などが使用されている(例えば、非特許文献1参照)。以下、MMICの一例として、高周波増幅器について説明する。
【0003】
図7は、一例として、従来の高周波増幅器の構成を示す模式図である。
同図にみられるように、高周波増幅器10は、インダクタ11、キャパシタ21,22、整合回路23,24、増幅素子25,26から構成される。
インダクタ11は、高インピーダンス線路を渦巻き状に配されて形成されたスパイラルインダクタであり、渦巻き状に巻かれた配線(以下、渦巻き配線と呼称する)12と、渦巻き配線12と交差する配線(以下、渡り配線と呼称する)13とから形成される。そして、渦巻き配線12の外側の端で接地され、渦巻き配線12の内側の端から外側の端までの配線によって、高周波増幅器10の対応可能な周波数帯が特定される。
【0004】
キャパシタ21,22は、絶縁体膜を金属膜で挟んだMIM(Metal-Insulator-Metal)キャパシタである。
整合回路23,24は、インダクタ、MIMキャパシタ、抵抗素子、及びマイクロストリップ線路のいずれかを少なくとも1つ有する回路である。
増幅素子25,26は、GaAs基板に形成されたヘテロ接合バイポーラトランジスタ(以下、HBTと略称する)である。
【0005】
また、キャパシタ21,22、及びインダクタ11から高域通過型フィルタが形成される。そして、インダクタ11のインダクタンスが高いほど、高周波信号を通過せずに、キャパシタ22に伝達される信号強度が大きくなり、高域通過型フィルタの遮断周波数が低くなる。即ち、低い周波数に整合されることになる。
【0006】
【非特許文献1】
上田大助 監修・著 「情報通信の新時代を拓く− 高周波・光半導体デバイス」 社団法人 電子情報通信学会、1999年12月1日、p.62−164
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
例えば、欧州では、900MHz帯を使用するGSM(Global System for Mobile Communications)方式と、1.8GHz帯を使用するDCS(Digital Cellular System)方式とに対応した携帯電話機が普及している。
一般的に、GSM方式とDCS方式とに対応した携帯電話機の様に、1台で2つの通信方式に対応した携帯電話機(以下、デュアルバンド携帯電話機と呼称する)では、対応可能な周波数帯ごとに高周波増幅器が必要とされる。
【0008】
これは、従来の高周波増幅器では、対応可能な周波数帯に合わせてインダクタのインダクタンスが固定されて設計されているためであり、動作中にインダクタのインダクタンスを変更することができないからである。
結果、従来の高周波増幅器では、デュアルバンド携帯電話機を設計する際に、対応可能な周波数帯ごとに最適化された高周波増幅器が必要となり、部品点数が増加し、部品点数の増加に伴い、低コスト化、小型化が実現されにくくなるという問題がある。
【0009】
本発明は、前述の問題に鑑みてなされたものであり、動作中にインダクタンスを変える機構を有するインダクタが形成されているモノリシックマイクロ波集積回路を提供することを目的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】
(解決手段−1)
前述の課題を解決するにあたり、本発明に係わるモノリシックマイクロ波集積回路は、半導体基板に形成されたモノリシックマイクロ波集積回路であって、渦巻き状に巻かれた渦巻き配線と、渦巻き配線の内側の端部から渦巻き配線の最外周経路の外側に延設された第1の渡り配線と、渦巻き配線の周回経路の途中部から渦巻き配線の最外周経路の外側に延設された第2の渡り配線とからなるインダクタが形成されているとする。
【0011】
これによって、本発明に係わるモノリシックマイクロ波集積回路は、後述の(効果−1)に示す効果があり、前述の目的を達成することが可能となる。
