JP4072368B2 - インサービス試験方法および試験光遮断フィルタ有無判定装置 - Google Patents
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Description
【発明の属する技術分野】
本発明は、光線路の特性試験を行うときのインサービス試験方法およびこれに用いる試験光遮断フィルタ有無判定装置に関する。
【0002】
【従来の技術】
デジタル伝送の高速かつ高品質のサービスに対応すべく、光通信方式を用いたサービスの導入が拡大されている。この光通信方式を用いたサービスの提供では、安定性の高いサービスを提供する上で、光ファイバケーブル等で構成される光線路の特性試験を通信光を劣化させず、より確実に行うことのできる方法が必要となる。
【0003】
図8は、通信中の光ファイバの特性試験を実施するための設備の概略構成を示すブロック図である。局内装置1と加入者端末7とは、光カプラ2及び光ファイバ3を介して接続されており、通信光10が双方向に伝送される。
【0004】
インサービス試験システム9は、同システムを制御する制御部25、既設光線路の設備構成について少なくとも試験光遮断フィルタ8の設置の有無を記憶した設備記録データベース22、特性試験の対象とする光ファイバを任意に選択できる光ファイバ選択部24、パルス光により形成される試験光11を用いて光ファイバ3の特性試験を実行する光パルス試験部23を有する構成である。
【0005】
加入者端末7の手前には試験光11を反射するための波長依存型の試験光遮断フィルタ8が設置される。
【0006】
加入者端末7は、受けた光を電気信号に光電変換する光受信機12と、光電変換した電気信号のうち、通信光を光電変換した通信信号を通過させる帯域フィルタ13と、帯域フィルタ13を通過した電気信号を受信する受信機14を有する構成である。
【0007】
図9は、インサービス試験システム9を用いて光ファイバの特性試験を行うときの処理の一例を示すフローチャートである。
【0008】
通信中の光ファイバについて特性試験を行う場合は、まず、光ファイバ選択部24により、特性試験の対象となる光ファイバ3を指定する(step21)。そして、指定した光ファイバ3の遠端に試験光遮断フィルタ8が設置されているか否かを設備記録データベース22に照合する(step22)。照合の結果、試験光遮断フィルタが有るということが記録されている場合は特性試験を実行し、この記録が無い場合は特性試験を中止する(step23)。
【0009】
特性試験の実行は、光パルス試験部23が試験光11を光ファイバ選択部24および光カプラ2を介して加入者端末7に伝送し、試験光遮断フィルタ8が試験光11を反射したときの反射光の強度を光パルス試験部23で測定することにより行われる。
【0010】
ところが、試験光遮断フィルタ8が実際には光ファイバ3の遠端に設置されていないにもかかわらず、誤って特性試験が実行された場合には、試験光11と通信光10は同時に加入者端末7の光受信機12で受光され、試験光11は通信光10と共に電気信号に変換されてしまう。
【0011】
図10は、このような場合に通信光10および試験光11を光電変換した後の通信信号および試験信号のスペクトルの一例を示す模式図である。同図が示すように、帯域フィルタ13によって試験信号はある程度遮断されるものの、周波数領域では通信信号と試験信号とで重畳が生じるため、この重畳された周波数成分が雑音となり通信信号に影響を与えてしまう。このことを詳細に説明すると次のようになる。
【0012】
パルス光が、通信光と比較して十分に低速(例えば622Mbpsのデータレートに対して1μsのパルス幅)でパルス変調されていると仮定する。この時、パルス光が加入者端末7に入射した場合の符号誤り率(BER)は以下の式で与えられる。
【0013】
【数1】
ここで、Dはパルス光のデューティ、SDは通信光の等価入力信号電流、σ0 2は通信光のみが加入者端末に入射しているときの加入者端末での等価入力雑音電流の全分散、SOTDRはパルス光の等価入力雑音電流、σ1 2は通信光とパルス光が同時に加入者端末に入射しているときの加入者端末での等価入力雑音電流である。erfc(x)は補誤差関数であり、次式で与えられる。
【0014】
【数2】
また、通信光の受光平均パワをPs、パルス光のピーク受光パワをPOTDR、加入者端末までの通信光の変換効率をρs、パルス光の変換効率をρOTDRとすると、通信光と心線対照光の等価入力電流はそれぞれ、
