JP4135707B2 - 高周波自動試験システム及び導波管切替スィッチ - Google Patents
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Description
また、複数の供試体を搭載して複数の試験項目を複数の測定器を用いて試験するシステムが開示されている(例えば、特許文献2参照。)。
図1は実施の形態1に係る高周波自動試験システムを示すブロック図であり、1はトランジションアナライザー、2はネットワークアナライザー、3はパワーメーター、4はスペクトラムアナライザー、5a〜5cは信号発生器、6は入力側切替スィッチ、7は出力側切替スィッチ、8a〜8dは供試体、17はコントローラである。
ネットワークアナライザー2が内蔵する信号源からの信号が供試体8a〜8dの一つに入力され、これからの出力がネットワークアナライザー2に返ってSパラメータが測定される。
残り一つの信号発生器5a〜5cからの信号が供試体8a〜8dの一つに入力され、これからの出力がスペクトラムアナライザー4で受信されて高調波が測定される。
なお、この測定器についても、手動で操作することも可能にすることは当然のことである。
この切替スィッチは一列に間隔を置いたA、B、C、Dの4つの入力ポートを持つ入力インターフェース部9と、これに対向して置かれた一列に間隔を置いたα、β、γ、δ、の4つの出力ポートを持つ出力インターフェース部10と、これらのインターフェース部の間を上下方向で移動可能に配置された稼動切替部11とからなる。
このような構成の入力側切替スィッチ6のAにネットワークアナライザー2の信号源を接続し、入力側切替スィッチ6のαにDUT1(供試体8a)の入力を接続し、入力側切替スィッチ6のBに信号発生器5aを接続し、入力側切替スィッチ6のβにDUT2(供試体8b)の入力を接続し、入力側切替スィッチ6のCに信号発生器5bを接続し、入力側切替スィッチ6のγにDUT3(供試体8c)の入力を接続し、入力側切替スィッチ6のDに信号発生器5cを接続し、入力側切替スィッチ6のδにDUT4(供試体8d)の入力を接続し、出力側切替スィッチ7のAにDUT1(供試体8a)の出力を接続し、αにネットワークアナライザー2を接続し、出力側切替スィッチ7のBにDUT2(供試体8b)の出力を接続し、入力側切替スィッチ6のβにトランジションアナライザー1を接続し、出力側切替スィッチ7のCにDUT3(供試体8c)の出力を接続し、入力側切替スィッチ6のγにスペクトラムアナライザーを接続し、出力側切替スィッチ7のDにDUT4(供試体8d)の出力を接続し、入力側切替スィッチ6のδにパワーメーター3を接続する。
DUT1(供試体8a)はネットワークアナライザー2を用いたSパラメータ測定を、DUT2(供試体8b)はトランジションアナライザー1を用いた過渡特性測定を、DUT3(供試体8c)はスペクトラムアナライザー4を用いたスプリアス測定を、DUT4(供試体8d)はパワーメータ3を用いた電力測定を行う。
各DUT(供試体8a〜8d)での測定項目は1つずれて、DUT1(供試体8a)は電力測定を、DUT2(供試体8b)はSパラメータ測定を、DUT3(供試体8c)は過渡特性測定を、DUT4(供試体8d)はスプリアス測定を行う。
図3は実施の形態2に係る導波管切替スィッチを示す図であり、図3(a)は外観図、図3(b)は導波管切替スィッチの切替の態様を示す図、図3(c)は導波管切替スィッチの入出力対応表である。
この切替スィッチは、入力側切替スィッチ6及び出力側切替スィッチ7の双方に共通に使用されるものであり、切替スィッチのA、B、C、D4個の入力ポートを持ち、α、β、γ、δ4個の出力ポートを持つ。
図3(b)は、第1段目の移動切替部13を右、第2段目の移動切替部15を右に移動した状態を示している。
図3(c)は、第1段目の移動切替部13を左、第2段目の移動切替部15を右に移動した状態を示している。
図3(d)は、第1段目の移動切替部13を右、第2段目の移動切替部15を左に移動した状態を示している。
