JP2003294577A - インサービス試験方法および試験光遮断フィルタ有無判定装置 - Google Patents
インサービス試験方法および試験光遮断フィルタ有無判定装置Info
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- JP2003294577A JP2003294577A JP2002097029A JP2002097029A JP2003294577A JP 2003294577 A JP2003294577 A JP 2003294577A JP 2002097029 A JP2002097029 A JP 2002097029A JP 2002097029 A JP2002097029 A JP 2002097029A JP 2003294577 A JP2003294577 A JP 2003294577A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 試験光遮断フィルタが実際には配置されてい
ないにもかかわらず光線路の特性試験が実施されてしま
うことを防止する。 【解決手段】 光線路の特性試験を行う前に、試験光遮
断フィルタ有無判定装置３１により、試験光遮断フィル
タ８の有無を判定する。試験光遮断フィルタ有無判定装
置３１では、試験光遮断フィルタ８の低反射率帯にある
試験波長λ１と高反射率帯にある試験波長λ２のそれぞ
れの反射光強度の大小関係に基づいて有無判定をする。
また、試験光１１の変調周波数を通信光１０の信号帯域
外に配置し、通信信号と試験信号とを周波数多重する。
さらに、遮断波長の異なる試験光遮断フィルタが複数設
置され得る場合には、各遮断波長に対応する試験波長の
反射光強度の大小関係に基づいて試験光遮断フィルタの
有無を種別を含めて判定する。
ないにもかかわらず光線路の特性試験が実施されてしま
うことを防止する。 【解決手段】 光線路の特性試験を行う前に、試験光遮
断フィルタ有無判定装置３１により、試験光遮断フィル
タ８の有無を判定する。試験光遮断フィルタ有無判定装
置３１では、試験光遮断フィルタ８の低反射率帯にある
試験波長λ１と高反射率帯にある試験波長λ２のそれぞ
れの反射光強度の大小関係に基づいて有無判定をする。
また、試験光１１の変調周波数を通信光１０の信号帯域
外に配置し、通信信号と試験信号とを周波数多重する。
さらに、遮断波長の異なる試験光遮断フィルタが複数設
置され得る場合には、各遮断波長に対応する試験波長の
反射光強度の大小関係に基づいて試験光遮断フィルタの
有無を種別を含めて判定する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、光線路の特性試験
を行うときのインサービス試験方法およびこれに用いる
試験光遮断フィルタ有無判定装置に関する。
を行うときのインサービス試験方法およびこれに用いる
試験光遮断フィルタ有無判定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】デジタル伝送の高速かつ高品質のサービ
スに対応すべく、光通信方式を用いたサービスの導入が
拡大されている。この光通信方式を用いたサービスの提
供では、安定性の高いサービスを提供する上で、光ファ
イバケーブル等で構成される光線路の特性試験を通信光
を劣化させず、より確実に行うことのできる方法が必要
となる。
スに対応すべく、光通信方式を用いたサービスの導入が
拡大されている。この光通信方式を用いたサービスの提
供では、安定性の高いサービスを提供する上で、光ファ
イバケーブル等で構成される光線路の特性試験を通信光
を劣化させず、より確実に行うことのできる方法が必要
となる。
【０００３】図８は、通信中の光ファイバの特性試験を
実施するための設備の概略構成を示すブロック図であ
る。局内装置１と加入者端末７とは、光カプラ２及び光
ファイバ３を介して接続されており、通信光１０が双方
向に伝送される。
実施するための設備の概略構成を示すブロック図であ
る。局内装置１と加入者端末７とは、光カプラ２及び光
ファイバ３を介して接続されており、通信光１０が双方
向に伝送される。
【０００４】インサービス試験システム９は、同システ
ムを制御する制御部２５、既設光線路の設備構成につい
て少なくとも試験光遮断フィルタ８の設置の有無を記憶
した設備記録データベース２２、特性試験の対象とする
光ファイバを任意に選択できる光ファイバ選択部２４、
パルス光により形成される試験光１１を用いて光ファイ
バ３の特性試験を実行する光パルス試験部２３を有する
構成である。
ムを制御する制御部２５、既設光線路の設備構成につい
て少なくとも試験光遮断フィルタ８の設置の有無を記憶
した設備記録データベース２２、特性試験の対象とする
光ファイバを任意に選択できる光ファイバ選択部２４、
パルス光により形成される試験光１１を用いて光ファイ
バ３の特性試験を実行する光パルス試験部２３を有する
構成である。
【０００５】加入者端末７の手前には試験光１１を反射
するための波長依存型の試験光遮断フィルタ８が設置さ
れる。
するための波長依存型の試験光遮断フィルタ８が設置さ
れる。
【０００６】加入者端末７は、受けた光を電気信号に光
電変換する光受信機１２と、光電変換した電気信号のう
ち、通信光を光電変換した通信信号を通過させる帯域フ
ィルタ１３と、帯域フィルタ１３を通過した電気信号を
受信する受信機１４を有する構成である。
電変換する光受信機１２と、光電変換した電気信号のう
ち、通信光を光電変換した通信信号を通過させる帯域フ
ィルタ１３と、帯域フィルタ１３を通過した電気信号を
受信する受信機１４を有する構成である。
【０００７】図９は、インサービス試験システム９を用
いて光ファイバの特性試験を行うときの処理の一例を示
すフローチャートである。
いて光ファイバの特性試験を行うときの処理の一例を示
すフローチャートである。
【０００８】通信中の光ファイバについて特性試験を行
う場合は、まず、光ファイバ選択部２４により、特性試
験の対象となる光ファイバ３を指定する（ｓｔｅｐ２
１）。そして、指定した光ファイバ３の遠端に試験光遮
断フィルタ８が設置されているか否かを設備記録データ
ベース２２に照合する（ｓｔｅｐ２２）。照合の結果、
試験光遮断フィルタが有るということが記録されている
場合は特性試験を実行し、この記録が無い場合は特性試
験を中止する（ｓｔｅｐ２３）。
う場合は、まず、光ファイバ選択部２４により、特性試
験の対象となる光ファイバ３を指定する（ｓｔｅｐ２
１）。そして、指定した光ファイバ３の遠端に試験光遮
断フィルタ８が設置されているか否かを設備記録データ
ベース２２に照合する（ｓｔｅｐ２２）。照合の結果、
試験光遮断フィルタが有るということが記録されている
場合は特性試験を実行し、この記録が無い場合は特性試
験を中止する（ｓｔｅｐ２３）。
【０００９】特性試験の実行は、光パルス試験部２３が
試験光１１を光ファイバ選択部２４および光カプラ２を
介して加入者端末７に伝送し、試験光遮断フィルタ８が
試験光１１を反射したときの反射光の強度を光パルス試
験部２３で測定することにより行われる。
試験光１１を光ファイバ選択部２４および光カプラ２を
介して加入者端末７に伝送し、試験光遮断フィルタ８が
試験光１１を反射したときの反射光の強度を光パルス試
験部２３で測定することにより行われる。
【００１０】ところが、試験光遮断フィルタ８が実際に
は光ファイバ３の遠端に設置されていないにもかかわら
ず、誤って特性試験が実行された場合には、試験光１１
と通信光１０は同時に加入者端末７の光受信機１２で受
光され、試験光１１は通信光１０と共に電気信号に変換
されてしまう。
は光ファイバ３の遠端に設置されていないにもかかわら
ず、誤って特性試験が実行された場合には、試験光１１
と通信光１０は同時に加入者端末７の光受信機１２で受
光され、試験光１１は通信光１０と共に電気信号に変換
されてしまう。
【００１１】図１０は、このような場合に通信光１０お
よび試験光１１を光電変換した後の通信信号および試験
信号のスペクトルの一例を示す模式図である。同図が示
すように、帯域フィルタ１３によって試験信号はある程
度遮断されるものの、周波数領域では通信信号と試験信
号とで重畳が生じるため、この重畳された周波数成分が
雑音となり通信信号に影響を与えてしまう。このことを
詳細に説明すると次のようになる。
よび試験光１１を光電変換した後の通信信号および試験
信号のスペクトルの一例を示す模式図である。同図が示
すように、帯域フィルタ１３によって試験信号はある程
度遮断されるものの、周波数領域では通信信号と試験信
号とで重畳が生じるため、この重畳された周波数成分が
雑音となり通信信号に影響を与えてしまう。このことを
詳細に説明すると次のようになる。
【００１２】パルス光が、通信光と比較して十分に低速
（例えば６２２Ｍｂｐｓのデータレートに対して１μｓ
のパルス幅）でパルス変調されていると仮定する。この
時、パルス光が加入者端末７に入射した場合の符号誤り
率（ＢＥＲ）は以下の式で与えられる。
（例えば６２２Ｍｂｐｓのデータレートに対して１μｓ
のパルス幅）でパルス変調されていると仮定する。この
時、パルス光が加入者端末７に入射した場合の符号誤り
率（ＢＥＲ）は以下の式で与えられる。
