JP4066673B2 - Substrate cleaning apparatus and cleaning method using the same - Google Patents

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Description

【0001】
【発明の属する技術分野】
本発明は、平板状基板を洗浄対象とするエレクトロニクス分野全般、とりわけカラーフィルター製造における平板基板受入洗浄工程、及び着色パターン付基板中間洗浄工程に係わる洗浄装置及び洗浄方法に関する。
【0002】
【従来の技術】
液晶ディスプレイ等に用いられるカラーフィルターは、微細な赤、緑、青等のパターンからなる光学素子である。そしてその製造は、ガラス等の透明基板に感光性のレジストを塗布、露光、現像等の工程からなり、各色について同様の工程が繰り返される。洗浄工程はクリーンルームへ基板搬入の際の受入洗浄に始まり、レジスト各色の塗布前洗浄、さらには着色パターン後の研磨等における洗浄から最終洗浄に至るまで、カラーフィルター製造においては最も数の多い工程である。以下カラーフィルター洗浄工程の観点から従来の技術及び課題について説明する。
【0003】
洗浄工程の目的は主に付着塵埃(以下パーティクルという)の除去である。洗浄ユニットには様々な種類があり、例として紫外線照射、洗剤を使用したブラシ洗浄、低周波数での超音波洗浄、高周波数での超音波洗浄、気体と液体とを同時に高圧噴射する2流体洗浄、純水での高圧シャワー等が挙げられる。カラーフィルター洗浄工程においては、これらの洗浄ユニットを組合わせて各洗浄工程に最も適当なプロセス設計で装置は構成されている。
【0004】
通常、ガラス基板はクリーンルーム内を含めて放置時間とともに表面に油脂類が堆積する。したがって長時間放置した場合、表面は非常に疎水性の高い状態となる。前記の紫外線照射は、表面の油脂類を除去して親水性にし、ウェット洗浄の効果を高めるための代表的な乾式表面改質手段として一般に使用されている。
【0005】
超音波洗浄はごく一般的な洗浄方法であり、40kHz前後を使用する低周波洗浄と、1MHz前後を使用する高周波洗浄が主に使用される。
【0006】
年々、洗浄装置が大型化する背景には、被洗浄基板の大型化と、タクトアップに伴う基板搬送スピードアップが大きな要因として存在する。高搬送スピードで従来と同等の洗浄能力を維持するために、洗浄ユニットは増加し、結果として装置大型化、さらにユーティリティーの大量使用といった大きな問題に直面している。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】
本発明は、紫外線照射装置、及び超音波照射装置から成る簡易構成の洗浄装置に水素水供給手段を付加することによって、省スペース、低コスト型の洗浄装置、洗浄プロセスを提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】
請求項1に記載の発明は、少なくとも、基板上に付着した油脂類の有機化合物を分解する紫外線照射ユニットと、パーティクルを洗浄する超音波洗浄ユニットと、洗浄後の基板を乾燥させる乾燥ユニットと、基板を搬送する搬送手段とから構成されている基板洗浄装置において、該超音波洗浄ユニットへ水素水を供給する水素水供給手段を具備し、前記超音波洗浄ユニットは、2機以上で構成され、少なくとも1機は基板の裏面を洗浄するように基板裏面側に超音波発信素子を有し、基板裏面側に超音波発信素子を有する超音波洗浄機に供給される水素水供給手段において、基板のいずれか片面の洗浄に用いた水素水を、基板の他方の面の洗浄に用いる再利用手段を供えたことを特徴とする基板洗浄装置である。
表面側は、特に念をいれて洗浄する必要があるが、裏面側も洗浄しておかないと塵埃が後工程に持ち込まれ、表面側に付着して障害を及ぼすので、裏面側も洗浄する必要がある。
裏面側の洗浄に用いる水素水は、表面側の洗浄で使用し回収された水素水を用いることが可能であり、再利用することで、排水量を減らすことになる。
【0009】
また請求項2に記載の発明は、基板を洗浄する方法において、
(1)紫外線照射ユニットで基板上に付着した油脂類の有機化合物を分解させる。
(2)しかる後、基板裏面側に超音波発信素子を有する超音波洗浄機に基板が搬送され、表面洗浄に用いられ回収された水素水を供給しながら超音波を照射し基板の裏面側に洗浄する。
(3)しかる後、基板表面側に超音波発信素子を有する超音波洗浄機に基板が搬送され、水素水を供給しながら超音波を照射し基板の表面側に洗浄し、付着しているパーティクルを洗浄する。
この表面の洗浄に用いられた水素水は、回収タンクに回収され前記(2)工程の裏面洗浄に再利用させ、新液との混液を防ぐ
(4)しかる後、乾燥ユニットに基板を搬送し、乾燥させる。以上の工程を少なくとも経ることを特徴とする基板の洗浄方法である。
【0010】
【0011】
【0012】
【0013】
【発明の実施の形態】
水素水への超音波照射による洗浄はパーティクル除去に大変有効である。本発明は、紫外線照射と水素水洗浄を組合せ、更に水素水を再利用することによって、低流量の水素水使用量で枚葉式基板洗浄をなし得る効果を与えることを目的とするものである。
【0014】
洗浄への水素水の応用を採用する場合、微量の薬液を添加してpHを調整することが多い。本発明では薬液の添加は全くせず、中性の水素水のみでウェット洗浄を行うことを特徴とする。
