JP4079374B2 - 特定粒径をもつ浮遊粒子の個数濃度の評価方法 - Google Patents

特定粒径をもつ浮遊粒子の個数濃度の評価方法 Download PDF

Info

Publication number
JP4079374B2
JP4079374B2 JP2004261432A JP2004261432A JP4079374B2 JP 4079374 B2 JP4079374 B2 JP 4079374B2 JP 2004261432 A JP2004261432 A JP 2004261432A JP 2004261432 A JP2004261432 A JP 2004261432A JP 4079374 B2 JP4079374 B2 JP 4079374B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
particle size
particles
size distribution
background noise
number concentration
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
JP2004261432A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2006078281A (ja
Inventor
正成 庄司
ジャック ドロネー ジャン
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP2004261432A priority Critical patent/JP4079374B2/ja
Publication of JP2006078281A publication Critical patent/JP2006078281A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4079374B2 publication Critical patent/JP4079374B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Images

Landscapes

  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

本発明は特定粒径をもつ浮遊粒子の個数濃度の評価方法に係る。
特開平5−240768号公報(特許第3113720号)
従来、光散乱式自動粒子計測器を用いると大気中に浮遊する粒子の個数濃度の粒径分布(粒子径とその個数濃度の関係)は比較的簡単に計測することができていた。しかしながら、この種の装置は、例えば屋外大気中に浮遊する例えば特定の花粉のような特定粒径の粒子の個数濃度を計測しようとした場合、対象粒子の個数濃度が環境に通常存在する同程度の粒径のバックグラウンドノイズ粒子濃度に比べて大きな場合を除いて、その濃度を精度良く計測することは不可能であり、粒径分布の他に別の物理量を計測し、評価する必要があった。例えば、特許文献1には、粒径分布の測定とともに偏光度という別の物理量も同時に計測し、これら2つの計測データを同時にもちいることによって花粉粒子をバックグラウンドノイズ粒子から識別する屋外大気中の花粉粒子濃度を計測する装置について記載されている。このように従来の技術では粒径分布のみで対象粒子濃度を評価することはできず、装置、データ処理ともに通常の光散乱式自動粒子計測器と比べて複雑となり、結果としてシステム全体として高価なものにならざるを得なかった。
本発明は上記の問題に鑑み、屋外等バックグランドノイズ粒子の存在する環境下において、特定の粒径をもつ粒子の個数濃度を測定評価する場合に、既存の光散乱式粒子計数器あるいはそれと同等の計数原理を有する粒子計数器の測定データをもちいて、バックグラウンドノイズ粒子の影響を取り除いて特定粒径の粒子の個数濃度を簡便に精度良く評価する方法を提供することを目的とする。
従来、光散乱式粒子計測原理を用いた屋外での特定粒子計側では、個数濃度の粒径分布データからは対象粒径程度の粒径をもつ粒子の濃度、すなわち、対象粒子とバックグラウンドノイズ粒子とを合わせた濃度という情報しか利用されていなかった。
本発明では、全体の粒経分布からバックグラウンドノイズ粒子の粒径分布を評価してこの影響を取り除くことによって、対象粒子の個数濃度を高精度に評価する。具体的には次のような手順をとる。
(1)バックグラウンドノイズ粒子の個数濃度粒径分布の関数形を仮定する。(但し、場所、時間依存性を考慮していくつかの変数を含む関数とする)
(2)全粒径分布データから(1)の関数を決定する。
(3)(2)の関数をもちいて測定対象粒子の粒径範囲のバックグラウンドノイズ粒子濃度を評価する。
(4)(3)の評価を測定対象粒子の粒径範囲の個数濃度データから差し引く。
本発明はさらに、全粒径分布データ値をもちいて、バックグラウンドノイズ粒子粒経分布の関数形及び測定対象粒子粒径分布の関数形を同時に決定し、バックグラウンドノイズ粒子の影響を取り除いて測定対象粒子の個数濃度を評価することも可能である。