【００１３】
【数１】
ここで、Ｄはパルス光のデューティ、ＳDは通信光の等
価入力信号電流、σ0 2は通信光のみが加入者端末に入射
しているときの加入者端末での等価入力雑音電流の全分
散、ＳOTDRはパルス光の等価入力雑音電流、σ1 2は通信
光とパルス光が同時に加入者端末に入射しているときの
加入者端末での等価入力雑音電流である。ｅｒｆｃ
（ｘ）は補誤差関数であり、次式で与えられる。
価入力信号電流、σ0 2は通信光のみが加入者端末に入射
しているときの加入者端末での等価入力雑音電流の全分
散、ＳOTDRはパルス光の等価入力雑音電流、σ1 2は通信
光とパルス光が同時に加入者端末に入射しているときの
加入者端末での等価入力雑音電流である。ｅｒｆｃ
（ｘ）は補誤差関数であり、次式で与えられる。
【００１４】
【数２】
また、通信光の受光平均パワをＰs、パルス光のピーク
受光パワをＰOTDR、加入者端末までの通信光の変換効率
をρs、パルス光の変換効率をρOTDRとすると、通信光
と心線対照光の等価入力電流はそれぞれ、
受光パワをＰOTDR、加入者端末までの通信光の変換効率
をρs、パルス光の変換効率をρOTDRとすると、通信光
と心線対照光の等価入力電流はそれぞれ、
【数３】
【数４】
で与えられる。さらに等価入力雑音電流は、
【数５】
で与えられる。ここでρ2 shot_OTDRはパルス光によるシ
ョット雑音を示す。
ョット雑音を示す。
【００１５】式（１）を用いてパルス光の受光パワに依
存したＢＥＲ劣化の見積りをした結果を図１１に示す。
参考文献（ITU-T.Recommendation G.983.1,“Broadband
optical access systems based on Passive Optical N
etworks (PON),”1988）に従い、ＳD 2／σ0 2＝２２ｄ
Ｂ、Ｐs＝−３３ｄＢｍとした。６２２Ｍｂｐｓ伝送に
おいてＢＥＲ＜１０-9を満足しようとした場合、Ｄ＝
０．１５％のパルス光１１の平均受光パワＰOTDRは−６
８ｄＢｍ以下とする必要があることが分かる。
存したＢＥＲ劣化の見積りをした結果を図１１に示す。
参考文献（ITU-T.Recommendation G.983.1,“Broadband
optical access systems based on Passive Optical N
etworks (PON),”1988）に従い、ＳD 2／σ0 2＝２２ｄ
Ｂ、Ｐs＝−３３ｄＢｍとした。６２２Ｍｂｐｓ伝送に
おいてＢＥＲ＜１０-9を満足しようとした場合、Ｄ＝
０．１５％のパルス光１１の平均受光パワＰOTDRは−６
８ｄＢｍ以下とする必要があることが分かる。
【００１６】例えば、加入者端末の入力部分においてパ
ルス光平均パワが−３８ｄＢｍの場合、３０ｄＢ以上の
遮断量を有する試験光遮断フィルタ８を挿入する必要が
ある。つまり、サービス品質に影響を与えることなく現
用光線路の特性試験を実施するためには、このような試
験光遮断フィルタ８が必須であり、その特性試験前に試
験光遮断フィルタ８の有無を確認する必要がある。
ルス光平均パワが−３８ｄＢｍの場合、３０ｄＢ以上の
遮断量を有する試験光遮断フィルタ８を挿入する必要が
ある。つまり、サービス品質に影響を与えることなく現
用光線路の特性試験を実施するためには、このような試
験光遮断フィルタ８が必須であり、その特性試験前に試
験光遮断フィルタ８の有無を確認する必要がある。
【００１７】従来、この確認の手法としては、加入者端
末７の設置時に作成した設備の構成を把握するための情
報を設備記録データベース２２に記憶しておき、このデ
ータベースを用いて試験光遮断フィルタ８の有無を確認
する方法と、実際に現地調査を行って試験光遮断フィル
タ８の有無を目視により確認する方法がある。
末７の設置時に作成した設備の構成を把握するための情
報を設備記録データベース２２に記憶しておき、このデ
ータベースを用いて試験光遮断フィルタ８の有無を確認
する方法と、実際に現地調査を行って試験光遮断フィル
タ８の有無を目視により確認する方法がある。
【００１８】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前者の
手法では、設備記録データベース２２による情報保存の
信頼性を長期に渡って確保しなければならない。これが
困難であるのは、例えば、試験光遮断フィルタ８が撤去
された場合や新たに設置された場合に、そのことが設備
記録データベース２２に反映されないおそれがあるから
である。さらに、近年の波長多重技術の進展に伴って通
信光の波長が複数となる場合もあり、同一ネットワーク
内に、異なる遮断波長を有する試験光遮断フィルタが複
数種設置される可能性がある。この場合、設置された試
験光遮断フィルタ８の種類について誤って設備記録デー
タベース２２に入力しまうおそれがある。一方、後者の
方法では、現場調査のために調査員が実際に現地へ向か
わなければならない。
手法では、設備記録データベース２２による情報保存の
信頼性を長期に渡って確保しなければならない。これが
困難であるのは、例えば、試験光遮断フィルタ８が撤去
された場合や新たに設置された場合に、そのことが設備
記録データベース２２に反映されないおそれがあるから
である。さらに、近年の波長多重技術の進展に伴って通
信光の波長が複数となる場合もあり、同一ネットワーク
内に、異なる遮断波長を有する試験光遮断フィルタが複
数種設置される可能性がある。この場合、設置された試
験光遮断フィルタ８の種類について誤って設備記録デー
タベース２２に入力しまうおそれがある。一方、後者の
方法では、現場調査のために調査員が実際に現地へ向か
わなければならない。
【００１９】本発明は、上記に鑑みてなされたものであ
り、その目的とするところは、試験光遮断フィルタが実
際には配置されていないにもかかわらず光線路の特性試
験が実施されてしまうことを防止し得るインサービス試
験方法およびこれに用いる試験光遮断フィルタ有無判定
装置を提供することにある。
り、その目的とするところは、試験光遮断フィルタが実
際には配置されていないにもかかわらず光線路の特性試
験が実施されてしまうことを防止し得るインサービス試
験方法およびこれに用いる試験光遮断フィルタ有無判定
装置を提供することにある。
【００２０】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１記載の本発明に係るインサービス試験方法
は、光線路の特性試験を行う前に、当該光線路の遠端に
波長依存型の試験光遮断フィルタが設置されているか否
かを試験光遮断フィルタ有無判定装置により判定し、試
験光遮断フィルタが有ると判定された場合に特性試験を
行うことを特徴とする。
め、請求項１記載の本発明に係るインサービス試験方法
は、光線路の特性試験を行う前に、当該光線路の遠端に
波長依存型の試験光遮断フィルタが設置されているか否
かを試験光遮断フィルタ有無判定装置により判定し、試
験光遮断フィルタが有ると判定された場合に特性試験を
行うことを特徴とする。
【００２１】本発明にあっては、光線路の特性試験を行
う前に、試験光遮断フィルタ有無判定装置により、試験
光遮断フィルタの有無を判定するようにしたことで、た
とえ設備記録データベースに試験光遮断フィルタ設置の
有無について誤って記録されていたとしても、試験光遮
断フィルタの有無について正確に判定することができ
る。
う前に、試験光遮断フィルタ有無判定装置により、試験
光遮断フィルタの有無を判定するようにしたことで、た
とえ設備記録データベースに試験光遮断フィルタ設置の
有無について誤って記録されていたとしても、試験光遮
断フィルタの有無について正確に判定することができ
る。
【００２２】請求項２記載のインサービス試験方法は、
請求項１記載のインサービス試験方法において、前記試
験光遮断フィルタ有無判定装置は、前記試験光遮断フィ
ルタの低反射率帯にある第１の試験波長および高反射率
帯にある第２の試験波長による試験光を発生する処理
と、前記試験光を前記光線路に伝送したときの各試験波
長の反射強度を測定する処理と、測定された各反射光強
度の大小関係に基づいて試験光遮断フィルタの有無を判
定する処理と、を行うことを特徴とする。
請求項１記載のインサービス試験方法において、前記試
験光遮断フィルタ有無判定装置は、前記試験光遮断フィ
ルタの低反射率帯にある第１の試験波長および高反射率
帯にある第２の試験波長による試験光を発生する処理
と、前記試験光を前記光線路に伝送したときの各試験波
長の反射強度を測定する処理と、測定された各反射光強
度の大小関係に基づいて試験光遮断フィルタの有無を判
定する処理と、を行うことを特徴とする。
【００２３】本発明にあっては、第１の試験波長および
第２の試験波長のそれぞれの反射光強度の大小関係に基
づいて試験光反射フィルタが設置されているか否かを判
定するようにしたことで、試験光遮断フィルタの有無に
ついて正確に判定することができる。
第２の試験波長のそれぞれの反射光強度の大小関係に基
づいて試験光反射フィルタが設置されているか否かを判
定するようにしたことで、試験光遮断フィルタの有無に
ついて正確に判定することができる。
【００２４】請求項３記載の本発明は、請求項１又は２