【数3】
【数4】
で与えられる。さらに等価入力雑音電流は、
【数5】
で与えられる。ここでρ2 shot_OTDRはパルス光によるショット雑音を示す。
【0015】
式(1)を用いてパルス光の受光パワに依存したBER劣化の見積りをした結果を図11に示す。参考文献(ITU-T.Recommendation G.983.1,“Broadband optical access systems based on Passive Optical Networks (PON),”1988)に従い、SD 2/σ0 2=22dB、Ps=−33dBmとした。622Mbps伝送においてBER<10-9を満足しようとした場合、D=0.15%のパルス光11の平均受光パワPOTDRは−68dBm以下とする必要があることが分かる。
【0016】
例えば、加入者端末の入力部分においてパルス光平均パワが−38dBmの場合、30dB以上の遮断量を有する試験光遮断フィルタ8を挿入する必要がある。つまり、サービス品質に影響を与えることなく現用光線路の特性試験を実施するためには、このような試験光遮断フィルタ8が必須であり、その特性試験前に試験光遮断フィルタ8の有無を確認する必要がある。
【0017】
従来、この確認の手法としては、加入者端末7の設置時に作成した設備の構成を把握するための情報を設備記録データベース22に記憶しておき、このデータベースを用いて試験光遮断フィルタ8の有無を確認する方法と、実際に現地調査を行って試験光遮断フィルタ8の有無を目視により確認する方法がある。
【0018】
【発明が解決しようとする課題】
しかしながら、前者の手法では、設備記録データベース22による情報保存の信頼性を長期に渡って確保しなければならない。これが困難であるのは、例えば、試験光遮断フィルタ8が撤去された場合や新たに設置された場合に、そのことが設備記録データベース22に反映されないおそれがあるからである。さらに、近年の波長多重技術の進展に伴って通信光の波長が複数となる場合もあり、同一ネットワーク内に、異なる遮断波長を有する試験光遮断フィルタが複数種設置される可能性がある。この場合、設置された試験光遮断フィルタ8の種類について誤って設備記録データベース22に入力しまうおそれがある。一方、後者の方法では、現場調査のために調査員が実際に現地へ向かわなければならない。
【0019】
本発明は、上記に鑑みてなされたものであり、その目的とするところは、試験光遮断フィルタが実際には配置されていないにもかかわらず光線路の特性試験が実施されてしまうことを防止し得るインサービス試験方法およびこれに用いる試験光遮断フィルタ有無判定装置を提供することにある。
【0020】
【課題を解決するための手段】
上記目的を達成するため、第1の本発明に係るインサービス試験方法は、光線路の特性試験を行う前に、当該光線路の遠端に波長依存型の試験光遮断フィルタが設置されているか否かを試験光遮断フィルタ有無判定装置により判定し、試験光遮断フィルタが有ると判定された場合に特性試験を行うことを特徴とする。
【0021】
本発明にあっては、光線路の特性試験を行う前に、試験光遮断フィルタ有無判定装置により、試験光遮断フィルタの有無を判定するようにしたことで、たとえ設備記録データベースに試験光遮断フィルタ設置の有無について誤って記録されていたとしても、試験光遮断フィルタの有無について正確に判定することができる。
【0022】
本発明は、上記のインサービス試験方法において、前記試験光遮断フィルタ有無判定装置は、前記試験光遮断フィルタの低反射率帯にある第1の試験波長および高反射率帯にある第2の試験波長による試験光を発生する処理と、前記試験光を前記光線路に伝送したときの各試験波長の反射強度を測定する処理と、測定された各反射光強度の大小関係に基づいて試験光遮断フィルタの有無を判定する処理と、を行うことを特徴とする。
【0023】
本発明にあっては、第1の試験波長および第2の試験波長のそれぞれの反射光強度の大小関係に基づいて試験光反射フィルタが設置されているか否かを判定するようにしたことで、試験光遮断フィルタの有無について正確に判定することができる。
【0024】
本発明は、上記のインサービス試験方法において、前記試験光遮断フィルタの有無を判定する処理は、第1の試験波長の反射光強度が第2の試験波長の反射光強度よりも小さい場合に試験光遮断フィルタが有ると判定し、第1の試験波長の反射光強度と第2の試験波長の反射光強度が同等の場合に試験光遮断フィルタが無いと判定することを特徴とする。