(効果−1)インダクタのインダクタンスを特徴付ける経路が1つから、3つになる。具体的には、渦巻き配線の内側の端部から外側の端部までの第1の経路と、渦巻き配線の内側の端部から周回線路の途中部までの第2の経路と、渦巻き配線の周回線路の途中部から外側の端部までの第3の経路である。そして、それぞれの経路ごとに、それぞれ異なるインダクタンスを特徴付けておき、これらの経路から適宜選択されることで、動作中であってもインダクタンスを変更することが可能になる。結果、1つの部品でも2つの周波数帯に対応することが可能になり、部品点数の増加を抑止することが可能という効果がある。また、チップ面積全体におけるインダクタの占める比率が大きいことを考慮して、1つの部品の中にインダクタンスごとにインダクタが形成された場合と比べても、インダクタンスごとにインダクタを形成しない分、大型化になることを抑止することが可能という効果がある。
【0012】
(解決手段−2)
加えて、(解決手段−1)において、前記渦巻き配線は、半導体基板上の第1の絶縁膜を介して形成された第1層配線であり、前記第1の渡り配線および前記第2の渡り配線は、第1層配線上の第2の絶縁膜を介して形成された第2層配線であり、前記第2の絶縁膜は、渦巻き配線の内側の端部相当部位と周回経路の途中部相当部位とのそれぞれにスルーホールが穿たれており、これらのスルーホールを介して、第1の渡り配線および第2の渡り配線の一端部が渦巻き配線と接続されているとしてもよい。
【0013】
これによって、さらに、後述の(効果−2)に示す効果がある。
(効果−2)製造工程を増やさずとも、また、複雑にせずとも、同一の配線工程で、第1の渡り配線および第2の渡り配線を形成することが可能という効果がある。
(解決手段−3)
加えて、(解決手段−2)において、前記モノリシックマイクロ波集積回路は、さらに、渦巻き配線の外側の端部を第1の接続部とし、第1の渡り配線の両端のうち渦巻き配線と接続されていない方の端部を第2の接続部とし、第2の渡り配線の両端のうち渦巻き配線と接続されていない方の端部を第3の接続部として、第1の接続部、第2の接続部、及び第3の接続部のいずれかに一端が接続され、他端が接地され、遮断状態と導通状態とを切り換える第1のスイッチ素子と、第1のスイッチ素子が接続されていない接続部のいずれかに一端が接続され、他端が接地され、遮断状態と導通状態とを切り換える第2のスイッチ素子とが形成されているとしてもよい。
【0014】
これによって、さらに、後述の(効果−3)に示す効果がある。
(効果−3)3つの経路から選択された2つの経路の端に接続されたそれぞれのスイッチ素子を択一的に導通状態/遮断状態にすることで、動作中に、インダクタンスを切り換えることが可能という効果がある。
(解決手段−4)
加えて、(解決手段−3)において、前記第1のスイッチ素子および前記第2のスイッチ素子のそれぞれは、第1の接続部、第2の接続部、及び第3の接続部のいずれかにコレクタが接続されたエミッタ接地形のバイポーラトランジスタであるとしてもよい。
【0015】
これによって、さらに、後述の(効果−4)に示す効果がある。
(効果−4)MMIC用能動素子としてはトランジスタが多用されており、そのトランジスタは動作の違いから電界効果トランジスタ(FET)とバイポーラトランジスタに大別される。例えば、電気的特性の点から、FETと比べてHBTの利点として、高利得、高パワー密度、単一電源、低1/f雑音、高耐圧、しきい電圧の均一性などがあげられる。これらの利点から、一般的には、低ひずみ増幅器および発振器などに使用する能動素子としてHBTは最適とされる。そして、HBTが使用される低ひずみ増幅器および発振器などにおいて、インダクタンスを切り換える際に用いられるスイッチ素子として電界効果トランジスタを使用するよりバイポーラトランジスタを使用する方が、余計な製造工程を要さずとも半導体基板に形成することが可能という効果がある。即ち、スイッチ素子のために余計な工程を発生させることを抑止することが可能という効果がある。
【0016】
(解決手段−5)
加えて、(解決手段−4)において、前記モノリシックマイクロ波集積回路は、さらに、第1の接続部、第2の接続部、及び第3の接続部のうち第1のスイッチ素子および第2のスイッチ素子のいずれもが接続されていない接続部に、それぞれの一端が接続されている第1のキャパシタおよび第2のキャパシタと、第1のキャパシタの他端に一端が接続されている第1の整合回路と、第2のキャパシタの他端に一端が接続されている第2の整合回路と、第1の整合回路の他端に一端が接続され、増幅した電気信号を第1の整合回路に出力する第1の増幅素子と、第2の整合回路の他端に一端が接続され、第2の整合回路から入力された電気信号を増幅する第2の増幅素子とが形成されているとしてもよい。