記載のインサービス試験方法において、前記試験光遮断
フィルタの有無を判定する処理は、第１の試験波長の反
射光強度が第２の試験波長の反射光強度よりも小さい場
合に試験光遮断フィルタが有ると判定し、第１の試験波
長の反射光強度と第２の試験波長の反射光強度が同等の
場合に試験光遮断フィルタが無いと判定することを特徴
とする。
記載のインサービス試験方法において、前記試験光遮断
フィルタの有無を判定する処理は、第１の試験波長の反
射光強度が第２の試験波長の反射光強度よりも小さい場
合に試験光遮断フィルタが有ると判定し、第１の試験波
長の反射光強度と第２の試験波長の反射光強度が同等の
場合に試験光遮断フィルタが無いと判定することを特徴
とする。
【００２５】本発明にあっては、試験光遮断フィルタが
設置されている場合には高反射率帯にある試験波長λ２
の方が低反射率帯にある試験波長λ１よりも反射光強度
が大きくなり、試験光遮断フィルタがない場合には試験
波長λ２も試験波長λ１も反射光強度はほとんど変わら
ないことから、各反射光強度の大小関係に基づいて試験
光反射フィルタが設置されているか否かを判定するよう
にしている。
設置されている場合には高反射率帯にある試験波長λ２
の方が低反射率帯にある試験波長λ１よりも反射光強度
が大きくなり、試験光遮断フィルタがない場合には試験
波長λ２も試験波長λ１も反射光強度はほとんど変わら
ないことから、各反射光強度の大小関係に基づいて試験
光反射フィルタが設置されているか否かを判定するよう
にしている。
【００２６】請求項４記載の本発明は、請求項１記載の
インサービス試験方法において、前記試験光遮断フィル
タ有無判定装置は、遮断波長が異なる複数の試験光遮断
フィルタが用いられる場合に、各遮断波長に対応した試
験波長による試験光を発生する処理と、前記試験光を前
記光線路に伝送したときの各試験波長の反射強度を測定
する処理と、測定された各反射光強度の大小関係に基づ
いて試験光遮断フィルタの有無を種別を含めて判定する
処理と、を行うことを特徴とする。
インサービス試験方法において、前記試験光遮断フィル
タ有無判定装置は、遮断波長が異なる複数の試験光遮断
フィルタが用いられる場合に、各遮断波長に対応した試
験波長による試験光を発生する処理と、前記試験光を前
記光線路に伝送したときの各試験波長の反射強度を測定
する処理と、測定された各反射光強度の大小関係に基づ
いて試験光遮断フィルタの有無を種別を含めて判定する
処理と、を行うことを特徴とする。
【００２７】本発明にあっては、遮断波長が異なる複数
の試験光遮断フィルタが用いられる場合に、各遮断波長
に対応する試験波長の反射強度の大小関係に基づいて試
験光遮断フィルタの有無を種別を含めて判定するように
したことで、たとえ試験光遮断フィルタの有無が未知で
あって、複数種の試験光遮断フィルタが設置されていた
としても、試験光遮断フィルタの有無について正確に判
定することができる。
の試験光遮断フィルタが用いられる場合に、各遮断波長
に対応する試験波長の反射強度の大小関係に基づいて試
験光遮断フィルタの有無を種別を含めて判定するように
したことで、たとえ試験光遮断フィルタの有無が未知で
あって、複数種の試験光遮断フィルタが設置されていた
としても、試験光遮断フィルタの有無について正確に判
定することができる。
【００２８】請求項５記載の本発明は、請求項４記載の
インサービス試験方法において、前記試験光遮断フィル
タの有無を種別を含めて判定する処理は、第１遮断波長
に対応する第１試験波長の反射減衰量が第１遮断波長に
ついて予め規定されている反射減衰量よりも小さい場合
には、第１遮断波長をもつ試験光遮断フィルタが有ると
判定し、当該試験光遮断フィルタがないと判定された場
合で、第２遮断波長に対応する第２試験波長の反射減衰
量が第１試験波長の反射減衰量よりも小さい場合に、第
２遮断波長をもつ試験光遮断フィルタが有ると判定し、
そうでない場合に、いずれの試験光遮断フィルタも設置
されていないと判定することを特徴とする。
インサービス試験方法において、前記試験光遮断フィル
タの有無を種別を含めて判定する処理は、第１遮断波長
に対応する第１試験波長の反射減衰量が第１遮断波長に
ついて予め規定されている反射減衰量よりも小さい場合
には、第１遮断波長をもつ試験光遮断フィルタが有ると
判定し、当該試験光遮断フィルタがないと判定された場
合で、第２遮断波長に対応する第２試験波長の反射減衰
量が第１試験波長の反射減衰量よりも小さい場合に、第
２遮断波長をもつ試験光遮断フィルタが有ると判定し、
そうでない場合に、いずれの試験光遮断フィルタも設置
されていないと判定することを特徴とする。
【００２９】本発明にあっては、第１遮断波長をもつ試
験光遮断フィルタが設置されている場合には、第１試験
波長の反射減衰量が予め規定されている反射減衰量より
も小さくなり、第２遮断波長をもつ試験光遮断フィルタ
が設置されている場合には、第２試験波長の反射減衰量
が第１試験波長の反射減衰量よりも小さくなるという特
徴を利用して、各反射光強度の大小関係に基づいて試験
光反射フィルタが設置されているか否かを種別を含めて
判定するようにしている。
験光遮断フィルタが設置されている場合には、第１試験
波長の反射減衰量が予め規定されている反射減衰量より
も小さくなり、第２遮断波長をもつ試験光遮断フィルタ
が設置されている場合には、第２試験波長の反射減衰量
が第１試験波長の反射減衰量よりも小さくなるという特
徴を利用して、各反射光強度の大小関係に基づいて試験
光反射フィルタが設置されているか否かを種別を含めて
判定するようにしている。
【００３０】請求項６記載の本発明は、請求項１乃至５
のいずれかに記載のインサービス試験方法において、設
備記録データベースに試験光遮断フィルタが有ると記録
されており、かつ、前記試験光遮断フィルタ有無判定装
置により試験光遮断フィルタが有ると判定された場合
に、特性試験を行うことを特徴とする。
のいずれかに記載のインサービス試験方法において、設
備記録データベースに試験光遮断フィルタが有ると記録
されており、かつ、前記試験光遮断フィルタ有無判定装
置により試験光遮断フィルタが有ると判定された場合
に、特性試験を行うことを特徴とする。
【００３１】本発明にあっては、試験光遮断フィルタの
有無について、設備記録データベースの記録を照合する
とともに、試験光遮断フィルタ有無判定装置で判定する
ようにしたことで、試験光遮断フィルタの有無をより正
確に判定することができる。
有無について、設備記録データベースの記録を照合する
とともに、試験光遮断フィルタ有無判定装置で判定する
ようにしたことで、試験光遮断フィルタの有無をより正
確に判定することができる。
【００３２】請求項７記載の本発明は、請求項１乃至６
のいずれかに記載のインサービス試験方法において、前
記試験光を発生する処理は、試験光の変調周波数を通信
光の信号帯域外に配置することを特徴とする。
のいずれかに記載のインサービス試験方法において、前
記試験光を発生する処理は、試験光の変調周波数を通信
光の信号帯域外に配置することを特徴とする。
【００３３】本発明にあっては、試験光の変調周波数を
通信光の信号帯域外に配置し、通信信号と試験信号とを
周波数多重するようにしたことで、仮に試験光反射フィ
ルタが設置されておらず通信光と共に試験光が加入者端
末に入射した場合であっても、加入者端末の帯域フィル
タにより試験信号を完全に遮断でき、通信信号の劣化を
防止することができる。
通信光の信号帯域外に配置し、通信信号と試験信号とを
周波数多重するようにしたことで、仮に試験光反射フィ
ルタが設置されておらず通信光と共に試験光が加入者端
末に入射した場合であっても、加入者端末の帯域フィル
タにより試験信号を完全に遮断でき、通信信号の劣化を
防止することができる。
【００３４】請求項８記載の本発明は、請求項１乃至７
のいずれかに記載のインサービス試験方法において、前
記反射光強度を測定する処理の前に、通信光を遮断する
処理を行うことを特徴とする。
のいずれかに記載のインサービス試験方法において、前
記反射光強度を測定する処理の前に、通信光を遮断する
処理を行うことを特徴とする。
【００３５】本発明にあっては、反射光強度を測定する
前に通信光を遮断するようにしたことで、試験光の反射
光強度だけを抽出することができるので、試験光遮断フ
ィルタの有無をより正確に判定することができる。
前に通信光を遮断するようにしたことで、試験光の反射
光強度だけを抽出することができるので、試験光遮断フ
ィルタの有無をより正確に判定することができる。
【００３６】請求項９記載の本発明に係る試験光遮断フ
ィルタ有無判定装置は、光線路の遠端に波長依存型の試
験光反射フィルタが設置されているか否かを判定する試
験光遮断フィルタ有無判定装置であって、遮断波長の異
なる複数の試験光遮断フィルタの各遮断波長に対応した
試験波長による試験光を発生する発生手段と、前記試験
光を前記光線路に伝送したときの各試験波長の反射強度
を測定する測定手段と、測定された各反射光強度の大小
関係に基づいて試験光遮断フィルタの有無を種別を含め
て判定する判定手段と、を有することを特徴とする。
ィルタ有無判定装置は、光線路の遠端に波長依存型の試
験光反射フィルタが設置されているか否かを判定する試
験光遮断フィルタ有無判定装置であって、遮断波長の異