【0025】
本発明にあっては、試験光遮断フィルタが設置されている場合には高反射率帯にある試験波長λ2の方が低反射率帯にある試験波長λ1よりも反射光強度が大きくなり、試験光遮断フィルタがない場合には試験波長λ2も試験波長λ1も反射光強度はほとんど変わらないことから、各反射光強度の大小関係に基づいて試験光反射フィルタが設置されているか否かを判定するようにしている。
【0026】
本発明は、上記のインサービス試験方法において、前記試験光遮断フィルタ有無判定装置は、遮断波長が異なる複数の試験光遮断フィルタが用いられる場合に、各遮断波長に対応した試験波長による試験光を発生する処理と、前記試験光を前記光線路に伝送したときの各試験波長の反射強度を測定する処理と、測定された各反射光強度の大小関係に基づいて試験光遮断フィルタの有無を種別を含めて判定する処理と、を行うことを特徴とする。
【0027】
本発明にあっては、遮断波長が異なる複数の試験光遮断フィルタが用いられる場合に、各遮断波長に対応する試験波長の反射強度の大小関係に基づいて試験光遮断フィルタの有無を種別を含めて判定するようにしたことで、たとえ試験光遮断フィルタの有無が未知であって、複数種の試験光遮断フィルタが設置されていたとしても、試験光遮断フィルタの有無について正確に判定することができる。
【0028】
本発明は、上記のインサービス試験方法において、前記試験光遮断フィルタの有無を種別を含めて判定する処理は、第1遮断波長に対応する第1試験波長の反射減衰量が第1遮断波長について予め規定されている反射減衰量よりも小さい場合には、第1遮断波長をもつ試験光遮断フィルタが有ると判定し、当該試験光遮断フィルタがないと判定された場合で、第2遮断波長に対応する第2試験波長の反射減衰量が第1試験波長の反射減衰量よりも小さい場合に、第2遮断波長をもつ試験光遮断フィルタが有ると判定し、そうでない場合に、いずれの試験光遮断フィルタも設置されていないと判定することを特徴とする。
【0029】
本発明にあっては、第1遮断波長をもつ試験光遮断フィルタが設置されている場合には、第1試験波長の反射減衰量が予め規定されている反射減衰量よりも小さくなり、第2遮断波長をもつ試験光遮断フィルタが設置されている場合には、第2試験波長の反射減衰量が第1試験波長の反射減衰量よりも小さくなるという特徴を利用して、各反射光強度の大小関係に基づいて試験光反射フィルタが設置されているか否かを種別を含めて判定するようにしている。
【0030】
本発明は、上記のインサービス試験方法において、設備記録データベースに試験光遮断フィルタが有ると記録されており、かつ、前記試験光遮断フィルタ有無判定装置により試験光遮断フィルタが有ると判定された場合に、特性試験を行うことを特徴とする。
【0031】
本発明にあっては、試験光遮断フィルタの有無について、設備記録データベースの記録を照合するとともに、試験光遮断フィルタ有無判定装置で判定するようにしたことで、試験光遮断フィルタの有無をより正確に判定することができる。
【0032】
本発明は、上記のインサービス試験方法において、前記試験光を発生する処理は、試験光の変調周波数を通信光の信号帯域外に配置することを特徴とする。
【0033】
本発明にあっては、試験光の変調周波数を通信光の信号帯域外に配置し、通信信号と試験信号とを周波数多重するようにしたことで、仮に試験光反射フィルタが設置されておらず通信光と共に試験光が加入者端末に入射した場合であっても、加入者端末の帯域フィルタにより試験信号を完全に遮断でき、通信信号の劣化を防止することができる。
【0034】
本発明は、上記のインサービス試験方法において、前記反射光強度を測定する処理の前に、通信光を遮断する処理を行うことを特徴とする。
【0035】
本発明にあっては、反射光強度を測定する前に通信光を遮断するようにしたことで、試験光の反射光強度だけを抽出することができるので、試験光遮断フィルタの有無をより正確に判定することができる。
【0036】
第2の本発明に係る試験光遮断フィルタ有無判定装置は、光線路の遠端に波長依存型の試験光反射フィルタが設置されているか否かを判定する試験光遮断フィルタ有無判定装置であって、遮断波長の異なる複数の試験光遮断フィルタの各遮断波長に対応した試験波長による試験光を発生する発生手段と、前記試験光を前記光線路に伝送したときの各試験波長の反射強度を測定する測定手段と、測定された各反射光強度の大小関係に基づいて試験光遮断フィルタの有無を種別を含めて判定する判定手段と、を有することを特徴とする。
