JP4067523B2 - High frequency module - Google Patents
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Description
本発明は電圧制御発振器等に使用して好適な高周波モジュール、及びその測定方法に関する。 The present invention relates to a high-frequency module suitable for use in a voltage controlled oscillator and the like, and a measuring method thereof.
図4は従来の高周波モジュールの要部断面図、図5は従来の高周波モジュールの測定方法を示す説明図であり、次に、従来の高周波モジュールの構成を図4に基づいて説明すると、ロ字状をなした枠体51内には、四角形状の回路基板52が取り付けられ、この回路基板52には、複数の貫通孔52aが設けられると共に、回路基板52の両面には、測定用のランド部53aを有した配線パターン53が設けられ、そして、ここでは図示しないが、配線パターン53に種々の電子部品(図示せず)が搭載されて、所望の電気回路が形成されている。
FIG. 4 is a cross-sectional view of the main part of a conventional high-frequency module, FIG. 5 is an explanatory view showing a measurement method of the conventional high-frequency module, and the configuration of the conventional high-frequency module will now be described with reference to FIG. A
金属板からなる上、下カバー54,55は、枠体51の上下の開口部を塞ぐように、枠体51に取り付けられ、この上、下カバー54,55は、回路基板52の貫通孔52aと対向する位置に設けられた孔54a、55aを有して、従来の高周波モジュールが形成されている。(特許文献1参照)
The upper and
しかし、従来の高周波モジュールは、枠体51と、枠体51の上下開放部を塞ぐ上、下カバー54,55を必要とし、部品点数が多くなって、高価になるばかりか、大型となり、また、上、下カバー54,55には、孔54a、55aが設けられているため、電気的なシールドが悪くなる。
However, the conventional high-frequency module requires the
次に、従来の高周波モジュールの測定方法を図5に基づいて説明すると、先ず、高周波モジュールが保持台56上に載置(セット)された後、支持部材57に取り付けられたガイド棒58が上方に移動して、ガイド棒58が上、下カバー54,55の孔54a、55aと回路基板52の貫通孔52aに挿通されて、高周波モジュールの横方向の位置決めが行われる。
Next, a conventional method for measuring a high-frequency module will be described with reference to FIG. 5. First, after the high-frequency module is placed (set) on the holding table 56, the
次に、支持部材57に取り付けられたプローブ59が下カバー55の孔55bを通って測定用のランド部53aに接触され、プローブ59に接続された測定器(図示せず)を通して、電気的な測定を行うようになっている。(特許文献1参照)
Next, the
しかし、従来の高周波モジュールの測定方法は、ガイド棒58によって、高周波モジュールの横方向の位置決めができるが、保持台56に対する高周波モジュールの傾き(セット状態)の確認ができず、従って、プローブ59がランド部53aに接触しない状態で測定される事態が生じ、従って、測定エラーが生じて、正確な測定ができない。
また、上、下カバー54,55を有したものであるため、高周波モジュールを保持台56にセットする際、載置ミスを生じ易くなる。
However, in the conventional high frequency module measurement method, the high frequency module can be positioned in the lateral direction by the
In addition, since the upper and
従来の高周波モジュールは、枠体51と、枠体51の上下開放部を塞ぐ上、下カバー54,55を必要とし、部品点数が多くなって、高価になるばかりか、大型となり、また、上、下カバー54,55には、孔54a、55aが設けられているため、電気的なシールドが悪くなるという問題がある。
The conventional high-frequency module requires the
また、従来の高周波モジュールの測定方法は、ガイド棒58によって、高周波モジュールの横方向の位置決めができるが、保持台56に対する高周波モジュールの傾き(セット状態)の確認ができず、従って、プローブ59がランド部53aに接触しない状態で測定される事態が生じ、従って、測定エラーが生じて、正確な測定ができない上に、上、下カバー54,55を有したものであるため、高周波モジュールを保持台56にセットする際、載置ミスを生じ易くなるという問題がある。
In the conventional high frequency module measurement method, the high frequency module can be positioned in the lateral direction by the
そこで、本発明は安価で、小型化でき、シールド効果が良好であると共に、正確な測定ができる高周波モジュール、及びその測定方法を提供することを目的とする。 SUMMARY OF THE INVENTION Accordingly, an object of the present invention is to provide a high-frequency module that is inexpensive, can be miniaturized, has a good shielding effect, and can perform an accurate measurement, and a measuring method thereof.