なる複数の試験光遮断フィルタの各遮断波長に対応した
試験波長による試験光を発生する発生手段と、前記試験
光を前記光線路に伝送したときの各試験波長の反射強度
を測定する測定手段と、測定された各反射光強度の大小
関係に基づいて試験光遮断フィルタの有無を種別を含め
て判定する判定手段と、を有することを特徴とする。
【００３７】請求項１０記載の本発明は、請求項９記載
の試験光遮断フィルタ有無判定装置において、前記判定
手段は、第１遮断波長に対応した第１試験波長の反射減
衰量が第１遮断波長について予め規定されている反射減
衰量より小さい場合、第１遮断波長をもつ試験光遮断フ
ィルタが有ると判定し、当該試験光遮断フィルタがない
と判定された場合で、第２遮断波長に対応した第２試験
波長の反射減衰量が第１試験波長の反射減衰量よりも小
さい場合に、第２遮断波長をもつ試験光遮断フィルタが
有ると判定し、そうでない場合に、いずれの試験光遮断
フィルタも設置されていないと判定することを特徴とす
る。
の試験光遮断フィルタ有無判定装置において、前記判定
手段は、第１遮断波長に対応した第１試験波長の反射減
衰量が第１遮断波長について予め規定されている反射減
衰量より小さい場合、第１遮断波長をもつ試験光遮断フ
ィルタが有ると判定し、当該試験光遮断フィルタがない
と判定された場合で、第２遮断波長に対応した第２試験
波長の反射減衰量が第１試験波長の反射減衰量よりも小
さい場合に、第２遮断波長をもつ試験光遮断フィルタが
有ると判定し、そうでない場合に、いずれの試験光遮断
フィルタも設置されていないと判定することを特徴とす
る。
【００３８】請求項１１記載の本発明は、請求項９又は
１０記載の試験光遮断フィルタ有無判定装置において、
前記発生手段は、試験光の変調周波数を通信光の信号帯
域外に配置することを特徴とする。
１０記載の試験光遮断フィルタ有無判定装置において、
前記発生手段は、試験光の変調周波数を通信光の信号帯
域外に配置することを特徴とする。
【００３９】請求項１２記載の本発明は、請求項９乃至
１１のいずれかに記載の試験光遮断フィルタ有無判定装
置において、前記測定手段の前段に通信光を遮断する遮
断手段を有することを特徴とする。
１１のいずれかに記載の試験光遮断フィルタ有無判定装
置において、前記測定手段の前段に通信光を遮断する遮
断手段を有することを特徴とする。
【００４０】
【発明の実施の形態】［第１の実施の形態］図１は、第
１の実施の形態におけるインサービス試験方法に用いる
システムの概略構成を示すブロック図である。同図のシ
ステムは、図８に示したインサービス試験システム９に
試験光遮断フィルタ有無判定装置３１が接続された構成
である。試験光遮断フィルタ有無判定装置３１は、信号
発生器３２と、多波長光源３３と、光分岐回路３４と、
受光部３５と、帯域フィルタ３６と、マルチメータ３７
と、判定回路３８と、を有する構成である。なお、その
他、図８と同一物には同一の符号を付すものとし、ここ
では詳細な説明は省略する。
１の実施の形態におけるインサービス試験方法に用いる
システムの概略構成を示すブロック図である。同図のシ
ステムは、図８に示したインサービス試験システム９に
試験光遮断フィルタ有無判定装置３１が接続された構成
である。試験光遮断フィルタ有無判定装置３１は、信号
発生器３２と、多波長光源３３と、光分岐回路３４と、
受光部３５と、帯域フィルタ３６と、マルチメータ３７
と、判定回路３８と、を有する構成である。なお、その
他、図８と同一物には同一の符号を付すものとし、ここ
では詳細な説明は省略する。
【００４１】信号発生器３２は、試験光反射フィルタ８
の有無を判定するための試験信号を発生する。
の有無を判定するための試験信号を発生する。
【００４２】多波長光源３３は、試験光遮断フィルタ８
の低反射率帯域および高反射率帯域に対応する光源をそ
れぞれ少なくとも１ずつ有する。低反射率帯域には第１
の試験波長λ１、高反射率帯域には第２の試験波長λ２
がそれぞれ用意される。この試験波長λ１と試験波長λ
２の出力強度はほぼ一致したものとする。
の低反射率帯域および高反射率帯域に対応する光源をそ
れぞれ少なくとも１ずつ有する。低反射率帯域には第１
の試験波長λ１、高反射率帯域には第２の試験波長λ２
がそれぞれ用意される。この試験波長λ１と試験波長λ
２の出力強度はほぼ一致したものとする。
【００４３】光分岐回路３４は、多波長光源３３が発生
した試験光１１をインサービス試験システム９へ出力
し、光カプラ２を介して光ファイバ３へ伝送する。ま
た、試験光１１が試験光遮断フィルタ８で反射したと
き、あるいは試験光遮断フィルタ８がなく加入者端末７
で反射したときの反射光をインサービス試験システム９
から受光し、これを受光部３５へ出力する。
した試験光１１をインサービス試験システム９へ出力
し、光カプラ２を介して光ファイバ３へ伝送する。ま
た、試験光１１が試験光遮断フィルタ８で反射したと
き、あるいは試験光遮断フィルタ８がなく加入者端末７
で反射したときの反射光をインサービス試験システム９
から受光し、これを受光部３５へ出力する。
【００４４】受光部３５は、受光した光を電気信号に光
電変換する。
電変換する。
【００４５】帯域フィルタ３６は、試験波長λ１の反射
光および試験波長λ２の反射光による試験信号だけを通
過させる周波数帯域特性を有し、通信信号については遮
断する。
光および試験波長λ２の反射光による試験信号だけを通
過させる周波数帯域特性を有し、通信信号については遮
断する。
【００４６】マルチメータ３７は、試験波長λ１の反射
光および試験波長λ２の反射光についてそれぞれ強度を
測定する。
光および試験波長λ２の反射光についてそれぞれ強度を
測定する。
【００４７】判定回路３８は、マルチメータ１７による
測定結果に基づいて、後述する手法で試験光反射フィル
タの有無を判定する。
測定結果に基づいて、後述する手法で試験光反射フィル
タの有無を判定する。
【００４８】図２は、本実施の形態におけるインサービ
ス試験方法による処理の概略を示すフローチャートであ
る。
ス試験方法による処理の概略を示すフローチャートであ
る。
【００４９】ｓｔｅｐ１で、まず、光ファイバ選択部２
４により、現在運用されている現用光ファイバの中から
特性試験の対象となる光ファイバ３を指定する（ｓｔｅ
ｐ１）。
４により、現在運用されている現用光ファイバの中から
特性試験の対象となる光ファイバ３を指定する（ｓｔｅ
ｐ１）。
【００５０】ｓｔｅｐ２で、制御部２５は、指定された
光ファイバ３の遠端に試験光遮断フィルタ８が設置され
ているか否かを設備記録データベース２２と照合する。
光ファイバ３の遠端に試験光遮断フィルタ８が設置され
ているか否かを設備記録データベース２２と照合する。
【００５１】ｓｔｅｐ３で、照合の結果、設備記録デー
タベース２２に試験光遮断フィルタが有ることが記録さ
れている場合には次ステップへ進み、この記録がない場
合には特性試験を中止する。
タベース２２に試験光遮断フィルタが有ることが記録さ
れている場合には次ステップへ進み、この記録がない場
合には特性試験を中止する。
【００５２】ｓｔｅｐ４で、試験光遮断フィルタ有無判
定装置３１により、試験光遮断フィルタ８の有無を判定
する。この判定処理の詳細については後述する。
定装置３１により、試験光遮断フィルタ８の有無を判定
する。この判定処理の詳細については後述する。
【００５３】ｓｔｅｐ５で、判定の結果、試験光遮断フ
ィルタ８が有ると判定された場合には特性試験を実行
し、無いと判定された場合には特性試験を中止する。
ィルタ８が有ると判定された場合には特性試験を実行
し、無いと判定された場合には特性試験を中止する。
【００５４】特性試験の実行は、光パルス試験部２３が
試験光１１を光ファイバ選択部２４および光カプラ２を
介して加入者端末７に伝送し、試験光遮断フィルタ８が
試験光１１を反射したときの反射光の強度を光パルス試
験部２３で測定することにより行われる。
試験光１１を光ファイバ選択部２４および光カプラ２を
介して加入者端末７に伝送し、試験光遮断フィルタ８が
試験光１１を反射したときの反射光の強度を光パルス試
験部２３で測定することにより行われる。
【００５５】このように、本実施の形態では、特性試験
を実行する前に、試験光遮断フィルタ有無判定装置３１
を用いて試験光遮断フィルタ８の有無を判定する。以
下、ステップ４における試験光遮断フィルタ有無判定装
置３１による判定処理について詳細に説明する。
を実行する前に、試験光遮断フィルタ有無判定装置３１
を用いて試験光遮断フィルタ８の有無を判定する。以
下、ステップ４における試験光遮断フィルタ有無判定装
置３１による判定処理について詳細に説明する。
【００５６】試験光遮断フィルタの有無を判定する処理
は、試験光遮断フィルタが実際に配置されていない場合
にも実施される可能性があるため、通信光１０に影響を
与えないようにする必要がある。そこで、信号発生器３
２は、図３に示すように試験信号の周波数が通信信号の
周波数の帯域外となるように周波数配置する。
は、試験光遮断フィルタが実際に配置されていない場合
にも実施される可能性があるため、通信光１０に影響を
与えないようにする必要がある。そこで、信号発生器３
２は、図３に示すように試験信号の周波数が通信信号の
