JP4074174B2 - 電圧制御発振器測定装置、方法、プログラムおよび該プログラムを記録した記録媒体 - Google Patents
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Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】
本発明は電圧制御発振器（VCO：Voltage Controlled Oscillator）のプッシングファクタの測定に関する。
【０００２】
【従来の技術】
VCO(Voltage Controlled Oscillator)は発振器の一種である。VCOに与える電圧により、VCOの発振周波数を変えることができる。ここで、VCOに与える電圧をV1からV2に変えた場合、VCOの発振周波数がF1からF2に変わったとする。このとき、プッシングファクタ＝（F2−F1）／（V2−V1）である。すなわち、プッシングファクタは、発振周波数の変動する量と供給電圧の変動する量との比である。
【０００３】
従来の、プッシングファクタを測定する方法を説明する。まず、VCOに電圧V1を供給し、VCOの発振周波数をスペクトラムアナライザで測定する。この周波数をF1とする。次に、VCOに電圧V2を供給し、VCOの発振周波数をスペクトラムアナライザで測定する。この周波数をF2とする。最後に、（F2−F1）／（V2−V1）を計算してプッシングファクタを求める。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、VCOの発振周波数F1を測定し、さらにVCOの発振周波数F2を測定する必要がある。よって、スペクトラムアナライザを二回掃引する必要があるため、測定には数秒もの長い時間がかかる。よって、外乱の影響を受けやすいVCOの発振周波数を測定すると、外乱の影響による周波数ドリフトが加算され、VCOの発振周波数の測定誤差が大きくなる。したがって、VCOのプッシングファクタを正確に測定できない。
【０００５】
そこで、本発明は、VCOのプッシングファクタを正確に測定することを課題とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の発明は、電圧制御発振器を測定する電圧制御発振器測定装置であって、電圧制御発振器の電源電圧を発生する電圧源と、一定振幅および周波数の交流付加電圧を発生する付加電圧発生手段と、電源電圧と付加電圧とを加算して電圧制御発振器に与える電圧加算手段と、電圧制御発振器の出力に基づく信号のスペクトルに基づき電圧制御発振器のプッシングファクタを測定する出力測定手段とを備えるように構成される。
【０００７】
上記のように構成された電圧制御発振器測定装置によれば、電圧源は電圧制御発振器の電源電圧を発生する。この電源電圧を電圧制御発振器（VCO：Voltage Controlled Oscillator）に与えれば一定の周波数の信号を出力する。しかし、電圧加算手段により電源電圧に付加電圧が加算されるため電圧の振幅が変動する。電源電圧に付加電圧が加算されたものが電圧制御発振器に与えられるため、電圧制御発振器の出力する信号の周波数が変動する。すなわち、電圧制御発振器の出力する信号にＦＭ変調（Frequency Modulation）が施される。
【０００８】
電圧制御発振器に入力される電圧に付加電圧が加算されたことにより、電圧制御発振器の出力にＦＭ変調が施される。よって、電圧制御発振器の出力に基づく信号のスペクトルを解析すれば、電圧制御発振器の入力電圧と出力周波数との関係、例えばプッシングファクタを測定することができる。よって、出力測定手段により電圧制御発振器の出力に基づく信号のスペクトルに基づき電圧制御発振器のプッシングファクタを測定することができる。
【０００９】
ここで、電圧制御発振器のプッシングファクタの測定にあたっては、スペクトラムアナライザを一回掃引するだけで、プッシングファクタを測定することができ、測定時間が短くてすむ。よって、外乱の影響を受けにくく、電圧制御発振器のプッシングファクタを正確に測定することができる。
【００１０】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の発明であって、出力測定手段は、電圧制御発振器の出力の正のピークに基づき検波を行うポジティブピーク検波手段と、電圧制御発振器の出力の負のピークに基づき検波を行うネガティブピーク検波手段と、ポジティブピーク検波手段の検波結果である第一スペクトルとネガティブピーク検波手段の検波結果である第二スペクトルとの間の周波数の変位幅を測定するスペクトラム幅測定手段と、変位幅および付加電圧の振幅に基づき電圧制御発振器のプッシングファクタを測定するプッシングファクタ測定手段とを有するように構成される。
【００１１】
請求項３に記載の発明は、請求項１に記載の発明であって、出力測定手段は、電圧制御発振器の出力のスペクトルにおいて最大電力を示す最大スペクトルと最大スペクトルから付加電圧の周波数だけ離れた離隔スペクトルとの間の電力の変位を測定する周波数・ピーク変位測定手段と、電力の変位と付加電圧の振幅とに基づき電圧制御発振器のプッシングファクタを測定するプッシングファクタ測定手段とを有するように構成される。
【００１２】
請求項４に記載の発明は、請求項１に記載の発明であって、出力測定手段は、電圧制御発振器の出力をＦＭ復調するＦＭ復調手段と、ＦＭ復調手段の出力のスペクトルを測定するスペクトル測定手段と、スペクトル測定手段の測定結果に基づき電圧制御発振器のプッシングファクタを測定するプッシングファクタ測定手段とを有するように構成される。
【００１３】
請求項５に記載の発明は、電圧制御発振器を測定する電圧制御発振器測定方法であって、電圧制御発振器の電源電圧を発生する電圧発生工程と、一定振幅および周波数の交流付加電圧を発生する付加電圧発生工程と、電源電圧と付加電圧とを加算して電圧制御発振器に与える電圧加算工程と、電圧制御発振器の出力に基づく信号のスペクトルに基づき電圧制御発振器のプッシングファクタを測定する出力測定工程とを備えるように構成される。
【００１４】
請求項６に記載の発明は、電圧制御発振器を測定する電圧制御発振器測定装置であって、電圧制御発振器の電源電圧を発生する電圧源と、一定振幅および周波数の交流付加電圧を発生する付加電圧発生手段と、電源電圧と付加電圧とを加算して電圧制御発振器に与える電圧加算手段とを有する電圧制御発振器測定装置の電圧制御発振器測定処理コンピュータに実行させるためのプログラムであって、電圧制御発振器の出力に基づく信号のスペクトルに基づき電圧制御発振器のプッシングファクタを測定する出力測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムである。
【００１５】
