JP4206005B2 - 不揮発性半導体記憶装置 - Google Patents
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Description
図1は、第1実施形態における本発明装置1の機能的な概略構成を示すブロック構成図である。図1に示すように、本発明装置1は、データを保持するメモリアレイ10と、アドレス信号及び制御信号の遷移を検出するアドレス遷移検出回路11と、コマンドをデコードするコマンドデコーダ12と、出力モードを保持する出力モードレジスタ13と、メモリアレイ10へのデータの書き換え動作を所定の処理手順と処理条件に従って制御するライトステートマシン14(メモリアレイ10に対するデータの書き換え動作を制御する書き換え制御手段の一例)、そのライトステートマシ14のステータスを示す状態データを保持するステータスレジスタ15(メモリアレイ以外の記憶領域であって記憶したデータを外部に出力可能な補助記憶領域の一例)と、後述する第1データと第2データを生成するとともに、1つの読み出しサイクル中において、第1のタイミングの前と後に設定された2つの読み出し期間(第1期間と第2期間)に、第1データと第2データを各別に選択して順番に出力する出力選択手段17と、アドレス遷移検出回路11が発生するアドレス遷移検出信号SAに基づき前記第1のタイミングを決定する第1タイミング信号ST1を発生する第1タイミング発生手段21を備えて構成される。
図5は、第2実施形態における本発明装置2の機能的な概略構成を示すブロック構成図である。図5に示すように、本発明装置2は、第1実施形態における本発明装置1にワイヤボンディング回路22を追加した構成となっている。
図6は、第3実施形態における本発明装置3の機能的な概略構成を示すブロック構成図である。図6に示すように、本発明装置3は、第1実施形態における本発明装置1にタイミングレジスタ23を追加した構成となっている。
図7は、第4実施形態における本発明装置4の機能的な概略構成を示すブロック構成図である。図1に示すように、本発明装置4は、データを保持するメモリアレイ10と、アドレス信号及び制御信号の遷移を検出するアドレス遷移検出回路11と、コマンドをデコードするコマンドデコーダ12と、出力モードを保持する出力モードレジスタ13と、メモリアレイ10へのデータの書き換え動作を所定の処理手順に従って制御するライトステートマシン14と、そのライトステートマシ14のステータスを示す状態データを保持するステータスレジスタ15と、第1データと第2データを生成するとともに、1つの読み出しサイクル中において、第2のタイミングで開始する2つの読み出し期間(第1期間)と第1のタイミングで開始する読み出し期間(第2期間)に、第1データと第2データを各別に選択して順番に出力する出力選択手段17’と、アドレス遷移検出回路11が発生するアドレス遷移検出信号SAに基づき前記第1のタイミングを決定する第1タイミング信号ST1を発生する第1タイミング発生手段21と、アドレス遷移検出回路11が発生するアドレス遷移検出信号SAに基づき前記第2のタイミングを決定する第2タイミング信号ST2を発生する第2タイミング発生手段24を備えて構成される。
図9は、第5実施形態における本発明装置5の機能的な概略構成を示すブロック構成図である。図9に示すように、本発明装置5は、第4実施形態における本発明装置4に第1ワイヤボンディング回路22と第2ワイヤボンディング回路25を追加した構成となっている。
図10は、第6実施形態における本発明装置6の機能的な概略構成を示すブロック構成図である。図10に示すように、本発明装置6は、第4実施形態における本発明装置4に第1タイミングレジスタ23と第2タイミングレジスタ26を追加した構成となっている。
10 :メモリアレイ
11 :アドレス遷移検出回路
12 :コマンドデコーダ
13 :出力モードレジスタ
14 :ライトステートマシン(書き換え制御手段)
15 :ステータスレジスタ(補助記憶領域)
16 :データ出力手段
17 :出力選択手段
17’:出力選択手段
18 :第1データ生成部
19 :第2データ生成部
20 :出力切替部
20’:出力切替部
21 :第1タイミング発生手段
22 :ワイヤボンディング回路(第1ワイヤボンディング回路)
23 :タイミングレジスタ(第1タイミングレジスタ)
24 :第2タイミング発生手段
25 :第2ワイヤボンディング回路
26 :第2タイミングレジスタ
SA :アドレス遷移検出信号
ST1:第1タイミング信号
ST2:第2タイミング信号
SS1:選択信号(第1選択信号)
SS2:第2選択信号
DS1:タイミング設定データ(第1タイミング設定データ)
DS2:第2タイミング設定データ
Claims (10)
- 電気的に書き換え可能な不揮発性のメモリセルをマトリクス状に複数配列してなるメモリアレイと、前記メモリアレイ以外の記憶領域であって前記メモリアレイ内のアドレス入力信号により指定されるアドレス領域とは別領域に設けられた、記憶したデータを外部に出力可能な補助記憶領域と、を備えてなる不揮発性半導体記憶装置であって、