【0017】
これによって、さらに、後述の(効果−5)に示す効果がある。
(効果−5)第1のキャパシタ、第2のキャパシタ、第1のスイッチ素子、第2のスイッチ素子、及びインダクタから構成されるフィルタ(以下、バイペダルT形フィルタと呼称する)は、足踏み状態にして、第1の増幅素子から出力され第1の整合回路を経て入力された信号のうち、第1の周波数帯(低域側周波数)の信号および第2の周波数帯(高域側周波数)のいずれかの信号を通過する。そして、バイペダルT形フィルタを通過した信号は、第2の整合回路を経て、第2の増幅素子に入力される。
【0018】
ここで、足踏み状態とは、2つのスイッチ素子のうち一方を導通状態にして他方を遮断状態にすることである。例えば、第1のスイッチ素子が導通状態であり、第2のスイッチ素子が遮断状態であると、第1周波数の信号を通過する。或いは、第1のスイッチ素子が遮断状態であり、第2のスイッチ素子が導通状態であると、第2周波数の信号が通過する。
【0019】
以上、バイペダルT形フィルタを足踏み状態にして、通過する第1周波数および第2周波数の信号を適宜切り換えて増幅することが可能という効果がある。
(解決手段−6)
或いは、(解決手段−3)において、前記第1のスイッチ素子および前記第2のスイッチ素子のそれぞれは、第1の接続部、第2の接続部、及び第3の接続部のいずれかにドレインが接続され、ソースが接地され、ゲートに印加される電圧で導通状態と遮断状態とを切り換えてスイッチ動作を行う電界効果トランジスタであるとしてもよい。
【0020】
これによって、さらに、後述の(効果−6)に示す効果がある。
(効果−6)一方、電気的特性の点から、HBTと比べてFETの利点として、RF雑音が小さい、ゲートに対するバイアスの電力が小さい(ベース電流のバイアスの電力が大きい)、帰還容量が小さく、発振しにくい、熱暴走を生じにくいなどがあげられる。これらの利点から、一般的には、低雑音増幅器および高効率増幅器などに使用する能動としてFETは最適とされる。そして、FETが使用される低雑音増幅器および高効率増幅器などにおいて、インダクタンスを切り換える際に用いられるスイッチ素子としてHBTを使用するよりはFETを使用する方が、余計な製造工程を要さずとも半導体基板に形成することが可能という効果がある。即ち、スイッチ素子のために余計な工程を発生させることを抑止することが可能という効果がある。
【0021】
(解決手段−7)
或いは、(解決手段−2)において、前記モノリシックマイクロ波集積回路は、さらに、渦巻き配線の外側の端部を第1の接続部とし、第1の渡り配線の両端のうち渦巻き配線と接続されていない方の端部を第2の接続部とし、第2の渡り配線の両端のうち渦巻き配線と接続されていない方の端部を第3の接続部として、第1の接続部、第2の接続部、及び第3の接続部の少なくとも2つにボンディングパッドが設けられているとしてもよい。
【0022】
これによって、さらに、後述の(効果−7)に示す効果がある。
(効果−7)3つの経路のから選択された2つの経路の端に接続されたそれぞれのボンデイングパッドと、それぞれのボンディングパッドに接続されている外部の回路とが択一的に導通状態/遮断状態になることで、動作中に、インダクタンスを切り換えることが可能という効果がある。
【0023】
また、いずれか一方のボンディングパッドのみ外部の回路と接続されると、第1の周波数帯(低域側周波数)または第2の周波数帯(高域側周波数)に対応するMMICとして使用することが可能になる。即ち、単一の周波数帯のみで使用する際には、1つの部品で複数の周波数帯に対応することが可能という効果がある。
【0024】
そして、1つの部品で複数の周波数帯に対応することが可能になると、周波数帯ごとにMMICを揃えなくともよくなり、品目を減らすことが可能になり、製造コストの低減化が可能という効果がある。
【0025】
【発明の実施の形態】
(実施の形態)
以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しながら説明する。なお、従来と同一の構成要素については同一の符号を付して、その説明を省略する。