【0037】
本発明は、上記の試験光遮断フィルタ有無判定装置において、前記判定手段は、第1遮断波長に対応した第1試験波長の反射減衰量が第1遮断波長について予め規定されている反射減衰量より小さい場合、第1遮断波長をもつ試験光遮断フィルタが有ると判定し、当該試験光遮断フィルタがないと判定された場合で、第2遮断波長に対応した第2試験波長の反射減衰量が第1試験波長の反射減衰量よりも小さい場合に、第2遮断波長をもつ試験光遮断フィルタが有ると判定し、そうでない場合に、いずれの試験光遮断フィルタも設置されていないと判定することを特徴とする。
【0038】
本発明は、上記の試験光遮断フィルタ有無判定装置において、前記発生手段は、試験光の変調周波数を通信光の信号帯域外に配置することを特徴とする。
【0039】
本発明は、上記の試験光遮断フィルタ有無判定装置において、前記測定手段の前段に通信光を遮断する遮断手段を有することを特徴とする。
【0040】
【発明の実施の形態】
[第1の実施の形態]
図1は、第1の実施の形態におけるインサービス試験方法に用いるシステムの概略構成を示すブロック図である。同図のシステムは、図8に示したインサービス試験システム9に試験光遮断フィルタ有無判定装置31が接続された構成である。試験光遮断フィルタ有無判定装置31は、信号発生器32と、多波長光源33と、光分岐回路34と、受光部35と、帯域フィルタ36と、マルチメータ37と、判定回路38と、を有する構成である。なお、その他、図8と同一物には同一の符号を付すものとし、ここでは詳細な説明は省略する。
【0041】
信号発生器32は、試験光反射フィルタ8の有無を判定するための試験信号を発生する。
【0042】
多波長光源33は、試験光遮断フィルタ8の低反射率帯域および高反射率帯域に対応する光源をそれぞれ少なくとも1ずつ有する。低反射率帯域には第1の試験波長λ1、高反射率帯域には第2の試験波長λ2がそれぞれ用意される。この試験波長λ1と試験波長λ2の出力強度はほぼ一致したものとする。
【0043】
光分岐回路34は、多波長光源33が発生した試験光11をインサービス試験システム9へ出力し、光カプラ2を介して光ファイバ3へ伝送する。また、試験光11が試験光遮断フィルタ8で反射したとき、あるいは試験光遮断フィルタ8がなく加入者端末7で反射したときの反射光をインサービス試験システム9から受光し、これを受光部35へ出力する。
【0044】
受光部35は、受光した光を電気信号に光電変換する。
【0045】
帯域フィルタ36は、試験波長λ1の反射光および試験波長λ2の反射光による試験信号だけを通過させる周波数帯域特性を有し、通信信号については遮断する。
【0046】
マルチメータ37は、試験波長λ1の反射光および試験波長λ2の反射光についてそれぞれ強度を測定する。
【0047】
判定回路38は、マルチメータ17による測定結果に基づいて、後述する手法で試験光反射フィルタの有無を判定する。
【0048】
図2は、本実施の形態におけるインサービス試験方法による処理の概略を示すフローチャートである。
【0049】
step1で、まず、光ファイバ選択部24により、現在運用されている現用光ファイバの中から特性試験の対象となる光ファイバ3を指定する(step1)。
【0050】
step2で、制御部25は、指定された光ファイバ3の遠端に試験光遮断フィルタ8が設置されているか否かを設備記録データベース22と照合する。
【0051】
step3で、照合の結果、設備記録データベース22に試験光遮断フィルタが有ることが記録されている場合には次ステップへ進み、この記録がない場合には特性試験を中止する。
【0052】
step4で、試験光遮断フィルタ有無判定装置31により、試験光遮断フィルタ8の有無を判定する。この判定処理の詳細については後述する。
【0053】
step5で、判定の結果、試験光遮断フィルタ8が有ると判定された場合には特性試験を実行し、無いと判定された場合には特性試験を中止する。
【0054】
特性試験の実行は、光パルス試験部23が試験光11を光ファイバ選択部24および光カプラ2を介して加入者端末7に伝送し、試験光遮断フィルタ8が試験光11を反射したときの反射光の強度を光パルス試験部23で測定することにより行われる。
【0055】