上記課題を解決するための第1の解決手段として、ランド部を有する配線パターンが設けられ、上面に設けられた前記配線パターンに電子部品が接続された多層基板で構成される回路基板と、前記電子部品を覆った状態で、前記回路基板に取り付けられた箱形のカバーとを備え、前記回路基板の下面には、外部接続用の前記ランド部と、複数の有底の凹部と、前記凹部の底面に設けられ、前記配線パターンの一部で構成される導通ランド部が設けられ、複数の前記導通ランド部間、又は/及び前記導通ランド部と前記ランド部との間が導通された構成とした。 As a first means for solving the above problems, a circuit board comprising a multilayer substrate in which a wiring pattern having a land portion is provided and an electronic component is connected to the wiring pattern provided on the upper surface; A box-shaped cover attached to the circuit board in a state of covering the electronic component, and the lower surface of the circuit board has the land portion for external connection, a plurality of bottomed recesses, and the recesses A conductive land portion formed by a part of the wiring pattern is provided, and a plurality of conductive land portions or / and the conductive land portion and the land portion are electrically connected. It was.
また、第2の解決手段として、前記回路基板は、四角状をなし、前記ランド部が前記下面の4辺に沿って配設されると共に、前記回路基板の前記下面に設けられたキャビティ内には、フリップチップ部品が取り付けられ、前記凹部が前記ランド部と前記キャビティとの間に設けられた構成とした。
また、第3の解決手段として、前記導通ランド部は、電源端子用、又は接地端子用の前記ランド部に接続された構成とした。
As a second solving means, the circuit board has a square shape, the land portions are disposed along the four sides of the lower surface, and the cavity is provided in the cavity provided on the lower surface of the circuit board. The flip chip component is attached and the concave portion is provided between the land portion and the cavity.
As a third solution, the conductive land portion is connected to the land portion for a power supply terminal or a ground terminal.
また、第4の解決手段として、請求項1から3の何れかに記載の高周波モジュールと、前記ランド部に接続可能な複数のプローブと、前記凹部内に挿入され、前記導通ランド部に接続可能な複数のガイドピンと、前記プローブと前記ガイドピンに接続された測定器とを備え、複数の前記ガイドピンが前記凹部内に挿入されて、前記高周波モジュールの位置決めを行うと共に、前記ガイドピン間、又は/及び前記ガイドピンと前記プローブ間で導通状態をチェックして、前記高周波モジュールの測定開始時のセット状態を確認できるようにした測定方法とした。
As a fourth solution, the high-frequency module according to any one of
また、第5の解決手段として、前記ガイドピンは、前記プローブが前記ランド部に接続される前に、前記導通ランド部に接続されるようにした測定方法とした。 As a fifth solution, the guide pin is connected to the conductive land portion before the probe is connected to the land portion.
本発明の高周波モジュールは、ランド部を有する配線パターンが設けられ、上面に設けられた配線パターンに電子部品が接続された多層基板で構成される回路基板と、電子部品を覆った状態で、回路基板に取り付けられた箱形のカバーとを備え、回路基板の下面には、外部接続用のランド部と、複数の有底の凹部と、凹部の底面に設けられ、配線パターンの一部で構成される導通ランド部が設けられ、複数の導通ランド部間、又は/及び導通ランド部とランド部との間が導通された構成とした。
即ち、本発明の高周波モジュールは、回路基板と1個のカバーで構成されるため、従来に比して、部品点数が少なく、安価で、小型化できると共に、回路基板の下面に設けられた凹部は、測定時の位置決め用として利用でき、従来のようなカバーに孔を設けるものに比して、シールド効果の良好なものが得られる。
また、導通ランド部間、又は/及び導通ランド部とランド部との間が導通された構成によって、測定開始時における高周波モジュールのセット状態(傾き状態)が確認でき、従って、測定エラーが無く、正確な測定ができる。
The high-frequency module according to the present invention includes a circuit board including a multilayer substrate in which a wiring pattern having a land portion is provided and an electronic component is connected to the wiring pattern provided on the upper surface, and a circuit in a state where the electronic component is covered. A box-shaped cover attached to the board, and the lower surface of the circuit board is provided with a land portion for external connection, a plurality of recessed portions with bottoms, and a bottom surface of the recessed portion, and is composed of a part of the wiring pattern. The conductive land portion is provided, and a plurality of conductive land portions or / and a conductive land portion and a land portion are electrically connected.
That is, since the high-frequency module of the present invention is composed of a circuit board and a single cover, the number of parts is less than that of the conventional structure, and the cost can be reduced, and the recess provided on the lower surface of the circuit board. Can be used for positioning at the time of measurement, and can provide a shield effect better than a conventional cover provided with a hole.
In addition, the configuration in which the conduction land portions or / and the conduction land portion and the land portion are conducted can confirm the set state (tilt state) of the high-frequency module at the start of measurement, and thus there is no measurement error. Accurate measurement is possible.