(インダクタの構成)
図1(a)は、モノリシックマイクロ波集積回路に形成されたインダクタの形状を示す平面図であり、(b)は、A−A’線における矢視断面図である。
【0026】
図1(a)にみられるように、モノリシックマイクロ波集積回路(以下、MMICと呼称する)に形成されたインダクタ101は、配線を渦巻き状に配されて形成されたインダクタであり、渦巻き状に巻かれた配線(以下、渦巻き配線と呼称する)102と、渦巻き配線102と交差する二つの配線(以下、それぞれを渡り配線と呼称する)103,104とから形成される。
【0027】
図1(b)にみられるように、渦巻き配線102は、第1配線層123に形成され、渡り配線103,104は、第2配線層125に形成される。
第1配線層123は、絶縁膜によるスペーサ122を用いて半導体基板121の上にリフトオフで形成され、第2配線層125は、第1配線層123の上に形成された層間絶縁膜124を介して形成される。
【0028】
なお、第1配線層123および第2配線層125における配線には、主にAuが用いられ、蒸着またはスパッタによるAu膜をリフトオフやイオンビームミリングなどでパターン形成される。スペーサ122および層間絶縁膜124には、Si3N4やSiO2などが用いられる。
渦巻き配線102は、内側の端部102aで渡り配線103の一端とスルーホール111を介して接続され、周回経路の途中部102bで渡り配線104の一端とスルーホール112を介して接続され、外側の端で外部の回路(図外)と接続される。
【0029】
渡り配線103は、一端で渦巻き配線102の内側の端とスルーホール111を介して接続され、他端で外部の回路(図外)と接続される。
渡り配線104は、一端で渦巻き配線102の周回経路の途中とスルーホール112を介して接続され、他端で外部の回路(図外)と接続される。
但し、渡り配線104の他端は、後述するように、渦巻き配線102の外側の端部102cが外部の回路(図外)と接続される場合には、開放端とされる。
【0030】
(高周波増幅器の構成)
ここで、インダクタ101が形成されたMMICの一例として、高周波増幅器について説明する。
図2は、実施の形態における高周波増幅器の構成を示す模式図である。
同図にみられるように、高周波増幅器200は、従来の高周波増幅器10と比べて、インダクタ11の代わりに、インダクタ101を備える。さらに、新たに、スイッチ素子201,202を備える点が異なる。なお、高周波増幅器200は、化合物半導体デバイス、例えば、GaAs MMIC(Monolithic Microwave Integrated Circuit)で形成され、キャパシタ21,22、及びインダクタ101は、増幅素子25,26、スイッチ素子201,202が形成された後に、第1層配線、層間絶縁膜、第2層配線、めっき配線などから形成される。
【0031】
スイッチ素子201,202は、GaAs基板に形成されたヘテロ接合バイポーラトランジスタ(以下、HBTと略称する)である。また、それぞれのエミッタで接地され、スイッチ素子201のコレクタで渦巻き配線102の外側の端と接続され、スイッチ素子202のコレクタで渡り配線104の他端と接続されている。さらに、それぞれのベースに印加される電圧で導通状態と遮断状態とを切り換えてスイッチ動作を行う。そして、これにより、それぞれのベースに外部の回路(図外)から択一的に電圧が印加されると、インダクタ101のインダクタンスを切り替えることになる。
【0032】
例えば、外部の回路から、スイッチ素子201のベースに電圧が印加され、スイッチ素子202のベースに電圧が印加されないと、スイッチ素子201は導通状態になり、スイッチ素子202は遮断状態になる。このとき、インダクタ101は、渦巻き配線102の外側の端で接地されていることになり、インダクタ101のインダクタンスは、渦巻き配線102の内側の端から外側の端までの巻き数(以下、巻き数N1と呼称する)で特定される。
【0033】
或いは、スイッチ素子202のベースに電圧が印加され、スイッチ素子201のベースに電圧が印加されないと、スイッチ素子201は遮断状態になり、スイッチ素子202は導通状態になる。このとき、インダクタ101は、渦巻き配線102の周回経路の途中で接地されていることになり、インダクタ101のインダクタンスは、渦巻き配線102の内側の端から周回経路の途中までの巻き数(以下、巻き数N2と呼称する)で特定される。
