JP4072827B2 - Optical information recording method and apparatus - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、所定のライトストラテジに基づき記録データを所望の記録パルスに変換するストラテジ回路を有する光情報記録方法および装置に関し、特に、各種設定パラメータを考慮した最適ライトストラテジを決定することができるようにした光情報記録方法および装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
一般に、光ディスク等の光情報録媒体に情報を記録する場合は、記録データをEFM(Eight to Fourteen Modulation)方式で変調し、この変調信号に基づき記録パルスを形成し、この記録パルスで光ディスク上に照射されるレーザ光の強度等を制御して光ディスクの記録層にピットと呼ばれるマークを記録することにより行われる。
【0003】
ここで、上記ピットとピットとの間に形成される非記録部はランドと呼ばれ、この各ピットの長さ、各ランドの長さにより上記変調信号に対応する記録パターンが光ディスク上に形成される。
【0004】
ところで、上記記録層におけるピットの形成は、レーザ光の照射により発生する熱を利用して行われるので、その際の蓄熱効果、隣接するピットの形成に伴う熱干渉等を考慮して上記記録パルスを形成しないと、正確なピット長、ランド長の記録パターンを形成することができない。
【0005】
そこで、上記記録パルスを形成するための各種パラメータの設定をライトストラテジ(以下、単にストラテジという)といい、光情報記録装置には、このストラテジを実行するためのストラテジ回路が設けられている。
【0006】
このストラテジ回路により実行されるストラテジは、例えば、ピックアップのスポット径ばらつき、機構精度ばらつき等の光情報記録装置の個体差に依存するだけでなく、記録再生に使用する光ディスクのメーカ種別および記録スピードにも依存し、ここで、最適ストラテジが設定されていないと、再生時のジッタが大きくなり、正確な再生ができない。
【0007】
これに対応するため、各メーカ種別に対応する光ディスクの最適ストラテジを求めて、これを各メーカ種別に対応して予めメモリに記憶し、光ディスクに対する情報の記録に際しては、光ディスクに記録されている光ディスクのメーカ種別を読み取り、この読み取ったメーカ種別に対応する最適ストラテジを上記メモリから読み出してストラテジ回路に設定する手法も提案されている。
【0008】
しかし、上記手法によると、メモリに予め記憶されたメーカ種別の光ディスクに対しては最適記録が可能になるが、メモリに記憶されていないメーカ種別の光ディスクに対しては最適記録を行うことができず、また、メモリに予め記憶されたメーカ種別の光ディスクであっても記録スピードが異なると、この場合も最適記録を行うことができない。
【0009】
そこで、特許文献1、特許文献2に示されるように、記録条件毎に予めテスト記録を行い、このテスト記録に基づき最適ストラテジを決定することで各種光ディスクに対応できるようにした手法も提案されている。
【0010】
【特許文献1】
特開平5−144001号公報
【特許文献2】
特開平4−137224号公報
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記従来の技術においては、複数存在するストラテジの設定パラメータに対してどのパラメータをどの程度調整する必要があるかの判断はできず、このために各種パラメータに対応した最適ストラテジ設定を行うことができない。
【0011】
すなわち、ストラテジの設定パラメータとしては、
1)記録パルスの前側位相補正
2)記録パルスの後側位相補正
3)熱干渉補正
4)記録マークの長さ補正
等があり、レーザービームの記録パワーや記録パルスのパルス幅等を調整することによりずれ量を補正することになるが、これらのずれ量を独立して判別することはできず、このために各種設定パラメータに対応した最適ストラテジを決定することができない。
【0012】
そこで、この発明は、各種設定パラメータを考慮した最適ストラテジを的確に決定することができるようにした光記情報記録方法および装置を提供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、請求項1の発明は、ライトストラテジに基づき記録データを記録パルスに変換して光情報記録媒体上に情報を記録する光情報記録方法において、前記ライトストラテジの特定のパラメータを変更した異なるライトストラテジにより前記光情報記録媒体上に該パラメータに関するずれ量を独立して検出することが可能な特定パターンのテスト記録を少なくとも2回行い、該テスト記録により前記光情報記録媒体上に記録された記録パターンを再生し、該再生した再生パターンの中の前記特定パターンに基づき前記ライトストラテジの前記特定のパラメータに関するずれ量を検出し、該検出したずれ量に基づき最適ライトストラテジを決定するための直線近似式を求め、該直線近似式に基づき最適ライトストラテジを決定することを特徴とする。
【0014】
また、請求項2の発明は、ライトストラテジに基づき記録データを記録パルスに変換して光情報記録媒体上に情報を記録する光情報記録方法において、前記ライトストラテジの記録ピットの前側位相ずれに関するパラメータを変更した異なるライトストラテジにより前記光情報記録媒体上に固定長ピット、固定長ランド、ピット長を変化させた可変長ピットが続く複数の特定パターンのテスト記録を少なくとも2回行い、該テスト記録により前記光情報記録媒体上に記録された記録パターンを再生し、該再生した再生パターンの中の前記特定パターンにおける前記固定長ランドの規定長からのずれから前記記録ピットの前側位相ずれ量を検出し、該検出した前側位相ずれ量に基づき最適ライトストラテジを決定することを特徴とする。
【0015】
また、請求項3の発明は、ライトストラテジに基づき記録データを記録パルスに変換して光情報記録媒体上に情報を記録する光情報記録方法において、前記ライトストラテジの記録ピットの後側位相ずれに関するパラメータを変更した異なるライトストラテジにより前記光情報記録媒体上にピット長を変化させた可変長ピット、固定長ランド、固定長ピットが続く複数の特定パターンのテスト記録を少なくとも2回行い、該テスト記録により前記光情報記録媒体上に記録された記録パターンを再生し、該再生した再生パターンの中の前記特定パターンにおける前記固定長ランドの規定長からのずれから前記記録ピットの後側位相ずれ量を検出し、該検出した後側位相ずれ量に基づき最適ライトストラテジを決定することを特徴とする。
【0016】
また、請求項4の発明は、ライトストラテジに基づき記録データを記録パルスに変換して光情報記録媒体上に情報を記録する光情報記録方法において、前記ライトストラテジの熱干渉による記録ピットずれに関するパラメータを変更した異なるライトストラテジにより前記光情報記録媒体上にランド長を変化させた可変長ランド、固定長ピット、固定長ランドが続く複数の特定パターンのテスト記録を少なくとも2回行い、該テスト記録により前記光情報記録媒体上に記録された記録パターンを再生し、該再生した再生パターンの中の前記特定パターンにおける前記固定長ピットの規定長からのずれから前記記録ピットの熱干渉によるピットずれ量を検出し、該検出したピットずれ量に基づき最適ライトストラテジを決定することを特徴とする。
【0017】
また、請求項5の発明は、ライトストラテジに基づき記録データを記録パルスに変換して光情報記録媒体上に情報を記録する光情報記録方法において、前記ライトストラテジの記録ピットの長さずれに関するパラメータを変更した異なるライトストラテジにより前記光情報記録媒体上に固定長ランド、ピット長を変化させた可変長ピット、固定長ランドが続く複数の特定パターンのテスト記録を少なくとも2回行い、該テスト記録により前記光情報記録媒体上に記録された記録パターンを再生し、該再生した再生パターンの中の前記特定パターンにおける前記可変長ピットの規定長からのずれから前記記録ピットの長さずれ量を検出し、該検出した長さずれ量に基づき最適ライトストラテジを決定することを特徴とする。
【0018】
また、請求項6の発明は、請求項1の発明において、ライトストラテジに基づき記録データを記録パルスに変換するストラテジ回路を有する光情報記録装置において、前記ライトストラテジの特定のパラメータを変更した異なるライトストラテジにより前記光情報記録媒体上に該パラメータに関するずれ量を独立して検出することが可能な特定パターンのテスト記録を少なくとも2回行うテスト記録手段と、前記テスト記録手段により前記光情報記録媒体上に記録された記録パターンを再生する再生手段と、前記再生手段により再生された再生パターンの中の前記特定パターンに基づき前記ライトストラテジの前記特定のパラメータに関するずれ量を検出するずれ検出手段と、前記ずれ検出手段により検出したずれ量に基づき最適ライトストラテジを決定するための直線近似式を求める演算式導出手段と、前記演算式導出手段でもとめた前記直線近似式に基づき最適ライトストラテジを決定するライトストラテジ決定手段と、前記ライトストラテジ決定手段により決定された最適ライトストラテジを前記ストラテジ回路に設定する設定手段とを具備することを特徴とする。
【0019】
また、請求項7の発明は、請求項の発明において、前記特定パターンは、固定長ピット、固定長ランド、ピット長を変化させた可変長ピットが続く複数のパターンであり、前記ずれ検出手段は、前記特定パターンにおける前記固定長ランドの規定長からのずれから前記可変長ピットに対応する前側位相ずれ量を検出することを特徴とする。
【0020】
また、請求項8の発明は、請求項の発明において、前記特定パターンは、ピット長を変化させた可変長ピット、固定長ランド、固定長ピットが続く複数のパターンであり、前記ずれ検出手段は、前記特定パターンにおける前記固定長ランドの規定長からのずれから前記可変長ピットに対応する後側位相ずれ量を検出することを特徴とする。
【0021】
また、請求項9の発明は、前記ずれ検出手段は、可変長ランド、固定長ピット、固定長ランドが続く特定パターンの前記固定長ピットの規定長からのずれから前記可変長ランドに対応する前記固定長ピットの熱干渉によるピットずれ量を検出することを特徴とする。
また、請求項10の発明は、請求項6の発明において、前記ずれ検出手段は、固定長ランド、可変長ピット、固定長ランドが続く特定パターンの前記可変長ピットの規定長からのずれから前記可変長ピットの長さずれ量を検出することを特徴とする。
また、請求項11の発明は、請求項6の発明において、前記演算式導出手段は、前記ずれ検出手段により検出されたずれ量から最小二乗法に基づき前記最適ライトストラテジを決定するための近似式を求めることを特徴とする。
また、請求項12の発明は、請求項6の発明において、前記演算式導出手段は、前記ずれ検出手段により検出した第1のライトストラテジS1によるテスト記録でのずれ量をD1、第2のライトストラテジS2によるテスト記録でのずれ量をD2とするとき、連立方程式
D1=a×S1+b
D2=a×S2+b
からaおよびbを算出し、該算出したaおよびbおよび初期的な出力ずれを補正するための出力ずれ量Dを用いた関数
S=(D−b)/a
を求め、
前記ライトストラテジ決定手段は、前記関数に基づき前記最適ライトストラテジを決定することを特徴とする。
また、請求項13の発明は、請求項12の発明において、前記ストラテジ決定手段は、前記関数
S=(D−b)/a
から求めた補正テーブルを有し、該補正テーブルに基づき前記最適ライトストラテジを決定することを特徴とする。
【0022】
【発明の実施の形態】
以下、この発明に係わる光情報記録方法および装置の実施の形態を添付図面を参照して詳細に説明する。
【0023】
図1は、この発明に係わる光情報記録装置および方法を適用して構成した光情報記録再生装置の要部を示すブロック図である。
【0024】
図1において、この光情報記録再生装置は、レーザ発振器103から出力されたレーザ光を用いて光ディスク10に対して情報の記録再生を行う。
【0025】
光ディスク10に対して情報の記録を行う場合は、所望の記録情報に対応した記録信号をエンコーダ101でEFM方式で符号化し、この符号化した記録データをストラテジ回路102に加える。
【0026】
ここで、このストラテジ回路102には所定のストラテジの各種設定パラメータが設定されており、ストラテジ回路102では、このストラテジの各種設定パラメータにより所望の記録を行うべく記録データを補正してレーザ発振器103から出力されるレーザ光の強度を制御するための記録パルスを形成する。
【0027】
ストラテジ回路102で形成された記録パルスは、レーザ発振器103に加えらえ、レーザ発振器103は、この記録パルスに対応して出力レーザ光を制御し、この制御されたレーザ光をレンズ104、ハーフミラー105、レンズ106を介して線速一定若しくは回転速度一定で回転する光ディスク10に照射し、これにより光ディスク10に上記記録データに対応したピット、ランドからなる記録パターンを記録する。
【0028】
光ディスク10上に記録された情報の再生を行う場合は、レーザ発振器103から一様な再生レーザ光をレンズ104、ハーフミラー105、レンズ106を介して線速一定若しくは回転速度一定で回転する光ディスク10に照射する。
【0029】
この時の再生レーザ光は、記録時にレーザ発振器103から出力されるレーザ光よりも強度の弱い再生レーザ光が用いられ、この再生レーザ光による光ディスク10からの反射光は、レンズ106、ハーフミラー105、レンズ107を介して受光部108で受光され、電気信号に変換される。
【0030】
受光部108から出力される電気信号は、光ディスク10に記録されたピット、ランドからなる記録パターンに対応している。この受光部108から出力される電気信号は、再生補償回路109で所定の補償処理がなされ、2値化回路110で2値化され、さらにデコーダ111で、デコードされて再生信号として出力される。
【0031】
さて、この図1に示した光情報記録再生装置においては、ストラテジ回路102に対して最適ストラテジの各種パラメータを設定するために、光ディスク10に対してストラテジの各種パラメータを変更して異なるストラテジにより所定の記録パターンを少なくとも2回記録するテスト記録を行う。
【0032】
そして、このテスト記録パターンをその後再生して、記録ずれ検出部112で、2値化回路110から出力される特定の再生パターンの中の特定のランド若しくはピットの長さずれを測定することにより
1)記録パルスに対するピットの前側位相ずれ量
2)記録パルスに対するピットの後側位相ずれ量
3)熱干渉による記録パルスからのピットずれ量
