JP2004355727A - Method and device for recording optical information - Google Patents

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Abstract

<P>PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method and device for recording optical information for accurately deciding an optimal strategy considering various setting parameters. <P>SOLUTION: The strategy of a strategy circuit 102 is changed, test recording is performed at least twice on an optical disk 10 by a different strategy, recording patterns by the test recording are reproduced, a shifting amount relative to various setting parameters of the strategy on the basis of a specific pattern among the reproduced patterns is independently detected by a recording shift detection part 112, a function for deciding an optimal strategy is derived from a relation between the detected shifting amount and the strategy used for the test recording by a calculation equation deriving part 113, and an optimal strategy is decided by a strategy deciding part 114 on the basis of the derived function. <P>COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI

Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
この発明は、所定のライトストラテジに基づき記録データを所望の記録パルスに変換するストラテジ回路を有する光情報記録方法および装置に関し、特に、各種設定パラメータを考慮した最適ライトストラテジを決定することができるようにした光情報記録方法および装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
一般に、光ディスク等の光情報録媒体に情報を記録する場合は、記録データをEFM(Eight to Fourteen Modulation)方式で変調し、この変調信号に基づき記録パルスを形成し、この記録パルスで光ディスク上に照射されるレーザ光の強度等を制御して光ディスクの記録層にピットと呼ばれるマークを記録することにより行われる。
【0003】
ここで、上記ピットとピットとの間に形成される非記録部はランドと呼ばれ、この各ピットの長さ、各ランドの長さにより上記変調信号に対応する記録パターンが光ディスク上に形成される。
【0004】
ところで、上記記録層におけるピットの形成は、レーザ光の照射により発生する熱を利用して行われるので、その際の蓄熱効果、隣接するピットの形成に伴う熱干渉等を考慮して上記記録パルスを形成しないと、正確なピット長、ランド長の記録パターンを形成することができない。
【0005】
そこで、上記記録パルスを形成するための各種パラメータの設定をライトストラテジ(以下、単にストラテジという)といい、光情報記録装置には、このストラテジを実行するためのストラテジ回路が設けられている。
【0006】
このストラテジ回路により実行されるストラテジは、例えば、ピックアップのスポット径ばらつき、機構精度ばらつき等の光情報記録装置の個体差に依存するだけでなく、記録再生に使用する光ディスクのメーカ種別および記録スピードにも依存し、ここで、最適ストラテジが設定されていないと、再生時のジッタが大きくなり、正確な再生ができない。
【0007】
これに対応するため、各メーカ種別に対応する光ディスクの最適ストラテジを求めて、これを各メーカ種別に対応して予めメモリに記憶し、光ディスクに対する情報の記録に際しては、光ディスクに記録されている光ディスクのメーカ種別を読み取り、この読み取ったメーカ種別に対応する最適ストラテジを上記メモリから読み出してストラテジ回路に設定する手法も提案されている。
【0008】
しかし、上記手法によると、メモリに予め記憶されたメーカ種別の光ディスクに対しては最適記録が可能になるが、メモリに記憶されていないメーカ種別の光ディスクに対しては最適記録を行うことができず、また、メモリに予め記憶されたメーカ種別の光ディスクであっても記録スピードが異なると、この場合も最適記録を行うことができない。
【0009】
そこで、特許文献1、特許文献2に示されるように、記録条件毎に予めテスト記録を行い、このテスト記録に基づき最適ストラテジを決定することで各種光ディスクに対応できるようにした手法も提案されている。
【0010】
【特許文献1】
特開平5−144001号公報
【特許文献2】
特開平4−137224号公報
【発明が解決しようとする課題】
しかし、上記従来の技術においては、複数存在するストラテジの設定パラメータに対してどのパラメータをどの程度調整する必要があるかの判断はできず、このために各種パラメータに対応した最適ストラテジ設定を行うことができない。
【0011】
すなわち、ストラテジの設定パラメータとしては、
1)記録パルスの前側位相補正
2)記録パルスの後側位相補正
3)熱干渉補正
4)記録マークの長さ補正
等があり、レーザービームの記録パワーや記録パルスのパルス幅等を調整することによりずれ量を補正することになるが、これらのずれ量を独立して判別することはできず、このために各種設定パラメータに対応した最適ストラテジを決定することができない。
【0012】
そこで、この発明は、各種設定パラメータを考慮した最適ストラテジを的確に決定することができるようにした光記情報記録方法および装置を提供することを目的とする。
【0013】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、請求項1の発明は、所定のライトストラテジに基づき記録データを記録パルスに変換して情報を記録する光情報録方法において、異なるライトストラテジを用いて記録パルスを光情報記録媒体上に照射して記録を行い、前記異なるライトストラテジにより記録された異なる記録パターンを再生し、該再生された信号間のずれ量に応じて新たなライトストラテジを決定し、前記決定に従って記録データを記録パルスに変換して情報を記録することを特徴とする。
【0014】
また、請求項2の発明は、所定のライトストラテジに基づき記録データを記録パルスに変換するストラテジ回路を有する光情報記録装置において、前記ストラテジ回路のライトストラテジの各種設定パラメータを変更してそれぞれ異なるライトストラテジにより前記光情報記録媒体上に少なくとも2回のテスト記録を行うテスト記録手段と、前記テスト記録手段により記録された記録パターンを再生する再生手段と、前記再生手段により再生された再生パターンの中の特定のパターンに基づき前記ライトストラテジの各種設定パラメータに関するずれ量を独立して検出するずれ検出手段と、前記ずれ検出手段により検出したずれ量と前記テスト記録に用いたライトストラテジとの関係から最適ライトストラテジを決定するストラテジ決定手段とを具備することを特徴とする。
【0015】
また、請求項3の発明は、請求項2の発明において、前記ずれ検出手段は、固定長ピット、固定長ランド、可変長ピットが続く再生パターンの中の前記固定長ランドの長さの規定長からの長さずれから各ピットの前側位相ずれ量を検出することを特徴とする。
【0016】
また、請求項4の発明は、請求項2の発明において、前記ずれ検出手段は、可変長ピット、固定長ランド、固定長ピットが続く再生パターンの中の前記固定長ランドの長さの規定長からの長さずれから各ピットの後側位相ずれ量を検出することを特徴とする。
【0017】
また、請求項5の発明は、請求項2の発明において、前記ずれ検出手段は、可変長ランド、固定長ピット、固定長ランドが続く再生パターンの中の前記固定長ピットの長さの規定長からの長さずれから各ランドに対応する各ピットの熱干渉によるピットずれ量を検出することを特徴とする。
【0018】
また、請求項6の発明は、請求項2の発明において、前記ずれ検出手段は、固定長ランド、可変長ピット、固定長ランドが続く再生パターンの中の前記可変長ピットの長さの規定長からの長さずれから各ピットの長さずれ量を検出することを特徴とする。
【0019】
また、請求項7の発明は、請求項2の発明において、前記ストラテジ決定手段は、前記ずれ検出手段により検出されたそれぞれのテスト記録におけるずれ量から最小二乗法に基づき最適ライトストラテジを決定することを特徴とする。
【0020】
また、請求項8の発明は、請求項2の発明において、前記ストラテジ決定手段は、前記ずれ検出手段により検出した第1のライトストラテジS1によるテスト記録でのずれ量をD1、第2のライトストラテジS2によるテスト記録でのずれ量をD2とするとき、連立方程式
D1=a×S1+b
D2=a×S2+b
からaおよびbを算出し、該算出したaおよびbを用いた関数
S=(D−b)/a
に基づき最適ライトストラテジSを決定することを特徴とする。
【0021】
また、請求項9の発明は、請求項2の発明において、前記ストラテジ決定手段は、前記関数
S=(D−b)/a
から求めた補正テーブルを有し、該補正テーブルに基づき最適ライトストラテジSを決定することを特徴とする。
【0022】
【発明の実施の形態】
以下、この発明に係わる光情報記録方法および装置の実施の形態を添付図面を参照して詳細に説明する。
【0023】