【0034】
なお、渦巻き配線102の内側の端から外側の端までの配線によって、第1周波数帯に整合されているとし、渦巻き配線102の内側の端から周回経路の途中までの配線によって、第2周波数帯に整合されているとする。そして、一般的に、インダクタのインダクタンスは、巻き数が増加するほど大きくなることから、第1周波数帯より第2周波数帯の方が周波数は高い。
【0035】
(高周波増幅器の特性)
ここで、高周波増幅器の具体的な特性について説明する。なお、渦巻き配線102の線路の幅を7μm、間隔を8μmとし、巻き数N1を4.5巻きとし、巻き数N2を2.5巻きとする。
図3(a),(b)は、実施の形態における高周波増幅器の利得特性を示すグラフである。なお、縦軸に利得が示され、横軸に周波数が示されている。
【0036】
図3(a)にみられるように、スイッチ素子107を導通状態にし、スイッチ素子108を遮断状態にしたときに、900MHz付近(GSMの使用周波数帯)で高周波増幅器の利得が最大になっていることが示されている。
図3(b)にみられるように、スイッチ素子107を遮断状態にし、スイッチ素子108を導通状態にしたときに、1750MHz付近(DCSの使用周波数帯)で利得が最大になっていることが示されている。
【0037】
これらから、高周波増幅器は、第1スイッチ素子を導通状態にしたときに、GSMに対応することができる。一方、第2スイッチ素子を導通状態にしたときに、DCSに対応することができることが窺える。
(高周波増幅器の適用例)
以上のように構成された高周波増幅器について、その適用例を説明する。
【0038】
図4は、一例として、実施の形態における高周波増幅器が組み込まれたデュアルバンド携帯電話機の概要機能を示すブロック図である。
同図にみられるように、デュアルバンド携帯電話機400は、アンテナ401、高周波スイッチ402,403、第1周波数帯送受信部404、第2周波数帯送受信部405、音声信号処理部406、U/IF部407、信号制御部408、電池409、高周波増幅器200などから構成される。そして、取り分け高周波の出入口である高周波スイッチ402,403、第1周波数帯送受信部404、及び第2周波数帯送受信部405などでは、化合物半導体デバイス、例えば、GaAs MMICなどが使用されている。
【0039】
アンテナ401は、送受共用アンテナである。そして、外部から受信した信号を高周波スイッチ402に渡す。また、高周波スイッチ402から渡された信号を外部に送信する。
高周波スイッチ402は、SPDT(Single Pole Double Throw)スイッチであり、アンテナ401、高周波スイッチ403、高周波増幅器200が、それぞれの端子に接続されている。そして、アンテナ401から渡された信号を高周波スイッチ403に渡す。また、高周波増幅器200から渡された信号を、アンテナ401に渡す。
【0040】
高周波スイッチ403は、SPDTスイッチであり、高周波スイッチ402、第1周波数帯送受信部404、第2周波数帯送受信部405が、それぞれの端子に接続されている。そして、アンテナ401を介して外部から受信した信号が第1周波数帯の信号であるならば、高周波スイッチ402から渡された信号を第1周波数帯送受信部404に渡し、第2周波数帯の信号であるならば、第2周波数帯送受信部405に渡す。
【0041】
第1周波数帯送受信部404および第2周波数帯送受信部405のそれぞれは、低雑音増幅器、ダウンコンバートミクサ、発振器、アップコンバートミクサ、ドライバ増幅器などから構成される。そして、第1周波数帯送受信部404は、高周波スイッチ403から渡された第1周波数帯の信号を、中間周波数の信号に変換し、変換した中間周波数の信号を、音声信号処理部406に渡す。また、音声信号処理部406から渡された中間周波数の信号を、第1周波数帯の信号に変換し、変換した第1周波数帯の信号を高周波増幅器200に渡す。同様に、第2周波数帯送受信部405は、高周波スイッチ403から渡された第2周波数帯の信号を、中間周波数の信号に変換し、変換した中間周波数の信号を、音声信号処理部406に渡す。また、音声信号処理部406から渡された中間周波数の信号を、第2周波数帯の信号に変換し、変換した第2周波数帯の信号を高周波増幅器200に渡す。
