JP4211132B2

JP4211132B2 - IC test equipment

Info

Publication number: JP4211132B2
Application number: JP11407999A
Authority: JP
Inventors: 義広足立
Original assignee: Yokogawa Electric Corp
Current assignee: Yokogawa Electric Corp
Priority date: 1999-04-21
Filing date: 1999-04-21
Publication date: 2009-01-21
Anticipated expiration: 2019-04-21
Also published as: JP2000304812A

Description

【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は、ＩＣ試験プログラムの実行時間を表示するＩＣ試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】
従来のＩＣ（Integrated Circuit：集積回路）試験装置に係るＩＣ試験プログラムの実行時間を測定・表示する方法の一例を、図６〜図７を参照して説明する。図６は、従来のＩＣ試験装置１００の機能ブロックを示す図である。ＩＣ試験装置１００は、ＩＣ試験装置本体２０と、入力装置１１と、表示装置１２とから構成されており、ＩＣ試験装置本体２０は、ＩＣ試験部３と、試験プログラム４と、試験時間カウント装置５と、表示制御装置６とから構成されている。また、試験時間カウント装置５は、試験時間カウント部５Ａと、試験時間カウント制御ソフトウェア（以下、「ソフトウェア」を適宜「ソフト」と略称する。）５Ｂとから構成されており、表示制御装置６は、表示制御ソフト６Ａから構成されている。
【０００３】
ここで、試験プログラム４と、試験時間カウント制御ソフト５Ｂと、表示制御ソフト６Ａはそれぞれが独立したソフトウェアであり、実際にはそれぞれのソフトウェアを動作実行するための実行部（例えば、ＣＰＵ（Central Processing Unit）等）が存在するが、各ソフトウェアにおける当該実行部の動作説明を容易にするため、以下、ソフトウェア自体が動作実行することとして説明する。
【０００４】
ＩＣ試験装置１００において、試験プログラム４の実行時間を測定・表示するために、まず、入力装置１１から試験プログラム４の試験時間カウント取得を実行する旨の指示入力が行われると、当該指示が試験時間カウント制御ソフト５Ｂに入力される。
【０００５】
次いで、試験時間カウント制御ソフト５Ｂは、試験時間カウント部５Ａのカウント値を初期化して、試験時間カウント部５Ａにカウントを開始させる。そして、試験時間カウント制御ソフト５Ｂは、試験プログラム４の実行開始を指示することにより、試験プログラム４によってＩＣ試験部３に保持されている被試料ＩＣの試験が開始される。
【０００６】
試験プログラム４の実行が終了すると、試験時間カウント制御ソフト５Ｂは、試験時間カウント部５Ａにカウントの終了を指示する。そして、当該カウント値が表示制御ソフト６Ａに出力されると、表示制御ソフト６Ａは、当該カウント値をキャラクタデータに変換して、表示装置１２にキャラクタで表示出力する。
【０００７】
図７は、ＩＣ試験装置１００における表示装置１２に表示された試験時間の一例を示す図である。図７において、ＩＣ試験の試験プログラムの実行時間は、１２．１１１ｓｅｃであった旨表示されている。
【０００８】
このように、従来のＩＣ試験装置における試験プログラムの実行時間の表示は、当該試験プログラムの実行開始から実行終了までの時間のみが表示装置に表示されるものであった。
【０００９】
一方、試験プログラムには、様々なＩＣ試験を行うための一連の処理が記述されている。このため、試験プログラムの記述を見直すことによって、ＩＣ試験全体に係る試験時間を短縮させることが可能である。
【００１０】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、従来のＩＣ試験装置は、上記の通り、試験プログラムの実行時間のみが表示されるため、試験プログラムの実行時間を実行命令毎に表示させることによって、実行命令毎の実行時間を解析し、試験プログラム記述の冗長性を発見・改善して、ＩＣ試験全体に係る試験時間の短縮化を図ることが困難であった。
【００１１】
また、実行命令毎に実行時間を表示させる場合であっても、実行時間のみがキャラクタで表示されることは、実行時間の確認は容易であるが、ＩＣ試験全体における各実行命令の割合が把握し難い。
【００１２】
さらに、試験プログラム記述の解析作業は、本格的なＩＣ試験を行う前に行われるのが通常であり、また、種々のＩＣ試験装置全てを改造するには多大なコストが必要であるため、従来のＩＣ試験装置自体への改造を行わずに、別途、試験プログラム記述の解析作業用の装置を追加・取り外しできることが理想である。
【００１３】
本発明の課題は、従来の試験時間カウント装置を用いて、ＩＣ試験を行うための試験プログラムの実行命令単位の実行時間を記録・出力できるＩＣ試験装置を提供することである。
【００１４】
【課題を解決するための手段】
請求項１記載の発明のＩＣ試験装置は、ＩＣ試験プログラムの各実行命令の実行時間を、当該実行命令に対応づけて記憶する記憶手段（例えば、データ記録部８Ａ）と、前記ＩＣ試験プログラムを実行する実行手段（例えば、ＩＣ試験部３及び試験プログラム４）と、前記実行手段によって実行されるＩＣ試験プログラムの実行時間を実行開始から少なくとも前記ＩＣ試験プログラムの実行終了まで累積的にカウントする累計手段（例えば、試験時間カウント部５Ａ及び試験時間カウントソフトウェア５Ｂ）と、前記実行手段が前記ＩＣ試験プログラムを実行中に、前記ＩＣ試験プログラムの実行命令毎に、前記累計手段によって累積的にカウントされた実行時間を読み出して、前記記憶手段に記憶させる読出手段（例えば、試験プログラム監視ソフトウェア８Ｂ及び統括制御ソフトウェア９Ｃ）と、各実行命令に対応して前記記憶手段に記憶された前記累積的にカウントされた実行時間から直前の実行命令に対応して記憶された前記累積的にカウントされた実行時間を減算することで各実行命令のみに係る実行時間を求める算出手段と、を備えたことを特徴としている。
【００１５】
この請求項１記載の発明のＩＣ試験装置によれば、