図1は、この発明に係わる光情報記録装置および方法を適用して構成した光情報記録再生装置の要部を示すブロック図である。
【0024】
図1において、この光情報記録再生装置は、レーザ発振器103から出力されたレーザ光を用いて光ディスク10に対して情報の記録再生を行う。
【0025】
光ディスク10に対して情報の記録を行う場合は、所望の記録情報に対応した記録信号をエンコーダ101でEFM方式で符号化し、この符号化した記録データをストラテジ回路102に加える。
【0026】
ここで、このストラテジ回路102には所定のストラテジの各種設定パラメータが設定されており、ストラテジ回路102では、このストラテジの各種設定パラメータにより所望の記録を行うべく記録データを補正してレーザ発振器103から出力されるレーザ光の強度を制御するための記録パルスを形成する。
【0027】
ストラテジ回路102で形成された記録パルスは、レーザ発振器103に加えらえ、レーザ発振器103は、この記録パルスに対応して出力レーザ光を制御し、この制御されたレーザ光をレンズ104、ハーフミラー105、レンズ106を介して線速一定若しくは回転速度一定で回転する光ディスク10に照射し、これにより光ディスク10に上記記録データに対応したピット、ランドからなる記録パターンを記録する。
【0028】
光ディスク10上に記録された情報の再生を行う場合は、レーザ発振器103から一様な再生レーザ光をレンズ104、ハーフミラー105、レンズ106を介して線速一定若しくは回転速度一定で回転する光ディスク10に照射する。
【0029】
この時の再生レーザ光は、記録時にレーザ発振器103から出力されるレーザ光よりも強度の弱い再生レーザ光が用いられ、この再生レーザ光による光ディスク10からの反射光は、レンズ106、ハーフミラー105、レンズ107を介して受光部108で受光され、電気信号に変換される。
【0030】
受光部108から出力される電気信号は、光ディスク10に記録されたピット、ランドからなる記録パターンに対応している。この受光部108から出力される電気信号は、再生補償回路109で所定の補償処理がなされ、2値化回路110で2値化され、さらにデコーダ111で、デコードされて再生信号として出力される。
【0031】
さて、この図1に示した光情報記録再生装置においては、ストラテジ回路102に対して最適ストラテジの各種パラメータを設定するために、光ディスク10に対してストラテジの各種パラメータを変更して異なるストラテジにより所定の記録パターンを少なくとも2回記録するテスト記録を行う。
【0032】
そして、このテスト記録パターンをその後再生して、記録ずれ検出部112で、2値化回路110から出力される特定の再生パターンの中の特定のランド若しくはピットの長さずれを測定することにより
1)記録パルスに対するピットの前側位相ずれ量
2)記録パルスに対するピットの後側位相ずれ量
3)熱干渉による記録パルスからのピットずれ量
4)記録パルスに対するピットの長さずれ量
をそれぞれ独立に検出する。
【0033】
そして、演算式導出部113で、この記録ずれ検出部112で検出したずれ量とテスト記録の際に用いた少なくとも2つのストラテジに基づき、最適ストラテジを決定するための演算式を導出する。
【0034】
ストラテジ決定部114では、この演算式導出部113で導出した最適ストラテジを決定するための演算式を用いてテスト記録に用いた光ディスク10およびその記録条件に最適なレーザービームの記録パワーや記録パルスのパルス幅等を調整するためのストラテジを決定して、ストラテジ回路102に設定する。
【0035】
次に、図1に示した記録ずれ検出部112における記録パルスに対する各種ずれの検出原理について説明する。
【0036】
図2は、記録ずれ検出部112において記録パルスに対するピットの前側位相ずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【0037】
この記録パターンは、ピットPxT、ランドLyT、ピットPzTが連続するパターンで、ピットPxTのピット長およびランドLyTのランド長を固定してピットPzTのピット長を、図2(a)から図2(f)に示すように、3T、4T、・・・14Tと変化させたものである。
【0038】
ここで、この記録パターンの固定長のランドLyTの長さを測定すると、この固定長のランドLyTの長さは、理想の記録状態では一定になるはずである。
【0039】
しかし、この固定長のランドLyTの長さが理想の規定の長さからずれていると、ピットPxTのピット長は固定されているので、この固定長のランドLyT長の理想の規定長さのずれ量は記録時のストラテジにおける3T、4T、・・・14TのそれぞれのピットP3T、P4T、・・・P14Tの記録パルスに対する前側位相ずれ量に対応することになる。
【0040】
したがって、あるストラテジを用いて形成した記録パルスでテスト記録を行い、この記録パルスによるテスト記録の再生パターンから、記録ずれ検出部112において、固定長のランドLyTの長さの理想の長さからのずれ量を検出すれば、このストラテジに対応する記録パルスに対するピットPzT、すなわち、ピットP3T、P4T、・・・P14Tの前側位相ずれ量を検出することができる。
【0041】
図3は、あるストラテジを用いて形成した記録パルスに対するピットの前側位相ずれの一例を示した図である。
【0042】
図3において、図3(a)は、あるストラテジを用いて形成した記録パルスPを示し、図3(b)、図3(c)は、記録パルスPの前側縁PLEに対するあるピット長のピットPzTの前側位相ずれ量を示す。
【0043】
ここで、図3(b)、図3(c)は、ストラテジをS1からS2に変更し、それぞれのストラテジS1、S2を用いて形成した記録パルスPを用いてテスト記録を行った場合の記録パルスPからのピットPzTの前側位相ずれ量D1およびD2を示している。
【0044】
すなわち、図3(b)は、ストラテジS1を用いて形成した記録パルスPを用いてテスト記録を行った場合に、記録ずれ検出部112でピットPzTの前側は記録パルスPの前側縁PLEからD1だけずれていると検出された場合を示し、図3(c)は、ストラテジS2を用いて形成した記録パルスPを用いてテスト記録を行った場合に、記録ずれ検出部112で再生ピットPzTの前側は記録パルスPの前側縁PLEからD2だけずれていると検出された場合を示している。
【0045】
図4は、記録ずれ検出部112において記録パルスに対するピットの後側位相ずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【0046】
この記録パターンは、ピットPxT、ランドLyT、ピットPzTが連続するパターンで、ランドLyTのランド長およびピットPzTのピット長を固定してピットPxTのピット長を、図4(a)から図4(f)に示すように、3T、4T、・・・14Tと変化させたものである。
【0047】
ここで、この記録パターンの固定長のランドLyTの長さを測定すると、この固定長のランドLyTの長さは、理想の記録状態では一定になるはずである。
【0048】
しかし、この固定長のランドLyTの長さが理想の規定の長さからずれていると、ピットPzTのピット長は固定されているので、この固定長のランドLyT長の理想の規定長さからのずれ量は記録時のストラテジにおける3T、4T、・・・14TのそれぞれのピットP3T、P4T、・・・P14Tの記録パルスに対する後側位相ずれ量に対応することになる。
【0049】
したがって、あるストラテジを用いて形成した記録パルスでテスト記録を行い、この記録パルスによるテスト記録の再生パターンから、記録ずれ検出部112において、固定長のランドLyTの長さの理想の長さからのずれ量を検出すれば、このストラテジに対応する記録パルスに対するピットPxT、すなわち、ピットP3T、P4T、・・・P14の後側位相ずれ量を検出することができる。
【0050】
図5は、あるストラテジを用いて形成した記録パルスに対するピットの後側位相ずれの一例を示した図である。
【0051】
図5において、図5(a)は、あるストラテジ設定値を用いて形成した記録パルスPを示し、図5(b)、図5(c)は、記録パルスPの後側縁PTEに対するあるピット長のピットPzTの後側位相ずれを示す。
【0052】
ここで、図5(b)、図5(c)は、ストラテジをS1からS2に変更し、それぞれのストラテジS1、S2を用いて形成した記録パルスPを用いてテスト記録を行った場合の記録パルスPからのピットPxTの後側位相ずれ量D1およびD2を示している。
【0053】
すなわち、図5(b)は、ストラテジS1を用いて形成した記録パルスPを用いてテスト記録を行った場合に、記録ずれ検出部112でピットPxTの後側は記録パルスPの後側縁PTEからD1だけずれていると検出された場合を示し、図5(c)は、ストラテジS2を用いて形成した記録パルスPを用いてテスト記録を行った場合に、記録ずれ検出部112で再生ピットPxTの後側は記録パルスPの前側縁PTEからD2だけずれていると検出された場合を示している。
【0054】
図6は、記録ずれ検出部112において熱干渉による記録パルスからのピットずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【0055】
この記録パターンは、ランドLxT、ピットPyT、ランドLzTが連続するパターンで、ピットPyTのピット長およびランドLzTのランド長を固定してランドLxTのランド長を、図6(a)から図6(f)に示すように、3T、4T、・・・14Tと変化させたものである。
【0056】
ここで、この記録パターンの固定長のピットPyTの長さを測定すると、この固定長の固定長のピットPyTの長さは、理想の記録状態では一定になるはずである。
【0057】
しかし、この固定長のピットPyTの長さが理想の規定の長さからずれていると、ランドLzTのランド長は固定されているので、この固定長のランドLyT長の理想の規定長さのずれ量は記録時のストラテジにおける3T、4T、・・・14TのそれぞれのランドL3T、L4T、・・・L14Tのランドが先行するピットの記録パルスに対する前側位相ずれ、すなわち、前のピットの熱干渉による記録パルスからのピットずれ量に対応することになる。
【0058】