請求項７に記載の発明は、電圧制御発振器を測定する電圧制御発振器測定装置であって、電圧制御発振器の電源電圧を発生する電圧源と、一定振幅および周波数の交流付加電圧を発生する付加電圧発生手段と、電源電圧と付加電圧とを加算して電圧制御発振器に与える電圧加算手段とを有する電圧制御発振器測定装置の電圧制御発振器測定処理コンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、電圧制御発振器の出力に基づく信号のスペクトルに基づき電圧制御発振器のプッシングファクタを測定する出力測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体である。
【００１６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面を参照しながら説明する。
【００１７】
図１は、本発明の実施形態にかかる電圧制御発振器測定装置の構成を示すブロック図である。電圧制御発振器測定装置は、電圧制御発振器（VCO：Voltage Controlled Oscillator）２０を測定する。電圧制御発振器測定装置は、電圧源１０、付加電圧発生部１２、電圧加算器１４、出力測定部３０を備える。
【００１８】
電圧源１０は、電圧制御発振器の電源電圧Vsを発生する。付加電圧発生部１２は、一定振幅および周波数の交流付加電圧V(t)を発生する。V(t)＝Asin(2πft)である。すなわち、付加電圧V(t)は振幅A、周波数ｆの正弦波で表すことができる。電圧加算器１４は、電源電圧Vsと付加電圧V(t)とを加算して電圧制御発振器２０に与える。よって、電圧制御発振器２０に供給される電圧の振幅は±A変動する。
【００１９】
電圧制御発振器（VCO：Voltage Controlled Oscillator）２０は、供給された電圧に応じた周波数の信号を出力する。ここで、発振周波数の変動する量と供給電圧の変動する量との比をプッシングファクタという。例えば、VCOに与える電圧をV1からV2に変えた場合、VCOの発振周波数がF1からF2に変わったとする。このとき、プッシングファクタ＝（F2−F1）／（V2−V1）である。電圧制御発振器２０の入力電圧の振幅は±Aで変動しているため、出力する信号の周波数も変動する。すなわち、出力する信号がＦＭ変調（Frequency Modulation）される。
【００２０】
出力測定部３０は、電圧制御発振器２０の出力に基づく信号のスペクトルに基づき電圧制御発振器２０のプッシングファクタを測定する。出力測定部３０の構成は、各実施形態により異なる。
【００２１】
第一の実施形態
図２は、本発明の第一の実施形態にかかる出力測定部３０の構成を示すブロック図である。出力測定部３０は、ＦＭ偏移に基づき、電圧制御発振器２０のプッシングファクタを測定する。電圧制御発振器２０に入力される電圧に付加電圧が加算されたことにより、電圧制御発振器２０の出力にＦＭ変調が施される。よって、ＦＭ偏移を測定すれば、電圧制御発振器２０の入力電圧と出力周波数との関係たるプッシングファクタを測定することができる。
【００２２】
出力測定部３０は、ミキサ３０１、周波数掃引信号発生部３０３、RBWフィルタ３２、ポジティブピーク検波部３４ａ、ネガティブピーク検波部３４ｂ、スペクトラム幅測定部３６、プッシングファクタ測定部３８を有する。
【００２３】
RBW（resolution bandwidth：分解能帯域幅）フィルタ３２は、バンドパスフィルタの一種である。RBWフィルタ３２には、電圧制御発振器２０の出力信号と周波数掃引信号発生部３０３の出力信号とをミキサ３０１により掛け算した結果が入力され、所定の帯域の信号を通過させる。RBWフィルタ３２の３dB低下点の帯域幅をRBW（resolution bandwidth：分解能帯域幅）という。周波数掃引信号発生部３０３は、出力測定部３０が測定可能である周波数の最低値（最高値）から最高値（最低値）にRBWフィルタ３２の中心周波数分オフセットした周波数で変化する。この周波数変化を掃引といい、一回掃引を行う。掃引にかける時間は、付加電圧V(t)の周期1/fよりも充分に大きくする。また、RBWの大きさは、付加電圧V(t)の帯域（例えば、３dB低下点）よりも大きくしておく。
【００２４】
ポジティブピーク検波部３４ａは、RBWフィルタ３２を通過した信号を正（ポジティブ）ピーク検波する。すなわち、信号の正側のピークに着目して検波する。検波結果はスペクトルであり、これを第一スペクトルという。ネガティブピーク検波部３４ｂは、RBWフィルタ３２を通過した信号を負（ネガティブ）ピーク検波する。すなわち、信号の負側のピークに着目して検波する。検波結果はスペクトルであり、これを第二スペクトルという。
【００２５】
スペクトラム幅測定部３６は、第一スペクトルと第二スペクトルとの間の周波数の変位幅を測定する。スペクトラム幅測定部３６の測定動作を図３を参照して説明する。図３は、第一スペクトル４２と第二スペクトル４４とを縦軸に出力電力、横軸に周波数をとってあらわしたグラフである。図３に示すように、第一スペクトル４２と第二スペクトル４４とはスペクトルのピークこそ一致するものの、幅に違いがある。すなわち、第一スペクトル４２の幅が第二スペクトル４４の幅よりも広く、その幅は、どの出力電力で測定しても、一定値ΔFになっている。ここで、スペクトラム幅測定部３６は、第一スペクトル４２および第二スペクトル４４の変位幅ΔＦを測定する。変位幅ΔＦを測定する出力電力の位置は、ピークに近すぎると周波数軸の測定誤差を受けやすく、一方出力電力が小さい位置だと、雑音等の影響を受けやすいので、ピークから３ｄB低下した部分の第一スペクトル４２および第二スペクトル４４の変位幅を測定するのが望ましい。
【００２６】
プッシングファクタ測定部３８は、変位幅ΔＦおよび付加電圧の振幅Ａに基づき電圧制御発振器２０のプッシングファクタを測定する。変位幅ΔＦは、ＦＭ偏移の２倍である。よって、ＦＭ偏移＝ΔＦ／２である。したがって、プッシングファクタは、ＦＭ偏移をＡで割ったものとなる。すなわち、プッシングファクタ＝ΔＦ／（２Ａ）となる。
【００２７】
次に、第一の実施形態の動作を説明する。
【００２８】
電圧源１０により生成された電源電圧Vsに、付加電圧発生部１２により生成された付加電圧V(t)が電圧加算器１４により加算され、電圧制御発振器２０に与えられる。電圧制御発振器２０に与えられる電圧は振幅が±Aで変動しているため、電圧制御発振器２０の出力する信号はＦＭ変調されている。
【００２９】
電圧制御発振器２０の出力する信号は、ミキサ３０１により周波数掃引信号発生部３０３の出力信号と掛け算され、RBWフィルタ３２により所定の帯域の信号が取り出される。周波数掃引信号発生部３０３は、一回掃引される。RBWフィルタ３２により取り出された信号は、ポジティブピーク検波部３４ａにより検波され、第一スペクトルが生成される。さらに、RBWフィルタ３２により取り出された信号は、ネガティブピーク検波部３４ｂにより検波され、第二スペクトルが生成される。第一スペクトルと第二スペクトルとはスペクトラム幅測定部３６に送られ、変位幅ΔＦ（図３参照）が測定される。変位幅ΔＦはプッシングファクタ測定部３８に送られ、プッシングファクタ＝ΔＦ／（２Ａ）が測定される。
【００３０】