4)記録パルスに対するピットの長さずれ量
をそれぞれ独立に検出する。
【0033】
そして、演算式導出部113で、この記録ずれ検出部112で検出したずれ量とテスト記録の際に用いた少なくとも2つのストラテジに基づき、最適ストラテジを決定するための演算式を導出する。
【0034】
ストラテジ決定部114では、この演算式導出部113で導出した最適ストラテジを決定するための演算式を用いてテスト記録に用いた光ディスク10およびその記録条件に最適なレーザービームの記録パワーや記録パルスのパルス幅等を調整するためのストラテジを決定して、ストラテジ回路102に設定する。
【0035】
次に、図1に示した記録ずれ検出部112における記録パルスに対する各種ずれの検出原理について説明する。
【0036】
図2は、記録ずれ検出部112において記録パルスに対するピットの前側位相ずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【0037】
この記録パターンは、ピットPxT、ランドLyT、ピットPzTが連続するパターンで、ピットPxTのピット長およびランドLyTのランド長を固定してピットPzTのピット長を、図2(a)から図2(f)に示すように、3T、4T、・・・14Tと変化させたものである。
【0038】
ここで、この記録パターンの固定長のランドLyTの長さを測定すると、この固定長のランドLyTの長さは、理想の記録状態では一定になるはずである。
【0039】
しかし、この固定長のランドLyTの長さが理想の規定の長さからずれていると、ピットPxTのピット長は固定されているので、この固定長のランドLyT長の理想の規定長さのずれ量は記録時のストラテジにおける3T、4T、・・・14TのそれぞれのピットP3T、P4T、・・・P14Tの記録パルスに対する前側位相ずれ量に対応することになる。
【0040】
したがって、あるストラテジを用いて形成した記録パルスでテスト記録を行い、この記録パルスによるテスト記録の再生パターンから、記録ずれ検出部112において、固定長のランドLyTの長さの理想の長さからのずれ量を検出すれば、このストラテジに対応する記録パルスに対するピットPzT、すなわち、ピットP3T、P4T、・・・P14Tの前側位相ずれ量を検出することができる。
【0041】
図3は、あるストラテジを用いて形成した記録パルスに対するピットの前側位相ずれの一例を示した図である。
【0042】
図3において、図3(a)は、あるストラテジを用いて形成した記録パルスPを示し、図3(b)、図3(c)は、記録パルスPの前側縁PLEに対するあるピット長のピットPzTの前側位相ずれ量を示す。
【0043】
ここで、図3(b)、図3(c)は、ストラテジをS1からS2に変更し、それぞれのストラテジS1、S2を用いて形成した記録パルスPを用いてテスト記録を行った場合の記録パルスPからのピットPzTの前側位相ずれ量D1およびD2を示している。
【0044】
すなわち、図3(b)は、ストラテジS1を用いて形成した記録パルスPを用いてテスト記録を行った場合に、記録ずれ検出部112でピットPzTの前側は記録パルスPの前側縁PLEからD1だけずれていると検出された場合を示し、図3(c)は、ストラテジS2を用いて形成した記録パルスPを用いてテスト記録を行った場合に、記録ずれ検出部112で再生ピットPzTの前側は記録パルスPの前側縁PLEからD2だけずれていると検出された場合を示している。
【0045】
図4は、記録ずれ検出部112において記録パルスに対するピットの後側位相ずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【0046】
この記録パターンは、ピットPxT、ランドLyT、ピットPzTが連続するパターンで、ランドLyTのランド長およびピットPzTのピット長を固定してピットPxTのピット長を、図4(a)から図4(f)に示すように、3T、4T、・・・14Tと変化させたものである。
【0047】
ここで、この記録パターンの固定長のランドLyTの長さを測定すると、この固定長のランドLyTの長さは、理想の記録状態では一定になるはずである。
【0048】
しかし、この固定長のランドLyTの長さが理想の規定の長さからずれていると、ピットPzTのピット長は固定されているので、この固定長のランドLyT長の理想の規定長さからのずれ量は記録時のストラテジにおける3T、4T、・・・14TのそれぞれのピットP3T、P4T、・・・P14Tの記録パルスに対する後側位相ずれ量に対応することになる。
【0049】
したがって、あるストラテジを用いて形成した記録パルスでテスト記録を行い、この記録パルスによるテスト記録の再生パターンから、記録ずれ検出部112において、固定長のランドLyTの長さの理想の長さからのずれ量を検出すれば、このストラテジに対応する記録パルスに対するピットPxT、すなわち、ピットP3T、P4T、・・・P14の後側位相ずれ量を検出することができる。
【0050】
図5は、あるストラテジを用いて形成した記録パルスに対するピットの後側位相ずれの一例を示した図である。
【0051】
図5において、図5(a)は、あるストラテジ設定値を用いて形成した記録パルスPを示し、図5(b)、図5(c)は、記録パルスPの後側縁PTEに対するあるピット長のピットPzTの後側位相ずれを示す。
【0052】
ここで、図5(b)、図5(c)は、ストラテジをS1からS2に変更し、それぞれのストラテジS1、S2を用いて形成した記録パルスPを用いてテスト記録を行った場合の記録パルスPからのピットPxTの後側位相ずれ量D1およびD2を示している。
【0053】
すなわち、図5(b)は、ストラテジS1を用いて形成した記録パルスPを用いてテスト記録を行った場合に、記録ずれ検出部112でピットPxTの後側は記録パルスPの後側縁PTEからD1だけずれていると検出された場合を示し、図5(c)は、ストラテジS2を用いて形成した記録パルスPを用いてテスト記録を行った場合に、記録ずれ検出部112で再生ピットPxTの後側は記録パルスPの前側縁PTEからD2だけずれていると検出された場合を示している。
【0054】
図6は、記録ずれ検出部112において熱干渉による記録パルスからのピットずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【0055】
この記録パターンは、ランドLxT、ピットPyT、ランドLzTが連続するパターンで、ピットPyTのピット長およびランドLzTのランド長を固定してランドLxTのランド長を、図6(a)から図6(f)に示すように、3T、4T、・・・14Tと変化させたものである。
【0056】
ここで、この記録パターンの固定長のピットPyTの長さを測定すると、この固定長の固定長のピットPyTの長さは、理想の記録状態では一定になるはずである。
【0057】
しかし、この固定長のピットPyTの長さが理想の規定の長さからずれていると、ランドLzTのランド長は固定されているので、この固定長のランドLyT長の理想の規定長さのずれ量は記録時のストラテジにおける3T、4T、・・・14TのそれぞれのランドL3T、L4T、・・・L14Tのランドが先行するピットの記録パルスに対する前側位相ずれ、すなわち、前のピットの熱干渉による記録パルスからのピットずれ量に対応することになる。
【0058】
したがって、あるストラテジを用いて形成した記録パルスでテスト記録を行い、この記録パルスによるテスト記録の再生パターンから、記録ずれ検出部112において、固定長のピットPyTの長さの理想の長さからのずれ量を検出すれば、このストラテジに対応する記録パルスPに対するピットPyTの熱干渉による前側位相ずれ量を検出することができる。
【0059】
図7は、あるストラテジを用いて形成した記録パルスに対する熱干渉によるピットの前側位相ずれの一例を示した図である。
【0060】
図7において、図7(a)は、あるストラテジを用いて形成した記録パルスPを示し、図7(b)、図7(c)は、記録パルスPの前側縁PLEに対する熱干渉によるピットPyTの前側位相ずれを示す。
【0061】
ここで、図7(b)、図7(c)は、ストラテジをS1からS2に変更し、それぞれのストラテジS1、S2を用いて形成した記録パルスPを用いてテスト記録を行った場合の記録パルスPからのピットPyTの前側位相ずれ量D1およびD2を示している。
【0062】
すなわち、図7(b)は、ストラテジS1を用いて形成した記録パルスPを用いてテスト記録を行った場合に、記録ずれ検出部112でピットPyTの前側は記録パルスPの前側縁PLEからD1だけずれていると検出された場合を示し、図7(c)は、ストラテジS2を用いて形成した記録パルスPを用いてテスト記録を行った場合に、記録ずれ検出部112で再生ピットPzTの前側は記録パルスPの前側縁PLEからD2だけずれていると検出された場合を示している。
【0063】
図8は、記録ずれ検出部112において記録パルスに対するピットの長さずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【0064】
この記録パターンは、ランドLxT、ピットPyT、ランドLzTが連続するパターンで、ランドLxTのランド長およびランドLzTのランド長を固定してピットPyTのピット長を、図8(a)から図8(f)に示すように、3T、4T、・・・14Tと変化させたものである。
【0065】
ここで、この記録パターンの可変長のピットPyTの長さを測定すると、この可変長のピットPyTの長さは、理想の記録状態ではそれぞれ理想のピット長に対応するはずである。
【0066】
しかし、この可変長のピットPyTの長さが理想の規定の長さからずれていると、ランドLxTのランド長およびランドLzTのランド長は固定されているので、この可変長のピットPyTの規定長さからのずれ量は記録時のストラテジにおける3T、4T、・・・14TのそれぞれのピットP3T、P4T、・・・P14Tの記録パルスに対する長さずれ量に対応することになる。
【0067】
したがって、あるストラテジを用いて形成した記録パルスでテスト記録を行い、この記録パルスによるテスト記録の再生パターンから、記録ずれ検出部112において、可変長のピットPyTの長さの理想の長さからのずれ量を検出すれば、このストラテジに対応する記録パルスPに対するピットPyTの長さずれ量を検出することができる。
【0068】
図9は、あるストラテジを用いて形成した記録パルスに対するピットの長さずれの一例を示した図である。
【0069】
図9において、図9(a)は、あるストラテジを用いて形成した記録パルスPを示し、図9(b)、図9(c)は、記録パルスPに対するピットPyTの長さずれを示す。
【0070】
ここで、図9(b)、図9(c)は、ストラテジをS1からS2に変更し、それぞれのストラテジS1、S2を用いて形成した記録パルスPを用いてテスト記録を行った場合の記録パルスPに対するピットPyTの長さずれを示している。
【0071】
すなわち、図9(b)は、ストラテジS1を用いて形成した記録パルスPを用いてテスト記録を行った場合に、記録ずれ検出部112でピットPyTの長さは記録パルスPに対してD11+D12=D1だけずれていると検出された場合を示し、図9(c)は、ストラテジS2を用いて形成した記録パルスPを用いてテスト記録を行った場合に、記録ずれ検出部112でピットPzTの長さは記録パルスPに対してD21+D22=D2だけずれていると検出された場合を示している。
【0072】
なお、図3、図5、図7、図9においては、記録パルスPとして、メインパルスとこれに続く複数のサブパルスからなるマルチパルスを用いた場合を示している。
【0073】
また、記録パルスとしては、3T、4T、・・・14Tのそれぞれに対応するピットP3T、P4T、・・・P14Tを形成する場合を示している。
【0074】
ところで、上記記録ずれ検出部112で検出されるずれ量D1およびD2は、上述したように、ストラテジの各種設定パラメータにより変動する。そしてこのストラテジの各種設定パラメータにより変動するずれ量D1およびD2は、解析の結果ほぼ直線状に変化することが解明された。
【0075】
すなわち、上記記録ずれ検出部112で検出されるそれぞれのテスト記録におけるずれ量は、最小二乗法に基づき近似された直線状の変化として捉えることができることになる。
【0076】
そこで、この実施の形態の光情報記録再生装置においては、例えば、2回のテスト記録を行った場合には、ストラテジの各種設定パラメータと記録ずれ検出部112で検出した検出したずれ量D1およびD2との直線関係に着目して最適なストラテジを決定することができる。
【0077】
図10は、テスト記録に用いたストラテジSと記録ずれ検出部112でこのテスト記録の再生パターンから検出したずれ量Dとの関係の一例を示したものである。
【0078】
このテスト記録に用いたストラテジSと記録ずれ検出部112でこのテスト記録の再生パターンから検出したずれ量Dとの関係は、特定長の記録ピットに関して図10に示すようにほぼ直線PTで近似できる。
【0079】
したがって、この直線上の少なくとも2点、例えば、あるストラテジS1と記録ずれ検出部112でこのストラテジS1を用いたテスト記録の再生パターンから検出したずれ量D1および他のストラテジS2と記録ずれ検出部112でこのストラテジS1を用いたテスト記録の再生パターンから検出したずれ量D2とを求めれば、上記直線PTを特定することができ、この直線PTを用いて、例えば、ずれ量Dが零になる最適ストラテジSを求めることができる。
【0080】
具体的には、ストラテジSを数点変化させたときの、記録ずれ検出部112で検出したずれ量Dを求め、このときストラテジSおよびずれ量Dを直線を表す一般式
D=a×S+b
の式に代入し、連立方程式を解くことにより定数a、bを求め、最終的に理想のずれ量Dに対応するストラテジSを求め、このストラテジSをストラテジ回路102に設定することにより記録パルスの最適補正を行う。
【0081】
例えば、記録ずれ検出部112であるストラテジS1を用いたテスト記録の再生パターンから検出したずれ量がD1、他のストラテジS2を用いたテスト記録の再生パターンから検出したずれ量がD2であるとすると、
D1=a×S1+b
D2=a×S2+b
からaおよびbを算出し、該算出したaおよびbを用いた関数
S=(D−b)/a
を求め、この関数に、記録品位がを改善させるための、例えば、イコライザ等において生じる初期的な出力ずれ等を補正するための出力ずれ量Dを代入することで最適ストラテジSを決定する。
【0082】
なお、この最適ストラテジSを求める関数(直線PT)は、3T、4T、・・・14TのそれぞれのピットP3T、P4T、・・・P14Tに対応して求めることができる。また、この最適ストラテジSを求める関数は、記録速度に対応してもそれぞれ求めることができる。
【0083】