したがって、あるストラテジを用いて形成した記録パルスでテスト記録を行い、この記録パルスによるテスト記録の再生パターンから、記録ずれ検出部112において、固定長のピットPyTの長さの理想の長さからのずれ量を検出すれば、このストラテジに対応する記録パルスPに対するピットPyTの熱干渉による前側位相ずれ量を検出することができる。
【0059】
図7は、あるストラテジを用いて形成した記録パルスに対する熱干渉によるピットの前側位相ずれの一例を示した図である。
【0060】
図7において、図7(a)は、あるストラテジを用いて形成した記録パルスPを示し、図7(b)、図7(c)は、記録パルスPの前側縁PLEに対する熱干渉によるピットPyTの前側位相ずれを示す。
【0061】
ここで、図7(b)、図7(c)は、ストラテジをS1からS2に変更し、それぞれのストラテジS1、S2を用いて形成した記録パルスPを用いてテスト記録を行った場合の記録パルスPからのピットPyTの前側位相ずれ量D1およびD2を示している。
【0062】
すなわち、図7(b)は、ストラテジS1を用いて形成した記録パルスPを用いてテスト記録を行った場合に、記録ずれ検出部112でピットPyTの前側は記録パルスPの前側縁PLEからD1だけずれていると検出された場合を示し、図7(c)は、ストラテジS2を用いて形成した記録パルスPを用いてテスト記録を行った場合に、記録ずれ検出部112で再生ピットPzTの前側は記録パルスPの前側縁PLEからD2だけずれていると検出された場合を示している。
【0063】
図8は、記録ずれ検出部112において記録パルスに対するピットの長さずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【0064】
この記録パターンは、ランドLxT、ピットPyT、ランドLzTが連続するパターンで、ランドLxTのランド長およびランドLzTのランド長を固定してピットPyTのピット長を、図8(a)から図8(f)に示すように、3T、4T、・・・14Tと変化させたものである。
【0065】
ここで、この記録パターンの可変長のピットPyTの長さを測定すると、この可変長のピットPyTの長さは、理想の記録状態ではそれぞれ理想のピット長に対応するはずである。
【0066】
しかし、この可変長のピットPyTの長さが理想の規定の長さからずれていると、ランドLxTのランド長およびランドLzTのランド長は固定されているので、この可変長のピットPyTの規定長さからのずれ量は記録時のストラテジにおける3T、4T、・・・14TのそれぞれのピットP3T、P4T、・・・P14Tの記録パルスに対する長さずれ量に対応することになる。
【0067】
したがって、あるストラテジを用いて形成した記録パルスでテスト記録を行い、この記録パルスによるテスト記録の再生パターンから、記録ずれ検出部112において、可変長のピットPyTの長さの理想の長さからのずれ量を検出すれば、このストラテジに対応する記録パルスPに対するピットPyTの長さずれ量を検出することができる。
【0068】
図9は、あるストラテジを用いて形成した記録パルスに対するピットの長さずれの一例を示した図である。
【0069】
図9において、図9(a)は、あるストラテジを用いて形成した記録パルスPを示し、図9(b)、図9(c)は、記録パルスPに対するピットPyTの長さずれを示す。
【0070】
ここで、図9(b)、図9(c)は、ストラテジをS1からS2に変更し、それぞれのストラテジS1、S2を用いて形成した記録パルスPを用いてテスト記録を行った場合の記録パルスPに対するピットPyTの長さずれを示している。
【0071】
すなわち、図9(b)は、ストラテジS1を用いて形成した記録パルスPを用いてテスト記録を行った場合に、記録ずれ検出部112でピットPyTの長さは記録パルスPに対してD11+D12=D1だけずれていると検出された場合を示し、図9(c)は、ストラテジS2を用いて形成した記録パルスPを用いてテスト記録を行った場合に、記録ずれ検出部112でピットPzTの長さは記録パルスPに対してD21+D22=D2だけずれていると検出された場合を示している。
【0072】
なお、図3、図5、図7、図9においては、記録パルスPとして、メインパルスとこれに続く複数のサブパルスからなるマルチパルスを用いた場合を示している。
【0073】
また、記録パルスとしては、3T、4T、・・・14Tのそれぞれに対応するピットP3T、P4T、・・・P14Tを形成する場合を示している。
【0074】
ところで、上記記録ずれ検出部112で検出されるずれ量D1およびD2は、上述したように、ストラテジの各種設定パラメータにより変動する。そしてこのストラテジの各種設定パラメータにより変動するずれ量D1およびD2は、解析の結果ほぼ直線状に変化することが解明された。
【0075】
すなわち、上記記録ずれ検出部112で検出されるそれぞれのテスト記録におけるずれ量は、最小二乗法に基づき近似された直線状の変化として捉えることができることになる。
【0076】
そこで、この実施の形態の光情報記録再生装置においては、例えば、2回のテスト記録を行った場合には、ストラテジの各種設定パラメータと記録ずれ検出部112で検出した検出したずれ量D1およびD2との直線関係に着目して最適なストラテジを決定することができる。
【0077】
図10は、テスト記録に用いたストラテジSと記録ずれ検出部112でこのテスト記録の再生パターンから検出したずれ量Dとの関係の一例を示したものである。
【0078】
このテスト記録に用いたストラテジSと記録ずれ検出部112でこのテスト記録の再生パターンから検出したずれ量Dとの関係は、特定長の記録ピットに関して図10に示すようにほぼ直線PTで近似できる。
【0079】
したがって、この直線上の少なくとも2点、例えば、あるストラテジS1と記録ずれ検出部112でこのストラテジS1を用いたテスト記録の再生パターンから検出したずれ量D1および他のストラテジS2と記録ずれ検出部112でこのストラテジS1を用いたテスト記録の再生パターンから検出したずれ量D2とを求めれば、上記直線PTを特定することができ、この直線PTを用いて、例えば、ずれ量Dが零になる最適ストラテジSを求めることができる。
【0080】
具体的には、ストラテジSを数点変化させたときの、記録ずれ検出部112で検出したずれ量Dを求め、このときストラテジSおよびずれ量Dを直線を表す一般式
D=a×S+b
の式に代入し、連立方程式を解くことにより定数a、bを求め、最終的に理想のずれ量Dに対応するストラテジSを求め、このストラテジSをストラテジ回路102に設定することにより記録パルスの最適補正を行う。
【0081】
例えば、記録ずれ検出部112であるストラテジS1を用いたテスト記録の再生パターンから検出したずれ量がD1、他のストラテジS2を用いたテスト記録の再生パターンから検出したずれ量がD2であるとすると、
D1=a×S1+b
D2=a×S2+b
からaおよびbを算出し、該算出したaおよびbを用いた関数
S=(D−b)/a
を求め、この関数に、記録品位がを改善させるための、例えば、イコライザ等において生じる初期的な出力ずれ等を補正するための出力ずれ量Dを代入することで最適ストラテジSを決定する。
【0082】
なお、この最適ストラテジSを求める関数(直線PT)は、3T、4T、・・・14TのそれぞれのピットP3T、P4T、・・・P14Tに対応して求めることができる。また、この最適ストラテジSを求める関数は、記録速度に対応してもそれぞれ求めることができる。
【0083】
図11は、このような各ピットに対応する最適ストラテジSを求める関数の一例を示したものである。
【0084】
図11において、P3T、P4T、・・・P14Tは、それぞれピット長3T、4T、・・・14Tに対応する最適ストラテジSを求める関数に対応する。
【0085】
上述した実施の形態においては、2回のテスト記録を行った場合の最適ストラテジを決定する際に、各テスト記録においてそれぞれのずれ量を検出し、最小二乗法により直線PTを特定して最適ストラテジを決定する点について詳述しているが、これに限らず、3回もしくはそれ以上のテスト記録を行った場合にも、各々のテスト記録において検出される各ずれ量から、最小二乗法に基づいて直線PTを特定し、最適ストラテジ設定値を決定することができる。
【0086】
図12は、最適ストラテジを設定するための図1に示した光情報記録再生装置の動作の一例を示すフローチャートである。
【0087】
図1に示した光情報記録再生装置において、あるメーカの光ディスクに対して所定の記録速度で情報を記録する場合の最適ストラテジを求めるためには、この光情報記録再生装置に上記光ディスクをセットし、上記所定の記録速度でテスト記録を行う。
【0088】
このテスト記録は、まず、初期値のストラテジで1回目のテスト記録を行い(ステップ201)、次に、ストラテジを上記初期値から変更して上記初期値と異なるストラテジで2回目のテスト記録を行う(ステップ202)。
【0089】
ここで、テスト記録に使用される領域としては、例えば、CD−R、DVD−Rなどの光ディスクであれば、PCA(Power Calibration Area)領域を用いてもよく、また、例えば、Z−CLV方式のような記録方式の光ディスクであれば、そのデータ記録領域の一部あるいは全部を用いてもよい。
【0090】
上記テスト記録は、図2、図4、図6、図8に示す記録パターンのように、ピット長若しくはランド長を順次変えて行ってもよく、また、図2、図4、図6、図8に示す記録パターンが含まれるようなランダムな記録を行ってもよい。
【0091】
次に、上記記録パターンを再生し(ステップ203)、再生したテスト記録の中の特定の再生パターンを抽出して、この特定の再生パターの中の記録ずれ量を記録ずれ検出部112で図3、図5、図7、図9に示すようにして検出する(ステップ204)。
【0092】
そして、この記録ずれ検出部112で検出した記録ずれ量に基づき最適ストラテジを求めるための近似式を得る(ステップ205)。
【0093】
この最適ストラテジを求めるための近似式を得る処理は、図1に示した演算式導出部113で行われ、具体的には、上述した最適ストラテジSを求める関数を求める処理である。
【0094】
次に、この近似式を用いて最適ストラテジを決定する(ステップ206)。この最適ストラテジを決定する処理は、図1に示したストラテジ決定部114で行われ、具体的には、上述した最適ストラテジSを求める関数に記録品位を改善させるための、例えば、イコライザ等において生じる初期的な出力ずれ等を補正するための出力ずれ量Dを代入することで最適ストラテジSを決定する処理である。