記憶手段は、ＩＣ試験プログラムの各実行命令の実行時間を、当該実行命令に対応づけて記憶し、実行手段は、前記ＩＣ試験プログラムを実行し、累計手段は、前記実行手段によって実行されるＩＣ試験プログラムの実行時間を実行開始から累計し、読出手段は、前記実行手段が前記ＩＣ試験プログラムを実行中に、前記ＩＣ試験プログラムの実行命令毎に、前記累計手段によって累計された実行時間を読み出して、前記記憶手段に記憶させる。
【００１６】
したがって、実行命令毎の実行時間を把握することができるため、試験プログラム記述の冗長性を発見・改善して、ＩＣ試験全体に係る試験時間の短縮化を図ることができる。
【００１７】
また、請求項２記載の発明は、
請求項１記載のＩＣ試験装置において、
前記記憶手段によって記憶された実行命令と実行時間を、実行命令毎にキャラクタで表示するキャラクタ表示手段（例えば、表示制御ソフトウェア８Ｃ）を更に備えたことを特徴としている。
【００１８】
この請求項２記載の発明によれば、請求項１記載の発明の効果に加えて、従来のＩＣ試験装置において利用されていたキャラクタ表示の表示装置を用いて、実行命令毎の実行時間を表示させることができるため、本発明を適用するためのコストを低減させることが可能となる。
【００１９】
また、請求項３記載の発明は、
請求項１または２記載のＩＣ試験装置において、
前記記憶手段によって記憶された実行命令と実行時間に基づいて、画像データを作成・表示する画像作成手段（例えば、画像制御ソフトウェア９Ｂ）を更に備えたことを特徴としている。
【００２０】
この請求項３記載の発明によれば、請求項１または２記載の発明の効果に加えて、実行命令と実行時間が画像データとして表示されるため、ＩＣ試験時間全体における各実行命令の実行時間の割合を容易に把握することができる。
【００２１】
また、請求項４記載の発明のように、
請求項３記載のＩＣ試験装置において、
前記画像作成手段は、前記記憶手段によって記憶された実行命令と実行時間に基づいて、前記画像データとして、棒グラフや折れ線グラフを作成・表示することとしてもよい。
【００２２】
この請求項４記載の発明によれば、請求項３記載の発明の効果に加えて、ＩＣ試験時間全体における各実行命令の実行時間の割合を、より分かり易く表示させることができる。
【００２３】
また、請求項５記載の発明のように、請求項１〜４のいずれか記載のＩＣ試験装置において、前記読出手段は、前記ＩＣ試験プログラム中に挿入された計測位置情報（例えば、計測命令コード）毎に、前記累計手段によって累積的にカウントされた実行時間を読み出して、前記記憶手段に記憶させることとしてもよい。
【００２４】
この請求項５記載の発明によれば、請求項１〜４記載の発明の効果に加えて、試験プログラムに膨大な数の実行命令が含まれている場合にも、所望の数に分割された試験プログラムの実行時間を得ることができるとともに、試験プログラム中の、冗長性があると思われる記述の前後に、適宜計測位置情報を埋め込むことによって、試験プログラムの解析作業を更に効率的に行うことが可能である。
【００２５】
【発明の実施の形態】
以下、図１〜図５を参照して本発明を適用したＩＣ試験装置１の実施の形態を詳細に説明する。
【００２６】
本発明を適用したＩＣ試験装置１は、従来のＩＣ試験装置１００（図６参照）に、試験時間記録・出力装置８と、画像制御装置９を更に備えた構成であり、試験プログラム４内の実行命令毎の実行時間が試験時間カウント装置５によってカウント（計測）されるとともに、試験時間記録・出力装置８に記録されて、最終的に、画像制御装置９によって画像データとして各実行命令毎の実行時間が表示装置１２に表示される装置である。
【００２７】
まず構成を説明する。
図１は、本実施の形態におけるＩＣ試験装置１の機能ブロック図である。本実施の形態のＩＣ試験装置１では、従来の図６に示したＩＣ試験装置１００と同一の部分には同一符号を付している。
【００２８】
図１において、ＩＣ試験装置１は、ＩＣ試験装置本体１０と、入力装置１１と、表示装置１２とから構成されており、ＩＣ試験装置本体１０は、ＩＣ試験部３と、試験プログラム４と、試験時間カウント装置５と、試験時間記録・出力装置８と、画像制御装置９とから構成されている。
【００２９】
ここで、試験プログラム４の他、後述する試験時間カウント制御ソフトウェア（以下、「ソフトウェア」を適宜「ソフト」と略称する。）５Ｂ、試験プログラム監視ソフト８Ｂ、表示制御ソフト８Ｃ、画像制御ソフト９Ｂ、統括制御ソフト９Ｃは、それぞれが独立したソフトウェアであり、実際にはそれぞれのソフトウェアを動作実行するための実行部（例えば、ＣＰＵ等）が存在するが、各ソフトウェアにおける当該実行部の動作説明を容易にするため、以下、ソフトウェア自体が動作実行することとして説明する。
【００３０】
また、図１において、ＩＣ試験部３は、試験プログラム４に従って、実際に被測定ＩＣの試験を行う試験部であり、試験プログラム４には、種々のＩＣ試験を行うための試験手順として、ＩＣ試験部３内の各部の動作手順等が記述されている。
【００３１】
試験時間カウント装置５は、従来のＩＣ試験装置１００と同様、試験プログラム４の試験実行時間をカウント（計測）する試験時間カウント部５Ａと、試験時間カウント部５Ａを制御する試験時間カウント制御ソフト５Ｂとから構成されている。試験時間カウント部５Ａの出力は、通常は、従来のＩＣ試験装置１００の構成と同様に、表示制御装置６（図６参照）に設定されているが、実行命令単位の試験実行時間の計測を行う場合には、統括制御ソフト９Ｃによって、データ記録部８Ａに設定されて、計測したカウント値を実行命令単位毎にデータ記録部８Ａに出力する。
【００３２】
試験時間記録・出力装置８は、データ記録部８Ａと、試験プログラム監視ソフト８Ｂと、表示制御ソフト８Ｃとから構成されており、試験プログラム監視ソフト８Ｂは、各実行命令の試験プログラム４における位置を監視して、データ記録部８Ａに出力し、データ記録部８Ａは、試験時間カウント部５Ａから出力されるカウント値と、試験プログラム監視ソフト８Ｂから出力される各実行命令の命令位置を記録する。また、表示制御ソフト８Ｃは、データ記録部８Ａによって記録されたカウント値と命令位置を、従来のＩＣ試験装置１００の表示制御ソフト６Ａと同様に、キャラクタデータに変換して表示出力するものであるが、出力先は、仮想的な表示装置として機能する仮想端末９Ａである。
【００３３】
画像制御装置９は、仮想端末９Ａと、画像制御ソフト９Ｂと、統括制御ソフト９Ｃとから構成されており、仮想端末９Ａは、実際には表示しない、仮想的な表示装置として機能する端末であり、表示制御ソフト８Ｃから入力されるキャラクタデータに変換された各実行命令のカウント値と命令位置を、画像制御ソフト９Ｂに出力する。画像制御ソフト９Ｂは、仮想端末９Ａから入力された各実行命令のカウント値と命令位置に基づいて、グラフ表示するための画像データを作成して、表示装置１２に表示させる。