【0042】
音声信号処理部406は、TDMA(Time Division Multiple Access)シグナルプロセッサ、音声コーデック、ベースバンドフィルタ、A/D,D/Aコンバータなどから構成される。そして、第1周波数帯送受信部404および第2周波数帯送受信部405から渡された中間周波数の信号を、アナログ音声信号に複号し、複号したアナログ音声信号をU/IF部407に渡す。また、U/IF部407から渡されたアナログ音声信号を、中間周波数の信号に変換し、アンテナ401を介して外部に送信する信号が第1周波数帯の信号であるならば、変換した中間周波数の信号を第1周波数帯送受信部404に渡し、第2周波数帯の信号であるならば、第2周波数帯送受信部405に渡す。
【0043】
U/IF部407は、レシーバ、スピーカ、マイクロフォン、キーボード、LCD(liquid Crystal Display)などから構成される。そして、音声信号処理部406から渡されたアナログ音声信号をスピーカを介して出力する。また、マイクロフォンを介して入力されたアナログ音声信号を音声信号処理部406に渡す。
【0044】
信号制御部408は、CPU(Central Processing Unit)、SRAM(Static Random Access Memory)、EPROM(Erasable Programmable Read Only Memory)、EEPROM(Electrically Erasable Programmable Read Only Memory)などから構成される。そして、高周波増幅器200、第1周波数帯送受信部404、第2周波数帯送受信部405、音声信号処理部406、及びU/IF部407を制御する。
【0045】
電池409は、デュアルバンド携帯電話機400の各構成要素に電力を供給する。
高周波増幅器200は、スイッチ素子201,202のそれぞれのベースにバイアス電圧が信号制御部408から与えられて制御される。そして、信号制御部408からの制御に応じて、第1周波数帯送受信部404から渡される第1周波数帯の信号および第2周波数帯送受信部405から渡される第2周波数の信号とのいずれかを増幅し、増幅した信号を高周波スイッチ402に渡す。
【0046】
(高周波増幅器の変形例)
ここで、インダクタ101が形成された高周波増幅器について、その変形例を説明する。なお、同一の構成要素については同一の符号を付して、その説明を省略する。
図5は、変形例として、高周波増幅器の構成を示す模式図である。
【0047】
同図にみられるように、高周波増幅器500は、高周波増幅器200と比べて、スイッチ素子201,202の代わりに、ボンディングパッド501,502を備える点が異なる。
ボンディングパッド501,502は、外部引き出し用の電極パターンであり、ボンディングワイヤを用いて、外部の回路と接続される。また、ボンディングパッド501は、渦巻き配線102の外側の端と接続され、ボンディングパッド502は、渡り配線104の他端と接続されている。そして、ボンディングパッド501,502に接続される外部の回路を制御して、ボンディングパッド501,502のいずれかに電気信号を択一的に与えることにより、スイッチ素子201,202と同一の機能を実現する。
【0048】
(インダクタの変形例)
ここで、MMICに形成されたインダクタについて、その変形例を説明する。
図6(a)は、変形例として、MMICに形成されたインダクタの形状を示す平面図であり、(b)は、B−B’線における矢視断面図である。
図6(a)にみられるように、MMICに形成されたインダクタ601は、配線を蛇行状に配されて形成されたインダクタであり、蛇行状に配された配線(以下、蛇行配線と呼称する)602と、蛇行配線602と交差する配線(以下、渡り配線と呼称する)603とから形成される。
【0049】
図6(b)にみられるように、蛇行配線602は、第1配線層123に形成され、渡り配線603は、第2配線層125に形成される。
蛇行配線602は、蛇行経路の途中部602bで渡り配線604の一端とスルーホール611を介して接続され、蛇行配線602の端部602cで外部の回路(図外)と接続される。
