JP4144587B2 - キースイッチ及び端末装置 - Google Patents
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Description
固定電極を備えた第1の回路基板と、この固定電極とともに一対のスイッチ端子をなす可動電極と、この可動電極を押下して上記固定電極に接触させるキートップを備えたキースイッチにおいて、
上記キートップの押下により上記可動電極と上記固定電極とが接触した後に、このキートップにさらに強い押圧を与えることで撓んだ上記第1の回路基板の変形量を測定する変形量測定手段と、
複数の上記スイッチ端子とを備えたものであって、
上記変形量測定手段を上記複数のスイッチ端子に対して1つの部材で構成したものである。
また、この発明による端末装置は、
固定電極を備えた第1の回路基板と、この固定電極とともに一対のスイッチ端子をなす可動電極と、この可動電極を押下して上記固定電極に接触させるキートップを備えたキースイッチを備えた端末装置において、
上記キートップの押下により上記可動電極と上記固定電極とが接触した後に、このキートップにさらに強い押圧を与えることで撓んだ上記第1の回路基板の変形量を測定する変形量測定手段と、
複数の上記スイッチ端子とを備えたものであって、
上記複数の各スイッチ端子に対する利用者による押圧テスト結果に基づいて、上記複数の各スイッチ端子間の押圧力の歪み量に応じて、上記変形量測定手段が測定した変形量を増減する変形量補正手段を備えたものである。
また、この発明による端末装置は、
固定電極を備えた第1の回路基板と、この固定電極とともに一対のスイッチ端子をなす可動電極と、この可動電極を押下して上記固定電極に接触させるキートップを備えたキースイッチを備えた端末装置において、
上記キートップの押下により上記可動電極と上記固定電極とが接触した後に、このキートップにさらに強い押圧を与えることで撓んだ上記第1の回路基板の変形量を測定する変形量測定手段と、
複数の上記スイッチ端子とを備えたものであって、
上記複数の各スイッチ端子の配置位置に応じて、上記変形量測定手段が測定した変形量を増減する変形量補正手段を備えたものである。
また、この発明による端末装置は、
固定電極を備えた第1の回路基板と、この固定電極とともに一対のスイッチ端子をなす可動電極と、この可動電極を押下して上記固定電極に接触させるキートップを備えたキースイッチを備えた端末装置において、
上記キートップの押下により上記可動電極と上記固定電極とが接触した後に、このキートップにさらに強い押圧を与えることで撓んだ上記第1の回路基板の変形量を測定する変形量測定手段を備えたものであって、
上記キースイッチを、第1のキースイッチと第2のキースイッチとして少なくとも2個備えるとともに、
上記第1及び第2のキースイッチに加えられた同一の押圧荷重に対してこれらのキースイッチの変形量測定手段が測定する変形量をそれぞれ第1の変形量及び第2の変形量とした場合に、これら第1の変形量と第2の変形量との差が小さくなるように第1及び第2の変形量のいずれか一方又は双方を増減する変形量補正手段を備えたものである。
また、この発明に係る端末装置では、複数の各スイッチ端子に対する利用者による押圧テスト結果に基づいて、上記複数の各スイッチ端子間の押圧力の歪み量に応じて、変形量測定手段が測定した変形量を増減することとした。このため、利用者に合わせた変形量の補正が可能となる。
また、この発明に係る端末装置では、複数の各スイッチ端子の配置位置に応じて、変形量測定手段が測定した変形量を増減することとした。このため、スイッチ端子の位置による第1の回路基板の撓みやすさの違いの影響を小さくすることができる。
また、この発明に係る端末装置では、第1及び第2のキースイッチに加えられた同一の押圧荷重に対してこれらのキースイッチの変形量測定手段が測定する変形量をそれぞれ第1の変形量及び第2の変形量とした場合に、これら第1の変形量と第2の変形量との差が小さくなるように第1及び第2の変形量のいずれか一方又は双方を増減することとした。このため、キースイッチの位置によらずに押圧荷重と変形量の対応関係がほぼ一様となるので、キースイッチの配置についての自由度が増す。
実施の形態1.