周波数の帯域外となるように周波数配置する。
【００５７】このように周波数配置された試験信号につ
いて、多波長光源３３により第１の試験波長λ１および
第２の試験波長λ２よりなる試験光１１を発生する。
いて、多波長光源３３により第１の試験波長λ１および
第２の試験波長λ２よりなる試験光１１を発生する。
【００５８】光分岐回路３４は、多波長光源３３が発生
した試験光１１をインサービス試験システム９へ出力す
る。インサービス試験システム９は、試験光１１を光カ
プラ２を介して光ファイバ３へ伝送する。また、光カプ
ラ２およびインサービス試験システム９を介して送られ
てくる遠端からの反射光を受光部３５へ出力する。
した試験光１１をインサービス試験システム９へ出力す
る。インサービス試験システム９は、試験光１１を光カ
プラ２を介して光ファイバ３へ伝送する。また、光カプ
ラ２およびインサービス試験システム９を介して送られ
てくる遠端からの反射光を受光部３５へ出力する。
【００５９】受光部３５は、この反射光を光電変換す
る。電気変換により生成された反射信号は、試験信号の
みを通過させる帯域フィルタ３６を介しマルチメータ３
７で受信され、その強度が測定される。判定回路２１
は、測定された反射光強度の大小関係に基づいて、次の
ように試験光遮断フィルタ８の有無を判定する。
る。電気変換により生成された反射信号は、試験信号の
みを通過させる帯域フィルタ３６を介しマルチメータ３
７で受信され、その強度が測定される。判定回路２１
は、測定された反射光強度の大小関係に基づいて、次の
ように試験光遮断フィルタ８の有無を判定する。
【００６０】低反射率帯域の波長がλ１、高反射率帯域
の波長がλ２の試験光遮断フィルタ８が設置されている
場合は、試験光１１の試験波長λ１の成分は大部分が試
験光遮断フィルタ８を通過し、試験波長λ２の成分は大
部分が試験光遮断フィルタ８で遮断、すなわち反射され
る。よって各試験波長における反射光の強度の大小関係
は、
の波長がλ２の試験光遮断フィルタ８が設置されている
場合は、試験光１１の試験波長λ１の成分は大部分が試
験光遮断フィルタ８を通過し、試験波長λ２の成分は大
部分が試験光遮断フィルタ８で遮断、すなわち反射され
る。よって各試験波長における反射光の強度の大小関係
は、
【数６】
で与えられる。
【００６１】一方、試験光遮断フィルタ８が無い場合に
は、波長の相違によっては試験光１１の反射率はほとん
ど変わらないことから、測定される各試験波長における
反射光の強度の大小関係は、
は、波長の相違によっては試験光１１の反射率はほとん
ど変わらないことから、測定される各試験波長における
反射光の強度の大小関係は、
【数７】
で与えられる。
【００６２】そこで、判定回路３８では、試験波長λ１
の反射光強度と試験波長λ２の反射光強度とを比較し、
式（６）の関係が得られたときは試験光遮断フィルタ８
が有ると判定し、式（７）の関係が得られたときは試験
光遮断フィルタ８が無いと判定する。
の反射光強度と試験波長λ２の反射光強度とを比較し、
式（６）の関係が得られたときは試験光遮断フィルタ８
が有ると判定し、式（７）の関係が得られたときは試験
光遮断フィルタ８が無いと判定する。
【００６３】したがって、本実施の形態によれば、光線
路の特性試験を行う前に、試験光遮断フィルタ有無判定
装置３１により、試験光遮断フィルタ８の有無を判定す
るようにしたことで、たとえ設備記録データベース２２
に試験光遮断フィルタ設置の有無について誤って記録さ
れていたとしても、試験光遮断フィルタ８の有無につい
て正確に判定することができ、試験光遮断フィルタ８が
実際には配置されていないにもかかわらず光線路の特性
試験が実行されてしまうことを防止することができる。
これによって、より確実な光線路の特性試験を実現で
き、設備記録データベースの維持管理のためのメンテナ
ンス業務を簡略化でき、目視確認のための現地調査を不
要にでき、設備保守業務の効率化を図ることができる。
路の特性試験を行う前に、試験光遮断フィルタ有無判定
装置３１により、試験光遮断フィルタ８の有無を判定す
るようにしたことで、たとえ設備記録データベース２２
に試験光遮断フィルタ設置の有無について誤って記録さ
れていたとしても、試験光遮断フィルタ８の有無につい
て正確に判定することができ、試験光遮断フィルタ８が
実際には配置されていないにもかかわらず光線路の特性
試験が実行されてしまうことを防止することができる。
これによって、より確実な光線路の特性試験を実現で
き、設備記録データベースの維持管理のためのメンテナ
ンス業務を簡略化でき、目視確認のための現地調査を不
要にでき、設備保守業務の効率化を図ることができる。
【００６４】また、本実施の形態によれば、試験光遮断
フィルタ８が設置されている場合には高反射率帯にある
試験波長λ２の方が低反射率帯にある試験波長λ１より
も反射光強度が大きくなり、試験光遮断フィルタ８がな
い場合には試験波長λ２も試験波長λ１も反射光強度は
ほとんど変わらないことから、各試験波長による反射光
強度の大小関係に基づいて試験光反射フィルタ８が設置
されているか否かを判定するようにしたことで、試験光
遮断フィルタ８の有無について正確に判定することがで
きる。
フィルタ８が設置されている場合には高反射率帯にある
試験波長λ２の方が低反射率帯にある試験波長λ１より
も反射光強度が大きくなり、試験光遮断フィルタ８がな
い場合には試験波長λ２も試験波長λ１も反射光強度は
ほとんど変わらないことから、各試験波長による反射光
強度の大小関係に基づいて試験光反射フィルタ８が設置
されているか否かを判定するようにしたことで、試験光
遮断フィルタ８の有無について正確に判定することがで
きる。
【００６５】また、本実施の形態によれば、試験光遮断
フィルタ８の有無について、設備記録データベース２２
の記録を照合するとともに、試験光遮断フィルタ有無判
定装置３１で判定するようにしたことで、試験光遮断フ
ィルタ８の有無をより正確に判定することができる。
フィルタ８の有無について、設備記録データベース２２
の記録を照合するとともに、試験光遮断フィルタ有無判
定装置３１で判定するようにしたことで、試験光遮断フ
ィルタ８の有無をより正確に判定することができる。
【００６６】また、本実施の形態によれば、信号発生器
３２により試験光１１の変調周波数を通信光１０の信号
帯域外に配置し、通信信号と試験信号とを周波数多重す
るようにしたことで、仮に加入者端末７の前方に試験光
反射フィルタ８が設置されておらず通信光１０とともに
試験光１１が加入者端末７の光受信機１２で受信された
場合であっても、加入者端末７の帯域フィルタ１３によ
り試験光１１による試験信号を完全に遮断することがで
きるので、受信機１４で受信する通信信号の劣化を防止
することができる。更に、試験光遮断フィルタ有無判定
装置３１の帯域フィルタ３６により、反射光についても
通信信号を遮断して試験信号のみを抽出でき、判定回路
３８において、試験光遮断フィルタ８の有無をより正確
に判定することができる。
３２により試験光１１の変調周波数を通信光１０の信号
帯域外に配置し、通信信号と試験信号とを周波数多重す
るようにしたことで、仮に加入者端末７の前方に試験光
反射フィルタ８が設置されておらず通信光１０とともに
試験光１１が加入者端末７の光受信機１２で受信された
場合であっても、加入者端末７の帯域フィルタ１３によ
り試験光１１による試験信号を完全に遮断することがで
きるので、受信機１４で受信する通信信号の劣化を防止
することができる。更に、試験光遮断フィルタ有無判定
装置３１の帯域フィルタ３６により、反射光についても
通信信号を遮断して試験信号のみを抽出でき、判定回路
３８において、試験光遮断フィルタ８の有無をより正確
に判定することができる。
【００６７】以下、周波数多重による効果について詳細
に説明する。試験光１１が通信光１０と比較して十分高
速に正弦波変調（例えば６２２Ｍｂｐｓのデータレート
に対して１２４４ＭＨｚ）されていると仮定する。この
時、試験光１１が加入者端末７に入射した場合の符号誤
り率ＢＥＲは以下の式で与えられる。
に説明する。試験光１１が通信光１０と比較して十分高
速に正弦波変調（例えば６２２Ｍｂｐｓのデータレート
に対して１２４４ＭＨｚ）されていると仮定する。この
時、試験光１１が加入者端末７に入射した場合の符号誤
り率ＢＥＲは以下の式で与えられる。
【００６８】
【数８】
ここで、σ2 2は通信光１０と試験光１１が同時に加入者
端末７に入射したときの等価雑音電流の全分散であり、
σ2 2は以下の式で与えられる。
端末７に入射したときの等価雑音電流の全分散であり、
σ2 2は以下の式で与えられる。
【００６９】
【数９】
ここで、σshot_test 2は試験光１１によるショット雑音
電流、Ｋは加入者端末７の帯域フィルタ１３の試験光変
調周波数における通過率、ＯＭＩは通信光１０の光変調
度、ρtestは試験光１１の変換効率を示す。
電流、Ｋは加入者端末７の帯域フィルタ１３の試験光変
調周波数における通過率、ＯＭＩは通信光１０の光変調
度、ρtestは試験光１１の変換効率を示す。
【００７０】式（９）を用い、Ｋ＝１０-3、ＯＭＩ＝３
５％のときのＢＥＲ特性を図４に実線で示す。同図の破
線は、図１１に示したＢＥＲ特性である。図４が示すよ