第一の実施形態によれば、電圧源１０は電圧制御発振器の電源電圧Vsを発生する。この電源電圧Vsを電圧制御発振器２０に与えれば一定の周波数の信号を出力する。しかし、電圧加算器１４により電源電圧Vsに付加電圧V(t)が加算されるため電圧の振幅が±A変動する。電源電圧Vsに付加電圧V(t)が加算されたものが電圧制御発振器２０に与えられるため、電圧制御発振器２０の出力する信号の周波数が変動する。すなわち、電圧制御発振器の出力する信号にＦＭ変調（Frequency Modulation）が施される。
【００３１】
電圧制御発振器２０に入力される電圧に付加電圧V(t)が加算されたことにより、電圧制御発振器２０の出力にＦＭ変調が施される。よって、電圧制御発振器２０の出力する信号のＦＭ偏移を測定すれば、電圧制御発振器２０の入力電圧と出力周波数との関係たるプッシングファクタを測定することができる。よって、出力測定部３０により電圧制御発振器３０の出力のスペクトルに基づき電圧制御発振器２０のプッシングファクタを測定することができる。
【００３２】
ここで、電圧制御発振器２０のプッシングファクタの測定にあたっては、電源電圧および付加電圧の振幅を変動させ、その都度掃引してスペクトルを解析しなくてすむ。よって、一回の掃引で測定がすむので、測定時間が短くてすむ。よって、外乱（周波数ドリフト）の影響を受けにくく、電圧制御発振器２０のプッシングファクタを正確に測定することができる。
【００３３】
第二の実施形態
第二の実施形態は、第一の実施形態と比べて、ＦＭ偏移の測定法が異なる。
【００３４】
図４は、本発明の第二の実施形態にかかる出力測定部３０の構成を示すブロック図である。出力測定部３０は、ミキサ３０１、周波数掃引信号発生部３０３、RBWフィルタ３２、検波部３４、周波数・ピーク変位測定部３７、プッシングファクタ測定部３８を有する。
【００３５】
ミキサ３０１、周波数掃引信号発生部３０３、RBWフィルタ３２は、第一の実施形態と同様であり説明を省略する。検波部３４は、RBWフィルタ３２を通過した信号を検波してスペクトルを出力する。検波法は、ポジティブピーク検波、ネガティブピーク検波あるいは他の検波法でもよい。
【００３６】
周波数・ピーク変位測定部３７は、電圧制御発振器２０の出力のスペクトルにおいて最大電力を示す最大スペクトルと最大スペクトルから周波数ｆ（付加電圧V(t)の周波数）だけ離れた離隔スペクトルとの間の電力の変位を測定する。周波数・ピーク変位測定部３７の測定動作を図５を参照して説明する。図５は、最大スペクトル４６と離隔スペクトル４８とを縦軸に出力電力、横軸に周波数をとってあらわしたグラフである。図５に示すように、最大スペクトル４６と離隔スペクトル４８との間の周波数の変位、すなわち最大スペクトル４６がピークをとる周波数と離隔スペクトル４８がピークをとる周波数との差はｆである。最大スペクトル４６と離隔スペクトル４８との間の電力の変位、すなわち最大スペクトル４６のピーク（電力値）と離隔スペクトル４８のピーク（電力値）との差はΔＬ[dBc]である。周波数・ピーク変位測定部３７は、電力の変位ΔＬ[dBc]を測定する。
【００３７】
プッシングファクタ測定部３８は、電力の変位ΔＬ[dBc] および付加電圧の振幅Ａに基づき電圧制御発振器２０のプッシングファクタを測定する。ＦＭ偏移は、下記の式（１）のようになる。
【００３８】
【数１】
よって、プッシングファクタは下記の式（２）のようになる。
【００３９】
【数２】
次に、第二の実施形態の動作を説明する。
【００４０】
電圧源１０により生成された電源電圧Vsに、付加電圧発生部１２により生成された付加電圧V(t)が電圧加算器１４により加算され、電圧制御発振器２０に与えられる。電圧制御発振器２０に与えられる電圧は振幅が±Aで変動しているため、電圧制御発振器２０の出力する信号はＦＭ変調されている。
【００４１】
電圧制御発振器２０の出力する信号は、ミキサ３０１により周波数掃引信号発生部３０３の出力信号と掛け算され、RBWフィルタ３２により所定の帯域の信号が取り出される。周波数掃引信号発生部３０３は、一回掃引される。RBWフィルタ３２により取り出された信号は、検波部３４により検波され、最大スペクトルおよび離隔スペクトルが生成される。最大スペクトルおよび離隔スペクトルは周波数・ピーク変位測定部３７に送られ、電力の変位ΔＬ[dBc]が測定される。電力の変位ΔＬ[dBc]はプッシングファクタ測定部３８に送られ、プッシングファクタが測定される。
【００４２】
第二の実施形態によれば、第一の実施形態と同様な効果を奏する。しかも、第一の実施形態に比べて、さらに外乱（周波数ドリフト）の影響を受けにくく、電圧制御発振器２０のプッシングファクタを正確に測定することができる。
【００４３】
第三の実施形態
第三の実施形態は、第一の実施形態と比べて、ＦＭ偏移の測定法が異なる。
【００４４】
図６は、本発明の第三の実施形態にかかる出力測定部３０の構成を示すブロック図である。出力測定部３０は、ＦＭ復調部３１、ＦＦＴ部３３、プッシングファクタ測定部３８を有する。
【００４５】
ＦＭ復調部３１は、電圧制御発振器２０の出力信号をＦＭ復調する。電圧制御発振器２０の出力信号はＦＭ変調が施されているので、ＦＭ復調すれば信号波を取り出すことができる。信号波からＦＭ偏移を求めることができる。
【００４６】
ＦＦＴ部（スペクトル測定手段）３３は、ＦＭ復調部３１の出力をＦＦＴ（Fast Fourier Transform）して出力する。ＦＦＴ部３３の出力は、信号波のスペクトルとなる。
【００４７】
プッシングファクタ測定部３８は、ＦＦＴ部３３の出力に基づき、電圧制御発振器２０のプッシングファクタを測定する。
【００４８】
次に、第三の実施形態の動作を説明する。
【００４９】
電圧源１０により生成された電源電圧Vsに、付加電圧発生部１２により生成された付加電圧V(t)が電圧加算器１４により加算され、電圧制御発振器２０に与えられる。電圧制御発振器２０に与えられる電圧は振幅が±Aで変動しているため、電圧制御発振器２０の出力する信号はＦＭ変調されている。
【００５０】
電圧制御発振器２０の出力する信号は、ＦＭ復調部３１によりＦＭ復調され、信号波が取り出される。ＦＭ復調部３１により取り出された信号波は、ＦＦＴ部（スペクトル測定手段）３３により、スペクトルが測定される。このスペクトルに基づき、プッシングファクタ測定部３８により、電圧制御発振器２０のプッシングファクタを測定する。
【００５１】
第三の実施形態によれば、第一の実施形態と同様な効果を奏する。
【００５２】
また、上記の実施形態において、ＣＰＵ、ハードディスク、メディア（フロッピーディスク、ＣＤ−ＲＯＭなど）読み取り装置を備えたコンピュータのメディア読み取り装置に、上記の各部分（例えば、ＦＦＴ部３３、スペクトラム幅測定部３６、周波数・ピーク変位測定部３７、プッシングファクタ測定部３８）を実現するプログラムを記録したメディアを読み取らせて、ハードディスクにインストールする。このような方法でも、電圧制御発振器測定装置を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態にかかる電圧制御発振器測定装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の第一の実施形態にかかる出力測定部３０の構成を示すブロック図である。