また、回路基板は、四角状をなし、ランド部が下面の4辺に沿って配設されると共に、回路基板の下面に設けられたキャビティ内には、フリップチップ部品が取り付けられ、凹部がランド部とキャビティとの間に設けられたため、フリップチップ部品をキャビティ内に収納することによって、小型化を図ることができると共に、凹部がランド部とキャビティとの間に設けられたため、空きスペースを有効に利用できて、小型のものが得られる。 In addition, the circuit board has a square shape, the land portion is disposed along the four sides of the lower surface, and the flip chip component is mounted in the cavity provided on the lower surface of the circuit board, and the concave portion is the land. Since it is provided between the cavity and the cavity, it can be miniaturized by storing the flip chip component in the cavity, and the recess is provided between the land and the cavity, so that an empty space is effective. It can be used for a small size.
また、導通ランド部は、電源端子用、又は接地端子用のランド部に接続されたため、高周波モジュールのセット状態の確認のための導通線路が直流の電源端子用、又は/及び接地端子用に接続された状態となり、従って、高周波線路に影響が無い状態で、正確な測定ができる。 In addition, since the conduction land is connected to the land for the power supply terminal or the ground terminal, the conduction line for confirming the set state of the high frequency module is connected to the DC power supply terminal or / and the ground terminal. Therefore, accurate measurement can be performed without affecting the high-frequency line.
また、高周波モジュールと、ランド部に接続可能な複数のプローブと、凹部内に挿入され、導通ランド部に接続可能な複数のガイドピンと、プローブとガイドピンに接続された測定器とを備え、複数のガイドピンが凹部内に挿入されて、高周波モジュールの位置決めを行うと共に、ガイドピン間、又は/及びガイドピンとプローブ間で導通状態をチェックして、高周波モジュールの測定開始時のセット状態を確認できるようにしたため、ガイドピンによって、高周波モジュールの横方向の位置決めを行うことができると共に、ガイドピン間、又は/及びガイドピンとプローブ間で導通状態をチェックして、高周波モジュールの測定開始時のセット状態を確認できることによって、測定エラーが無く、正確な測定ができる。
また、高周波モジュールは、下方が回路基板、上方がカバーで構成されるため、保持台への載置側が明確となって、従来に比して、載置ミスを無くすることができる。
Also provided with a high frequency module, a plurality of probes connectable to the land portion, a plurality of guide pins inserted into the recesses and connectable to the conductive land portion, and a measuring instrument connected to the probe and the guide pins, The guide pin is inserted into the recess to position the high frequency module, and the conduction state between the guide pin and / or between the guide pin and the probe can be checked to confirm the set state at the start of measurement of the high frequency module. As a result, the high-frequency module can be positioned laterally with the guide pins, and the conduction state between the guide pins or / and between the guide pins and the probe is checked, and the set state at the start of measurement of the high-frequency module Can be measured accurately without measurement errors.
In addition, since the high-frequency module is configured with a circuit board on the lower side and a cover on the upper side, the mounting side on the holding table is clarified, and mounting errors can be eliminated as compared with the prior art.
また、ガイドピンは、プローブがランド部に接続される前に、導通ランド部に接続されるようにしたため、プローブがランド部に接続される前に、高周波モジュールの測定開始時のセット状態が確認でき、従って、測定作業が容易で、且つ、測定作業の操作の迅速なものが得られる。 In addition, since the guide pin is connected to the conductive land before the probe is connected to the land, the set state at the start of measurement of the high frequency module is confirmed before the probe is connected to the land. Therefore, the measurement work is easy and a quick operation of the measurement work can be obtained.
本発明の高周波モジュール、及びその測定方法の図面を説明すると、図1は本発明の高周波モジュールに係り、一部を切断した正面図、図2は本発明の高周波モジュールの下面図、図3は本発明の高周波モジュールの測定方法を示す説明図である。 Referring to the drawings of the high-frequency module of the present invention and the measuring method thereof, FIG. 1 relates to the high-frequency module of the present invention, and is a partially cut front view, FIG. 2 is a bottom view of the high-frequency module of the present invention, FIG. It is explanatory drawing which shows the measuring method of the high frequency module of this invention.