うに、試験光１１の変調周波数を通信信号帯域外に周波
数配置することにより、許容受光パワが約３０ｄＢ増加
することが分かる。これにより、例えば、許容受光パワ
の増加に相当する分だけ強いパワで試験光１１を出力す
ることができるようになる。
５％のときのＢＥＲ特性を図４に実線で示す。同図の破
線は、図１１に示したＢＥＲ特性である。図４が示すよ
うに、試験光１１の変調周波数を通信信号帯域外に周波
数配置することにより、許容受光パワが約３０ｄＢ増加
することが分かる。これにより、例えば、許容受光パワ
の増加に相当する分だけ強いパワで試験光１１を出力す
ることができるようになる。
【００７１】［第２の実施の形態］本実施の形態では、
複数の試験光遮断フィルタが設置され得る場合に、試験
光遮断フィルタの種別を含めた有無判定を行うようにし
たインサービス試験方法について説明する。本インサー
ビス試験方法に用いるシステムの基本的な構成は、図１
と同様であるので、ここでは重複する部分については説
明を省略する。
複数の試験光遮断フィルタが設置され得る場合に、試験
光遮断フィルタの種別を含めた有無判定を行うようにし
たインサービス試験方法について説明する。本インサー
ビス試験方法に用いるシステムの基本的な構成は、図１
と同様であるので、ここでは重複する部分については説
明を省略する。
【００７２】図５は、遮断波長が異なる２種類の試験光
遮断フィルタの反射減衰量の波長依存性を示す図であ
る。ここでは、第１遮断波長が１．５５μｍの試験光遮
断フィルタ（以下「１．５５μｍ遮断フィルタ」とい
う）と、第２遮断波長が１．６５μｍの試験光遮断フィ
ルタ（以下「１．６５μｍ遮断フィルタ」という）の２
つを想定する。
遮断フィルタの反射減衰量の波長依存性を示す図であ
る。ここでは、第１遮断波長が１．５５μｍの試験光遮
断フィルタ（以下「１．５５μｍ遮断フィルタ」とい
う）と、第２遮断波長が１．６５μｍの試験光遮断フィ
ルタ（以下「１．６５μｍ遮断フィルタ」という）の２
つを想定する。
【００７３】同図において、Ｒ1.55（f0），Ｒ1.55（f
1），Ｒ1.55（f2）は、測定波長１．５５μｍについて
予め規定されている反射減衰量である。Ｒ1.55（f0），
Ｒ1.55（f1），Ｒ1.55（f2）を用いることによって、既
設光線路において測定される反射減衰量をＲ1.55で表す
とすると、Ｒ1.55＞Ｒ1.55（f0）の場合には、１．５５
μｍ遮断フィルタは無い、Ｒ1.55＜Ｒ1.55（f1）の場合
には、１．５５μｍ遮断フィルタが有る、Ｒ1.55＞Ｒ
1.55（f2）の場合には、いずれの試験光遮断フィルタも
無いと判断することができる。
1），Ｒ1.55（f2）は、測定波長１．５５μｍについて
予め規定されている反射減衰量である。Ｒ1.55（f0），
Ｒ1.55（f1），Ｒ1.55（f2）を用いることによって、既
設光線路において測定される反射減衰量をＲ1.55で表す
とすると、Ｒ1.55＞Ｒ1.55（f0）の場合には、１．５５
μｍ遮断フィルタは無い、Ｒ1.55＜Ｒ1.55（f1）の場合
には、１．５５μｍ遮断フィルタが有る、Ｒ1.55＞Ｒ
1.55（f2）の場合には、いずれの試験光遮断フィルタも
無いと判断することができる。
【００７４】また、Ｒ1.65（f0），Ｒ1.65（f2）は、測
定波長１．６５μｍについて予め規定されている反射減
衰量である。Ｒ1.65（f0），Ｒ1.65（f2）を用いること
によって、既設光線路において測定される反射減衰量を
Ｒ1.65で表すとすると、Ｒ1. 65＞Ｒ1.65（f0）の場合に
は、いずれの試験光遮断フィルタも無い、Ｒ1.65＜Ｒ
1.65（f2）の場合には、１．６５μｍ遮断フィルタが有
ると判断することができる。
定波長１．６５μｍについて予め規定されている反射減
衰量である。Ｒ1.65（f0），Ｒ1.65（f2）を用いること
によって、既設光線路において測定される反射減衰量を
Ｒ1.65で表すとすると、Ｒ1. 65＞Ｒ1.65（f0）の場合に
は、いずれの試験光遮断フィルタも無い、Ｒ1.65＜Ｒ
1.65（f2）の場合には、１．６５μｍ遮断フィルタが有
ると判断することができる。
【００７５】なお、反射減衰量は、マルチメータ３７に
より測定された反射光強度を用いて一意的に求めること
ができる。反射光強度が大きいほど反射減衰量は小さく
なり、反射光強度が小さいほど反射減衰量は大きくな
る。
より測定された反射光強度を用いて一意的に求めること
ができる。反射光強度が大きいほど反射減衰量は小さく
なり、反射光強度が小さいほど反射減衰量は大きくな
る。
【００７６】図６は、図５に示した波長依存性に基づい
て試験光遮断フィルタの種別を含めた有無判定を行う処
理を示すフローチャートである。同図のフローチャート
について説明する前に、この処理を裏付けるために行っ
た変調周波数成分に対する反射光強度の測定実験の結果
について図７を用いて説明する。
て試験光遮断フィルタの種別を含めた有無判定を行う処
理を示すフローチャートである。同図のフローチャート
について説明する前に、この処理を裏付けるために行っ
た変調周波数成分に対する反射光強度の測定実験の結果
について図７を用いて説明する。
【００７７】図７（ａ）は、第１遮断波長に対応する第
１試験波長として１．５５μｍを用いたときの反射光強
度の測定値を示すグラフであり、１．５５μｍ遮断フィ
ルタが設置されている場合、１．６５μｍ遮断フィルタ
が設置されている場合、いずれの試験光遮断フィルタも
ない場合の３種類について示してある。同図（ｂ）は、
第１試験波長に１．５５μｍ、第２遮断波長に対応する
第２試験波長に１．６５μｍを用いたときの反射光強度
の測定値を示すグラフであり、１．６５μｍ遮断フィル
タが設置されている場合、いずれの試験光遮断フィルタ
もない場合の２種類について示してある。
１試験波長として１．５５μｍを用いたときの反射光強
度の測定値を示すグラフであり、１．５５μｍ遮断フィ
ルタが設置されている場合、１．６５μｍ遮断フィルタ
が設置されている場合、いずれの試験光遮断フィルタも
ない場合の３種類について示してある。同図（ｂ）は、
第１試験波長に１．５５μｍ、第２遮断波長に対応する
第２試験波長に１．６５μｍを用いたときの反射光強度
の測定値を示すグラフであり、１．６５μｍ遮断フィル
タが設置されている場合、いずれの試験光遮断フィルタ
もない場合の２種類について示してある。
【００７８】図７（ａ）において、１．５５μｍ遮断フ
ィルタが有る場合は、第１試験波長１．５５μｍの反射
光強度が、Ｒ1.55（ｆ０）に対応する反射光強度よりも
大きいことが観測される。すなわち、反射減衰量で比較
すると、Ｒ1.55＜Ｒ1.55（ｆ０）の関係が成り立つ。一
方、１．６５μｍ遮断フィルタが有る場合や、いずれの
試験光遮断フィルタもない場合には、この関係は成り立
たない。
ィルタが有る場合は、第１試験波長１．５５μｍの反射
光強度が、Ｒ1.55（ｆ０）に対応する反射光強度よりも
大きいことが観測される。すなわち、反射減衰量で比較
すると、Ｒ1.55＜Ｒ1.55（ｆ０）の関係が成り立つ。一
方、１．６５μｍ遮断フィルタが有る場合や、いずれの
試験光遮断フィルタもない場合には、この関係は成り立
たない。
【００７９】同図（ｂ）において、１．６５μｍ遮断フ
ィルタが有る場合は、第１試験波長１．５５μｍの反射
光強度は、第２試験波長１．６５μｍの反射光強度より
も小さいことが観測される。すなわち、反射減衰量で比
較すると、Ｒ1.55＞Ｒ1.65の関係が成り立つ。一方、
１．６５μｍ遮断フィルタがない場合には、この関係は
成り立たない。
ィルタが有る場合は、第１試験波長１．５５μｍの反射
光強度は、第２試験波長１．６５μｍの反射光強度より
も小さいことが観測される。すなわち、反射減衰量で比
較すると、Ｒ1.55＞Ｒ1.65の関係が成り立つ。一方、
１．６５μｍ遮断フィルタがない場合には、この関係は
成り立たない。
【００８０】続いて、図６に示したフローチャートによ
る処理について説明する。まず、試験光遮断フィルタ有
無判定装置３１は、本処理に入る前に、試験波長が１．
５５μｍと１．６５μｍよりなる試験光を生成し、加入
者端末７へ向けて伝送する。
る処理について説明する。まず、試験光遮断フィルタ有
無判定装置３１は、本処理に入る前に、試験波長が１．
５５μｍと１．６５μｍよりなる試験光を生成し、加入
者端末７へ向けて伝送する。
【００８１】ステップ１１で、帯域フィルタ３６による
帯域設定で、反射光の測定波長に１．５５μｍを選択す
る。
帯域設定で、反射光の測定波長に１．５５μｍを選択す
る。
【００８２】ステップ１２で、帯域フィルタ３６を通過
した第１試験波長１．５５μｍの反射光について、マル
チメータ３７により反射光強度を測定し、その反射減衰
量Ｒ 1.55を求める。
した第１試験波長１．５５μｍの反射光について、マル
チメータ３７により反射光強度を測定し、その反射減衰
量Ｒ 1.55を求める。
【００８３】ステップ１３で、判定回路３８は、Ｒ1.55
とＲ1.55（ｆ０）の大小関係を比較し、Ｒ1.55＜Ｒ1.55
（ｆ０）の関係が成立する場合には１．５５μｍ遮断フ
ィルタが有ると判定し、本処理を終了する。一方、この
関係が成立しない場合には、次ステップへ進む。
とＲ1.55（ｆ０）の大小関係を比較し、Ｒ1.55＜Ｒ1.55