【図３】第一スペクトル４２と第二スペクトル４４とを縦軸に出力電力、横軸に周波数をとってあらわしたグラフである。
【図４】本発明の第二の実施形態にかかる出力測定部３０の構成を示すブロック図である。
【図５】最大スペクトル４６と離隔スペクトル４８とを縦軸に出力電力、横軸に周波数をとってあらわしたグラフである。
【図６】本発明の第三の実施形態にかかる出力測定部３０の構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
１０ 電圧源
１２ 付加電圧発生部
１４ 電圧加算器
２０ 電圧制御発振器
３０ 出力測定部
３１ ＦＭ復調部
３０１ ミキサ
３０３ 周波数掃引信号発生部
３２ RBWフィルタ
３３ ＦＦＴ部
３４ 検波部
３４ａ ポジティブピーク検波部
３４ｂ ネガティブピーク検波部
３６ スペクトラム幅測定部
３７ 周波数・ピーク変位測定部
３８ プッシングファクタ測定部
４２ 第一スペクトル
４４ 第二スペクトル
４６ 最大スペクトル
４８ 離隔スペクトル
【発明の属する技術分野】
本発明は電圧制御発振器（VCO：Voltage Controlled Oscillator）のプッシングファクタの測定に関する。
【０００２】
【従来の技術】
VCO(Voltage Controlled Oscillator)は発振器の一種である。VCOに与える電圧により、VCOの発振周波数を変えることができる。ここで、VCOに与える電圧をV1からV2に変えた場合、VCOの発振周波数がF1からF2に変わったとする。このとき、プッシングファクタ＝（F2−F1）／（V2−V1）である。すなわち、プッシングファクタは、発振周波数の変動する量と供給電圧の変動する量との比である。
【０００３】
従来の、プッシングファクタを測定する方法を説明する。まず、VCOに電圧V1を供給し、VCOの発振周波数をスペクトラムアナライザで測定する。この周波数をF1とする。次に、VCOに電圧V2を供給し、VCOの発振周波数をスペクトラムアナライザで測定する。この周波数をF2とする。最後に、（F2−F1）／（V2−V1）を計算してプッシングファクタを求める。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、VCOの発振周波数F1を測定し、さらにVCOの発振周波数F2を測定する必要がある。よって、スペクトラムアナライザを二回掃引する必要があるため、測定には数秒もの長い時間がかかる。よって、外乱の影響を受けやすいVCOの発振周波数を測定すると、外乱の影響による周波数ドリフトが加算され、VCOの発振周波数の測定誤差が大きくなる。したがって、VCOのプッシングファクタを正確に測定できない。
【０００５】
そこで、本発明は、VCOのプッシングファクタを正確に測定することを課題とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】
請求項１に記載の発明は、電圧制御発振器を測定する電圧制御発振器測定装置であって、電圧制御発振器の電源電圧を発生する電圧源と、一定振幅および周波数の交流付加電圧を発生する付加電圧発生手段と、電源電圧と付加電圧とを加算して電圧制御発振器に与える電圧加算手段と、電圧制御発振器の出力に基づく信号のスペクトルに基づき電圧制御発振器のプッシングファクタを測定する出力測定手段とを備えるように構成される。
【０００７】
上記のように構成された電圧制御発振器測定装置によれば、電圧源は電圧制御発振器の電源電圧を発生する。この電源電圧を電圧制御発振器（VCO：Voltage Controlled Oscillator）に与えれば一定の周波数の信号を出力する。しかし、電圧加算手段により電源電圧に付加電圧が加算されるため電圧の振幅が変動する。電源電圧に付加電圧が加算されたものが電圧制御発振器に与えられるため、電圧制御発振器の出力する信号の周波数が変動する。すなわち、電圧制御発振器の出力する信号にＦＭ変調（Frequency Modulation）が施される。
【０００８】
電圧制御発振器に入力される電圧に付加電圧が加算されたことにより、電圧制御発振器の出力にＦＭ変調が施される。よって、電圧制御発振器の出力に基づく信号のスペクトルを解析すれば、電圧制御発振器の入力電圧と出力周波数との関係、例えばプッシングファクタを測定することができる。よって、出力測定手段により電圧制御発振器の出力に基づく信号のスペクトルに基づき電圧制御発振器のプッシングファクタを測定することができる。
【０００９】
ここで、電圧制御発振器のプッシングファクタの測定にあたっては、スペクトラムアナライザを一回掃引するだけで、プッシングファクタを測定することができ、測定時間が短くてすむ。よって、外乱の影響を受けにくく、電圧制御発振器のプッシングファクタを正確に測定することができる。
【００１０】
請求項２に記載の発明は、請求項１に記載の発明であって、出力測定手段は、電圧制御発振器の出力の正のピークに基づき検波を行うポジティブピーク検波手段と、電圧制御発振器の出力の負のピークに基づき検波を行うネガティブピーク検波手段と、ポジティブピーク検波手段の検波結果である第一スペクトルとネガティブピーク検波手段の検波結果である第二スペクトルとの間の周波数の変位幅を測定するスペクトラム幅測定手段と、変位幅および付加電圧の振幅に基づき電圧制御発振器のプッシングファクタを測定するプッシングファクタ測定手段とを有するように構成される。
【００１１】
請求項３に記載の発明は、請求項１に記載の発明であって、出力測定手段は、電圧制御発振器の出力のスペクトルにおいて最大電力を示す最大スペクトルと最大スペクトルから付加電圧の周波数だけ離れた離隔スペクトルとの間の電力の変位を測定する周波数・ピーク変位測定手段と、電力の変位と付加電圧の振幅とに基づき電圧制御発振器のプッシングファクタを測定するプッシングファクタ測定手段とを有するように構成される。
【００１２】
請求項４に記載の発明は、請求項１に記載の発明であって、出力測定手段は、電圧制御発振器の出力をＦＭ復調するＦＭ復調手段と、ＦＭ復調手段の出力のスペクトルを測定するスペクトル測定手段と、スペクトル測定手段の測定結果に基づき電圧制御発振器のプッシングファクタを測定するプッシングファクタ測定手段とを有するように構成される。
【００１３】
請求項５に記載の発明は、電圧制御発振器を測定する電圧制御発振器測定方法であって、電圧制御発振器の電源電圧を発生する電圧発生工程と、一定振幅および周波数の交流付加電圧を発生する付加電圧発生工程と、電源電圧と付加電圧とを加算して電圧制御発振器に与える電圧加算工程と、電圧制御発振器の出力に基づく信号のスペクトルに基づき電圧制御発振器のプッシングファクタを測定する出力測定工程とを備えるように構成される。
【００１４】