【００３４】
統括制御ソフト９Ｃは、実行命令単位の試験実行時間の計測を行うため、試験時間カウント制御ソフト５Ｂ、試験プログラム監視ソフト８Ｂ、表示制御ソフト８Ｃ等を統括的に制御するものであり、試験時間カウント制御ソフト５Ｂに対して試験時間を取得する旨の指示信号を出力し、試験時間カウント部５Ａの出力をデータ記録部８Ａに記録する旨の指示信号を出力するとともに、表示制御ソフト８Ｃの出力を仮想端末９Ａに設定する。
【００３５】
入力装置１１は、試験プログラム４を実行して、試験プログラム４における各実行命令毎の試験実行時間の計測を開始する旨の指示入力が行われる装置であり、当該指示入力は、統括制御ソフト９Ｃに出力される。
【００３６】
次に動作を説明する。
図２は、ＩＣ試験装置１が、試験プログラム４の各実行命令毎の試験実行時間を画像表示するまでの動作を示すフローチャートである。
【００３７】
まず、ステップＳ１において、入力装置１１から試験プログラム４の各実行命令毎の試験実行時間の画像表示を行う旨の指示入力がなされると、当該指示が統括制御ソフト９Ｃに入力される。そして、統括制御ソフト９Ｃは、試験時間カウント制御ソフト５Ｂと、試験プログラム監視ソフト８Ｂと、表示制御ソフト８Ｃに実行開始の指示信号を出力する。実行開始の指示信号を入力した試験時間カウント制御ソフト５Ｂは、試験時間カウント部５Ａのカウント値の出力をデータ記録部８Ａに設定して、試験時間カウント部５Ａにカウント開始を指示するとともに、試験プログラム４にＩＣ試験の実行開始の指示信号を出力する。
【００３８】
次に、ステップＳ２において、統括制御ソフト９Ｃから実行開始の指示信号を入力した試験プログラム監視ソフト８Ｂは、試験プログラム４の実行を監視して、実行している命令のプログラム上の位置を読み込み、データ記録部８Ａに当該命令位置を出力するとともに、試験時間カウント部５Ａから出力された当該命令位置に対応する当該命令のカウント値を、当該命令位置と併せて記録させる。そして、試験プログラム監視ソフト８Ｂは、試験プログラム４の実行命令毎に、プログラム上の位置とカウント値をデータ記録部８Ａに記録させる処理を、試験プログラム４が終了するまで繰り返し実行する。
【００３９】
次いで、ステップＳ３において、表示制御ソフト８Ｃは、データ記録部８Ａに記録されている試験プログラム４の実行命令毎のプログラム上の実行位置とカウント値を順次入力し、キャラクタデータに変換して、表示データとして仮想端末９Ａに出力する。
【００４０】
ここで、キャラクタデータに変換されたデータは、試験プログラム４の実行命令毎のプログラム上の位置と、実行命令毎の実行時間である。実行時間は、求める位置のカウント値から直前のカウント値の差を求めることにより算出される。
【００４１】
ステップＳ４において、仮想端末９Ａが、表示制御ソフト８Ｃから出力されたデータを画像制御ソフト９Ｂに出力すると、画像制御ソフト９Ｂは、当該データに基づいて、グラフ表示するための画像データを作成する。
【００４２】
次いで、ステップＳ５において、画像制御ソフト９Ｂによって作成された画像データが表示装置１２へ出力され、表示装置１２に画像として表示される。
【００４３】
ここで、図３に、一例として、データ記録部８Ａが記録した、試験時間カウント部５Ａから出力されたカウント値と、試験プログラム監視ソフト８Ｂから出力された試験プログラム４の実行命令位置とのデータイメージを示す。図３において、カウント値は、試験プログラム４の実行開始からカウントされた値であるため、累積されている。
【００４４】
また、図４に、一例として、表示制御ソフト８Ｃが仮想端末９Ａに出力するデータのイメージ図を示す。図４において、ＬＩＮＥとは、試験プログラム４における実行命令毎のプログラム上の位置を表し、ＴＩＭＥとは、その命令の実行時間を表している。また、ＴＩＭＥの各値は、図３における累積されたカウント値から求まる、当該命令のみに係る実行時間である。
【００４５】
また、図５に、表示装置１２に表示された画像データの一例を示す。図５において、画像データに表示されたグラフは、横軸が試験プログラム４における各実行命令のプログラム上の位置を表しており、縦軸が実行時間を表している。また、棒グラフは各命令毎の実行時間を表しており、折れ線グラフが試験プログラム４の実行開始から実行終了までの累計時間を表す２次元グラフである。
【００４６】
以上のように、本発明を適用したＩＣ試験装置１は、従来のＩＣ試験装置１００に、試験時間記録・出力装置８と、画像制御装置９を更に備えた構成であり、試験プログラム４内の実行命令毎の実行時間が試験時間カウント装置５によってカウントされるとともに、試験時間記録・出力装置８に記録されて、最終的に、画像制御装置９によって画像データとして各実行命令毎の実行時間が表示装置１２に表示される。
【００４７】
したがって、試験プログラムの試験時間が画像データとして、実行命令毎に表示されるため、試験時間全体における各実行命令の割合を容易に把握することができる。このため、試験プログラムの解析効率を向上させて、試験プログラムの冗長な記述を改善することが可能であり、ＩＣ試験に係る試験時間の短縮／高効率化が求められている今日において、その目的を達成することが可能である。
【００４８】
また，ＩＣ試験装置１は、従来のＩＣ試験装置に試験時間記録・出力装置８と、画像制御装置９を更に備えた構成であるため、従来のＩＣ試験装置の資源を変更・改造する必要がない。即ち、試験時間記録・出力装置８及び画像制御装置９を開発するだけで本発明の適用が可能であるため、開発効率に優れ、また、１台の試験時間記録・出力装置８及び画像制御装置９を開発するだけで、複数の従来のＩＣ試験装置へ適用することが可能である。
【００４９】
なお、本発明は、上記実施の形態の内容に限定されるものではなく、本発明の趣旨を逸脱しない範囲で適宜変更可能であり、例えば、試験プログラム４中の所望位置に計測命令コードを埋め込んで、当該計測命令コード毎に試験時間を計測するような構成としてもよい。その場合には、試験プログラム４に膨大な数の実行命令が含まれている場合にも、最終的なグラフ表示として、所望の数に分割された試験プログラム４の実行時間が表示されるため、分かり易い表示を得ることが可能である。また、試験プログラム４中の、冗長性があると思われる記述の前後に、適宜計測命令コードを埋め込むことによって、試験プログラム４の解析作業を更に効率的に行うことが可能である。
【００５０】
また、データ記録部８Ａに記録された各実行命令のカウント値と命令位置を画像制御ソフト９Ｂに直接出力し、画像制御ソフト９Ｂがグラフ表示するための画像データを作成することとしてもよい。
【００５１】
また、表示制御ソフト８Ｃによってキャラクタデータに変換されたカウント値と命令位置を、表示装置１２へ出力し、キャラクタデータとして表示することとしてもよい。
【００５２】
【発明の効果】
請求項１記載の発明によれば、実行命令毎の実行時間を把握することができるため、試験プログラム記述の冗長性を発見・改善して、ＩＣ試験全体に係る試験時間の短縮化を図ることができる。
【００５３】
請求項２記載の発明によれば、請求項１記載の発明の効果に加えて、従来のＩＣ試験装置において利用されていたキャラクタ表示の表示装置を用いて、実行命令毎の実行時間を表示させることができるため、本発明を適用するためのコストを低減させることが可能となる。
【００５４】
請求項３記載の発明によれば、請求項１または２記載の発明の効果に加えて、実行命令と実行時間が画像データとして表示されるため、ＩＣ試験時間全体における各実行命令の実行時間の割合を容易に把握することができる。
【００５５】
請求項４記載の発明によれば、請求項３記載の発明の効果に加えて、ＩＣ試験時間全体における各実行命令の実行時間の割合を、より分かり易く表示させることができる。
【００５６】
請求項５記載の発明によれば、請求項１〜４記載の発明の効果に加えて、試験プログラムに膨大な数の実行命令が含まれている場合にも、所望の数に分割された試験プログラムの実行時間を得ることができるとともに、試験プログラム中の、冗長性があると思われる記述の前後に、適宜計測位置情報を埋め込むことによって、試験プログラムの解析作業を更に効率的に行うことが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明を適用したＩＣ試験装置１の機能ブロックを示す図。
【図２】図１のＩＣ試験装置１が、試験プログラム４の各実行命令毎の試験実行時間を画像表示するまでの動作を示すフローチャート。
【図３】図１のデータ記録部８Ａが記録した、試験時間カウント部５Ａから出力されたカウント値と、試験プログラム監視ソフト８Ｂから出力された試験プログラム４の実行命令位置とのデータイメージを示す図。
【図４】図１の表示制御ソフト８Ｃが仮想端末９Ａに出力するデータのイメージを示す図。
【図５】図１の表示装置１２に表示された画像データの一例を示す図。
【図６】従来のＩＣ試験装置１００の機能ブロックを示す図。
【図７】従来のＩＣ試験装置１００における表示装置１２に表示された試験時間の一例を示す図。
【符号の説明】
１、１００ＩＣ試験装置
３ＩＣ試験部
４試験プログラム
５試験時間カウント装置
５Ａ試験時間カウント部
５Ｂ試験時間カウント制御ソフトウェア
６表示制御装置
６Ａ表示制御ソフトウェア
８試験時間記録・出力装置
８Ａデータ記録部
８Ｂ試験プログラム監視ソフトウェア
８Ｃ表示制御ソフトウェア
９画像制御装置
９Ａ仮想端末
９Ｂ画像制御ソフトウェア
９Ｃ統括制御ソフトウェア
１１入力装置
１２表示装置[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an IC test apparatus that displays an execution time of an IC test program.
[0002]
[Prior art]
An example of a method for measuring and displaying the execution time of an IC test program according to a conventional IC (Integrated Circuit) test apparatus will be described with reference to FIGS. FIG. 6 is a diagram showing functional blocks of the conventional IC test apparatus 100. The IC test apparatus 100 includes an IC test apparatus main body 20, an input device 11, and a display device 12. The IC test apparatus main body 20 includes an IC test unit 3, a test program 4, and a test time counting device. 5 and the display control device 6. The test time counting device 5 includes a test time counting unit 5A and test time count control software (hereinafter, “software” is appropriately abbreviated as “software”) 5B. The display control software 6A.
[0003]
Here, each of the test program 4, the test time count control software 5B, and the display control software 6A is independent software. Actually, an execution unit (for example, CPU (Central Processing CPU) for executing the operation of each software is executed. However, in order to facilitate the explanation of the operation of the execution unit in each software, the following description will be made on the assumption that the software itself performs the operation.
[0004]
In the IC test apparatus 100, in order to measure and display the execution time of the test program 4, first, when an instruction input for executing the acquisition of the test time count of the test program 4 is performed from the input device 11, the instruction is tested. Input to the time count control software 5B.
[0005]
Next, the test time count control software 5B initializes the count value of the test time count unit 5A and causes the test time count unit 5A to start counting. Then, the test time count control software 5B instructs the start of execution of the test program 4, whereby the test of the sample IC held in the IC test unit 3 by the test program 4 is started.
[0006]
When the execution of the test program 4 ends, the test time count control software 5B instructs the test time count unit 5A to end the count. Then, when the count value is output to the display control software 6A, the display control software 6A converts the count value into character data, and displays the character on the display device 12.
[0007]
FIG. 7 is a diagram illustrating an example of the test time displayed on the display device 12 in the IC test apparatus 100. In FIG. 7, it is displayed that the execution time of the test program for the IC test was 12.111 sec.
[0008]
Thus, the display of the execution time of the test program in the conventional IC test apparatus is such that only the time from the start of execution of the test program to the end of execution is displayed on the display device.
[0009]
On the other hand, the test program describes a series of processes for performing various IC tests. For this reason, it is possible to shorten the test time concerning the whole IC test by reviewing the description of the test program.
[0010]
[Problems to be solved by the invention]
However, since the conventional IC test apparatus displays only the execution time of the test program as described above, the execution time of each execution instruction is analyzed by displaying the execution time of the test program for each execution instruction. It was difficult to find and improve the redundancy of the test program description and to shorten the test time for the entire IC test.
[0011]
Even if the execution time is displayed for each execution instruction, it is easy to check the execution time that only the execution time is displayed in characters, but the ratio of each execution instruction in the entire IC test is known. It is hard to do.
[0012]
Furthermore, analysis of test program descriptions is usually performed before full-scale IC testing is performed, and since it is necessary to remodel all of the various IC test apparatuses, a large amount of cost is required. Ideally, it is possible to add / remove a device for analysis work described in the test program separately without modifying the IC test device itself.
[0013]
An object of the present invention is to provide an IC test apparatus capable of recording and outputting the execution time of an execution instruction unit of a test program for performing an IC test using a conventional test time counting apparatus.
