JP4169020B2 - 半導体装置接合部強度評価装置 - Google Patents
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Description
0.5Cu 製である。はんだボールは260℃ピークで窒素フロー下で搭載した。リフロー条件は前記はんだボール搭載条件と同様である。リフロー回数に対してボール脱落数が増えていく傾向があることが確認できる。しかし、同一条件で同様のサンプルに対する試験結果(図20)に示すように、リフロー回数に対してボール脱落数が増えていく傾向は確認できるけれども、その軌跡は図19と一致しない。これはトレーの落下状態が一定ではないためである。つまり、ある落下時にはトレーが床面に平行に落下、別のある落下時にはトレーの端部が床面に激突、というように、その落下状態が一定にはならない。これでは許容できるリフロー回数を正確に設定することができない。
図1は本発明の実施例の一つの構成を示したもので光学式速度測定器をもつ衝撃試験機の側面図である。図2は図1の左側方向から見た側面図である。また、図3は右側面から見た振上げ機構の詳細図である。
ところで、実施例1で測定した耐衝撃エネルギーは、厳密にははんだボールの弾性塑性変形エネルギー,はんだボール接合部の接合エネルギーの総和である。
実施例1による衝撃性評価は十分可能である。図9(1),(2)は、アーム4が回転する際に慣性質量や摩擦抵抗によるエネルギー損失を軽減するために図3の振上げ機構の構成を改善した例である。
図10は振上げ角度を手動で設定する機構を有する装置の正面図である。また、図11は図10の破線部を手動振上げアーム21を左斜上方から見た図である。振上げ機構部の構成は、アーム4,アーム回転軸22,軸受3,重り5,電磁マグネット9,手動振上げアーム21,角度調整板24,固定ネジ25を有する。図3と比較して、振上げ機構部の動力源を省きシンプルな構成である。
26はアーム4の振上げ角度に対応している。この角度調整板24の角度調整穴26および手動振上げアーム21と固定ネジ25は位置および穴加工の精度が重要となる。
17は、サンプルを載せる台7に空気吸入用の穴33(孔)を設け、測定サンプル6を設置する。空気吸入用穴部を負圧にして測定サンプル6を固定する。
図31は、実施例1〜4の速度変化を測定する方法と異なり、加速度の変化を測定する装置である。測定サンプル6上のはんだボール15の衝撃性評価を目的とした装置であり、アーム4の先端に重り5を装着したアーム部はアーム回転軸18を支点とし、ある角度から振下ろす。このとき測定サンプル6上のはんだボール15は重り5の衝突面の軌道上にある。この重り5に加速度センサー35を取付け、衝突時の加速度の変化を加速度表示器36に表示する。このとき測定した加速度のデータは必要に応じ、パーソナルコンピュータ111に取込み、データ管理が可能である。また、解析ソフト等を用いて測定した加速度のデータから測定サンプル6の評価,解析が可能である。
図32は、はんだボール15に自由落下する重り40を衝突させ、重り40に取付けた加速度センサー35により衝突時の加速度変化を測定する装置である。本実施例の構成は次の通りである。ベース38の上に測定サンプル固定プレート39があり、測定サンプル6をこの測定サンプル固定プレート39に取付ける。ガイドレール41に、上下に摩擦抵抗が小さく移動することが可能なように重り40を取付ける。また、重りには加速度センサー35を装着する。
116)。
15が衝突して振抜けた後の上死点角度をθ2とする。このときの角度はθ1>θ2となる。測定したθ1とθ2の差分から、衝突により損失したエネルギーを算出することによりはんだ衝撃性評価が可能である。
Claims (9)
- 測定サンプルを搭載するための台と、先端に取り付けられた重りを測定サンプルのはんだボールに対して100mm/s以上の速度で衝突させるためのアームと、前記アームを固定・開放可能な固定開放装置を備え、前記アームを任意の角度まで振上げるための振上げアームと、前記重りの加速度を調べるための加速度センサーとを有し、
前記アームの回転軸と前記振上げアームの回転軸をそれぞれ独立して設け、前記アームの重心位置をアーム中心よりも前記重り側に設けたことを特徴とする半導体装置接合部強度評価装置。 - 請求項1において、前記アームの角度を測定するための角度測定手段を備えていることを特徴とする半導体装置接合部強度評価装置。
- 請求項2において、前記角度測定手段を前記振上げアームの回転軸に設置したことを特徴とする半導体装置接合部強度評価装置。
- 請求項1〜3のいずれかにおいて、前記測定サンプルを搭載するための台が、測定サンプルを固定するための手段を備えていることを特徴とする半導体装置接合部強度評価装置。
- 請求項1〜4のいずれかにおいて、前記測定サンプルを搭載するための台が、前記測定サンプルと前記重りとの位置合わせをするための位置決め機構を備えていることを特徴とする半導体装置接合部強度評価装置。
- 請求項1〜5のいずれかにおいて、前記重りは、測定サンプルと接触する面に傾斜を有することを特徴とする半導体装置接合部強度評価装置。
- 請求項1〜6のいずれかにおいて、前記重りを有するアームを所定の角度から振下ろし、前記重りが測定サンプルと衝突し破壊した後、前記重りが測定サンプルに接触しないように前記アームを保持する手段を設けたことを特徴とする半導体装置接合部強度評価装置。
- 請求項1〜7のいずれかにおいて、前記重りにより破壊された測定サンプルの飛散物を収納するための機構を有することを特徴とする半導体装置接合部評価装置。
- 請求項1〜8のいずれかにおいて、振子の先端に装備された治具を所定の角度まで振上げるためのアクチュエータを装備した振上げ機構を有することを特徴とする半導体装置接合部評価装置。
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