図11は、このような各ピットに対応する最適ストラテジSを求める関数の一例を示したものである。
【0084】
図11において、P3T、P4T、・・・P14Tは、それぞれピット長3T、4T、・・・14Tに対応する最適ストラテジSを求める関数に対応する。
【0085】
上述した実施の形態においては、2回のテスト記録を行った場合の最適ストラテジを決定する際に、各テスト記録においてそれぞれのずれ量を検出し、最小二乗法により直線PTを特定して最適ストラテジを決定する点について詳述しているが、これに限らず、3回もしくはそれ以上のテスト記録を行った場合にも、各々のテスト記録において検出される各ずれ量から、最小二乗法に基づいて直線PTを特定し、最適ストラテジ設定値を決定することができる。
【0086】
図12は、最適ストラテジを設定するための図1に示した光情報記録再生装置の動作の一例を示すフローチャートである。
【0087】
図1に示した光情報記録再生装置において、あるメーカの光ディスクに対して所定の記録速度で情報を記録する場合の最適ストラテジを求めるためには、この光情報記録再生装置に上記光ディスクをセットし、上記所定の記録速度でテスト記録を行う。
【0088】
このテスト記録は、まず、初期値のストラテジで1回目のテスト記録を行い(ステップ201)、次に、ストラテジを上記初期値から変更して上記初期値と異なるストラテジで2回目のテスト記録を行う(ステップ202)。
【0089】
ここで、テスト記録に使用される領域としては、例えば、CD−R、DVD−Rなどの光ディスクであれば、PCA(Power Calibration Area)領域を用いてもよく、また、例えば、Z−CLV方式のような記録方式の光ディスクであれば、そのデータ記録領域の一部あるいは全部を用いてもよい。
【0090】
上記テスト記録は、図2、図4、図6、図8に示す記録パターンのように、ピット長若しくはランド長を順次変えて行ってもよく、また、図2、図4、図6、図8に示す記録パターンが含まれるようなランダムな記録を行ってもよい。
【0091】
次に、上記記録パターンを再生し(ステップ203)、再生したテスト記録の中の特定の再生パターンを抽出して、この特定の再生パターの中の記録ずれ量を記録ずれ検出部112で図3、図5、図7、図9に示すようにして検出する(ステップ204)。
【0092】
そして、この記録ずれ検出部112で検出した記録ずれ量に基づき最適ストラテジを求めるための近似式を得る(ステップ205)。
【0093】
この最適ストラテジを求めるための近似式を得る処理は、図1に示した演算式導出部113で行われ、具体的には、上述した最適ストラテジSを求める関数を求める処理である。
【0094】
次に、この近似式を用いて最適ストラテジを決定する(ステップ206)。この最適ストラテジを決定する処理は、図1に示したストラテジ決定部114で行われ、具体的には、上述した最適ストラテジSを求める関数に記録品位を改善させるための、例えば、イコライザ等において生じる初期的な出力ずれ等を補正するための出力ずれ量Dを代入することで最適ストラテジSを決定する処理である。
【0095】
なお、ここで、最適ストラテジSを求める関数に記録品位を改善させるための出力づれ量Dを代入することで最適ストラテジSを決定する処理に代えて、上記関数から求めた補正テーブルを用意し、この補正テーブルに基づき最適ストラテジSを決定するように構成してもよい。
【0096】
このようにしてストラテジ決定部114で決定した最適ストラテジSは、図1に示したストラテジ回路102に設定され、これにより最適ストラテジの設定処理が終了する。
【0097】
なお、上記最適ストラテジの設定処理は、光ディスクの種別を変更する毎および記録速度を変更する毎に行ってもよいが、上記最適ストラテジの設定処理で決定された最適ストラテジを光ディスクの種別および記録速度に対応してメモリに記憶しておき、再度同一の種別の光ディスクで同一の記録速度の記録を行う場合は、このメモリに記憶した最適ストラテジを読み出してストラテジ回路102に設定するように構成してもよい。
【0098】
【発明の効果】
以上説明したようにこの発明によれば、ストラテジ回路のストラテジを変更して異なるストラテジにより光情報記録媒体上に少なくとも2回のテスト記録を行い、該テスト記録による記録パターンを再生し、該再生された再生パターンの中の特定のパターンに基づきストラテジ設定値の各種設定パラメータに関するずれ量を独立して検出し、該検出したずれ量とテスト記録に用いたストラテジとの関係から最適ストラテジを決定するように構成したので、各種設定パラメータを考慮した最適ストラテジを容易に決定して設定することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係わる光情報記録方法および装置を適用して構成した光情報記録再生装置の要部を示すブロック図である。
【図2】図1に示した光情報記録再生装置のずれ検出部において記録パルスに対するピットの前側位相ずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【図3】あるストラテジを用いて形成した記録パルスに対するピットの前側位相ずれの一例を示した図である。
【図4】図1に示した光情報記録再生装置のずれ検出部において記録パルスに対するピットの後側位相ずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【図5】あるストラテジを用いて形成した記録パルスに対するピットの後側位相ずれの一例を示した図である。
【図6】図1に示した光情報記録再生装置のずれ検出部において熱干渉による記録パルスからのピットずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【図7】あるストラテジを用いて形成した記録パルスに対する熱干渉によるピットの前側位相ずれの一例を示した図である。
【図8】図1に示した光情報記録再生装置のずれ検出部において記録パルスに対するピットの長さずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【図9】あるストラテジ設定値を用いて形成した記録パルスに対するピットの長さずれの一例を示した図である。
【図10】テスト記録に用いたストラテジSとこのテスト記録の再生パターンから図1に示した光情報記録再生装置のずれ検出部で検出したずれ量Dとの関係の一例を示したグラフである。
【図11】各ピットに対応する最適ストラテジSを求める関数の一例を示したグラフである。
【図12】最適ストラテジを設定するための図1に示した光情報記録再生装置の動作の一例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
10 光ディスク
101 エンコーダ
102 ストラテジ回路
103 レーザ発振器
104 レンズ
105 ハーフミラー
106 レンズ
107 レンズ
108 受光部
109 再生補償回路
110 2値化回路
111 デコーダ
112 記録ずれ検出部
113 演算式導出部
114 ストラテジ決定部
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to an optical information recording method and apparatus having a strategy circuit for converting recording data into a desired recording pulse based on a predetermined write strategy. In particular, the optimum write strategy can be determined in consideration of various setting parameters. The present invention relates to an optical information recording method and apparatus.
[0002]
[Prior art]
In general, when recording information on an optical information recording medium such as an optical disk, the recording data is modulated by an EFM (Eight to Fourteen Modulation) system, a recording pulse is formed based on this modulation signal, and this recording pulse is used on the optical disk. This is done by recording marks called pits on the recording layer of the optical disc by controlling the intensity of the irradiated laser beam.
[0003]
Here, the non-recording portion formed between the pits is called a land, and a recording pattern corresponding to the modulation signal is formed on the optical disc by the length of each pit and the length of each land. The
[0004]
By the way, the formation of pits in the recording layer is performed using heat generated by laser light irradiation. Therefore, the recording pulse is taken into account in consideration of the heat storage effect at that time, thermal interference accompanying the formation of adjacent pits, and the like. Otherwise, a recording pattern with accurate pit length and land length cannot be formed.
[0005]
Therefore, the setting of various parameters for forming the recording pulse is referred to as a write strategy (hereinafter simply referred to as a strategy), and the optical information recording apparatus is provided with a strategy circuit for executing this strategy.
[0006]
The strategy executed by this strategy circuit depends not only on individual differences of optical information recording devices such as pickup spot diameter variation and mechanism accuracy variation, but also on the manufacturer type and recording speed of the optical disk used for recording and reproduction. Here, if the optimum strategy is not set, jitter during reproduction increases and accurate reproduction cannot be performed.
[0007]
In order to cope with this, the optimum strategy of the optical disc corresponding to each manufacturer type is obtained, and this is stored in advance in a memory corresponding to each manufacturer type, and when recording information on the optical disc, the optical disc recorded on the optical disc is recorded. There has also been proposed a method of reading the manufacturer type, reading the optimum strategy corresponding to the read manufacturer type from the memory, and setting it in the strategy circuit.
[0008]
However, according to the above method, optimum recording can be performed on a manufacturer-type optical disc stored in the memory in advance, but optimum recording can be performed on a manufacturer-type optical disc not stored in the memory. Moreover, even in the case of a manufacturer-type optical disk stored in advance in the memory, if the recording speed is different, optimum recording cannot be performed in this case.
[0009]
Therefore, as shown in Patent Document 1 and Patent Document 2, a method has been proposed in which test recording is performed in advance for each recording condition, and an optimum strategy is determined based on the test recording so as to be compatible with various optical disks. Yes.