【0095】
なお、ここで、最適ストラテジSを求める関数に記録品位を改善させるための出力づれ量Dを代入することで最適ストラテジSを決定する処理に代えて、上記関数から求めた補正テーブルを用意し、この補正テーブルに基づき最適ストラテジSを決定するように構成してもよい。
【0096】
このようにしてストラテジ決定部114で決定した最適ストラテジSは、図1に示したストラテジ回路102に設定され、これにより最適ストラテジの設定処理が終了する。
【0097】
なお、上記最適ストラテジの設定処理は、光ディスクの種別を変更する毎および記録速度を変更する毎に行ってもよいが、上記最適ストラテジの設定処理で決定された最適ストラテジを光ディスクの種別および記録速度に対応してメモリに記憶しておき、再度同一の種別の光ディスクで同一の記録速度の記録を行う場合は、このメモリに記憶した最適ストラテジを読み出してストラテジ回路102に設定するように構成してもよい。
【0098】
【発明の効果】
以上説明したようにこの発明によれば、ストラテジ回路のストラテジを変更して異なるストラテジにより光情報記録媒体上に少なくとも2回のテスト記録を行い、該テスト記録による記録パターンを再生し、該再生された再生パターンの中の特定のパターンに基づきストラテジ設定値の各種設定パラメータに関するずれ量を独立して検出し、該検出したずれ量とテスト記録に用いたストラテジとの関係から最適ストラテジを決定するように構成したので、各種設定パラメータを考慮した最適ストラテジを容易に決定して設定することができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係わる光情報記録方法および装置を適用して構成した光情報記録再生装置の要部を示すブロック図である。
【図2】図1に示した光情報記録再生装置のずれ検出部において記録パルスに対するピットの前側位相ずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【図3】あるストラテジを用いて形成した記録パルスに対するピットの前側位相ずれの一例を示した図である。
【図4】図1に示した光情報記録再生装置のずれ検出部において記録パルスに対するピットの後側位相ずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【図5】あるストラテジを用いて形成した記録パルスに対するピットの後側位相ずれの一例を示した図である。
【図6】図1に示した光情報記録再生装置のずれ検出部において熱干渉による記録パルスからのピットずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【図7】あるストラテジを用いて形成した記録パルスに対する熱干渉によるピットの前側位相ずれの一例を示した図である。
【図8】図1に示した光情報記録再生装置のずれ検出部において記録パルスに対するピットの長さずれ量を検出するための記録パターンの一例を示す図である。
【図9】あるストラテジ設定値を用いて形成した記録パルスに対するピットの長さずれの一例を示した図である。
【図10】テスト記録に用いたストラテジSとこのテスト記録の再生パターンから図1に示した光情報記録再生装置のずれ検出部で検出したずれ量Dとの関係の一例を示したグラフである。
【図11】各ピットに対応する最適ストラテジSを求める関数の一例を示したグラフである。
【図12】最適ストラテジを設定するための図1に示した光情報記録再生装置の動作の一例を示すフローチャートである。
【符号の説明】
10 光ディスク
101 エンコーダ
102 ストラテジ回路
103 レーザ発振器
104 レンズ
105 ハーフミラー
106 レンズ
107 レンズ
108 受光部
109 再生補償回路
110 2値化回路
111 デコーダ
112 記録ずれ検出部
113 演算式導出部
114 ストラテジ決定部
[0001]
TECHNICAL FIELD OF THE INVENTION
The present invention relates to an optical information recording method and apparatus having a strategy circuit for converting recording data into a desired recording pulse based on a predetermined write strategy, and in particular, to determine an optimal write strategy in consideration of various setting parameters. The present invention relates to an optical information recording method and apparatus.
[0002]
[Prior art]
Generally, when information is recorded on an optical information recording medium such as an optical disk, the recording data is modulated by an EFM (Eight to Fourteen Modulation) method, a recording pulse is formed based on the modulated signal, and the recording pulse is formed on the optical disk by the recording pulse. This is performed by controlling the intensity and the like of the irradiated laser beam and recording a mark called a pit on the recording layer of the optical disc.
[0003]
Here, a non-recording portion formed between the pits is called a land, and a recording pattern corresponding to the modulation signal is formed on the optical disk by the length of each pit and the length of each land. You.
[0004]
The pits are formed in the recording layer by using heat generated by the irradiation of the laser beam. Therefore, the recording pulse is formed in consideration of a heat storage effect at that time, thermal interference accompanying the formation of adjacent pits, and the like. Without this, it is not possible to form an accurate pit length and land length recording pattern.
[0005]
Therefore, the setting of various parameters for forming the recording pulse is called a write strategy (hereinafter simply referred to as a strategy), and the optical information recording apparatus is provided with a strategy circuit for executing the strategy.
[0006]
The strategy executed by this strategy circuit depends not only on the individual difference of the optical information recording apparatus, such as spot diameter variation of the pickup, variation in the mechanism accuracy, etc., but also depends on the manufacturer type and recording speed of the optical disc used for recording and reproduction. Here, if the optimal strategy is not set, the jitter at the time of reproduction increases, and accurate reproduction cannot be performed.
[0007]
To cope with this, an optimal strategy for an optical disc corresponding to each manufacturer type is determined, and this is stored in a memory in advance corresponding to each manufacturer type, and when recording information on the optical disc, the optical disc recorded on the optical disc is used. A method has also been proposed in which a manufacturer type is read, and an optimal strategy corresponding to the read manufacturer type is read from the memory and set in a strategy circuit.