（ｆ０）の関係が成立する場合には１．５５μｍ遮断フ
ィルタが有ると判定し、本処理を終了する。一方、この
関係が成立しない場合には、次ステップへ進む。
【００８４】ステップ１４で、帯域フィルタ３６による
帯域設定で、反射光の測定波長に１．６５μｍを選択す
る。
帯域設定で、反射光の測定波長に１．６５μｍを選択す
る。
【００８５】ステップ１５で、帯域フィルタ３６を通過
した第２試験波長１．６５μｍの反射光について、マル
チメータ３７により反射光強度を測定し、その反射減衰
量Ｒ 1.65を求める。
した第２試験波長１．６５μｍの反射光について、マル
チメータ３７により反射光強度を測定し、その反射減衰
量Ｒ 1.65を求める。
【００８６】ステップ１６で、判定回路３８は、Ｒ1.55
とＲ1.65の大小関係を比較し、Ｒ1. 55＞Ｒ1.65の関係が
成立する場合には１．６５μｍ遮断フィルタが有ると判
定し、この関係が成立しない場合には、いずれの試験光
遮断フィルタも設置されていないと判定して本処理を終
了する。
とＲ1.65の大小関係を比較し、Ｒ1. 55＞Ｒ1.65の関係が
成立する場合には１．６５μｍ遮断フィルタが有ると判
定し、この関係が成立しない場合には、いずれの試験光
遮断フィルタも設置されていないと判定して本処理を終
了する。
【００８７】本実施の形態では、試験光遮断フィルタ有
無判定装置３１を用いた有無判定を、光線路の特性試験
を実行する前に行い、試験光遮断フィルタが有ることが
確認された場合にのみ特性試験を実施する。この手順を
踏むことによって、通信信号の品質劣化を招かないイン
サービス試験方法が実現される。
無判定装置３１を用いた有無判定を、光線路の特性試験
を実行する前に行い、試験光遮断フィルタが有ることが
確認された場合にのみ特性試験を実施する。この手順を
踏むことによって、通信信号の品質劣化を招かないイン
サービス試験方法が実現される。
【００８８】したがって、本実施の形態によれば、遮断
波長が異なる複数の試験光遮断フィルタが用いられる場
合に、各遮断波長に対応する試験波長の反射強度の大小
関係に基づいて試験光遮断フィルタの有無を種別を含め
て判定するようにしたことで、たとえ試験光遮断フィル
タの有無が未知であって、複数種の試験光遮断フィルタ
が設置されていたとしても、試験光遮断フィルタの有無
について正確に判定することができ、試験光遮断フィル
タが実際には配置されていないにもかかわらず光線路の
特性試験が実行されてしまうことを防止することができ
る。これによって、より確実な光線路の特性試験を実現
でき、設備記録データベースの維持管理のためのメンテ
ナンス業務を簡略化でき、目視確認のための現地調査を
不要にでき、設備保守業務の効率化を図ることができ
る。
波長が異なる複数の試験光遮断フィルタが用いられる場
合に、各遮断波長に対応する試験波長の反射強度の大小
関係に基づいて試験光遮断フィルタの有無を種別を含め
て判定するようにしたことで、たとえ試験光遮断フィル
タの有無が未知であって、複数種の試験光遮断フィルタ
が設置されていたとしても、試験光遮断フィルタの有無
について正確に判定することができ、試験光遮断フィル
タが実際には配置されていないにもかかわらず光線路の
特性試験が実行されてしまうことを防止することができ
る。これによって、より確実な光線路の特性試験を実現
でき、設備記録データベースの維持管理のためのメンテ
ナンス業務を簡略化でき、目視確認のための現地調査を
不要にでき、設備保守業務の効率化を図ることができ
る。
【００８９】なお、本実施の形態においても、試験光遮
断フィルタの有無について試験光遮断フィルタ有無判定
装置３１により判定するとともに、第１の実施の形態で
示したように、設備記録データベース２２の記録を照合
するようにしてもよい。これにより、試験光遮断フィル
タの有無をより正確に判定することができる。
断フィルタの有無について試験光遮断フィルタ有無判定
装置３１により判定するとともに、第１の実施の形態で
示したように、設備記録データベース２２の記録を照合
するようにしてもよい。これにより、試験光遮断フィル
タの有無をより正確に判定することができる。
【００９０】また、本実施の形態においても、信号発生
器３２により試験光１１の変調周波数を通信光１０の信
号帯域外に配置するようにしてもよい。更に、試験光遮
断フィルタ有無判定装置３１の帯域フィルタ３６によ
り、反射光についても通信信号を遮断して試験信号のみ
を抽出するようにしてもよい。
器３２により試験光１１の変調周波数を通信光１０の信
号帯域外に配置するようにしてもよい。更に、試験光遮
断フィルタ有無判定装置３１の帯域フィルタ３６によ
り、反射光についても通信信号を遮断して試験信号のみ
を抽出するようにしてもよい。
【００９１】
【発明の効果】以上、説明したように、本発明に係るイ
ンサービス試験方法および試験光遮断フィルタ有無判定
装置によれば、光線路の特性試験を行う前に、試験光遮
断フィルタ有無判定装置により試験光遮断フィルタの有
無を判定するようにしたことで、試験光遮断フィルタが
実際には配置されていないにもかかわらず光線路の特性
試験が実行されてしまうことを防止することができる。
ンサービス試験方法および試験光遮断フィルタ有無判定
装置によれば、光線路の特性試験を行う前に、試験光遮
断フィルタ有無判定装置により試験光遮断フィルタの有
無を判定するようにしたことで、試験光遮断フィルタが
実際には配置されていないにもかかわらず光線路の特性
試験が実行されてしまうことを防止することができる。
【図１】第１の実施の形態におけるインサービス試験方
法に用いるシステムの全体構成を示すブロック図であ
る。
法に用いるシステムの全体構成を示すブロック図であ
る。
【図２】第１の実施の形態におけるインサービス試験方
法による処理の概略を示すフローチャートである。
法による処理の概略を示すフローチャートである。
【図３】第１の実施の形態において周波数多重した場合
の通信信号と試験信号のスペクトルの一例を示す模式図
である。
の通信信号と試験信号のスペクトルの一例を示す模式図
である。
【図４】第１の実施の形態において周波数多重した場合
の試験光の加入者端末における平均受光パワとＢＥＲと
の関係の一例を示すグラフである。
の試験光の加入者端末における平均受光パワとＢＥＲと
の関係の一例を示すグラフである。
【図５】第２の実施の形態において２種類の試験光遮断
フィルタの反射減衰量の波長依存性を示す図である。
フィルタの反射減衰量の波長依存性を示す図である。
【図６】第２の実施の形態において試験光遮断フィルタ
の種別を含めた有無判定を行う処理を示すフローチャー
トである。
の種別を含めた有無判定を行う処理を示すフローチャー
トである。
【図７】変調周波数成分に対する反射光強度の測定値を
示す図であり、同図（ａ）は試験波長が１．５５μｍの
とき、同図（ｂ）は試験波長が１．６５μのときのもの
をそれぞれ示す。
示す図であり、同図（ａ）は試験波長が１．５５μｍの
とき、同図（ｂ）は試験波長が１．６５μのときのもの
をそれぞれ示す。
【図８】従来の光線路の特性試験を実施するための設備
の概略構成を示すブロック図である。
の概略構成を示すブロック図である。
【図９】従来の光線路の特性試験を行うときの処理の一
例を示すフローチャートである。
例を示すフローチャートである。
【図１０】従来の通信信号と試験信号のスペクトルの一
例を示す模式図である。
例を示す模式図である。
【図１１】従来の試験光の加入者端末における平均受光
パワとＢＥＲとの関係の一例を示すグラフである。
パワとＢＥＲとの関係の一例を示すグラフである。
１ 局内装置
２ 光カプラ
３ 光ファイバ
７ 加入者端末
８ 試験光遮断フィルタ
９ インサービス試験システム
１０ 通信光
１１ 試験光
１２ 光受信機
１３ 帯域フィルタ
１４ 受信機
２２ 設備記録データベース
２３ 光パルス試験部
２４ 光ファイバ選択部
２５ 制御部
３１ 試験光遮断フィルタ有無判定装置
３２ 信号発生器
３３ 多波長光源
３４ 光分岐回路
３５ 受光部
３６ 帯域フィルタ
３７ マルチメータ
３８ 判定回路
フロントページの続き
(72)発明者 荒川 孝二
東京都新宿区西新宿三丁目19番２号 東日
本電信電話株式会社内
Ｆターム(参考） 2G086 CC04
5K102 AA42 AA46 LA02 LA11 LA22
LA52 MH11 PC01 PC13
Claims (12)
- 【請求項１】 光線路の特性試験を行う前に、当該光線
路の遠端に波長依存型の試験光遮断フィルタが設置され
ているか否かを試験光遮断フィルタ有無判定装置により
判定し、試験光遮断フィルタが有ると判定された場合に
特性試験を行うことを特徴とするインサービス試験方
法。 - 【請求項２】 前記試験光遮断フィルタ有無判定装置
は、 前記試験光遮断フィルタの低反射率帯にある第１の試験
波長および高反射率帯にある第２の試験波長による試験
光を発生する処理と、 前記試験光を前記光線路に伝送したときの各試験波長の
反射強度を測定する処理と、 測定された各反射光強度の大小関係に基づいて試験光遮
断フィルタの有無を判定する処理と、 を行うことを特徴とする請求項１記載のインサービス試
験方法。 - 【請求項３】 前記試験光遮断フィルタの有無を判定す
