JP4164599B2 - 多色モードロックレーザを用いた光周波数測定装置及び測定方法 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、レーザの光周波数を高精度に測定する技術に関する。詳しくは、モードロックレーザからの超短パルス出力の光コム(comb)を「光周波数の物差し」として用いる光周波数測定技術に関する。
【0002】
1983年の第17回国際度量衡総会において、長さの単位「m」は、時間の単位「s」と結びつく形で次のように定義された。「メートルは、1秒の299,792,458分の1の時間に光が真空中を伝わる行程の長さである。」これは、光速度cを299,792,458m/sと定義したことと等価である。波長λ、周波数f、時間tの間には、
λ=c/f (1)
f=1/t (2)
の関係があるので、メートルの定義を忠実に実現するには、周波数安定化レーザの光周波数を測定して、上記のように定義された光速度を割ることにより真空波長を求めることで達成される。
【0003】
【従来の技術】
繰り返しパルス間隔が1/frepの超短パルス出力を周波数軸上に模式的に示すと、図7の実線で示す櫛の歯状になることから、これを光コムと呼ぶ。図7でfceoはキャリア・エンベロープ・オフセット(CEO)周波数と呼ばれる。このモードロックレーザと被測定CWレーザとをヘテロダイン干渉させると、図7に点線で示すようなビート(δは実線の光コムとのオフセット)が観測される。実線の光コムのn番目のコムは、
f(n)=nfrep+fceo (3)
と表される。同様に、点線の光コムのn番目のコムは、
fcw(n)=nfrep+fceo±δ (4)
と表される。(4)式でfrepは既知であり、δは図7から求まるので、fceoが決まれば、被測定CWレーザの光周波数fcwが求まることになる。なお、(4)式には、nと±の曖昧さがあるが、これは被測定レーザの波長を通常の波長計等で測定することで除かれる。
【0004】
従来の光周波数測定では、fceoを次のように求めている(例えば、非特許文献1参照。)。波長が778nmのTi:S(チタン:サファイア)レーザのスペクトルをフォトニック結晶ファイバ(FCB)を用いて1オクターブ以上の500nmから1100nmまで拡張して、図7に示すような1オクターブ以上に広がるTi:Sレーザの光コムを作った。すると、n番目から1オクターブ離れた2n番目のコムは、
f(2n)=2nfrep+fceo (3’)
と表される。一方、低周波の部分を切り出して第2高調波発生結晶(BBO)で第2高調波2f(n)を発生させる。そして、2n番目のコムf(2n)と第2高調波2f(n)をヘテロダイン干渉(f−2f干渉)させてビート周波数δ0を観測すると、(3)式から2f(n)は、
2f(n)=2nfrep+2fceo (5)
と表されるので、
δ0=2f(n)−f(2n)=fceo
となり、fceoが求められる。このような求め方をf−2f自己参照型(self-referenced)技術と呼ぶ。
【0005】
つまり、従来は、f−2f自己参照型技術、すなわち、基本波スペクトルを1オクターブ以上に拡張して、その後、第2高調波を発生させてf−2fヘテロダイン干渉させるものである。この従来のf−2f自己参照型技術で必要な1オクターブ以上に拡張することは、FCBの損失により強度の高い(パワーの大きい)光コムを作ることができないといった問題を有している。また、基本波から切り出して第2高調波を発生させるため、ますます強度の低い光コムになってしまう。強度が低いとfceoを高いS/Nで求めることができない。さらに、この従来の光周波数測定では、光コムが上記したように、500nm〜1100nmであるため、光通信帯の1500nm(1.5μm)のレーザの光周波数を測定することができない。
【0006】
【非特許文献1】