【0050】
渡り配線603は、一端で蛇行配線602の蛇行経路の途中部602bとスルーホール611を介して接続され、他端で外部の回路(図外)と接続される。
(その他)
なお、渦巻き配線102の外側の端部102cにキャパシタ21,22のそれぞれの一端が接続され、渡り配線103の他端にスイッチ素子201が接続されているとしてもよい。
【0051】
なお、渡り配線103,104は、エアブリッジで形成されるとしてもよい。
なお、半導体基板121として、ガリウムひ素(GaAs)などの化合物半導体系の代わりに、シリコン(Si)系としてもよい。
なお、スイッチ素子201,202として、バイポーラトランジスタの代わりに電界効果トランジスタとしてもよい。その際には、エミッタの代わりにソースで接地され、コレクタの代わりにドレインでインダクタと接続されているとすればよい。
【0052】
なお、増幅素子25,26として、バイポーラトランジスタの代わりに電界効果トランジスタとしてもよい。
なお、スイッチ素子201,202および増幅素子25,26として、GaAs−MESFET(Metal-Semiconductor Field Effect Transistor),GaAS−HBT(High Electron Mobility Transistor),P−HEMT(Pseudomorphic HEMT),InP−HEMTのいずれかとしてもよい。
【0053】
なお、スイッチ素子201,202として、PINダイオードとしてもよい。
なお、インダクタ101が形成されているMMICとして、高周波増幅器以外にも、低雑音増幅器、発振器などとしてもよい。
なお、蛇行配線602と交差する配線(渡り配線603)の代わりに、蛇行配線602から分岐した配線(以下、分岐配線と呼称する)としてもよい。その際に、分岐配線が第1配線層123に形成されるとする。
【0054】
なお、前述の説明において、GSM/DCSの通信方式で用いられるMMICとして説明したが、AMPS(Advanced Mobile Phone System)/PCS(Personal Communication Services)や800MHz帯/1.5GHz帯を用いるPDC(Personal Digital Cellular)など、他の通信方式で用いられるMMICとしてもよい。
【0055】
【発明の効果】
以上のように本発明に係わるモノリシックマイクロ波集積回路は、インダクタのインダクタンスを特徴付ける経路が1つから、3つになる。具体的には、渦巻き配線の内側の端部から外側の端部までの第1の経路と、渦巻き配線の内側の端部から周回線路の途中部までの第2の経路と、渦巻き配線の周回線路の途中部から外側の端部までの第3の経路である。そして、それぞれの経路ごとに、それぞれ異なるインダクタンスを特徴付けておき、これらの経路から適宜選択されることで、動作中であってもインダクタンスを変更することが可能になる。
【0056】
結果、1つの部品でも2つの周波数帯に対応することが可能になり、部品点数の増加を抑止することが可能になる。そして、デュアルバンド携帯電話機を設計する際に、対応可能な周波数帯ごとに最適化された高周波増幅器が必要となり、部品点数が増加し、部品点数の増加に伴い、低コスト化、小型化が実現されにくくなるという問題を解決することが可能という効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】(a)は、モノリシックマイクロ波集積回路に形成されたインダクタの形状を示す平面図であり、(b)は、A−A’線における矢視断面図である。
【図2】実施の形態における高周波増幅器の構成を示す模式図である。
【図3】(a),(b)は、実施の形態における高周波増幅器の利得特性を示すグラフである。
【図4】一例として、実施の形態における高周波増幅器が組み込まれたデュアルバンド携帯電話機の概要機能を示すブロック図である。
【図5】変形例として、高周波増幅器の構成を示す模式図である。
【図6】(a)は、変形例として、MMICに形成されたインダクタの形状を示す平面図であり、(b)は、B−B’線における矢視断面図である。
【図7】一例として、従来の高周波増幅器の構成を示す模式図である。