請求項６に記載の発明は、電圧制御発振器を測定する電圧制御発振器測定装置であって、電圧制御発振器の電源電圧を発生する電圧源と、一定振幅および周波数の交流付加電圧を発生する付加電圧発生手段と、電源電圧と付加電圧とを加算して電圧制御発振器に与える電圧加算手段とを有する電圧制御発振器測定装置の電圧制御発振器測定処理コンピュータに実行させるためのプログラムであって、電圧制御発振器の出力に基づく信号のスペクトルに基づき電圧制御発振器のプッシングファクタを測定する出力測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムである。
【００１５】
請求項７に記載の発明は、電圧制御発振器を測定する電圧制御発振器測定装置であって、電圧制御発振器の電源電圧を発生する電圧源と、一定振幅および周波数の交流付加電圧を発生する付加電圧発生手段と、電源電圧と付加電圧とを加算して電圧制御発振器に与える電圧加算手段とを有する電圧制御発振器測定装置の電圧制御発振器測定処理コンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、電圧制御発振器の出力に基づく信号のスペクトルに基づき電圧制御発振器のプッシングファクタを測定する出力測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体である。
【００１６】
【発明の実施の形態】
以下、本発明の実施形態を図面を参照しながら説明する。
【００１７】
図１は、本発明の実施形態にかかる電圧制御発振器測定装置の構成を示すブロック図である。電圧制御発振器測定装置は、電圧制御発振器（VCO：Voltage Controlled Oscillator）２０を測定する。電圧制御発振器測定装置は、電圧源１０、付加電圧発生部１２、電圧加算器１４、出力測定部３０を備える。
【００１８】
電圧源１０は、電圧制御発振器の電源電圧Vsを発生する。付加電圧発生部１２は、一定振幅および周波数の交流付加電圧V(t)を発生する。V(t)＝Asin(2πft)である。すなわち、付加電圧V(t)は振幅A、周波数ｆの正弦波で表すことができる。電圧加算器１４は、電源電圧Vsと付加電圧V(t)とを加算して電圧制御発振器２０に与える。よって、電圧制御発振器２０に供給される電圧の振幅は±A変動する。
【００１９】
電圧制御発振器（VCO：Voltage Controlled Oscillator）２０は、供給された電圧に応じた周波数の信号を出力する。ここで、発振周波数の変動する量と供給電圧の変動する量との比をプッシングファクタという。例えば、VCOに与える電圧をV1からV2に変えた場合、VCOの発振周波数がF1からF2に変わったとする。このとき、プッシングファクタ＝（F2−F1）／（V2−V1）である。電圧制御発振器２０の入力電圧の振幅は±Aで変動しているため、出力する信号の周波数も変動する。すなわち、出力する信号がＦＭ変調（Frequency Modulation）される。
【００２０】
出力測定部３０は、電圧制御発振器２０の出力に基づく信号のスペクトルに基づき電圧制御発振器２０のプッシングファクタを測定する。出力測定部３０の構成は、各実施形態により異なる。
【００２１】
第一の実施形態
図２は、本発明の第一の実施形態にかかる出力測定部３０の構成を示すブロック図である。出力測定部３０は、ＦＭ偏移に基づき、電圧制御発振器２０のプッシングファクタを測定する。電圧制御発振器２０に入力される電圧に付加電圧が加算されたことにより、電圧制御発振器２０の出力にＦＭ変調が施される。よって、ＦＭ偏移を測定すれば、電圧制御発振器２０の入力電圧と出力周波数との関係たるプッシングファクタを測定することができる。
【００２２】
出力測定部３０は、ミキサ３０１、周波数掃引信号発生部３０３、RBWフィルタ３２、ポジティブピーク検波部３４ａ、ネガティブピーク検波部３４ｂ、スペクトラム幅測定部３６、プッシングファクタ測定部３８を有する。
【００２３】
RBW（resolution bandwidth：分解能帯域幅）フィルタ３２は、バンドパスフィルタの一種である。RBWフィルタ３２には、電圧制御発振器２０の出力信号と周波数掃引信号発生部３０３の出力信号とをミキサ３０１により掛け算した結果が入力され、所定の帯域の信号を通過させる。RBWフィルタ３２の３dB低下点の帯域幅をRBW（resolution bandwidth：分解能帯域幅）という。周波数掃引信号発生部３０３は、出力測定部３０が測定可能である周波数の最低値（最高値）から最高値（最低値）にRBWフィルタ３２の中心周波数分オフセットした周波数で変化する。この周波数変化を掃引といい、一回掃引を行う。掃引にかける時間は、付加電圧V(t)の周期1/fよりも充分に大きくする。また、RBWの大きさは、付加電圧V(t)の帯域（例えば、３dB低下点）よりも大きくしておく。
【００２４】
ポジティブピーク検波部３４ａは、RBWフィルタ３２を通過した信号を正（ポジティブ）ピーク検波する。すなわち、信号の正側のピークに着目して検波する。検波結果はスペクトルであり、これを第一スペクトルという。ネガティブピーク検波部３４ｂは、RBWフィルタ３２を通過した信号を負（ネガティブ）ピーク検波する。すなわち、信号の負側のピークに着目して検波する。検波結果はスペクトルであり、これを第二スペクトルという。
【００２５】
スペクトラム幅測定部３６は、第一スペクトルと第二スペクトルとの間の周波数の変位幅を測定する。スペクトラム幅測定部３６の測定動作を図３を参照して説明する。図３は、第一スペクトル４２と第二スペクトル４４とを縦軸に出力電力、横軸に周波数をとってあらわしたグラフである。図３に示すように、第一スペクトル４２と第二スペクトル４４とはスペクトルのピークこそ一致するものの、幅に違いがある。すなわち、第一スペクトル４２の幅が第二スペクトル４４の幅よりも広く、その幅は、どの出力電力で測定しても、一定値ΔFになっている。ここで、スペクトラム幅測定部３６は、第一スペクトル４２および第二スペクトル４４の変位幅ΔＦを測定する。変位幅ΔＦを測定する出力電力の位置は、ピークに近すぎると周波数軸の測定誤差を受けやすく、一方出力電力が小さい位置だと、雑音等の影響を受けやすいので、ピークから３ｄB低下した部分の第一スペクトル４２および第二スペクトル４４の変位幅を測定するのが望ましい。
【００２６】
プッシングファクタ測定部３８は、変位幅ΔＦおよび付加電圧の振幅Ａに基づき電圧制御発振器２０のプッシングファクタを測定する。変位幅ΔＦは、ＦＭ偏移の２倍である。よって、ＦＭ偏移＝ΔＦ／２である。したがって、プッシングファクタは、ＦＭ偏移をＡで割ったものとなる。すなわち、プッシングファクタ＝ΔＦ／（２Ａ）となる。
【００２７】
次に、第一の実施形態の動作を説明する。
【００２８】
電圧源１０により生成された電源電圧Vsに、付加電圧発生部１２により生成された付加電圧V(t)が電圧加算器１４により加算され、電圧制御発振器２０に与えられる。電圧制御発振器２０に与えられる電圧は振幅が±Aで変動しているため、電圧制御発振器２０の出力する信号はＦＭ変調されている。
【００２９】