[0008]
However, according to the above method, optimal recording can be performed on an optical disk of a manufacturer type stored in a memory in advance, but optimal recording can be performed on an optical disk of a manufacturer type not stored in a memory. In addition, optimal recording cannot be performed in this case if the recording speed is different even if the optical disk is of a manufacturer type stored in the memory in advance.
[0009]
Therefore, as shown in Patent Documents 1 and 2, a method has been proposed in which test recording is performed in advance for each recording condition, and an optimum strategy is determined based on the test recording so as to be compatible with various optical disks. I have.
[0010]
[Patent Document 1]
JP-A-5-144001
[Patent Document 2]
JP-A-4-137224
[Problems to be solved by the invention]
However, in the above-described conventional technique, it is not possible to determine which parameter needs to be adjusted and to what degree for a plurality of setting parameters of a strategy. For this reason, it is necessary to perform an optimal strategy setting corresponding to various parameters. Can not.
[0011]
In other words, as strategy setting parameters,
1) Front phase correction of recording pulse
2) Post-phase correction of recording pulse
3) Thermal interference correction
4) Recording mark length correction
The deviation amount is corrected by adjusting the recording power of the laser beam and the pulse width of the recording pulse, but these deviation amounts cannot be determined independently. The optimal strategy corresponding to the setting parameter cannot be determined.
[0012]
Therefore, an object of the present invention is to provide an optical recording information recording method and apparatus capable of accurately determining an optimal strategy in consideration of various setting parameters.
[0013]
[Means for Solving the Problems]
In order to achieve the above object, a first aspect of the present invention relates to an optical information recording method for recording information by converting recording data into recording pulses based on a predetermined write strategy. Irradiation is performed on a recording medium to perform recording, and a different recording pattern recorded by the different write strategy is reproduced, a new write strategy is determined according to a shift amount between the reproduced signals, and recording is performed according to the determination. It is characterized in that information is recorded by converting data into recording pulses.
[0014]
According to a second aspect of the present invention, there is provided an optical information recording apparatus having a strategy circuit for converting recording data into a recording pulse based on a predetermined write strategy, wherein various setting parameters of a write strategy of the strategy circuit are changed to change different write strategies. A test recording unit for performing at least two test recordings on the optical information recording medium by a strategy, a reproducing unit for reproducing a recording pattern recorded by the test recording unit, and a reproducing pattern reproduced by the reproducing unit. A deviation detecting means for independently detecting deviation amounts related to various setting parameters of the write strategy based on the specific pattern, and an optimum value based on a relationship between the deviation amount detected by the deviation detection unit and the write strategy used for the test recording. Strategy decision means for deciding write strategy Characterized by including the.
[0015]
According to a third aspect of the present invention, in the second aspect of the present invention, the shift detecting means includes a predetermined length of the fixed length land in a reproduction pattern in which a fixed length pit, a fixed length land, and a variable length pit follow. The phase shift amount of the front side of each pit is detected from the length shift of the pit.
[0016]
According to a fourth aspect of the present invention, in the second aspect of the present invention, the shift detecting means includes a variable length pit, a fixed length land, and a prescribed length of the fixed length land in a reproduction pattern following the fixed length pit. The amount of rear phase shift of each pit is detected from the length shift of the pit.
[0017]
According to a fifth aspect of the present invention, in the second aspect of the present invention, the displacement detecting means includes a predetermined length of the fixed length pit in a reproduction pattern in which a variable length land, a fixed length pit, and a fixed length land continue. The amount of pit shift due to thermal interference of each pit corresponding to each land is detected from the length shift from the pit.
[0018]
According to a sixth aspect of the present invention, in the second aspect of the present invention, the shift detecting means includes a fixed length land, a variable length pit, and a defined length of the variable length pit in a reproduction pattern following the fixed length land. It is characterized in that the length shift amount of each pit is detected from the length shift from the pit.
[0019]
According to a seventh aspect of the present invention, in the second aspect of the present invention, the strategy determining means determines an optimal write strategy based on a least square method from a shift amount in each test record detected by the shift detecting means. It is characterized by.
[0020]
According to an eighth aspect of the present invention, in the second aspect of the present invention, the strategy determination means sets the shift amount in the test recording by the first write strategy S1 detected by the shift detection means to D1, the second write strategy When the deviation amount in the test record by S2 is D2, simultaneous equations
D1 = a × S1 + b
D2 = a × S2 + b
A and b are calculated from the following, and a function using the calculated a and b
S = (D−b) / a
The optimum write strategy S is determined based on
[0021]
According to a ninth aspect of the present invention, in the second aspect of the present invention, the strategy determining means includes the function
S = (D−b) / a
And the optimum write strategy S is determined based on the correction table.
[0022]
BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION
Hereinafter, embodiments of an optical information recording method and apparatus according to the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
[0023]
FIG. 1 is a block diagram showing a main part of an optical information recording / reproducing apparatus configured by applying the optical information recording apparatus and method according to the present invention.
[0024]
In FIG. 1, the optical information recording / reproducing apparatus records / reproduces information on / from an optical disk 10 using a laser beam output from a laser oscillator 103.
[0025]
When information is recorded on the optical disk 10, a recording signal corresponding to desired recording information is encoded by the encoder 101 by the EFM method, and the encoded recording data is added to the strategy circuit 102.
[0026]
Here, various setting parameters of a predetermined strategy are set in the strategy circuit 102. The strategy circuit 102 corrects recording data to perform desired recording by using the various setting parameters of the strategy, A recording pulse for controlling the intensity of the output laser light is formed.
[0027]
The recording pulse formed by the strategy circuit 102 is added to the laser oscillator 103, and the laser oscillator 103 controls the output laser light in accordance with the recording pulse, and outputs the controlled laser light to the lens 104 and the half mirror. Irradiation is performed on the optical disk 10 rotating at a constant linear velocity or a constant rotation speed via a lens 105 and a lens 106, thereby recording a recording pattern including pits and lands corresponding to the recording data on the optical disk 10.
[0028]
When information recorded on the optical disk 10 is reproduced, a uniform reproduction laser beam is emitted from the laser oscillator 103 via the lens 104, the half mirror 105, and the lens 106 at a constant linear speed or a constant rotation speed. Irradiation.
[0029]
At this time, a reproducing laser beam having a lower intensity than the laser beam output from the laser oscillator 103 at the time of recording is used as the reproducing laser beam. The light is received by the light receiving unit 108 via the lens 107 and is converted into an electric signal.
[0030]
The electric signal output from the light receiving unit 108 corresponds to a recording pattern including pits and lands recorded on the optical disc 10. The electric signal output from the light receiving unit 108 is subjected to predetermined compensation processing in a reproduction compensation circuit 109, binarized in a binarization circuit 110, further decoded in a decoder 111, and output as a reproduction signal.
[0031]
Now, in the optical information recording / reproducing apparatus shown in FIG. 1, in order to set various parameters of the optimal strategy for the strategy circuit 102, various parameters of the strategy are changed for the optical disc 10 and predetermined parameters are set by different strategies. Is performed at least twice.
[0032]
Then, the test recording pattern is reproduced thereafter, and the recording deviation detection unit 112 measures the length deviation of a specific land or pit in the specific reproduction pattern output from the binarization circuit 110.
1) Phase shift amount of the front side of the pit with respect to the recording pulse
2) The amount of phase shift behind the pit with respect to the recording pulse
3) Amount of pit deviation from recording pulse due to thermal interference
4) Pit length deviation amount with respect to recording pulse
Are independently detected.
[0033]
Then, the arithmetic expression deriving unit 113 derives an arithmetic expression for determining an optimal strategy based on the deviation amount detected by the recording deviation detecting unit 112 and at least two strategies used in test recording.
[0034]
The strategy determining unit 114 uses an arithmetic expression for determining the optimal strategy derived by the arithmetic expression deriving unit 113 and uses the optical disk 10 used for test recording and the recording power of the laser beam and the recording pulse optimal for the recording conditions. A strategy for adjusting a pulse width or the like is determined and set in the strategy circuit 102.
[0035]
Next, the principle of detecting various shifts with respect to a recording pulse in the write shift detecting unit 112 shown in FIG. 1 will be described.