【0015】
以下、本発明の基板洗浄装置及び基板洗浄方法の1例について、図面に基づいて説明する。
【0016】
図1に示すように、本発明は紫外線照射ユニット(1)と超音波洗浄ユニット(2)、(3)、更に乾燥用エアーナイフ(4)から構成される。
超音波洗浄ユニットは、基板の裏面側を洗浄する裏側超音波洗浄ユニット(2)と、基板の表面側を洗浄する2機の表側超音波洗浄ユニット(3)とから構成されている。
【0017】
紫外線照射ユニット(1)に使用する紫外線ランプの種類は特に限定するものではないが、酸素ガス、及びオゾンガスの両方に作用して活性酸素を生じさせる波長領域を持つものが望ましい。
【0018】
図1に示すように、裏側超音波洗浄ユニット(2)は下ブロックに超音波発振素子を持ち、表側超音波洗浄ユニット(3)は上ブロックに超音波発振素子を持つ。超音波洗浄ユニットは計3機から成り、そのうち1機が裏面洗浄用である他の2機が表面洗浄用である。図1はその1例を示すものであり、超音波洗浄ユニットは必要に洗浄要求に応じてその数を増やすことが適宜行われる。
【0019】
下流側2機の表側超音波洗浄ユニットには水素水が供給される。供給された水素水は水素水新液回収用ポンプ(6)によってパーティクルとともに回収され、水素水一次貯水用タンク(5)に貯水される。回収されずに漏れた水素水も同様に水素水一次貯水用タンク(5)へ重力ドレインされる。
【0020】
供給する水素水は1.0mg/l以上の濃度であることが望ましい。また、供給流量については調節可能な機構を有し、洗浄する基板のサイズによって流量を変更する。なお、水に溶解する最大濃度は1気圧において約1.7mg/lである。
【0021】
水素水一次貯水用タンク(5)に溜まった水素水は、再利用水素水送液用ポンプ(7)によって送液され、さらにフィルター(8)を通って再度裏側超音波洗浄ユニット(2)へ供給される。供給流量は同様に調節可能な機構を有するものである。フィルターのポアサイズについては特に限定するものではないが、1μm以下であることが望ましい。
【0022】
裏側超音波洗浄ユニット(2)に再供給された水素水は、表側超音波洗浄ユニット(3)と同様に再利用水素水回収用ポンプ(9)によってパーティクルとともに回収され、これは排水される。回収されずに漏れた水素水も同様に重力ドレインによって排水される。
【0023】
裏側超音波洗浄ユニット(2)と表側超音波洗浄ユニット(3)の取付けられる槽は完全に区切られた構成でなくてはならない。これは、表側超音波洗浄ユニット(3)では水素水の新液を使用し、裏側超音波洗浄ユニット(2)では水素水の再生液を使用するため、その混液を防ぐものである。
【0024】
紫外線照射ユニット(1)はドライ工程、裏側超音波洗浄ユニット(2)はウェット工程である。したがって紫外線照射ユニット(1)の槽への液の流れ込みは必ず避けなくてはならない。再利用水素水回収用ポンプ(9)はパーティクルの回収という機能の他に、液が上流側へ流れ込まないための役割も担っている。したがって、液の流れ込みが無い様に充分な調整を行って、超音波洗浄ユニット(2)の回収孔をドライとウェットの境界ラインにする必要がある。
【0025】
本発明では、ブラシや高圧シャワー等、基板の搬送に支障をきたすようなユニットは採用していない。つまり基板表面に物理的な力を加えてパーティクルを除去するような従来の洗浄プロセスとは根本的に異なる。したがって、従来必要とされてきた基板を上下からはさんで搬送する押えローラー方式や、基板の蛇行を防ぐための搬送ガイドは不要となる。
エアーナイフ部において若干の基板の浮き上がりや蛇行が発生することがあるが、エアー流量や圧力、さらには基板へのエアー吹出し角度を調整することによって、これらは充分回避することが可能である。
【0026】
基板洗浄装置における搬送は、例えば基板搬送方向と直交する方向に一定間隔で並べられた搬送シャフトを使用する。超音波洗浄ユニットは、シャフト間に具備することによって、基板の両面のパーティクルを洗い流すことができる。
【0027】
紫外線照射ユニット(1)の光照射強度も年々増大する方向にあり、これによって紫外線照射装置の占有スペースの縮小化が可能となる。本発明において掲げる装置縮小化を、より顕著に実現するためには、高強度でランプ本数の少ない紫外線照射装置を採用することが望ましい。
【0028】
本発明は基板洗浄に充分な洗浄方法を提供するものであり、洗浄装置の詳細な構成、サイズ等については特に限定するものではないが、各ユニットの設置間隔等は任意に設計でき、より凝集化された状態での装置への展開が望ましい。基板の搬送方向のサイズに関しては影響を受けないため、1枚の基板に対して、同時に全洗浄工程を実施することも問題とならない。
【0029】
【発明の効果】
本発明に係わる基板洗浄装置、洗浄方法によれば、紫外線照射と水素水による超音波洗浄、及びエアーナイフのみから成る簡易な構成をとるために、装置サイズを従来より格段に縮小化することが可能となる。更に水素水の供給方法において、水素水の再利用を採用することによって、使用ユーティリティーを最小限に留めることができる。
【0030】
また、洗剤を使用しないため、洗剤を洗い流すためのリンス工程は不要となる。なお、水素水は一般排水として処理できるために、特殊な排水処理設備の設置も不要となる。
【0031】