以上の手段をもちいることによって、バックグラウンドノイズ粒子の存在する環境下においても、光散乱式の計測原理による個数濃度の粒径分布データのみから対象粒子の個数濃度を精度良く評価することができる。
バックグラウンドノイズ粒子の個数濃度粒径分布の関数形を全粒子粒径分布データより決定することにより、バックグラウンドノイズ粒子の浮遊している環境下においても測定対象粒子の粒径領域におけるバックグラウンドノイズ粒子の影響を取り除き、これによって測定対象粒子の個数濃度を精度良く評価することができる。
以下に本発明の実施例を示す。
大気中におけるスギ花粉粒子の計測に適用する例を示す。大気中におけるバックグラウンドとしての浮遊粒子の個数濃度の粒径分布dN/drは、半径rが0.1μmよりも大きな範囲において、典型的には
Figure 0004079374
と表されることが知られている(Jungeの指数分布則)。ここではこれをバックグラウンドノイズ粒子の粒径濃度分布関数として用いる。なお、a、bは環境に応じて決まる定数であり、同一地点であっても一般に時間によって変動する。
図1にこの分布を模式的に示す。また、図2にスギ花粉が少量浮遊する環境における粒径分布図を示す。日本のスギ花粉は直径25〜35μm程度の範囲の粒径分布を持つので、r=12.5〜17.5μm程度の範囲に分布が出現することとなる。このようにバックグラウンドノイズ粒子に対してスギ花粉濃度の十分高くない場合、スギ花粉程度の粒径の粒子数濃度を計測してもバックグラウンドノイズ粒子の影響によって精度の高いスギ花粉濃度計測を行うことは不可能である。光散乱式粒子計測においては,チャンバー内に導入した大気にレーザー光等を照射し一個一個の粒子からの散乱光を電気変換して出力パルスを生成し、この出カパルスを計数することによって計測データを得る。実際には、閾値Vを設定し、ある一定時間にその閾値以上のパルス数が何個であるかを計数することとなる。ここで、粒径とパルス高さの値との関係は事前に決定してあるため、ある閾値V以上のパルスの個数はある半径r以上の粒子の個数に対応し、その時間内に計測している大気の体積値で除すことによってある半径r以上の粒子の個数濃度がデータとして得られることとなる。
ここで、図3のように3つの閾値Vt1、Vt2、Vt3をスギ花粉粒子の粒径範囲外に、またVt4、Vt5、をスギ花粉の粒径分布範囲に設定することによって、5種類の粒子数濃度N、N、N、N、N(個/m)を測定する。閾値Vt1〜Vt5に対応する粒径をr〜rとすると、N−Nは粒径がrとrとの間の範囲に入る粒子数濃度、N−Nは粒径がrとrとの間の範囲に入る粒子数濃度となる。数1式をrからrまで積分したものと、rからrまで積分したものはこれらに等しいため、
Figure 0004079374
Figure 0004079374
なる関係を得る。これらから未知数a、bを決定し、この測定環境におけるバックグラウンド特性の関数を決定することができる。次に決定したa、bをもちいてスギ花粉の粒径分布範囲rからrで数1式右辺を積分することによって、スギ花粉粒径分布範囲のバックグラウンドノイズ粒子濃度Nを求めて、
Figure 0004079374
これをスギ花粉粒径分布範囲の全粒子数密度計測結果N、Nから差し引くことによってバックグラウンドノイズ粒子の影響を取り除いて正確なスギ花粉濃度Nを決定することができる。
Figure 0004079374
大気中におけるスギ花粉粒子の計測に適用する例を示す。測定した値が狭い粒径範囲に分布しているのであれば、大気中におけるバックグラウンドとしての浮遊粒子の個数濃度の粒径分布dN/drを測定範囲で
Figure 0004079374
と仮定できる。ここでa、bは環境に応じて決まる定数であり、同一地点であっても一般に時間の関数となる。
図4にこの分布を模式的に示す。また、図5にスギ花粉が少量浮遊する環境における粒径分布図を示す。日本のスギ花粉は直径25〜35μm程度の範囲の粒径分布を持つので、r=12.5〜17.5μm程度の範囲に分布が出現することとなる。このようにバックグラウンドノイズ粒子に対してスギ花粉濃度の十分高くない場合、スギ花粉程度の粒径の粒子数濃度を計測してもバックグラウンドノイズ粒子の影響によって精度の高いスギ花粉濃度計測を行うことは不可能である。光散乱式粒子計測においては、チャンバー内に導入した大気にレーザー光等を照射し一個一個の粒子からの散乱光を電気変換して出力パルスを生成し、この出力パルスを計数することによって計測データを得る。実際には、閾値Vを設定し、その閾値以上のパルス数が何個であるかを計数することとなる。ここで、粒径とパルス高さの値との関係は事前に決定してあるため、ある閾値V以上のパルスの個数はある半径r以上の粒子の個数に対応し、計測している大気の体積値で除すことによってある半径r以上の粒子の個数濃度が決定されることとなる。ここで、図5のように4つの閾値を設定する。(Vt2、Vt3,をスギ花粉の粒径分布範囲程度に、またVt1、Vt4をその外側に設定する。)4種類の粒子数濃度N、N、N、N(個/m)が計測データとして得られるが、閾値Vt1〜Vt4に対応する粒径をr〜rとすると、N−Nは粒径がrとrとの間の範囲に入る粒子数濃度、N−Nは粒径がrとrとの間の範囲に入る粒子数濃度となる。数6式をrからrまで積分したものと、rからrまで積分したものはこれらに等しいため、