電圧制御発振器２０の出力する信号は、ミキサ３０１により周波数掃引信号発生部３０３の出力信号と掛け算され、RBWフィルタ３２により所定の帯域の信号が取り出される。周波数掃引信号発生部３０３は、一回掃引される。RBWフィルタ３２により取り出された信号は、ポジティブピーク検波部３４ａにより検波され、第一スペクトルが生成される。さらに、RBWフィルタ３２により取り出された信号は、ネガティブピーク検波部３４ｂにより検波され、第二スペクトルが生成される。第一スペクトルと第二スペクトルとはスペクトラム幅測定部３６に送られ、変位幅ΔＦ（図３参照）が測定される。変位幅ΔＦはプッシングファクタ測定部３８に送られ、プッシングファクタ＝ΔＦ／（２Ａ）が測定される。
【００３０】
第一の実施形態によれば、電圧源１０は電圧制御発振器の電源電圧Vsを発生する。この電源電圧Vsを電圧制御発振器２０に与えれば一定の周波数の信号を出力する。しかし、電圧加算器１４により電源電圧Vsに付加電圧V(t)が加算されるため電圧の振幅が±A変動する。電源電圧Vsに付加電圧V(t)が加算されたものが電圧制御発振器２０に与えられるため、電圧制御発振器２０の出力する信号の周波数が変動する。すなわち、電圧制御発振器の出力する信号にＦＭ変調（Frequency Modulation）が施される。
【００３１】
電圧制御発振器２０に入力される電圧に付加電圧V(t)が加算されたことにより、電圧制御発振器２０の出力にＦＭ変調が施される。よって、電圧制御発振器２０の出力する信号のＦＭ偏移を測定すれば、電圧制御発振器２０の入力電圧と出力周波数との関係たるプッシングファクタを測定することができる。よって、出力測定部３０により電圧制御発振器３０の出力のスペクトルに基づき電圧制御発振器２０のプッシングファクタを測定することができる。
【００３２】
ここで、電圧制御発振器２０のプッシングファクタの測定にあたっては、電源電圧および付加電圧の振幅を変動させ、その都度掃引してスペクトルを解析しなくてすむ。よって、一回の掃引で測定がすむので、測定時間が短くてすむ。よって、外乱（周波数ドリフト）の影響を受けにくく、電圧制御発振器２０のプッシングファクタを正確に測定することができる。
【００３３】
第二の実施形態
第二の実施形態は、第一の実施形態と比べて、ＦＭ偏移の測定法が異なる。
【００３４】
図４は、本発明の第二の実施形態にかかる出力測定部３０の構成を示すブロック図である。出力測定部３０は、ミキサ３０１、周波数掃引信号発生部３０３、RBWフィルタ３２、検波部３４、周波数・ピーク変位測定部３７、プッシングファクタ測定部３８を有する。
【００３５】
ミキサ３０１、周波数掃引信号発生部３０３、RBWフィルタ３２は、第一の実施形態と同様であり説明を省略する。検波部３４は、RBWフィルタ３２を通過した信号を検波してスペクトルを出力する。検波法は、ポジティブピーク検波、ネガティブピーク検波あるいは他の検波法でもよい。
【００３６】
周波数・ピーク変位測定部３７は、電圧制御発振器２０の出力のスペクトルにおいて最大電力を示す最大スペクトルと最大スペクトルから周波数ｆ（付加電圧V(t)の周波数）だけ離れた離隔スペクトルとの間の電力の変位を測定する。周波数・ピーク変位測定部３７の測定動作を図５を参照して説明する。図５は、最大スペクトル４６と離隔スペクトル４８とを縦軸に出力電力、横軸に周波数をとってあらわしたグラフである。図５に示すように、最大スペクトル４６と離隔スペクトル４８との間の周波数の変位、すなわち最大スペクトル４６がピークをとる周波数と離隔スペクトル４８がピークをとる周波数との差はｆである。最大スペクトル４６と離隔スペクトル４８との間の電力の変位、すなわち最大スペクトル４６のピーク（電力値）と離隔スペクトル４８のピーク（電力値）との差はΔＬ[dBc]である。周波数・ピーク変位測定部３７は、電力の変位ΔＬ[dBc]を測定する。
【００３７】
プッシングファクタ測定部３８は、電力の変位ΔＬ[dBc] および付加電圧の振幅Ａに基づき電圧制御発振器２０のプッシングファクタを測定する。ＦＭ偏移は、下記の式（１）のようになる。
【００３８】
【数１】
【００３９】
【数２】
【００４０】
電圧源１０により生成された電源電圧Vsに、付加電圧発生部１２により生成された付加電圧V(t)が電圧加算器１４により加算され、電圧制御発振器２０に与えられる。電圧制御発振器２０に与えられる電圧は振幅が±Aで変動しているため、電圧制御発振器２０の出力する信号はＦＭ変調されている。
【００４１】
電圧制御発振器２０の出力する信号は、ミキサ３０１により周波数掃引信号発生部３０３の出力信号と掛け算され、RBWフィルタ３２により所定の帯域の信号が取り出される。周波数掃引信号発生部３０３は、一回掃引される。RBWフィルタ３２により取り出された信号は、検波部３４により検波され、最大スペクトルおよび離隔スペクトルが生成される。最大スペクトルおよび離隔スペクトルは周波数・ピーク変位測定部３７に送られ、電力の変位ΔＬ[dBc]が測定される。電力の変位ΔＬ[dBc]はプッシングファクタ測定部３８に送られ、プッシングファクタが測定される。
【００４２】
第二の実施形態によれば、第一の実施形態と同様な効果を奏する。しかも、第一の実施形態に比べて、さらに外乱（周波数ドリフト）の影響を受けにくく、電圧制御発振器２０のプッシングファクタを正確に測定することができる。
【００４３】
第三の実施形態
第三の実施形態は、第一の実施形態と比べて、ＦＭ偏移の測定法が異なる。
【００４４】
図６は、本発明の第三の実施形態にかかる出力測定部３０の構成を示すブロック図である。出力測定部３０は、ＦＭ復調部３１、ＦＦＴ部３３、プッシングファクタ測定部３８を有する。
【００４５】
ＦＭ復調部３１は、電圧制御発振器２０の出力信号をＦＭ復調する。電圧制御発振器２０の出力信号はＦＭ変調が施されているので、ＦＭ復調すれば信号波を取り出すことができる。信号波からＦＭ偏移を求めることができる。
【００４６】
ＦＦＴ部（スペクトル測定手段）３３は、ＦＭ復調部３１の出力をＦＦＴ（Fast Fourier Transform）して出力する。ＦＦＴ部３３の出力は、信号波のスペクトルとなる。
【００４７】
プッシングファクタ測定部３８は、ＦＦＴ部３３の出力に基づき、電圧制御発振器２０のプッシングファクタを測定する。
【００４８】
次に、第三の実施形態の動作を説明する。
【００４９】
電圧源１０により生成された電源電圧Vsに、付加電圧発生部１２により生成された付加電圧V(t)が電圧加算器１４により加算され、電圧制御発振器２０に与えられる。電圧制御発振器２０に与えられる電圧は振幅が±Aで変動しているため、電圧制御発振器２０の出力する信号はＦＭ変調されている。
【００５０】
電圧制御発振器２０の出力する信号は、ＦＭ復調部３１によりＦＭ復調され、信号波が取り出される。ＦＭ復調部３１により取り出された信号波は、ＦＦＴ部（スペクトル測定手段）３３により、スペクトルが測定される。このスペクトルに基づき、プッシングファクタ測定部３８により、電圧制御発振器２０のプッシングファクタを測定する。
【００５１】
第三の実施形態によれば、第一の実施形態と同様な効果を奏する。
【００５２】