更に、本発明における洗浄プロセスを装置へ展開した場合、押えローラーや、蛇行防止ガイドも不要となり、搬送系も非常に簡素な構成となるためにメンテナンス性の向上も図ることが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の基板洗浄装置を説明するものであり、
(a)は装置の概略側面図、(b)は上面図を示す。
【符号の説明】
1…紫外線照射ユニット
2…裏面超音波洗浄ユニット
3…表面超音波洗浄ユニット
4…乾燥用エアーナイフ
5…水素水一次貯水用タンク
6…水素水新液回収用ポンプ
7…再利用水素水送液用ポンプ
8…再利用水素水供給用フィルター
9…再利用水素水回収用ポンプ
10…被洗浄基板
[0001]
BACKGROUND OF THE INVENTION
The present invention relates to a cleaning apparatus and a cleaning method related to the entire electronics field for cleaning a flat substrate, in particular, a flat substrate receiving cleaning step and a colored pattern substrate intermediate cleaning step in color filter production.
[0002]
[Prior art]
A color filter used in a liquid crystal display or the like is an optical element having a fine red, green, blue pattern or the like. And the manufacture consists of processes, such as apply | coating a photosensitive resist to transparent substrates, such as glass, exposure, and image development, The same process is repeated about each color. The cleaning process is the most numerous process in color filter manufacturing, starting with acceptance cleaning when bringing the substrate into the clean room, from cleaning before application of each color of resist, and cleaning from polishing after coloring pattern to final cleaning. is there. Hereinafter, conventional techniques and problems will be described from the viewpoint of the color filter cleaning process.
[0003]
The purpose of the cleaning process is mainly to remove adhering dust (hereinafter referred to as particles). There are various types of cleaning units, such as UV irradiation, brush cleaning using detergent, ultrasonic cleaning at low frequency, ultrasonic cleaning at high frequency, and two-fluid cleaning that simultaneously jets gas and liquid at high pressure. In addition, a high-pressure shower with pure water can be used. In the color filter cleaning process, these cleaning units are combined to constitute an apparatus with a process design most suitable for each cleaning process.
[0004]
Usually, oils and fats are deposited on the surface of a glass substrate with a standing time including in a clean room. Therefore, when left for a long time, the surface becomes very hydrophobic. The above-mentioned ultraviolet irradiation is generally used as a typical dry surface modification means for removing the oils and fats on the surface to make them hydrophilic and enhancing the effect of wet cleaning.