第一のタイミングを決定する第一タイミング信号を発生する第一タイミング発生手段を備え、
1つの読み出しサイクル中において、前記補助記憶領域に記憶されている補助データを出力する場合、前記メモリアレイ内のアドレス入力信号により指定されたアドレス領域に記憶されている主データと前記補助データの内の一方のデータを先に選択して出力してから、前記第1のタイミングで他方のデータに選択を切り替えて出力する出力選択手段を備えていることを特徴とする不揮発性半導体記憶装置。 - 前記出力選択手段は、前記主データを先に選択して出力することを特徴とする請求項1に記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記読み出しサイクル中において、前記出力選択手段は、前記補助データを出力しない場合、前記第1のタイミングの前後両側で前記主データを選択して出力することを特徴とする請求項1または2に記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 前記第1タイミング発生手段は、前記第1のタイミング設定用の1または2以上のボンディングパッドのボンディング状態に応じて前記第1タイミング信号の発生タイミングを変更可能に構成されていることを特徴とする請求項1〜3の何れか一項に記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 外部から入力される第1タイミング設定コマンドを受け付けて記憶する第1タイミングレジスタを備え、
前記第1タイミング発生手段は、前記第1タイミングレジスタに記憶された前記第1タイミング設定コマンドの値に応じて前記第1タイミング信号の発生タイミングを変更可能に構成されていることを特徴とする請求項1〜3の何れか一項に記載の不揮発性半導体記憶装置。 - 1つの読み出しサイクル内における前記第1のタイミングに先行する第2のタイミングを決定する第2タイミング信号を発生する第2タイミング発生手段を備え、
前記出力選択手段は、前記第2タイミング発生手段が発生する前記第2タイミング信号に同期して前記主データと前記補助データの何れか一方を選択して出力することを特徴とする請求項1〜5の何れか1項に記載の不揮発性半導体記憶装置。 - 前記第2タイミング発生手段は、前記第2のタイミング設定用の1または2以上のボンディングパッドのボンディング状態に応じて前記第2タイミング信号の発生タイミングを変更可能に構成されていることを特徴とする請求項6に記載の不揮発性半導体記憶装置。
- 外部から入力される第2タイミング設定コマンドを受け付けて記憶する第2タイミングレジスタを備え、
前記第2タイミング発生手段は、前記第2タイミングレジスタに記憶された前記第2タイミング設定コマンドの値に応じて前記第2タイミング信号の発生タイミングを変更可能に構成されていることを特徴とする請求項6に記載の不揮発性半導体記憶装置。 - 前記メモリアレイに対するデータの書き換え動作を制御する書き換え制御手段を備え、
前記補助記憶領域は、前記書き換え制御手段による書き換え動作に係る内部状態を記憶する状態レジスタであることを特徴とする請求項1〜8の何れか1項に記載の不揮発性半導体記憶装置。 - 外部から入力される出力選択コマンドを受け付けて記憶する出力モードレジスタを備え、
前記出力選択手段は、前記出力モードレジスタに保持されている前記出力選択コマンドの値に応じて、前記補助データを出力するかしないかを判定することを特徴とする請求項1〜9の何れか1項に記載の不揮発性半導体記憶装置。
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2005038509A JP2005038509A (ja) | 2005-02-10 |
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RD04 | Notification of resignation of power of attorney |
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A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20050810 |
|
A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20080521 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
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A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
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FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
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