[0014]
[Means for Solving the Problems]
The IC test apparatus according to the first aspect of the invention includes a storage unit (for example, the data recording unit 8A) for storing the execution time of each execution instruction of the IC test program in association with the execution instruction, and the IC test program. Execution means (for example, IC test unit 3 and test program 4) to be executed , and a cumulative number for cumulatively counting the execution time of the IC test program executed by the execution means from the start of execution to at least the end of execution of the IC test program Means (for example, the test time counting unit 5A and the test time counting software 5B) and the execution means are cumulatively counted by the accumulation means for each execution instruction of the IC test program while the execution means is executing the IC test program. Reading means (for example, a test program) that reads out the execution time and stores it in the storage means Visual software 8B and overall control software 9C), each execution instruction to the said cumulative stored in correspondence with the execution command immediately before from the storage means to said stored cumulatively counted running time corresponding And calculating means for obtaining an execution time related to only each execution instruction by subtracting the counted execution time .
[0015]
According to the IC test apparatus of the invention described in claim 1,
The storage means stores the execution time of each execution instruction of the IC test program in association with the execution instruction, the execution means executes the IC test program, and the accumulation means includes an IC executed by the execution means. The execution time of the test program is accumulated from the start of execution, and the reading means reads the execution time accumulated by the accumulation means for each execution instruction of the IC test program while the execution means is executing the IC test program. To be stored in the storage means.
[0016]
Therefore, since the execution time for each execution instruction can be grasped, the redundancy of the test program description can be found and improved, and the test time for the entire IC test can be shortened.
[0017]
The invention according to claim 2
The IC test apparatus according to claim 1,
Characteristic display means (for example, display control software 8C) for displaying the execution instruction and execution time stored by the storage means as a character for each execution instruction is further provided.
[0018]
According to the second aspect of the invention, in addition to the effect of the first aspect of the invention, the execution time for each execution instruction is displayed by using the character display device used in the conventional IC test apparatus. Therefore, the cost for applying the present invention can be reduced.
[0019]
The invention according to claim 3
The IC test apparatus according to claim 1 or 2,
The image processing device further includes image creation means (for example, image control software 9B) that creates and displays image data based on the execution instruction and execution time stored in the storage means.
[0020]
According to the invention described in claim 3, in addition to the effect of the invention described in claim 1 or 2, the execution instruction and execution time are displayed as image data. Therefore, the execution time of each execution instruction in the entire IC test time Can be easily grasped.
[0021]
Further, as in the invention according to claim 4,
The IC test apparatus according to claim 3, wherein
The image creation means may create and display a bar graph or a line graph as the image data based on the execution command and execution time stored in the storage means.
[0022]
According to the fourth aspect of the invention, in addition to the effect of the third aspect of the invention, the ratio of the execution time of each execution instruction in the entire IC test time can be displayed in a more easily understandable manner.
[0023]
Moreover, in the IC test apparatus according to any one of claims 1 to 4, as in the invention according to claim 5, the reading means includes measurement position information (for example, a measurement instruction code) inserted in the IC test program. ), The execution time cumulatively counted by the accumulating means may be read out and stored in the storage means.
[0024]
According to the fifth aspect of the invention, in addition to the effects of the first to fourth aspects of the invention, even when a large number of execution instructions are included in the test program, the test program is divided into a desired number. The test program execution time can be obtained, and the test program analysis work can be performed more efficiently by embedding measurement position information as appropriate before and after the description that seems redundant in the test program. Is possible.
[0025]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Hereinafter, an embodiment of an IC test apparatus 1 to which the present invention is applied will be described in detail with reference to FIGS.
[0026]
The IC test apparatus 1 to which the present invention is applied has a configuration in which the conventional IC test apparatus 100 (see FIG. 6) is further provided with a test time recording / output device 8 and an image control device 9. The execution time for each execution instruction is counted (measured) by the test time counting device 5 and is recorded in the test time recording / output device 8, and finally, for each execution instruction as image data by the image control device 9. The execution time is displayed on the display device 12.
[0027]
First, the configuration will be described.
FIG. 1 is a functional block diagram of an IC test apparatus 1 in the present embodiment. In the IC test apparatus 1 of the present embodiment, the same parts as those of the conventional IC test apparatus 100 shown in FIG.
[0028]
In FIG. 1, an IC test apparatus 1 includes an IC test apparatus main body 10, an input device 11, and a display device 12, and the IC test apparatus main body 10 includes an IC test unit 3, a test program 4, The test time counting device 5 is composed of a test time recording / output device 8 and an image control device 9.
[0029]
Here, in addition to the test program 4, test time count control software (hereinafter, “software” is abbreviated as “software”) 5B, test program monitoring software 8B, display control software 8C, image control software 9B, which will be described later. The overall control software 9C is independent software, and there is actually an execution unit (for example, a CPU) for operating and executing each software. However, it is easy to explain the operation of the execution unit in each software. Therefore, the following description will be made on the assumption that the software itself performs an operation.
[0030]
In FIG. 1, an IC test unit 3 is a test unit that actually tests an IC to be measured in accordance with a test program 4. The test program 4 includes IC procedures as test procedures for performing various IC tests. The operation procedure of each part in the test part 3 is described.