このように、本実施の形態では、特性試験を実行する前に、試験光遮断フィルタ有無判定装置31を用いて試験光遮断フィルタ8の有無を判定する。以下、ステップ4における試験光遮断フィルタ有無判定装置31による判定処理について詳細に説明する。
【0056】
試験光遮断フィルタの有無を判定する処理は、試験光遮断フィルタが実際に配置されていない場合にも実施される可能性があるため、通信光10に影響を与えないようにする必要がある。そこで、信号発生器32は、図3に示すように試験信号の周波数が通信信号の周波数の帯域外となるように周波数配置する。
【0057】
このように周波数配置された試験信号について、多波長光源33により第1の試験波長λ1および第2の試験波長λ2よりなる試験光11を発生する。
【0058】
光分岐回路34は、多波長光源33が発生した試験光11をインサービス試験システム9へ出力する。インサービス試験システム9は、試験光11を光カプラ2を介して光ファイバ3へ伝送する。また、光カプラ2およびインサービス試験システム9を介して送られてくる遠端からの反射光を受光部35へ出力する。
【0059】
受光部35は、この反射光を光電変換する。電気変換により生成された反射信号は、試験信号のみを通過させる帯域フィルタ36を介しマルチメータ37で受信され、その強度が測定される。判定回路21は、測定された反射光強度の大小関係に基づいて、次のように試験光遮断フィルタ8の有無を判定する。
【0060】
低反射率帯域の波長がλ1、高反射率帯域の波長がλ2の試験光遮断フィルタ8が設置されている場合は、試験光11の試験波長λ1の成分は大部分が試験光遮断フィルタ8を通過し、試験波長λ2の成分は大部分が試験光遮断フィルタ8で遮断、すなわち反射される。よって各試験波長における反射光の強度の大小関係は、
【数6】
で与えられる。
【0061】
一方、試験光遮断フィルタ8が無い場合には、波長の相違によっては試験光11の反射率はほとんど変わらないことから、測定される各試験波長における反射光の強度の大小関係は、
【数7】
で与えられる。
【0062】
そこで、判定回路38では、試験波長λ1の反射光強度と試験波長λ2の反射光強度とを比較し、式(6)の関係が得られたときは試験光遮断フィルタ8が有ると判定し、式(7)の関係が得られたときは試験光遮断フィルタ8が無いと判定する。
【0063】
したがって、本実施の形態によれば、光線路の特性試験を行う前に、試験光遮断フィルタ有無判定装置31により、試験光遮断フィルタ8の有無を判定するようにしたことで、たとえ設備記録データベース22に試験光遮断フィルタ設置の有無について誤って記録されていたとしても、試験光遮断フィルタ8の有無について正確に判定することができ、試験光遮断フィルタ8が実際には配置されていないにもかかわらず光線路の特性試験が実行されてしまうことを防止することができる。これによって、より確実な光線路の特性試験を実現でき、設備記録データベースの維持管理のためのメンテナンス業務を簡略化でき、目視確認のための現地調査を不要にでき、設備保守業務の効率化を図ることができる。
【0064】
また、本実施の形態によれば、試験光遮断フィルタ8が設置されている場合には高反射率帯にある試験波長λ2の方が低反射率帯にある試験波長λ1よりも反射光強度が大きくなり、試験光遮断フィルタ8がない場合には試験波長λ2も試験波長λ1も反射光強度はほとんど変わらないことから、各試験波長による反射光強度の大小関係に基づいて試験光反射フィルタ8が設置されているか否かを判定するようにしたことで、試験光遮断フィルタ8の有無について正確に判定することができる。
【0065】
また、本実施の形態によれば、試験光遮断フィルタ8の有無について、設備記録データベース22の記録を照合するとともに、試験光遮断フィルタ有無判定装置31で判定するようにしたことで、試験光遮断フィルタ8の有無をより正確に判定することができる。
【0066】
また、本実施の形態によれば、信号発生器32により試験光11の変調周波数を通信光10の信号帯域外に配置し、通信信号と試験信号とを周波数多重するようにしたことで、仮に加入者端末7の前方に試験光反射フィルタ8が設置されておらず通信光10とともに試験光11が加入者端末7の光受信機12で受信された場合であっても、加入者端末7の帯域フィルタ13により試験光11による試験信号を完全に遮断することができるので、受信機14で受信する通信信号の劣化を防止することができる。更に、試験光遮断フィルタ有無判定装置31の帯域フィルタ36により、反射光についても通信信号を遮断して試験信号のみを抽出でき、判定回路38において、試験光遮断フィルタ8の有無をより正確に判定することができる。