【符号の説明】
10 高周波増幅器
11 インダクタ
12 渦巻き配線
13 渡り配線
21,22 キャパシタ
23,24 整合回路
25,26 増幅素子
200 高周波増幅器
101 インダクタ
102 渦巻き配線
102a 内側の端部
102b 周回経路の途中部
102c 外側の端部
103,104 渡り配線
111,112 スルーホール
201,202 スイッチ素子
400 デュアルバンド携帯電話機
401 アンテナ
402,403 高周波スイッチ
404 第1周波数帯送受信部
405 第2周波数帯送受信部
406 音声信号処理部
407 U/IF部
408 信号制御部
409 電池
500 高周波増幅器
501,502 ボンディングパッド
601 インダクタ
602 蛇行配線
602a 端部
602b 蛇行経路の途中部
602c 端部
603 渡り配線
611 スルーホール

Claims (4)

  1. 半導体基板に形成されたモノリシックマイクロ波集積回路であって、
    渦巻き状に巻かれた渦巻き配線と、
    渦巻き配線の内側の端部から渦巻き配線の最外周経路の外側に延設された第1の渡り配線と、
    渦巻き配線の周回経路の途中部から渦巻き配線の最外周経路の外側に延設された第2の渡り配線とからなるインダクタが形成されており、
    前記渦巻き配線は、
    半導体基板上の第1の絶縁膜を介して形成された第1層配線であり、
    前記第1の渡り配線および前記第2の渡り配線は、第1層配線上の第2の絶縁膜を介して形成された第2層配線であり、
    前記第2の絶縁膜は、渦巻き配線の内側の端部相当部位と周回経路の途中部相当部位とのそれぞれにスルーホールが穿たれており、
    これらのスルーホールを介して、第1の渡り配線および第2の渡り配線の一端部が渦巻き配線と接続されており、
    前記モノリシックマイクロ波集積回路は、さらに、
    渦巻き配線の外側の端部を第1の接続部とし、第1の渡り配線の両端のうち渦巻き配線と接続されていない方の端部を第2の接続部とし、第2の渡り配線の両端のうち渦巻き配線と接続されていない方の端部を第3の接続部として、第1の接続部、第2の接続部、及び第3の接続部のいずれかに一端が接続され、他端が接地され、遮断状態と導通状態とを切り換える第1のスイッチ素子と、
    第1のスイッチ素子が接続されていない接続部のいずれかに一端が接続され、他端が接地され、遮断状態と導通状態とを切り換える第2のスイッチ素子とが形成されている
    ことを特徴とするモノリシックマイクロ波集積回路。
  2. 前記第1のスイッチ素子および前記第2のスイッチ素子のそれぞれは、
    第1の接続部、第2の接続部、及び第3の接続部のいずれかにコレクタが接続されたエミッタ接地形のバイポーラトランジスタである
    ことを特徴とする請求項1記載のモノリシックマイクロ波集積回路。
  3. 前記モノリシックマイクロ波集積回路は、さらに、
    第1の接続部、第2の接続部、及び第3の接続部のうち第1のスイッチ素子および第2のスイッチ素子のいずれもが接続されていない接続部に、それぞれの一端が接続されている第1のキャパシタおよび第2のキャパシタと、
    第1のキャパシタの他端に一端が接続されている第1の整合回路と、
    第2のキャパシタの他端に一端が接続されている第2の整合回路と、
    第1の整合回路の他端に一端が接続され、増幅した電気信号を第1の整合回路に出力する第1の増幅素子と、
    第2の整合回路の他端に一端が接続され、第2の整合回路から入力された電気信号を増幅する第2の増幅素子とが形成されている
    ことを特徴とする請求項2記載のモノリシックマイクロ波集積回路。
  4. 前記第1のスイッチ素子および前記第2のスイッチ素子のそれぞれは、
    第1の接続部、第2の接続部、及び第3の接続部のいずれかにドレインが接続され、ソースが接地され、ゲートに印加される電圧で導通状態と遮断状態とを切り換えてスイッチ動作を行う電界効果トランジスタである
    ことを特徴とする請求項1記載のモノリシックマイクロ波集積回路。
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