[0036]
FIG. 2 is a diagram showing an example of a recording pattern for detecting the amount of phase shift of the front side of a pit with respect to a recording pulse in the recording shift detecting unit 112.
[0037]
This recording pattern is a pattern in which pits PxT, lands LyT, and pits PzT are successively formed. As shown in f), it is changed to 3T, 4T,... 14T.
[0038]
Here, when the length of the fixed-length land LyT of the recording pattern is measured, the length of the fixed-length land LyT should be constant in an ideal recording state.
[0039]
However, if the length of the fixed-length land LyT deviates from the ideal prescribed length, the pit length of the pit PxT is fixed, so that the fixed-length land LyT has an ideal prescribed length. The shift amount corresponds to the front phase shift amount with respect to the recording pulse of each of the pits P3T, P4T,... P14T of 3T, 4T,.
[0040]
Therefore, test recording is performed using a recording pulse formed by using a certain strategy, and the reproduction pattern of the test recording based on the recording pulse is used by the recording displacement detection unit 112 to determine the length of the fixed length land LyT from the ideal length. If the shift amount is detected, it is possible to detect the front phase shift amount of the pits PzT for the recording pulse corresponding to this strategy, that is, the pits P3T, P4T,.
[0041]
FIG. 3 is a diagram illustrating an example of a front phase shift of a pit with respect to a recording pulse formed using a certain strategy.
[0042]
3A shows a recording pulse P formed by using a certain strategy, and FIGS. 3B and 3C show pits having a certain pit length with respect to the front edge PLE of the recording pulse P. FIG. 9 shows the front-side phase shift amount of PzT.
[0043]
Here, FIG. 3B and FIG. 3C show the case where the strategy is changed from S1 to S2, and the test recording is performed using the recording pulse P formed using the respective strategies S1 and S2. The phase shift amounts D1 and D2 of the front side of the pit PzT from the pulse P are shown.
[0044]
That is, FIG. 3B shows that, when test recording is performed using the recording pulse P formed by using the strategy S1, the recording shift detecting unit 112 moves the front side of the pit PzT from the front edge PLE of the recording pulse P to D1. FIG. 3C shows a case where test recording is performed using the recording pulse P formed using the strategy S2, and the recording shift detecting unit 112 detects the reproduction pit PzT. The front side shows a case where it is detected that the recording pulse P is shifted from the front side edge PLE by D2.
[0045]
FIG. 4 is a diagram illustrating an example of a recording pattern for detecting the amount of phase shift behind a pit with respect to a recording pulse in the recording shift detecting unit 112.
[0046]
This recording pattern is a pattern in which pits PxT, lands LyT, and pits PzT are consecutive. As shown in f), it is changed to 3T, 4T,... 14T.
[0047]
Here, when the length of the fixed-length land LyT of the recording pattern is measured, the length of the fixed-length land LyT should be constant in an ideal recording state.
[0048]
However, if the length of the fixed-length land LyT deviates from the ideal prescribed length, the pit length of the pit PzT is fixed. .. 14T in the strategy at the time of recording corresponds to the rear phase shift amount with respect to the recording pulse of each of the pits P3T, P4T,.
[0049]
Therefore, test recording is performed using a recording pulse formed by using a certain strategy, and the reproduction pattern of the test recording based on the recording pulse is used by the recording displacement detection unit 112 to determine the length of the fixed length land LyT from the ideal length. If the shift amount is detected, it is possible to detect the pit PxT for the recording pulse corresponding to this strategy, that is, the rear phase shift amount of the pits P3T, P4T,... P14.
[0050]
FIG. 5 is a diagram illustrating an example of a rear phase shift of a pit with respect to a recording pulse formed using a certain strategy.
[0051]
5A shows a recording pulse P formed using a certain strategy setting value, and FIGS. 5B and 5C show a certain pit with respect to the trailing edge PTE of the recording pulse P. The rear phase shift of the long pit PzT is shown.
[0052]
Here, FIG. 5B and FIG. 5C show the case where the strategy is changed from S1 to S2, and the test recording is performed using the recording pulse P formed using the respective strategies S1 and S2. The rear phase shift amounts D1 and D2 of the pit PxT from the pulse P are shown.
[0053]
That is, FIG. 5B shows that, when test recording is performed using the recording pulse P formed by using the strategy S1, the trailing edge PTE of the recording pulse P FIG. 5 (c) shows a case where a test recording is performed using a recording pulse P formed by using the strategy S2, and a recording pit is detected by the recording deviation detecting unit 112. The rear side of PxT shows a case where it is detected that the rear side is shifted by D2 from the front side edge PTE of the recording pulse P.
[0054]
FIG. 6 is a diagram illustrating an example of a recording pattern for detecting a pit deviation amount from a recording pulse due to thermal interference in the recording deviation detection unit 112.
[0055]
This recording pattern is a pattern in which a land LxT, a pit PyT, and a land LzT are continuous. The pit length of the pit PyT and the land length of the land LzT are fixed, and the land length of the land LxT is changed from FIG. 6A to FIG. As shown in f), it is changed to 3T, 4T,... 14T.
[0056]
Here, when the length of the fixed-length pit PyT of the recording pattern is measured, the length of the fixed-length pit PyT of the fixed length should be constant in an ideal recording state.
[0057]
However, if the length of the fixed-length pit PyT deviates from the ideal prescribed length, the land length of the land LzT is fixed. The shift amount is a front phase shift of the pits preceding the pits with the lands L3T, L4T,... L14T of the lands 3T, 4T,. Corresponds to the shift amount of the pit from the recording pulse.
[0058]
Therefore, test recording is performed with a recording pulse formed by using a certain strategy, and from the reproduction pattern of the test recording by this recording pulse, the recording shift detecting unit 112 determines the length of the fixed-length pit PyT from the ideal length. If the shift amount is detected, it is possible to detect the front-side shift amount due to thermal interference of the pit PyT with the recording pulse P corresponding to this strategy.
[0059]
FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a front-side phase shift of a pit due to thermal interference with a recording pulse formed using a certain strategy.
[0060]
7A shows a recording pulse P formed by using a certain strategy, and FIGS. 7B and 7C show pits PyT due to thermal interference with the leading edge PLE of the recording pulse P. FIG. Of FIG.
[0061]
Here, FIG. 7B and FIG. 7C show the case where the strategy is changed from S1 to S2, and the test recording is performed using the recording pulse P formed using the respective strategies S1 and S2. The phase shift amounts D1 and D2 on the front side of the pit PyT from the pulse P are shown.
[0062]
That is, FIG. 7B shows that, when test recording is performed using the recording pulse P formed by using the strategy S1, the recording shift detecting unit 112 sets the front side of the pit PyT from the front edge PLE of the recording pulse P to D1. FIG. 7C shows a case where test recording is performed using a recording pulse P formed by using the strategy S2. The front side shows a case where it is detected that the recording pulse P is shifted from the front side edge PLE by D2.
[0063]
FIG. 8 is a diagram illustrating an example of a recording pattern for detecting a deviation amount of a pit length with respect to a recording pulse in the recording deviation detection unit 112.
[0064]
This recording pattern is a pattern in which a land LxT, a pit PyT, and a land LzT are continuous. The land length of the land LxT and the land length of the land LzT are fixed, and the pit length of the pit PyT is set as shown in FIGS. As shown in f), it is changed to 3T, 4T,... 14T.
[0065]
Here, when measuring the length of the variable-length pit PyT of the recording pattern, the length of the variable-length pit PyT should correspond to the ideal pit length in an ideal recording state.
[0066]
However, if the length of the variable-length pit PyT deviates from the ideal specified length, the land length of the land LxT and the land length of the land LzT are fixed. The amount of deviation from the length corresponds to the amount of deviation of the pits P3T, P4T,... P14T of 3T, 4T,.
[0067]
Therefore, test recording is performed using a recording pulse formed by using a certain strategy, and from the reproduction pattern of the test recording using this recording pulse, the recording shift detecting unit 112 determines the length of the variable-length pit PyT from the ideal length. If the shift amount is detected, the length shift amount of the pit PyT with respect to the recording pulse P corresponding to this strategy can be detected.
[0068]
FIG. 9 is a diagram showing an example of a pit length shift with respect to a recording pulse formed using a certain strategy.