[0010]
[Patent Document 1]
JP-A-5-144001
[Patent Document 2]
JP-A-4-137224
[Problems to be solved by the invention]
However, in the above-mentioned conventional technology, it is impossible to determine which parameter needs to be adjusted to what degree with respect to a plurality of existing strategy setting parameters, and for this purpose, optimal strategy setting corresponding to various parameters is performed. I can't.
[0011]
In other words, as a strategy setting parameter,
1) Recording pulse front phase correction
2) Rear phase correction of recording pulse
3) Thermal interference correction
4) Correction of recording mark length
The amount of deviation is corrected by adjusting the recording power of the laser beam, the pulse width of the recording pulse, etc., but these amounts of deviation cannot be determined independently. The optimal strategy corresponding to the setting parameter cannot be determined.
[0012]
Accordingly, an object of the present invention is to provide an optical recording information recording method and apparatus capable of accurately determining an optimum strategy considering various setting parameters.
[0013]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, an invention according to claim 1 is an optical information recording method for recording information on an optical information recording medium by converting recording data into a recording pulse based on a write strategy, and a specific parameter of the write strategy. The test recording of the specific pattern capable of independently detecting the shift amount related to the parameter is performed on the optical information recording medium at least twice by the different write strategy in which the optical recording medium is changed. The recorded pattern recorded in the reproduction pattern is reproduced, the deviation amount related to the particular parameter of the write strategy is detected based on the specific pattern in the reproduced reproduction pattern, and the optimum write strategy is determined based on the detected deviation amount. in order to Straight line Obtain an approximate expression Straight line The optimum write strategy is determined based on the approximate expression.
[0014]
The invention of claim 2 In an optical information recording method for recording information on an optical information recording medium by converting recording data into a recording pulse based on a write strategy, the light is recorded by a different write strategy in which a parameter relating to a front phase shift of a recording pit of the write strategy is changed. Test recording of a plurality of specific patterns in which a fixed-length pit, a fixed-length land, and a variable-length pit with a changed pit length are continued on the information recording medium at least twice, and recorded on the optical information recording medium by the test recording. The recorded phase of the recorded pit is detected from a deviation from a predetermined length of the fixed-length land in the specific pattern in the reproduced pattern, and the detected front-side phase deviation is detected. Determine the optimal write strategy based on It is characterized by that.
[0015]
The invention of claim 3 In an optical information recording method for recording information on an optical information recording medium by converting recording data into a recording pulse based on a write strategy, the write strategy uses the different write strategy in which a parameter relating to a phase shift behind a recording pit of the write strategy is changed. Test recording of a plurality of specific patterns in which a variable-length pit, a fixed-length land, and a fixed-length pit with varying pit lengths are performed on the optical information recording medium at least twice, and recording on the optical information recording medium by the test recording The recorded recording pattern is reproduced, and the amount of the rear phase shift of the recording pit is detected from the deviation from the fixed length of the fixed length land in the specific pattern in the reproduced reproduction pattern, and the detected rear phase is detected. Determine the optimal write strategy based on the amount of deviation It is characterized by that.
[0016]
The invention of claim 4 In an optical information recording method for recording information on an optical information recording medium by converting recording data into a recording pulse based on a write strategy, the light is recorded by a different write strategy in which parameters relating to recording pit deviation due to thermal interference of the write strategy are changed. Test recording of a plurality of specific patterns in which a land having a variable length, a fixed length pit, and a fixed length land followed by changing the land length is performed at least twice on the information recording medium, and recorded on the optical information recording medium by the test recording. The recorded pattern is reproduced, the pit deviation amount due to thermal interference of the recorded pit is detected from the deviation from the fixed length pit in the specific pattern in the reproduced pattern, and the detected pit deviation amount is detected. Determine the optimal write strategy based on It is characterized by that.
[0017]
The invention of claim 5 In an optical information recording method for recording information on an optical information recording medium by converting recording data into a recording pulse based on a write strategy, the light is recorded by a different write strategy in which a parameter relating to a deviation in the length of a recording pit of the write strategy is changed. A test record of a plurality of specific patterns in which a fixed-length land, a variable-length pit having a changed pit length, and a fixed-length land are followed on the information recording medium is performed at least twice, and recorded on the optical information recording medium by the test recording. The recorded pattern is reproduced, and the recorded pit length deviation amount is detected from a deviation from the specified length of the variable length pit in the specific pattern in the reproduced reproduction pattern, and the detected deviation amount is Determine the optimal write strategy based on It is characterized by that.