る処理は、第１の試験波長の反射光強度が第２の試験波
長の反射光強度よりも小さい場合に試験光遮断フィルタ
が有ると判定し、第１の試験波長の反射光強度と第２の
試験波長の反射光強度が同等の場合に試験光遮断フィル
タが無いと判定することを特徴とする請求項１又は２記
載のインサービス試験方法。 - 【請求項４】 前記試験光遮断フィルタ有無判定装置
は、遮断波長が異なる複数の試験光遮断フィルタが用い
られる場合に、 各遮断波長に対応した試験波長による試験光を発生する
処理と、 前記試験光を前記光線路に伝送したときの各試験波長の
反射強度を測定する処理と、 測定された各反射光強度の大小関係に基づいて試験光遮
断フィルタの有無を種別を含めて判定する処理と、 を行うことを特徴とする請求項１記載のインサービス試
験方法。 - 【請求項５】 前記試験光遮断フィルタの有無を種別を
含めて判定する処理は、 第１遮断波長に対応する第１試験波長の反射減衰量が第
１遮断波長について予め規定されている反射減衰量より
も小さい場合に、第１遮断波長をもつ試験光遮断フィル
タが有ると判定し、 当該試験光遮断フィルタがないと判定された場合で、第
２遮断波長に対応する第２試験波長の反射減衰量が第１
試験波長の反射減衰量よりも小さい場合に、第２遮断波
長をもつ試験光遮断フィルタが有ると判定し、そうでな
い場合に、いずれの試験光遮断フィルタも設置されてい
ないと判定することを特徴とする請求項４記載のインサ
ービス試験方法。 - 【請求項６】 設備記録データベースに試験光遮断フィ
ルタが有ると記録されており、かつ、前記試験光遮断フ
ィルタ有無判定装置により試験光遮断フィルタが有ると
判定された場合に、特性試験を行うことを特徴とする請
求項１乃至５のいずれかに記載のインサービス試験方
法。 - 【請求項７】 前記試験光を発生する処理は、試験光の
変調周波数を通信光の信号帯域外に配置することを特徴
とする請求項１乃至６のいずれかに記載のインサービス
試験方法。 - 【請求項８】 前記反射強度を測定する処理の前に、通
信光を遮断する処理を行うことを特徴とする請求項１乃
至７のいずれかに記載のインサービス試験方法。 - 【請求項９】 光線路の遠端に波長依存型の試験光反射
フィルタが設置されているか否かを判定する試験光遮断
フィルタ有無判定装置であって、 遮断波長の異なる複数の試験光遮断フィルタの各遮断波
長に対応した試験波長による試験光を発生する発生手段
と、 前記試験光を前記光線路に伝送したときの各試験波長の
反射強度を測定する測定手段と、 測定された各反射光強度の大小関係に基づいて試験光遮
断フィルタの有無を種別を含めて判定する判定手段と、 を有することを特徴とする試験光遮断フィルタ有無判定
装置。 - 【請求項１０】 前記判定手段は、試験光遮断フィルタ
の第１遮断波長に対応した第１試験波長の反射減衰量が
第１遮断波長について予め規定されている反射減衰量よ
りも小さい場合に、第１遮断波長をもつ試験光遮断フィ
ルタが有ると判定し、 当該試験光遮断フィルタがないと判定された場合で、第
２遮断波長に対応した第２試験波長の反射減衰量が第１
試験波長の反射減衰量よりも小さい場合に、第２遮断波
長をもつ試験光遮断フィルタが有ると判定し、そうでな
い場合に、いずれの試験光遮断フィルタも設置されてい
ないと判定することを特徴とする請求項９記載の試験光
遮断フィルタ有無判定装置。 - 【請求項１１】 前記発生手段は、試験光の変調周波数
を通信光の信号帯域外に配置することを特徴とする請求
項９又は１０記載の試験光遮断フィルタ有無判定装置。 - 【請求項１２】 前記測定手段の前段に通信光を遮断す
る遮断手段を有することを特徴とする請求項９乃至１１
のいずれかに記載の試験光遮断フィルタ有無判定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002097029A JP4072368B2 (ja) | 2002-03-29 | 2002-03-29 | インサービス試験方法および試験光遮断フィルタ有無判定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2002097029A JP4072368B2 (ja) | 2002-03-29 | 2002-03-29 | インサービス試験方法および試験光遮断フィルタ有無判定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2003294577A true JP2003294577A (ja) | 2003-10-15 |
| JP4072368B2 JP4072368B2 (ja) | 2008-04-09 |
Family
ID=29239789
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2002097029A Expired - Lifetime JP4072368B2 (ja) | 2002-03-29 | 2002-03-29 | インサービス試験方法および試験光遮断フィルタ有無判定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP4072368B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008309958A (ja) * | 2007-06-13 | 2008-12-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光ファイバの終端状態判定方法 |
| JP2010038760A (ja) * | 2008-08-06 | 2010-02-18 | Nippon Telegraph & Telephone East Corp | 光カプラ判定装置及び光カプラ判定方法 |
| JP2011196686A (ja) * | 2010-03-17 | 2011-10-06 | Anritsu Corp | 光線路監視装置及び光線路監視システム及び光線路監視方法 |
| JP2013213832A (ja) * | 2013-07-11 | 2013-10-17 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 光ファイバケーブルの接続位置判定方法 |
| JP2015080020A (ja) * | 2013-10-15 | 2015-04-23 | 日本電信電話株式会社 | 光線路波長測定システム及び光試験装置 |
| EP2356760A4 (en) * | 2008-10-17 | 2016-07-20 | Exfo Inc | METHOD AND DEVICE FOR DERIVING PARAMETERS OF OPTICAL PATHS IN OPTICAL NETWORKS USING TWO WAVELENGTH OTDR AND A WAVE LENGTH-RELATED REFLECTIVE ELEMENT |
-
2002
- 2002-03-29 JP JP2002097029A patent/JP4072368B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008309958A (ja) * | 2007-06-13 | 2008-12-25 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光ファイバの終端状態判定方法 |
| JP2010038760A (ja) * | 2008-08-06 | 2010-02-18 | Nippon Telegraph & Telephone East Corp | 光カプラ判定装置及び光カプラ判定方法 |
| EP2356760A4 (en) * | 2008-10-17 | 2016-07-20 | Exfo Inc | METHOD AND DEVICE FOR DERIVING PARAMETERS OF OPTICAL PATHS IN OPTICAL NETWORKS USING TWO WAVELENGTH OTDR AND A WAVE LENGTH-RELATED REFLECTIVE ELEMENT |
| JP2011196686A (ja) * | 2010-03-17 | 2011-10-06 | Anritsu Corp | 光線路監視装置及び光線路監視システム及び光線路監視方法 |
| JP2013213832A (ja) * | 2013-07-11 | 2013-10-17 | Chugoku Electric Power Co Inc:The | 光ファイバケーブルの接続位置判定方法 |
| JP2015080020A (ja) * | 2013-10-15 | 2015-04-23 | 日本電信電話株式会社 | 光線路波長測定システム及び光試験装置 |
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|---|---|
| JP4072368B2 (ja) | 2008-04-09 |
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