【0067】
以下、周波数多重による効果について詳細に説明する。試験光11が通信光10と比較して十分高速に正弦波変調(例えば622Mbpsのデータレートに対して1244MHz)されていると仮定する。この時、試験光11が加入者端末7に入射した場合の符号誤り率BERは以下の式で与えられる。
【0068】
【数8】
ここで、σ2 2は通信光10と試験光11が同時に加入者端末7に入射したときの等価雑音電流の全分散であり、σ2 2は以下の式で与えられる。
【0069】
【数9】
ここで、σshot_test 2は試験光11によるショット雑音電流、Kは加入者端末7の帯域フィルタ13の試験光変調周波数における通過率、OMIは通信光10の光変調度、ρtestは試験光11の変換効率を示す。
【0070】
式(9)を用い、K=10-3、OMI=35%のときのBER特性を図4に実線で示す。同図の破線は、図11に示したBER特性である。図4が示すように、試験光11の変調周波数を通信信号帯域外に周波数配置することにより、許容受光パワが約30dB増加することが分かる。これにより、例えば、許容受光パワの増加に相当する分だけ強いパワで試験光11を出力することができるようになる。
【0071】
[第2の実施の形態]
本実施の形態では、複数の試験光遮断フィルタが設置され得る場合に、試験光遮断フィルタの種別を含めた有無判定を行うようにしたインサービス試験方法について説明する。本インサービス試験方法に用いるシステムの基本的な構成は、図1と同様であるので、ここでは重複する部分については説明を省略する。
【0072】
図5は、遮断波長が異なる2種類の試験光遮断フィルタの反射減衰量の波長依存性を示す図である。ここでは、第1遮断波長が1.55μmの試験光遮断フィルタ(以下「1.55μm遮断フィルタ」という)と、第2遮断波長が1.65μmの試験光遮断フィルタ(以下「1.65μm遮断フィルタ」という)の2つを想定する。
【0073】
同図において、R1.55(f0),R1.55(f1),R1.55(f2)は、測定波長1.55μmについて予め規定されている反射減衰量である。R1.55(f0),R1.55(f1),R1.55(f2)を用いることによって、既設光線路において測定される反射減衰量をR1.55で表すとすると、R1.55>R1.55(f0)の場合には、1.55μm遮断フィルタは無い、R1.55<R1.55(f1)の場合には、1.55μm遮断フィルタが有る、R1.55>R1.55(f2)の場合には、いずれの試験光遮断フィルタも無いと判断することができる。
【0074】
また、R1.65(f0),R1.65(f2)は、測定波長1.65μmについて予め規定されている反射減衰量である。R1.65(f0),R1.65(f2)を用いることによって、既設光線路において測定される反射減衰量をR1.65で表すとすると、R1.65>R1.65(f0)の場合には、いずれの試験光遮断フィルタも無い、R1.65<R1.65(f2)の場合には、1.65μm遮断フィルタが有ると判断することができる。
【0075】
なお、反射減衰量は、マルチメータ37により測定された反射光強度を用いて一意的に求めることができる。反射光強度が大きいほど反射減衰量は小さくなり、反射光強度が小さいほど反射減衰量は大きくなる。
【0076】
図6は、図5に示した波長依存性に基づいて試験光遮断フィルタの種別を含めた有無判定を行う処理を示すフローチャートである。同図のフローチャートについて説明する前に、この処理を裏付けるために行った変調周波数成分に対する反射光強度の測定実験の結果について図7を用いて説明する。
【0077】
図7(a)は、第1遮断波長に対応する第1試験波長として1.55μmを用いたときの反射光強度の測定値を示すグラフであり、1.55μm遮断フィルタが設置されている場合、1.65μm遮断フィルタが設置されている場合、いずれの試験光遮断フィルタもない場合の3種類について示してある。同図(b)は、第1試験波長に1.55μm、第2遮断波長に対応する第2試験波長に1.65μmを用いたときの反射光強度の測定値を示すグラフであり、1.65μm遮断フィルタが設置されている場合、いずれの試験光遮断フィルタもない場合の2種類について示してある。
【0078】