[0005]
Ultrasonic cleaning is a very common cleaning method, and low frequency cleaning using about 40 kHz and high frequency cleaning using about 1 MHz are mainly used.
[0006]
The background of the increase in the size of the cleaning apparatus year by year is due to the increase in the size of the substrate to be cleaned and the increase in the substrate transfer speed associated with the tact-up. In order to maintain the same cleaning ability at a high transport speed, the number of cleaning units has increased, and as a result, there are major problems such as an increase in equipment size and a large amount of utility usage.
[0007]
[Problems to be solved by the invention]
An object of the present invention is to provide a space-saving, low-cost cleaning device and a cleaning process by adding hydrogen water supply means to a cleaning device having a simple configuration including an ultraviolet irradiation device and an ultrasonic irradiation device. To do.
[0008]
[Means for Solving the Problems]
The invention according to claim 1 is at least an ultraviolet irradiation unit for decomposing an organic compound of fats and oils adhering to the substrate, an ultrasonic cleaning unit for cleaning particles, a drying unit for drying the substrate after cleaning, A substrate cleaning apparatus comprising a transport means for transporting a substrate, comprising hydrogen water supply means for supplying hydrogen water to the ultrasonic cleaning unit, wherein the ultrasonic cleaning unit is composed of two or more machines, At least one machine has an ultrasonic wave transmitting element on the back side of the substrate so as to clean the back side of the substrate, and in the hydrogen water supply means supplied to the ultrasonic cleaning machine having the ultrasonic wave transmitting element on the back side of the substrate, The substrate cleaning apparatus is characterized in that hydrogen water used for cleaning one of the surfaces is provided with a reuse means for cleaning the other surface of the substrate .
The front side must be cleaned with care, but if the back side is not cleaned, dust will be brought into the post-process and will adhere to the front side and cause damage, so the back side must also be cleaned. There is.
The hydrogen water used for cleaning the back side can be the hydrogen water used and recovered in the front side cleaning, and the amount of waste water is reduced by reusing.
[0009]
According to a second aspect of the present invention, in the method for cleaning a substrate,
(1) The organic compound of fats and oils adhering on a board | substrate is decomposed | disassembled with an ultraviolet irradiation unit.
(2) After that, the substrate is transported to an ultrasonic cleaning machine having an ultrasonic transmission element on the back side of the substrate, and ultrasonic waves are applied to the back side of the substrate while supplying the recovered hydrogen water used for surface cleaning. Wash.
(3) After that, the substrate is transported to an ultrasonic cleaning machine having an ultrasonic transmitting element on the substrate surface side, and the particles adhering to the surface side of the substrate are cleaned by irradiating ultrasonic waves while supplying hydrogen water. Wash.
The hydrogen water used for cleaning the front surface is collected in a recovery tank and reused for back surface cleaning in the step (2) to prevent mixed liquid with new liquid .
(4) Thereafter, the substrate is transported to the drying unit and dried. The substrate cleaning method is characterized by passing through at least the above steps.
[0010]
[0011]
[0012]
[0013]
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION
Cleaning by irradiating hydrogen water with ultrasonic waves is very effective for particle removal. An object of the present invention is to provide an effect of performing single wafer cleaning with a low flow rate of hydrogen water usage by combining ultraviolet irradiation and hydrogen water cleaning and further reusing hydrogen water. .
[0014]
When employing an application of hydrogen water for washing, a small amount of chemical solution is often added to adjust the pH. The present invention is characterized in that no chemical solution is added and wet cleaning is performed only with neutral hydrogen water.
[0015]
Hereinafter, an example of a substrate cleaning apparatus and a substrate cleaning method of the present invention will be described with reference to the drawings.
[0016]
As shown in FIG. 1, the present invention includes an ultraviolet irradiation unit (1), ultrasonic cleaning units (2) and (3), and a drying air knife (4).
The ultrasonic cleaning unit includes a back side ultrasonic cleaning unit (2) for cleaning the back side of the substrate and two front side ultrasonic cleaning units (3) for cleaning the front side of the substrate.
[0017]
Although the kind of ultraviolet lamp used for the ultraviolet irradiation unit (1) is not particularly limited, it is desirable to have a wavelength region that acts on both oxygen gas and ozone gas to generate active oxygen.