[0018]
According to a sixth aspect of the present invention, there is provided an optical information recording apparatus having a strategy circuit for converting recording data into recording pulses based on the write strategy according to the first aspect of the invention, wherein different write parameters are obtained by changing specific parameters of the write strategy. A test recording unit for performing test recording of a specific pattern at least twice on the optical information recording medium by a strategy, the amount of deviation relating to the parameter being independently detectable, and the test recording unit on the optical information recording medium Reproducing means for reproducing the recording pattern recorded on the recording medium; deviation detecting means for detecting a deviation amount related to the specific parameter of the write strategy based on the specific pattern among the reproduction patterns reproduced by the reproducing means; Based on the amount of deviation detected by the deviation detection means, For determining the Tej Straight line An arithmetic expression deriving means for obtaining an approximate expression, and the arithmetic expression deriving means Straight line Write strategy determining means for determining an optimum write strategy based on an approximate expression, and setting means for setting the optimum write strategy determined by the write strategy determining means in the strategy circuit.
[0019]
The invention of claim 7 is a 6 In the invention of The specific pattern is a plurality of patterns followed by a fixed-length pit, a fixed-length land, and a variable-length pit whose pit length is changed, and the deviation detecting means is a deviation from a predetermined length of the fixed-length land in the specific pattern. To detect the amount of front phase shift corresponding to the variable length pit It is characterized by that.
[0020]
Further, the invention of claim 8 is a claim. 6 In the invention of The specific pattern is a plurality of patterns followed by a variable length pit with a changed pit length, a fixed length land, and a fixed length pit, and the shift detection means detects a shift from a specified length of the fixed length land in the specific pattern. To detect the rear phase shift amount corresponding to the variable length pit. It is characterized by that.
[0021]
Further, in the invention of claim 9, the deviation detecting means corresponds to the variable length land from a deviation from a specified length of the fixed length pit of a specific pattern in which a variable length land, a fixed length pit, and a fixed length land follow. It is characterized by detecting a pit shift amount due to thermal interference of fixed-length pits.
The invention according to claim 10 is the invention according to claim 6, wherein the deviation detecting means is configured to detect the deviation from a prescribed length of the variable length pit of a specific pattern in which a fixed length land, a variable length pit, and a fixed length land follow. It is characterized by detecting the length shift amount of the variable length pit.
The invention according to claim 11 is the approximate expression for determining the optimum write strategy based on the least square method from the deviation amount detected by the deviation detecting means in the invention according to claim 6. It is characterized by calculating | requiring.
According to a twelfth aspect of the present invention, in the invention of the sixth aspect, the arithmetic expression deriving means determines the amount of deviation in the test recording by the first write strategy S1 detected by the deviation detecting means as D1 and the second write. When the amount of deviation in the test record by the strategy S2 is D2, simultaneous equations
D1 = a × S1 + b
D2 = a × S2 + b
And a function using the calculated a and b and the output deviation amount D for correcting the initial output deviation
S = (D−b) / a
Seeking
The write strategy determining means determines the optimum write strategy based on the function.
The invention according to claim 13 is the invention according to claim 12, wherein the strategy determining means is the function.
S = (D−b) / a
And the optimum write strategy is determined based on the correction table.
[0022]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Embodiments of an optical information recording method and apparatus according to the present invention will be described below in detail with reference to the accompanying drawings.
[0023]
FIG. 1 is a block diagram showing a main part of an optical information recording / reproducing apparatus constructed by applying the optical information recording apparatus and method according to the present invention.
[0024]
In FIG. 1, this optical information recording / reproducing apparatus records / reproduces information on / from an optical disc 10 using a laser beam output from a laser oscillator 103.
[0025]
When information is recorded on the optical disk 10, a recording signal corresponding to desired recording information is encoded by the encoder 101 by the EFM method, and the encoded recording data is added to the strategy circuit 102.
[0026]
Here, various setting parameters for a predetermined strategy are set in the strategy circuit 102, and the strategy circuit 102 corrects the recording data to perform desired recording by using the various setting parameters for the strategy, and from the laser oscillator 103. A recording pulse for controlling the intensity of the output laser beam is formed.
[0027]
The recording pulse formed by the strategy circuit 102 is applied to the laser oscillator 103. The laser oscillator 103 controls the output laser beam in response to the recording pulse, and the controlled laser beam is transmitted to the lens 104, the half mirror. The optical disk 10 rotating at a constant linear speed or a constant rotational speed is irradiated through the lens 105 and the lens 106, whereby a recording pattern composed of pits and lands corresponding to the recording data is recorded on the optical disk 10.
[0028]
When reproducing the information recorded on the optical disc 10, the optical disc 10 is rotated with a uniform reproduction laser beam from the laser oscillator 103 through the lens 104, the half mirror 105, and the lens 106 at a constant linear speed or a constant rotation speed. Irradiate.
[0029]
As the reproduction laser light at this time, the reproduction laser light having a lower intensity than the laser light output from the laser oscillator 103 at the time of recording is used, and the reflected light from the optical disk 10 by the reproduction laser light includes the lens 106 and the half mirror 105. The light is received by the light receiving unit 108 through the lens 107 and converted into an electric signal.
[0030]
The electrical signal output from the light receiving unit 108 corresponds to a recording pattern composed of pits and lands recorded on the optical disc 10. The electrical signal output from the light receiving unit 108 is subjected to predetermined compensation processing by the reproduction compensation circuit 109, binarized by the binarization circuit 110, further decoded by the decoder 111, and output as a reproduction signal.
[0031]
In the optical information recording / reproducing apparatus shown in FIG. 1, in order to set various parameters of the optimum strategy for the strategy circuit 102, the various parameters of the strategy are changed for the optical disc 10 according to different strategies. Test recording is performed to record the recording pattern of at least twice.
[0032]
The test recording pattern is then reproduced, and the recording deviation detection unit 112 measures the deviation in the length of a specific land or pit in the specific reproduction pattern output from the binarization circuit 110.
1) A pit front phase shift amount with respect to a recording pulse
2) Rear phase shift amount of pit with respect to recording pulse
3) Pit deviation from recording pulse due to thermal interference
4) Pit length deviation with respect to recording pulse
Are detected independently.
[0033]
An arithmetic expression deriving unit 113 derives an arithmetic expression for determining an optimum strategy based on the deviation amount detected by the recording deviation detection unit 112 and at least two strategies used in the test recording.
[0034]
The strategy determination unit 114 uses the calculation formula for determining the optimum strategy derived by the calculation formula deriving unit 113 to use the optical disc 10 used for test recording and the laser beam recording power and recording pulse optimal for the recording conditions. A strategy for adjusting the pulse width and the like is determined and set in the strategy circuit 102.
[0035]
Next, the principle of detection of various deviations with respect to the recording pulse in the recording deviation detection unit 112 shown in FIG. 1 will be described.
[0036]
FIG. 2 is a diagram illustrating an example of a recording pattern for the recording deviation detection unit 112 to detect the pit front side phase deviation amount with respect to the recording pulse.
[0037]
This recording pattern is a pattern in which pits PxT, lands LyT, and pits PzT are continuous. The pit lengths of the pits PxT and lands LyT are fixed, and the pit lengths of the pits PzT are shown in FIG. As shown in f), it is changed to 3T, 4T,... 14T.
[0038]
Here, when the length of the fixed length land LyT of the recording pattern is measured, the length of the fixed length land LyT should be constant in an ideal recording state.
[0039]
However, if the length of the fixed-length land LyT deviates from the ideal specified length, the pit length of the pit PxT is fixed. The shift amount corresponds to the front phase shift amount with respect to the recording pulse of each pit P3T, P4T,... P14T of 3T, 4T,.
[0040]
Therefore, test recording is performed with a recording pulse formed using a certain strategy, and the recording deviation detection unit 112 determines from the ideal length of the fixed-length land LyT from the reproduction pattern of the test recording by this recording pulse. If the shift amount is detected, it is possible to detect the front phase shift amount of the pits PzT, that is, the pits P3T, P4T,... P14T with respect to the recording pulse corresponding to this strategy.
[0041]
FIG. 3 is a diagram showing an example of a pit front side phase shift with respect to a recording pulse formed using a certain strategy.
[0042]
3A shows a recording pulse P formed using a certain strategy, and FIGS. 3B and 3C show pits having a certain pit length with respect to the front edge PLE of the recording pulse P. FIG. The amount of front side phase shift of PzT is shown.
[0043]
Here, FIG. 3B and FIG. 3C show recording when the strategy is changed from S1 to S2 and test recording is performed using the recording pulse P formed using the respective strategies S1 and S2. The front side phase shift amounts D1 and D2 of the pit PzT from the pulse P are shown.
[0044]
That is, FIG. 3B shows that when test recording is performed using the recording pulse P formed using the strategy S1, the front side of the pit PzT is set to D1 from the front edge PLE of the recording pulse P by the recording deviation detection unit 112. FIG. 3C shows the case where the recording deviation P is detected by the recording deviation detector 112 when test recording is performed using the recording pulse P formed using the strategy S2. The front side shows a case where it is detected that the recording pulse P is deviated by D2 from the front edge PLE of the recording pulse P.
[0045]
FIG. 4 is a diagram showing an example of a recording pattern for detecting the rear phase shift amount of the pit with respect to the recording pulse in the recording deviation detecting unit 112.
[0046]
This recording pattern is a pattern in which pits PxT, lands LyT, and pits PzT are continuous. The land length of lands LyT and the pit length of pits PzT are fixed, and the pit lengths of pits PxT are shown in FIGS. As shown in f), it is changed to 3T, 4T,... 14T.
[0047]
Here, when the length of the fixed length land LyT of the recording pattern is measured, the length of the fixed length land LyT should be constant in an ideal recording state.
[0048]
However, if the length of the fixed-length land LyT deviates from the ideal specified length, the pit length of the pit PzT is fixed, and therefore, from the ideal specified length of the fixed-length land LyT length. The amount of deviation corresponds to the amount of rear phase deviation with respect to the recording pulse of each pit P3T, P4T,... P14T of 3T, 4T,.