図3(e)は、第1段目の移動切替部13を左、第2段目の移動切替部15を左に移動した状態を示している。
第1段目の移動切替部13、第2段目の移動切替部15の各々の左右の位置によって、入力側のA〜Dの4通りに対して、入力と出力の組み合せを実現できることが分かる。
Claims (6)
- 複数の信号発生器と、
複数の供試体の入力ポートに接続された第1の導波管群と複数の上記信号発生器に接続された第2の導波管群との接続を切り替える入力側切替スィッチと、
複数の高周波測定器と、
複数の上記供試体の出力ポートに接続された第3の導波管群と複数の上記高周波測定器に接続された第4の導波管群との接続を切り替える出力側切替スィッチと、
複数の供試体を同時に測定し、上記入力側切替スィッチ及び上記出力側切替スィッチによる切替を行って、全ての供試体に同時測定を繰り返す制御装置と、
を具備することを特徴とする高周波自動試験システム。 - N(正の整数)個の供試体の試験を対象として、
高周波測定器の各々に対応したM(正の整数)個の信号発生器と、
MとNのうち大きい方の値をL、小さい方をK(正の整数)と置いた時、L(正の整数)種類に導波管の接続を切替可能にした各上記信号源から上記供試体の入力側切替スィッチと、
L種類に導波管の接続を切替可能にした上記供試体の出力から上記高周波測定器への出力側切替スィッチと、
上記供試体のK個を同時に測定を並行して行い、上記入力側切替スィッチによる切替と同時測定を繰り返すことにより、全ての上記供試体に高周波試験を実施できるM個の高周波測定器と、
を具備したことを特徴とする高周波自動試験システム。 - 上記高周波測定器として、トランジションアナライザー、ネットワークアナライザー、パワーメーター、スペクトラムアナライザーのどれかを少なくとも1台以上使用することを特徴とする請求項1または請求項2記載の高周波自動試験システム。
- 請求項1〜請求項3のいづれか1項に記載の上記入力側切替スィッチ及び上記出力側切替スィッチにおいて、
1列に間隔を置いてM個の高周波信号が入力される入力ポートを有する入力インターフェース部と、
上記入力インターフェース部に対向して、1列に間隔を置いてN(正の整数)個の高周波信号が出力される出力ポートを有する出力インターフェース部と、
上記入力インターフェース部と上記出力インターフェース部の間を相対的に移動可能であり、各入力ポートと出力ポートをK個だけ接続可能なようにK(正の整数)本の導波管を配した接続単位をL種類、接続単位間で重複した入出力ポート間の接続組み合せがないように導波管を配置して、これらの接続単位を重ねて配された移動切替部と、
を具備することを特徴とする導波管切替スィッチ。 - 請求項1〜請求項3のいづれか1項に記載の上記入力側切替スィッチ及び上記出力側切替スィッチにおいて、
I(正の整数)とJ(正の整数)を任意の自然数とした時、高周波信号が入力される一列に間隔を置いて形成されたIのJ乗個の入力ポートを有する入力インターフェース部と、
上記高周波信号が出力される一列に間隔を置いて形成されたIのJ乗個の出力ポートを有する出力インターフェース部と、
上記入力インターフェース部と出力インターフェース部の間に移動可能に配置され、前記移動によって互いにI種類の異なる入出力間を接続できる導波路を有する移動切替部と、
を具備することを特徴とする導波管切替スィッチ。 - 請求項5記載の上記入力側切替スィッチ及び上記出力側切替スィッチにおいて、
第n(正の整数)段目は、一列に並んだI(正の整数)のJ(正の整数)乗個のポートを端から隣り合うI個毎にIの(J−n)乗個に区切り、この区切りの中のI個でI種類の入出力のポート組み合せを実現し、
第1段目から第n段目の移動切替部を使用して、IのJ乗種類の導波管接続組み合せを実現するようにしたことを特徴とする導波管切替スィッチ。
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