また、上記の実施形態において、ＣＰＵ、ハードディスク、メディア（フロッピーディスク、ＣＤ−ＲＯＭなど）読み取り装置を備えたコンピュータのメディア読み取り装置に、上記の各部分（例えば、ＦＦＴ部３３、スペクトラム幅測定部３６、周波数・ピーク変位測定部３７、プッシングファクタ測定部３８）を実現するプログラムを記録したメディアを読み取らせて、ハードディスクにインストールする。このような方法でも、電圧制御発振器測定装置を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図１】本発明の実施形態にかかる電圧制御発振器測定装置の構成を示すブロック図である。
【図２】本発明の第一の実施形態にかかる出力測定部３０の構成を示すブロック図である。
【図３】第一スペクトル４２と第二スペクトル４４とを縦軸に出力電力、横軸に周波数をとってあらわしたグラフである。
【図４】本発明の第二の実施形態にかかる出力測定部３０の構成を示すブロック図である。
【図５】最大スペクトル４６と離隔スペクトル４８とを縦軸に出力電力、横軸に周波数をとってあらわしたグラフである。
【図６】本発明の第三の実施形態にかかる出力測定部３０の構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
１０ 電圧源
１２ 付加電圧発生部
１４ 電圧加算器
２０ 電圧制御発振器
３０ 出力測定部
３１ ＦＭ復調部
３０１ ミキサ
３０３ 周波数掃引信号発生部
３２ RBWフィルタ
３３ ＦＦＴ部
３４ 検波部
３４ａ ポジティブピーク検波部
３４ｂ ネガティブピーク検波部
３６ スペクトラム幅測定部
３７ 周波数・ピーク変位測定部
３８ プッシングファクタ測定部
４２ 第一スペクトル
４４ 第二スペクトル
４６ 最大スペクトル
４８ 離隔スペクトル
Claims (12)
- 電圧制御発振器を測定する電圧制御発振器測定装置であって、
電圧制御発振器の電源電圧を発生する電圧源と、
一定振幅および周波数の交流付加電圧を発生する付加電圧発生手段と、
前記電源電圧と前記付加電圧とを加算して前記電圧制御発振器に与える電圧加算手段と、
前記電圧制御発振器の出力に基づく信号のスペクトルに基づき前記電圧制御発振器のプッシングファクタを測定する出力測定手段と、
を備え、
前記出力測定手段は、
前記電圧制御発振器の出力の正のピークに基づき検波を行うポジティブピーク検波手段と、
前記電圧制御発振器の出力の負のピークに基づき検波を行うネガティブピーク検波手段と、
ポジティブピーク検波手段の検波結果である第一スペクトルとネガティブピーク検波手段の検波結果である第二スペクトルとの間の周波数の変位幅を測定するスペクトラム幅測定手段と、
前記変位幅および前記付加電圧の振幅に基づき前記電圧制御発振器のプッシングファクタを測定するプッシングファクタ測定手段と、
を有する電圧制御発振器測定装置。 - 電圧制御発振器を測定する電圧制御発振器測定装置であって、
電圧制御発振器の電源電圧を発生する電圧源と、
一定振幅および周波数の交流付加電圧を発生する付加電圧発生手段と、
前記電源電圧と前記付加電圧とを加算して前記電圧制御発振器に与える電圧加算手段と、
前記電圧制御発振器の出力に基づく信号のスペクトルに基づき前記電圧制御発振器のプッシングファクタを測定する出力測定手段と、
を備え、
前記出力測定手段は、
前記電圧制御発振器の出力のスペクトルにおいて最大電力を示す最大スペクトルと該最大スペクトルから前記付加電圧の周波数だけ離れた離隔スペクトルとの間の電力の変位を測定する周波数・ピーク変位測定手段と、
前記電力の変位と前記付加電圧の振幅とに基づき前記電圧制御発振器のプッシングファクタを測定するプッシングファクタ測定手段と、
を有する電圧制御発振器測定装置。 - 電圧制御発振器を測定する電圧制御発振器測定装置であって、
電圧制御発振器の電源電圧を発生する電圧源と、
一定振幅および周波数の交流付加電圧を発生する付加電圧発生手段と、
前記電源電圧と前記付加電圧とを加算して前記電圧制御発振器に与える電圧加算手段と、
前記電圧制御発振器の出力に基づく信号のスペクトルに基づき前記電圧制御発振器のプッシングファクタを測定する出力測定手段と、
を備え、
前記出力測定手段は、
前記電圧制御発振器の出力をＦＭ復調するＦＭ復調手段と、
前記ＦＭ復調手段の出力のスペクトルを測定するスペクトル測定手段と、
前記スペクトル測定手段の測定結果に基づき前記電圧制御発振器のプッシングファクタ を測定するプッシングファクタ測定手段と、
を有する電圧制御発振器測定装置。 - 電圧制御発振器を測定する電圧制御発振器測定方法であって、
電圧制御発振器の電源電圧を発生する電圧発生工程と、
一定振幅および周波数の交流付加電圧を発生する付加電圧発生工程と、
前記電源電圧と前記付加電圧とを加算して前記電圧制御発振器に与える電圧加算工程と、
前記電圧制御発振器の出力に基づく信号のスペクトルに基づき前記電圧制御発振器のプッシングファクタを測定する出力測定工程と、
前記出力測定工程は、
前記電圧制御発振器の出力の正のピークに基づき検波を行うポジティブピーク検波工程と、
前記電圧制御発振器の出力の負のピークに基づき検波を行うネガティブピーク検波工程と、
ポジティブピーク検波工程の検波結果である第一スペクトルとネガティブピーク検波工程の検波結果である第二スペクトルとの間の周波数の変位幅を測定するスペクトラム幅測定工程と、
前記変位幅および前記付加電圧の振幅に基づき前記電圧制御発振器のプッシングファクタを測定するプッシングファクタ測定工程と、
を有する電圧制御発振器測定方法。 - 電圧制御発振器を測定する電圧制御発振器測定方法であって、
電圧制御発振器の電源電圧を発生する電圧発生工程と、
一定振幅および周波数の交流付加電圧を発生する付加電圧発生工程と、
前記電源電圧と前記付加電圧とを加算して前記電圧制御発振器に与える電圧加算工程と、
前記電圧制御発振器の出力に基づく信号のスペクトルに基づき前記電圧制御発振器のプッシングファクタを測定する出力測定工程と、
を備え、
前記出力測定工程は、
前記電圧制御発振器の出力のスペクトルにおいて最大電力を示す最大スペクトルと該最大スペクトルから前記付加電圧の周波数だけ離れた離隔スペクトルとの間の電力の変位を測定する周波数・ピーク変位測定工程と、
前記電力の変位と前記付加電圧の振幅とに基づき前記電圧制御発振器のプッシングファクタを測定するプッシングファクタ測定工程と、
を有する電圧制御発振器測定方法。 - 電圧制御発振器を測定する電圧制御発振器測定方法であって、
電圧制御発振器の電源電圧を発生する電圧発生工程と、
一定振幅および周波数の交流付加電圧を発生する付加電圧発生工程と、
前記電源電圧と前記付加電圧とを加算して前記電圧制御発振器に与える電圧加算工程と、
前記電圧制御発振器の出力に基づく信号のスペクトルに基づき前記電圧制御発振器のプッシングファクタを測定する出力測定工程と、
を備え、
前記出力測定工程は、
前記電圧制御発振器の出力をＦＭ復調するＦＭ復調工程と、
前記ＦＭ復調工程の出力のスペクトルを測定するスペクトル測定工程と、
前記スペクトル測定工程の測定結果に基づき前記電圧制御発振器のプッシングファクタ を測定するプッシングファクタ測定工程と、