[0049]
Therefore, test recording is performed with a recording pulse formed using a certain strategy, and the recording deviation detection unit 112 determines from the ideal length of the fixed-length land LyT from the reproduction pattern of the test recording by this recording pulse. If the shift amount is detected, the pit PxT for the recording pulse corresponding to this strategy, that is, the rear phase shift amount of the pits P3T, P4T,... P14 can be detected.
[0050]
FIG. 5 is a diagram showing an example of a rear phase shift of a pit with respect to a recording pulse formed using a certain strategy.
[0051]
5A shows a recording pulse P formed using a certain strategy setting value, and FIGS. 5B and 5C show a certain pit with respect to the trailing edge PTE of the recording pulse P. FIG. The rear phase shift of the long pit PzT is shown.
[0052]
Here, FIG. 5B and FIG. 5C show recording when the strategy is changed from S1 to S2 and test recording is performed using the recording pulse P formed using the respective strategies S1 and S2. The rear phase shift amounts D1 and D2 of the pit PxT from the pulse P are shown.
[0053]
That is, FIG. 5 (b) shows that when test recording is performed using the recording pulse P formed using the strategy S1, the rear side edge PTE of the recording pulse P is located behind the pit PxT in the recording deviation detection unit 112. FIG. 5C shows a case where a recording pit is detected by the recording deviation detection unit 112 when test recording is performed using the recording pulse P formed using the strategy S2. The rear side of PxT indicates a case where it is detected that the recording pulse P is shifted from the front side edge PTE by D2.
[0054]
FIG. 6 is a diagram showing an example of a recording pattern for detecting a pit deviation amount from a recording pulse due to thermal interference in the recording deviation detection unit 112.
[0055]
This recording pattern is a pattern in which lands LxT, pits PyT, and lands LzT are continuous. The pit length of the pit PyT and the land length of the land LzT are fixed, and the land length of the land LxT is shown in FIGS. As shown in f), it is changed to 3T, 4T,... 14T.
[0056]
Here, when the length of the fixed-length pit PyT of the recording pattern is measured, the length of the fixed-length pit PyT should be constant in an ideal recording state.
[0057]
However, if the length of the fixed-length pit PyT deviates from the ideal specified length, the land length of the land LzT is fixed. Therefore, the ideal specified length of the fixed-length land LyT length The shift amount is the front phase shift with respect to the recording pulse of the pit preceded by each land L3T, L4T,... L14T of the 3T, 4T,. This corresponds to the amount of pit deviation from the recording pulse.
[0058]
Therefore, test recording is performed with a recording pulse formed using a certain strategy, and the recording deviation detection unit 112 determines from the ideal length of the fixed-length pit PyT from the reproduction pattern of the test recording by this recording pulse. If the shift amount is detected, the front phase shift amount due to the thermal interference of the pit PyT with respect to the recording pulse P corresponding to this strategy can be detected.
[0059]
FIG. 7 is a diagram showing an example of a pit front phase shift due to thermal interference with a recording pulse formed using a certain strategy.
[0060]
7A shows a recording pulse P formed using a certain strategy. FIGS. 7B and 7C show pits PyT due to thermal interference with the front edge PLE of the recording pulse P. FIG. The front side phase shift is shown.
[0061]
Here, FIG. 7B and FIG. 7C show recording when the strategy is changed from S1 to S2 and test recording is performed using the recording pulse P formed using the respective strategies S1 and S2. The front side phase shift amounts D1 and D2 of the pit PyT from the pulse P are shown.
[0062]
That is, FIG. 7B shows that when test recording is performed using the recording pulse P formed using the strategy S1, the front side of the pit PyT is D1 from the front edge PLE of the recording pulse P in the recording deviation detection unit 112. FIG. 7C shows a case where the recording deviation detection unit 112 detects the reproduction pit PzT when test recording is performed using the recording pulse P formed using the strategy S2. The front side shows a case where it is detected that the recording pulse P is deviated by D2 from the front edge PLE of the recording pulse P.
[0063]
FIG. 8 is a diagram showing an example of a recording pattern for the recording deviation detection unit 112 to detect the pit length deviation amount with respect to the recording pulse.
[0064]
This recording pattern is a pattern in which lands LxT, pits PyT, and lands LzT are continuous. The land length of the land LxT and the land length of the land LzT are fixed, and the pit length of the pit PyT is shown in FIGS. As shown in f), it is changed to 3T, 4T,... 14T.
[0065]
Here, when the length of the variable-length pit PyT of the recording pattern is measured, the length of the variable-length pit PyT should correspond to the ideal pit length in an ideal recording state.
[0066]
However, if the length of the variable length pit PyT deviates from the ideal specified length, the land length of the land LxT and the land length of the land LzT are fixed. The amount of deviation from the length corresponds to the amount of deviation from the recording pulse of each pit P3T, P4T,... P14T of 3T, 4T,.
[0067]
Therefore, test recording is performed with a recording pulse formed using a certain strategy, and the recording deviation detection unit 112 determines from the ideal length of the variable-length pit PyT from the reproduction pattern of the test recording by this recording pulse. If the deviation amount is detected, the length deviation amount of the pit PyT with respect to the recording pulse P corresponding to this strategy can be detected.
[0068]
FIG. 9 is a diagram showing an example of a pit length shift with respect to a recording pulse formed using a certain strategy.
[0069]
9A shows a recording pulse P formed using a certain strategy, and FIGS. 9B and 9C show a shift in the length of the pit PyT with respect to the recording pulse P. FIG.
[0070]
Here, FIG. 9B and FIG. 9C show recording when the strategy is changed from S1 to S2 and test recording is performed using the recording pulse P formed using the respective strategies S1 and S2. The length deviation of the pit PyT with respect to the pulse P is shown.
[0071]
That is, FIG. 9B shows that when the test recording is performed using the recording pulse P formed using the strategy S1, the length of the pit PyT in the recording deviation detection unit 112 is D11 + D12 = FIG. 9C shows a case where it is detected that there is a deviation by D1, and FIG. 9C shows a case where the recording deviation detection unit 112 detects the pit PzT when test recording is performed using the recording pulse P formed using the strategy S2. The length shows a case where it is detected that the recording pulse P is deviated by D21 + D22 = D2.
[0072]
3, 5, 7, and 9, the recording pulse P is shown as a multi-pulse including a main pulse and a plurality of sub-pulses following the main pulse.
[0073]
Further, as recording pulses, pits P3T, P4T,... P14T corresponding to 3T, 4T,.
[0074]
By the way, as described above, the shift amounts D1 and D2 detected by the recording shift detector 112 vary depending on various setting parameters of the strategy. As a result of analysis, it has been clarified that the shift amounts D1 and D2 that vary depending on various setting parameters of the strategy change in a substantially linear shape.
[0075]
That is, the deviation amount in each test recording detected by the recording deviation detection unit 112 can be regarded as a linear change approximated based on the least square method.
[0076]
Therefore, in the optical information recording / reproducing apparatus of this embodiment, for example, when the test recording is performed twice, the various setting parameters of the strategy and the detected deviation amounts D1 and D2 detected by the recording deviation detection unit 112 are used. It is possible to determine the optimal strategy by paying attention to the linear relationship with.
[0077]
FIG. 10 shows an example of the relationship between the strategy S used for test recording and the amount of deviation D detected from the reproduction pattern of this test recording by the recording deviation detection unit 112.
[0078]
The relationship between the strategy S used for the test recording and the amount of deviation D detected from the reproduction pattern of the test recording by the recording deviation detector 112 can be approximated by a straight line PT as shown in FIG. .
[0079]
Therefore, at least two points on the straight line, for example, a certain strategy S1 and the recording deviation detection unit 112, the deviation amount D1 detected from the reproduction pattern of the test recording using this strategy S1, and another strategy S2 and the recording deviation detection unit 112. If the deviation amount D2 detected from the reproduction pattern of the test recording using the strategy S1 is obtained, the straight line PT can be specified, and the straight line PT is used, for example, to optimize the deviation amount D to zero. Strategy S can be determined.
[0080]
Specifically, the deviation amount D detected by the recording deviation detection unit 112 when the strategy S is changed by several points is obtained, and at this time, the strategy S and the deviation amount D are general expressions representing straight lines.
D = a × S + b
The constants a and b are obtained by solving the simultaneous equations and finally the strategy S corresponding to the ideal deviation amount D is obtained. By setting this strategy S in the strategy circuit 102, the recording pulse Perform optimal correction.
[0081]
For example, suppose that the amount of deviation detected from the reproduction pattern of the test recording using the strategy S1, which is the recording deviation detection unit 112, is D1, and the amount of deviation detected from the reproduction pattern of the test recording using the other strategy S2 is D2. ,
D1 = a × S1 + b
D2 = a × S2 + b
A and b are calculated from the function and a function using the calculated a and b is calculated.
S = (D−b) / a
The optimum strategy S is determined by substituting an output deviation amount D for improving the recording quality, for example, for correcting an initial output deviation or the like occurring in an equalizer or the like, into this function.
[0082]
The function (straight line PT) for obtaining the optimum strategy S can be obtained corresponding to each of the pits P3T, P4T,... P14T of 3T, 4T,. The functions for obtaining the optimum strategy S can also be obtained corresponding to the recording speed.
[0083]
FIG. 11 shows an example of a function for obtaining the optimum strategy S corresponding to each pit.
[0084]
In FIG. 11, P3T, P4T,... P14T correspond to functions for obtaining the optimum strategy S corresponding to the pit lengths 3T, 4T,.
[0085]
In the above-described embodiment, when determining the optimum strategy when the test recording is performed twice, the respective shift amounts are detected in each test recording, and the straight line PT is specified by the least square method to determine the optimum strategy. However, the present invention is not limited to this. Even when three or more test recordings are performed, the least square method is used to calculate the amount of deviation detected in each test recording. Thus, the straight line PT can be specified and the optimum strategy setting value can be determined.
[0086]
FIG. 12 is a flowchart showing an example of the operation of the optical information recording / reproducing apparatus shown in FIG. 1 for setting the optimum strategy.
[0087]
In the optical information recording / reproducing apparatus shown in FIG. 1, in order to obtain an optimum strategy when information is recorded on a certain manufacturer's optical disk at a predetermined recording speed, the optical disk is set in the optical information recording / reproducing apparatus. Then, test recording is performed at the predetermined recording speed.