Figure 0004079374
Figure 0004079374
なる関係を得る。これらから未知数a、bを決定し、この測定環境におけるバックグラウンド特性を決定することができる。次に決定したa、bをもちいてスギ花粉の粒径分布範囲rからrで数6式右辺を積分することによって、スギ花粉粒径分布範囲のバックグラウンドノイズ粒子濃度Nを求めて、
Figure 0004079374
これをスギ花粉粒径分布範囲の全粒子数密度計測結果N〜Nから差し引くことによってバックグラウンドノイズ粒子の影響を取り除いて正確なスギ花粉濃度Nを決定することができる。
Figure 0004079374
大気中におけるスギ花粉粒子の計測に適用する例を示す。大気中におけるバックグラウンドとしての浮遊粒子の個数濃度の粒径分布dN/drは、半径rが0.1μmよりも大きな範囲において、典型的には
Figure 0004079374
と表されることが知られている(Jungeの指数分布則)。ここではこれをバックグラウンドノイズ粒子の粒径濃度分布関数として用いる。なおa、bは環境に応じて決まる定数であり、同―地点であっても一般に時間によって変動する。
図7にこの分布を模式的に示す。また、スギ花粉の粒径にバラツキがある場合、スギ花粉の粒径分布dN/drとしてガウス分布をもちいて
Figure 0004079374
と、表すことができる。ここで、rは平均値、σは標準偏差である。従って、計測される全粒子数濃度dN/drは、
Figure 0004079374
となる。
図8にスギ花粉が少量浮遊する環境における粒径分布図を示す。日本のスギ花粉は直径25〜35μm程度の範囲の粒径分布を持つので、r=12.5〜17.5μm程度の範囲に分布が出現することとなる。このようにバックグラウンドノイズ粒子に対してスギ花粉濃度の十分高くない場合、スギ花粉程度の粒径の粒子数濃度を計測してもバックグラウンドノイズ粒子の影響によって精度の高いスギ花粉濃度計測を行うことは不可能である。光散乱式粒子計測においては、チャンパー内に導入した大気にレーザー光等を照射し一個一個の粒子からの散乱光を電気変換して出カパルスを生成し、この出力パルスを計数することによって計測データを得る。実際には、閾値Vを設定し、ある一定時間にその閾値以上のパルス数が何個であるかを計数することとなる。ここで、粒径とパルス高さの値との関係は事前に決定してあるため、ある閾値V以上のパルスの個数はある半径r以上の粒子の個数に対応し、その時間内に計測している大気の体積値で除すことによってある半径r以上の粒子の個数濃度がデータとして得られることとなる。ここで、図9のように3つの閾値Vt3、Vt4、Vt5をスギ花粉粒子の粒径範囲内に、またVt1、Vt2、Vt6、をスギ花粉の粒径分布範囲外に設定することによって、6種類の粒子数濃度N(i=1〜6)(個/m)を測定する。閾値Vt1〜Vt6に対応する粒径をr〜rとすると、N(i=1〜6)は粒径がr(i=1〜6)以上である粒子数濃度である。数13式をr(i=1〜5)からrの範囲で積分したものは、N−N(i=1〜5)に等しいため、
Figure 0004079374
なる5つの式を得る(i=1〜5)。これらの式から未知数a,b,c,r,σを決定し、この測定環境におけるバックグラウンド特性の粒子濃度分布関数及びスギ花粉粒子濃度分布の関数を決定することができる。決定したc,r,σをもちいてスギ花粉の粒径分布範囲を含む範囲で数12式右辺を積分することによって、バックグラウンドノイズ粒子の影響を取り除いた正確なスギ花粉濃度Nを決定することができる。
Figure 0004079374
以上説明したように、従来の光散乱式粒子計数器等をもちいて、適切な閾値レベルを設定することによってバックグラウンドノイズ粒子の存在する環境下においてもその影響を簡便に取り除いて精度良く特定粒径をもつ対象粒子の個数濃度を評価することができる。
本発明の実施例1における、大気中のバックグラウンドノイズ粒子粒径分布図である。 本発明の実施例1における、スギ花粉及びバックグラウンドノイズ粒子の粒径分布図である。 本発明の実施例1における、スギ花粉及びバックグラウンドノイズ粒子の粒径分布図に閾値を設定した図である。 本発明の実施例2における、大気中のバックグラウンドノイズ粒子粒径分布図である。 本発明の実施例2における、スギ花粉及びバックグラウンドノイズ粒子の粒径分布図である。 本発明の実施例2における、スギ花粉及びバックグラウンドノイズ粒子の粒径分布図に閾値を設定した図である。 本発明の実施例3における、大気中のバックグラウンドノイズ粒子粒径分布図である。 本発明の実施例3における、スギ花粉及びバックグラウンドノイズ粒子の粒径分布図である。 本発明の実施例3における、スギ花粉及びバックグラウンドノイズ粒子の粒径分布図に閾値を設定した図である。