図7(a)において、1.55μm遮断フィルタが有る場合は、第1試験波長1.55μmの反射光強度が、R1.55(f0)に対応する反射光強度よりも大きいことが観測される。すなわち、反射減衰量で比較すると、R1.55<R1.55(f0)の関係が成り立つ。一方、1.65μm遮断フィルタが有る場合や、いずれの試験光遮断フィルタもない場合には、この関係は成り立たない。
【0079】
同図(b)において、1.65μm遮断フィルタが有る場合は、第1試験波長1.55μmの反射光強度は、第2試験波長1.65μmの反射光強度よりも小さいことが観測される。すなわち、反射減衰量で比較すると、R1.55>R1.65の関係が成り立つ。一方、1.65μm遮断フィルタがない場合には、この関係は成り立たない。
【0080】
続いて、図6に示したフローチャートによる処理について説明する。まず、試験光遮断フィルタ有無判定装置31は、本処理に入る前に、試験波長が1.55μmと1.65μmよりなる試験光を生成し、加入者端末7へ向けて伝送する。
【0081】
ステップ11で、帯域フィルタ36による帯域設定で、反射光の測定波長に1.55μmを選択する。
【0082】
ステップ12で、帯域フィルタ36を通過した第1試験波長1.55μmの反射光について、マルチメータ37により反射光強度を測定し、その反射減衰量R1.55を求める。
【0083】
ステップ13で、判定回路38は、R1.55とR1.55(f0)の大小関係を比較し、R1.55<R1.55(f0)の関係が成立する場合には1.55μm遮断フィルタが有ると判定し、本処理を終了する。一方、この関係が成立しない場合には、次ステップへ進む。
【0084】
ステップ14で、帯域フィルタ36による帯域設定で、反射光の測定波長に1.65μmを選択する。
【0085】
ステップ15で、帯域フィルタ36を通過した第2試験波長1.65μmの反射光について、マルチメータ37により反射光強度を測定し、その反射減衰量R1.65を求める。
【0086】
ステップ16で、判定回路38は、R1.55とR1.65の大小関係を比較し、R1.55>R1.65の関係が成立する場合には1.65μm遮断フィルタが有ると判定し、この関係が成立しない場合には、いずれの試験光遮断フィルタも設置されていないと判定して本処理を終了する。
【0087】
本実施の形態では、試験光遮断フィルタ有無判定装置31を用いた有無判定を、光線路の特性試験を実行する前に行い、試験光遮断フィルタが有ることが確認された場合にのみ特性試験を実施する。この手順を踏むことによって、通信信号の品質劣化を招かないインサービス試験方法が実現される。
【0088】
したがって、本実施の形態によれば、遮断波長が異なる複数の試験光遮断フィルタが用いられる場合に、各遮断波長に対応する試験波長の反射強度の大小関係に基づいて試験光遮断フィルタの有無を種別を含めて判定するようにしたことで、たとえ試験光遮断フィルタの有無が未知であって、複数種の試験光遮断フィルタが設置されていたとしても、試験光遮断フィルタの有無について正確に判定することができ、試験光遮断フィルタが実際には配置されていないにもかかわらず光線路の特性試験が実行されてしまうことを防止することができる。これによって、より確実な光線路の特性試験を実現でき、設備記録データベースの維持管理のためのメンテナンス業務を簡略化でき、目視確認のための現地調査を不要にでき、設備保守業務の効率化を図ることができる。
【0089】
なお、本実施の形態においても、試験光遮断フィルタの有無について試験光遮断フィルタ有無判定装置31により判定するとともに、第1の実施の形態で示したように、設備記録データベース22の記録を照合するようにしてもよい。これにより、試験光遮断フィルタの有無をより正確に判定することができる。
【0090】
また、本実施の形態においても、信号発生器32により試験光11の変調周波数を通信光10の信号帯域外に配置するようにしてもよい。更に、試験光遮断フィルタ有無判定装置31の帯域フィルタ36により、反射光についても通信信号を遮断して試験信号のみを抽出するようにしてもよい。
【0091】
【発明の効果】
以上、説明したように、本発明に係るインサービス試験方法および試験光遮断フィルタ有無判定装置によれば、光線路の特性試験を行う前に、試験光遮断フィルタ有無判定装置により試験光遮断フィルタの有無を判定するようにしたことで、試験光遮断フィルタが実際には配置されていないにもかかわらず光線路の特性試験が実行されてしまうことを防止することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の実施の形態におけるインサービス試験方法に用いるシステムの全体構成を示すブロック図である。