David J. Jones et al.,"Carrier-Envelope Phase Control of Femtosecond Mode-Locked Lasers and Direct Optical Frequency Synthesis", SIENCE, Vol.288, 28 APRIL 2000, pp635-639
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
上記のように従来の光周波数測定では、1オクターブ以上の光コムを必要とし、fceoを高いS/Nで求めることができず、測定できる波長範囲が狭いといった問題があった。
【0008】
本発明は上記従来の光周波数測定技術の問題に鑑みてなされたものであり、測定できる波長範囲の広く、1オクターブ以上の光コムを必要とせず、且つfceoを高いS/Nで求めることができる光周波数測定装置及び測定方法を提供することを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】
本発明の光周波数測定装置は、基本波と該基本波の逓倍波とを含む複数の光波を発生する多色モードロックレーザ光源と、該多色モードロックレーザ光源から発生される該複数の光波を各単色光波に分離する波長分離素子と、該波長分離素子で分離された該各単色光波の一方の単色光波のスペクトルを他方の単色光波のスペクトルとオーバラップするまで拡張するスペクトル拡張手段と、該他方の単色光波と該拡張手段で拡張された光波とを合波する第1合波手段と、該第1合波手段で合波された該他方の単色光波と該拡張された光波とのヘテロダイン干渉ビートを検出する第1検出器と、該波長分離素子で分離された該各単色光波の一つ、または該拡張された光波の一部と被測定光波とを合波する第2合波手段と、該第2合波手段で合波された該各単色光波の一つ、または該拡張された光波の一部と該被測定光波とのヘテロダイン干渉ビートを検出する第2検出器と、を有する。
【0010】
多色モードロックレーザ光源を用いているので、測定可能な波長範囲を広くすることができる。また、第1合波手段で合波された他方の単色光波と拡張された光波とのヘテロダイン干渉ビートを検出する非f−2f自己参照型のため、スペクトルを拡張した後に非線形光学効果で高調波を発生する必要がなく、高いS/Nでfceoを求めることができ、その分、光周波数を高精度で測定することができる。
【0011】
多色モードロックレーザ光源は、受動型モードロックレーザと、逓倍手段と、を有することもできる。
【0012】
受動型モードロックレーザから発生される超短パルスを基本波とし、それを逓倍手段で逓倍するので、光源をコンパクト化することができ、光源を含む光周波数測定装置を小型且つ簡便化できるようになる。
【0013】
受動型モードロックレーザは、エルビウム・ドープ・ファイバを有することができる。
【0014】
エルビウムドープファイバをレーザ媒質とすることで、受動型モードロックレーザからは、波長が1.5μmの超短パルスが発生され、これを基本波として逓倍手段で逓倍するので、測定波長範囲が可視から近赤の1.5μmまで広がる。
【0015】
逓倍波は、第2高調波と周波数が3倍の光波を含み、前記一方の単色光波は該第2高調波で、前記他方の単色光波は該3倍の光波であるようにすることもできる。
【0016】
スペクトルを拡張する一方の単色光波を第2高調波とし、拡張された第2高調波とヘテロダイン干渉する他方の単色光波を周波数が3倍の光波とすることで、拡張する一方の単色光波(光コム)を、0.5オクターブ拡張するだけで他方の単色光波(光コム)とオーバラップするので、拡張された光波の強度低下が押さえられ、fceoを高いS/Nで求めることができるようになる。
【0017】
第1合波手段は、合波される他方の単色光波と拡張手段で拡張された光波との一方を遅延する遅延線を有することもできる。
【0018】
合波される光波を遅延線で遅延することで、合波させる両光波のタイミングを合わせヘテロダイン干渉ビートのコントラストを上げることができる。
【0019】
第1合波手段は、合波される他方の単色光波と拡張手段で拡張された光波との偏光を調節する偏光調節素子とビームスプリッタとを有することもできる。