Claims (5)

  1. 測定対象となる特定の粒径をもつ測定対象粒子とバックグラウンドノイズとなるバックグラウンドノイズ粒子が存在する環境下において、空気中の浮遊粒子に光を照射して散乱光を受光素子によって受信し、浮遊粒子の個数濃度を計測する方法において、
    測定対象粒子の粒径分布範囲外における浮遊粒子の粒径分布データ値に基づいて、測定対象粒子粒径分布範囲でのバックグラウンドノイズ粒子の影響を評価することを特徴とする特定粒径をもつ浮遊粒子の個数濃度の評価方法。
  2. 測定対象となる特定の粒径をもつ測定対象粒子とバックグラウンドノイズとなるバックグラウンドノイズ粒子が存在する環境下において、空気中の浮遊粒子に光を照射して散乱光を受光素子によって受信し、浮遊粒子の個数濃度を計測する方法において、
    全粒径分布データ値をもちいて、バックグラウンドノイズ粒子粒径分布の関数形及び測定対象粒子粒径分布の関数形を同時に決定し、バックグラウンドノイズ粒子の影響を取り除いて測定対象粒子の個数濃度を評価することを特徴とする特定粒径をもつ浮遊粒子の個数濃度の評価方法。
  3. 測定対象となる特定の粒径をもつ測定対象粒子とバックグラウンドノイズとなるバック
    グラウンドノイズ粒子が存在する環境下において、空気中の浮遊粒子に光を照射して散乱光を受光素子によって受信し、浮遊粒子の個数濃度を計測する方法において、
    適切に設定したn個の粒径に関する閾値によって最低閾値粒径以上の粒径範囲をn個の粒径範囲に分割し、前記n個の閾値の各々について当該閾値よりも粒径の大きな浮遊粒子の個数濃度を計測して近接する閾値間に含まれる粒径の粒子の個数濃度を得ることによって、前記n個の粒径範囲の各々に含まれる粒子の個数濃度であるn個の粒径分布データ値を求め、
    全浮遊粒子に対する前記n個の粒径分布データ値のみに基づいて、その環境に依存したバックグラウンドノイズ粒子の粒径分布を評価し、前記全浮遊粒子の粒径分布データ値から前記バックグラウンドノイズ粒子の影響を取り除いて測定対象粒子の個数濃度を評価することを特徴とする特定粒径をもつ浮遊粒子の個数濃度の評価方法。
  4. n個の粒径分布データ値をもちいて、測定対象粒子の粒径分布範囲外の粒径分布データ値のみに基づき、測定対象粒子の粒径分布範囲におけるバックグラウンドノイズ粒子の個数濃度を評価することによって、バックグラウンドノイズ粒子の影響を取り除いて測定対象粒子の個数濃度を評価することを特徴とする請求項に記載の特定粒径をもつ浮遊粒子の個数濃度の評価方法。
  5. n個の粒径分布データ値をもちいて、バックグラウンドノイズ粒子粒径分布の関数形及び測定対象粒子粒径分布の関数形を同時に決定し、バックグラウンドノイズ粒子の影響を取り除いて測定対象粒子の個数濃度を評価することを特徴とする請求項に記載の特定粒径をもつ浮遊粒子の個数濃度の評価方法。
JP2004261432A 2004-09-08 2004-09-08 特定粒径をもつ浮遊粒子の個数濃度の評価方法 Expired - Fee Related JP4079374B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004261432A JP4079374B2 (ja) 2004-09-08 2004-09-08 特定粒径をもつ浮遊粒子の個数濃度の評価方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2004261432A JP4079374B2 (ja) 2004-09-08 2004-09-08 特定粒径をもつ浮遊粒子の個数濃度の評価方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP2006078281A JP2006078281A (ja) 2006-03-23
JP4079374B2 true JP4079374B2 (ja) 2008-04-23