[0018]
As shown in FIG. 1, the back ultrasonic cleaning unit (2) has an ultrasonic oscillation element in the lower block, and the front ultrasonic cleaning unit (3) has an ultrasonic oscillation element in the upper block. The ultrasonic cleaning unit is composed of a total of three machines, one of which is for back surface cleaning and the other two are for surface cleaning. FIG. 1 shows one example, and the number of ultrasonic cleaning units is appropriately increased as necessary according to the cleaning request.
[0019]
Hydrogen water is supplied to the two front-side ultrasonic cleaning units on the downstream side. The supplied hydrogen water is collected together with particles by the hydrogen water new liquid collecting pump (6) and stored in the hydrogen water primary water storage tank (5). Similarly, the hydrogen water leaked without being collected is drained by gravity to the hydrogen water primary water storage tank (5).
[0020]
It is desirable that the hydrogen water to be supplied has a concentration of 1.0 mg / l or more. The supply flow rate has an adjustable mechanism, and the flow rate is changed depending on the size of the substrate to be cleaned. The maximum concentration dissolved in water is about 1.7 mg / l at 1 atmosphere.
[0021]
The hydrogen water accumulated in the hydrogen water primary storage tank (5) is fed by the reused hydrogen water feed pump (7), and further passes through the filter (8) to the back ultrasonic cleaning unit (2) again. Supplied. The supply flow rate also has an adjustable mechanism. The pore size of the filter is not particularly limited, but is preferably 1 μm or less.
[0022]
The hydrogen water re-supplied to the back ultrasonic cleaning unit (2) is recovered together with particles by the reuse hydrogen water recovery pump (9) in the same manner as the front ultrasonic cleaning unit (3), and is drained. Hydrogen water leaked without being collected is also drained by the gravity drain.
[0023]
The tank to which the back ultrasonic cleaning unit (2) and the front ultrasonic cleaning unit (3) are attached must be completely separated. This is to prevent the mixed liquid because the front side ultrasonic cleaning unit (3) uses a new hydrogen water solution and the back side ultrasonic cleaning unit (2) uses a hydrogen water regenerating solution.
[0024]
The ultraviolet irradiation unit (1) is a dry process, and the back ultrasonic cleaning unit (2) is a wet process. Therefore, the flow of liquid into the tank of the ultraviolet irradiation unit (1) must be avoided. In addition to the function of collecting particles, the reuse hydrogen water recovery pump (9) also has a role to prevent liquid from flowing upstream. Therefore, it is necessary to perform sufficient adjustment so that no liquid flows in, and the recovery hole of the ultrasonic cleaning unit (2) should be a boundary line between dry and wet.
[0025]
In the present invention, no unit such as a brush or a high-pressure shower that interferes with the conveyance of the substrate is employed. In other words, this is fundamentally different from a conventional cleaning process in which particles are removed by applying a physical force to the substrate surface. Therefore, the conventionally required presser roller system for transporting the substrate between the upper and lower sides and the transport guide for preventing the meandering of the substrate become unnecessary.
Some lift and meandering of the substrate may occur in the air knife portion, but these can be sufficiently avoided by adjusting the air flow rate and pressure, and the air blowing angle to the substrate.
[0026]
For the conveyance in the substrate cleaning apparatus, for example, conveyance shafts arranged at regular intervals in a direction orthogonal to the substrate conveyance direction are used. By providing the ultrasonic cleaning unit between the shafts, particles on both surfaces of the substrate can be washed away.
[0027]
The light irradiation intensity of the ultraviolet irradiation unit (1) is also increasing year by year, which makes it possible to reduce the space occupied by the ultraviolet irradiation device. In order to realize the apparatus downsizing described in the present invention more remarkably, it is desirable to adopt an ultraviolet irradiation apparatus with high strength and a small number of lamps.
[0028]
The present invention provides a cleaning method sufficient for substrate cleaning, and the detailed configuration and size of the cleaning apparatus are not particularly limited. However, the installation interval of each unit can be arbitrarily designed and more agglomerated. It is desirable to develop the device in a state of being integrated. Since the size of the substrate in the transport direction is not affected, it is not a problem to perform all cleaning steps on one substrate at the same time.
[0029]
【The invention's effect】
According to the substrate cleaning apparatus and the cleaning method according to the present invention, the apparatus size can be significantly reduced as compared with the prior art in order to adopt a simple configuration including only ultraviolet irradiation, ultrasonic cleaning with hydrogen water, and an air knife. It becomes possible. Further, by adopting the reuse of hydrogen water in the method for supplying hydrogen water, the utility to be used can be minimized.