【0020】
偏光調節素子で合波される一方の光波をp偏光とし、他方の光波をs偏光としてビームスプリッタで合波することで、ヘテロダイン干渉させる両光波の強度が調節し易く、干渉ビートのコントラスト向上に寄与する。
【0021】
第1合波手段は、合波された他方の単色光波と拡張手段で拡張された光波との偏光を調節して両光波の強度を調節する強度調節部を有することもできる。
【0022】
強度調節部で両光波の強度を等しくすることで、ヘテロダイン干渉ビートのコントラストが高くになり、fceoを高いS/Nで求めることができるようになる。
【0023】
また、第1合波手段は、シングルモードファイバを有することもできる。
【0024】
合波された他方の単色光波と拡張手段で拡張された光波とをシングルモードファイバに通すことで、両光波の重ね合わせとモードマッチングを確実にすることができ、干渉ビートのコントラストが高くなり、fceoをより高いS/Nで求めることができるようになる。
【0025】
第2合波手段は、合波される各単色光波の一つ、または該拡張された光波の一部と被測定光波との偏光を調節する偏光調節素子とビームスプリッタとを有することもできる。
【0026】
偏光調節素子で、合波される一方の光波をp偏光とし、他方の光波をs偏光としてビームスプリッタで合波することで、ヘテロダイン干渉させる両光波の強度が調節し易く、干渉ビートのコントラスト向上に寄与する。
【0027】
また、第2合波手段は、合波された各単色光波の一つ、または該拡張された光波の一部と被測定光波との偏光を調節して両光波の強度を調節する強度調節部を有することもできる。
【0028】
強度調節部で両光波の強度を等しくすることで、ヘテロダイン干渉ビートのコントラストが高くになり、δを高いS/Nで求めることができるようになる。
【0029】
さらに、第2合波手段は、シングルモードファイバを有することもできる。
【0030】
合波された各単色光波の一つ、または該拡張された光波の一部と被測定光波とをシングルモードファイバに通すことで、両光波の重ね合わせとモードマッチングを確実にすることができ、干渉ビートのコントラストが高くなり、δをより高いS/Nで求めることができるようになる。
【0031】
【発明の実施の形態】
基本波と逓倍波とを含む複数の光波を発生する多色モードロックレーザ光源は、基本波とその基本波の逓倍波とを含む複数の光波を発生する光源であれば何でもよいが、受動型モードロックレーザと逓倍手段とを有し、その受動型モードロックレーザは、エルビウム・ドープ・ファイバを有することが好ましい。波長が1.5μmの超短パルスが発生され、これを基本波(基本光コム)として逓倍手段で逓倍するので、測定波長範囲が可視から近赤の1.5μmまで広がる。
【0032】
逓倍手段としては、ADP、KDP、LiNbO3、BBO、などの非線形性結晶を用いることができる。
【0033】
多色モードロックレーザ光源から発生される複数の光波(光コム)を各単色光波(光コム)に分離する波長分離素子としては、2色ミラー、回折格子、ビームスプリッタとバンドパス・フィルタを組み合わせたもの、等を使用できる。
【0034】
波長分離素子で分離された各単色光波の一方の単色光波のスペクトルを他方の単色光波のスペクトルとオーバラップするまで拡張するスペクトル拡張手段としては、フォトニック結晶ファイバなどが用いられる。
【0035】
他方の単色光波と拡張手段で拡張された光波とを合波する第1合波手段は、両光波を合波するものであればファイバカップラ等何でもよいが、一方の光波を遅延させる遅延線と両光波の偏光を調節する偏光調節素子とビームスプリッタと合波された光波の偏光を調節して両光波の強度を調節する強度調節部とシングルモード・ファイバとを有することが好ましい。遅延線で遅延することで、合波させる両光波のタイミングを合わせ、偏光調節素子で合波される一方の光波をp偏光とし、他方の光波をs偏光とし、ビームスプリッタで両光波を合波し、強度調節部で両光波の強度を等しくし、シングルモードファイバに通すことで、両光波の重ね合わせとモードマッチングを確実にするので、ヘテロダイン干渉ビートのコントラストを高くすることができる。
【0036】
波長分離素子で分離された各単色光波の一つと被測定光波とを合波する第2合波手段としては、上記の第1合波手段と同じものを用いることができる。但し、被測定光波は一般に連続発振レーザであり、第2合波手段で合波される両光波の間の時間差が問題にならず遅延線はなくてもよい。
【0037】
遅延線は、複数のミラーを所定の間隔で配置することで構成してもよいし、ミラーとキャッツアイプリズムを所定の間隔で配置することでも構成できる。偏光調節素子としては、偏光子や1/2波長板などを用いることができるが、強度をロスしない点で1/2波長板が好ましい。ビームスプリッタとしては、ハーフミラーや偏光ビームスプリッタなどを用いることができるが、強度をロスしない点で偏光ビームスプリッタが好ましい。強度調節部としては、偏光子や1/2波長板と偏光ビームスプリッタを組み合わせたもの、等を用いることができる。
【0038】
第1合波手段で合波された他方の単色光波と拡張された光波とのヘテロダイン干渉ビートを検出する第1検出器と、第2合波手段で合波された各単色光波の一つと被測定光波とのヘテロダイン干渉ビートを検出する第2検出器には、フォトダイオード、アバランシェ・フォトダイオードやPM等を用いることができる。
【0039】
【実施例】
実施例1.図1は本発明の一実施例の光周波数測定装置の構成図である。
【0040】
本実施例の光周波数測定装置は、1.5μmの基本波(光コム)と780nmの第2高調波(光コム)と、520nmの和周波(光コム)を発生する多色モードロックレーザ光源1と、3色を単色にする波長分離素子2と、780nmの第2高調波のスペクトルを拡張するスペクトル拡張手段3と、520nmの和周波と拡張された第2高調波とを合波する第1合波手段4と、和周波と拡張された第2高調波とのヘテロダイン干渉ビート信号を検出する第1検出器5と、1.5μmの基本波と被測定光波とを合波する第2合波手段6と、基本波と被測定光波とのヘテロダイン干渉ビート信号を検出する第2検出器7と、を有する。
【0041】
多色モードロックレーザ光源1は、エルビウム・ドープ・ファイバを利得媒質とする受動型モードロック・ファイバレーザ11と逓倍手段12とを有し、逓倍手段12は、周期的に分極されたLiNbO3を備えており、約50mWの基本波と第2高調波及び1mW以下の和周波を発生する。発生される超短パルスのパルス幅は121fsであり、パルスの繰り返し周期frep=49.13MHzである。
【0042】
波長分離素子2は2色ミラー21、22を備え、2色ミラー21で1.5μmの基本波が分離(反射)され、次の2色ミラー22で520nmの和周波が分離(反射)され、2色ミラー22から780nmの第2高調波が透過される。
【0043】
スペクトル拡張手段3は、クリスタル・ファイバー社(Crystal Fiber)の長さが50cmのフォトニック結晶ファイバ(PCF)である。PCF3は、コア径が1.8μmの偏光保持ファイバで、2色ミラー22から透過された780nmの第2高調波は、ミラー102で折り曲げられ、1/2波長板103で偏光が調節され、集光レンズ106でPCF3の入射端に結合される。PCF3を通過してスペクトルが短波長側に0.5オクターブ拡張された第2高調波(光コム)は、コリメータレンズ106’でコリメートされ、2色ミラー104で550nm以下のスペクトルが分離(反射)される。2色ミラー104を透過した550nm〜780nmの光波は光トラップ105でトラップされる。
【0044】
第1合波手段4は、遅延線41と、偏光調節素子42a、42bと、ビームスプリッタ43と、強度調節部44と、シングルモードファイバ45と、を備えている。遅延線41は、キャッツアイプリズム411とミラー412とからなる。偏光調節素子42a、42bは、1/2波長板で、ビームスプリッタ43は偏光ビームスプリッタであり、強度調節部44は偏光子である。2色ミラー22で分離(反射)された520nmの和周波は、780nmの第2高調波と等しい光路長になるように遅延線41で遅延され、1/2波長板42aでp偏光に調節され、偏光ビームスプリッタ43に入射される。一方、2色ミラー104で分離(反射)された第2高調波の緑部分は、1/2波長板42bでs偏光に調節され偏光ビームスプリッタ43に入射される。p偏光とs偏光は偏光ビームスプリッタ43で合波され、p偏光とs偏光が出射され、ヘテロダイン干渉する。偏光ビームスプリッタ43から出射されたp偏光とs偏光は、偏光子44でp偏光成分とs偏光成分が等しい直線偏光にされ、ミラー102で折り曲げられ、集光レンズ106でシングルモードファイバ45の入射端に結合され、シングルモードファイバ45で和周波(p偏光成分)と第2高調波(s偏光成分)の重ね合わせとモードマッチングが確実に行われる。
【0045】
第1検出器5は、Siフォトダイオードで、第1合波手段4のシングルモードファイバ45から出射される重ね合わされた和周波(p偏光成分)と第2高調波(s偏光成分)を受光する。
【0046】
第2合波手段6は、第1合波手段4から遅延線41を除いたものに等しく、偏光調節素子61a、61bと、ビームスプリッタ62と、強度調節部63と、シングルモードファイバ64と、からなる。偏光調節素子61a、61bは、1/2波長板で、ビームスプリッタ62は偏光ビームスプリッタであり、強度調節部63は偏光子である。2色ミラー21で分離(反射)された1.5μmの基本波(光コム)は、1/2波長板61aでp偏光に調節され、偏光ビームスプリッタ62に入射される。一方、入力ポート101から入射される被測定光波は、1/2波長板61bでs偏光に調節され、偏光ビームスプリッタ62に入射される。p偏光とs偏光は偏光ビームスプリッタ62で合波されp偏光とs偏光が出射され、ヘテロダイン干渉する。偏光ビームスプリッタ62から出射されたp偏光とs偏光は、偏光子63でp偏光成分とs偏光成分が等しい直線偏光にされ、ミラー102で折り曲げられ、集光レンズ106でシングルモードファイバ64の入射端に結合され、シングルモードファイバ64で基本波(p偏光成分)と被測定光波(s偏光成分)の重ね合わせとモードマッチングが確実に行われる。
【0047】
第2検出器7は、Siフォトダイオードで、第2合波手段4のシングルモードファイバ64から出射される重ね合わされた基本波(p偏光成分)と被測定光波(s偏光成分)を受光する。
【0048】
本実施例の光周波数測定装置で波長1.5μmの外部共振器型連続発振半導体レーザの光周波数を測定した。入力ポート101から1.5μmの被測定光波を入射させて測定した結果が図2、3で、図2は第1検出器5の出力をスペクトラム・アナライザで解析したビート信号スペクトル、図3は第2検出器7の出力をスペクトラム・アナライザで解析したビート信号スペクトルである。
【0049】
図2からfceo=17.4MHzであり、図3からδ1.5=18.7MHzであることがわかる。したがって、通常の波長計等を使って整数nさえ決まれば(4)式からf1.5が決まる。すなわち、本実施例の光周波数測定装置は、fceoを従来のようにf−2f自己参照型で求めず、且つスペクトルを0.5オクターブ拡張するだけでよいため、光周波数を高精度に測定することができた。
【0050】
実施例2.図4は、本発明の実施例2の光周波数測定装置の構成図である。実施例1の光周波数測定装置では、1.5μmの光通信波長帯しか測定できなかったが、この実施例2の測定装置は、1.5μm以外に可視波長領域の520nm〜780nmの光周波数も測定できるようにしたものである。したがって、実施例1(図1)の第2合波手段6と第2検出器7のペアをさらに2ペア(6’と7’、6’’と7’’)備えている。
【0051】
図4では、実施例1と同じ構成要素には図1と同じ番号(’、’’付きの違いはある)が付されてあり説明を省略する。520nm〜550nmの光周波数を測定するために、第1合波手段4の偏光ビームスプリッタ43から出射される和周波(p偏光成分)と第2高調波(s偏光成分)から第2高調波(s偏光成分)を分離する必要があり、実施例1の強度調節部44が1/2波長板441と偏光ビームスプリッタ442とからなる。また、550nm〜780nmの光周波数を測定するために、実施例1(図1)の光トラップ105をミラー102に替えて2色ミラー104を透過する550nm〜780nmの光波(光コム)を第2合波手段6’に入射させるようになっている。
【0052】
本実施例の光周波数測定装置で波長780nmの外部共振器型連続発振半導体レーザの光周波数と波長532nmの周波数安定化YAGレーザの光周波数を測定した。入力ポート101’から780nmの被測定光波を、入力ポート101’’から532nmの被測定光波を入射させて測定した結果が図5、6で、図5は第2検出器7’の出力をスペクトラム・アナライザで解析したビート信号スペクトル、図6は第2検出器7’’の出力をスペクトラム・アナライザで解析したビート信号スペクトルである。
【0053】
図5からδ780=19.8MHz、図6からδ532=16.5MHzであり、通常の波長計等を使って整数nさえ決まれば、(4)式からf780およびf532が求まる。
【0054】
このように、本第2実施例の光周波数測定装置1台で、520nmの可視光から1.5μmの近赤外光までの光周波数を測定することができる。
【0055】
【発明の効果】
以上説明したように、本発明の光周波数測定装置は、多色モードロックレーザ光源を用いているので、測定可能な波長範囲を広くすることができる。また、第1合波手段で合波された他方の単色光波と拡張された光波とのヘテロダイン干渉ビートを検出する非f−2f自己参照型のため、スペクトルを拡張した後に非線形光学効果で高調波を発生する必要がなく、高いS/Nでfceoを求めることができ、その分、光周波数を高精度で測定することができる。
【0056】
また、多色モードロックレーザ光源は、受動型モードロックレーザと、逓倍手段と、を有することもできるので、受動型モードロックレーザから発生される超短パルスを基本波とし、それを逓倍手段で逓倍するので、光源をコンパクト化することができ、光源を含む光周波数測定装置を小型且つ簡便化できるようになる。
【0057】
さらに、受動型モードロックレーザは、エルビウム・ドープ・ファイバを有することができるので、受動型モードロックレーザからは、波長が1.5μmの超短パルスが発生され、これを基本波として逓倍手段で逓倍するので、測定波長範囲が可視から近赤の1.5μmまで広がる。
【0058】
逓倍波は、第2高調波と周波数が3倍の光波を含み、前記一方の単色光波は該第2高調波で、前記他方の単色光波は該3倍の光波であるようにすることもできる。スペクトルを拡張する一方の単色光波を第2高調波とし、拡張された第2高調波とヘテロダイン干渉する他方の単色光波を周波数が3倍の光波とすることで、拡張する一方の単色光波を、0.5オクターブ拡張するだけで他方の単色光波とオーバラップするので、拡張された光波の強度低下が押さえられ、fceoを高いS/Nで求めることができるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施例1の多色モードロックレーザを用いた光周波数測定装置の概略構成図である。
【図2】実施例1の光周波数測定装置で観測したキャリアエンベロープオフセット周波数fceoを求めるためのビート信号スペクトルである。
【図3】実施例1の光周波数測定装置で観測した波長1.5μmの被測定光波のオフセット周波数δ1.5を求めるためのビート信号スペクトルである。
【図4】実施例2の多色モードロックレーザを用いた光周波数測定装置の概略構成図である。
【図5】実施例2の光周波数測定装置で観測した波長780nmの被測定光波のオフセット周波数δ780を求めるためのビート信号スペクトルである。
【図6】実施例2の光周波数測定装置で観測した波長532nmの被測定光波のオフセット周波数δ532を求めるためのビート信号スペクトルである。
【図7】従来の自己参照型でのfceoの観測
【符号の説明】
1 ・・・・・・・・・・・・・・・・多色モードロックレーザ光源
2・・・・・・・・・・・・・・・・波長分離素子
3・・・・・・・・・・・・・・・・スペクトル拡張手段
4・・・・・・・・・・・・・・・・第1合波手段
5・・・・・・・・・・・・・・・・第1検出器
6,6',6''・・・・・・・・・・・・・・第2合波手段
7,7',7''・・・・・・・・・・・・・・第2検出器
11・・・・・・・・・・・・・・・・受動型モードロックレーザ
12・・・・・・・・・・・・・・・・逓倍手段
41・・・・・・・・・・・・・・・・遅延線
42a,42b,61a,61b,61'a,61'b,61''a,61''b・・・偏光調節素子
43,62,62',62''・・・・・・・・・・・・ビームスプリッタ
44,63,63',63''・・・・・・・・・・・・強度調節部
45,64,64',64''・・・・・・・・・・・・シングルモードファイバ
Claims (21)
- 光コムである基本波と該基本波の逓倍波とを含む複数の光波を発生する多色モードロックレーザ光源と、
該多色モードロックレーザ光源から発生される該複数の光波を各単色光波に分離する波長分離素子と、
該波長分離素子で分離された該各単色光波の一方の単色光波のスペクトルを他方の単色光波のスペクトルとオーバラップするまで拡張するスペクトル拡張手段と、
該他方の単色光波と該拡張手段で拡張された光波とを合波する第1合波手段と、
該第1合波手段で合波された該他方の単色光波と該拡張された光波とのヘテロダイン干渉ビートを検出する第1検出器と、
該波長分離素子で分離された該各単色光波の一つ、または該拡張された光波の周波数帯域の一部と被測定光波とを合波する第2合波手段と、
該第2合波手段で合波された該各単色光波の一つ、または該拡張された光波の周波数帯域の一部と該被測定光波とのヘテロダイン干渉ビートを検出する第2検出器と、
を有し、該第1検出器で検出された干渉ビートからキャリア・エンベロープ・オフセット(CEO)周波数fceoを求め、該第2検出器で検出された干渉ビートからオフセット周波数δを求めて被測定光波の光周波数を測定することを特徴とする光周波数測定装置。 - 前記多色モードロックレーザ光源は、受動型モードロックレーザと、逓倍手段と、を有することを特徴とする請求項1に記載の光周波数測定装置。
- 前記受動型モードロックレーザは、エルビウム・ドープ・ファイバを有することを特徴とする請求項2に記載の光周波数測定装置。
- 前記逓倍波は、第2高調波と周波数が3倍の光波を含み、前記一方の単色光波は該第2高調波で、前記他方の単色光波は該3倍の光波であることを特徴とする請求項1ないし3のいずれか1項に記載の光周波数測定装置。
- 前記第1合波手段は、合波される前記他方の単色光波と前記拡張手段で拡張された光波との一方を遅延する遅延線を有することを特徴とする請求項1ないし4のいずれか1項に記載の光周波数測定装置。
- 前記第1合波手段は、合波される前記他方の単色光波と前記拡張手段で拡張された光波との偏光を調節する偏光調節素子とビームスプリッタとを有することを特徴とする請求項1ないし5のいずれか1項に記載の光周波数測定装置。
- 前記第1合波手段は、合波された前記他方の単色光波と前記拡張手段で拡張された光波との偏光を調節して両光波の強度を調節する強度調節部を有することを特徴とする請求項1ないし6のいずれか1項に記載の光周波数測定装置。
- 前記第1合波手段は、合波された前記他方の単色光波と前記拡張手段で拡張された光波との重ね合わせとモードマッチングを確実にするシングルモードファイバを有することを特徴とする請求項1ないし7のいずれか1項に記載の光周波数測定装置。
- 前記第2合波手段は、合波される前記各単色光波の一つ、または前記拡張された光波の周波数帯域の一部と被測定光波との偏光を調節する偏光調節素子とビームスプリッタとを有することを特徴とする請求項1ないし8のいずれか1項に記載の光周波数測定装置。
- 前記第2合波手段は、合波された前記各単色光波の一つ、または前記拡張された光波の周波数帯域の一部と前記被測定光波との偏光を調節して両光波の強度を調節する強度調節部を有することを特徴とする請求項1ないし9のいずれか1項に記載の光周波数測定装置。
- 前記第2合波手段は、合波された前記各単色光波の一つ、または前記拡張された光波の周波数帯域の一部と前記被測定光波との重ね合わせとモードマッチングを確実にするシングルモードファイバを有することを特徴とする請求項1ないし10のいずれか1項に記載の光周波数測定装置。
- 光コムである基本波と該基本波の逓倍波とを含む複数の光波を発生するステップ1と、
該複数の光波を各単色光波に分離するステップ2と、
該各単色光波の一方の単色光波のスペクトルを他方の単色光波のスペクトルとオーバラップするまで拡張するステップ3と、
該他方の単色光波と該ステップ3で拡張された光波とを合波させてヘテロダイン干渉させるステップ4と、
該他方の単色光波と該拡張された光波とのヘテロダイン干渉ビートを検出して該各単色光波の周波数スペクトルのキャリア・エンベロープ・オフセット周波数fceoを求めるステップ5と、
該各単色光波の一つ、または該拡張された光波の周波数帯域の一部と被測定光波とを合波させてヘテロダイン干渉させるステップ6と、
該各単色光波の一つ、または該拡張された光波の周波数帯域の一部と該被測定光波とのヘテロダイン干渉ビートを検出してオフセット周波数δを求め、前記fceoを使って被測定光波の周波数を測定するステップ7と、
を有することを特徴とする光周波数測定方法。 - 前記ステップ1は基本波を発生するサブステップ11と該基本波を非線形光学効果で逓倍するサブステップ12とを有することを特徴とする請求項12に記載の光周波数測定方法。
- 前記基本波は、波長が1.5μmの光波を含み、前記逓倍波は、波長が780nmの第2高調波と波長が520nmの和周波とを含み、前記一方の単色光波は、該第2高調波であり、前記他方の単色光波は該和周波であることを特徴とする請求項12または13に記載の光周波数測定方法。
- 前記ステップ4は、合波される前記他方の単色光波と前記ステップ3で拡張された光波との一方を遅延するサブステップ41を有することを特徴とする請求項12ないし14のいずれか1項に記載の光周波数測定方法。
- 前記ステップ4は、合波される前記他方の単色光波と前記ステップ3で拡張された光波との偏光を調節するサブステップ42を有することを特徴とする請求項12ないし15のいずれか1項に記載の光周波数測定方法。
- 前記ステップ4は、合波された前記他方の単色光波と前記ステップ3で拡張された光波との偏光を調節して両光波の強度を調節するサブステップ43を有することを特徴とする請求項12ないし16のいずれか1項に記載の光周波数測定方法。
- 前記ステップ4は、合波された前記他方の単色光波と前記ステップ3で拡張された光波との重ね合わせとモードマッチングを確実にするサブステップ44を有することを特徴とする請求項12ないし17のいずれか1項に記載の光周波数測定方法。
- 前記ステップ6は、合波される前記各単色光波の一つ、または前記拡張された光波の周波数帯域の一部と前記被測定光波との偏光を調節するサブステップ61を有することを特徴とする請求項12ないし18のいずれか1項に記載の光周波数測定方法。
- 前記ステップ6は、合波された前記各単色光波の一つ、または前記拡張された光波の周波数帯域の一部と前記被測定光波との偏光を調節して両光波の強度を調節するサブステップ62を有することを特徴とする請求項12ないし19のいずれか1項に記載の光周波数測定方法。
- 前記ステップ6は、合波された前記各単色光波の一つと前記被測定光波との重ね合わせとモードマッチングを確実にするサブステップ63を有することを特徴とする請求項12ないし20のいずれか1項に記載の光周波数測定方法。
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