を有する電圧制御発振器測定方法。 - 電圧制御発振器を測定する電圧制御発振器測定装置であって、電圧制御発振器の電源電圧を発生する電圧源と、一定振幅および周波数の交流付加電圧を発生する付加電圧発生手段と、前記電源電圧と前記付加電圧とを加算して前記電圧制御発振器に与える電圧加算手段とを有する電圧制御発振器測定装置の電圧制御発振器測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記電圧制御発振器の出力に基づく信号のスペクトルに基づき前記電圧制御発振器のプッシングファクタを測定する出力測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであり、
前記出力測定処理は、
前記電圧制御発振器の出力の正のピークに基づき検波を行うポジティブピーク検波処理と、
前記電圧制御発振器の出力の負のピークに基づき検波を行うネガティブピーク検波処理と、
ポジティブピーク検波処理の検波結果である第一スペクトルとネガティブピーク検波処理の検波結果である第二スペクトルとの間の周波数の変位幅を測定するスペクトラム幅測定処理と、
前記変位幅および前記付加電圧の振幅に基づき前記電圧制御発振器のプッシングファクタを測定するプッシングファクタ測定処理と、
を有するプログラム。 - 電圧制御発振器を測定する電圧制御発振器測定装置であって、電圧制御発振器の電源電圧を発生する電圧源と、一定振幅および周波数の交流付加電圧を発生する付加電圧発生手段と、前記電源電圧と前記付加電圧とを加算して前記電圧制御発振器に与える電圧加算手段とを有する電圧制御発振器測定装置の電圧制御発振器測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記電圧制御発振器の出力に基づく信号のスペクトルに基づき前記電圧制御発振器のプッシングファクタを測定する出力測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであり、
前記出力測定処理は、
前記電圧制御発振器の出力のスペクトルにおいて最大電力を示す最大スペクトルと該最大スペクトルから前記付加電圧の周波数だけ離れた離隔スペクトルとの間の電力の変位を測定する周波数・ピーク変位測定処理と、
前記電力の変位と前記付加電圧の振幅とに基づき前記電圧制御発振器のプッシングファクタを測定するプッシングファクタ測定処理と、
を有するプログラム。 - 電圧制御発振器を測定する電圧制御発振器測定装置であって、電圧制御発振器の電源電圧を発生する電圧源と、一定振幅および周波数の交流付加電圧を発生する付加電圧発生手段と、前記電源電圧と前記付加電圧とを加算して前記電圧制御発振器に与える電圧加算手段とを有する電圧制御発振器測定装置の電圧制御発振器測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであって、
前記電圧制御発振器の出力に基づく信号のスペクトルに基づき前記電圧制御発振器のプッシングファクタを測定する出力測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムであり、
前記出力測定処理は、
前記電圧制御発振器の出力をＦＭ復調するＦＭ復調処理と、
前記ＦＭ復調処理の出力のスペクトルを測定するスペクトル測定処理と、
前記スペクトル測定処理の測定結果に基づき前記電圧制御発振器のプッシングファクタを測定するプッシングファクタ測定処理と、
を有するプログラム。 - 電圧制御発振器を測定する電圧制御発振器測定装置であって、電圧制御発振器の電源電圧を発生する電圧源と、一定振幅および周波数の交流付加電圧を発生する付加電圧発生手段と、前記電源電圧と前記付加電圧とを加算して前記電圧制御発振器に与える電圧加算手段とを有する電圧制御発振器測定装置の電圧制御発振器測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、
前記電圧制御発振器の出力に基づく信号のスペクトルに基づき前記電圧制御発振器のプッシングファクタを測定する出力測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であり、
前記出力測定処理は、
前記電圧制御発振器の出力の正のピークに基づき検波を行うポジティブピーク検波処理と、
前記電圧制御発振器の出力の負のピークに基づき検波を行うネガティブピーク検波処理と、
ポジティブピーク検波処理の検波結果である第一スペクトルとネガティブピーク検波処理の検波結果である第二スペクトルとの間の周波数の変位幅を測定するスペクトラム幅測定処理と、
前記変位幅および前記付加電圧の振幅に基づき前記電圧制御発振器のプッシングファクタを測定するプッシングファクタ測定処理と、
を有する記録媒体。 - 電圧制御発振器を測定する電圧制御発振器測定装置であって、電圧制御発振器の電源電圧を発生する電圧源と、一定振幅および周波数の交流付加電圧を発生する付加電圧発生手段と、前記電源電圧と前記付加電圧とを加算して前記電圧制御発振器に与える電圧加算手段とを有する電圧制御発振器測定装置の電圧制御発振器測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、
前記電圧制御発振器の出力に基づく信号のスペクトルに基づき前記電圧制御発振器のプッシングファクタを測定する出力測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であり、
前記出力測定処理は、
前記電圧制御発振器の出力のスペクトルにおいて最大電力を示す最大スペクトルと該最大スペクトルから前記付加電圧の周波数だけ離れた離隔スペクトルとの間の電力の変位を測定する周波数・ピーク変位測定処理と、
前記電力の変位と前記付加電圧の振幅とに基づき前記電圧制御発振器のプッシングファクタを測定するプッシングファクタ測定処理と、
を有する記録媒体。 - 電圧制御発振器を測定する電圧制御発振器測定装置であって、電圧制御発振器の電源電圧を発生する電圧源と、一定振幅および周波数の交流付加電圧を発生する付加電圧発生手段と、前記電源電圧と前記付加電圧とを加算して前記電圧制御発振器に与える電圧加算手段とを有する電圧制御発振器測定装置の電圧制御発振器測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であって、
前記電圧制御発振器の出力に基づく信号のスペクトルに基づき前記電圧制御発振器のプッシングファクタを測定する出力測定処理をコンピュータに実行させるためのプログラムを記録したコンピュータによって読み取り可能な記録媒体であり、
前記出力測定処理は、
前記電圧制御発振器の出力をＦＭ復調するＦＭ復調処理と、
前記ＦＭ復調処理の出力のスペクトルを測定するスペクトル測定処理と、
前記スペクトル測定処理の測定結果に基づき前記電圧制御発振器のプッシングファクタを測定するプッシングファクタ測定処理と、
を有する記録媒体。
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