[0030]
Moreover, since no detergent is used, a rinsing step for washing away the detergent is not necessary. Since hydrogen water can be treated as general waste water, it is not necessary to install special waste water treatment equipment.
[0031]
Further, when the cleaning process according to the present invention is applied to the apparatus, a press roller and a meandering prevention guide are not required, and the transport system has a very simple configuration, so that maintenance can be improved.
[Brief description of the drawings]
FIG. 1 illustrates a substrate cleaning apparatus of the present invention,
(A) is a schematic side view of the apparatus, and (b) is a top view.
[Explanation of symbols]
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 ... Ultraviolet irradiation unit 2 ... Back surface ultrasonic cleaning unit 3 ... Front surface ultrasonic cleaning unit 4 ... Drying air knife 5 ... Hydrogen water primary water storage tank 6 ... Hydrogen water new liquid collection pump 7 ... Reuse hydrogen water feeding liquid Pump 8 ... Reuse hydrogen water supply filter 9 ... Reuse hydrogen water recovery pump 10 ... Substrate to be cleaned

Claims (2)

少なくとも、基板上に付着した油脂類の有機化合物を分解する紫外線照射ユニットと、パーティクルを洗浄する超音波洗浄ユニットと、洗浄後の基板を乾燥させる乾燥ユニットと、基板を搬送する搬送手段とから構成されている基板洗浄装置において、
該超音波洗浄ユニットへ水素水を供給する水素水供給手段を具備し、
前記超音波洗浄ユニットは、2機以上で構成され、少なくとも1機は基板の裏面を洗浄するように基板裏面側に超音波発信素子を有し、
基板裏面側に超音波発信素子を有する超音波洗浄機に供給される水素水供給手段において、基板のいずれか片面の洗浄に用いた水素水を、基板の他方の面の洗浄に用いる再利用手段を供えたことを特徴とする基板洗浄装置
Consists of at least an ultraviolet irradiation unit for decomposing organic compounds of fats and oils adhering to the substrate, an ultrasonic cleaning unit for cleaning particles, a drying unit for drying the substrate after cleaning, and a transport means for transporting the substrate In the substrate cleaning apparatus that has been
Comprising hydrogen water supply means for supplying hydrogen water to the ultrasonic cleaning unit;
The ultrasonic cleaning unit is composed of two or more machines, at least one machine has an ultrasonic transmission element on the back side of the substrate so as to clean the back side of the substrate,
In the hydrogen water supply means supplied to the ultrasonic cleaning machine having the ultrasonic transmitting element on the back side of the substrate, the hydrogen water used for cleaning one side of the substrate is reused for cleaning the other side of the substrate. A substrate cleaning apparatus, characterized by comprising:
基板を洗浄する方法において、
(1)紫外線照射ユニットで基板上に付着した油脂類の有機化合物を分解させる。
(2)しかる後、基板裏面側に超音波発信素子を有する超音波洗浄機に基板が搬送され、表面洗浄に用いられ回収された水素水を供給しながら超音波を照射し基板の裏面側に洗浄する。
(3)しかる後、基板表面側に超音波発信素子を有する超音波洗浄機に基板が搬送され、水素水を供給しながら超音波を照射し基板の表面側に洗浄し、付着しているパーティクルを洗浄する。
この表面の洗浄に用いられた水素水は、回収タンクに回収され前記(2)工程の裏面洗浄に再利用させ、新液との混液を防ぐ
(4)しかる後、乾燥ユニットに基板を搬送し、乾燥させる。
以上の工程を少なくとも経ることを特徴とする基板の洗浄方法。
In a method for cleaning a substrate,
(1) The organic compound of fats and oils adhering on a board | substrate is decomposed | disassembled with an ultraviolet irradiation unit.
(2) After that, the substrate is transported to an ultrasonic cleaning machine having an ultrasonic transmission element on the back side of the substrate, and ultrasonic waves are applied to the back side of the substrate while supplying the recovered hydrogen water used for surface cleaning. Wash.
(3) After that, the substrate is transported to an ultrasonic cleaning machine having an ultrasonic transmitting element on the substrate surface side, and the particles adhering to the surface side of the substrate are cleaned by irradiating ultrasonic waves while supplying hydrogen water. Wash.
The hydrogen water used for cleaning the front surface is collected in a recovery tank and reused for back surface cleaning in the step (2) to prevent mixed liquid with new liquid .
(4) Thereafter, the substrate is transported to the drying unit and dried.
A substrate cleaning method comprising at least the above steps.
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