[0088]
In this test recording, first the first test recording is performed with the strategy of the initial value (step 201), and then the strategy is changed from the initial value and the second test recording is performed with a strategy different from the initial value. (Step 202).
[0089]
Here, as an area used for test recording, for example, a PCA (Power Calibration Area) area may be used in the case of an optical disc such as a CD-R and a DVD-R. For example, a Z-CLV system may be used. In the case of an optical disc of such a recording method, a part or all of the data recording area may be used.
[0090]
The test recording may be performed by sequentially changing the pit length or land length as in the recording patterns shown in FIGS. 2, 4, 6, and 8, and FIG. 2, FIG. 4, FIG. Random recording may be performed so that the recording pattern shown in FIG.
[0091]
Next, the recording pattern is reproduced (step 203), a specific reproduction pattern in the reproduced test recording is extracted, and the recording deviation amount in the specific reproduction pattern is detected by the recording deviation detection unit 112 in FIG. 5, FIG. 7, and FIG. 9 (step 204).
[0092]
Then, an approximate expression for obtaining the optimum strategy is obtained based on the recording deviation amount detected by the recording deviation detection unit 112 (step 205).
[0093]
The process for obtaining the approximate expression for obtaining the optimum strategy is performed by the arithmetic expression deriving unit 113 shown in FIG. 1, and specifically, the process for obtaining the function for obtaining the optimum strategy S described above.
[0094]
Next, an optimum strategy is determined using this approximate expression (step 206). The process for determining the optimum strategy is performed by the strategy decision unit 114 shown in FIG. 1, and specifically occurs in, for example, an equalizer or the like for improving the recording quality to the above-described function for obtaining the optimum strategy S. In this process, an optimum strategy S is determined by substituting an output deviation amount D for correcting an initial output deviation or the like.
[0095]
Here, in place of the process of determining the optimum strategy S by substituting the output shift amount D for improving the recording quality into the function for obtaining the optimum strategy S, a correction table obtained from the above function is prepared, The optimum strategy S may be determined based on this correction table.
[0096]
The optimal strategy S determined by the strategy determining unit 114 in this way is set in the strategy circuit 102 shown in FIG. 1, thereby completing the optimal strategy setting process.
[0097]
The optimum strategy setting process may be performed every time the type of the optical disk is changed and every time the recording speed is changed. However, the optimum strategy determined in the optimum strategy setting process is determined based on the type of the optical disk and the recording speed. If the same type of optical disk is recorded again with the same recording speed, the optimum strategy stored in this memory is read out and set in the strategy circuit 102. Also good.
[0098]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, the strategy of the strategy circuit is changed and at least two test recordings are performed on the optical information recording medium using different strategies, and the recording pattern by the test recording is reproduced and the reproduced Independently detecting deviation amounts related to various setting parameters of the strategy setting value based on a specific pattern in the reproduced pattern, and determining the optimum strategy from the relationship between the detected deviation amount and the strategy used for test recording Thus, the optimum strategy considering various setting parameters can be easily determined and set.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing a main part of an optical information recording / reproducing apparatus configured by applying an optical information recording method and apparatus according to the present invention.
2 is a diagram showing an example of a recording pattern for detecting a front phase shift amount of a pit with respect to a recording pulse in a shift detection unit of the optical information recording / reproducing apparatus shown in FIG.
FIG. 3 is a diagram illustrating an example of a pit front side phase shift with respect to a recording pulse formed using a certain strategy.
4 is a diagram showing an example of a recording pattern for detecting a rear phase shift amount of a pit with respect to a recording pulse in a shift detection unit of the optical information recording / reproducing apparatus shown in FIG.
FIG. 5 is a diagram showing an example of a rear phase shift of a pit with respect to a recording pulse formed using a certain strategy.
6 is a diagram showing an example of a recording pattern for detecting a pit shift amount from a recording pulse due to thermal interference in a shift detection unit of the optical information recording / reproducing apparatus shown in FIG. 1. FIG.
FIG. 7 is a diagram showing an example of a pit front side phase shift due to thermal interference with a recording pulse formed using a certain strategy.
8 is a diagram showing an example of a recording pattern for detecting a pit length deviation amount with respect to a recording pulse in a deviation detection unit of the optical information recording / reproducing apparatus shown in FIG. 1. FIG.
FIG. 9 is a diagram showing an example of a pit length shift with respect to a recording pulse formed using a certain strategy setting value.
10 is a graph showing an example of a relationship between a strategy S used for test recording and a deviation amount D detected by a deviation detection unit of the optical information recording / reproducing apparatus shown in FIG. 1 from a reproduction pattern of the test recording. .
FIG. 11 is a graph showing an example of a function for obtaining an optimum strategy S corresponding to each pit.
12 is a flowchart showing an example of the operation of the optical information recording / reproducing apparatus shown in FIG. 1 for setting an optimum strategy.
[Explanation of symbols]
10 Optical disc
101 Encoder
102 Strategy circuit
103 Laser oscillator
104 lenses
105 half mirror
106 lenses
107 lenses
108 Light receiver
109 Regenerative compensation circuit
110 Binary circuit
111 decoder
112 Recording deviation detection unit
113 Arithmetic expression deriving unit
114 Strategy decision unit

Claims (13)

ライトストラテジに基づき記録データを記録パルスに変換して光情報記録媒体上に情報を記録する光情報記録方法において、
前記ライトストラテジの特定のパラメータを変更した異なるライトストラテジにより前記光情報記録媒体上に該パラメータに関するずれ量を独立して検出することが可能な特定パターンのテスト記録を少なくとも2回行い、
該テスト記録により前記光情報記録媒体上に記録された記録パターンを再生し、
該再生した再生パターンの中の前記特定パターンに基づき前記ライトストラテジの前記特定のパラメータに関するずれ量を検出し、
該検出したずれ量に基づき最適ライトストラテジを決定するための直線近似式を求め、
直線近似式に基づき最適ライトストラテジを決定する
ことを特徴とする光情報記録方法。
In an optical information recording method for recording information on an optical information recording medium by converting recording data into recording pulses based on a write strategy,
Performing at least twice a test recording of a specific pattern capable of independently detecting a deviation amount related to the parameter on the optical information recording medium by a different write strategy in which the specific parameter of the write strategy is changed,
Reproducing the recording pattern recorded on the optical information recording medium by the test recording,
Detecting a deviation amount related to the specific parameter of the write strategy based on the specific pattern in the reproduced reproduction pattern;
Obtaining a linear approximation formula for determining the optimal write strategy based on the detected deviation amount,
The optical information recording method characterized by determining an optimum write strategy based on the linear approximation.
ライトストラテジに基づき記録データを記録パルスに変換して光情報記録媒体上に情報を記録する光情報記録方法において、
前記ライトストラテジの記録ピットの前側位相ずれに関するパラメータを変更した異なるライトストラテジにより前記光情報記録媒体上に固定長ピット、固定長ランド、可変長ピットが続く特定パターンのテスト記録を少なくとも2回行い、
該テスト記録により前記光情報記録媒体上に記録された記録パターンを再生し、
該再生した再生パターンの中の固定長ピット、固定長ランド、可変長ピットが続くパターンの前記固定長ランドの規定長からのずれから前記記録ピットの前側位相ずれ量を検出し、
該検出した前側位相ずれ量に基づき最適ライトストラテジを決定する
ことを特徴とする光情報記録方法。
In an optical information recording method for recording information on an optical information recording medium by converting recording data into recording pulses based on a write strategy,
Test recording of a specific pattern in which a fixed-length pit, a fixed-length land, and a variable-length pit continue on the optical information recording medium by different write strategies in which parameters related to the front phase shift of the recording pit of the write strategy are changed,
Reproducing the recording pattern recorded on the optical information recording medium by the test recording,
Detecting a phase shift amount of the front side of the recording pit from a deviation from a predetermined length of the fixed-length land of the fixed-length pit, fixed-length land, and variable-length pit in the reproduced reproduction pattern;
An optical information recording method comprising: determining an optimum write strategy based on the detected front phase shift amount.
ライトストラテジに基づき記録データを記録パルスに変換して光情報記録媒体上に情報を記録する光情報記録方法において、
前記ライトストラテジの記録ピットの後側位相ずれに関するパラメータを変更した異なるライトストラテジにより前記光情報記録媒体上に可変長ピット、固定長ランド、固定長ピットが続く特定パターンのテスト記録を少なくとも2回行い、
該テスト記録により前記光情報記録媒体上に記録された記録パターンを再生し、
該再生した再生パターンの中の可変長ピット、固定長ランド、固定長ピットが続くパターンの前記固定長ランドの規定長からのずれから前記記録ピットの後側位相ずれ量を検出し、
該検出した後側位相ずれ量に基づき最適ライトストラテジを決定する
ことを特徴とする光情報記録方法。
In an optical information recording method for recording information on an optical information recording medium by converting recording data into recording pulses based on a write strategy,
Test recording of a specific pattern in which a variable-length pit, a fixed-length land, and a fixed-length pit are continued on the optical information recording medium at least twice by a different write strategy in which a parameter relating to a rear phase shift of the recording pit of the write strategy is changed. ,
Reproducing the recording pattern recorded on the optical information recording medium by the test recording,
Detecting a rear phase shift amount of the recording pit from a deviation from a predetermined length of the fixed-length land of the variable-length pit, fixed-length land, and fixed-length pit in the reproduced reproduction pattern;
An optical information recording method comprising: determining an optimum write strategy based on the detected rear side phase shift amount.