Family

ID=36157874

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2004261432A Expired - Fee Related JP4079374B2 (ja) 2004-09-08 2004-09-08 特定粒径をもつ浮遊粒子の個数濃度の評価方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP4079374B2 (ja)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6719053B2 (ja) * 2016-07-29 2020-07-08 パナソニックIpマネジメント株式会社 空気清浄機
CN106644868B (zh) * 2017-02-08 2019-06-21 河海大学 一种二维非凸形随机骨料周围界面浓度的测定方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP2006078281A (ja) 2006-03-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6639672B2 (en) Method and apparatus for rapid particle identification utilizing scattered light histograms
JDoorschot et al. Field measurements of snow-drift threshold and mass fluxes, and related model simulations
KR102148812B1 (ko) 공기질 측정 장치 및 시스템
WO2018045768A1 (zh) 家用电器、粉尘传感器及其标定方法、标定装置
US4510438A (en) Coincidence correction in particle analysis system
Poortinga et al. Measuring fast-temporal sediment fluxes with an analogue acoustic sensor: a wind tunnel study
Geisinger et al. Development and application of a backscatter lidar forward operator for quantitative validation of aerosol dispersion models and future data assimilation
JP3532274B2 (ja) 粒子検出装置
KR20190064946A (ko) 먼지센서 보정 장치 및 먼지센서
JP4079374B2 (ja) 特定粒径をもつ浮遊粒子の個数濃度の評価方法
CN110987872A (zh) 前向散射传感器
CN107687993B (zh) 通过光衍射来表征悬浮于流体分散剂中的颗粒的方法
US7064826B2 (en) Digital optical measurement of particle populations using reduced magnification
JP2005283152A (ja) 花粉センサ
CN107615468B (zh) 雾度的评价方法
CN110006849B (zh) 一种获取气溶胶消光系数的方法和装置
CN107132165B (zh) 一种粉尘质量浓度值的测量方法及装置
CN110987873A (zh) 前向散射传感器
ES2901791T3 (es) Método de identificación de un material
CN109520899A (zh) 一种空气颗粒物浓度检测方法及装置
JP2006010353A (ja) 微粒子測定装置
JP2636051B2 (ja) 粒子測定方法および装置
US11656166B2 (en) Method and apparatus for detecting particles
Wetzel et al. Close pairs as proxies for galaxy cluster mergers
Lesnikov et al. Metrological support of liquid and aerosol particle counters

Legal Events

Date Code Title Description
A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20060905

A977 Report on retrieval

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007

Effective date: 20070815

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20070822

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20071022

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20071121

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20071228

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20080130

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20080201

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110215

Year of fee payment: 3

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110215

Year of fee payment: 3

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120215

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130215

Year of fee payment: 5

S531 Written request for registration of change of domicile

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313531

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees