JP4203811B2 - Tftアレイ検査装置 - Google Patents
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- TFT基板に電子線を照射し、当該電子線照射によりTFT基板のピクセルから発生する二次電子を検出することによってTFTアレイを検査するTFTアレイ検査装置において、
TFT基板に配列されるピクセルからなる検査対象領域に前記電子線を走査し、当該走査により検出される二次電子により得られる検査対象領域における二次元配列データから低周波成分情報を抽出し、当該低周波成分情報を用いてTFT基板の欠陥情報を求めるデータ処理手段を備え、
前記データ処理手段は、選出するデータの個数を定める個数パラメータと、選出するデータ間の間隔を定めるサンプルレートパラメータとを備える所定規則を備え、
前記所定規則のサンプルレートパラメータに基づいて定められたデータ間の間隔を2以上とする空間配列をマスクとして、前記二次元配列データから前記所定規則の個数パラメータに基づいて定められた所定個数の一次元配列データを選出する標本化処理と、
当該標本化処理により選出した一次元配列データを用いて低周波成分情報を抽出するローパスフィルタ処理とを、検査対象領域に対して前記マスクを順にずらして行うことにより、検査対象領域の低周波成分情報を抽出することを特徴とする、TFTアレイ検査装置。 - 前記空間配列を用いた前記標本化処理によって行う低周波成分情報の抽出を一処理段階とし、
前記サンプルレートパラメータの変更により形成される異なる空間配列を用いることにより前記一処理段階を多段階で行うことを特徴とする請求項1に記載のTFTアレイ検査装置。 - 前記サンプルレートパラメータは2のべき乗であり、2の0乗よりも大としてデータ間の間隔を2以上とすることを特徴とする請求項1又は2に記載のTFTアレイ検査装置。
- 前記個数パラメータは奇数であり、前記ローパスフィルタ処理はメディアンフィルタ処理であることを特徴とする請求項1から3の何れか一つに記載のTFTアレイ検査装置。
- 前記二次元配列データは、各ピクセルから発生する二次電子を検出して得られる検出信号又は当該検出信号から得られる派生データであり、一ピクセルを単位として二次元配列する、又は複数ピクセルを単位とする二次元配列することを特徴とする請求項1から4の何れか一つに記載のTFTアレイ検査装置。
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