【図2】第1の実施の形態におけるインサービス試験方法による処理の概略を示すフローチャートである。
【図3】第1の実施の形態において周波数多重した場合の通信信号と試験信号のスペクトルの一例を示す模式図である。
【図4】第1の実施の形態において周波数多重した場合の試験光の加入者端末における平均受光パワとBERとの関係の一例を示すグラフである。
【図5】第2の実施の形態において2種類の試験光遮断フィルタの反射減衰量の波長依存性を示す図である。
【図6】第2の実施の形態において試験光遮断フィルタの種別を含めた有無判定を行う処理を示すフローチャートである。
【図7】変調周波数成分に対する反射光強度の測定値を示す図であり、同図(a)は試験波長が1.55μmのとき、同図(b)は試験波長が1.65μのときのものをそれぞれ示す。
【図8】従来の光線路の特性試験を実施するための設備の概略構成を示すブロック図である。
【図9】従来の光線路の特性試験を行うときの処理の一例を示すフローチャートである。
【図10】従来の通信信号と試験信号のスペクトルの一例を示す模式図である。
【図11】従来の試験光の加入者端末における平均受光パワとBERとの関係の一例を示すグラフである。
【符号の説明】
1 局内装置
2 光カプラ
3 光ファイバ
7 加入者端末
8 試験光遮断フィルタ
9 インサービス試験システム
10 通信光
11 試験光
12 光受信機
13 帯域フィルタ
14 受信機
22 設備記録データベース
23 光パルス試験部
24 光ファイバ選択部
25 制御部
31 試験光遮断フィルタ有無判定装置
32 信号発生器
33 多波長光源
34 光分岐回路
35 受光部
36 帯域フィルタ
37 マルチメータ
38 判定回路
Claims (6)
- 光線路の特性試験を行う前に、当該光線路の遠端に波長依存型の試験光遮断フィルタが設置されているか否かを試験光遮断フィルタ有無判定装置により判定し、試験光遮断フィルタが有ると判定された場合に特性試験を行うインサービス試験方法であって、
前記試験光遮断フィルタ有無判定装置は、
前記試験光遮断フィルタの低反射率帯にある第1の試験波長および高反射率帯にある第2の試験波長による試験光を発生する処理と、
前記試験光を前記光線路に伝送したときの各試験波長の反射強度を測定する処理と、
第1の試験波長の反射光強度が第2の試験波長の反射光強度よりも小さい場合に試験光遮断フィルタが有ると判定し、第1の試験波長の反射光強度と第2の試験波長の反射光強度が同等の場合に試験光遮断フィルタが無いと判定する処理と、を行い、
設備記録データベースに試験光遮断フィルタが有ると記録されており、かつ、前記試験光遮断フィルタ有無判定装置により試験光遮断フィルタが有ると判定された場合に、特性試験を行うことを特徴とするインサービス試験方法。 - 前記試験光を発生する処理は、試験光の変調周波数を通信光の信号帯域外に配置することを特徴とする請求項1記載のインサービス試験方法。
- 前記反射強度を測定する処理の前に、通信光を遮断する処理を行うことを特徴とする請求項1又は2に記載のインサービス試験方法。
- 光線路の遠端に波長依存型の試験光遮断フィルタが設置されているか否かを判定する試験光遮断フィルタ有無判定装置であって、
設備記録データベースに試験光遮断フィルタが有ると記録されている場合に、前記試験光遮断フィルタの低反射率帯にある第1の試験波長および高反射率帯にある第2の試験波長による試験光を発生する発生手段と、
前記試験光を前記光線路に伝送したときの各試験波長の反射強度を測定する測定手段と、
第1の試験波長の反射光強度が第2の試験波長の反射光強度よりも小さい場合に試験光遮断フィルタが有ると判定し、第1の試験波長の反射光強度と第2の試験波長の反射光強度が同等の場合に試験光遮断フィルタが無いと判定する判定手段と、
を有することを特徴とする試験光遮断フィルタ有無判定装置。 - 前記発生手段は、試験光の変調周波数を通信光の信号帯域外に配置することを特徴とする請求項4記載の試験光遮断フィルタ有無判定装置。
- 前記測定手段の前段に通信光を遮断する遮断手段を有することを特徴とする請求項4又は5に記載の試験光遮断フィルタ有無判定装置。
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