図1は、この発明の実施の形態1によるキースイッチを適用した電子機器の斜視図である。このような電子機器の例として、ここで携帯電話端末をとりあげて説明する。図に示す携帯電話端末装置1は、画像や文字などを表示する表示部2を有しており、さらに筐体面11上に単純キー12と複合キー13とを配している。
この発明の実施の形態1では、回路基板18上に歪みゲージ24を配して回路基板16が変形した場合に歪みゲージ24が嵌合されるようにしておき、キー12の押下に伴う回路基板16の変形量を検出することとした。このような構成の他にも、キーの押圧を取得する構成は可能である。例えば回路基板18と歪みゲージ24の組み合わせに替えて、変形量計測手段として静電容量センサを用いる方法もある。
12a キートップ、
15 ドームスプリング、
16 回路基板、
17 フレーム部材、
18 回路基板、
21 可動電極、
22 固定電極、
24 歪みゲージ、
25 静電容量センサ、
33 キーコントローラ、
35 制御手段、
36 変形量補正手段。
Claims (6)
- 固定電極を備えた第1の回路基板と、この固定電極とともに一対のスイッチ端子をなす可動電極と、この可動電極を押下して上記固定電極に接触させるキートップを備えたキースイッチにおいて、
上記キートップの押下により上記可動電極と上記固定電極とが接触した後に、このキートップにさらに強い押圧を与えることで撓んだ上記第1の回路基板の変形量を測定する変形量測定手段と、
複数の上記スイッチ端子とを備えたものであって、
上記変形量測定手段を上記複数のスイッチ端子に対して1つの部材で構成したことを特徴とするキースイッチ。 - 請求項1に記載のキースイッチを備えたことを特徴とする端末装置。
- 固定電極を備えた第1の回路基板と、この固定電極とともに一対のスイッチ端子をなす可動電極と、この可動電極を押下して上記固定電極に接触させるキートップを備えたキースイッチを備えた端末装置において、
上記キートップの押下により上記可動電極と上記固定電極とが接触した後に、このキートップにさらに強い押圧を与えることで撓んだ上記第1の回路基板の変形量を測定する変形量測定手段と、
複数の上記スイッチ端子とを備えたものであって、
上記複数の各スイッチ端子に対する利用者による押圧テスト結果に基づいて、上記複数の各スイッチ端子間の押圧力の歪み量に応じて、上記変形量測定手段が測定した変形量を増減する変形量補正手段を備えたことを特徴とする端末装置。 - 固定電極を備えた第1の回路基板と、この固定電極とともに一対のスイッチ端子をなす可動電極と、この可動電極を押下して上記固定電極に接触させるキートップを備えたキースイッチを備えた端末装置において、
上記キートップの押下により上記可動電極と上記固定電極とが接触した後に、このキートップにさらに強い押圧を与えることで撓んだ上記第1の回路基板の変形量を測定する変形量測定手段と、
複数の上記スイッチ端子とを備えたものであって、
上記複数の各スイッチ端子の配置位置に応じて、上記変形量測定手段が測定した変形量を増減する変形量補正手段を備えたことを特徴とする端末装置。 - 固定電極を備えた第1の回路基板と、この固定電極とともに一対のスイッチ端子をなす可動電極と、この可動電極を押下して上記固定電極に接触させるキートップを備えたキースイッチを備えた端末装置において、
上記キートップの押下により上記可動電極と上記固定電極とが接触した後に、このキートップにさらに強い押圧を与えることで撓んだ上記第1の回路基板の変形量を測定する変形量測定手段を備えたものであって、
上記キースイッチを、第1のキースイッチと第2のキースイッチとして少なくとも2個備えるとともに、
上記第1及び第2のキースイッチに加えられた同一の押圧荷重に対してこれらのキースイッチの変形量測定手段が測定する変形量をそれぞれ第1の変形量及び第2の変形量とした場合に、これら第1の変形量と第2の変形量との差が小さくなるように第1及び第2の変形量のいずれか一方又は双方を増減する変形量補正手段を備えたことを特徴とする端末装置。 - 請求項2〜5のいずれか一項に記載の端末装置において、
上記キートップの押下に伴って上記変形量測定手段によって測定される変形量を取得して出力するとともに、押下操作が一定時間以上継続する場合に、その時点において前記変形量測定手段によって測定される変形量を取得して出力するキーコントローラを備え、
前記キーコントローラが出力する変形量に応じてパラメータ値を増減するとともに、押下されたキースイッチに対応するコマンドを選択し、前記パラメータ値に基づいて選択したコマンドを実行することを特徴とする端末装置。
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