次に、本発明の高周波モジュールの構成を図1、図2に基づいて説明すると、多層基板からなる四角形状の回路基板1は、上面1aから下面1b側に向けて設けられた複数個の有底の凹み部1cと、下面1bに設けられた凹状のキャビティ1dと、キャビティ1dと側面1eとの間で、キャビティ1dと後述するランド部3aの間に位置した状態で、下面1bに設けられた複数の有底の凹部1fを有する。
Next, the configuration of the high-frequency module according to the present invention will be described with reference to FIGS. 1 and 2. A
また、回路基板1は、低温焼成等によって形成されるセラミックや、ガラスエポキシ系等からなる熱可塑性樹脂によって構成され、この回路基板1の上面1a、下面1b、及び積層間には、配線パターン2が設けられて、この配線パターン2は、四角形状の4辺に沿って下面1bに設けられた複数のランド部3aと、凹部1fの底面に設けられた導通ランド部3bを有する。
The
そして、下面1bに設けられたランド部3aは、電源端子用や接地端子用等が含まれ、外部接続用端子として使用されると共に、凹部1fの底面に設けられた導通ランド部3bは、導通ランド部3b同士が導通状態、又は/及び導通ランド部3bとランド部3aが導通状態となっている。
この時、導通ランド部3bに接続されるランド部3aは、電源端子用や接地端子用のランド部3aが良好である。
また、ランド部3aは、スルーホール等の接続導体4によって、配線パターン2に接続されて、外部接続用として下面1bに引き出されている。
The
At this time, the
The
このような構成を有する回路基板1の上面1aに設けられた配線パターン2上には、チップ型のコンデンサや抵抗等の種々の電子部品5が半田付けされると共に、フリップチップ部品6が下面1bのキャビティ1d内に収納された状態で、バンプ等によって配線パターン2に接続されて、所望の電気回路が形成されている。
On the
金属板からなる箱形のカバー7は、上面板7aと、この上面板7aの4辺から下方に折り曲げられた4つの側面板7bと、側面板7bから下方に延びる4つの突出部7cを有する。
このカバー7は、回路基板1の上面1a、及び電子部品5を覆った状態で、突出部7cを凹み部1c内に挿入して、カバー7の位置決めを行った状態で、突出部7cが配線パターン2に半田付等されて、回路基板1に取り付けられる。
The box-shaped
The
このような構成を有する本発明の高周波モジュールは、回路基板1の下面1bがマザー基板8上に載置され、下面1bに設けられた外部接続用のランド部3aがマザー基板8の回路(図示せず)に半田付けされて接続されるようになっている。
In the high-frequency module of the present invention having such a configuration, the
次に、本発明の高周波モジュールの測定方法を図3に基づいて説明すると、先ず、図3に示すように、測定装置11として、高周波モジュールを保持するための絶縁材からなる保持台12と、ランド部3aに接続可能な複数のプローブ13と、凹部1f内に挿入されて、導通ランド部3bに接続可能な複数のガイドピン14と、プローブ13とガイドピン14が接続された測定器15を用意する。
Next, the high-frequency module measurement method of the present invention will be described with reference to FIG. 3. First, as shown in FIG. 3, as a measuring device 11, a holding
そして、高周波モジュールの回路基板1側を下方にして、高周波モジュールを保持台12上に載置(セット)するが、この途上において、先ず、複数のガイドピン14が凹部1f内に挿入され、これによって、高周波モジュールの横方向の位置決めが行われる。
Then, the high-frequency module is placed (set) on the holding
次に、高周波モジュールが保持台12上に載置(セット)されると共に、ガイドピン14が導通ランド部3bに接触し、測定器15によって、ガイドピン14間の導通状態を確認して、測定開始時のセット状態、即ち、保持台12に対する高周波モジュールの傾きが無く、正常な状態にあることを確認できるようになっている。
その結果、次の動作、即ち、プローブ13の移動を行っても、プローブ13がランド部3aに正確に接触できることが判別できる。
Next, the high-frequency module is placed (set) on the holding table 12, the
As a result, even if the next operation, that is, the movement of the
なお、ガイドピン14と凹部1fの関係は、高周波モジュールが保持台12上に載置(セット)された後に、ガイドピン14が凹部1f内に挿入するようにしても良い。
次に、プローブ13をランド部3aに接触させて、プローブ13に接続された測定器15を通して、電気的な測定を行うようになっている。
The relationship between the
Next, the
なお、上記実施例では、ガイドピン14間の導通で、測定開始時のセット状態を確認するようにしたが、ガイドピン1を導通ランド部3bに接触し、且つ、プローブ13がランド部3aに接触した状態で、プローブ13とガイドピン14間の導通で、測定開始時のセット状態を確認するようにしたり、また、ガイドピン14間の導通と、プローブ13とガイドピン14間の導通を組み合わせて、測定開始時のセット状態を確認するようにしても良い。
In the above embodiment, the set state at the start of measurement is confirmed by conduction between the guide pins 14, but the
1:回路基板
1a:上面
1b:下面
1c:凹み部
1d:キャビティ
1e:側面
1f:凹部
2:配線パターン
3a:ランド部
3b:導通ランド部
4:接続導体
5:電子部品
6:フリップチップ部品
7:カバー
7a:上面板
7b:側面板
7c:突出部
8:マザー基板
11:測定装置
12:保持台
13:プローブ
14:ガイドピン
15:測定器
1:
Claims (5)
5. The method of measuring a high frequency module according to claim 4, wherein the guide pin is connected to the conductive land portion before the probe is connected to the land portion.
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