[0069]
In FIG. 9, FIG. 9A shows a recording pulse P formed using a certain strategy, and FIGS. 9B and 9C show a shift in the length of the pit PyT with respect to the recording pulse P.
[0070]
Here, FIG. 9B and FIG. 9C show a case where the strategy is changed from S1 to S2, and the test recording is performed using the recording pulse P formed by using each of the strategies S1 and S2. The length shift of the pit PyT with respect to the pulse P is shown.
[0071]
That is, FIG. 9B shows that, when test recording is performed using the recording pulse P formed by using the strategy S1, the length of the pit PyT is set to D11 + D12 = FIG. 9C shows a case where it is detected that the pit PzT is shifted by D1. When the test recording is performed using the recording pulse P formed by using the strategy S2, the recording shift detecting unit 112 detects the pit PzT. The length indicates a case where it is detected that the recording pulse P is shifted by D21 + D22 = D2.
[0072]
Note that FIGS. 3, 5, 7, and 9 show a case where a multi-pulse including a main pulse and a plurality of sub-pulses following the main pulse is used as the recording pulse P.
[0073]
Also, the case where pits P3T, P4T,... P14T corresponding to 3T, 4T,.
[0074]
Incidentally, the deviation amounts D1 and D2 detected by the recording deviation detection unit 112 vary according to various setting parameters of the strategy, as described above. As a result of the analysis, it has been found that the deviation amounts D1 and D2 that fluctuate due to various setting parameters of this strategy change substantially linearly.
[0075]
That is, the amount of deviation in each test recording detected by the recording deviation detection unit 112 can be regarded as a linear change approximated based on the least squares method.
[0076]
Therefore, in the optical information recording / reproducing apparatus of this embodiment, for example, when two test recordings are performed, various setting parameters of the strategy and the deviation amounts D1 and D2 detected by the recording deviation detection unit 112 are detected. The optimal strategy can be determined by focusing on the linear relationship with
[0077]
FIG. 10 shows an example of the relationship between the strategy S used for test recording and the amount of deviation D detected from the reproduction pattern of the test recording by the recording deviation detection unit 112.
[0078]
The relationship between the strategy S used for the test recording and the amount of deviation D detected from the reproduction pattern of the test recording by the recording deviation detection unit 112 can be approximated by a substantially straight line PT as shown in FIG. .
[0079]
Accordingly, at least two points on this straight line, for example, a certain strategy S1 and the recording deviation detecting unit 112, the deviation amount D1 detected from the reproduction pattern of the test recording using this strategy S1 and the other strategy S2 and the recording deviation detecting unit 112. Then, if the shift amount D2 detected from the reproduction pattern of the test recording using the strategy S1 is obtained, the straight line PT can be specified. Strategy S can be determined.
[0080]
Specifically, the amount of deviation D detected by the recording deviation detection unit 112 when the strategy S is changed by several points is obtained, and the strategy S and the amount of deviation D are expressed by a general formula representing a straight line.
D = a × S + b
By solving the simultaneous equations, constants a and b are obtained, finally a strategy S corresponding to the ideal deviation amount D is obtained, and this strategy S is set in the strategy circuit 102 to obtain the recording pulse. Perform optimal correction.
[0081]
For example, suppose that the deviation detected from the reproduction pattern of the test recording using the strategy S1 as the recording deviation detection unit 112 is D1, and the deviation detected from the reproduction pattern of the test recording using the other strategy S2 is D2. ,
D1 = a × S1 + b
D2 = a × S2 + b
A and b are calculated from the following, and a function using the calculated a and b
S = (D−b) / a
The optimum strategy S is determined by substituting an output shift amount D for improving the recording quality, for example, for correcting an initial output shift or the like occurring in an equalizer or the like into this function.
[0082]
The function (straight line PT) for finding the optimal strategy S can be found for each of the pits P3T, P4T,... P14T of 3T, 4T,. Further, the function for obtaining the optimum strategy S can be obtained for each recording speed.
[0083]
FIG. 11 shows an example of a function for obtaining the optimal strategy S corresponding to each pit.
[0084]
In FIG. 11, P3T, P4T,..., P14T correspond to functions for finding the optimal strategy S corresponding to the pit lengths 3T, 4T,.
[0085]
In the above-described embodiment, when determining the optimal strategy when two test recordings are performed, the amount of deviation is detected in each test recording, the straight line PT is specified by the least square method, and the optimal strategy is determined. The details of the determination are described in detail. However, the present invention is not limited to this, and even if three or more test records are performed, the amount of deviation detected in each test record is calculated based on the least squares method. Thus, the straight line PT is specified, and the optimal strategy set value can be determined.
[0086]
FIG. 12 is a flowchart showing an example of the operation of the optical information recording / reproducing apparatus shown in FIG. 1 for setting an optimal strategy.
[0087]
In the optical information recording / reproducing apparatus shown in FIG. 1, in order to obtain an optimum strategy for recording information on an optical disc of a certain manufacturer at a predetermined recording speed, the optical disc is set in the optical information recording / reproducing apparatus. The test recording is performed at the predetermined recording speed.
[0088]
In this test recording, first, the first test recording is performed with the strategy of the initial value (step 201), and then the strategy is changed from the initial value, and the second test recording is performed with a strategy different from the initial value. (Step 202).
[0089]
Here, as an area used for test recording, for example, a PCA (Power Calibration Area) area may be used as long as the optical disk is a CD-R, a DVD-R, or the like. In the case of an optical disk of such a recording system, a part or all of the data recording area may be used.
[0090]
The test recording may be performed by sequentially changing the pit length or the land length as in the recording patterns shown in FIGS. 2, 4, 6, and 8, and FIGS. 2, 4, 6, and 6. 8 may be randomly recorded so as to include the recording pattern shown in FIG.
[0091]
Next, the recording pattern is reproduced (step 203), a specific reproduction pattern is extracted from the reproduced test recording, and the recording deviation amount in the specific reproduction pattern is determined by the recording deviation detecting unit 112 in FIG. , FIG. 5, FIG. 7, and FIG. 9 (step 204).
[0092]
Then, an approximate expression for obtaining an optimum strategy based on the recording deviation amount detected by the recording deviation detecting unit 112 is obtained (step 205).
[0093]
The process of obtaining the approximate expression for obtaining the optimal strategy is performed by the arithmetic expression deriving unit 113 shown in FIG. 1, and specifically, the process of obtaining the above-described function for obtaining the optimal strategy S.
[0094]
Next, an optimal strategy is determined using this approximate expression (step 206). The processing for determining the optimal strategy is performed by the strategy determining unit 114 shown in FIG. 1, and specifically, occurs in, for example, an equalizer or the like for improving the recording quality in the function for obtaining the optimal strategy S described above. This is a process of determining an optimal strategy S by substituting an output deviation amount D for correcting an initial output deviation or the like.
[0095]
Here, instead of the process of determining the optimum strategy S by substituting the output deviation amount D for improving the recording quality into the function for obtaining the optimum strategy S, a correction table obtained from the above function is prepared. The optimal strategy S may be determined based on this correction table.
[0096]
The optimal strategy S determined by the strategy determining unit 114 in this way is set in the strategy circuit 102 shown in FIG. 1, whereby the optimal strategy setting process ends.
[0097]
The above-described optimum strategy setting process may be performed each time the type of the optical disk is changed and each time the recording speed is changed. However, the optimum strategy determined in the above-described optimum strategy setting process is determined by the type of the optical disk and the recording speed. In the case where recording is performed again at the same recording speed on an optical disc of the same type, the optimal strategy stored in this memory is read out and set in the strategy circuit 102 when the recording is performed again. Is also good.
[0098]
【The invention's effect】
As described above, according to the present invention, the strategy of the strategy circuit is changed, test recording is performed at least twice on the optical information recording medium by a different strategy, and a recording pattern by the test recording is reproduced. Based on a specific pattern among the reproduced patterns, the amount of deviation of each set parameter of the strategy setting value is independently detected, and an optimal strategy is determined from the relationship between the detected amount of deviation and the strategy used for test recording. With this configuration, it is possible to easily determine and set the optimal strategy in consideration of various setting parameters.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 is a block diagram showing a main part of an optical information recording / reproducing apparatus configured by applying an optical information recording method and apparatus according to the present invention.