[0031]
As with the conventional IC test apparatus 100, the test time counting apparatus 5 counts (measures) the test execution time of the test program 4 and the test time count control software 5B that controls the test time counting section 5A. It consists of and. The output of the test time counting unit 5A is normally set in the display control device 6 (see FIG. 6), similar to the configuration of the conventional IC test device 100, but the test execution time is measured in units of execution instructions. When performing, the overall control software 9C sets the data recording unit 8A and outputs the measured count value to the data recording unit 8A for each execution instruction unit.
[0032]
The test time recording / output device 8 includes a data recording unit 8A, test program monitoring software 8B, and display control software 8C. The test program monitoring software 8B determines the position of each execution instruction in the test program 4. Monitoring and outputting to the data recording unit 8A, the data recording unit 8A records the count value output from the test time counting unit 5A and the instruction position of each execution instruction output from the test program monitoring software 8B. The display control software 8C converts the count value and the command position recorded by the data recording unit 8A into character data and outputs the same as the display control software 6A of the conventional IC test apparatus 100. However, the output destination is the virtual terminal 9A that functions as a virtual display device.
[0033]
The image control device 9 includes a virtual terminal 9A, image control software 9B, and overall control software 9C. The virtual terminal 9A is a terminal that does not actually display and functions as a virtual display device. The count value and command position of each execution command converted into character data input from the display control software 8C are output to the image control software 9B. The image control software 9B creates image data for graph display based on the count value and command position of each execution command input from the virtual terminal 9A and causes the display device 12 to display the image data.
[0034]
The overall control software 9C controls the test time count control software 5B, the test program monitoring software 8B, the display control software 8C, etc. in order to measure the test execution time in units of execution instructions. An instruction signal for acquiring the test time is output to the control software 5B, an instruction signal for recording the output of the test time counting unit 5A in the data recording unit 8A, and the output of the display control software 8C. Set to virtual terminal 9A.
[0035]
The input device 11 is a device for executing an instruction input for executing the test program 4 and starting the measurement of the test execution time for each execution instruction in the test program 4, and the instruction input is the overall control software 9C. Is output.
[0036]
Next, the operation will be described.
FIG. 2 is a flowchart showing an operation until the IC test apparatus 1 displays an image of the test execution time for each execution instruction of the test program 4.
[0037]
First, in step S1, when an instruction is input to display an image of the test execution time for each execution instruction of the test program 4 from the input device 11, the instruction is input to the overall control software 9C. Then, the overall control software 9C outputs an execution start instruction signal to the test time count control software 5B, the test program monitoring software 8B, and the display control software 8C. The test time count control software 5B that has received the execution start instruction signal sets the output of the count value of the test time count unit 5A to the data recording unit 8A, instructs the test time count unit 5A to start counting, and An instruction signal for starting the IC test is output to the program 4.
[0038]
Next, in step S2, the test program monitoring software 8B, which has received the execution start instruction signal from the overall control software 9C, monitors the execution of the test program 4, reads the position of the instruction being executed on the program, The command position is output to the data recording unit 8A, and the count value of the command corresponding to the command position output from the test time counting unit 5A is recorded together with the command position. Then, the test program monitoring software 8B repeatedly executes a process for recording the position on the program and the count value in the data recording unit 8A for each execution instruction of the test program 4 until the test program 4 is completed.
[0039]
Next, in step S3, the display control software 8C sequentially inputs the execution position and count value on the program for each execution instruction of the test program 4 recorded in the data recording unit 8A, converts it into character data, and displays it. The data is output to the virtual terminal 9A.
[0040]
Here, the data converted into the character data is the position on the program for each execution instruction of the test program 4 and the execution time for each execution instruction. The execution time is calculated by calculating the difference between the previous count value and the count value at the calculated position.
[0041]
In step S4, when the virtual terminal 9A outputs the data output from the display control software 8C to the image control software 9B, the image control software 9B creates image data for graph display based on the data.
[0042]
Next, in step S <b> 5, the image data created by the image control software 9 </ b> B is output to the display device 12 and displayed as an image on the display device 12.
[0043]
Here, in FIG. 3, as an example, data recorded by the data recording unit 8A and the count value output from the test time counting unit 5A and the execution instruction position of the test program 4 output from the test program monitoring software 8B Show the image. In FIG. 3, since the count value is a value counted from the start of execution of the test program 4, it is accumulated.
[0044]
FIG. 4 shows an image diagram of data output to the virtual terminal 9A by the display control software 8C as an example. In FIG. 4, LINE represents the position on the program for each execution instruction in the test program 4, and TIME represents the execution time of the instruction. Each value of TIME is an execution time relating to only the instruction, which is obtained from the accumulated count value in FIG.
[0045]
FIG. 5 shows an example of image data displayed on the display device 12. In the graph displayed on the image data in FIG. 5, the horizontal axis represents the position of each execution instruction in the test program 4 on the program, and the vertical axis represents the execution time. The bar graph represents the execution time for each instruction, and the line graph is a two-dimensional graph representing the accumulated time from the start of execution of the test program 4 to the end of execution.
[0046]
As described above, the IC test apparatus 1 to which the present invention is applied has a configuration in which the conventional IC test apparatus 100 is further provided with the test time recording / output device 8 and the image control device 9. The execution time for each execution instruction is counted by the test time counting device 5 and recorded in the test time recording / output device 8, and finally the execution time for each execution instruction as image data by the image control device 9. It is displayed on the display device 12.