ライトストラテジに基づき記録データを記録パルスに変換して光情報記録媒体上に情報を記録する光情報記録方法において、
前記ライトストラテジの熱干渉による記録ピットずれに関するパラメータを変更した異なるライトストラテジにより前記光情報記録媒体上に可変長ランド、固定長ピット、固定長ランドが続く特定パターンのテスト記録を少なくとも2回行い、
該テスト記録により前記光情報記録媒体上に記録された記録パターンを再生し、
該再生した再生パターンの中の可変長ランド、固定長ピット、固定長ランドが続くパターンの前記固定長ピットの規定長からのずれから前記記録ピットの熱干渉によるピットずれ量を検出し、
該検出したピットずれ量に基づき最適ライトストラテジを決定する
ことを特徴とする光情報記録方法。
In an optical information recording method for recording information on an optical information recording medium by converting recording data into recording pulses based on a write strategy,
Test recording of a specific pattern in which a variable length land, a fixed length pit, and a fixed length land follow the optical information recording medium at least twice by different write strategies in which parameters relating to recording pit deviation due to thermal interference of the write strategy are changed,
Reproducing the recording pattern recorded on the optical information recording medium by the test recording,
Detecting a pit shift amount due to thermal interference of the recording pit from a shift from a specified length of the fixed-length pit of a variable-length land, a fixed-length pit, and a pattern in which the fixed-length land continues in the reproduced playback pattern;
An optical information recording method comprising determining an optimum write strategy based on the detected pit deviation amount.
ライトストラテジに基づき記録データを記録パルスに変換して光情報記録媒体上に情報を記録する光情報記録方法において、
前記ライトストラテジの記録ピットの長さずれに関するパラメータを変更した異なるライトストラテジにより前記光情報記録媒体上に固定長ランド、可変長ピット、固定長ランドが続く特定パターンのテスト記録を少なくとも2回行い、
該テスト記録により前記光情報記録媒体上に記録された記録パターンを再生し、
該再生した再生パターンの中の固定長ランド、可変長ピット、固定長ランドが続くパターンの前記可変長ピットの規定長からのずれから前記記録ピットの長さずれ量を検出し、
該検出した長さずれ量に基づき最適ライトストラテジを決定する
ことを特徴とする光情報記録方法。
In an optical information recording method for recording information on an optical information recording medium by converting recording data into recording pulses based on a write strategy,
The test recording of the specific pattern in which the fixed length land, the variable length pit, and the fixed length land follow on the optical information recording medium is performed at least twice by different write strategies in which the parameters relating to the deviation of the recording pit length of the write strategy are changed,
Reproducing the recording pattern recorded on the optical information recording medium by the test recording,
In the reproduced reproduction pattern, a fixed-length land, a variable-length pit, a deviation of the length of the recording pit is detected from a deviation from a specified length of the variable-length pit in a pattern followed by the fixed-length land,
An optical information recording method comprising: determining an optimum write strategy based on the detected length deviation amount.
ライトストラテジに基づき記録データを記録パルスに変換するストラテジ回路を有する光情報記録装置において、
前記ライトストラテジの特定のパラメータを変更した異なるライトストラテジにより前記光情報記録媒体上に該パラメータに関するずれ量を独立して検出することが可能な特定パターンのテスト記録を少なくとも2回行うテスト記録手段と、
前記テスト記録手段により前記光情報記録媒体上に記録された記録パターンを再生する再生手段と、
前記再生手段により再生された再生パターンの中の前記特定パターンに基づき前記ライトストラテジの前記特定のパラメータに関するずれ量を検出するずれ検出手段と、
前記ずれ検出手段により検出したずれ量に基づき最適ライトストラテジを決定するための直線近似式を求める演算式導出手段と、
前記演算式導出手段でもとめた前記直線近似式に基づき最適ライトストラテジを決定するライトストラテジ決定手段と、
前記ライトストラテジ決定手段により決定された最適ライトストラテジを前記ストラテジ回路に設定する設定手段と
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
In an optical information recording apparatus having a strategy circuit for converting recording data into recording pulses based on a write strategy,
Test recording means for performing test recording of a specific pattern at least twice on the optical information recording medium capable of independently detecting a shift amount related to the parameter by different write strategies in which specific parameters of the write strategy are changed; ,
Reproducing means for reproducing the recording pattern recorded on the optical information recording medium by the test recording means;
A deviation detecting means for detecting a deviation amount related to the specific parameter of the write strategy based on the specific pattern in the reproduction pattern reproduced by the reproducing means;
An arithmetic expression deriving unit for obtaining a linear approximation formula for determining an optimal write strategy based on the shift amount detected by the shift detection unit;
A write strategy determining means for determining an optimal write strategy based on the linear approximation formula stopped by the arithmetic expression deriving means;
An optical information recording apparatus comprising: setting means for setting an optimum write strategy determined by the write strategy determining means in the strategy circuit.
前記ずれ検出手段は、
固定長ピット、固定長ランド、可変長ピットが続く特定パターンの前記固定長ランドの規定長からのずれから前記可変長ピットに対応する前側位相ずれ量を検出する
ことを特徴とする請求項6記載の光情報記録装置。
The deviation detecting means includes
7. A front phase shift amount corresponding to the variable length pit is detected from a shift from a specified length of the fixed length land of a specific pattern in which a fixed length pit, a fixed length land, and a variable length pit follow. Optical information recording device.
前記ずれ検出手段は、
可変長ピット、固定長ランド、固定長ピットが続く特定パターンの前記固定長ランドの規定長からのずれから前記可変長ピットに対応する後側位相ずれ量を検出する
ことを特徴とする請求項6記載の光情報記録装置。
The deviation detecting means includes
7. A rear phase shift amount corresponding to the variable length pit is detected from a shift from a specified length of the fixed length land of a specific pattern in which a variable length pit, a fixed length land, and a fixed length pit follow. The optical information recording apparatus described.
前記ずれ検出手段は、
可変長ランド、固定長ピット、固定長ランドが続く特定パターンの前記固定長ピットの規定長からのずれから前記可変長ランドに対応する前記固定長ピットの熱干渉によるピットずれ量を検出する
ことを特徴とする請求項6記載の光情報記録装置。
The deviation detecting means includes
Detecting a pit shift amount due to thermal interference of the fixed-length pit corresponding to the variable-length land from a shift from a specified length of the fixed-length pit of a specific pattern followed by a variable-length land, a fixed-length pit, and a fixed-length land. The optical information recording apparatus according to claim 6.
前記ずれ検出手段は、
固定長ランド、可変長ピット、固定長ランドが続く特定パターンの前記可変長ピットの規定長からのずれから前記可変長ピットの長さずれ量を検出する
ことを特徴とする請求項6記載の光情報記録装置。
The deviation detecting means includes
7. The light according to claim 6, wherein a length shift amount of the variable length pit is detected from a shift from a predetermined length of the variable length pit of a specific pattern in which a fixed length land, a variable length pit, and a fixed length land follow. Information recording device.
前記演算式導出手段は、
前記ずれ検出手段により検出されたずれ量から最小二乗法に基づき前記最適ライトストラテジを決定するための近似式を求める
ことを特徴とする請求項6記載の光情報記録装置。
The arithmetic expression deriving means includes:
The optical information recording apparatus according to claim 6, wherein an approximate expression for determining the optimum write strategy is obtained from a deviation amount detected by the deviation detection unit based on a least square method.
前記演算式導出手段は、
前記ずれ検出手段により検出した第1のライトストラテジS1によるテスト記録でのずれ量をD1、第2のライトストラテジS2によるテスト記録でのずれ量をD2とするとき、連立方程式
D1=a×S1+b
D2=a×S2+b
からaおよびbを算出し、該算出したaおよびbおよび初期的な出力ずれを補正するための出力ずれ量Dを用いた関数
S=(D−b)/a
を求め、
前記ライトストラテジ決定手段は、
前記関数に基づき前記最適ライトストラテジを決定する
ことを特徴とする請求項6記載の光情報記録装置。
The arithmetic expression deriving means includes:
When the deviation amount in the test recording by the first write strategy S1 detected by the deviation detection means is D1, and the deviation amount in the test recording by the second write strategy S2 is D2, the simultaneous equations D1 = a × S1 + b
D2 = a × S2 + b
And a function using the calculated a and b and the output deviation amount D for correcting the initial output deviation S = (D−b) / a
Seeking
The light strategy determining means includes
The optical information recording apparatus according to claim 6, wherein the optimum write strategy is determined based on the function.
前記ストラテジ決定手段は、
前記関数
S=(D−b)/a
から求めた補正テーブルを有し、該補正テーブルに基づき前記最適ライトストラテジを決定する
ことを特徴とする請求項12記載の光情報記録装置。
The strategy determining means includes
The function S = (D−b) / a
The optical information recording apparatus according to claim 12, further comprising: a correction table obtained from step (a), wherein the optimum write strategy is determined based on the correction table.
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JP3908720B2 (en) 2003-11-12 2007-04-25 三星電子株式会社 Optical disc apparatus and optical information recording method
JP4280996B2 (en) * 2004-05-13 2009-06-17 太陽誘電株式会社 Optical information recording device
WO2006009204A1 (en) * 2004-07-22 2006-01-26 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical disc recording pulse control method, and control device and optical disc device employed therein
JP4229331B2 (en) 2005-02-21 2009-02-25 太陽誘電株式会社 Optical information recording apparatus and method, and signal processing circuit
JP4395455B2 (en) 2005-02-24 2010-01-06 太陽誘電株式会社 Optical information recording apparatus and method, and signal processing circuit
KR100734316B1 (en) 2005-02-25 2007-07-02 삼성전자주식회사 Optical information recording apparatus, apparatus and method for setting write strategy, and computer program thereof
JP4523470B2 (en) * 2005-03-29 2010-08-11 太陽誘電株式会社 Optical information recording apparatus and method, and signal processing circuit
CN100533558C (en) 2005-04-14 2009-08-26 松下电器产业株式会社 Method for optimizing recording pulse condition in data recording to optical information recording medium
US20070047417A1 (en) * 2005-08-31 2007-03-01 Mediatek Inc. System and method for optimizing write strategy parameters by adopting different adjustment procedures according to quality indices
JP4274183B2 (en) 2005-11-24 2009-06-03 ソニー株式会社 Recording / reproducing apparatus and laser driving pulse adjusting method
JP4287861B2 (en) 2006-01-24 2009-07-01 東芝サムスン ストレージ・テクノロジー株式会社 Optical disc device and recording method
JP4375345B2 (en) 2006-02-24 2009-12-02 ソニー株式会社 Optical recording / reproducing apparatus and optical recording / reproducing method
JP4232809B2 (en) 2006-09-26 2009-03-04 ソニー株式会社 Recording / reproducing apparatus and laser driving pulse adjusting method

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