FIG. 2 is a diagram showing an example of a recording pattern for detecting a front phase shift amount of a pit with respect to a recording pulse in a shift detector of the optical information recording / reproducing apparatus shown in FIG.
FIG. 3 is a diagram illustrating an example of a front phase shift of a pit with respect to a recording pulse formed using a certain strategy.
FIG. 4 is a diagram showing an example of a recording pattern for detecting a rear phase shift amount of a pit with respect to a recording pulse in a shift detector of the optical information recording / reproducing apparatus shown in FIG.
FIG. 5 is a diagram illustrating an example of a rear phase shift of a pit with respect to a recording pulse formed using a certain strategy.
6 is a diagram showing an example of a recording pattern for detecting a pit deviation amount from a recording pulse due to thermal interference in a deviation detecting unit of the optical information recording / reproducing apparatus shown in FIG.
FIG. 7 is a diagram illustrating an example of a front-side phase shift of a pit due to thermal interference with a recording pulse formed using a certain strategy.
8 is a diagram showing an example of a recording pattern for detecting a shift length of a pit with respect to a recording pulse in a shift detecting unit of the optical information recording / reproducing apparatus shown in FIG.
FIG. 9 is a diagram showing an example of a pit length shift with respect to a recording pulse formed using a certain strategy setting value.
10 is a graph showing an example of a relationship between a strategy S used for test recording and a shift amount D detected by a shift detecting unit of the optical information recording / reproducing apparatus shown in FIG. 1 from a reproduction pattern of the test recording. .
FIG. 11 is a graph showing an example of a function for finding an optimal strategy S corresponding to each pit.
FIG. 12 is a flowchart showing an example of the operation of the optical information recording / reproducing apparatus shown in FIG. 1 for setting an optimal strategy.
[Explanation of symbols]
10 Optical disk
101 Encoder
102 Strategy circuit
103 laser oscillator
104 lens
105 Half mirror
106 lenses
107 lenses
108 Receiver
109 Reproduction compensation circuit
110 binarization circuit
111 decoder
112 Recording deviation detecting unit
113 Operation expression derivation unit
114 Strategy decision unit

Claims (9)

所定のライトストラテジに基づき記録データを記録パルスに変換して情報を記録する光情報録方法において、
異なるライトストラテジを用いて記録パルスを光情報記録媒体上に照射して記録を行い、
前記異なるライトストラテジにより記録された異なる記録パターンを再生し、
該再生された信号間のずれ量に応じて新たなライトストラテジを決定し、
前記決定に従って記録データを記録パルスに変換して情報を記録する
ことを特徴とする光情報録方法。
In an optical information recording method of recording information by converting recording data into a recording pulse based on a predetermined write strategy,
Recording is performed by irradiating a recording pulse on the optical information recording medium using a different write strategy,
Playing different recording patterns recorded by the different write strategies,
A new write strategy is determined according to the amount of deviation between the reproduced signals,
An optical information recording method, comprising: converting recording data into a recording pulse in accordance with the determination; and recording information.
所定のライトストラテジに基づき記録データを記録パルスに変換するストラテジ回路を有する光情報記録装置において、
前記ストラテジ回路のライトストラテジの各種設定パラメータを変更してそれぞれ異なるライトストラテジにより前記光情報記録媒体上に少なくとも2回のテスト記録を行うテスト記録手段と、
前記テスト記録手段により記録された記録パターンを再生する再生手段と、
前記再生手段により再生された再生パターンの中の特定のパターンに基づき前記ライトストラテジの各種設定パラメータに関するずれ量を独立して検出するずれ検出手段と、
前記ずれ検出手段により検出したずれ量と前記テスト記録に用いたライトストラテジとの関係から最適ライトストラテジを決定するストラテジ決定手段と
を具備することを特徴とする光情報記録装置。
In an optical information recording apparatus having a strategy circuit for converting recording data into a recording pulse based on a predetermined write strategy,
Test recording means for changing various setting parameters of a write strategy of the strategy circuit and performing test recording on the optical information recording medium at least twice by different write strategies,
Reproducing means for reproducing a recording pattern recorded by the test recording means,
A deviation detecting unit that independently detects deviation amounts related to various setting parameters of the write strategy based on a specific pattern among reproduction patterns reproduced by the reproduction unit;
An optical information recording apparatus, comprising: a strategy determining means for determining an optimum write strategy from a relationship between a shift amount detected by the shift detecting means and a write strategy used for the test recording.
前記ずれ検出手段は、
固定長ピット、固定長ランド、可変長ピットが続く再生パターンの中の前記固定長ランドの長さの規定長からの長さずれから各ピットの前側位相ずれ量を検出する
ことを特徴とする請求項2記載の光情報記録装置。
The deviation detecting means includes:
A method for detecting a front phase shift amount of each pit from a length shift of a length of the fixed length land from a specified length in a reproduction pattern including a fixed length pit, a fixed length land, and a variable length pit. Item 3. The optical information recording device according to Item 2.
前記ずれ検出手段は、
可変長ピット、固定長ランド、固定長ピットが続く再生パターンの中の前記固定長ランドの長さの規定長からの長さずれから各ピットの後側位相ずれ量を検出する
ことを特徴とする請求項2記載の光情報記録装置。
The deviation detecting means includes:
The method is characterized in that a rear phase shift amount of each pit is detected from a length shift from a specified length of the fixed length land in a reproduction pattern in which a variable length pit, a fixed length land, and a fixed length pit continue. The optical information recording device according to claim 2.
前記ずれ検出手段は、
可変長ランド、固定長ピット、固定長ランドが続く再生パターンの中の前記固定長ピットの長さの規定長からの長さずれから各ランドに対応する各ピットの熱干渉によるピットずれ量を検出する
ことを特徴とする請求項2記載の光情報記録装置。
The deviation detecting means includes:
Detects the amount of pit deviation due to thermal interference of each pit corresponding to each land from the deviation of the length of the fixed length pit from the specified length in the reproduction pattern that follows the variable length land, fixed length pit, and fixed length land 3. The optical information recording apparatus according to claim 2, wherein:
前記ずれ検出手段は、
固定長ランド、可変長ピット、固定長ランドが続く再生パターンの中の前記可変長ピットの長さの規定長からの長さずれから各ピットの長さずれ量を検出する
ことを特徴とする請求項2記載の光情報記録装置。
The deviation detecting means includes:
A method of detecting a length shift amount of each pit from a length shift from a specified length of the length of the variable length pit in a reproduction pattern including a fixed length land, a variable length pit, and a fixed length land. Item 3. The optical information recording device according to Item 2.
前記ストラテジ決定手段は、
前記ずれ検出手段により検出されたそれぞれのテスト記録におけるずれ量から最小二乗法に基づき最適ライトストラテジを決定する
ことを特徴とする請求項2記載の光情報記録装置。
The strategy determination means,
3. The optical information recording apparatus according to claim 2, wherein an optimum write strategy is determined based on a least squares method from a deviation amount in each test recording detected by the deviation detection unit.
前記ストラテジ決定手段は、
前記ずれ検出手段により検出した第1のライトストラテジS1によるテスト記録でのずれ量をD1、第2のライトストラテジS2によるテスト記録でのずれ量をD2とするとき、連立方程式
D1=a×S1+b
D2=a×S2+b
からaおよびbを算出し、該算出したaおよびbを用いた関数
S=(D−b)/a
に基づき最適ライトストラテジSを決定する
ことを特徴とする請求項1記載の光情報記録装置。
The strategy determination means,
Assuming that the shift amount in the test recording by the first write strategy S1 detected by the shift detecting means is D1 and the shift amount in the test recording by the second write strategy S2 is D2, the simultaneous equations D1 = a × S1 + b
D2 = a × S2 + b
A and b are calculated from the above, and a function S = (D−b) / a using the calculated a and b
2. The optical information recording apparatus according to claim 1, wherein the optimum write strategy S is determined based on the following.
前記ストラテジ決定手段は、
前記関数
S=(D−b)/a
から求めた補正テーブルを有し、該補正テーブルに基づき最適ライトストラテジSを決定する
ことを特徴とする請求項2記載の光情報記録装置。
The strategy determination means,
The function S = (D−b) / a
3. The optical information recording apparatus according to claim 2, further comprising a correction table obtained from the correction table, and determining an optimum write strategy S based on the correction table.
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