[0047]
Therefore, since the test time of the test program is displayed as image data for each execution instruction, the ratio of each execution instruction in the entire test time can be easily grasped. Therefore, it is possible to improve the analysis efficiency of the test program and improve the redundant description of the test program. Can be achieved.
[0048]
Further, since the IC test apparatus 1 has a configuration in which the conventional IC test apparatus is further provided with a test time recording / output device 8 and an image control device 9, it is necessary to change or modify the resources of the conventional IC test apparatus. Absent. That is, since the present invention can be applied only by developing the test time recording / output device 8 and the image control device 9, the development time is excellent, and one test time recording / output device 8 and the image control device are provided. It is possible to apply to a plurality of conventional IC test apparatuses simply by developing 9.
[0049]
The present invention is not limited to the contents of the above-described embodiment, and can be appropriately changed without departing from the spirit of the present invention. For example, a measurement instruction code is embedded at a desired position in the test program 4. Thus, the test time may be measured for each measurement instruction code. In that case, even when the test program 4 includes a huge number of execution instructions, the execution time of the test program 4 divided into a desired number is displayed as a final graph display. An easy-to-understand display can be obtained. Also, by appropriately embedding measurement instruction codes before and after the description that seems to have redundancy in the test program 4, the analysis work of the test program 4 can be performed more efficiently.
[0050]
Alternatively, the count value and instruction position of each execution instruction recorded in the data recording unit 8A may be directly output to the image control software 9B, and the image control software 9B may create image data for graph display.
[0051]
Further, the count value and the command position converted into the character data by the display control software 8C may be output to the display device 12 and displayed as the character data.
[0052]
【The invention's effect】
According to the first aspect of the present invention, since the execution time for each execution instruction can be grasped, the redundancy of the test program description is discovered and improved, and the test time for the entire IC test is shortened. Can do.
[0053]
According to the invention described in claim 2, in addition to the effect of the invention described in claim 1, the execution time for each execution instruction is displayed by using the character display device used in the conventional IC test apparatus. Therefore, the cost for applying the present invention can be reduced.
[0054]
According to the invention described in claim 3, in addition to the effect of the invention described in claim 1 or 2, since the execution instruction and the execution time are displayed as image data, the execution time of each execution instruction in the entire IC test time is displayed. The ratio can be easily grasped.
[0055]
According to the invention described in claim 4, in addition to the effect of the invention described in claim 3, the ratio of the execution time of each execution instruction in the entire IC test time can be displayed more easily.
[0056]
According to the invention described in claim 5, in addition to the effects of the invention described in claims 1-4, the test divided into a desired number even when the test program includes a large number of execution instructions The execution time of the program can be obtained, and analysis of the test program can be performed more efficiently by appropriately embedding measurement position information before and after the description that seems to be redundant in the test program. Is possible.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a functional block diagram of an IC test apparatus 1 to which the present invention is applied.
2 is a flowchart showing an operation until the IC test apparatus 1 of FIG. 1 displays an image of a test execution time for each execution instruction of a test program 4. FIG.
3 shows a data image of the count value output from the test time counting unit 5A and the execution instruction position of the test program 4 output from the test program monitoring software 8B recorded by the data recording unit 8A of FIG. Figure.
4 is a diagram showing an image of data output to the virtual terminal 9A by the display control software 8C of FIG. 1. FIG.
FIG. 5 is a view showing an example of image data displayed on the display device 12 of FIG. 1;
6 is a diagram showing functional blocks of a conventional IC test apparatus 100. FIG.
7 is a diagram showing an example of a test time displayed on a display device 12 in a conventional IC test apparatus 100. FIG.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1,100 IC test apparatus 3 IC test part 4 Test program 5 Test time count apparatus 5A Test time count part 5B Test time count control software 6 Display control apparatus 6A Display control software 8 Test time recording / output apparatus 8A Data recording part 8B Test Program monitoring software 8C Display control software 9 Image control device 9A Virtual terminal 9B Image control software 9C General control software 11 Input device 12 Display device

Claims

Storage means for storing the execution time of each execution instruction of the IC test program in association with the execution instruction;
Execution means for executing the IC test program;
Totalizing means for cumulatively counting the execution time of the IC test program executed by the execution means from the start of execution to at least the end of execution of the IC test program ;
A reading means for reading the execution time cumulatively counted by the accumulating means for each execution instruction of the IC test program while the execution means is executing the IC test program;
By subtracting the cumulatively counted execution time stored corresponding to the immediately preceding execution instruction from the cumulatively counted execution time stored in the storage means corresponding to each execution instruction. A calculation means for obtaining an execution time relating only to an execution instruction;
An IC test apparatus comprising:

2. The IC test apparatus according to claim 1, further comprising character display means for displaying the execution instruction and execution time stored by the storage means in a character for each execution instruction.

3. The IC test apparatus according to claim 1, further comprising image creating means for creating and displaying image data based on the execution instruction and execution time stored by the storage means.

4. The IC test apparatus according to claim 3, wherein the image creating unit creates and displays a bar graph or a line graph as the image data based on the execution instruction and the execution time stored in the storage unit.

The reading means reads out the execution time cumulatively counted by the accumulating means for each measurement position information inserted in the IC test program, and stores it in the storage means. The IC test apparatus according to any one of?